CN104242820A - 一种具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器 - Google Patents

一种具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器 Download PDF

Info

Publication number
CN104242820A
CN104242820A CN201310250997.1A CN201310250997A CN104242820A CN 104242820 A CN104242820 A CN 104242820A CN 201310250997 A CN201310250997 A CN 201310250997A CN 104242820 A CN104242820 A CN 104242820A
Authority
CN
China
Prior art keywords
nmos pass
pass transistor
transistor
pmos transistor
drain electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201310250997.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104242820B (zh
Inventor
王玉涛
姚娇娇
孟洋
樊迪
朱樟明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xidian University
Original Assignee
Xidian University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xidian University filed Critical Xidian University
Priority to CN201310250997.1A priority Critical patent/CN104242820B/zh
Publication of CN104242820A publication Critical patent/CN104242820A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104242820B publication Critical patent/CN104242820B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

本发明提供一种具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器,属于模拟集成电路领域。该低功耗流控环形振荡器包括:补偿电流源电路,五级电流饥饿反相器级电路和由两级反相器级构成的缓冲级电路,其中:所述补偿电流源电路用于产生负温度系数的电流,为振荡器的频率漂移提供温度补偿;所述五级电流饥饿反相器级电路构成五级环形振荡器,用于产生振荡信号;所述由两级反相器级构成的缓冲级电路用于对所述振荡信号整形,产生一个满摆幅的占空比为1:1的方波信号。本发明的振荡器在满足低功耗的前提下具有良好的温度特性。

Description

一种具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器
技术领域
本发明涉及模拟集成电路领域,特别是指一种具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器。
背景技术
物联网及人体传感器网络的出现和不断发展,对集成电路的低功耗设计提出了新的要求和挑战,集成电路系统芯片需要从模拟、数字、射频三个方面完全解决低功耗的科学问题。时钟源作为系统芯片中必不可少的电路模块,其频率稳定性直接影响系统芯片的性能,所以研究低功耗、高稳定性的集成化时钟源电路已经成为国内外重要的研究课题。
通常数字系统利用片外石英晶体振荡器来得到时钟源信号,石英晶振拥有优越的电压和温度的特性,能够稳定地工作,但是难以集成到芯片内部,且附加了器件成本,阻碍了芯片的高度集成化。在标准CMOS工艺中,振荡器的实现方式主要有环形振荡器,张弛振荡器和LC振荡器,环形振荡器因其结构简单而用于许多集成电路芯片的设计,但其振荡频率受温度和工艺的变化影响很大。2012年A.Shrivastava用0.13μm工艺实现了一种150nW,5ppm/℃的时钟源,但是需要补偿振荡器,非补偿振荡器,锁存电路以及数字校准技术,电路结构复杂。目前的技术方案在电路结构、功耗和稳定性方面不能很好的满足性能要求,特别是在低功耗的要求下实现一个高精度的时钟源还存在很大困难,所以有必要采取一种新的电路结构来实现高精度的时钟源。
发明内容
本发明实施例提供了一种具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器,能够在满足低功耗的前提下具有良好的温度特性。
一种具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器包括:补偿电流源电路,五级电流饥饿反相器级电路和由两级反相器级构成的缓冲级电路,其中:
所述补偿电流源电路用于产生负温度系数的电流,为振荡器的频率漂移提供温度补偿;
所述五级电流饥饿反相器级电路构成五级环形振荡器,用于产生振荡信号;
所述由两级反相器级构成的缓冲级电路用于对所述振荡信号整形,产生一个满摆幅的占空比为1:1的方波信号。
进一步地,上述方案中,所述补偿电流源电路包括:第一NMOS晶体管、第二NMOS晶体管、第三NMOS晶体管、第四NMOS晶体管、第五NMOS晶体管、第六NMOS晶体管、第七NMOS晶体管、第二十NMOS晶体管、第二十一NMOS晶体管、第一PMOS晶体管、第二PMOS晶体管、第三PMOS晶体管、第四PMOS晶体管、第五PMOS晶体管、第六PMOS晶体管、第二十PMOS晶体管、第二十一PMOS晶体管、第一电阻、第二电阻、第三电阻,其中
所述第一NMOS晶体管的源极和所述第一电阻的负极接地,所述第一NMOS晶体管的栅极和所述第二NMOS晶体管的栅极连接,所述第一NMOS晶体管的栅极和所述第一NMOS晶体管的漏极短接,所述第二NMOS晶体管的源极与第一电阻的正极连接,所述第二NMOS晶体管的漏极与所述第二PMOS晶体管的漏极连接,所述第一PMOS晶体管的源极与所述第二PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第一PMOS晶体管的栅极与所述第二PMOS晶体管的栅极连接,所述第一PMOS晶体管的漏极与所述第一NMOS晶体管的漏极连接,所述第二PMOS晶体管的栅极与所述第二PMOS晶体管的漏极短接;
所述第三PMOS晶体管的源极与所述第四PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第三PMOS晶体管的栅极、所述第四PMOS晶体管的栅极与所述第二PMOS晶体管的栅极连接,所述第三PMOS晶体管的漏极与所述第二电阻的正极连接,所述第三NMOS晶体管的源极与所述第四NMOS晶体管的源极接地,所述第三NMOS晶体管的栅极与所述第四NMOS晶体管的栅极连接,所述第三NMOS晶体管的栅极与第三NMOS晶体管的漏极短接,所述第四NMOS晶体管的漏极与所述第四PMOS晶体管的漏极连接,所述第二电阻的正极与第三PMOS晶体管的漏极连接,所述第二电阻的负极与第三NMOS晶体管的漏极连接,所述第三电阻的正极与第三PMOS晶体管的漏极连接,所述第三电阻的负极接地,所述第四PMOS晶体管的漏极与所述第四NMOS晶体管的漏极连接,所述第五NMOS晶体管的源极接地,所述第五NMOS晶体管的栅极与所述第五NMOS晶体管的漏极短接;
所述第六NMOS晶体管的源极接地,所述第六NMOS晶体管的栅极与所述第五NMOS晶体管的栅极连接,所述第六NMOS晶体管的漏极与所述第二十NMOS晶体管的源极连接,所述第二十NMOS晶体管的栅极接电源电压,所述第二十NMOS晶体管的漏极与所述第二十PMOS晶体管的漏极连接,所述第二十PMOS晶体管的栅极接地,所述第二十PMOS晶体管的源极与第五PMOS晶体管的漏极连接,所述第五PMOS晶体管的源极与所述第六PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第六PMOS晶体管的源极电流Ip作为下一级振荡器的偏置电流,所述第五PMOS晶体管的栅极与所述第六PMOS晶体管的栅极连接,所述第五PMOS晶体管的栅极与所述第五PMOS晶体管的漏极短接,所述第六PMOS晶体管的漏极与第二十一PMOS晶体管的源极连接,所述第二十一PMOS晶体管的栅极接地,所述第二十一PMOS晶体管的漏极与第二十一NMOS晶体管的漏极连接,所述第二十一NMOS晶体管的栅极接电源电压,所述第二十一NMOS晶体管的源极与第七NMOS晶体管的漏极连接,所述第七NMOS晶体管的源极接地,所述第七NMOS晶体管的栅极与所述第七NMOS晶体管的漏极短接,所述第七NMOS晶体管的漏极电流In作为下一级振荡器的偏置电流。
进一步地,上述方案中,所述第二十PMOS晶体管和第二十NMOS晶体管以及第二十一PMOS晶体管和第二十一NMOS晶体管分别作为虚拟的反相器,与下一级电流饥饿反相器级电路结构对称,呈现出相同的特性,实现与下一级流控环形振荡器的负载匹配。进一步地,上述方案中,所述五级电流饥饿反相器级电路包括:第八NMOS晶体管、第九NMOS晶体管、第十NMOS晶体管、第十一NMOS晶体管、第十二NMOS晶体管、第十三NMOS晶体管、第十四NMOS晶体管、第十五NMOS晶体管、第十六NMOS晶体管、第十七NMOS晶体管、第八PMOS晶体管、第九PMOS晶体管、第十PMOS晶体管、第十一PMOS晶体管、第十二PMOS晶体管、第十三PMOS晶体管、第十四PMOS晶体管、第十五PMOS晶体管、第十六PMOS晶体管、第十七PMOS晶体管、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容,其中:
所述第八NMOS晶体管的源极、第九NMOS晶体管的源极、第十NMOS晶体管的源极、第十一NMOS晶体管的源极与第十二NMOS晶体管的源极接地,所述第八NMOS晶体管的栅极、第九NMOS晶体管的栅极、第十NMOS晶体管的栅极、第十一NMOS晶体管的栅极、第十二NMOS晶体管的栅极与补偿电流源中所述第七NMOS晶体管的栅极连接,所述第八NMOS晶体管的漏极与所述第十三NMOS晶体管的源极连接,所述第九NMOS晶体管的漏极与所述第十四NMOS晶体管的源极连接,所述第十NMOS晶体管的漏极与所述第十五NMOS晶体管的源极连接,所述第十一NMOS晶体管的漏极与所述第十六NMOS晶体管的源极连接,所述第十二NMOS晶体管的漏极与所述第十七NMOS晶体管的源极连接,所述第十三NMOS晶体管的栅极与所述第十三PMOS晶体管的栅极连接,所述第十四NMOS晶体管的栅极与所述第十四PMOS晶体管的栅极连接,所述第十五NMOS晶体管的栅极与所述第十五PMOS晶体管的栅极连接,所述第十六NMOS晶体管的栅极与所述第十六PMOS晶体管的栅极连接,所述第十七NMOS晶体管的栅极与所述第十七PMOS晶体管的栅极连接,所述第十三NMOS晶体管的漏极与所述第十三PMOS晶体管的漏极连接,所述第十四NMOS晶体管的漏极与所述第十四PMOS晶体管的漏极连接,所述第十五NMOS晶体管的漏极与所述第十六PMOS晶体管的漏极连接,所述第十六NMOS晶体管的漏极与所述第十六PMOS晶体管的漏极连接,所述第十七NMOS晶体管的漏极与所述第十七PMOS晶体管的漏极连接,所述第十三NMOS晶体管的栅极与所述第十七NMOS晶体管的漏极连接,所述第十四NMOS晶体管的栅极与所述第十三NMOS晶体管的漏极连接,所述第十五NMOS晶体管的栅极与所述第十四NMOS晶体管的漏极连接,所述第十六NMOS晶体管的栅极与所述第十五NMOS晶体管的漏极连接,所述第十七NMOS晶体管的栅极与所述第十六NMOS晶体管的漏极连接,所述第十三PMOS晶体管的源极与所述第八PMOS晶体管的漏极连接,所述第十四PMOS晶体管的源极与所述第九PMOS晶体管的漏极连接,所述第十五PMOS晶体管的源极与所述第十PMOS晶体管的漏极连接,所述第十六PMOS晶体管的源极与所述第十一PMOS晶体管的漏极连接,所述第十七PMOS晶体管的源极与所述第十二PMOS晶体管的漏极连接,所述第八PMOS晶体管的源极、第九PMOS晶体管的源极、第十PMOS晶体管的源极、第十一PMOS晶体管的源极与第十二PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第八PMOS晶体管的栅极、第九PMOS晶体管的栅极、第十PMOS晶体管的栅极、第十一PMOS晶体管的栅极、第十二PMOS晶体管的栅极与补偿电流源电路中所述第六PMOS晶体管的栅极连接,所述第一电容的负极、第二电容的负极、第三电容的负极、第四电容的负极与第五电容的负极接地,所述第一电容的正极与第十三NMOS晶体管的漏极连接,所述第二电容的正极与第十四NMOS晶体管的漏极连接,所述第三电容的正极与第十五NMOS晶体管的漏极连接,所述第四电容的正极与第十六NMOS晶体管的漏极连接,所述第五电容的正极与第十七NMOS晶体管的漏极连接。
进一步地,上述方案中,所述第十三PMOS晶体管、第十四PMOS晶体管、第十五PMOS晶体管、第十六PMOS晶体管和第十七PMOS晶体管的宽长比是所述第十三NMOS晶体管、第十四NMOS晶体管、第十五NMOS晶体管、第十六NMOS晶体管和第十七NMOS晶体管的两倍。
进一步地,上述方案中,所述缓冲级电路包括:第十八NMOS晶体管、第十九NMOS晶体管、第十八PMOS晶体管、第十九PMOS晶体管,其中:
所述第十八NMOS晶体管的源极与所述第十九NMOS晶体管的源极接地,所述第十八NMOS晶体管的栅极与所述第十八PMOS晶体管的栅极连接,所述第十九NMOS晶体管的栅极与所述第十九PMOS晶体管的栅极连接,所述第十八NMOS晶体管的漏极与所述第十八PMOS晶体管的漏极连接,所述第十九NMOS晶体管的漏极与所述第十九PMOS晶体管的漏极连接,所述第十八NMOS晶体管的栅极与所述五级电流饥饿反相器级电路中的第十七NMOS晶体管的漏极连接,所述第十九NMOS晶体管的栅极与所述第十八NMOS晶体管的漏极连接,所述第十八PMOS晶体管的源极与所述第十九PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第十九NMOS晶体管的漏极作为所述低功耗流控环形振荡器的输出端。
进一步地,上述方案中,其特征在于,所述第十八PMOS晶体管和第十九PMOS晶体管的宽长比是第十八NMOS晶体管和第十九NMOS晶体管的两倍。
本发明的实施例具有以下有益效果:
上述方案中,低功耗流控环形振荡器能够在满足低功耗的前提下具有良好的温度特性。
附图说明
图1为本发明实施例具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器的结构示意图;
图2为本发明实施例补偿电流源电路的电路示意图;
图3为本发明实施例具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器的电路示意图。
具体实施方式
为使本发明的实施例要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
本发明实施例提供了一种具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器,能够在满足低功耗的前提下具有良好的温度特性。
本发明实施例的具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器包括:补偿电流源电路,五级电流饥饿反相器级电路和由两级反相器级构成的缓冲级电路,其中:
所述补偿电流源电路用于产生负温度系数的电流,为振荡器的频率漂移提供温度补偿;
所述五级电流饥饿反相器级电路构成五级环形振荡器,用于产生振荡信号;
所述由两级反相器级构成的缓冲级电路用于对所述振荡信号整形,产生一个满摆幅的占空比为1:1的方波信号。
进一步地,上述方案中,所述补偿电流源电路包括:第一NMOS(N-channelMetal Oxide Semiconductor FET,N沟道金属氧化物半导体场效应)晶体管、第二NMOS晶体管、第三NMOS晶体管、第四NMOS晶体管、第五NMOS晶体管、第六NMOS晶体管、第七NMOS晶体管、第二十NMOS晶体管、第二十一NMOS晶体管、第一PMOS(P-channel Metal Oxide SemiconductorFET,P沟道金属氧化物半导体场效应)晶体管、第二PMOS晶体管、第三PMOS晶体管、第四PMOS晶体管、第五PMOS晶体管、第六PMOS晶体管、第二十PMOS晶体管、第二十一PMOS晶体管、第一电阻、第二电阻、第三电阻,其中
所述第一NMOS晶体管的源极和所述第一电阻的负极接地,所述第一NMOS晶体管的栅极和所述第二NMOS晶体管的栅极连接,所述第一NMOS晶体管的栅极和所述第一NMOS晶体管的漏极短接,所述第二NMOS晶体管的源极与第一电阻的正极连接,所述第二NMOS晶体管的漏极与所述第二PMOS晶体管的漏极连接,所述第一PMOS晶体管的源极与所述第二PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第一PMOS晶体管的栅极与所述第二PMOS晶体管的栅极连接,所述第一PMOS晶体管的漏极与所述第一NMOS晶体管的漏极连接,所述第二PMOS晶体管的栅极与所述第二PMOS晶体管的漏极短接;
所述第三PMOS晶体管的源极与所述第四PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第三PMOS晶体管的栅极、所述第四PMOS晶体管的栅极与所述第二PMOS晶体管的栅极连接,所述第三PMOS晶体管的漏极与所述第二电阻的正极连接,所述第三NMOS晶体管的源极与所述第四NMOS晶体管的源极接地,所述第三NMOS晶体管的栅极与所述第四NMOS晶体管的栅极连接,所述第三NMOS晶体管的栅极与第三NMOS晶体管的漏极短接,所述第四NMOS晶体管的漏极与所述第四PMOS晶体管的漏极连接,所述第二电阻的正极与第三PMOS晶体管的漏极连接,所述第二电阻的负极与第三NMOS晶体管的漏极连接,所述第三电阻的正极与第三PMOS晶体管的漏极连接,所述第三电阻的负极接地,所述第四PMOS晶体管的漏极与所述第四NMOS晶体管的漏极连接,所述第五NMOS晶体管的源极接地,所述第五NMOS晶体管的栅极与所述第五NMOS晶体管的漏极短接;
所述第六NMOS晶体管的源极接地,所述第六NMOS晶体管的栅极与所述第五NMOS晶体管的栅极连接,所述第六NMOS晶体管的漏极与所述第二十NMOS晶体管的源极连接,所述第二十NMOS晶体管的栅极接电源电压,所述第二十NMOS晶体管的漏极与所述第二十PMOS晶体管的漏极连接,所述第二十PMOS晶体管的栅极接地,所述第二十PMOS晶体管的源极与第五PMOS晶体管的漏极连接,所述第五PMOS晶体管的源极与所述第六PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第六PMOS晶体管的源极电流Ip作为下一级振荡器的偏置电流,所述第五PMOS晶体管的栅极与所述第六PMOS晶体管的栅极连接,所述第五PMOS晶体管的栅极与所述第五PMOS晶体管的漏极短接,所述第六PMOS晶体管的漏极与第二十一PMOS晶体管的源极连接,所述第二十一PMOS晶体管的栅极接地,所述第二十一PMOS晶体管的漏极与第二十一NMOS晶体管的漏极连接,所述第二十一NMOS晶体管的栅极接电源电压,所述第二十一NMOS晶体管的源极与第七NMOS晶体管的漏极连接,所述第七NMOS晶体管的源极接地,所述第七NMOS晶体管的栅极与所述第七NMOS晶体管的漏极短接,所述第七NMOS晶体管的漏极电流In作为下一级振荡器的偏置电流。
进一步地,由于下一级电流饥饿反相器级电路包括电流源,PMOS和NMOS构成的反相器以及电流沉,第二十PMOS晶体管和第二十NMOS晶体管以及第二十一PMOS晶体管和第二十一NMOS晶体管分别作为虚拟的反相器,与下一级电流饥饿反相器级电路结构对称,呈现出相同的特性,实现与下一级流控环形振荡器的负载匹配。
进一步地,上述方案中,所述五级电流饥饿反相器级电路包括:第八NMOS晶体管、第九NMOS晶体管、第十NMOS晶体管、第十一NMOS晶体管、第十二NMOS晶体管、第十三NMOS晶体管、第十四NMOS晶体管、第十五NMOS晶体管、第十六NMOS晶体管、第十七NMOS晶体管、第八PMOS晶体管、第九PMOS晶体管、第十PMOS晶体管、第十一PMOS晶体管、第十二PMOS晶体管、第十三PMOS晶体管、第十四PMOS晶体管、第十五PMOS晶体管、第十六PMOS晶体管、第十七PMOS晶体管、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容,其中:
所述第八NMOS晶体管的源极、第九NMOS晶体管的源极、第十NMOS晶体管的源极、第十一NMOS晶体管的源极与第十二NMOS晶体管的源极接地,所述第八NMOS晶体管的栅极、第九NMOS晶体管的栅极、第十NMOS晶体管的栅极、第十一NMOS晶体管的栅极、第十二NMOS晶体管的栅极与补偿电流源中所述第七NMOS晶体管的栅极连接,所述第八NMOS晶体管的漏极与所述第十三NMOS晶体管的源极连接,所述第九NMOS晶体管的漏极与所述第十四NMOS晶体管的源极连接,所述第十NMOS晶体管的漏极与所述第十五NMOS晶体管的源极连接,所述第十一NMOS晶体管的漏极与所述第十六NMOS晶体管的源极连接,所述第十二NMOS晶体管的漏极与所述第十七NMOS晶体管的源极连接,所述第十三NMOS晶体管的栅极与所述第十三PMOS晶体管的栅极连接,所述第十四NMOS晶体管的栅极与所述第十四PMOS晶体管的栅极连接,所述第十五NMOS晶体管的栅极与所述第十五PMOS晶体管的栅极连接,所述第十六NMOS晶体管的栅极与所述第十六PMOS晶体管的栅极连接,所述第十七NMOS晶体管的栅极与所述第十七PMOS晶体管的栅极连接,所述第十三NMOS晶体管的漏极与所述第十三PMOS晶体管的漏极连接,所述第十四NMOS晶体管的漏极与所述第十四PMOS晶体管的漏极连接,所述第十五NMOS晶体管的漏极与所述第十六PMOS晶体管的漏极连接,所述第十六NMOS晶体管的漏极与所述第十六PMOS晶体管的漏极连接,所述第十七NMOS晶体管的漏极与所述第十七PMOS晶体管的漏极连接,所述第十三NMOS晶体管的栅极与所述第十七NMOS晶体管的漏极连接,所述第十四NMOS晶体管的栅极与所述第十三NMOS晶体管的漏极连接,所述第十五NMOS晶体管的栅极与所述第十四NMOS晶体管的漏极连接,所述第十六NMOS晶体管的栅极与所述第十五NMOS晶体管的漏极连接,所述第十七NMOS晶体管的栅极与所述第十六NMOS晶体管的漏极连接,所述第十三PMOS晶体管的源极与所述第八PMOS晶体管的漏极连接,所述第十四PMOS晶体管的源极与所述第九PMOS晶体管的漏极连接,所述第十五PMOS晶体管的源极与所述第十PMOS晶体管的漏极连接,所述第十六PMOS晶体管的源极与所述第十一PMOS晶体管的漏极连接,所述第十七PMOS晶体管的源极与所述第十二PMOS晶体管的漏极连接,所述第八PMOS晶体管的源极、第九PMOS晶体管的源极、第十PMOS晶体管的源极、第十一PMOS晶体管的源极与第十二PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第八PMOS晶体管的栅极、第九PMOS晶体管的栅极、第十PMOS晶体管的栅极、第十一PMOS晶体管的栅极、第十二PMOS晶体管的栅极与补偿电流源电路中所述第六PMOS晶体管的栅极连接,所述第一电容的负极、第二电容的负极、第三电容的负极、第四电容的负极与第五电容的负极接地,所述第一电容的正极与第十三NMOS晶体管的漏极连接,所述第二电容的正极与第十四NMOS晶体管的漏极连接,所述第三电容的正极与第十五NMOS晶体管的漏极连接,所述第四电容的正极与第十六NMOS晶体管的漏极连接,所述第五电容的正极与第十七NMOS晶体管的漏极连接。
进一步地,上述方案中,所述第十三PMOS晶体管、第十四PMOS晶体管、第十五PMOS晶体管、第十六PMOS晶体管和第十七PMOS晶体管的宽长比是所述第十三NMOS晶体管、第十四NMOS晶体管、第十五NMOS晶体管、第十六NMOS晶体管和第十七NMOS晶体管的两倍。
进一步地,上述方案中,所述缓冲级电路包括:第十八NMOS晶体管、第十九NMOS晶体管、第十八PMOS晶体管、第十九PMOS晶体管,其中:
所述第十八NMOS晶体管的源极与所述第十九NMOS晶体管的源极接地,所述第十八NMOS晶体管的栅极与所述第十八PMOS晶体管的栅极连接,所述第十九NMOS晶体管的栅极与所述第十九PMOS晶体管的栅极连接,所述第十八NMOS晶体管的漏极与所述第十八PMOS晶体管的漏极连接,所述第十九NMOS晶体管的漏极与所述第十九PMOS晶体管的漏极连接,所述第十八NMOS晶体管的栅极与所述五级电流饥饿反相器级电路中的第十七NMOS晶体管的漏极连接,所述第十九NMOS晶体管的栅极与所述第十八NMOS晶体管的漏极连接,所述第十八PMOS晶体管的源极与所述第十九PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第十九NMOS晶体管的漏极作为所述低功耗流控环形振荡器的输出端。
进一步地,上述方案中,其特征在于,所述第十八PMOS晶体管和第十九PMOS晶体管的宽长比是第十八NMOS晶体管和第十九NMOS晶体管的两倍。
下面结合附图对本发明的具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器进行详细介绍:
如图1所示为本发明具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器的示意图,由图1可知,该流控环形振荡器包括:补偿电流源电路,五级电流饥饿反相器级电路和由两级反相器级构成的缓冲级电路,其中补偿电流源电路用于产生负温度系数的电流,为振荡器的频率漂移提供温度补偿;五级电流饥饿反相器级电路构成五级环形振荡器,用于产生振荡信号;由两级反相器级构成的缓冲级电路用于对振荡信号整形,产生一个满摆幅的占空比为1:1的方波信号。
图2为图1中补偿电流源电路的电路示意图,该补偿电流源电路包括:NMOS晶体管(NM0)、NMOS晶体管(NM1)、NMOS晶体管(NM2)、NMOS晶体管(NM3)、NMOS晶体管(NM4)、NMOS晶体管(NM5)、NMOS晶体管(NM6)、NMOS晶体管(NMdm1)、NMOS晶体管(NMdm2)、PMOS晶体管(PM0)、PMOS晶体管(PM1)、PMOS晶体管(PM2)、PMOS晶体管(PM3)、PMOS晶体管(PM4)、PMOS晶体管(PM5)、PMOS晶体管(PMdm1)、PMOS晶体管(PMdm2)、电阻(R0)、电阻(R1)、电阻(R2),其中
NMOS晶体管(NM0)的源极和电阻(R0)的负极接地,NMOS晶体管(NM0)的栅极和NMOS晶体管(NM1)的栅极连接,NMOS晶体管(NM0)的栅极和NMOS晶体管(NM0)的漏极短接,NMOS晶体管(NM1)的源极与电阻(R0)的正极连接,NMOS晶体管(NM1)的漏极与PMOS晶体管(PM1)的漏极连接,PMOS晶体管(PM0)的源极与PMOS晶体管(PM1)的源极接电源电压,PMOS晶体管(PM0)的栅极与PMOS晶体管(PM1)的栅极连接,PMOS晶体管(PM0)的漏极与NMOS晶体管(NM0)的漏极连接,PMOS晶体管(PM1)的栅极与PMOS晶体管(PM1)的漏极短接。
PMOS晶体管(PM2)的源极与PMOS晶体管(PM3)的源极接电源电压,PMOS晶体管(PM2)的栅极、PMOS晶体管(PM3)的栅极与PMOS晶体管(PM1)的栅极连接,PMOS晶体管(PM2)的漏极与电阻(R1)的正极连接,NMOS晶体管(NM2)的源极与NMOS晶体管(NM3)的源极接地,NMOS晶体管(NM2)的栅极与NMOS晶体管(NM3)的栅极连接,NMOS晶体管(NM2)的栅极与NMOS晶体管(NM2)的漏极短接,NMOS晶体管(NM3)的漏极与PMOS晶体管(PM3)的漏极连接,电阻(R1)的正极与PMOS晶体管(PM2)的漏极连接,电阻(R1)的负极与NMOS晶体管(NM2)的漏极连接,电阻(R2)的正极与PMOS晶体管(PM2)的漏极连接,电阻(R2)的负极接地,PMOS晶体管(PM3)的漏极与NMOS晶体管(NM3)的漏极连接,NMOS晶体管(NM4)的源极接地,NMOS晶体管(NM4)的栅极与NMOS晶体管(NM4)的漏极短接,PMOS晶体管(PM2)的漏电流是一个与绝对温度成正比的电流IPTAT,PMOS晶体管(PM2)的漏极产生基准电压Vref,流经电阻(R2)的电流是一个零温度系数的电流IZTC,流经电阻(R1)的电流是一个正温度系数的电流IZTC
NMOS晶体管(NM5)的源极接地,NMOS晶体管(NM5)的栅极与NMOS晶体管(NM4)的栅极连接,NMOS晶体管(NM5)的漏极与NMOS晶体管(NMdm1)的源极连接,NMOS晶体管(NMdm1)的栅极接电源电压,NMOS晶体管(NMdm1)的漏极与PMOS晶体管(PMdm1)的漏极连接,PMOS晶体管(PMdm1)的栅极接地,PMOS晶体管(PMdm1)的源极与PMOS晶体管(PM4)的漏极连接,PMOS晶体管(PM4)的源极与PMOS晶体管(PM5)的源极接电源电压,PMOS晶体管(PM5)的源极电流Ip作为下一级振荡器的偏置电流,PMOS晶体管(PM4)的栅极与PMOS晶体管(PM5)的栅极连接,PMOS晶体管(PM4)的栅极与PMOS晶体管(PM4)的漏极短接,PMOS晶体管(PM5)的漏极与PMOS晶体管(PMdm2)的源极连接,PMOS晶体管(PMdm2)的栅极接地,PMOS晶体管(PMdm2)的漏极与NMOS晶体管(NMdm2)的漏极连接,NMOS晶体管(NMdm2)的栅极接电源电压,NMOS晶体管(NMdm2)的源极与NMOS晶体管(NM6)的漏极连接,NMOS晶体管(NM6)的源极接地,NMOS晶体管(NM6)的栅极与NMOS晶体管(NM6)的漏极短接,NMOS晶体管(NM6)的漏极电流In作为下一级振荡器的偏置电流,NMOS晶体管(NM5)的漏电流是一个零温度系数的电流Iref
在本实施例中,补偿电流源电路利用MOS晶体管工作在亚阈值区来实现一个低功耗的流控振荡器。
当NMOS晶体管工作在亚阈值区时,NMOS晶体管的漏源电流为:
I D = I D 0 Se q ( V GS - V TH ) / nkT         公式(1)
其中,其中ID0是注入电流,S是晶体管的宽长比,q是电子的电荷量,n是斜率因子,k是波尔兹曼常数,T是绝对温度,VGS是栅源电压,VTH是晶体管的阈值电压。从公式(1)可以看出,对于一个给定的漏电流,晶体管的栅源电压可以表示成:
V GS = nV T ln I D SI D 0 + V TH        公式(2)
其中VT是热电压,大小等于kT/q。在这个等式中,晶体管的阈值电压可以表示为:
V TH = - kT q ln N D , poly N A + kTN A ϵ si ln N A n i - Q ′ ss 2 C ′ ox        公式(3)
其中ND,poly是n+多晶硅栅中施主原子的掺杂浓度,NA是衬底受主原子的掺杂浓度,ni是本征载流子浓度,εsi是硅的相对介电常数,Q'ss是表面态电荷,C'ox是单位面积的氧化层电容。将公式(3)带入到公式(2)中并且求VGS对T的微分,VGS的温度系数可以写为:
∂ V GS ∂ T ≈ n k q ln I D SI D 0 - k q ln N D , poly N A
= - k q ln N D , poly ( SI D 0 ) n N A ( I D ) n        公式(4)
从公式(4)中可以看出VGS的温度系数是负值。
从图2可以看出,补偿电流源电路包括:一个与温度成正比的电流(PTAT)产生器,一个带隙基准,一个低温度系数的电流复制电路和一个电流镜电路。PTAT电流产生器产生一个正比于温度的电流,电流的大小可由下式给出:
I PTAT = nV T R 0 ln K        公式(5)
其中K是晶体管PM3与PM0的尺寸比。Vref可以写为:
Vref=VGS,NM2+IPTCR1        公式(6)
NM2的栅源电压和R1上的电压降通过工作在弱反型区的n沟道MOS晶体管来减小。R1上的电压降会随着正温度系数的电流而增大,因此实现了Vref的温度补偿。电流IZTC可以写为:
I ZTC = V ref R 2        公式(7)
由NM4和NM5组成的电流镜实现了输出端电流对IZTC的复制。该电流源的输出参考电流(Iref)可由下式给出:
I ref = I ZTC ( W / L ) NM 5 ( W / L ) NM 4
= 1 R 1 + R 2 ( V GS , NM 2 + I PTAT R 2 ) ( W / L ) NM 5 ( W / L ) NM 4        公式(8)
通过调整NM5管的尺寸,就可以得到低温度系数的不同电流值。由于环形振荡器的频率随着温度的变化呈正相关,所以将电流源设计成与温度呈负相关来补偿环形振荡器频率的变化。
电流镜电路中,PMdm1和PMdm2,NMdm1和NMdm2是虚拟电路来实现与环形振荡器的匹配。为了实现低功耗,通过电流镜结构,合理调整晶体管的尺寸,来满足低功耗的要求。
图3所示的电路图包括电流源示意图,五级电流饥饿反相器级电路和由两级反相器级构成的缓冲级电路。
由图中可知,该五级电流饥饿反相器级电路包括:NMOS晶体管(NM7)、NMOS晶体管(NM8)、NMOS晶体管(NM9)、NMOS晶体管(NM10)、NMOS晶体管(NM11)、NMOS晶体管(NM12)、NMOS晶体管(NM13)、NMOS晶体管(NM14)、NMOS晶体管(NM15)、NMOS晶体管(NM16)、PMOS晶体管(PM7)、PMOS晶体管(PM8)、PMOS晶体管(PM9)、PMOS晶体管(PM10)、PMOS晶体管(PM11)、PMOS晶体管(PM12)、PMOS晶体管(PM13)、PMOS晶体管(PM14)、PMOS晶体管(PM15)、PMOS晶体管(PM16)、电容(C0)、电容(C1)、电容(C2)、电容(C3)、电容(C4),其中
NMOS晶体管(NM7)的源极、NMOS晶体管(NM8)的源极、NMOS晶体管(NM9)的源极、NMOS晶体管(NM10)的源极与NMOS晶体管(NM-11)的源极接地,NMOS晶体管(NM7)的栅极、NMOS晶体管(NM8)的栅极、NMOS晶体管(NM9)的栅极、NMOS晶体管(NM10)的栅极、NMOS晶体管(NM11)的栅极与补偿电流源中NMOS晶体管(NM6)的栅极连接,NMOS晶体管(NM7)的漏极与NMOS晶体管(NM12)的源极连接,NMOS晶体管(NM8)的漏极与NMOS晶体管(NM13)的源极连接,NMOS晶体管(NM9)的漏极与NMOS晶体管(NM14)的源极连接,NMOS晶体管(NM10)的漏极与NMOS晶体管(NM15)的源极连接,NMOS晶体管(NM11)的漏极与NMOS晶体管(NM16)的源极连接,NMOS晶体管(NM12)的栅极与PMOS晶体管(PM12)的栅极连接,NMOS晶体管(NM13)的栅极与PMOS晶体管(PM13)的栅极连接,NMOS晶体管(NM14)的栅极与PMOS晶体管(PM14)的栅极连接,NMOS晶体管(NM15)的栅极与PMOS晶体管(PM15)的栅极连接,NMOS晶体管(NM16)的栅极与PMOS晶体管(PM16)的栅极连接,NMOS晶体管(NM12)的漏极与PMOS晶体管(PM12)的漏极连接,NMOS晶体管(NM13)的漏极与PMOS晶体管(PM13)的漏极连接,NMOS晶体管(NM14)的漏极与PMOS晶体管(PM15)的漏极连接,NMOS晶体管(NM15)的漏极与PMOS晶体管(PM15)的漏极连接,NMOS晶体管(NM16)的漏极与PMOS晶体管(PM16)的漏极连接,NMOS晶体管(NM12)的栅极与NMOS晶体管(NM16)的漏极连接,NMOS晶体管(NM13)的栅极与NMOS晶体管(NM12)的漏极连接,NMOS晶体管(NM14)的栅极与NMOS晶体管(NM13)的漏极连接,NMOS晶体管(NM15)的栅极与NMOS晶体管(NM14)的漏极连接,NMOS晶体管(NM16)的栅极与NMOS晶体管(NM15)的漏极连接,PMOS晶体管(PM12)的源极与PMOS晶体管(PM7)的漏极连接,PMOS晶体管(PM13)的源极与PMOS晶体管(PM8)的漏极连接,PMOS晶体管(PM14)的源极与PMOS晶体管(PM9)的漏极连接,PMOS晶体管(PM15)的源极与PMOS晶体管(PM10)的漏极连接,PMOS晶体管(PM16)的源极与PMOS晶体管(PM11)的漏极连接,PMOS晶体管(PM7)的源极、PMOS晶体管(PM8)的源极、PMOS晶体管(PM9)的源极、PMOS晶体管(PM10)的源极与PMOS晶体管(PM11)的源极接电源电压,PMOS晶体管(PM7)的栅极、PMOS晶体管(PM8)的栅极、PMOS晶体管(PM9)的栅极、PMOS晶体管(PM10)的栅极、PMOS晶体管(PM11)的栅极与补偿电流源中PMOS晶体管(PM5)的栅极连接,电容(C0)的负极、电容(C1)的负极、电容(C2)的负极、电容(C3)的负极与电容(C4)的负极接地,电容(C0)的正极与NMOS晶体管(NM12)的漏极连接,电容(C1)的正极与NMOS晶体管(NM13)的漏极连接,电容(C2)的正极与NMOS晶体管(NM14)的漏极连接,电容(C3)的正极与NMOS晶体管(NM15)的漏极连接,电容(C4)的正极与NMOS晶体管(NM16)的漏极连接。
振荡器的上升和下降延时是由反相器级的偏置电流源Isource,跳闸电压Vtrp和负载电容Cload决定,即
t PD _ rise = C load V trp I source        公式(9)
t PD _ fall = C load ( V DD - V trp ) I source        公式(10)
由N级电流饥饿级构成的环形振荡器的频率可以表示成:
f osc = 1 N ( t PD _ rise + t PD _ fall )
= I source NC load V DD        公式(11)
上述的等式表明流控环形振荡器的振荡频率与偏置电流是线性关系。因此,如果Isource不随温度发生漂移,显然会减小振荡器频率的变化。
本发明实施例中,PMOS晶体管(PM12)、PMOS晶体管(PM13)、PMOS晶体管(PM14)、PMOS晶体管(PM15)、PMOS晶体管(PM16)的宽长比是NMOS晶体管(NM12)、NMOS晶体管(NM13)、NMOS晶体管(NM14)、NMOS晶体管(NM15)、NMOS晶体管(NM16)的两倍,这样可以保证反相器的上升延时与下降延时相等。
由图3可知,该两级反相器级构成的缓冲级电路包括:NMOS晶体管(NM17)、NMOS晶体管(NM18)、PMOS晶体管(PM17)、PMOS晶体管(PM18),其中:
NMOS晶体管(NM17)的源极与NMOS晶体管(NM18)的源极接地,NMOS晶体管(NM17)的栅极与PMOS晶体管(PM17)的栅极连接,NMOS晶体管(NM18)的栅极与PMOS晶体管(PM18)的栅极连接,NMOS晶体管(NM17)的漏极与PMOS晶体管(PM17)的漏极连接,NMOS晶体管(NM18)的漏极与PMOS晶体管(PM18)的漏极连接,NMOS晶体管(NM17)的栅极与五级电流饥饿反相器级电路中NMOS晶体管(NM16)的漏极连接,NMOS晶体管(NM18)的栅极与NMOS晶体管(NM17)的漏极连接,PMOS晶体管(PM17)的源极与PMOS晶体管(PM18)的源极接电源电压,NMOS晶体管(NM18)的漏极作为所述流控环形振荡器的输出端(Vout)。
本发明实施例中PMOS晶体管(PM17)、PMOS晶体管(PM18)的宽长比是NMOS晶体管(NM17)、NMOS晶体管(NM18)的两倍,以保证振荡器的输出是占空比为1:1的方波信号。
本发明提供的流控环形振荡器具有良好的温度特性,并且该振荡器的功耗很低。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以作出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (7)

1.一种具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器,其特征在于,包括:补偿电流源电路,五级电流饥饿反相器级电路和由两级反相器级构成的缓冲级电路,其中:
所述补偿电流源电路用于产生负温度系数的电流,为振荡器的频率漂移提供温度补偿;
所述五级电流饥饿反相器级电路构成五级环形振荡器,用于产生振荡信号;
所述由两级反相器级构成的缓冲级电路用于对所述振荡信号整形,产生一个满摆幅的占空比为1:1的方波信号。
2.根据权利要求1所述的低功耗流控环形振荡器,其特征在于,所述补偿电流源电路包括:第一NMOS晶体管、第二NMOS晶体管、第三NMOS晶体管、第四NMOS晶体管、第五NMOS晶体管、第六NMOS晶体管、第七NMOS晶体管、第二十NMOS晶体管、第二十一NMOS晶体管、第一PMOS晶体管、第二PMOS晶体管、第三PMOS晶体管、第四PMOS晶体管、第五PMOS晶体管、第六PMOS晶体管、第二十PMOS晶体管、第二十一PMOS晶体管、第一电阻、第二电阻、第三电阻,其中
所述第一NMOS晶体管的源极和所述第一电阻的负极接地,所述第一NMOS晶体管的栅极和所述第二NMOS晶体管的栅极连接,所述第一NMOS晶体管的栅极和所述第一NMOS晶体管的漏极短接,所述第二NMOS晶体管的源极与第一电阻的正极连接,所述第二NMOS晶体管的漏极与所述第二PMOS晶体管的漏极连接,所述第一PMOS晶体管的源极与所述第二PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第一PMOS晶体管的栅极与所述第二PMOS晶体管的栅极连接,所述第一PMOS晶体管的漏极与所述第一NMOS晶体管的漏极连接,所述第二PMOS晶体管的栅极与所述第二PMOS晶体管的漏极短接;
所述第三PMOS晶体管的源极与所述第四PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第三PMOS晶体管的栅极、所述第四PMOS晶体管的栅极与所述第二PMOS晶体管的栅极连接,所述第三PMOS晶体管的漏极与所述第二电阻的正极连接,所述第三NMOS晶体管的源极与所述第四NMOS晶体管的源极接地,所述第三NMOS晶体管的栅极与所述第四NMOS晶体管的栅极连接,所述第三NMOS晶体管的栅极与第三NMOS晶体管的漏极短接,所述第四NMOS晶体管的漏极与所述第四PMOS晶体管的漏极连接,所述第二电阻的正极与第三PMOS晶体管的漏极连接,所述第二电阻的负极与第三NMOS晶体管的漏极连接,所述第三电阻的正极与第三PMOS晶体管的漏极连接,所述第三电阻的负极接地,所述第四PMOS晶体管的漏极与所述第四NMOS晶体管的漏极连接,所述第五NMOS晶体管的源极接地,所述第五NMOS晶体管的栅极与所述第五NMOS晶体管的漏极短接;
所述第六NMOS晶体管的源极接地,所述第六NMOS晶体管的栅极与所述第五NMOS晶体管的栅极连接,所述第六NMOS晶体管的漏极与所述第二十NMOS晶体管的源极连接,所述第二十NMOS晶体管的栅极接电源电压,所述第二十NMOS晶体管的漏极与所述第二十PMOS晶体管的漏极连接,所述第二十PMOS晶体管的栅极接地,所述第二十PMOS晶体管的源极与第五PMOS晶体管的漏极连接,所述第五PMOS晶体管的源极与所述第六PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第六PMOS晶体管的源极电流Ip作为下一级振荡器的偏置电流,所述第五PMOS晶体管的栅极与所述第六PMOS晶体管的栅极连接,所述第五PMOS晶体管的栅极与所述第五PMOS晶体管的漏极短接,所述第六PMOS晶体管的漏极与第二十一PMOS晶体管的源极连接,所述第二十一PMOS晶体管的栅极接地,所述第二十一PMOS晶体管的漏极与第二十一NMOS晶体管的漏极连接,所述第二十一NMOS晶体管的栅极接电源电压,所述第二十一NMOS晶体管的源极与第七NMOS晶体管的漏极连接,所述第七NMOS晶体管的源极接地,所述第七NMOS晶体管的栅极与所述第七NMOS晶体管的漏极短接,所述第七NMOS晶体管的漏极电流In作为下一级振荡器的偏置电流。
3.根据权利要求2所述的低功耗流控环形振荡器,其特征在于,所述第二十PMOS晶体管和第二十NMOS晶体管以及第二十一PMOS晶体管和第二十一NMOS晶体管分别作为虚拟的反相器,与下一级电流饥饿反相器级电路结构对称,呈现出相同的特性,实现与下一级流控环形振荡器的负载匹配。
4.根据权利要求1所述的低功耗流控环形振荡器,其特征在于,所述五级电流饥饿反相器级电路包括:第八NMOS晶体管、第九NMOS晶体管、第十NMOS晶体管、第十一NMOS晶体管、第十二NMOS晶体管、第十三NMOS晶体管、第十四NMOS晶体管、第十五NMOS晶体管、第十六NMOS晶体管、第十七NMOS晶体管、第八PMOS晶体管、第九PMOS晶体管、第十PMOS晶体管、第十一PMOS晶体管、第十二PMOS晶体管、第十三PMOS晶体管、第十四PMOS晶体管、第十五PMOS晶体管、第十六PMOS晶体管、第十七PMOS晶体管、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容,其中:
所述第八NMOS晶体管的源极、第九NMOS晶体管的源极、第十NMOS晶体管的源极、第十一NMOS晶体管的源极与第十二NMOS晶体管的源极接地,所述第八NMOS晶体管的栅极、第九NMOS晶体管的栅极、第十NMOS晶体管的栅极、第十一NMOS晶体管的栅极、第十二NMOS晶体管的栅极与补偿电流源中所述第七NMOS晶体管的栅极连接,所述第八NMOS晶体管的漏极与所述第十三NMOS晶体管的源极连接,所述第九NMOS晶体管的漏极与所述第十四NMOS晶体管的源极连接,所述第十NMOS晶体管的漏极与所述第十五NMOS晶体管的源极连接,所述第十一NMOS晶体管的漏极与所述第十六NMOS晶体管的源极连接,所述第十二NMOS晶体管的漏极与所述第十七NMOS晶体管的源极连接,所述第十三NMOS晶体管的栅极与所述第十三PMOS晶体管的栅极连接,所述第十四NMOS晶体管的栅极与所述第十四PMOS晶体管的栅极连接,所述第十五NMOS晶体管的栅极与所述第十五PMOS晶体管的栅极连接,所述第十六NMOS晶体管的栅极与所述第十六PMOS晶体管的栅极连接,所述第十七NMOS晶体管的栅极与所述第十七PMOS晶体管的栅极连接,所述第十三NMOS晶体管的漏极与所述第十三PMOS晶体管的漏极连接,所述第十四NMOS晶体管的漏极与所述第十四PMOS晶体管的漏极连接,所述第十五NMOS晶体管的漏极与所述第十六PMOS晶体管的漏极连接,所述第十六NMOS晶体管的漏极与所述第十六PMOS晶体管的漏极连接,所述第十七NMOS晶体管的漏极与所述第十七PMOS晶体管的漏极连接,所述第十三NMOS晶体管的栅极与所述第十七NMOS晶体管的漏极连接,所述第十四NMOS晶体管的栅极与所述第十三NMOS晶体管的漏极连接,所述第十五NMOS晶体管的栅极与所述第十四NMOS晶体管的漏极连接,所述第十六NMOS晶体管的栅极与所述第十五NMOS晶体管的漏极连接,所述第十七NMOS晶体管的栅极与所述第十六NMOS晶体管的漏极连接,所述第十三PMOS晶体管的源极与所述第八PMOS晶体管的漏极连接,所述第十四PMOS晶体管的源极与所述第九PMOS晶体管的漏极连接,所述第十五PMOS晶体管的源极与所述第十PMOS晶体管的漏极连接,所述第十六PMOS晶体管的源极与所述第十一PMOS晶体管的漏极连接,所述第十七PMOS晶体管的源极与所述第十二PMOS晶体管的漏极连接,所述第八PMOS晶体管的源极、第九PMOS晶体管的源极、第十PMOS晶体管的源极、第十一PMOS晶体管的源极与第十二PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第八PMOS晶体管的栅极、第九PMOS晶体管的栅极、第十PMOS晶体管的栅极、第十一PMOS晶体管的栅极、第十二PMOS晶体管的栅极与补偿电流源电路中所述第六PMOS晶体管的栅极连接,所述第一电容的负极、第二电容的负极、第三电容的负极、第四电容的负极与第五电容的负极接地,所述第一电容的正极与第十三NMOS晶体管的漏极连接,所述第二电容的正极与第十四NMOS晶体管的漏极连接,所述第三电容的正极与第十五NMOS晶体管的漏极连接,所述第四电容的正极与第十六NMOS晶体管的漏极连接,所述第五电容的正极与第十七NMOS晶体管的漏极连接。
5.根据权利要求4所述的低功耗流控环形振荡器,其特征在于,所述第十三PMOS晶体管、第十四PMOS晶体管、第十五PMOS晶体管、第十六PMOS晶体管和第十七PMOS晶体管的宽长比是所述第十三NMOS晶体管、第十四NMOS晶体管、第十五NMOS晶体管、第十六NMOS晶体管和第十七NMOS晶体管的两倍。
6.根据权利要求1所述的低功耗流控环形振荡器,其特征在于,所述缓冲级电路包括:第十八NMOS晶体管、第十九NMOS晶体管、第十八PMOS晶体管、第十九PMOS晶体管,其中:
所述第十八NMOS晶体管的源极与所述第十九NMOS晶体管的源极接地,所述第十八NMOS晶体管的栅极与所述第十八PMOS晶体管的栅极连接,所述第十九NMOS晶体管的栅极与所述第十九PMOS晶体管的栅极连接,所述第十八NMOS晶体管的漏极与所述第十八PMOS晶体管的漏极连接,所述第十九NMOS晶体管的漏极与所述第十九PMOS晶体管的漏极连接,所述第十八NMOS晶体管的栅极与所述五级电流饥饿反相器级电路中的第十七NMOS晶体管的漏极连接,所述第十九NMOS晶体管的栅极与所述第十八NMOS晶体管的漏极连接,所述第十八PMOS晶体管的源极与所述第十九PMOS晶体管的源极接电源电压,所述第十九NMOS晶体管的漏极作为所述低功耗流控环形振荡器的输出端。
7.根据权利要求6所述的低功耗流控环形振荡器,其特征在于,其特征在于,所述第十八PMOS晶体管和第十九PMOS晶体管的宽长比是第十八NMOS晶体管和第十九NMOS晶体管的两倍。
CN201310250997.1A 2013-06-21 2013-06-21 一种具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器 Expired - Fee Related CN104242820B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310250997.1A CN104242820B (zh) 2013-06-21 2013-06-21 一种具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310250997.1A CN104242820B (zh) 2013-06-21 2013-06-21 一种具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104242820A true CN104242820A (zh) 2014-12-24
CN104242820B CN104242820B (zh) 2017-09-08

Family

ID=52230321

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310250997.1A Expired - Fee Related CN104242820B (zh) 2013-06-21 2013-06-21 一种具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104242820B (zh)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106026984A (zh) * 2016-06-17 2016-10-12 广州中大微电子有限公司 一种无源rfid标签电容式传感器的接口电路
CN109104155A (zh) * 2018-10-26 2018-12-28 上海海栎创微电子有限公司 一种流控松弛振荡器
CN110311627A (zh) * 2019-08-08 2019-10-08 贵州辰矽电子科技有限公司 一种低功耗输出固定频率的振荡器电路
CN111934620A (zh) * 2020-09-30 2020-11-13 深圳市芯天下技术有限公司 一种随温度变化的振荡器及芯片
CN112350722A (zh) * 2020-11-16 2021-02-09 上海唯捷创芯电子技术有限公司 一种低温漂环形振荡器、芯片及通信终端
CN113746454A (zh) * 2021-08-30 2021-12-03 西安电子科技大学 一种对电源电压和温度变化不敏感的环形振荡电路
CN116961623A (zh) * 2023-09-20 2023-10-27 江苏帝奥微电子股份有限公司 一种高精度占空比控制电路及其控制方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5180995A (en) * 1991-09-13 1993-01-19 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Temperature-compensated ring oscillator circuit formed on a semiconductor substrate
JP2003283305A (ja) * 2002-03-27 2003-10-03 Toshiba Corp 温度補償付発振回路
CN1494207A (zh) * 2002-10-31 2004-05-05 上海华虹集成电路有限责任公司 中频频率基准源
CN101741354A (zh) * 2009-11-25 2010-06-16 天津南大强芯半导体芯片设计有限公司 一种低频低功耗振荡器电路及其工作方法
CN101753115A (zh) * 2008-10-09 2010-06-23 盛群半导体股份有限公司 具有温度补偿的电路及方法
CN102386848A (zh) * 2011-09-21 2012-03-21 电子科技大学 一种环形压控振荡器

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5180995A (en) * 1991-09-13 1993-01-19 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Temperature-compensated ring oscillator circuit formed on a semiconductor substrate
JP2003283305A (ja) * 2002-03-27 2003-10-03 Toshiba Corp 温度補償付発振回路
CN1494207A (zh) * 2002-10-31 2004-05-05 上海华虹集成电路有限责任公司 中频频率基准源
CN101753115A (zh) * 2008-10-09 2010-06-23 盛群半导体股份有限公司 具有温度补偿的电路及方法
CN101741354A (zh) * 2009-11-25 2010-06-16 天津南大强芯半导体芯片设计有限公司 一种低频低功耗振荡器电路及其工作方法
CN102386848A (zh) * 2011-09-21 2012-03-21 电子科技大学 一种环形压控振荡器

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
曹新亮等: "集成CMOS环形振荡器频漂补偿的实现", 《固体电子学研究与进展》 *
谢连波等: "低功耗CMOS差分环形压控振荡器设计", 《微电子学与计算机》 *

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106026984A (zh) * 2016-06-17 2016-10-12 广州中大微电子有限公司 一种无源rfid标签电容式传感器的接口电路
CN109104155A (zh) * 2018-10-26 2018-12-28 上海海栎创微电子有限公司 一种流控松弛振荡器
CN110311627A (zh) * 2019-08-08 2019-10-08 贵州辰矽电子科技有限公司 一种低功耗输出固定频率的振荡器电路
CN111934620A (zh) * 2020-09-30 2020-11-13 深圳市芯天下技术有限公司 一种随温度变化的振荡器及芯片
CN112350722A (zh) * 2020-11-16 2021-02-09 上海唯捷创芯电子技术有限公司 一种低温漂环形振荡器、芯片及通信终端
WO2022100755A1 (zh) * 2020-11-16 2022-05-19 上海唯捷创芯电子技术有限公司 一种低温漂环形振荡器、芯片及通信终端
EP4246812A4 (en) * 2020-11-16 2024-10-23 Shanghai Vanchip Tech Co Ltd RING OSCILLATOR WITH LOW TEMPERATURE COEFFICIENT, CHIP AND COMMUNICATIONS TERMINAL
CN113746454A (zh) * 2021-08-30 2021-12-03 西安电子科技大学 一种对电源电压和温度变化不敏感的环形振荡电路
CN113746454B (zh) * 2021-08-30 2023-06-13 西安电子科技大学 一种对电源电压和温度变化不敏感的环形振荡电路
CN116961623A (zh) * 2023-09-20 2023-10-27 江苏帝奥微电子股份有限公司 一种高精度占空比控制电路及其控制方法
CN116961623B (zh) * 2023-09-20 2023-12-08 江苏帝奥微电子股份有限公司 一种高精度占空比控制电路及其控制方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN104242820B (zh) 2017-09-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104242820A (zh) 一种具有温度补偿的低功耗流控环形振荡器
CN103529897B (zh) 一种高电源抑制比的纯mos结构电压基准源
CN104503530B (zh) 一种高性能高可靠度的低压cmos基准电压源
Lin et al. A sub-pW timer using gate leakage for ultra low-power sub-Hz monitoring systems
CN106209083B (zh) 环形振荡电路和环形振荡器
CN103389766B (zh) 一种亚阈值非带隙基准电压源
CN107305403B (zh) 一种低功耗电压产生电路
CN104516391B (zh) 一种低功耗低温漂的cmos基准电压源
CN202889288U (zh) 基于cmos工艺实现的高精度片上时钟振荡器
CN107066003A (zh) 低功耗基准电压源
CN101470459A (zh) 低压低功耗的cmos电压基准参考电路
CN105278606A (zh) 一种亚阈值全cmos基准电压源
CN104124921A (zh) 基于电流模比较器的低压低功耗cmos张弛振荡器及方法
CN103218008A (zh) 具有自动调整输出电压的全cmos带隙电压基准电路
CN104111682A (zh) 低功耗、低温度系数基准源电路
CN205139757U (zh) 一种亚阈值全cmos基准电压源
CN102394565B (zh) 振荡电路及振荡系统
CN105974989A (zh) 一种基于亚阈值的低功耗全cmos基准源电路
CN105071801B (zh) 抗工艺、电压、温度变化的低功耗尾电流型环形振荡电路
CN101667049B (zh) 微功耗电压基准电路
Hu et al. A 26-ppm/oC, 13.2-ppm/V, 0.11%-inaccuracy picowatt voltage reference with PVT compensation and fast startup
CN102882471B (zh) 基于cmos工艺实现的高精度片上时钟振荡器
CN101237226A (zh) 一种振荡器
CN206696736U (zh) 一种全共栅共源基准电压源
Zhang et al. A near-zero-power temperature sensor with±0.24° C inaccuracy using only standard CMOS transistors for IoT applications

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20170908