CN104460069B - 一种对位设备及其对位方法 - Google Patents
一种对位设备及其对位方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN104460069B CN104460069B CN201410844035.3A CN201410844035A CN104460069B CN 104460069 B CN104460069 B CN 104460069B CN 201410844035 A CN201410844035 A CN 201410844035A CN 104460069 B CN104460069 B CN 104460069B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- polaroid
- aligned
- offset
- angle
- contraposition
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 75
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 88
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 25
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 claims description 20
- 238000013507 mapping Methods 0.000 claims description 15
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 14
- 230000013011 mating Effects 0.000 claims description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 238000013502 data validation Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000012163 sequencing technique Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1303—Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
- G01B11/27—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/62—Optical apparatus specially adapted for adjusting optical elements during the assembly of optical systems
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/30—Polarising elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/30—Polarising elements
- G02B5/3025—Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/003—Alignment of optical elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/003—Alignment of optical elements
- G02B7/005—Motorised alignment
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
- G02F1/133528—Polarisers
Abstract
本发明的实施例提供一种对位设备及其对位方法,涉及液晶显示器技术领域,解决了现有的偏光片的对位工艺中,对于非矩形的偏光片的对位困难的问题,降低了非矩形形状的偏光片的对位难度,提高了偏光片的对位精度,保证了显示器件的性能。包括:角度调整装置;所述角度调整装置设置为:根据待对位偏光片在所述待对位偏光片所在平面内的角度偏移量,对所述待对位偏光片进行角度调整。本发明应用于偏光片的对位技术中。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示器技术领域,尤其涉及一中对位设备及其对位方法。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,简称TFT-LCD)的工作原理是利用电场控制液晶分子的状态,从而控制背光源产生的光线能否通过液晶分子,从而透过彩色滤光片各膜层,以达到显示屏上的彩色图案效果。这就要求在TFT-LCD的制造过程的模组Module工艺中,在贴附偏光片的时候,需要对偏光片进行对位。
现有的偏光片自动贴附工艺中,对于形状为矩形的偏光片的对位比较容易实现,对于圆形、正多边形等形状的偏光片的贴附一种方案是通过手工贴附来实现,另一种方案是采用在正方形的偏光片上制作出需要的形状的偏光片,采用自动贴附工艺贴附完成后,再去除多余的偏光片。现有技术中的这两种对形状为圆形或者正多边形等的偏光片的对位工艺中,第一种方案的对位精度较低,而且浪费人力和时间。第二种方案实现起来比较困难,操作复杂,甚至会损伤基板。
发明内容
本发明的实施例提供一种对位设备及其对位方法,解决了现有的偏光片的对位工艺中,对于非矩形的偏光片的对位困难的问题,降低了非矩形形状的偏光片对位过程中的难度,提高了偏光片的对位精度,保证了得到的显示器件的性能。
为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:
第一方面,提供一种对位设备,所述对位设备应用于偏光片的对位中,所述对位设备包括:角度调整装置,其中:
所述角度调整装置设置为,根据待对位偏光片的在所述待对位偏光片所在的平面内的角度偏移量,对所述待对位偏光片进行角度调整。
可选的,所述角度调整装置包括:角度调整装置包括角度获取装置和角度补偿装置,其中:
所述角度获取装置设置为:获取所述角度偏移量;
所述角度补偿装置设置为:根据所述角度偏移量,以预定的旋转轴心对所述待对位偏光片进行旋转调整,以减小所述角度偏移量。
可选的,所述角度获取装置包括:检偏器、光强检测装置和偏移角度确认装置,其中:
所述检偏器包含检偏偏光片;
所述光强检测装置设置为:对既透过所述待对位偏光片又透过所述检偏偏光片的光线的强度进行检测;
所述偏移角度确认装置设置为:根据光强检测装置检测到的光线强度,确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。
可选的,所述角度获取装置还包括:所述偏移角度确认装置根据预先存储的所述光线强度与所述角度偏移量之间的映射关系数据,确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量片。
可选的,所述偏移角度确认装置设置为:根据光强检测装置检测到的光线强度,确认所述检偏偏光片的光轴方向与所述待对位偏光片的光轴方向之间的夹角,并根据预先存储的所述夹角与所述角度偏移量之间的映射关系数据确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。
可选的,所述待对位偏光片的光轴方向为所述待对位偏光片的吸收轴方向,所述检偏偏光片的光轴方向为所述检偏偏光片的吸收轴方向;
或,所述待对位偏光片的光轴方向为所述待对位偏光片的透过轴方向,所述检偏偏光片的光轴方向为所述检偏偏光片的透过轴方向。
可选的,所述角度获取装置还包括第一旋转装置,所述第一旋转装置设置为:对所述检偏偏光片进行旋转;
所述偏移角度确认装置是设置为:在所述第一旋转装置对所述检偏偏光片进行旋转的过程中,当检测的光线强度出现峰值时,根据所述检偏偏光片的光轴方向与所述待对位偏光片的光轴方向的夹角确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。
可选的,所述预定的旋转轴心为所述待对位偏光片的中心点。
可选的,所述对位设备还包括:位置调整装置,所述位置调整装置设置为:在所述待对位偏光片所在平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上对所述待对位偏光片进行位置调整。
可选的,所述位置调整装置具体设置为:在所述待对位偏光片所在平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上利用所述待对位偏光片上的对位标识对所述待对位偏光片进行位置调整。
第二方面,提供一种对位方法,应用于偏光片的对位中,所述方法包括:
根据待对位偏光片在所述待对位偏光片所在平面内的角度偏移量,对所述待对位偏光片进行角度调整。
可选的,所述根据待对位偏光片在所述待对位偏光片所在平面内的角度偏移量,对所述待对位偏光片进行角度调整,包括:
获取所述角度偏移量;
根据所述角度偏移量,以预定的旋转轴心对所述待对位偏光片进行旋转调整,以减小所述角度偏移量。
可选的,所述根据所述待偏光片的光轴方向和预设基准方向之间的夹角,获得所述角度偏移量,包括:
对既透过所述待对位偏光片又透过所述检偏偏光片的光线的强度进行检测;
根据检测到的光线强度,确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。
可选的,所述根据检测到的光线强度,确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量,包括:
根据预先存储的所述光线强度与所述角度偏移量之间的映射关系数据,确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。
可选的,所述根据检测到的光线强度,确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量,包括:
根据检测到的光线强度,确认所述检偏偏光片的光轴方向和所述待对位偏光片的光轴方向之间的夹角;
根据所述检偏偏光片的光轴方向和所述待对位偏光片的光轴方向之间的夹角与所述角度偏移量之间的映射关系数据,确认所述待对位偏光片的角度偏移量。
可选的,待对位偏光片的光轴方向为所述待对位偏光片的吸收轴方向,所述检偏偏光片的光轴方向为所述检偏偏光片的吸收轴方向;
或,所述待对位偏光片的光轴方向为所述待对位偏光片的透过轴方向,所述检偏偏光片的光轴方向为所述检偏偏光片的透过轴方向。
可选的,所述方法还包括:
对所述检偏偏光片进行旋转;
所述根据所述检偏偏光片的光轴方向和所述待对位偏光片的光轴方向之间的夹角,确认所述待对位偏光片的角度偏移量,包括:
在对所述检偏偏光片进行旋转的过程中,当检测的光线强度出现峰值时,根据所述检偏偏光片的光轴方向与所述待对位偏光片的光轴方向的夹角确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。
可选的,预定的旋转轴心为所述待对位偏光片的中心点。
可选的,所述方法还包括:
在所述对位偏光片所在的平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上对所述待对位偏光片进行位置调整。
可选的,所述在所述对位偏光片所在的平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上对所述待对位偏光片进行位置调整,包括:
在所述待对位偏光片所在平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上利用所述待对位偏光片上的对位标识对所述待对位偏光片进行位置调整。
本发明的实施例提供的对位设备及其对位方法,该对位设备应用于偏光片的对位中,包括:角度调整装置,角度调整装置可以根据待对位偏光片在待对位偏光片所在平面内的角度偏移量,对待对位偏光片进行角度调整,这样,无论是什么形状的偏光片,都可以根据偏光片的角度偏移量,实现偏光片中的吸收轴或透过轴与显示装置中的基准位置边之间的对位,解决了现有的偏光片的对位工艺中,对于非矩形的偏光片的对位困难的问题,降低了非矩形形状的偏光片对位过程中的难度,提高了偏光片的对位精度,保证了得到的显示器件的性能。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明的实施例提供的一种对位设备的结构示意图;
图2为本发明的实施例提供的另一种对位设备的结构示意图;
图3为本发明的实施例提供的又一种对位设备的结构示意图;
图4为本发明的另一实施例提供的一种对位设备的结构示意图;
图5为本发明的另一实施例提供的另一种对位设备的结构示意图;
图6为本发明的另一实施例提供的又一种对位设备的结构示意图;
图7为本发明实施例提供的偏光片的结构示意图;
图8为本发明实施例提供的一种偏光片的对位过程示意图;
图9为本发明的实施例提供的一种对位方法的流程示意图;
图10为本发明的实施例提供的另一种对位方法的流程示意图;
图11为本发明的实施例提供的又一种对位方法的流程示意图;
图12为本发明的另一实施例提供的一种对位方法的流程示意图;
图13为本发明的另一实施例提供的另一种对位方法的流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明的实施例提供一种对位设备,该对位设备应用于偏光片的对位中,参照图1所示,该对位设备包括:角度调整装置1,其中:
角度调整装置1,用于根据待对位偏光片在待对位偏光片所在平面内的角度偏移量,对待对位偏光片进行角度调整。
其中,本申请中实施中的角度偏移可以是与位置偏移或距离偏移相对的都是用于表征待对位偏光片与预期的位置和旋转角度之间的偏差的量。其中,位置偏移具体是指待对位偏光片上的任意点或预设点在相互垂直的x和y两个坐标方向上的位置与预期的位置之间的偏差量;角度偏移是指都确定之后,待对位偏光片围绕任意的点或预设的点进行旋转(由于误差或其他操作时产生的旋转)后所产生的角度偏移,表现为待对位偏光片的实际光轴方向不符合预期的光轴方向。
在偏光片的对位过程中,例如可以在以待对位偏光片上任意点或设定的点为基准进行物理位置对位之前或之后,确认是否还存在角度偏移,如果存在角度偏移则以该任意点或者预设点为轴心进行旋转针对存在的角度偏移进行角度调整,使角度偏移量为零,即实现位置上和角度上都准确对位。如果不存在角度偏移则不作角度补偿的处理。
需要说明的是,本实施例仅描述了在偏光片所在的平面内的对位和角度调整的情况,但并不限定只能是在偏光片所在的平面内进行对位和角度调整。当然,在其他平面内进行对位和角度调整的方法是同样适用的。
其中,本实施例中并不特别限定角度调整装置的具体设备,只要是可以实现对应装置的功能的设备均可以适用于本实施例中。
本发明的实施例提供的对位设备,该对位设备应用于偏光片的对位工艺对位中,包括:角度调整装置,角度调整装置可以根据待对位偏光片在待对位偏光片所在平面内的角度偏移量,对待对位偏光片进行角度调整,这样,无论是什么形状的偏光片,都可以根据偏光片的角度偏移量,实现偏光片中的吸收轴或透过轴与显示装置中的基准位置边之间的对位,解决了现有的偏光片的对位工艺中,对于非矩形的偏光片的对位困难的问题,降低了非矩形形状的偏光片对位过程中的对位难度,提高了偏光片的对位精度,保证了得到的显示器件的性能。
在可选实施例中,参照图2中所示,角度调整装置1包括:角度获取装置11和角度补偿装置12,其中:
角度获取装置11,设置为获取角度偏移量。
其中,获取角度偏移量的方式可以有多种,例如获取待对位偏光片的光轴方向和预设基准方向之间的夹角从而获得角度偏移量,其中预设基准方向可以是显示基板中基准位置边的方向,或者可以直接将检偏偏光片的光轴所在的方向作为预设基准方向,亦或者是在其他的位置处设置的一条直线,直线的方向作为该预设基准方向。
角度补偿装置12,设置为根据角度偏移量,以预定的旋转轴心对待对位偏光片进行旋转调整,以减小角度偏移量。优选地,当然是旋转调整的量(即补偿量)正好抵消角度偏移量是最优的方案,可达到最优的角度偏移纠正的效果。
其中,预定的旋转轴心为待对位偏光片的中心点。
角度获取装置11的输出端与角度补偿装置12的输入端相连。
进一步,参照图3所示,角度获取装置11包括:检偏器111、光强检测装置112和偏移角度确认装置113,其中:
检偏器111的输出端与光强检测装置112的输入端相连。
光强检测装置112的输出端与偏移角度确认装置113的输入端相连。
检偏器111包含检偏偏光片。
光强检测装置112,设置为对既透过待对位偏光片又透过检偏偏光片的光线的强度进行检测。
偏移角度确认装置113,设置为根据光强检测装置112检测到的光线强度,确认待对位偏光片的角度偏移量。
具体的,检偏器可以设置在待对位偏光片的上方或者下方;或者,检偏器可以设置在待对位偏光片的右侧或者左侧。需要说明的是,本实施例中只是举例说明检偏器的位置,但并不限定只能是这些位置。在实际的设计中,只要是可以实现检偏器的功能的位置均可以适用。
具体的,光强检测装置可以检测接收到的经过待对位偏光片和检偏器后的偏转光线的强度,并将得到的偏转光线的光线强度发送至偏移角度确认装置,则偏移角度确认装置可以光线的强度确定待对位偏光片的光轴方向与预设基准方向之间的角度偏移量。
在可选实施例中,参照图4中所示,角度获取装置11还包括:光源114,其中:
光源114,用于发射光线至待对位偏光片。待对位偏光片位于光源114和检偏器111之间。
其中,光源114可以是自然光源、圆偏光光源、椭圆偏振光光源、部分偏振光光源或者线偏光光源,需要说明的是,如果光源是线偏光光源可以通过多次对线偏光光源进行旋转调整实现技术方案并达到需要的技术效果,当然不进行旋转的话,通过相应的不同光强和光轴之间的映射关系,也可以达到相应的技术效果。当然,本实施例中优选地采用圆偏光光源,此时无须对光源进行旋转调整,较为简便,相应地得到的结果准确度也较高。
示例性的,光源可以设置在待对位偏光片的下方或者上方,相对应的,检偏器可以设置在待对位偏光片的上方或者下方;或者,光源也可以设置在待对位偏光片的左侧或者右侧,相对应的,检偏器可以设置在待对位偏光片的右侧或者左侧。需要说明的是,本实施例中只是举例说明光源和检偏器的位置,但并不限定只能是这些位置。在实际的设计中,只要是可以实现光源和检偏器的功能的位置均可以适用。
可选的,偏移角度确认装置113根据预先存储的光线强度与角度偏移量之间的映射关系数据,确认待对位偏光片的角度偏移量。
具体可选的,偏移角度确认装置113具体设置为:根据光强检测装置112检测到的光线强度,确认检偏偏光片的光轴方向与待对位偏光片的光轴方向之间的夹角,并根据预先存储的所述夹角与所述角度偏移量之间的映射关系数据确认待对位偏光片的角度偏移量。
其中,待对位偏光片的光轴方向为待对位偏光片的吸收轴方向,检偏偏光片的光轴方向为检偏偏光片的吸收轴方向;
或,待对位偏光片的光轴方向为待对位偏光片的透过轴方向。检偏偏光片的光轴方向为检偏偏光片的透过轴方向。
在可选的实施例中,待对位偏光片的光轴方向与检偏偏光片的光轴方向之间的夹角即为待对位偏光片的角度的偏移量,待对位偏光片的光轴方向与检偏偏光片的光轴方向之间的夹角越大,待对位偏光片的角度的偏移量越大;待对位偏光片的光轴方向与检偏偏光片的光轴方向之间的夹角越小,待对位偏光片的角度的偏移量越小;一种可行的实现方案是确认待对位偏光片的光轴方向与检偏偏光片的光轴方向之间的夹角后,移动待对位偏光片使得待对位偏光片的光轴方向与检偏偏光片的光轴方向之间的夹角为零,则可以实现待对位偏光片的准确对位。
上述光轴方向的设定方式,对于角度偏移量的获取过程来说较为高效简便,获得的数值准确度也较高。当然可以不受上述方式限定,例如当待对位偏光片的吸收轴方向作为其所述光轴方向,而检偏偏光片的透过轴方向作为其所述光轴方向时,也是可以达到预期的技术效果的,只需把吸收轴方向和透过轴方向是垂直的这一因素考虑进去即可。
可选的,参照图5所示,角度获取装置11还包括:第一旋转装置115,其中:
第一旋转装置115设置为对检偏偏光片进行旋转;当然也可以设置为对待对位偏光片进行旋转。
偏移角度确认装置113设置为:在第一旋转装置115对检偏偏光片进行旋转的过程中,当检测的光线强度出现峰值时,再根据检偏偏光片的光轴方向与待对位偏光片的光轴方向的夹角确认待对位偏光片的角度偏移量。
需要说明的是,当检测的光线强度出现峰值时,说明待对位偏光片的光轴方向与检偏偏光片的光轴方向之间的夹角为零,待对位偏光片的角度偏移量为零,此时对待对位偏光片的角度补偿为零度,即无须转动。这样的话,就无须使用光线强度与角度偏移量之间的映射关系数据,或夹角与角度偏移量之间的映射关系数据,只需等到出现上述峰值时,就可直接确认检偏偏光片的光轴方向与待对位偏光片的光轴方向的夹角(同采用吸收轴或同采用透过轴时,出现峰值时两轴夹角为零度;一个采用吸收轴另一采用透过轴时,出现峰值时两周夹角为90度),再根据这个夹角就可以很方便地直接确定角度偏移量;该方案在实现上较为简便。
第一旋转装置115示例性的可以包括:机械夹持手臂、旋转台、开关等部件。
其中,第一旋转装置可以根据接收到的信息和预先存储的信息判断是否让偏光片转动,使得偏光片最终的位置在满足条件的位置上。
进一步,参照图6所示,对位设备还包括:位置调整装置2,
位置调整装置2设置为:在待对位偏光片所在平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上对待对位偏光片进行位置调整。
具体的,位置调整装置2具体设置为:在待对位偏光片所在平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上利用待对位偏光片上的对位标识对待对位偏光片进行位置调整。
其中,位置调整装置可以是在角度调整装置进行对待对位偏光片进行角度调整之前对待对位偏光片进行位置调整。当然,也可以是在角度调整装置进行对待对位偏光片进行角度调整之后对待对位偏光片进行位置调整。本实施例图6中只是示例性的说明位置调整装置和角度调整装置之间的连接关系,并不唯一的限定只能是如此,在具体的应用中可以根据实际设计的需求在决定位置调整装置和角度调整装置之间的先后顺序。
需要说明的是,本实施例中一种可行的实现方案是在对待对位偏光片进行角度调整之前,先对待对位偏光片进行位置调整,具体可以通过判断待对位偏光片所在位置的坐标与显示基板所在位置的坐标是否相对应来进行判断;若待对位偏光片的位置与显示基板的位置不对应则调整待对位偏光片的位置,若待对位偏光片的位置与显示基板的位置相对应,则不作任何处理。经过位置调整之后在对待对位偏光片进行角度调整,可以极大的提高对位效率和对位精度。
其中,如图7中所示,若偏光片的形状为矩形则采用现有技术中提供的对位方法进行偏光片的对位,如果出现对位偏差则可以很容易的分辨出对位不准确进而进行准确对位。但是若偏光片的形状为正多边形或者圆形,参照图7中所示,即使出现偏光片对位不准确,采用现有技术中的对位方法根据无法得知对位出现偏差,使得最终形成的显示装置中的偏光片的对位精度较差,影响显示器件的性能。但是采用本发明实施例中提供的对位方法后,可以保证偏光片的对位精度。示例性的以待对位偏光片的形状为圆形进行说明:先获取一需要对位的偏光片,参照图8中所示然后通过光源照射该偏光片后发送信息至角度获取装置,角度获取装置判断是否该偏光片需要偏转,然后发送数据信息至第一旋转装置,第一旋转装置根据反馈的数据信息对该偏光片进行角度旋转,得到对位精度准确的偏光片,之后将该偏光片贴附到相应的显示装置中偏光片的对位工艺完成。其中,图中箭头方向表示为偏光片的吸收轴或者透过轴方向。
本发明的实施例提供的对位设备,该对位设备应用于偏光片的对位工艺对位中,包括:角度调整装置,角度调整装置可以根据待对位偏光片在待对位偏光片所在平面内的角度偏移量,对待对位偏光片进行角度调整,这样无论是什么形状的偏光片,都可以根据偏光片的角度偏移量,实现偏光片中的吸收轴或透过轴与显示装置中的基准位置边之间的对位,解决了现有的偏光片的对位工艺中,对于非矩形的偏光片的对位困难的问题,降低了非矩形形状的偏光片对位过程中的对位难度,提高了偏光片的对位精度,保证了得到的显示器件的性能。
本发明的实施例提供一种对位方法,参照图7所示,该方法包括以下步骤:
101、根据待对位偏光片在待对位偏光片所在平面内的角度偏移量,对待对位偏光片进行角度调整。
其中,本实施例中的角度偏移可以是与位置偏移或距离偏移相对的,具体是指待对位偏光片上的任意点或预设点在相互垂直的x和y坐标方向上的位置都确定之后,待对位偏光片围绕这个点进行旋转时所产生的角度偏移。
需要说明的是,本实施例中的相应步骤的解释可以参照本实施例中的上述实施例中的描述,此处不再赘述。
本发明的实施例提供的对位方法,在偏光片的对位工艺中,根据待对位偏光片在待对位偏光片做在平面内的角度偏移量对偏光片的位置进行精细调整,这样无论是什么形状的偏光片,都可以根据偏光片的角度偏移量,实现偏光片中的吸收轴或透过轴与显示装置中的基准位置边之间的对位,解决了现有的偏光片的对位工艺中,对于非矩形的偏光片的对位困难的问题,降低了非矩形形状的偏光片对位过程中的对位难度,提高了偏光片的对位精度,保证了得到的显示器件的性能。
本发明的实施例提供一种对位方法,参照图8所示,该方法包括以下步骤:
201、获取角度偏移量。
其中,预设基准方向可以是显示基板中基准位置边的方向,或者可以是检偏偏光片的光轴所在的方向。
202、根据角度偏移量,以预定的旋转轴心对待对位偏光片进行旋转调整,以减小角度偏移量。
其中,预定的旋转轴心为待对位偏光片的中心点。
需要说明的是,本实施例中的相应步骤的解释可以参照本发明中上述实施例中的描述,此处不再赘述。
本发明的实施例提供的对位方法,在偏光片的对位工艺中,根据待对位偏光片在待对位偏光片做在平面内的角度偏移量对偏光片的位置进行精细调整,这样无论是什么形状的偏光片,都可以根据偏光片的角度偏移量,实现偏光片中的吸收轴或透过轴与显示装置中的基准位置边之间的对位,解决了现有的偏光片的对位工艺中,对于非矩形的偏光片的对位困难的问题,降低了非矩形形状的偏光片对位过程中的对位难度,提高了偏光片的对位精度,保证了得到的显示器件的性能。
本发明的实施例提供一种对位方法,参照图9所示,该方法包括以下步骤:
301、对既透过待对位偏光片又透过检偏偏光片的光线的强度进行检测。
302、根据检测到的光线强度,确认待对位偏光片的角度偏移量。
具体的,步骤302具体可以通过以下方式来实现:
根据预先存储的光线强度与角度偏移量之间的映射关系数据,确认待对位偏光片的度偏移量。
或者,通过以下方式来实现步骤302:
根据检测到的光线强度,确认检偏偏光片的光轴方向和待对位偏光片的光轴方向之间的夹角。
根据检偏偏光片的光轴方向和待对位偏光片的光轴方向之间的夹角与角度偏移量之间的映射关系数据,确认待对位偏光片的角度偏移量。
其中,待对位偏光片的光轴方向为待对位偏光片的吸收轴方向,检偏偏光片的光轴方向为检偏偏光片的吸收轴方向。
或,待对位偏光片的光轴方向为待对位偏光片的透过轴方向,检偏偏光片的光轴方向为检偏偏光片的透过轴方向。
303、根据角度偏移量,以预定的旋转轴心对待对位偏光片进行旋转调整,以减小角度偏移量。
其中,预定的旋转轴心为待对位偏光片的中心点。
需要说明的是,本实施例中的相应步骤的解释可以参照上述实施例中的描述,此处不再赘述。
本发明的实施例提供的对位方法,在偏光片的对位工艺中,根据待对位偏光片在待对位偏光片做在平面内的角度偏移量对偏光片的位置进行精细调整,这样无论是什么形状的偏光片,都可以根据偏光片的角度偏移量,实现偏光片中的吸收轴或透过轴与显示装置中的基准位置边之间的对位,解决了现有的偏光片的对位工艺中,对于非矩形的偏光片的对位困难的问题,降低了非矩形形状的偏光片对位过程中的对位难度,提高了偏光片的对位精度,保证了得到的显示器件的性能。
本发明的实施例提供一种对位方法,参照图10所示,该方法包括以下步骤:
401、在待对位偏光片所在的平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上对待对位偏光片进行位置调整。
其中,步骤401可以通过以下方式来实现:
在待对位偏光片所在平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上利用待对位偏光片上的对位标识对待对位偏光片进行位置调整。
具体的,判断待对位偏光片的坐标信息和显示基板的坐标信息是否相对应,若待对位偏光片的坐标信息和显示基板的坐标信息相对应则不做处理;若待对位偏光片的坐标信息和显示基板的坐标信息不对应,则调整偏光片的位置,使得待对位偏光片的坐标信息和显示基板的坐标信息相对应,实现待对位偏光片的位置调整。
402、对既透过待对位偏光片又透过检偏偏光片的光线的强度进行检测。
403、根据检测到的光线强度,确认检偏偏光片的光轴方向和待对位偏光片的光轴方向之间的夹角。
404、根据检偏偏光片的光轴方向和待对位偏光片的光轴方向之间的夹角与角度偏移量之间的映射关系数据,确认待对位偏光片的角度偏移量。
405、根据角度偏移量,以预定的旋转轴心对待对位偏光片进行旋转调整,以减小角度偏移量。
其中,预定的旋转轴心可以为待对位偏光片的中心点。
需要说明的是,本实施例中的相应步骤的解释可以参照本发明中的上述实施例中的描述,此处不再赘述。同时,本实施例只是以步骤401在步骤402之前执行为例进行说明,当然,步骤401也可以是在步骤405之后执行的。此时步骤402就是直接对透过待对位偏光片的光线的强度进行检测,然后执行后续的步骤。在具体的应用中,步骤401的执行顺序以实际的设计需求为依据来确定。
本发明的实施例提供的对位方法,在偏光片的对位工艺中,根据待对位偏光片在待对位偏光片做在平面内的角度偏移量对偏光片的位置进行精细调整,这样无论是什么形状的偏光片,都可以根据偏光片的角度偏移量,实现偏光片中的吸收轴或透过轴与显示装置中的基准位置边之间的对位,解决了现有的偏光片的对位工艺中,对于非矩形的偏光片的对位困难的问题,降低了非矩形形状的偏光片对位过程中的对位难度,提高了偏光片的对位精度,保证了得到的显示器件的性能。
本发明的实施例提供一种对位方法,参照图11所示,该方法包括以下步骤:
501、在待对位偏光片所在的平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上对待对位偏光片进行位置调整。
具体的,步骤501可以通过以下方式来实现:
在待对位偏光片所在平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上利用待对位偏光片上的对位标识对待对位偏光片进行位置调整。
502、对既透过待对位偏光片又透过检偏偏光片的光线的强度进行检测。
503、根据检测到的光线强度,确认检偏偏光片的光轴方向和待对位偏光片的光轴方向之间的夹角。
504、对检偏偏光片进行旋转。
505、在对检偏偏光片进行旋转的过程中,当检测的光线强度出现峰值时,根据检偏偏光片的光轴方向与待对位偏光片的光轴方向的夹角确认待对位偏光片的角度偏移量。
506、根据角度偏移量,以预定的旋转轴心对待对位偏光片进行旋转调整,以减小角度偏移量。
其中,预定的旋转轴心可以为待对位偏光片的中心点。
需要说明的是,本实施例中的相应步骤的解释可以参照本发明中的上述实施例中的描述,此处不再赘述。同时,本实施例只是以步骤501在步骤502之前执行为例进行说明,当然,步骤501也可以是在步骤506之后执行的。此时步骤502就是直接对透过待对位偏光片的光线的强度进行检测,然后执行后续的步骤。在具体的应用中,步骤401的执行顺序以实际的设计需求为依据来确定。
本发明的实施例提供的对位方法,在偏光片的对位工艺中,根据待对位偏光片在待对位偏光片做在平面内的角度偏移量对偏光片的位置进行精细调整,这样无论是什么形状的偏光片,都可以根据偏光片的角度偏移量,实现偏光片中的吸收轴或透过轴与显示装置中的基准位置边之间的对位,解决了现有的偏光片的对位工艺中,对于非矩形的偏光片的对位困难的问题,降低了非矩形形状的偏光片对位过程中的对位难度,提高了偏光片的对位精度,保证了得到的显示器件的性能。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (16)
1.一种对位设备,所述对位设备应用于偏光片的对位,其特征在于,所述对位设备包括:角度调整装置,所述角度调整装置设置为:根据待对位偏光片在所述待对位偏光片所在平面内的角度偏移量,对所述待对位偏光片进行角度调整;
所述对位设备还包括:位置调整装置,所述位置调整装置具体设置为:在所述待对位偏光片所在平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上利用所述待对位偏光片上的对位标识对所述待对位偏光片进行位置调整;
在所述偏光片的对位过程中,以所述待对位偏光片上任意点或设定的点为基准进行位置对位之后,确认是否还存在角度偏移,如果存在所述角度偏移则以所述任意点或设定的点为轴心进行旋转针对存在的所述角度偏移进行角度调整,使所述角度偏移量为零,实现位置上和角度上都准确对位。
2.根据权利要求1所述的对位设备,其特征在于,角度调整装置包括角度获取装置和角度补偿装置,其中:
所述角度获取装置设置为:获取所述角度偏移量;
所述角度补偿装置设置为:根据所述角度偏移量,以预定的旋转轴心对所述待对位偏光片进行旋转调整,以减小所述角度偏移量。
3.根据权利要求2所述的对位设备,其特征在于,所述角度获取装置包括:检偏器、光强检测装置和偏移角度确认装置,其中:
所述检偏器包含检偏偏光片;所述光强检测装置设置为:对既透过所述待对位偏光片又透过所述检偏偏光片的光线的强度进行检测;
所述偏移角度确认装置设置为:根据光强检测装置检测到的光线强度,确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。
4.根据权利要求3所述的对位设备,其特征在于,所述偏移角度确认装置根据预先存储的所述光线强度与所述角度偏移量之间的映射关系数据,确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。
5.根据权利要求3所述的对位设备,其特征在于,所述偏移角度确认装置设置为:根据光强检测装置检测到的光线强度,确认所述检偏偏光片的光轴方向与所述待对位偏光片的光轴方向之间的夹角,并根据预先存储的所述夹角与所述角度偏移量之间的映射关系数据确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。
6.根据权利要求5所述的对位设备,其特征在于,
所述待对位偏光片的光轴方向为所述待对位偏光片的吸收轴方向,所述检偏偏光片的光轴方向为所述检偏偏光片的吸收轴方向;
或,所述待对位偏光片的光轴方向为所述待对位偏光片的透过轴方向,所述检偏偏光片的光轴方向为所述检偏偏光片的透过轴方向。
7.根据权利要求3或5所述的对位设备,其特征在于,
所述角度获取装置还包括第一旋转装置,所述第一旋转装置设置为:对所述检偏偏光片进行旋转;
所述偏移角度确认装置是设置为:在所述第一旋转装置对所述检偏偏光片进行旋转的过程中,当检测的光线强度出现峰值时,根据所述检偏偏光片的光轴方向与所述待对位偏光片的光轴方向的夹角确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。
8.根据权利要求2所述的对位设备,其特征在于,
所述预定的旋转轴心为所述待对位偏光片的中心点。
9.一种对位方法,应用于偏光片的对位中,其特征在于,所述方法包括:
根据待对位偏光片在所述待对位偏光片所在平面内的角度偏移量,对所述待对位偏光片进行角度调整;
所述方法还包括:在所述待对位偏光片所在平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上利用所述待对位偏光片上的对位标识对所述待对位偏光片进行位置调整;
在所述偏光片的对位过程中,以所述待对位偏光片上任意点或设定的点为基准进行位置对位之后,确认是否还存在角度偏移,如果存在所述角度偏移则以所述任意点或设定的点为轴心进行旋转针对存在的所述角度偏移进行角度调整,使所述角度偏移量为零,实现位置上和角度上都准确对位。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述根据待对位偏光片在所述待对位偏光片所在平面内的角度偏移量,对所述待对位偏光片进行角度调整,包括:
获取所述角度偏移量;
根据所述角度偏移量,以预定的旋转轴心对所述待对位偏光片进行旋转调整,以减小所述角度偏移量。
11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述根据所述待对位偏光片的光轴方向和预设基准方向之间的夹角,获得所述角度偏移量,包括:
对既透过所述待对位偏光片又透过检偏偏光片的光线的强度进行检测;
根据检测到的光线强度,确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。
12.根据权利要求11所述的方法,其特征在于,所述根据检测到的光线强度,确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量,包括:
根据预先存储的所述光线强度与所述角度偏移量之间的映射关系数据,确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。
13.根据权利要求11所述的方法,其特征在于,所述根据检测到的光线强度,确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量,包括:
根据检测到的光线强度,确认所述检偏偏光片的光轴方向和所述待对位偏光片的光轴方向之间的夹角;
根据所述检偏偏光片的光轴方向和所述待对位偏光片的光轴方向之间的夹角与所述角度偏移量之间的映射关系数据,确认所述待对位偏光片的角度偏移量。
14.根据权利要求13所述的方法,其特征在于,
所述待对位偏光片的光轴方向为所述待对位偏光片的吸收轴方向,所述检偏偏光片的光轴方向为所述检偏偏光片的吸收轴方向;
或,所述待对位偏光片的光轴方向为所述待对位偏光片的透过轴方向,所述检偏偏光片的光轴方向为所述检偏偏光片的透过轴方向。
15.根据权利要求11或13所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
对所述检偏偏光片进行旋转;
所述根据所述检偏偏光片的光轴方向和所述待对位偏光片的光轴方向之间的夹角,确认所述待对位偏光片的角度偏移量,包括:
在对所述检偏偏光片进行旋转的过程中,当检测的光线强度出现峰值时,根据所述检偏偏光片的光轴方向与所述待对位偏光片的光轴方向的夹角确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。
16.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,
预定的旋转轴心为所述待对位偏光片的中心点。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410844035.3A CN104460069B (zh) | 2014-12-30 | 2014-12-30 | 一种对位设备及其对位方法 |
US14/893,761 US9904079B2 (en) | 2014-12-30 | 2015-06-05 | Alignment apparatus and alignment method |
PCT/CN2015/080828 WO2016107080A1 (zh) | 2014-12-30 | 2015-06-05 | 对位设备及对位方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410844035.3A CN104460069B (zh) | 2014-12-30 | 2014-12-30 | 一种对位设备及其对位方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN104460069A CN104460069A (zh) | 2015-03-25 |
CN104460069B true CN104460069B (zh) | 2017-11-14 |
Family
ID=52906369
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201410844035.3A Expired - Fee Related CN104460069B (zh) | 2014-12-30 | 2014-12-30 | 一种对位设备及其对位方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9904079B2 (zh) |
CN (1) | CN104460069B (zh) |
WO (1) | WO2016107080A1 (zh) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104460069B (zh) * | 2014-12-30 | 2017-11-14 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种对位设备及其对位方法 |
CN105425478B (zh) * | 2016-01-04 | 2019-09-17 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种对盒装置 |
CN107065244B (zh) * | 2017-05-12 | 2021-01-22 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种偏光片贴附方法及设备 |
CN109817092A (zh) * | 2019-03-21 | 2019-05-28 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种偏光片对位装置及对位方法 |
CN112987354B (zh) * | 2021-03-09 | 2022-09-30 | 深圳汇义科技有限公司 | 偏光片贴合精度检测装置及其控制方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3796995B2 (ja) * | 1999-01-29 | 2006-07-12 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置の製造方法 |
US6961177B2 (en) * | 2001-06-01 | 2005-11-01 | Sony Corporation | Stereoscopic image display apparatus, display apparatus, divided wave plate filter, plate-shared filter, and filter position adjusting mechanism attached to the display apparatus, aligning apparatus, filter position adjusting method, and filter aligning method |
US7277172B2 (en) * | 2005-06-06 | 2007-10-02 | Kla-Tencor Technologies, Corporation | Measuring overlay and profile asymmetry using symmetric and anti-symmetric scatterometry signals |
JP5521305B2 (ja) * | 2008-10-08 | 2014-06-11 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶装置の製造方法および液晶装置 |
WO2010145003A1 (en) * | 2009-06-16 | 2010-12-23 | Baanto International Ltd. | Two-dimensional and three-dimensional position sensing systems and sensors therefor |
CN103149727B (zh) * | 2011-12-06 | 2015-05-06 | 上海天马微电子有限公司 | 自动对正贴片方法及系统 |
CN102393568B (zh) * | 2011-12-13 | 2013-05-22 | 昆山龙腾光电有限公司 | 用于立体显示装置的对位系统及对位方法 |
US9869935B2 (en) * | 2012-05-30 | 2018-01-16 | Rolic Ag | Fast generation of elements with individually patterned anisotropy |
US20140111849A1 (en) * | 2012-10-18 | 2014-04-24 | Polarization Solutions, Llc | Apparatus and method for mosaic gratings-based polarizer |
CN103697836A (zh) * | 2013-12-19 | 2014-04-02 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 偏光片的轴角测定装置 |
CN204462577U (zh) * | 2014-12-30 | 2015-07-08 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种对位设备 |
CN104460069B (zh) | 2014-12-30 | 2017-11-14 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种对位设备及其对位方法 |
-
2014
- 2014-12-30 CN CN201410844035.3A patent/CN104460069B/zh not_active Expired - Fee Related
-
2015
- 2015-06-05 WO PCT/CN2015/080828 patent/WO2016107080A1/zh active Application Filing
- 2015-06-05 US US14/893,761 patent/US9904079B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9904079B2 (en) | 2018-02-27 |
US20160341984A1 (en) | 2016-11-24 |
WO2016107080A1 (zh) | 2016-07-07 |
CN104460069A (zh) | 2015-03-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN104460069B (zh) | 一种对位设备及其对位方法 | |
US7471380B2 (en) | Rubbing angle-measuring equipment, and manufacturing methods of liquid crystal display device and optical film | |
CN204462577U (zh) | 一种对位设备 | |
CN102531367B (zh) | 基板加工方法 | |
EP2735905B1 (en) | Double-surface manufacturing method and exposure apparatus | |
CN105609458B (zh) | 一种晶圆对准检测方法及系统 | |
CN102226860A (zh) | 液晶显示装置的制造方法和用于配向处理的曝光装置 | |
CN104296874A (zh) | 光取向用偏振光照射装置以及光取向用偏振光照射方法 | |
KR20120140632A (ko) | 타이틀링 방법 및 장치 | |
CN109507771A (zh) | 一种保偏光纤端面对轴装置及方法 | |
CN107132618A (zh) | 一种微结构光纤熔接系统及熔接方法 | |
CN107065244B (zh) | 一种偏光片贴附方法及设备 | |
CN103149727B (zh) | 自动对正贴片方法及系统 | |
CN104460062A (zh) | 一种光配向特性检测方法、装置及系统 | |
CN103808285A (zh) | 预对准机与机械手相对坐标系的标定方法 | |
CN106019721A (zh) | 光配向膜制作过程中偏光板的调节方法及装置 | |
CN102707475B (zh) | 显示面板的制造方法及其修复线结构 | |
US11307506B2 (en) | Method, apparatus, and system for forming code | |
CN104950800A (zh) | 一种寻踪定位处理系统及定位方法 | |
CN206788409U (zh) | 一种微结构光纤熔接系统 | |
CN102551724A (zh) | 一种智能激光投影定位装置 | |
CN109064886A (zh) | 一种绑定机台水平对位系统及方法 | |
CN108534993A (zh) | 一种液晶可变相位延迟器偏振特性检测方法及系统 | |
CN107869963A (zh) | 测量装置 | |
KR20110019990A (ko) | 기판 정렬 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20171114 |