CN104460803B - 带隙基准电压产生电路 - Google Patents

带隙基准电压产生电路 Download PDF

Info

Publication number
CN104460803B
CN104460803B CN201410713611.0A CN201410713611A CN104460803B CN 104460803 B CN104460803 B CN 104460803B CN 201410713611 A CN201410713611 A CN 201410713611A CN 104460803 B CN104460803 B CN 104460803B
Authority
CN
China
Prior art keywords
switch
period
operational amplifier
storage capacitance
bipolar transistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201410713611.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104460803A (zh
Inventor
罗鹏
王才宝
王钊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuxi Zhonggan Microelectronics Co Ltd
Original Assignee
Wuxi Zhonggan Microelectronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuxi Zhonggan Microelectronics Co Ltd filed Critical Wuxi Zhonggan Microelectronics Co Ltd
Priority to CN201410713611.0A priority Critical patent/CN104460803B/zh
Publication of CN104460803A publication Critical patent/CN104460803A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104460803B publication Critical patent/CN104460803B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Abstract

本发明提供一种带隙基准电压产生电路,其包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一双极型晶体管、第二双极型晶体管、运算放大器、第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关、第六开关、第一存储电容、第二存储电容、以及第七开关、构成低通滤波器的滤波电阻和滤波电容。本发明在现有的一次失调消除方案的基础上,新加入第二存储电容以及第三个相位,在第三个相位时进行二次失调消除,使得失调消除的精度提高,可以得到高精度的带隙基准输出电压。

Description

带隙基准电压产生电路
【技术领域】
本发明涉及基准电压技术领域,特别涉及一种带隙基准电压产生电路。
【背景技术】
带隙基准电压源的高精度和稳定性对整个电子系统性能有着重要影响。经典的带隙基准电压电路如图1所示,包括电阻R1~R3,PNP双极型晶体管Q1和Q2,以及运算放大器A1。其中Q2的发射极面积(A)是Q1的m倍(mA),VOS代表运算放大器A1的输入失调电压,可以为正数,也可以为负数。由于存在等效到运算放大器输入端的失调电压,由图1可以得到:
其中,Vout为输出电压即基准电压,VBE2是双极型晶体管Q2的基极-发射极电压,VT为热电压。
这里关键问题是输入失调电压VOS被放大(1+R2/R3)倍,而VOS随温度和工艺的变化而变化,因此输出电压Vout也随温度和工艺变化而变化,导致基准电压输出精度降低。所以有必要提出一种改进方法,来减少或者消除输入失调电压对基准电压的影响。
图2示出了现有的一种可以消除失调电压的带隙基准电压电路。与图1相比,其增加了第一开关S1、第二开关S2、第三开关S3和第一存储电容C1,其余结构不变。如图3所示,以两相不交叠时钟分时控制开关S1~S3,来改变存储电容C1的连接,采样和消除失调电压,以降低运算放大器的输入失调电压对基准输出电压的影响。结合图3和图4所示,在第一个时段f1时采样运算放大器A1输入端的失调电压,在第二个时段f2时抵消失调电压。此方法在第二个时段f2时,没有考虑运算放大器输入节点寄生电容对基准输出电压的影响。实际上,在第二时段,寄生电容Cj与存储电容C1进行电荷分配,导致第二时段f2的存储电容C1电压和第一时段f1的存储电容C1电压(第一时段的存储电容C1电压大小等于失调电压)存在误差,并且寄生电容Cj越大,该误差越大。将运算放大器输入端寄生电容Cj以及输入端的失调电压VOS量化如图2所示。
现在对图2所示的带隙基准电压电路如何消除失调进行分析。
图3为图2中的各个开关S1~S3的开关时序图。假设采用正逻辑,即高电平表示开关S导通,低电平表示开关S断开。
在f1相位(第一时段)时,图2的等效电路如图4所示。C1上的存储电荷为VOS·C1,寄生电容Cj上的电荷为VX·Cj
在f2相位(第二时段)时,等效电路如图5所示。依据电荷守恒计算得到C1的电压VC1(这里假定VX端的电压不变):
C1·VOS+Cj·VX=C1·VC1+Cj·(VX+VC1) (2)
由公式(3)可以看到,电容C1上的电压已经与Vos有了一个偏差,即VOS·Cj/(C1+Cj),使得现有的失调消除精度受到影响。为了减少这个偏差,一个方法是增大C1,增大C1必然增大版图面积;另一个方法就是减小Cj,即减小输入对管的宽度W和长度L,不过此时的匹配性变差,VOS会变大。
因此需要一种改进方案,能够减少寄生电容Cj对现有失调技术的影响。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种带隙基准电压产生电路,其减小运放输入对管等产生的寄生电容对现有失调技术的影响,可以提高现有失调消除技术的精度,得到高精度的带隙基准电压,以应用于对基准电压精度要求较高的场合。
为了解决上述问题,本发明提供一种带隙基准电压产生电路,其包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一双极型晶体管、第二双极型晶体管、运算放大器、第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关、第六开关、第一存储电容、第二存储电容。第一电阻的一端与所述运算放大器的输出端相连,另一端连接第一双极型晶体管的发射极,第一双极型晶体管的集电极和基极相连后接地;第二电阻的一端与所述运算放大器的输出端相连,另一端与第三电阻的一端相连,第三电阻的另一端连接第二双极型晶体管的发射极,第二双极型晶体管的集电极和基极相连后接地,第一存储电容和第一开关依次连接于所述运算放大器的第一输入端和第二输入端之间,第一电阻和第一双极型晶体管的发射极的中间节点VX依次经过第五开关和第二开关连接至运算放大器的第一输入端,第二存储电容和第四开关依次连接于第五开关和第二开关的中间节点和运算放大器的第二输入端之间,第二电阻和第三电阻的中间节点VY连接至所述运算放大器的第二输入端,第六开关的一端连接中间节点VX,另一端连接于第二存储电容与第四开关的中间节点,第三开关的一端连接第五开关和第二开关的中间节点,另一端连接于第一存储电容与第一开关的中间节点。
进一步的,各个开关由各自的时钟控制信号控制其导通和截止,各个开关的导通和截止关系如下:在第一时段时,第一开关、第二开关和第五开关导通,第三开关、第四开关和第六开关截止,在第二时段时,第三开关、第四开关和第五开关导通,第一开关、第二开关和第六开关截止,在第三时段时,第三开关和第六开关导通,第一开关、第二开关、第四开关和第五开关截止。
进一步的,第二时段紧接第一时段,第三时段紧接第二时段,连续不交叠的第一时段、第二时段和第三时段形成一个周期。
进一步的,带隙基准电压产生电路还包括第七开关以及构成低通滤波器的滤波电阻和滤波电容,第七开关的一端和所述运算放大器的输出端相连,另一端与滤波电阻的一端相连,滤波电阻的另一端与滤波电容的一端相连,滤波电容的另一端接地。在第一时段和第二时段中,第七开关截止,在第三时段的前半段时间,第七开关截止,在第三时段的后半段时间,第七开关导通。
进一步的,所述运算放大器具有输入寄生电容和输入失调电压。
与现有失调消除技术相比,本发明中的带隙基准电压产生电路,在现有的一次失调消除方案的基础上,新加入第二存储电容C2以及第三个相位f3(第三时段),在第三个相位f3时进行第二次失调消除,以减小寄生电容Cj对失调消除技术带来的影响,使得失调消除的精度提高。
【附图说明】
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。其中:
图1为现有的一种典型的带隙基准电压产生电路的电路示意图;
图2为现有的带隙基准电压产生电路的电路示意图,其可以消除运算放大器的输入失调电压;
图3为图2中带隙基准电压产生电路的各个开关S1~S3的开关时序图;
图4为在f1相位时图2的等效电路;
图5为在f2相位时图2的等效电路;
图6为本发明中的带隙基准电压产生电路在一个实施例中的电路示意图,其不仅可以消除运算放大器的输入失调电压,还可以减小在消除失调电压时输入寄生电容Cj带来的不利影响;
图7为图6中带隙基准电压产生电路的各个开关S1~S7的开关时序图;
图8为在f1相位时图6中的带隙基准电压产生电路的部分等效电路;
图9为在f2相位时图6中的带隙基准电压产生电路的部分等效电路;和
图10为在f3相位时图6中的带隙基准电压产生电路的部分等效电路。
【具体实施方式】
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
此处所称的“一个实施例”或“实施例”是指可包含于本发明至少一个实现方式中的特定特征、结构或特性。在本说明书中不同地方出现的“在一个实施例中”并非均指同一个实施例,也不是单独的或选择性的与其他实施例互相排斥的实施例。除非特别说明,本文中的连接、相连、相接的表示电性连接的词均表示直接或间接电性相连。
图6为本发明中的带隙基准电压产生电路600在一个实施例中的电路示意图,其不仅可以消除运算放大器的输入失调电压VOS,还可以减小在消除失调电压时输入寄生电容Cj带来的不利影响。
如图6所示,所述带隙基准电压产生电路600包括第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第一双极型晶体管Q1、第二双极型晶体管Q2、运算放大器A1、第一开关S1、第二开关S2、第三开关S3、第四开关S4、第五开关S5、第六开关S6、第一存储电容C1和第二存储电容C2。与图2相比,本发明中的增加了第四开关S4、第五开关S5、第六开关S6和第二存储电容C2
第一电阻R1的一端与所述运算放大器A1的输出端相连,另一端连接第一双极型晶体管Q1的发射极,第一双极型晶体管Q1的集电极和基极相连后接地。第二电阻R2的一端与所述运算放大器A1的输出端相连,另一端与第三电阻R3的一端相连,第三电阻R3的另一端连接第二双极型晶体管Q2的发射极,第二双极型晶体管Q2的集电极和基极相连后接地。
第一存储电容C1和第一开关S1依次连接于所述运算放大器A1的第一输入端和第二输入端之间。第一电阻R1和第一双极型晶体管Q1的发射极的中间节点VX依次经过第五开关S5和第二开关S2连接至运算放大器A1的第一输入端。第二存储电容C2和第四开关S4依次连接于第五开关S5和第二开关S2的中间节点和运算放大器A1的第二输入端之间。第二电阻R2和第三电阻R3的中间节点VY连接至所述运算放大器A1的第二输入端。第六开关S6的一端连接中间节点VX,另一端连接于第二存储电容C2与第四开关S4的中间节点。第三开关S3的一端连接第五开关S5和第二开关S2的中间节点,另一端连接于第一存储电容C1与第一开关S1的中间节点。
如图6所示,所述运算放大器A1具有输入寄生电容Cj和输入失调电压VOS,本发明中的各个开关以及两个存储电容就是为了消除失调电压VOS以及减小Cj对失调消除精度的影响。需要了解的是,图6中的输入寄生电容Cj和输入失调电压VOS是为了容易理解而被示出的。
所述带隙基准电压产生电路600还包括低通滤波电路和连接于低通滤波电路的输入端和运算放大器A1的输出端的第七开关S7。所述低通滤波电路包括滤波电阻RO和滤波电容CO,滤波电阻的一端与第七开关S7相连,另一端与滤波电容CO的一端相连,滤波电容CO的另一端接地,滤波电阻RO和滤波电容CO的中间节点为带隙基准电压产生电路的输出端Vout
各个开关S1~S7由各自的时钟控制信号控制其导通和截止。如图7所示,其为各个开关S1~S7的开关时序图,这里假设采用正逻辑,即高电平表示开关S导通,低电平表示开关S断开。可以看出,各个开关S1~S7的导通和截止关系如下:
在f1相位(第一时段)时,第一开关S1、第二开关S2和第五开关S5导通,第三开关S3、第四开关S4、第六开关S6和第七开关S7截止。如图8所示,其为在f1相位时图6中的带隙基准电压产生电路的等效电路,其中低通滤波电路被省略了,第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第一双极型晶体管Q1、第二双极型晶体管Q2同样被省略了。此时等效电路与现有技术中图2中的带隙基准电压产生电路在f1相位时的等效电路相同,此时用第一存储电容C1采样运算放大器A1的两个输入端的失调电压。
在f2相位(第二时段)时,第三开关S3、第四开关S4和第五开关S5导通,第一开关S1、第二开关S2、第六开关S6和第七开关S7截止。如图9所示,其为在f2相位时图6中的带隙基准电压产生电路的等效电路。此时,将第一存储电容C1连接到运算放大器A1的第一输入端和VX之间,并且加入第二存储电容C2,通过第二存储电容C2采样通过第一次失调消除后,运算放大器A1的两输入端仍存在的失调电压。
在f2相位(第二时段)时,第二存储电容C2两端的电压为VX-VY,其中Vx为中间节点VX的电压,VY为中间节点VY的电压,由运算放大器A1的正负输入端电压相等(假设运算放大器增益很大),可以得到:
VY+VOS=VX+VC1 (4)
联合公式(3),可以得到第二存储电容C2上的电压VC2为:
由公式(5)可以看到,第二存储电容C2取出了为图2中的失调电压消除方案中产生的由于运算放大器A1的输入寄生电容Cj引入的误差。
这样,可以新引入一个与f1和f2各不交叠的f3相位(第三时段),如图10所示。在f3相位时,第三开关S3和第六开关S6导通,第一开关S1、第二开关S2、第四开关S4和第五开关S5截止。如图10所示,其为在f3相位时图6中的带隙基准电压产生电路的等效电路。此时,C2和C1串联,使得VC1+VC2=VOS,VC1为第一存储电容C1的电压,VC2为第二存储电容C2的电压,就可以与失调电压很好的抵消。
另外,对这个f3相位,可以再做一次分频。这样,在f3相位的前半段时间,第七开关S7截止,进行失调消除,等待稳定后,在f3相位的后半段时间,第七开关S7导通,进行输出。
第二时段f2紧接第一时段f1,第三时段f3紧接第二时段f2,连续的不交叠的第一时段f1、第二时段f2和第三时段f3形成一个周期T。
为了比较和容易理解,与图2中的相同功能的器件,比如第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第一双极型晶体管Q1、第二双极型晶体管Q2、运算放大器A1、第一开关S1、第二开关S2、第三开关S3,在本发明中采用了同样的符号,所属领域内的普通技术人员应该能够了解的是,在不同的图中,同样的符号表示不同的但是功能相同的器件。
在本发明中,“连接”、“相连”、“连”、“接”等表示电性连接的词语,如无特别说明,则表示直接或间接的电性连接。
需要指出的是,熟悉该领域的技术人员对本发明的具体实施方式所做的任何改动均不脱离本发明的权利要求书的范围。相应地,本发明的权利要求的范围也并不仅仅局限于前述具体实施方式。

Claims (2)

1.一种带隙基准电压产生电路,其特征在于,其包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一双极型晶体管、第二双极型晶体管、运算放大器、第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关、第六开关、第一存储电容和第二存储电容,
第一电阻的一端与所述运算放大器的输出端相连,另一端连接第一双极型晶体管的发射极,第一双极型晶体管的集电极和基极相连后接地;
第二电阻的一端与所述运算放大器的输出端相连,另一端与第三电阻的一端相连,第三电阻的另一端连接第二双极型晶体管的发射极,第二双极型晶体管的集电极和基极相连后接地,
第一存储电容和第一开关依次连接于所述运算放大器的第一输入端和第二输入端之间,
第一电阻和第一双极型晶体管的发射极的中间节点VX依次经过第五开关和第二开关连接至运算放大器的第一输入端,
第二存储电容和第四开关依次连接于第五开关和第二开关的中间节点和运算放大器的第二输入端之间,
第二电阻和第三电阻的中间节点VY连接至所述运算放大器的第二输入端,
第六开关的一端连接中间节点VX,另一端连接于第二存储电容与第四开关的中间节点,
第三开关的一端连接第五开关和第二开关的中间节点,另一端连接于第一存储电容与第一开关的中间节点,
各个开关由各自的时钟控制信号控制其导通和截止,
各个开关的导通和截止关系如下:
在第一时段时,第一开关、第二开关和第五开关导通,第三开关、第四开关和第六开关截止,
在第二时段时,第三开关、第四开关和第五开关导通,第一开关、第二开关和第六开关截止,
在第三时段时,第三开关和第六开关导通,第一开关、第二开关、第四开关和第五开关截止,
所述带隙基准电压产生电路还包括第七开关以及构成低通滤波器的滤波电阻和滤波电容,
第七开关的一端和所述运算放大器的输出端相连,另一端与滤波电阻的一端相连,滤波电阻的另一端与滤波电容的一端相连,滤波电容的另一端接地,
在第一时段和第二时段中,第七开关截止,在第三时段的前半段时间,第七开关截止,在第三时段的后半段时间,第七开关导通,
第二时段紧接第一时段,第三时段紧接第二时段,连续不交叠的第一时段、第二时段和第三时段形成一个周期。
2.根据权利要求1所述的带隙基准电压产生电路,其特征在于,所述运算放大器具有输入寄生电容和输入失调电压。
CN201410713611.0A 2014-12-01 2014-12-01 带隙基准电压产生电路 Active CN104460803B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410713611.0A CN104460803B (zh) 2014-12-01 2014-12-01 带隙基准电压产生电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410713611.0A CN104460803B (zh) 2014-12-01 2014-12-01 带隙基准电压产生电路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104460803A CN104460803A (zh) 2015-03-25
CN104460803B true CN104460803B (zh) 2017-07-18

Family

ID=52907020

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410713611.0A Active CN104460803B (zh) 2014-12-01 2014-12-01 带隙基准电压产生电路

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104460803B (zh)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105759886A (zh) * 2016-04-20 2016-07-13 佛山臻智微芯科技有限公司 一种降低运放失调电压影响的基准电路
CN106909194B (zh) * 2017-03-17 2018-06-22 华南理工大学 一种具有高阶温度补偿的带隙基准电压源
KR102384104B1 (ko) * 2017-12-15 2022-04-08 에스케이하이닉스 주식회사 기준 전압 발생 장치
CN108227805A (zh) * 2017-12-25 2018-06-29 南京中感微电子有限公司 一种带隙基准电压源电路
CN108319316B (zh) * 2017-12-25 2021-07-02 南京中感微电子有限公司 一种带隙基准电压源电路
CN107894804B (zh) * 2017-12-26 2023-10-24 上海新进芯微电子有限公司 一种带隙基准稳压源及改善其负载响应特性的系统
CN111324161A (zh) * 2018-12-14 2020-06-23 华润矽威科技(上海)有限公司 积分电路及其积分方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5251541B2 (ja) * 2009-01-26 2013-07-31 富士通セミコンダクター株式会社 定電圧発生回路およびレギュレータ回路
US8576002B2 (en) * 2011-03-21 2013-11-05 Analog Devices, Inc. ADC preamplifier and the multistage auto-zero technique
CN102778910A (zh) * 2011-05-08 2012-11-14 曹先国 高电压基准
CN203930562U (zh) * 2014-05-15 2014-11-05 无锡中星微电子有限公司 带隙基准电压电路
CN104020815B (zh) * 2014-06-13 2016-05-11 无锡中感微电子股份有限公司 低失调带隙基准源电路及低失调缓冲电路
CN204215303U (zh) * 2014-12-01 2015-03-18 无锡中星微电子有限公司 带隙基准电压产生电路

Also Published As

Publication number Publication date
CN104460803A (zh) 2015-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104460803B (zh) 带隙基准电压产生电路
Satansup et al. Compact VDTA-based current-mode electronically tunable universal filters using grounded capacitors
CN102722207B (zh) 一种低压差线性稳压器
CN105467193B (zh) 电压检测电路
CN103401420B (zh) 应用于dc-dc转换器中的自适应导通时间产生电路
CN104375551B (zh) 带隙电压生成电路
CN105628243B (zh) 一种电阻型温度传感芯片
CN104020815B (zh) 低失调带隙基准源电路及低失调缓冲电路
CN105187030B (zh) 振荡器
CN103354443A (zh) 应用于高速全差分运算放大器的连续时间共模反馈电路
CN105897196B (zh) 一种前馈补偿推挽式运算放大器
Pal et al. Single CDBA based current mode first order multifunction filter
Chien et al. Dual-mode resistorless sinusoidal oscillator using single CCCDTA
CN102878917A (zh) 一种基于Rogowski线圈测量的信号运算装置
CN105094448A (zh) 转换电路、转换方法和触控面板
CN204215303U (zh) 带隙基准电压产生电路
CN103378810B (zh) 模拟电路中的失真消除
Chien et al. CMOS realization of single-resistance-controlled and variable frequency dual-mode sinusoidal oscillators employing a single DVCCTA with all-grounded passive components
CN106339025B (zh) 一种应用于物联网节点的低电压高精度带隙基准电路
CN204314764U (zh) 带隙电压生成电路
Li Systematic synthesis of OTA-based TT filters using NAME method
CN110471481A (zh) 一种高精度调压器
CN103762985B (zh) 采样保持电路
CN206332655U (zh) 一种单端偶相位输出的环形振动器
Maiti et al. Universal biquadratic filter employing single differential voltage current controlled conveyor transconductance amplifier

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information

Address after: 214028 Jiangsu Province, Wuxi City District Qingyuan Road No. 18 Taihu International Science Park sensor network university science and Technology Park 530 building A1001

Applicant after: WUXI ZHONGGAN MICROELECTRONIC CO., LTD.

Address before: A 530 Taihu international science and Technology Park building 214028 Qingyuan Road in Jiangsu province Wuxi City District 10 layer

Applicant before: Wuxi Vimicro Co., Ltd.

CB02 Change of applicant information
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant