CN104423379B - 用于传感器输出接口中的内部和外部错误检测的系统和方法 - Google Patents
用于传感器输出接口中的内部和外部错误检测的系统和方法 Download PDFInfo
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Abstract
公开了一种具有用于检测出现于系统内部的错误的车载诊断(OBD)电路的诸如传感器系统的集成电路系统和相关方法。在一个实施例中,ADC多路复用器接收来自输出驱动器的模拟输出回读,并提供使得用于完全独立于数模转换器(DAC)和输出驱动器执行的内部错误指示的OBD电路被触发的信号,该数模转换器(DAC)和输出驱动器可能是故障点。
Description
技术领域
实施例一般涉及传感器输出接口,并且更特别地涉及实施车载诊断(OBD)电路的传感器输出接口,从而利用模拟输出回读技术检测传感器的外部和内部的错误或故障。
背景技术
在集成电路(IC)中实施的传感器和传感器系统通常具有模拟输出接口,用于将传感器信号传递至其他系统部件,诸如汽车应用中的电子控制单元(ECU)或其他设备。模拟输出接口通常包括数模转换器(DAC)和输出驱动器,使得来自驱动器的输出电压通过导线传递至设备外部。在外部导线的线路中断,例如导线本身中断的事件中,输出将浮置或其他不期望的或甚至破坏性的错误可能出现。因此,车载诊断(OBD)部件可以在传感器系统中实施,从而检测类似的外部线路中断。
在一个配置中,两个OBD电路提供在IC内。第一OBD电路耦合在模拟输出接口的输出和用于提供电势VDD的端子之间,第二OBD电路耦合在输出和负供电电势或参考地电势GND的端子之间。OBD电路本质上是开关,包括,例如耗尽型晶体管并且当IC正确工作时该OBD电路常开。在外部故障,诸如引起IC失去功率的线路中断的事件中,OBD电路闭合并形成短路,使得输出信号拉向VDD或GND以指示错误。
传统的传感器通常通过限定OBD诊断输出值或钳位范围(clamping ranges)使得模拟输出的工作范围得以降低至例如10%到90%VDD来提供诊断。这不利地限制外部输出信号电平。此外,某一安全需求,例如汽车安全完整性等级(ASIL)标准,提供内部功能性的诊断。为了实现这些需求,通常要限定扩展的诊断输出值或钳位范围,使得模拟输出的工作范围进一步降低,例如20%到80%VDD,导致输出信号电平进一步降低,这将是非常不利的。另一劣势是,如果模拟输出接口本身内部出现故障,这很可能是由于DAC或输出驱动器故障,则不再传递诊断输出值或钳位范围。由于输出级通常需要显著芯片面积以便于为IC部件的所有或至少关键部件的安全诊断,这还可以显著地降低诊断覆盖率。
在许多应用中,一般需要能够检测传感器内部和外部的错误的传感器。某些传统方法的缺陷是限制剩余信号电平。传统方法的进一步缺陷是关于DAC和输出驱动器的依赖,使得DAC或输出驱动故障导致不传递钳位范围。提供内部检测错误的传统传感器的进一步劣势是,提供诊断性能所需的额外部件的数量,因而增加电路的尺寸、成本和复杂性。
发明内容
实施例涉及包括用于检测系统内部或外部出现的错误的车载诊断电路的集成电路系统和方法。
在一个实施例中,集成电路系统包括至少一个车载诊断电路;提供系统输出信号的输出驱动器;和耦合到至少一个车载诊断电路且被配置为比较系统输出信号和值从而当比较值指示错误时经由至少一个车载诊断电路提供错误输出信号的控制单元。
在一个实施例中,检测集成电路系统的内部错误的方法包括提供系统的输出信号给系统的内部控制电路;比较输出信号和值;以及如果该比较偏离该值预定义限制值,则经由车载诊断电路提供指示系统内部错误的错误信号。
附图说明
结合附图考虑以下本发明的各个实施例的详细说明可以更全面的理解本发明,在附图中:
图1是根据一个实施例的实施OBD电路的传感器系统和其中在主DAC回读和测量模拟输出信号的简化方框图的透视图。
图2是根据一个实施例的详细描述确定传感器系统中的内部故障的方法的流程图。
图3是根据一个实施例的其中经由芯片上温度ADC回读和测量模拟输出信号的传感器系统的简化方框图的透视图。
尽管本发明经得起各种改进和可选形式的检验,但是在附图中已经通过实例示出其细节,并将详细描述。然而,应当理解,本发明不限于所描述的特定实施例。相反,本发明是为了涵盖在由所附权利要求限定的本发明的精神和保护范围内的所有修改、等效形式和替换。
具体实施方式
实施例涉及集成电路系统和方法,诸如传感器系统,其包括用于检测系统内部出现的错误所使用的车载诊断(OBD)电路。例如,在一个实施例中,OBD电路可以用于检测系统的输出驱动器部分中出现的错误。在一个实施例中,ADC多路复用器接收系统的模拟输出信号、数字化该模拟信号、并提供数字化的信号给控制电路。控制电路比较数字化信号和值,值诸如预期输出信号、信号或某一其他值的范围,并且如果检测到错误,则提供信号给OBD电路。在OBD电路内,充电泵被去激活,其闭合OBD开关,从而在系统的输出提供指示错误的诊断输出。该错误指示可以独立于可能是系统内的故障点的数模转换器(DAC)和输出驱动器而执行。因此,这些和其他内部系统部件和操作内的错误可以被检测和经由一个或多个OBD电路传递至系统外部。
在一个实施例中,集成电路(IC)系统,诸如传感器系统,可以包括至少一个OBD电路,每个OBD电路包括充电泵和开关。在实施例中,开关包括晶体管,诸如耗尽型晶体管,例如MOSFET。在一个实施例中IC系统进一步包括输出驱动器、ADC多路复用器和芯片控制电路。至少一个OBD电路耦合到正供电电势的端子VDD,和至少一个OBD电路耦合到负供电电势或参考地电势的端子GND。
输出驱动器输出模拟输出信号VOUT,在一个实施例中其可以由ADC回读。ADC输出耦合到芯片控制电路,芯片控制电路进而耦合到至少一个OBD电路的充电泵。模拟输出信号被回读至ADC多路复用器,并被分析。如果输出信号VOUT偏离期望值超过某一限制值,芯片控制电路发送信号至充电泵,该期望值可以是预期输出值、预设值或某些其他值。然后充电泵去激活,以闭合OBD电路开关,因而提供或启用指示错误或其他异常操作事件的诊断输出。
因此,在实施例中,IC系统之内或者内部的错误可以通过分析经由内部ADC的输出信号的回读信号而检测。在另一个实施例中,外部错误可以通过分析经由内部ADC的输出信号的回读信号而检测。
图1描绘根据一个实施例的集成电路(IC)系统100的简化方框图。IC系统100包括所描绘的传感器系统,但是在其他实施例中可以参考这里的IC系统或传感器系统而包括某些其他IC系统、电路、芯片或设备,这里的IC系统或传感器系统贯通全文仅作为一个实施例的示例和出于讨论而使用。尽管本文中可以描绘和讨论具体实施例,但是具体实施例不认为关于其他实施例和/或权利要求是限制性的。此外,本文中的许多描绘一般是为了说明和方便,本领域的普通技术人员将认识到,各种电子元件可以与为了说明使用的特定实例有所不同地进行配置和/或耦合,从而提供其他实施例,而同时仍提供与所描绘的实施例相同或相似的功能性或特征。
在一个实施例中IC系统100包括第一OBD电路101和第二OBD电路103。第一OBD电路101包括OBD开关102和充电泵106,并耦合在集成电路的输出VOUT和正供电电势VDD的端子之间。第二OBD电路103包括OBD开关104和充电泵108,并耦合在集成电路的输出VOUT和负供电电势或参考地电势GND的端子之间。因此第一OBD电路101可以指“高”侧电路,而第二OBD电路103可以指“低”侧OBD电路,如在该实例实施例中描绘和描述的。在其他实施例中,可以使用更多或更少OBD电路、充电泵和/或OBD开关。
在实施例中,第一和第二OBD开关102和104包括一个或多个晶体管,例如诸如MOSFET的耗尽型晶体管或可以有效地起到开关的作用的另一个合适的晶体管类型。因此,当开关102和104是由其各自的充电泵106和108供电且打开时,VOUT传递至系统100的输出,以及当任一个充电泵106或108去激活使得相对应的开关102或104闭合时,分别在VOUT和任一个VDD或GND之间形成短路。
传感器系统100可以进一步包括耦合到输出驱动器112的正输入的数模转换器(DAC)110。来自输出驱动器112的输出信号VOUT耦合到且提供负反馈控制给输出驱动器112的负输入。输出信号VOUT还提供在系统100的输出,并连接到外部导线114。在一个实施例中,到外部导线114的连接可以经由焊盘116实现、虽然在其他实施例中可以使用引脚、引线、接触、接线或其他结构。
在实施例中,系统100包括能够检测内部错误(即,系统100内出现的错误)的部件、耦合和/或功能。在一个实施例中,系统100包括模数转换器多路复用器(ADC MUX)122,其耦合到系统100的输出驱动器112且被配置为接收或回读模拟输出信号VOUT。在实施例中,ADCMUX 122可以包括组合的ADC或多路复用器或在其他实施例中可以包括相异的ADC和相异的多路复用器,或某些其他合适的设备和/或配置。ADC MUX 122的输入耦合到例如传感器124和芯片控制或状态机126,以及耦合到输出驱动器112。在实施例中,传感器124可以包括任何期望的传感器,例如,一个或多个加速度传感器、温度传感器、湿度传感器、压力传感器、光学传感器、磁场传感器、或其他合适的传感器。状态机或芯片控制126可以耦合到充电泵106、108和DAC 110。在实施例中,各种其他电路元件,诸如微处理器,可以耦合到ADC 122的输出,以接收和比较由ADC 122输出的信号。
在实施例中,系统100可以进一步包括可以耦合到本领域的普通技术人员理解的各种其他部件的电压供给或调节器130和/或时钟发生器132。为了简化起见,图1中描绘的实施例未示出这样的耦合。本领域的普通技术人员将认识到,未具体描绘或讨论的其他部件、耦合和特征可以包括在这些或其他实施例的系统100中,其中图1中的特定描绘仅仅是一个简化实例。
在工作中,传感器信号S1是由传感器124生成。在正常操作中,信号S1通过系统100传播,使得经由接合焊盘116提供输出信号VOUT。在实施例中,为了确定系统100内是否已经出现可能影响VOUT的精确性或可靠性的任何错误,模拟输出信号VOUT传递或回读至ADC多路复用器122。在实施例中合适的芯片控制信号C1也通过芯片控制电路126提供给ADC MUX122。在ADC MUX 122数字化模拟输出信号VOUT,然后该数字化信号传递至芯片控制电路126用于比较或评估。
在一个实施例中,回读且数字化VOUT可以与保存在芯片控制电路126的存储器部分的预先设定的期望值或范围进行比较。在另一个实施例中,可以与实际值比较,诸如保存在芯片控制电路126的存储器部分中的原始数字化信号S1。在其他实施例中,可以与标准值、传统值、或某些其他信号、值或范围进行比较。在一个实施例中,芯片控制电路126可以比较这些值,并且在各种实施例中,如果回读数字化信号比如完全偏离预设的期望值或者偏离超过给定预定义的限制值(例如,偏离至少大约10%,比如至少大约25%,例如在一个实施例中至少大约30%,或者偏离由系统100的OEM或其他实施者设定且保存在系统100的EEPROM或其他存储器或其他位置的某一值或范围等),芯片控制电路126将信号发送至合适的充电泵106、108,以去激活充电泵106、108。在其他实施例中,这些值可以与例如实施例中的VDD的大约10%到90%的范围内的预定的值或范围比较。
去激活充电泵106、108具有分别激活OBD电路102或104的效果。如先前所述,在实施例中OBD开关102、104包括晶体管或当由充电泵106、108供电时常开的其他电路或元件。通过去激活相对应的充电泵106、108来激活(例如,闭合)这些开关102、104。激活任一个OBD电路102、104导致在系统100的输出提供相对应的诊断输出VDD或GND。在一个实施例中,在任意时间激活一个或其他OBD电路102、104,尽管在其他实施例中还可以例如基于芯片控制126的操作而激活第二OBD电路102、104。
在系统100的预期正常输出信号范围之外的这些输出诊断输出VDD或GND中的任一个可以指示当向通过例如接合焊盘116和导线114耦合到系统100的电子控制单元(ECU)、微处理器或其他设备或系统提供时或者被其接收时的错误。ECU或其他电路或设备可以采取合适的行为,例如提供警报给操作人员或用户、禁用系统100或连接其上的某些其他系统或部件、激活自动防故障程序(fail-safe routine)或实施某些其他过程或步骤。因此,在一个实施例中,内部错误,例如DAC 110或输出驱动器112的内部错误可以通过回读和数字化输出信号VOUT,然后在控制单元比较数字化信号而得到检测。输出信号VOUT偏离以某一预定义的限制值和/或与预期值偏离通过去激活相关联的充电泵106、108而触发经由至少一个OBD电路102、14的诊断输出。OBD电路102、104还可以检测外部错误,而检测内部错误基本上不影响或改变其初始用途或在实施例中的实施。
图2示出检测与图1的系统100或本文中讨论的其他系统相似的传感器系统的内部错误的方法200的一个实施例。本领域的普通技术人员将理解,方法200可以包括额外的步骤和序列,在各个实施例中可以发出所描绘的一个或多个步骤或序列。在202,模拟输出信号例如通过输出驱动器112或某些其他电路或系统部件被输出。在204,模拟输出信号被回读或者以其他方式传递至内部ADC,在206,ADC将模拟信号转化为数字信号206。在实施例中,如果数字信号被输出(在实施例中,可能是这种情形),可以省略模数转换,或者可以以另一种方式执行模数转换。在208,数字信号传递至控制电路,在210控制电路如上所讨论的,通过评估或比较数字信号和基准、实际或预定的值或范围来确定是否已经出现错误。如果210的结果指示系统内部出现错误(“是”),则在212去激活充电泵使得OBD开关电路闭合,从而在214提供诊断输出。如果210的结果不指示错误(“不是”),那么可以继续运行,其可以包括返回至204来回读额外的输出信号,以便以相似方式进行比较。
在实施例中,对于每个输出信号可以在启动时定期或以某些其他频率进行回读和比较,这可以根据用户喜好、系统功能、相关安全标准、传感器操作或性能、或某些其他因素改变。如果例如通过车载诊断电路检测到外部错误,其结果可能是中断正常运行,则方法200还可以中断。
图3描绘诸如传感器系统的IC系统300的另一个实施例,该系统在一个实施例中可以包括第二传感器306。尽管温度传感器在图3中描绘(其在传感器系统中常见),但是在其他实施例中可以实施某些其他传感器,如本文中以上关于图1的实施例所述。除非具体讨论或标识,否则系统300中的部件、特征和一般操作与系统100的部件、特征和一般操作相似。在系统300中,传感器124耦合到ADC 304,而传感器306耦合到ADC MUX 302,使得每个传感器124和306具有其自己的到芯片控制电路126的信号路径。如果传感器124和306具有不同采样率,例如在温度传感器306的示例中,其可以比传感器124更慢地改变(slowerchanging),这样的配置是有利的。
在运行中,系统300与如上所述的系统100相似。ADC 304从传感器124接收传感器信号S1,并提供信号给芯片控制126。在一个实施例中传感器信号S1、芯片控制信号C1和模拟输出信号VOUT都提供给温度ADC多路复用器302。在其他实施例中,ADC 304和ADC MUX 302可以互换或由单个ADC MUX代替。模拟输出信号VOUT被回读或传递至温度ADC MUX 302并在该温度ADC MUX 302数字化,然后传送至芯片控制电路126以用于与例如预设期望值、实际或预期值、基准值或范围或某些其他量进行比较。如果比较失败,例如数字化信号偏离预设期望值超过给定预定义的限制值或在实施例中的范围之外。芯片控制电路126传送信号至至少一个充电泵106、108,以禁用该充电泵,充电泵进而引起相对应的OBD开关102或104分别闭合,并分别在VDD或GND和系统300的输出之间形成短路。
在与图1或图3中的任一个相关的实施例中和为了进一步的诊断和安全完整性目的,可以强制错误以便观察:输出电压VOUT是否到达与激活OBD 102、104时相同的值。这可以例如尝试识别可能与OBD 102、104本身相关联的任何错误,并由此提供在系统100或300内的诊断覆盖率。另一个实施例包括使得模拟输出被推离或拉离期望的模拟输出值,从而通过激活OBD电路102、104的诊断输出来验证安全机制反应。这些和其他额外的诊断可以例如由芯片控制电路126比如在启动时执行,或可以在系统100或300外部例如通过ECU初始化。
在另一个实施例中,外部错误,例如线路中断,可以通过经由内部DAC 110回读输出信号VOUT而检测,因为某些线路中断可以影响VOUT或系统100或300的其他内部部件。检测这些外部错误的内部影响可以有助于防止系统100或300受损,以及有助于识别可能不能以其他方式检测或可探测的或否则可能具有不利影响的外部错误。在外部线路中断的事件中,输出信号VOUT被拉至故障漂移(faulty drift)的方向。例如,如果漂移高,那么输出信号VOUT被拉向VDD,与如果充电泵106被去激活和OBD开关102闭合以形成在VDD和系统100或300的输出之间形成短路使得可以检测错误时所提供的诊断输出相似。通过去激活充电泵106、108以闭合相对应的OBD开关102、104,输出信号VOUT偏离某一预定义的限制值使得激活至少一个诊断输出。在一个实施例中,可以检测除了线路中断或导线断裂之外的其他类型的外部故障。因此VOUT的评估也可以考虑内部和/或外部事件在其上的影响。
在另一个实施例中,通过以轮询的方式操作OBD电路101和103可以检测暂时性或短暂性错误,正如通过周期性地去激活(如果是持久性错误,激活)电路101和103之一或二者以便检测可以出现和消失的暂时性或周期性错误。某些短暂性错误,尽管是短暂性的,但是仍可以对系统100或300或其他部件引起损伤或对正常系统运行产生干扰,使得检测这些错误可以有利的。然而,检测这些错误可能是困难的,因为这些错误本质上是暂时性的,并且可以导致零星的但难以隔离的问题。然而,在实施例中,如果检测或怀疑错误,可以禁用OBD电路101和/或103,可以监控VOUT以查看是否返回正常。这样的操作还可以用于隔离暂时性故障的可能源头。如果输出信号VOUT返回正常,那么OBD电路101和103可以恢复正常运行。
其他实施例可以包括双裸片概念或双数据路径概念。因此,尽管本文中描绘的实施例可以包括单个裸片和/或集成电路,但是还可以实施双裸片或多裸片实施例。此外,数据路径,诸如对于图3中的传感器124和306,可以在其他实施例中制造得更不同,或可以实施额外的电路和信号传输路径。例如,在一个实施例中每个OBD电路101和103可以具有其自己的信号回读和评估路径,或可以实施冗余。尽管这些实施例可以与成本增加相关联,但是在对安全性要求苛刻或超高完整性的系统中还是期望的。
在另一个实施例中,传感器系统100或300可以装备有额外的输出引脚以指示任何故障。例如,在实施例中可以提供单独的裸片焊盘、引脚或其他输出接触,从而提供具有VOUT的单个错误信号或并行错误信号。例如,对于在错误的情况中,例如由ECU或其他外部部件进行第二次检查VOUT,这可能是有用的。其他实施例还可以提供额外的部件和特征。例如,在一个实施例中,本领域中的普通技术人员理解,安全状态信令可以通过利用额外的电路和部件经由调节电源的额外负载晶体管实现。
本文中所描述的传感器系统的实施例可以包括一旦应用电压和信号就执行具体功能的互连电子部件。本领域中的普通技术人员一般已知这些功能。本文中所述的实施例可以包括所描绘和/或描述的更多或更少部件。为了便于讨论,各个其他电路元件未示出但是可以被并入,例如,一个或多个二极管、电阻器、电容器、开关、晶体管、轨迹、耦合、连接器、焊盘、和其组合。然而,对本领域的普通技术人员显而易见地,在实施例中,各个其他电路元件将是有利的。
传感器系统部件的实施例在本文中描述为“耦合”。本领域中的普通技术人员将理解,“耦合”指示部件之间的操作关联性,其中部件互相作用,并且来回发送电压、信号等。就其本身而言,部件可以间接耦合或直接耦合。间接耦合的部件的实施例可以具有一个或多个部件或在部件之间的耦合路径中的电路元件。直接耦合的部件的实施例在部件之间的耦合路径中无部件或电路元件与之连接。除非具体提及,否则部件一般认为是间接耦合的。本文中描述的实施例不限于容纳在单个印刷电路板上或在单个芯片内。
本文中已经描述系统、设备和方法的各个实施例。这些实施例仅仅通过实例提供,并且不是为了限制本发明的保护范围。而且,应当理解,已经描述的实施例的各个特征可以通过不同方式组合起来,从而产生许多额外的实施例。而且,尽管已经描述各个材料、尺寸、形状、配置和位置等用于所公开的实施例,但是在不超过本发明的保护范围的情况下,可以使用除了所公开之外的其他因素。
相关领域的普通技术人员将认识到,本发明可以包括比以上所述的任何单独实施例更少的特征。本文中所述的实施例并不旨在其中可以组合本发明的各个特征的方式的穷尽介绍。因此,实施例不是特征的互相排斥的组合;相反,本发明可以包括从不同单独的实施例中选择的不同单独特征的组合,如本领域的普通技术人员将理解的。而且,关于一个实施例描述的元件可以在其他实施例中实施,即使在这样的实施例中未描述时,除非另作说明。尽管从属权利要求可以指在权利要求中与一个或多个其他权利要求的具体组合,其他实施例还可以包括从属权利要求与每个其他从属权利要求的主题的结合或一个或多个特征与其他从属或独立权利要求的结合。这样的组合在本文中提出,除非声明不旨在特定组合。而且,还旨在在任何其他独立权利要求中包括权利要求的特征,即使该权利要求不直接依赖独立权利要求。
引用以上文献的任何并入是有限的,从而不并入与本文中明确公开相反的主题。引用以上文档的任何并入是进一步有限的,从而文献中所包括的权利要求并不通过引用而并入本文。引用以上文献的任何并入还是进一步有限的,从而文献中提供的任何定义不通过引用而并入本文,除非明确说明其包括在此。
为了说明本发明的权利要求,明确表示,不调用U.S.C.第35部分的第六段的第112节的条款,除非在权利要求中陈述具体术语“用于……装置”或“用于……步骤”。
Claims (19)
1.一种集成电路系统,包括:
至少一个车载诊断电路;
输出驱动器,被配置为提供系统输出信号;和
控制单元,耦合到所述至少一个车载诊断电路,且被配置为比较所述系统输出信号和值,并且当所述比较指示错误时经由所述至少一个车载诊断电路提供错误输出信号;
其中所述至少一个车载诊断电路包括耦合在传感器系统的输出和第一电势之间的开关。
2.根据权利要求1所述的集成电路系统,进一步包括:
模数转换器,耦合到所述输出驱动器,并被配置为接收所述系统输出信号,并且在将数字信号提供给所述控制单元之前,将所述系统输出信号转化成所述数字信号。
3.根据权利要求2所述的集成电路系统,其中所述值包括数字值。
4.根据权利要求2所述的集成电路系统,其中所述模数转换器包括模数转换器多路复用器。
5.根据权利要求4所述的集成电路系统,所述传感器系统包括耦合到所述模数转换器多路复用器的至少一个传感器,其中所述系统输出信号与所述至少一个传感器生成的信号相关。
6.根据权利要求5所述的集成电路系统,其中所述至少一个传感器包括主传感器和次传感器,其中所述模数转换器多路复用器耦合到所述次传感器,并且模数转换器耦合到所述主传感器。
7.根据权利要求6所述的集成电路系统,其中所述主传感器包括温度传感器、压力传感器、磁场传感器、湿度传感器、或加速度传感器中的一个。
8.根据权利要求7所述的集成电路系统,其中所述次传感器包括温度传感器、压力传感器、磁场传感器、湿度传感器、或加速度传感器中的一个。
9.根据权利要求5所述的集成电路系统,其中所述值与所述至少一个传感器生成的信号相关。
10.根据权利要求1所述的集成电路系统,其中所述至少一个车载诊断电路包括耦合到所述开关和所述控制单元的至少一个充电泵。
11.根据权利要求10所述的集成电路系统,其中当所述比较指示错误时,所述控制单元被配置为关闭所述至少一个充电泵以闭合所述开关,并在所述第一电势和所述传感器系统的输出之间形成短路,使得所述错误输出信号包括所述第一电势。
12.根据权利要求1所述的集成电路系统,其中所述开关包括至少一个晶体管。
13.根据权利要求12所述的集成电路系统,其中所述至少一个晶体管包括耗尽型MOSFET。
14.根据权利要求1所述的集成电路系统,其中所述错误是所述传感器系统内部的。
15.根据权利要求1所述的集成电路系统,其中所述错误是所述传感器系统外部的。
16.根据权利要求1所述的集成电路系统,其中所述值是预定值或预定值的范围中的一个。
17.一种检测集成电路系统内部的错误的方法,所述方法包括:
提供所述系统的输出信号给所述系统的内部控制电路;
比较所述输出信号和值;和
如果所述比较偏离所述值以预定义的限制值,那么经由车载诊断电路提供指示系统内部的错误的错误信号;
其中所述车载诊断电路包括耦合在传感器系统的输出和第一电势之间的开关。
18.根据权利要求17所述的方法,其中所述输出信号是模拟输出信号,并且所述方法进一步包括在所述比较之前数字化所述模拟输出信号。
19.根据权利要求17所述的方法,其中提供错误信号进一步包括去激活所述车载诊断电路的充电泵,以闭合所述车载诊断电路的所述开关,以经由闭合的开关提供指示系统内部的错误的错误信号。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/021,059 | 2013-09-09 | ||
US14/021,059 US9846191B2 (en) | 2013-09-09 | 2013-09-09 | Systems and methods for internal and external error detection in sensor output interfaces |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN104423379A CN104423379A (zh) | 2015-03-18 |
CN104423379B true CN104423379B (zh) | 2018-03-27 |
Family
ID=52478701
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201410453171.XA Active CN104423379B (zh) | 2013-09-09 | 2014-09-05 | 用于传感器输出接口中的内部和外部错误检测的系统和方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9846191B2 (zh) |
CN (1) | CN104423379B (zh) |
DE (1) | DE102014112732A1 (zh) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR3038659B1 (fr) * | 2015-07-10 | 2017-07-21 | Continental Automotive France | Procede de gestion des pannes pour un systeme de controle moteur de vehicule |
JP7151061B2 (ja) * | 2017-03-28 | 2022-10-12 | セイコーエプソン株式会社 | 故障判定回路、物理量検出装置、電子機器、移動体及び故障判定方法 |
RU2695498C1 (ru) * | 2018-04-03 | 2019-07-23 | Акционерное общество "Ульяновское конструкторское бюро приборостроения" (АО "УКБП") | Устройство приема сигналов от датчиков |
EP3588216B1 (de) * | 2018-06-28 | 2020-11-25 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und system zum fehlersicheren bereitstellen eines analogen ausgabewertes |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2883255A (en) * | 1954-04-28 | 1959-04-21 | Panellit Inc | Automatic process logging system |
US3082374A (en) * | 1959-06-12 | 1963-03-19 | Itt | Automatic testing system and timing device therefor |
JPS57154919A (en) * | 1981-03-20 | 1982-09-24 | Hitachi Denshi Ltd | Detecting system for high frequency faulty power level |
US5422965A (en) * | 1992-02-18 | 1995-06-06 | Hitachi, Ltd. | Air bag operation device |
JPH05264584A (ja) * | 1992-03-19 | 1993-10-12 | Zexel Corp | 故障診断機能付きの車両安全装置制御システム |
CN2641295Y (zh) | 2003-09-25 | 2004-09-15 | 中国燃气涡轮研究院 | 用于变几何涡轮增压器的电子控制装置 |
US20070150136A1 (en) * | 2005-11-30 | 2007-06-28 | Doll Kenneth A | Periodic rate sensor self test |
DE102006008284B3 (de) | 2006-02-22 | 2007-10-25 | Infineon Technologies Ag | Schaltung mit einer Anordnung zur Detektion einer unterbrochenen Anschlussleitung |
CN201307061Y (zh) | 2008-11-21 | 2009-09-09 | 上海汇众汽车制造有限公司 | 基于can总线的汽车电器负载故障诊断处理装置 |
CN102236353A (zh) | 2010-04-23 | 2011-11-09 | 上海康丘乐电子电器科技有限公司 | 电动车控制器自诊断系统及方法 |
JP4980453B2 (ja) | 2010-09-06 | 2012-07-18 | ファナック株式会社 | 加工を高精度化するサーボ制御システム |
US9874609B2 (en) | 2010-09-24 | 2018-01-23 | Infineon Technologies Ag | Sensor self-diagnostics using multiple signal paths |
US9506996B2 (en) * | 2013-10-17 | 2016-11-29 | Infineon Technologies Ag | Apparatus and method for detecting an error in a measurement of a quantity |
-
2013
- 2013-09-09 US US14/021,059 patent/US9846191B2/en active Active
-
2014
- 2014-09-04 DE DE102014112732.3A patent/DE102014112732A1/de active Pending
- 2014-09-05 CN CN201410453171.XA patent/CN104423379B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20150070042A1 (en) | 2015-03-12 |
US9846191B2 (en) | 2017-12-19 |
CN104423379A (zh) | 2015-03-18 |
DE102014112732A1 (de) | 2015-03-12 |
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---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |