CN104315991A - 基板的翘曲度的测量装置及测量方法、触摸屏及制作方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种基板的翘曲度的测量装置及测量方法、触摸屏及制作方法，测量装置包括至少一个激光器和与激光器一一对应且固定连接的电荷耦合元件；在平行于基板的待测量表面的一个平面内移动测量装置，使激光器发射的激光入射到待测量表面上的多个测量点，在各测量点处发生反射后被电荷耦合元件接收；根据激光入射到电荷耦合元件的光入射面上的位置偏移预设参考点的距离、激光器发射的激光的预设入射角以及激光器与对应的电荷耦合元件的位置关系，可以快速准确地得到各测量点的翘曲度；在触摸屏的制作过程中，采用测量装置测量触控面板和显示面板的翘曲度，对两面板的翘曲度进行严格管控，仅将翘曲度较小的两面板贴合，可以提高触摸屏的良率。

Description

基板的翘曲度的测量装置及测量方法、触摸屏及制作方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种基板的翘曲度的测量装置及测量方法、触摸屏及制作方法。

背景技术

触摸屏按照组成结构可以分为：外挂式触摸屏(Add on Mode Touch Panel)，覆盖表面式触摸屏(On Cell Touch Panel)，以及内嵌式触摸屏(In Cell TouchPanel)。其中，外挂式触摸屏是由触控面板与显示面板贴合而成的。

目前，外挂式触摸屏的制作过程具体包括如下步骤：首先，分别制作触控面板与显示面板；然后，分别揭去触控面板与显示面板表面的离心膜；接着，对揭除离心膜后的触控面板与显示面板分别进行清洗工艺；之后，在触控面板揭去离心膜的一面整面涂覆水胶，在显示面板揭去离心膜的一面的非显示区域涂覆边框胶；最后，将触控面板涂覆有水胶的一面与显示面板涂覆有边框胶的一面贴合，制得外挂式触摸屏。

在上述外挂式触摸屏的制作过程中，将触控面板与显示面板进行贴合工艺前，并未对触控面板与显示面板进行翘曲度的测量。在对翘曲度较大的触控面板与翘曲度较大的显示面板进行贴合工艺时，容易产生气泡，并且，翘曲度较大的触控面板与翘曲度较大的显示面板在贴合工艺后容易脱落，严重影响外挂式触摸屏的良率。

因此，如何提高外挂式触摸屏的良率，是本领域技术人员亟需解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种基板的翘曲度的测量装置及测量方法、触摸屏及制作方法，用以提高外挂式触摸屏的良率。

因此，本发明实施例提供了一种基板的翘曲度的测量装置，包括：至少一个激光器和与所述激光器一一对应且固定连接的电荷耦合元件；

所述激光器，用于以预设入射角向所述基板的待测量表面发射激光；

所述电荷耦合元件，用于接收由对应的激光器发射且在所述基板的待测量表面发生反射的激光。

本发明实施例还提供了一种基板的翘曲度的测量方法，利用本发明实施例提供的上述测量装置测量基板的翘曲度，包括：

在平行于所述基板的待测量表面的一个平面内，移动所述测量装置，使所述激光器发射的激光入射到所述基板的待测量表面上的多个测量点，在各所述测量点处发生反射后被所述激光器对应的电荷耦合元件接收；

根据入射到所述电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移所述光入射面上的预设参考点的距离，所述激光器发射的激光的预设入射角，以及所述激光器与对应的电荷耦合元件的位置关系，计算所述基板的待测量表面上的各所述测量点的翘曲度。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述测量方法中，所述移动所述测量装置，具体包括：

沿所述基板上相互平行的至少三条直线移动所述测量装置。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述测量方法中，所述根据入射到所述电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移所述光入射面上的预设参考点的距离，所述激光器发射的激光的预设入射角，以及所述激光器与对应的电荷耦合元件的位置关系，计算所述基板的待测量表面上的各所述测量点的翘曲度，具体包括：

在所述激光器发射的激光的传播方向与对应的电荷耦合元件的光入射面相互平行时，通过下述公式计算所述基板的待测量表面上的各所述测量点的翘曲度：

H＝L cosθ；

其中，H表示各测量点的翘曲度；L表示入射到电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移光入射面上的预设参考点的距离；θ表示激光器发射的激光的预设入射角。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述测量方法中，所述根据入射到所述电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移所述光入射面上的预设参考点的距离，所述激光器发射的激光的预设入射角，以及所述激光器与对应的电荷耦合元件的位置关系，计算所述基板的待测量表面上的各所述测量点的翘曲度，具体包括：

在所述激光器发射的激光的传播方向与对应的电荷耦合元件的光入射面之间的夹角大于零时，通过下述公式计算所述基板的待测量表面上的各所述测量点的翘曲度：

$H=\frac{L\sin (\mathrm{\π}-2\mathrm{\θ}-\mathrm{\α})\cos \mathrm{\θ}}{\sin 2\mathrm{\θ}};$

其中，H表示各测量点的翘曲度；L表示入射到电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移光入射面上的预设参考点的距离；θ表示激光器发射的激光的预设入射角，α表示激光器发射的激光的传播方向与电荷耦合元件的光入射面之间的夹角。

本发明实施例还提供了一种触摸屏的制作方法，包括：

分别制作触控面板与显示面板；

分别揭去所述触控面板与所述显示面板的表面的离心膜；

对揭除所述离心膜后的所述触控面板与所述显示面板分别进行清洗工艺；

采用本发明实施例提供的上述测量方法分别对清洗后的触控面板与显示面板进行翘曲度的测量；

在确定所述触控面板的翘曲度小于第一预设标准值，所述显示面板的翘曲度小于第二预设标准值，且所述触控面板与所述显示面板的匹配翘曲度小于第三预设标准值时，在所述触控面板的一面整面涂覆水胶，在所述显示面板的非显示区域涂覆边框胶；

对涂覆有水胶的触控面板与涂覆有边框胶的显示面板进行贴合工艺，制得触摸屏。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述制作方法中，在确定所述触控面板的翘曲度小于第一预设标准值，所述显示面板的翘曲度小于第二预设标准值，且所述触控面板与所述显示面板的匹配翘曲度小于第三预设标准值时，在所述触控面板的一面整面涂覆水胶，在所述显示面板的非显示区域涂覆边框胶，具体包括：

判断是否所述触控面板的翘曲度小于第一预设标准值，且所述显示面板的翘曲度小于第二预设标准值；若是，则判断所述触控面板的翘曲方向与所述显示面板的翘曲方向是否相反；若是，则判断所述触控面板与所述显示面板的匹配翘曲度是否小于第三预设标准值；若是，则在所述触控面板的一面整面涂覆水胶，在所述显示面板的非显示区域涂覆边框胶。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述制作方法中，在对清洗后的触控面板和显示面板进行翘曲度的测量之后，在对涂覆有水胶的触控面板与涂覆有边框胶的显示面板进行贴合工艺之前，还包括：

在确定所述触控面板的翘曲度大于或等于第一预设标准值，和/或所述显示面板的翘曲度大于或等于第二预设标准值，或所述触控面板与所述显示面板的匹配翘曲度大于或等于第三预设标准值时，判断上述情况是否连续发生；

若是，则控制所述测量装置停止运行，并检查所述测量装置是否存在故障，在确定所述测量装置存在故障时，对所述测量装置进行维修；

若否，则人工测量所述触控面板与所述显示面板的翘曲度，在确定所述触控面板的翘曲度小于第一预设标准值，所述显示面板的翘曲度小于第二预设标准值，且所述触控面板与所述显示面板的匹配翘曲度小于第三预设标准值时，在所述触控面板的一面整面涂覆水胶，在所述显示面板的非显示区域涂覆边框胶。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述制作方法中，所述人工测量所述触控面板与所述显示面板的翘曲度，具体包括：

采用厚薄规对所述触控面板与所述显示面板的翘曲度进行测量。

本发明实施例还提供了一种触摸屏，所述触摸屏采用本发明实施例提供的上述制作方法制得。

本发明实施例提供的基板的翘曲度的测量装置及测量方法、触摸屏及制作方法，该测量装置包括：至少一个激光器和与激光器一一对应且固定连接的电荷耦合元件；在平行于基板的待测量表面的一个平面内移动测量装置，使激光器发射的激光入射到待测量表面上的多个测量点，在各测量点处发生反射后被电荷耦合元件接收；根据激光入射到电荷耦合元件的光入射面上的位置偏移预设参考点的距离、激光器发射的激光的预设入射角以及激光器与对应的电荷耦合元件的位置关系，可以快速、准确地得到各测量点的翘曲度；在触摸屏的制作过程中，采用该测量装置测量触控面板和显示面板的翘曲度，对触控面板和显示面板的翘曲度进行严格管控，剔除翘曲度较大的触控面板与翘曲度较大的显示面板，仅对翘曲度较小的触控面板与翘曲度较小的显示面板进行贴合工艺，从而可以有效提高触摸屏的良率，提高触摸屏的生产效率。

附图说明

图1为本发明实施例提供的基板的翘曲度的测量装置的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的基板的翘曲度的测量方法的流程图；

图3为本发明实施例提供的基板的翘曲度的测量方法中测量装置的移动轨迹示意图；

图4a和图4b分别为本发明实施例提供的基板的翘曲度的测量方法的原理示意图；

图5为本发明实施提供的触摸屏的制作方法的流程图之一；

图6为本发明实施提供的触摸屏的制作方法的流程图之二；

图7a和图7b分别为本发明实施提供的触摸屏的结构示意图；

图8为本发明实施提供的触摸屏的制作方法的流程图之三。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明实施例提供的基板的翘曲度的测量装置及测量方法、触摸屏及制作方法的具体实施方式进行详细地说明。

本发明实施例提供的一种基板的翘曲度的测量装置，如图1所示，包括：至少一个激光器1(图1仅示出一个激光器)和与激光器1一一对应且固定连接的电荷耦合元件2(Charge Coupled Device，CCD)；

激光器1，用于以预设入射角向基板3的待测量表面发射激光；

电荷耦合元件2，用于接收由对应的激光器1发射且在基板3的待测量表面发生反射的激光。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种基板的翘曲度的测量方法，利用本发明实施例提供的上述测量装置测量基板的翘曲度，如图2所示，包括：

S201、在平行于基板的待测量表面的一个平面内，移动测量装置，使激光器发射的激光入射到基板的待测量表面上的多个测量点，在各测量点处发生反射后被激光器对应的电荷耦合元件接收；

S202、根据入射到电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移光入射面上的预设参考点的距离，激光器发射的激光的预设入射角，以及激光器与对应的电荷耦合元件的位置关系，计算基板的待测量表面上的各测量点的翘曲度。

本发明实施例提供的上述测量方法，在测量点处发生反射的激光入射到电荷耦合元件的光入射面上的位置偏移光入射面上的预设参考点，可以表明测量点处存在翘曲，根据该偏移距离、激光器发射的激光的预设入射角以及激光器与对应的电荷耦合元件的位置关系，可以快速、准确地得到基板的待测量表面上的各测量点的翘曲度。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述测量方法中的步骤S201移动测量装置，使激光器发射的激光入射到基板的待测量表面上的多个测量点，多个测量点可以在基板上随机分布，或者，多个测量点也可以沿基板上的具体的图形分布，例如：多个测量点沿一条直线、多条直线、圆形或矩形等图形分布，在此不做限定。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述测量方法中的步骤S201移动测量装置，具体可以沿基板上相互平行的至少三条直线移动测量装置。具体地，相邻的两条直线之间的距离可以相等，或者，相邻的两条直线之间的距离也可以不相等，在此不做限定。较佳地，测量装置所沿的多条直线以分散于基板上为佳，以测量装置沿基板上相互平行的三条直线移动为例进行说明，如图3所示，该三条直线分别位于基板3的两端和中间，这样，可以更加准确的测量基板3的翘曲度。

需要说明的是，在本发明实施例提供的上述测量方法中，电荷耦合元件的光入射面上的预设参考点，是激光器以预设入射角发射的激光在预设原点(即在垂直于基板的待测量表面方向上距离激光器的出光口预设距离的点)处发生反射后，入射到电荷耦合元件的光入射面上的位置。例如，可以选择在垂直于基板的待测量表面方向上距离激光器的出光口10mm的位置处为预设原点。各测量点与预设原点在垂直于基板的待测量表面方向的距离即为各测量点对应的翘曲度。

具体地，本发明实施例提供的上述测量方法的原理如下：如图4a和图4b所示，测量点A和测量点B分别位于预设原点C的上方和下方，在测量点A和测量点B处分别发生反射的激光入射到电荷耦合元件的光入射面上的位置，会偏移在预设原点C处发生反射的激光入射到电荷耦合元件的光入射面上的位置(即预设参考点D)，根据该偏移距离、激光器发射的激光的预设入射角以及激光器与对应的电荷耦合元件的位置关系，可以计算测量点A和测量点B分别与预设原点C在垂直于基板的待测量表面方向的距离，即测量点A和测量点B分别对应的翘曲度。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述测量方法中的步骤S202，根据入射到电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移光入射面上的预设参考点的距离，激光器发射的激光的预设入射角，以及激光器与对应的电荷耦合元件的位置关系，计算基板的待测量表面上的各测量点的翘曲度，具体可以通过以下方式实现：在激光器发射的激光的传播方向与对应的电荷耦合元件的光入射面相互平行时，通过下述公式计算基板的待测量表面上的各测量点的翘曲度：

H＝L cosθ；

其中，H表示各测量点的翘曲度；L表示入射到电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移光入射面上的预设参考点的距离；θ表示激光器发射的激光的预设入射角。

具体地，如图4a所示，激光器1发射的激光的传播方向与对应的电荷耦合元件2的光入射面相互平行，下面以计算测量点A对应的翘曲度为例进行说明，在测量点A处发生反射的激光入射到电荷耦合元件2的光入射面上的点E，在预设原点C处发生反射的激光入射到电荷耦合元件2的光入射面上的预设参考点D，点E偏移预设参考点D的距离为L；点A与点C在垂直于基板的待测量表面方向的距离，即点F与点A之间的距离为测量点A对应的翘曲度H。在直角三角形ACF中，L_AF＝L_AC cos∠CAF，其中，∠CAF与激光器1发射的激光的预设入射角θ相等，直角三角形ACF中的直角边AF的长度L_AF与测量点A对应的翘曲度H相等，由于激光器1发射的激光的传播方向与对应的电荷耦合元件2的光入射面相互平行，因此，直角三角形ACF中的斜边AC的长度L_AC与E点偏移预设参考D点的距离L相等，由此可以推出，测量点A对应的翘曲度为H＝L cosθ。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述测量方法中的步骤S202，根据入射到电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移光入射面上的预设参考点的距离，激光器发射的激光的预设入射角，以及激光器与对应的电荷耦合元件的位置关系，计算基板的待测量表面上的各测量点的翘曲度，具体可以通过以下方式实现：在激光器发射的激光的传播方向与对应的电荷耦合元件的光入射面之间的夹角大于零时，通过下述公式计算基板的待测量表面上的各测量点的翘曲度：

$H=\frac{L\sin (\mathrm{\π}-2\mathrm{\θ}-\mathrm{\α})\cos \mathrm{\θ}}{\sin 2\mathrm{\θ}};$

其中，H表示各测量点的翘曲度；L表示入射到电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移光入射面上的预设参考点的距离；θ表示激光器发射的激光的预设入射角，α表示激光器发射的激光的传播方向与电荷耦合元件的光入射面之间的夹角。

具体地，如图4b所示，激光器1发射的激光的传播方向与对应的电荷耦合元件2的光入射面之间的夹角α大于零，下面以计算测量点A对应的翘曲度为例进行说明，在测量点A处发生反射的激光入射到电荷耦合元件2的光入射面上的点E，在预设原点C处发生反射的激光入射到电荷耦合元件2的光入射面上的预设参考点D，点E偏移预设参考点D的距离为L；点E与点G所在直线与激光器1发射的激光的传播方向(即点A与点C所在直线)相互平行，点E与点A所在直线与点G与点C所在直线相互平行，点E、点G、点C和点A围成平行四边形，因此，点E与点G之间的距离等于点A与点C之间的距离，且∠DEG等于激光器1发射的激光的传播方向与对应的电荷耦合元件2的光入射面之间的夹角α；点A与点C在垂直于基板的待测量表面方向的距离，即点F与点A之间的距离为测量点A对应的翘曲度H。在三角形DEG中，根据三角形的正弦定理， $\frac{L_{\mathrm{DE}}}{\sin \∠\mathrm{DGE}}=\frac{L_{\mathrm{GE}}}{\sin \∠\mathrm{GDE}},$ 可以推出， $L_{\mathrm{GE}}=\frac{L_{\mathrm{DE}}\sin \∠\mathrm{GDE}}{\sin \∠\mathrm{DGE}},$ 其中，三角形DEG中的边DE的长度L_DE即为E点偏移预设参考D点的距离L，∠DGE＝2θ，∠GDE＝π-∠DGE-∠DEG＝π-2θ-α；在直角三角形ACF中，∠CAF与激光器1发射的激光的预设入射角θ相等，直角三角形ACF中的直角边AF的长度L_AF与测量点A对应的翘曲度H相等，直角三角形ACF中的斜边AC的长度L_AC等于三角形DEG中的边GE的长度L_GE，由此可以推出，测量点A对应的翘曲度为

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种触摸屏的制作方法，如图5所示，包括：

S501、分别制作触控面板与显示面板；

S502、分别揭去触控面板与显示面板的表面的离心膜；

S503、对揭除离心膜后的触控面板与显示面板分别进行清洗工艺；

S504、采用本发明实施例提供的上述测量方法分别对清洗后的触控面板与显示面板进行翘曲度的测量；

S505、在确定触控面板的翘曲度小于第一预设标准值，显示面板的翘曲度小于第二预设标准值，且触控面板与显示面板的匹配翘曲度小于第三预设标准值时，在触控面板的一面整面涂覆水胶，在显示面板的非显示区域涂覆边框胶；

S506、对涂覆有水胶的触控面板与涂覆有边框胶的显示面板进行贴合工艺，制得触摸屏。

本发明实施例提供的上述触摸屏的制作方法，由于在对触控面板与显示面板进行贴合工艺前，采用本发明实施例提供的上述翘曲度的测量方法对触控面板与显示面板的翘曲度进行测量，并对触控面板与显示面板的翘曲度进行严格管控，剔除翘曲度较大的触控面板与翘曲度较大的显示面板，仅对翘曲度较小的触控面板与翘曲度较小的显示面板进行贴合工艺，可以避免翘曲度较大的触控面板与翘曲度较大的显示面板在贴合工艺后产生气泡、容易脱落等问题，从而可以提高触摸屏的良率，提高触摸屏的生产效率；并且，本发明实施例提供的上述翘曲度的测量方法可以快速、准确地测量触控面板与显示面板的翘曲度，符合生产线对于速度的要求。

具体地，本发明实施例提供的上述制作方法中的步骤S501-步骤S503、步骤S506的具体实施与现有的触摸屏的制作方法类似，在此不做赘述。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述制作方法中的步骤S505，在确定触控面板的翘曲度小于第一预设标准值，显示面板的翘曲度小于第二预设标准值，且触控面板与显示面板的匹配翘曲度小于第三预设标准值时，在触控面板的一面整面涂覆水胶，在显示面板的非显示区域涂覆边框胶，如图6所示，具体可以包括如下步骤：

S5051、判断是否触控面板的翘曲度小于第一预设标准值，且显示面板的翘曲度小于第二预设标准值；若是，则执行步骤S5052；

S5052、判断触控面板的翘曲方向与显示面板的翘曲方向是否相反；若是，则执行步骤S5053；若否，则执行步骤S5054；具体地，如图7a和图7b所示，触控面板4的翘曲方向与显示面板5的翘曲方向相反；

S5053、判断触控面板与显示面板的匹配翘曲度是否小于第三预设标准值；若是，则执行步骤S5054；

需要说明的是，在触控面板与显示面板的匹配翘曲度大于第三预设标准值时，可以重新选择翘曲度较小的触控面板与翘曲度较小的显示面板进行匹配；

S5054、在触控面板的一面整面涂覆水胶，在显示面板的非显示区域涂覆边框胶。

在具体实施时，在执行本发明实施例提供的上述制作方法中的步骤S504对清洗后的触控面板和显示面板进行翘曲度的测量之后，执行本发明实施例提供的上述制作方法中的步骤S506对涂覆有水胶的触控面板与涂覆有边框胶的显示面板进行贴合工艺之前，如图8所示，还可以包括如下步骤：

S801、在确定触控面板的翘曲度大于或等于第一预设标准值，和/或显示面板的翘曲度大于或等于第二预设标准值，或触控面板与显示面板的匹配翘曲度大于或等于第三预设标准值时，判断上述情况是否连续发生；若是，则执行步骤S802；若否，则执行步骤S803；

S802、控制测量装置停止运行，并检查测量装置是否存在故障，在确定测量装置存在故障时，对测量装置进行维修；

需要说明的是，在确定测量装置没有发生故障时，需要停止整条生产线，并对该整条生产线的触控面板和显示面板的质量进行检测；

S803、人工测量触控面板与显示面板的翘曲度，在确定触控面板的翘曲度小于第一预设标准值，显示面板的翘曲度小于第二预设标准值，且触控面板与显示面板的匹配翘曲度小于第三预设标准值时，在触控面板的一面整面涂覆水胶，在显示面板的非显示区域涂覆边框胶。

需要说明的是，在人工测量触控面板的翘曲度不合格，即触控面板的翘曲度小于第一预设标准值时，直接将该触控面板剔除；在人工测量显示面板的翘曲度不合格，即显示面板的翘曲度小于第二预设标准值时，直接将该显示面板剔除。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述制作方法中的步骤S803，人工测量触控面板与显示面板的翘曲度，具体可以通过以下方式实现：采用厚薄规对触控面板与显示面板的翘曲度进行测量。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种触摸屏，触摸屏采用本发明实施例提供的上述制作方法制得。该触摸屏的具体实施可以参见上述触摸屏的制作方法的实施例，重复之处不再赘述。

本发明实施例提供的基板的翘曲度的测量装置及测量方法、触摸屏及制作方法，该测量装置包括：至少一个激光器和与激光器一一对应且固定连接的电荷耦合元件；在平行于基板的待测量表面的一个平面内移动测量装置，使激光器发射的激光入射到待测量表面上的多个测量点，在各测量点处发生反射后被电荷耦合元件接收；根据激光入射到电荷耦合元件的光入射面上的位置偏移预设参考点的距离、激光器发射的激光的预设入射角以及激光器与对应的电荷耦合元件的位置关系，可以快速、准确地得到各测量点的翘曲度；在触摸屏的制作过程中，采用该测量装置测量触控面板和显示面板的翘曲度，对触控面板与显示面板的翘曲度进行严格管控，剔除翘曲度较大的触控面板与翘曲度较大的显示面板，仅对翘曲度较小的触控面板与翘曲度较小的显示面板进行贴合工艺，从而可以有效提高触摸屏的良率，提高触摸屏的生产效率。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种基板的翘曲度的测量装置，其特征在于，包括：至少一个激光器和与所述激光器一一对应且固定连接的电荷耦合元件；

所述激光器，用于以预设入射角向所述基板的待测量表面发射激光；

所述电荷耦合元件，用于接收由对应的激光器发射且在所述基板的待测量表面发生反射的激光。

2.一种基板的翘曲度的测量方法，利用如权利要求1所述的测量装置测量基板的翘曲度，其特征在于，包括：

在平行于所述基板的待测量表面的一个平面内，移动所述测量装置，使所述激光器发射的激光入射到所述基板的待测量表面上的多个测量点，在各所述测量点处发生反射后被所述激光器对应的电荷耦合元件接收；

根据入射到所述电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移所述光入射面上的预设参考点的距离，所述激光器发射的激光的预设入射角，以及所述激光器与对应的电荷耦合元件的位置关系，计算所述基板的待测量表面上的各所述测量点的翘曲度。

3.如权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述移动所述测量装置，具体包括：

沿所述基板上相互平行的至少三条直线移动所述测量装置。

4.如权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述根据入射到所述电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移所述光入射面上的预设参考点的距离，所述激光器发射的激光的预设入射角，以及所述激光器与对应的电荷耦合元件的位置关系，计算所述基板的待测量表面上的各所述测量点的翘曲度，具体包括：

在所述激光器发射的激光的传播方向与对应的电荷耦合元件的光入射面相互平行时，通过下述公式计算所述基板的待测量表面上的各所述测量点的翘曲度：

H＝Lcosθ；

其中，H表示各测量点的翘曲度；L表示入射到电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移光入射面上的预设参考点的距离；θ表示激光器发射的激光的预设入射角。

5.如权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述根据入射到所述电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移所述光入射面上的预设参考点的距离，所述激光器发射的激光的预设入射角，以及所述激光器与对应的电荷耦合元件的位置关系，计算所述基板的待测量表面上的各所述测量点的翘曲度，具体包括：

在所述激光器发射的激光的传播方向与对应的电荷耦合元件的光入射面之间的夹角大于零时，通过下述公式计算所述基板的待测量表面上的各所述测量点的翘曲度：

$H=\frac{L\sin (\mathrm{\π}-2\mathrm{\θ}-\mathrm{\α})\cos \mathrm{\θ}}{\sin 2\mathrm{\θ}};$

其中，H表示各测量点的翘曲度；L表示入射到电荷耦合元件的光入射面上的激光的位置偏移光入射面上的预设参考点的距离；θ表示激光器发射的激光的预设入射角，α表示激光器发射的激光的传播方向与电荷耦合元件的光入射面之间的夹角。

6.一种触摸屏的制作方法，其特征在于，包括：

分别制作触控面板与显示面板；

分别揭去所述触控面板与所述显示面板的表面的离心膜；

对揭除所述离心膜后的所述触控面板与所述显示面板分别进行清洗工艺；

采用如权利要求2-5任一项所述的测量方法分别对清洗后的触控面板与显示面板进行翘曲度的测量；

在确定所述触控面板的翘曲度小于第一预设标准值，所述显示面板的翘曲度小于第二预设标准值，且所述触控面板与所述显示面板的匹配翘曲度小于第三预设标准值时，在所述触控面板的一面整面涂覆水胶，在所述显示面板的非显示区域涂覆边框胶；

对涂覆有水胶的触控面板与涂覆有边框胶的显示面板进行贴合工艺，制得触摸屏。

7.如权利要求6所述的制作方法，其特征在于，在确定所述触控面板的翘曲度小于第一预设标准值，所述显示面板的翘曲度小于第二预设标准值，且所述触控面板与所述显示面板的匹配翘曲度小于第三预设标准值时，在所述触控面板的一面整面涂覆水胶，在所述显示面板的非显示区域涂覆边框胶，具体包括：

判断是否所述触控面板的翘曲度小于第一预设标准值，且所述显示面板的翘曲度小于第二预设标准值；若是，则判断所述触控面板的翘曲方向与所述显示面板的翘曲方向是否相反；若是，则判断所述触控面板与所述显示面板的匹配翘曲度是否小于第三预设标准值；若是，则在所述触控面板的一面整面涂覆水胶，在所述显示面板的非显示区域涂覆边框胶。

8.如权利要求7所述的制作方法，其特征在于，在对清洗后的触控面板和显示面板进行翘曲度的测量之后，在对涂覆有水胶的触控面板与涂覆有边框胶的显示面板进行贴合工艺之前，还包括：

在确定所述触控面板的翘曲度大于或等于第一预设标准值，和/或所述显示面板的翘曲度大于或等于第二预设标准值，或所述触控面板与所述显示面板的匹配翘曲度大于或等于第三预设标准值时，判断上述情况是否连续发生；

若是，则控制所述测量装置停止运行，并检查所述测量装置是否存在故障，在确定所述测量装置存在故障时，对所述测量装置进行维修；

若否，则人工测量所述触控面板与所述显示面板的翘曲度，在确定所述触控面板的翘曲度小于第一预设标准值，所述显示面板的翘曲度小于第二预设标准值，且所述触控面板与所述显示面板的匹配翘曲度小于第三预设标准值时，在所述触控面板的一面整面涂覆水胶，在所述显示面板的非显示区域涂覆边框胶。

9.如权利要求8所述的制作方法，其特征在于，所述人工测量所述触控面板与所述显示面板的翘曲度，具体包括：

采用厚薄规对所述触控面板与所述显示面板的翘曲度进行测量。

10.一种触摸屏，其特征在于，所述触摸屏采用如权利要求6-9任一项所述的制作方法制得。