CN104213197B - 一种用于pvt法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法,步骤如下:1)采用两温区PVT晶体生长炉,将原料、掺杂物进行工艺处理后混合一起放入原料区、衬底放入衬底位置;2)调置PVT晶体生长炉一温区、二温区温度,其温度范围根据原材料物理性能特点决定;3)待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺杂元素的单晶。有益效果是利于掺杂元素的均匀分布,使单晶材料实现均一的电学性能;减少了晶体结构损失,从而有效改善晶体质量;简化了单晶材料制备工艺,有利于单晶材料的规模化生产。
Description
技术领域
本发明涉及一种PVT法制备半导体单晶材料的掺杂方法,特别涉及一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法。
背景技术
物理气相传输法(PVT法)制备半导体单晶材料的工艺过程是一个升华凝华过程,也是热量、质量和动力的输运过程,通过调节单晶炉温场分布、生长气压、载气流量等参数,降低内部缺陷和杂质元素,最终制备出高质量的半导体单晶材料。
一般情况下,本征的半导体材料电学性能无法满足器件使用要求,为了调节、控制半导体的电学性质,在半导体单晶材料的PVT法制备工艺完成以后,常常通过扩散或离子注入工艺,将特定元素掺入半导体材料体内,得到所需的电学性能的半导体单晶材料,其中采用扩散工艺制备的半导体材料,扩散浓度随深度变化明显,其电学均匀性不好,对工艺的控制精度要求较高,而离子注入工艺设备昂贵而复杂,注入过程中由于入射离子的碰撞易导致晶体结构的损伤,因此必须增加退火工艺进行晶体结构修复。
总之,传统的PVT法制备半导体单晶材料,把半导体单晶材料的生长工艺和掺杂工艺分别独立实现,增加了工艺复杂性,同时,掺杂工艺存在掺杂均匀性差、易引起晶体结构损伤等问题。
发明内容
鉴于传统的掺杂技术带来的诸多问题,本发明提出一种PVT法单晶生长原位掺杂方法,即在PVT法晶体生长过程中,同时加入特殊物质的气氛,特殊物质为需要掺杂的物质的单质元素或化合物,使掺杂元素伴随晶体生长的过程进入到晶体内部格点位置,保证了掺杂均匀性和晶体结构完整性,从而实现理想掺杂效果,具体技术方案是,一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法,采用两温区PVT晶体生长炉,步骤如下:1)、将原料、掺杂物进行工艺处理后混合一起放入两温区PVT晶体生长炉原料区、衬底放入炉内衬底位置;2)、调置PVT晶体生长炉一温区、二温区温度,其温度范围根据原材料物理性能特点决定;3)、待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺杂元素的单晶。
本发明的有益效果是利于掺杂元素的均匀分布,使单晶材料实现均一的电学性能;减少了晶体结构损失,从而有效改善晶体质量;简化了单晶材料制备工艺,有利于单晶材料的规模化生产。
附图说明
图1是本发明的流程图。
图2是传统PVT法制备半导体单晶材料掺杂工艺的流程图。
图3是本发明生长温度梯度的温度曲线。
具体实施方式
如图1、2、3所示,两温区PVT晶体生长炉,炉中分为原料区1 、传输区2、生长区3、生长管4、衬底5、T(L)为原料区温度、T(0)为生长区温度。
实例1
PVT法制备掺铟元素的N型低阻硫化镉单晶。
硫化镉单晶生长采用两温区PVT晶体生长炉,从原料端到衬底端的温区分别为一温区、二温区,以石英单晶材料为衬底,以铟单质为掺杂源,铟单质以粉末态与硫化镉源粉混合放置于原料区1,晶体生长中的温区设置为1000℃、960℃,待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺铟元素的N型低阻硫化镉单晶。
实例2
PVT法制备掺氯元素的N型低阻硫化镉单晶。
硫化镉单晶生长采用两温区PVT晶体生长炉,从原料端到衬底端的温区分别为一温区、二温区,以石英单晶材料为衬底,以氯化镉为掺杂源,氯化镉以粉末态与硫化镉源粉混合放置于原料区1,晶体生长中的温区设置为1010℃、980℃,待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺氯元素的N型低阻硫化镉单晶。
实例3
PVT法制备掺铝元素的N型低阻硒化镉单晶。
硒化镉单晶生长采用两温区PVT晶体生长炉,从原料端到衬底端的温区分别为一温区、二温区,以石英单晶材料为衬底,以铝单质为掺杂源,铝单质以粉末态与硒化镉源粉混合放置于原料区1,晶体生长中的温区设置为950℃、900℃,待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺铝元素的N型低阻硒化镉单晶。
Claims (1)
1.一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法,采用两温区PVT晶体生长炉,步骤如下:
1)、将原料、掺杂物进行工艺处理后混合一起放入两温区PVT晶体生长炉原料区(1)、衬底放入炉内衬底(5)位置;
2)、调置PVT晶体生长炉一温区、二温区温度,其温度范围根据原材料物理性能特点决定,即在PVT法晶体生长过程中,同时加入特殊物质的气氛,特殊物质为需要掺杂的物质的单质元素或化合物,使掺杂元素伴随晶体生长的过程进入到晶体内部格点位置,保证了掺杂均匀性和晶体结构完整性,从而实现理想掺杂效果;
3)、待生长工艺结束后取出生长管(4),即可得到掺杂元素的单晶;
PVT法制备掺氯元素的N型低阻硫化镉单晶,硫化镉单晶生长采用两温区PVT晶体生长炉,从原料端到衬底端的温区分别为一温区、二温区,以石英单晶材料为衬底,以氯化镉为掺杂源,氯化镉以粉末态与硫化镉源粉混合放置于原料区(1),晶体生长中的温区设置为1010℃、980℃,待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺氯元素的N型低阻硫化镉单晶;
PVT法制备掺铝元素的N型低阻硒化镉单晶,硒化镉单晶生长采用两温区PVT晶体生长炉,从原料端到衬底端的温区分别为一温区、二温区,以石英单晶材料为衬底,以铝单质为掺杂源,铝单质以粉末态与硒化镉源粉混合放置于原料区(1),晶体生长中的温区设置为950℃、900℃,待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺铝元素的N型低阻硒化镉单晶。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410492738.4A CN104213197B (zh) | 2014-09-24 | 2014-09-24 | 一种用于pvt法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410492738.4A CN104213197B (zh) | 2014-09-24 | 2014-09-24 | 一种用于pvt法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN104213197A CN104213197A (zh) | 2014-12-17 |
CN104213197B true CN104213197B (zh) | 2017-06-16 |
Family
ID=52095090
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201410492738.4A Active CN104213197B (zh) | 2014-09-24 | 2014-09-24 | 一种用于pvt法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN104213197B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104962997B (zh) * | 2015-07-15 | 2017-10-24 | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 | 一种用于获得低阻CdS晶片的退火工艺 |
Citations (1)
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---|---|---|---|---|
CN103668444A (zh) * | 2012-09-24 | 2014-03-26 | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 | CdS单晶生长方法及装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7608524B2 (en) * | 2005-04-19 | 2009-10-27 | Ii-Vi Incorporated | Method of and system for forming SiC crystals having spatially uniform doping impurities |
CN101979723B (zh) * | 2010-11-23 | 2012-07-04 | 东华大学 | 一种p型CdS纳米线的制备方法 |
CN102517007A (zh) * | 2011-11-08 | 2012-06-27 | 浙江天旭科技有限公司 | 一种CdS/Cr掺杂结构纳米发光材料的制备方法 |
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2014
- 2014-09-24 CN CN201410492738.4A patent/CN104213197B/zh active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103668444A (zh) * | 2012-09-24 | 2014-03-26 | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 | CdS单晶生长方法及装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN104213197A (zh) | 2014-12-17 |
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