CN104198859A - 一种电子产品的温升监测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电子产品的温升监测装置,用于监测电子产品在工作时的温度变化,包括:控温试验箱、温度传感器、工作电源、无线信号放大器以及计算机;其中,控温试验箱的内部放置电子产品,用于提供可调节的模拟工作环境温度;工作电源连接电子产品,用于为电子产品提供电源;温度传感器设置有吸盘,吸附于电子产品上,用于监测电子产品的工作温度,并生成温度信号发送至无线信号放大器;无线信号放大器连接控温试验箱,其天线穿入控温试验箱,用于接收温度信号并发送至计算机;计算机连接控温试验箱,用于采集控温试验箱的模拟工作环境温度,并根据温度信号以及模拟工作环境温度生成电子产品的温升结果。
Description
技术领域
本发明涉及电子类产品试验测试领域,尤指一种电子产品的温升监测装置。
背景技术
目前,温升试验是一些电工电子类产品试验项目之一,它主要是将试验样品置于控温试验箱内,在一定的环境温度下,监测样品的表面温度,考察样品表面温度上升值是否满足技术规范的要求。例如:对电能表检测时,电压线路通以1.15倍参比电压,电流线路通以1.2倍最大电流,环境温度为40℃,试验时间为2小时,任何一点的温升不应超过25℃。
现今的温升试验中,一般操作方式是用胶水将热电偶粘贴在试验样品表面,与数据采集单元设备配合,以达到监测温度值的目的,通过有线传输方式,经过控温试验箱的走线孔,将数据传送到计算机RS232串口上,再通过人工读数判别温升值是否合格。
上述方法的缺点是,1、当样品较多时,用胶水将热电偶粘贴在样品表面会花大量时间,并且可能会污损试验样品;2、通过有线的方式将热电偶数据传输到计算机上,会占用控温试验箱的箱体走线孔较大的空间,影响温箱内温度的稳定,增加箱体的能耗。
发明内容
现有电子产品的温升试验工序上需要花费大量时间,污损试验样品,效率低,能耗高,为克服上述问题,本发明提出了一种电子产品的温升监测装置。
为达到上述目的,本发明提出了一种电子产品的温升监测装置,用于监测所述电子产品在工作时的温度变化,包括:控温试验箱、温度传感器、工作电源、无线信号放大器以及计算机;其中,所述控温试验箱的内部放置所述电子产品,用于提供可调节的模拟工作环境温度;所述工作电源连接所述电子产品,用于为所述电子产品提供电源;所述温度传感器设置有吸盘,吸附于所述电子产品上,用于监测所述电子产品的工作温度,并生成温度信号发送至所述无线信号放大器;所述无线信号放大器连接所述控温试验箱,其天线穿入所述控温试验箱,用于接收所述温度信号并发送至所述计算机;所述计算机连接所述控温试验箱,用于采集所述控温试验箱的模拟工作环境温度,并根据所述温度信号以及模拟工作环境温度生成所述电子产品的温升结果。
本发明提出的电子产品的温升监测装置结合实验室环境等特征,加入了具备无线传输功能且可吸附的温度传感器,并围绕着试验样品温度信息的采集、无线传输和数据判断实现了试验样品温升是否合格的判别,从而节省了温升试验工序上需要花费的时间,不污损试验样品,提高了试验效率,降低了能耗。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本申请的一部分,并不构成对本发明的限定。在附图中:
图1为本发明一实施例的电子产品的温升监测装置结构示意图。
具体实施方式
以下配合图式及本发明的较佳实施例,进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段。
图1为本发明一实施例的电子产品的温升监测装置结构示意图。该装置用于监测电子产品1在工作时的温度变化,如图1所示,包括:控温试验箱2、温度传感器3、工作电源4、无线信号放大器5以及计算机6;其中,
控温试验箱2的内部放置电子产品1,用于提供可调节的模拟工作环境温度;该温度可以根据电子产品1的实际工作环境进行调节,通过以太网或者USB连接方式将温度数据传输给计算机6。
温度传感器3设置有吸盘,吸附于电子产品1上,用于监测电子产品1的工作温度,并生成温度信号发送至无线信号放大器5;
工作电源4连接电子产品,用于为电子产品1提供电源;
无线信号放大器5连接控温试验箱2,其天线穿入控温试验箱2,用于接收温度信号并发送至计算机6;
计算机6连接控温试验箱2,用于采集控温试验箱2的模拟工作环境温度,并根据温度信号及模拟工作环境温度生成电子产品1的温升结果。
在本实施例中,计算机6还包括:无线接收机7,用于接收无线信号放大器5发送的温度信号,并通过USB数据接口将数据传输给计算机6。
在本实施例中,温度传感器3设置的吸盘由丁腈橡胶制成,具有吸附功能,可固定在试验样品1的表面。
另外,温度传感器3具有自动采集温度值功能,采用DS18B20作为电路中的温度传感元件,其输出信号全数字化便于处理,且在(0~100)℃时,误差小于1℃。
温度传感器3还具有无线发射功能,采用晶体稳频振荡电路发送信号至无线信号放大器5的天线。
在本实施例中,无线信号放大器5设置有磁铁,具有吸附功能,可吸附在控温试验箱2的箱体表面。
无线信号放大器5可同时接收多个温度传感器3发送的温度信号,并将其放大,发送到无线接收机7。
相应的,无线接收机7可以同时接收多个温度信号,通过USB数据接口将温度信号传输给计算机6。
为了对上述电子产品的温升监测装置进行更为清楚的解释,下面结合一个具体的实施例来进行说明,然而值得注意的是该实施例仅是为了更好地说明本发明,并不构成对本发明不当的限定。
步骤1、首先,将多个温度传感器吸附到一电能表样品的表面,吸附好后将电能表样品放入控温试验箱中。
步骤2、将工作电源的引线穿入控温试验箱,并接入电能表样品(电源不开启)。
步骤3、将无线信号放大器吸附到控温试验箱上,天线穿入控温试验箱内。
步骤4、关闭箱门,按照试验要求,设置电能表样品的模拟工作环境温度,开启工作电源,使电能表样品处于工作状态。
步骤5、温度传感器将采样到的温度值通过无线传输方式发送到无线信号放大器,无线信号放大器经处理放大后,发送到无线接收机,由计算机获取该些温度数据。
步骤6、计算机根据电能表样品的温度以及模拟工作环境温度计算获得电能表样品的温升值,并根据预设的温升合格范围判断温升值是否符合要求。
在执行步骤4至步骤6时,在关闭箱门后,可按照试验要求,设置电能表样品的模拟工作环境温度40℃,开启工作电源,使电能表样品处于工作状态。当试验箱内温度上升到40℃时,温度传感器将采样到的温度值通过无线传输方式发送到无线信号放大器,无线信号放大器经处理放大后,发送到无线接收机,由计算机获取样品表面的温度数据,并且持续获取2小时数据。2小时后,若温升值(温升值指的是样品表面的温度值与箱内实际温度值之差)不超过25℃为合格,反之为不合格。
本发明提出的电子产品的温升监测装置结合实验室环境等特征,加入了具备无线传输功能且可吸附的温度传感器,并围绕着试验样品温度信息的采集、无线传输和数据判断实现了试验样品温升是否合格的判别,从而节省了温升试验工序上需要花费的时间,不污损试验样品,提高了试验效率,降低了能耗。
以上所述的具体实施例,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施例而已,并不用于限定本发明的保护范围,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种电子产品的温升监测装置,用于监测所述电子产品在工作时的温度变化,其特征在于,包括:控温试验箱、温度传感器、工作电源、无线信号放大器以及计算机;其中,
所述控温试验箱的内部放置所述电子产品,用于提供可调节的模拟工作环境温度;
所述工作电源连接所述电子产品,用于为所述电子产品提供电源;
所述温度传感器设置有吸盘,吸附于所述电子产品上,用于监测所述电子产品的工作温度,并生成温度信号发送至所述无线信号放大器;
所述无线信号放大器连接所述控温试验箱,其天线穿入所述控温试验箱,用于接收所述温度信号并发送至所述计算机;
所述计算机连接所述控温试验箱,用于采集所述控温试验箱的模拟工作环境温度,并根据所述温度信号以及模拟工作环境温度生成所述电子产品的温升结果。
2.根据权利要求1所述的电子产品的温升监测装置,其特征在于,所述计算机还包括:无线接收机,用于接收所述无线信号放大器发送的温度信号,并传输至所述计算机。
3.根据权利要求1所述的电子产品的温升监测装置,其特征在于,所述温度传感器设置的吸盘由丁腈橡胶制成,用于固定吸附在所述电子产品的表面。
4.根据权利要求1所述的电子产品的温升监测装置,其特征在于,所述温度传感器采用温度传感元件DS18B20采集温度,并利用晶体稳频振荡电路将温度信号通过无线传输发送至所述无线信号放大器的天线。
5.根据权利要求1所述的电子产品的温升监测装置,其特征在于,所述无线信号放大器上设置有磁铁,用于吸附在所述控温试验箱的箱体表面。
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