CN1743798A - 光盘片检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明的光盘片检测装置,用以检测一光盘片是否变形,其包含一承载座、一光源、一菱镜、一光传感器、以及一显示屏幕。其中,承载座承载光盘片,光源邻设于承载座,且位于该光盘片下方,并发出一光线,菱镜介于光盘片与光源之间,光线穿透菱镜并照射至光盘片,光盘片反射的光线再经由菱镜折射,光传感器接收菱镜折射后的光线,并进行分析。与现有技术相比,本发明的光盘片检测装置,缩短了光源与光盘片的距离,再利用菱镜折射,使得光盘片检测装置的体积缩小,进而减少了机械设备所需的空间成本。同时,本发明的光盘片检测装置能检测出光盘片是否翘曲、变形,进而增加了产品的合格率。

Description

光盘片检测装置
技术领域
本发明关于一种光盘片检测装置,尤其是一种用以检测光盘片是否变形的检测装置。
背景技术
随着信息与多媒体世代的来临,人们对于储存媒体的储存密度及容量的需求也不断地增加。传统的储存媒体,大致上可分为两大类,分别是磁记录媒体与光记录媒体。目前市场上是以光记录媒体占优势,其包含只读型光盘(CD-ROM)、可写一次型光盘(CD-R)、可重复读写型光盘(CD-RW)、只读型数字激光视盘(DVD-ROM)、可写一次型数字激光视盘(DVD-R)、可重复读写式数字激光视盘(DVD-RW,DVD+RW)、以及动态随机记忆数字激光视盘(DVD-RAM)等等。
以现有的单面双层DVD-R光盘片10为例,如图1所示,其含有一第一基板11、一第一记录积层(first recording stack,L0)12、一间隔层13、一第二记录积层(second recording stack,L1)14、及一第二基板15。其中,第一记录积层(first recording stack,L0)12及第二记录积层(second recording stack,L1)14涂布在第一基板11和第二基板15的资料面上,且间隔层13夹置在第一记录积层12及第二记录积层14之间。
如图1所示,资料写入或读取时,激光光可穿过第一基板11聚焦于第一记录积层12,或穿过间隔层13以聚焦于第二记录积层14。也就是说,激光光会发出两种不同功率的光线,以分别聚焦于不同的记录积层上。
其中,基板(例如第一基板11、及第二基板15)的制造将塑料原料利用射出机台来成型,其将塑料原料先行加热熔融后,再利用适当的速度及压力,将熔融塑料定量充填入模具内,经加压冷却固化,再以适当的顶出方式取出塑料成品。而制成成品的基板,进入光盘片制程时,又可能因为制程的需要而进行环境的升温或是降温。因此,在经过加热及冷却的循环过程下,基板容易变形,使得光盘片的形状翘曲不平整,进而造成光盘片的品质下降。
如图2所示,为了保持光盘片的品质,则需要利用光盘片检测装置来测量光盘片是否变形。现有技术中,光盘片检测装置20具有一光盘片置放座21、一光源22、一平面镜23、一传感器24、以及一显示器25。其中,光盘片26放置于光盘片置放座21上。由光源22所发出的光线,经过平面镜23反射后,照射至光盘片26,经光盘片26反射后的光线,则再经过平面镜23反射至传感器24。而传感器24接收到光线后,则进行计算分析后以判断光盘片26是否有翘曲。最后,再由显示器25出现检测结果。
如图3A及图3B所示,传感器24利用变形翘曲的光盘片26’,其入射光的法线N偏移一角度β至法线N’,而使得反射后的出射光角度会偏移2β。而不同的角度偏移,造成传感器24测得的距离不同,经由计算分析,则可判断光盘片26是否有变形翘曲的现象。
再请参照图2,现有技术的光盘片检测装置20,光源22设置于光盘片检测装置20的一侧,距离光盘片26较远,故造成光盘片检测装置20的体积较大,进而增加了机械设备所需要的空间。这对于厂商来说,无疑是一种设备成本的增加。
有鉴于上述问题,本案发明人因于此,亟思一种可以解决现有光盘片检测装置体积较大问题的「光盘片检测装置」。
发明内容
本发明的目的为提供一种光盘片检测装置,其能减少光盘片检测装置所需要的体积。
为达上述目的,依本发明的光盘片检测装置,用以检测一光盘片是否变形,其特征是,包含:
一承载座,其承载该光盘片;
一光源,其邻设于该承载座,且位于该光盘片下方,并发出一光线;
一菱镜,其介于该光盘片与该光源之间,该光线穿透该菱镜并照射至该光盘片,该光盘片反射的该光线再经由该菱镜折射;以及
一光传感器,其接收折射后的该光线,并进行分析。
此外,本发明的又一特征是,更包含一显示屏幕,其与该光传感器连结。
承上所述,本发明的光盘片检测装置,光源邻设于承载座,且利用一菱镜代替现有技术中的平面镜,以减少光盘片检测装置的体积。与现有技术相比,本发明的光盘片检测装置,能缩短了光源与光盘片的距离,再利用菱镜折射,使得光盘片检测装置的体积能缩小,进而减少了机械设备所需的空间成本。再者,光源下可具有可移动式的底座,以使得光盘片检测装置能检测到光盘片上的任何一点。另外,本发明的光盘片检测装置能检测出光盘片是否翘曲、变形,故可替产品的品质把关,进而增加出货产品的合格率。
本发明还包括其它技术特征,将在具体实施例和附图中详细阐述。
附图说明
图1为已知的单面双层DVD-R光盘片的结构示意图;
图2为已知的光盘片检测装置的示意图;以及
图3A及3B为已知的光盘片检测装置的部份光路径的示意图;
图4为本发明的光盘片检测装置的示意图;
图5为本发明的光盘片检测装置的部份光路径的示意图;以及
图6为本发明的光盘片检测装置的翘曲角度计算的示意图。
图中符号说明:
10单面双层DVD-R光盘片
11第一基板
12第一记录积层
13间隔层
14第二记录积层
15第二基板
20光盘片检测装置
21光盘片置放座
22光源
23平面镜
24传感器
25显示器
26光盘片
26’变形翘曲的光盘片
30光盘片检测装置
31承载座
311旋转机构
32光源
321光线
33菱镜
34光传感器
35光盘片
36底座
37显示屏幕
L0第一记录积层
L1第二记录积层
β光盘片翘曲角度
R菱镜至光传感器的距离
P无翘曲光盘片的光线入射至光传感器的位置
P’有翘曲光盘片的光线入射至光传感器的位置
N法线
N’偏移后的法线
具体实施方式
以下将参照相关附图,说明依本发明较佳实施例的光盘片检测装置。
本发明的光盘片包含只读型光盘(CD-ROM)、可写一次型光盘(CD-R)、可重复读写型光盘(CD-RW)、只读型数字激光视盘(DVD-ROM)、可写一次型数字激光视盘(DVD-R)、可重复读写式数字激光视盘(DVD-RW,DVD+RW)、以及动态随机记忆数字激光视盘(DVD-RAM)等等。
如图4所示,本发明的光盘片检测装置30,包含一承载座31、一光源32、一菱镜33、以及一光传感器34。光盘片检测装置30用以检测一光盘片35是否变形或翘曲。
承载座31承载光盘片35,承载座31具有一旋转机构311使光盘片35于检测过程中旋转。
光源32邻设于承载座31,且位于光盘片35下方,并发出一光线321。本实施例中,光源32为一半导体红光激光。
本实施例中,光盘片检测装置30更包含一底座36,光源32设置于底座36上。底座36为可移动,以调整光源32相对于光盘片35的位置。
菱镜33介于光盘片35与光源32之间,光线321穿透菱镜33并照射至光盘片35。因此,当光源32所发出的光线321,穿透过菱镜33而照射于光盘片35时,利用底座36即可调整光线321入射于光盘片35的位置,再加上承载座31上的旋转机构311,因此光线321能入射至光盘片35上的任意点,以进行检测。
请参照图4及图5,光线321照射至光盘片35后,即被反射。被光盘片35反射的光线321重新进入菱镜33后,再被菱镜33折射至光传感器34。
光传感器34接收折射后的光线321,以进行计算分析光盘片35的翘曲角度。其中,光传感器34可为一电荷耦合元件、或是一位置传感器。本实施例中,光传感器34为一位置传感器,能藉由无翘曲的光盘片及翘曲的光盘片(虚线所示),经菱镜33所折射后的入射至光传感器34的光线321的位置不同(P及P’),进行计算分析,以得到光盘片35翘曲的角度。
如图5及图6所示,由于菱镜33与光传感器34的距离R为已知,当光盘片的翘曲角度相当小时,PP’弧长约等于其弦长(即P点至P’点的距离),如下列算式所示:
PP ′ ‾ = PP ′ ⫬ = 2 πR × 2 β 360
因此即得, β = PP ′ ‾ × 360 2 πR × 2
获得光盘片35光盘片翘曲角度β后,即可利用翘曲角度的大小,来作为品管的管制点。当光盘片翘曲的角度大于可容许范围时,使用者可将光盘片35视为不良品,如此一来,即可确保光盘片35的品质。
本实施例中,光盘片检测装置更包含一显示屏幕37,其与光传感器34连结,使得分析后的结果,得以显示于屏幕37上,便于使用者检视。
综上所述,本发明的光盘片检测装置,光源邻设于承载座,且利用一菱镜代替现有技术中的平面镜,以减少光盘片检测装置的体积。与现有技术相比,本发明的光盘片检测装置,能缩短了光源与光盘片的距离,再利用菱镜折射,使得光盘片检测装置的体积能缩小,进而减少了机械设备所需的空间成本。再者,光源下可具有可移动式的底座,以使得光盘片检测装置能检测到光盘片上的任何一点。另外,本发明的光盘片检测装置能检测出光盘片是否翘曲、变形,故可替产品的品质把关,进而增加出货产品的良率。
以上所述仅为举例性,而非为限制性者。任何未脱离本发明的精神与范畴,而对其进行的等效修改或变更,均应包含于所述的权利要求范围中。

Claims (8)

1.一种光盘片检测装置,用以检测一光盘片是否变形,其特征是,包含:
一承载座,其承载该光盘片;
一光源,其邻设于该承载座,且位于该光盘片下方,并发出一光线;
一菱镜,其介于该光盘片与该光源之间,该光线穿透该菱镜并照射至该光盘片,该光盘片反射的该光线再经由该菱镜折射;以及
一光传感器,其接收折射后的该光线,并进行分析。
2.如权利要求1所述的光盘片检测装置,其特征是,更包含一显示屏幕,其与该光传感器连结。
3.如权利要求1所述的光盘片检测装置,其特征是,该承载座具有一旋转机构使该光盘片旋转。
4.如权利要求1所述的光盘片检测装置,其特征是,更包含一底座,该光源设置于该底座上。
5.如权利要求4所述的光盘片检测装置,其特征是,该底座为可移动,以调整该光源相对于该光盘片的位置。
6.如权利要求1所述的光盘片检测装置,其特征是,该光源为一半导体的红激光。
7.如权利要求1所述的光盘片检测装置,其特征是,该光传感器为一电荷耦合元件。
8.如权利要求1所述的光盘片检测装置,其特征是,该光传感器为一位置传感器。
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