CN104034418B - 分光测定装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及分光测定装置。该分光测定装置具备：波长可变干涉滤波器（5），可以变更选择的光的波长，使来自测定对象物X的光分光；摄像部（摄像元件（32）以及光量取得部（63）），分别接收由波长可变干涉滤波器5分光为多个波长的光而取得多个分光图像；位置偏移量检测部（位置对准点选择部（742）以及补正量检测部（743）），从由摄像部取得的多个分光图像中选择基准图像，在该基准图像与基准图像以外的至少一个分光图像之间，检测接收到来自测定对象物X的规定位置的光的像素位置的位置偏移量；以及位置补正部（744），根据检测出的位置偏移量，进行基准图像以外的分光图像的位置对准。

Description

分光测定装置
相关申请的交叉参考
本申请基于并要求于日本申请2013年3月7日提交的日本专利申请第2013-045072号的优先权权益，并且其全部内容结合于此作为参考。
技术领域
本发明涉及分光测定装置。
背景技术
现有技术中，已知有测定显示于图像显示装置的图像或印刷物等图像，算出该图像的所期望的位置的光谱数据的技术。
例如，已知有一种由多波段摄影机拍摄测定对象而取得包括与多个波段各自对应的图像的光谱图像，使用多波段图像的各波段图像算出由用户选择的位置的光谱数据并显示的图像显示装置（专利文献1）。
然而，在专利文献1这种现有技术中，在取得多个波段图像即与多个波长各自对应的分光图像时，多波段摄影机的位置可能偏离拍摄的对象（测定对象）。即，为了以多个波长取得分光图像，在测定时需要时间，其间由于手摆动等，有时多波段摄影机的位置偏离。这样，如果多波段摄影机的位置偏离，则有可能在一个像素位置上接收来自于测定对象的不同位置的测定对象光，在各分光像素间像素位置偏离，不能够高精度地取得测定对象的光谱数据。
在先技术文献
专利文献
专利文献1：日本专利特开2005-114531号公报
发明内容
本发明的目的在于提供一种在取得多个分光图像时，即使在分光测定装置与测定对象的相对位置上产生偏离，也能够抑制该偏离的影响的分光测定装置。
本发明的分光测定装置，其特征在于，具备：分光元件，可以变更所选择的光的波长，使来自对象物的光分光；摄像部，分别接收由所述分光元件分光为多个波长的光而取得多个分光图像；位置偏移量检测部，从由所述摄像部取得的所述多个分光图像中选择基准图像，在所述基准图像与所述基准图像以外的至少一个所述分光图像之间，检测接收到来自所述对象物的规定位置的光的像素位置的位置偏移量；以及位置对准部，根据由所述位置偏移量检测部检测出的所述位置偏移量，进行所述基准图像以外的所述分光图像的位置对准。
在此，所谓位置对准包括以使在分光图像间对应的位置即接收了来自测定对象的规定位置的测定对象光的像素位置一致的方式，算出该对应的像素位置的位置偏移量，以及使用算出的位置偏移量来补正一个分光图像的各像素的坐标。
在本发明中，由位置偏移量检测部检测分光图像间的像素位置的位置偏移量，由位置对准部进行分光图像间的位置对准。由此，在取得多个分光图像时，即使由于测定对象与分光测定装置的位置关系变化而在分光图像间产生像素位置的位置偏移，通过进行分光图像间的位置对准，也能够抑制该位置偏移的影响，能够实现例如高精度的测色和高精度的多波段图像的取得。
在本发明的分光测定装置中优选，所述位置偏移量检测部具备：位置对准点选择部，根据所述分光图像的各像素的受光强度，选择接收了来自所述规定位置的光的像素位置作为位置对准点；以及位置偏移量测定部，测定所述基准图像中的所述位置对准点与所述基准图像以外的所述分光图像中的所述位置对准点的位置偏移量。
在本发明中，位置对准点选择部根据分光图像的受光强度选择位置对准点。然后，位置偏移量测定部检测各分光图像间的所述位置对准点的位置偏移量。由此，各分光图像中的位置对准点和其位置偏移量被检测，因而例如通过使其他分光图像的位置对准点与一个分光图像的位置对准点对准，能够使各分光图像的像素位置对准。
另外，由于根据取得的分光图像的受光强度而检测位置对准点和位置偏移量，因而不必设置例如检测位置偏移量的传感器等部件，可以实现结构的简化。
在本发明的分光测定装置中优选，所述位置对准点选择部选择在各分光图像中所述受光强度最大的像素作为所述位置对准点。
在本发明中，选择受光强度最大的像素作为位置对准点。在此，受光强度为最大的点是辉点的可能性高，这种辉点在多个波长中光量同样地变大。因此，通过将受光强度为最大的点作为位置对准点，能够在较大的波长范围内选择相同的位置对准点，能够提高位置对准精度。
在本发明的分光测定装置中优选，所述位置对准点选择部选择在各分光图像中所述受光强度为规定的第一阈值以上的像素作为所述位置对准点。
在本发明中，通过选择受光强度为规定的第一阈值以上的像素作为所述位置对准点，能够设定多个位置对准点。在具有多个辉点时，由于波长不同，有时光量为最大的辉点不同。对此，通过将阈值以上的多个点作为位置对准点，可以实现位置对准精度的进一步提高。
在本发明的分光测定装置中优选，所述位置对准点选择部选择在各分光图像中受光强度差最大的两个像素中的至少一个像素作为所述位置对准点。
在本发明中，将在各分光图像中受光强度差最大的两个像素中的至少一个像素设定为位置对准点。在此，作为像素间，既可以是邻接的像素间，也可以是成为例如1个～2个像素间隔的像素间。这种受光强度差为最大的像素间成为受光强度的变化率大的像素间，即，成为分光图像的边缘部（轮廓部）。这种边缘部无论分光图像的波长如何，出现于相同位置的可能性高，通过对边缘部进行位置对准，能够高精度地进行分光图像间的位置对准。
在本发明的分光测定装置中优选，所述位置对准点选择部在将沿一个方向连续的像素作为第一像素、第二像素以及第三像素时，算出所述第一像素和所述第二像素的受光强度差与所述第二像素和所述第三像素的受光强度差的差值作为所述第二像素的邻接强度差，提取在各分光图像中沿所述一个方向排列的像素中的、所述邻接强度差为最小的像素，并选择这些像素中的、所述受光强度为最大的像素作为所述位置对准点。
在本发明中，将在分光图像中的一个方向（例如行方向或者列方向）上，邻接强度差为最小的多个像素中的、受光强度最大的像素作为所述位置对准点。这种邻接强度差为最小的像素成为光量值大的边缘部（轮廓线）的可能性高，该边缘部中的受光强度最大的像素进一步是边缘部上的像素的可能性高。因此，这种像素无论波长如何，成为光量高的点的可能性高，通过选择为位置对准点，能够进行更高精度的位置对准。
在本发明的分光测定装置中优选，所述位置对准点选择部选择多个所述位置对准点，所述位置对准部以位置对准后的多个对应的所述位置对准点间的距离的总和为最小的方式而进行位置对准。
在本发明中，使用多个位置对准点进行分光图像间的位置对准时，以位置对准之后，对应的各位置对准点间的距离的总和为最小的方式而进行分光图像间的位置对准。
在测定对象与分光测定装置的位置关系的变化为倾斜的变化和距离的变化等各种各样的变化被组合时，所有的位置对准点不一定仅仅通过二维移动（平行移动或旋转移动）而一致。因此，通过以各位置对准点间的距离的总和为最小的方式进行分光图像间的位置对准，能够仅仅通过基于平行移动以及旋转移动的位置对准，高效地进行最适的位置对准。
在本发明的分光测定装置中优选，具备检测所述分光图像内的指定位置的指定位置检测部，所述位置对准部对包括所述分光图像的所述指定位置的规定区域中所包含的所述位置对准点进行位置对准。
在本发明中，仅仅对例如算出测色结果时的测定对象的区域这一规定区域中所包含的位置对准点，即规定区域进行位置对准。例如位置偏移伴随有相对于测定对象倾斜的变化时，有时难以进行整个图像的位置对准。在本发明中，通过限制于规定区域而进行位置对准，能够在规定区域进行高精度的位置对准。
在本发明的分光测定装置中优选，所述位置偏移量检测部在规定的波长范围内的所述分光图像间检测所述位置偏移量，所述位置对准部在所述规定的波长范围内的所述分光图像间进行位置对准。
在波长差异大的分光图像间，有时难以共同地检测受光强度高的部分。对此，在本发明中，检测规定波长区域内的分光图像间的像素位置的位置偏移量，进行位置对准。在此，本发明中所述的规定波长区域是指例如波长差为50nm以内的分光图像等，是指进行比较接近的波长的分光图像彼此之间的位置对准。
这样，在波长接近的分光图像彼此之间，共同检测受光强度高的像素的可能性增高，能够使位置对准精度提高。
尤其是，通过在测定波长中的最接近的波长的分光图像间进行位置对准，能够实现位置对准精度的进一步提高。
在本发明的分光测定装置中优选，所述位置对准部进行所述位置偏移量超过规定量的所述分光图像的位置对准。
在此，规定量是指根据例如测定精度、测定对象、分光测定装置的规格等而适当设定的值。
在本发明中，通过在位置偏移量超过规定量的分光图像进行位置对准，能够对于无需进行位置对准的图像不进行位置对准。由此，能够减少位置对准的处理量，因而能够降低分光测定装置的处理负荷，能够缩短处理时间。
在本发明的分光测定装置中优选，具备：显示部，显示图像；显示控制部，使将由所述摄像部取得的至少3个波长的分光图像合成后的参照图像显示于所述显示部；以及指定位置检测部，检测显示于所述显示部的所述参照图像中的由用户的输入操作指定的指定位置，所述摄像部取得包括所述指定位置的区域中的与多个波长各自对应的分光图像，所述位置偏移量检测部将所述参照图像生成用的分光图像以及所述参照图像中的至少任一个图像作为所述基准图像，检测所述基准图像与所述分光图像的所述位置偏移量，所述位置对准部根据检测出的所述位置偏移量，进行所述分光图像的位置对准。
在本发明中，在用户指定测定的指定位置时，取得至少3个波长的参照图像生成用的分光图像，通过显示控制部使将这些参照图像生成用的各分光图像合成后的参照图像显示于显示部。然后，通过指定位置检测部检测到对应于用户的输入操作的指定位置，取得多个波长的各分光图像。
由此，通过将与作为参照图像生成用而取得的至少3个波长各自对应的各分光图像合成，能够使与测定对象同等或类似的参照图像显示于显示部。然后，用户一边参照显示于显示部的参照图像一边选择，因而能够恰当且容易地选择测定对象中的所期望的位置作为指定位置。
另外，由于通常在指定指定位置时，用户进行操作，因而产生分光测定装置的位置偏移的可能性高。
在本发明中，由于检测选择指定位置之后取得的分光图像相对于选择指定位置时被显示的参照图像的位置偏移量，根据该位置偏移量而进行位置对准，因而能够高精度且高效率地进行位置对准。
在本发明的分光测定装置中优选，所述显示控制部使将3个所述参照图像生成用的分光图像合成后的所述参照图像显示于所述显示部。
在本发明中，为了生成参照图像，使将3个分光图像合成后的参照图像显示于显示部。从对应于例如R、G、B各色的波长区域分别选择一个波长，取得选择的3个波长的分光图像，将这些分光图像合成而能够生成与测定对象同等或类似的图像。
另外，通过将3个波长的分光图像作为参照图像，能够使参照图像的拍摄时间变短。例如，如果能够每秒拍摄50张参照图像，则用户能够一边移动分光测定装置一边实时显示参照图像，能够容易地查找测定位置。
在本发明的分光测定装置中优选，所述位置偏移量检测部取得多个所述分光图像以及由该分光图像合成的合成图像中的至少任意一个作为代表图像，检测所述基准图像与所述代表图像的位置偏移量，所述位置对准部根据检测出的所述位置偏移量，进行所述分光图像的位置对准。
在本发明中，检测代表图像与基准图像的位置偏移量，根据检测出的位置偏移量而进行分光图像的位置对准。由此，与为了进行位置对准而检测例如所有分光图像与基准图像的位置偏移量相比，能够减少位置偏移量的检测所需要的运算量，能够高效地进行位置对准。
在本发明的分光测定装置中优选，所述代表图像是与所述参照图像生成用的分光图像大致相同波长的所述分光图像。
在本发明中，根据与进行位置对准的参照图像生成用的分光图像相同波长、或者接近于参照图像生成用的分光图像的波长（例如相差10nm的波长等）的分光图像，检测位置偏移量并进行位置对准。这种分光图像由于是与参照图像生成用的分光图像实质上相同或类似的图像，因而能够进行高精度的位置对准。
在本发明的分光测定装置中优选，所述代表图像是将与至少3个所述参照图像生成用的分光图像大致相同波长的3个所述分光图像合成后的合成图像。
在本发明中，与上述发明同样，使用与进行位置对准的参照图像生成用的分光图像相同波长或接近于参照图像生成用的分光图像的波长的分光图像，检测将这些图像合成后的合成图像与参照图像的位置偏移量并进行位置对准。此时，合成图像和参照图像应该为相同图像，通过比较这些图像并进行位置对准，能够进行更高精度的位置对准。
在本发明的分光测定装置中优选，所述摄像部依次取得多个所述分光图像，所述代表图像是依次取得的所述分光图像中的最初取得的所述分光图像。
在本发明中，检测依次取得的分光图像中的最初取得的分光图像（以下，也称为第一分光图像）与基准图像的位置偏移量并进行位置对准。
如上所述，在指定指定位置时产生分光测定装置的位置偏移的可能性高。并且，通常，从取得参照图像生成用的分光图像到取得第一分光图像的时间比各分光图像间的取得间隔长。根据以上情况，第一分光图像与参照图像的位置偏移量比各分光图像间的位置偏移量大的可能性高。因此，能够抑制基准图像与第一分光图像之间的位置偏移量的影响，能够进行高精度的位置对准。
在本发明的分光测定装置中优选，所述摄像部在取得多个所述分光图像之后，取得与所述参照图像生成用的分光图像相同波长的比较用的分光图像，所述代表图像是所述比较用的分光图像。
在本发明中，在指定指定位置的前后，分别取得参照图像生成用的分光图像和比较用的分光图像，并使用这些图像进行位置对准。由此，能够进行与位置偏移产生的可能性高的指定位置的指定动作的前后的位置偏移量相对应的位置对准，能够进行高精度的位置对准。
在本发明的分光测定装置中优选，所述摄像部依次取得多个所述分光图像，所述位置偏移量检测部检测所述基准图像与依次取得的所述分光图像中的最初取得的所述分光图像的所述位置偏移量，以及所述分光图像与该分光图像的下一个取得的所述分光图像的所述位置偏移量，所述位置对准部进行所述基准图像与所述最初取得的分光图像的位置对准，对以后取得的所述分光图像，进行所述分光图像与该分光图像的下一个取得的所述分光图像的位置对准。
在本发明中，与上述发明同样，由于检测第一分光图像与基准图像的位置偏移量并进行位置对准，因而能够抑制基准图像与第一分光图像之间的位置偏移量的影响，能够进行高精度的位置对准。
并且，分光图像在与其下一个取得的分光图像之间进行位置对准。由此，能够减小进行位置对准的各分光图像间的位置偏移量，能够进行更高精度的位置对准。
尤其是，在以使测定波长增大或减少的方式变化时，进行位置对准的各分光图像间成为接近的波长的分光图像。因此，受光强度最大位置和边缘部等是共同的可能性高。能够使位置对准的精度更进一步提高。
在本发明的分光测定装置中优选，所述位置对准部根据所述位置偏移量算出对应于各分光图像中的所述指定位置的位置。
在本发明中，在进行位置对准时，根据检测出的位置偏移量，补正参照图像中的指定位置的坐标，算出分光图像中的指定位置的坐标。
由此，与例如根据位置偏移量，对分光图像的所有像素位置的坐标值进行位置对准的情况相比，由于可以只补正作为进行分光测定的对象的指定位置的坐标，因而能够减少位置对准中的运算量，能够实现处理负荷的降低。
在本发明的分光测定装置中优选，所述位置偏移量检测部具备检测相对于测定对象的位置的变化的位置变化检测单元，根据所述位置的变化，检测所述位置偏移量。
通过由检测相对于测定对象的位置变化的位置变化检测单元检测位置变化，能够根据检测结果进行更高精度的位置对准。
在本发明的分光测定装置中优选，所述位置变化检测单元是检测相对于测定对象的角度变化量的角度变化量检测单元。
在此，角度变化量检测单元只要可以检测受光元件的受光面相对于测定对象的角度变化即可。
如果分光测定装置相对于测定对象的角度变化，则变化后的分光图像与变化前的分光图像相比，有时成为缩小那样的图像。但是，在解析分光图像而检测分光图像间的位置偏移时，检测上述角度变化并不容易。
对此，在本发明中，通过使用角度变化量检测单元作为位置变化检测单元，能够检测相对于测定对象的角度变化量。由此，能够进行考虑了角度变化的位置对准，能够进行更高精度的位置对准。
尤其是，作为位置变化检测单元，只具备可以检测角度变化量的角度变化量检测单元，有关相对于测定对象平行的面方向的位置偏移，通过构成为进行使用了位置对准点的位置对准，能够以简易的构成实现高精度的位置对准，能够以低成本提供高性能的分光测定装置。
在本发明的分光测定装置中优选，具备由与多个波长各自对应的所述分光图像生成光谱数据的光谱生成部。
在本发明中，由于能够进行高精度的位置对准，因而能够提供高精度的光谱数据。
在本发明的分光测定装置中优选，所述分光元件是波长可变型的法布里-珀罗标准具。
在本发明中，作为分光滤波器，使用能够取出对应于设于第一基板的第一反射膜和设于第二基板的第二反射膜之间的间隙尺寸的波长的光的波长可变型的法布里-珀罗标准具。
由此，能够通过变更间隙尺寸而在短时间内取出多个波长的光，能够实现缩短测定所需要的时间。另外，法布里-珀罗标准具与使用例如AOTF（Acousto-Optic TunableFilter：声光可调滤波器）和LCTF（Liquid Crystal Tunable Filter：液晶可调滤波器）等的情况相比，可以小型化，能够实现分光测定装置的小型化。
附图说明
图1是本发明的第一实施方式所涉及的测色系统的简要结构的框图。
图2是表示测定装置的简要结构的截面图。
图3是表示波长可变干涉滤波器的简要结构的截面图。
图4是表示所述测色系统的处理的流程图。
图5中的（A）和（B）是说明受光强度与位置对准点的关系的图。
图6中的（A）和（B）是说明受光强度与位置对准点的关系的曲线图。
图7中的（A）和（B）是说明分光图像间的位置偏移的图。
图8是指定位置的选择操作的示意图。
图9是所述实施方式中的测色区域的示意图。
图10是表示本发明的第二实施方式所涉及的测色系统的处理的流程图。
图11是表示本发明的第八实施方式所涉及的测色系统的简要结构的框图。
图12是表示所述实施方式的测色系统的处理的流程图。
图13是说明受光强度与位置对准点的关系的表。
图14中的（A）和（B）是说明受光强度与位置对准点的关系的曲线图。
具体实施方式
第一实施方式
以下，参照附图说明本发明所涉及的分光测定装置的第一实施方式。
测色系统的结构
图1是本发明的分光测定装置的第一实施方式所涉及的测色系统1的简要结构的框图。
测色系统1具备测定装置2和终端装置7，这些装置构成为可相互通信，相当于本发明的分光测定装置。
该测色系统1测定来自测定对象X的测定对象光（入射光）并输出测色结果。作为测定对象，可以是例如由印刷装置印刷于纸等介质上的图像、显示于液晶面板等显示器的图像，另外，也可以不限于图像，是物体的表面等。
测定装置的结构
图2是表示测定装置2的简要结构的截面图。
如图1以及图2所示，测定装置2具备：光传感器部3，拍摄来自测定对象X的测定对象光；电路基板6，设有用于控制测定装置2的各种硬件结构（例如CPU和存储器等集成电路）；光源21；通信部22；以及电池23，这些各部件容纳于外壳24。而且，该测定装置2拍摄测定对象X的像，取得分光图像。
在外壳24上形成有用于将测定对象光摄入光传感器部3的光入射口241，在光入射口241的周围设有从外壳24突出的筒状的遮光部25。该遮光部25是通过紧贴于测定对象X的表面而抑制测定对象光以外的外部光侵入光入射口241的遮光性的部件。此外，遮光部25由例如不会弹性变形的硬的部件形成。由此，容易将测定装置2固定于测定对象X。
光源21是LED等射出例如白色和紫色光的光源，设于外壳24的光入射口241的周围且由遮光部25包围的区域。该光源21向测定对象X射出光，测定装置2测定其反射光。
通信部22进行与终端装置7或其他外部装置的通信。通信部22构成为通过经由LAN等有线通信或Wi-Fi（注册商标）、蓝牙（注册商标）和红外线通信等各种无线通信可通信。
电池23是将电能供给测定装置2的电源，是构成为通过未图示的充电电路可充电的二次电池。此外，测定装置2构成为可连接于终端装置7等外部装置，也可以从该外部装置接受电能的供给。
光传感器部的结构
光传感器部3具备：光学滤波器器件4，构成为波长可变干涉滤波器5容纳于壳体40内部；远心光学系统31，将测定对象光导向波长可变干涉滤波器5；摄像元件32，接收透过波长可变干涉滤波器5的光；以及电压控制部33，使通过波长可变干涉滤波器5透过的光的波长可变。
这些光学滤波器器件4、远心光学系统31以及摄像元件32配置于两端开口的光学部件用壳体34的规定的位置。在光学部件用壳体34的电路基板6一侧的端部配置有摄像元件32，在相反一侧的端部配置有构成远心光学系统31的光学部件，该相反一侧的端部连接于形成在外壳24上的光入射口241。
波长可变干涉滤波器的结构
图3是表示波长可变干涉滤波器5的简要结构的截面图。
波长可变干涉滤波器5容纳于壳体40，壳体40的内部为密闭空间，维持为真空环境（或比大气压减压后的环境）。如图3所示，该波长可变干涉滤波器5具备作为本发明的第一基板的固定基板51和作为本发明的第二基板的可动基板52。通过利用由例如以硅氧烷为主成分的等离子体聚合膜等构成的接合膜53（第一接合膜531以及第二接合膜532）接合固定基板51的第一接合部513和可动基板52的第二接合部523，将这些固定基板51和可动基板52构成为一体。
此外，在以后说明时，将从固定基板51或可动基板52的基板厚度方向观察到的俯视观察，即从固定基板51、接合膜53以及可动基板52的层压方向观察到的波长可变干涉滤波器5的俯视观察称为滤波器俯视观察。
在滤波器俯视观察中，固定基板51的一边侧比可动基板52向外侧突出。该突出部分中的从可动基板52一侧观察波长可变干涉滤波器5时露出的面构成第一电装面514。
另外，在滤波器俯视观察中，可动基板52的边中的与第一电装面514相对的一边侧比固定基板51向外侧突出。该突出部分中的从固定基板51一侧观察波长可变干涉滤波器5时露出的面构成第二电装面524。
在固定基板51上形成有电极配置槽511以及反射膜设置部512。该固定基板51形成比可动基板52大的厚度尺寸，不存在由向固定电极561和可动电极562之间施加电压时的静电引力、或固定电极561的内部应力所引起的固定基板51的挠曲。
在滤波器俯视观察中，电极配置槽511形成为以波长可变干涉滤波器5的中心点O为中心的环状。反射膜设置部512在所述俯视观察中从电极配置槽511的中心部向可动基板52一侧突出形成。在此，电极配置槽511的槽底面成为配置有固定电极561的电极设置面511A。另外，反射膜设置部512的突出前端面成为反射膜设置面512A，设置有固定反射膜54。
另外，在固定基板51上设有从电极配置槽511向第一电装面514以及第二电装面524延伸的电极引出槽511B。
在电极配置槽511的电极设置面511A上设有固定电极561。该固定电极561设置于电极设置面511A中的、与后述的可动部512的可动电极562相对的区域。
而且，在固定电极51上设有从固定电极561的外周边缘通过环状的电极引出槽511B延伸至第一电装面514的固定引出电极563。该固定引出电极563的延伸前端部在第一电装面514上构成固定电极垫563P。
此外，在本实施方式中，虽然示出在电极设置面511A设置一个固定电极561的结构，但是，也可以采用例如设置有成为以平面中心点O为中心的同心圆的两个电极的结构（双重电极结构）等。
而且，固定基板51的与可动基板52相对的面中的、未形成电极配置槽511、反射膜设置部512以及电极引出槽511B的面构成第一接合部513。在该第一接合部513上设有第一接合膜531，通过该第一接合膜531与设在可动基板52上的第二接合膜532接合，如上所述，固定基板51和可动基板52被接合。
可动基板52具备在滤波器俯视观察中，以平面中心点O为中心的圆形的可动部521、设于可动部521的外侧并保持可动部521的保持部522、以及设于保持部522的外侧的基板外周部525。
可动部521形成比保持部522大的厚度尺寸。该可动部521在滤波器俯视观察中，形成至少比反射膜设置面512A的外周边缘的直径尺寸大的直径尺寸。而且，在该可动部521上设有可动电极562以及作为本发明的第二反射膜的可动反射膜55。
可动电极562间隔着电极间间隙G2与固定电极561相对，形成为与固定电极561同一形状的环状。另外，在可动基板52上具备从可动电极562的外周边缘向第二电装面524延伸的可动引出电极564。该可动引出电极564的延伸前端部在第二电装面524上构成可动电极垫564P。
可动反射膜55间隔着反射膜间间隙G1与固定反射膜54相对地设于可动部521的可动面521A的中心部上。
保持部522是包围可动部521的周围的隔膜，形成为比可动部521小的厚度尺寸。这种保持部522比可动部521容易挠曲，通过微小的静电引力就可以使可动部521向固定基板51一侧位移。
如上所述，基板外周部525在滤波器俯视观察中设于保持部522的外侧。该基板外周部525的与固定基板51相对的面具备与第一接合部513相对的第二接合部523。而且，在该第二接合部523上设有第二接合膜532，如上所述，通过使第二接合膜532接合于第一接合膜531，固定基板51和可动基板52被接合。
远心光学系统、摄像元件、电压控制部的结构
远心光学系统31是将入射光导向波长可变干涉滤波器5的光学系统，由多个透镜等光学部件构成。该远心光学系统31使入射光的主光线以平行于光轴且相对于波长可变干涉滤波器5的固定基板51正交的方式射出。
摄像元件32以位于远心光学系统31的焦点面的方式设于电路基板6。从测定对象X发出的测定对象光由远心光学系统31导光，在摄像元件32上成像。该摄像元件32具备排列为阵列状的多个检测元件（图示略）。这些检测元件由例如CCD（Charge Coupled Device：电荷耦合元件）元件或CMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor：互补金属氧化物半导体）等光电转换元件构成，生成对应于接收到的光的光量的电信号，输出至后述的光量取得部63。
电压控制部33根据后述的滤波器控制部62的控制，将对应于通过波长可变干涉滤波器5透过的光的波长（测定波长）的驱动电压施加于波长可变干涉滤波器5。
电路基板的结构
电路基板6具备用于控制测定装置2的各种控制部。具体而言，如图1所示，设有存储部61、滤波器控制部62、光量取得部63以及光源控制部64。设于该电路基板6上的各种控制部通过适当组合运算电路、存储器和各种电路等而构成。
存储部61存储有用于控制测定装置2的各种程序和各种数据。该数据是例如表示相对于施加于静电致动器56的驱动电压的透过光的波长的V-λ数据，和有关测定测定对象X时的测定波长的信息（测定开始波长、波长的变更间隔以及测定结束波长等）。另外，存储部61存储有，由光量取得部63取得的受光量与各检测元件的像素位置（坐标值）以及检测时的测定波长建立关联的分光图像。
滤波器控制部62根据存储于存储部61的V-λ数据，取得对应于测定波长的驱动电压的电压值（输入值），将取得的电压值输出到电压控制部33，使波长可变干涉滤波器5的间隙的间隔变化。
另外，滤波器控制部62根据存储于存储部61的各种数据，进行测定波长的变更定时的检测、测定波长的变更、对应于测定波长的变更的驱动电压的变更以及测定结束的判断等，根据该判断控制电压控制部33。
光量取得部63通过按照每一个摄像元件32的检测元件取得透过光的受光量而取得分光图像。像素位置与受光量建立对应的分光图像与检测时的测定波长建立关联并存储于存储部61。此外，摄像元件32以及光量取得部63相当于本发明的摄像部。
光源控制部64按照用户的指示，控制光源21的亮灯、灭灯。
终端装置的结构
如图1所示，终端装置7具备显示部71、输入部72、通信部73、控制终端装置7的控制部74。
显示部71是液晶显示器或有机EL显示器等各种显示装置。
输入部72将用户的操作指示输入至控制部74。作为输入部72，能够例示可检测用户在显示部71的表面上的操作的红外线方式、静电电容式、电磁感应式等各种方式的触摸屏和鼠标、键盘等各种输入装置等。
通信部73进行与测定装置2或其他外部装置的通信。通信部73构成为通过经由LAN等的有线通信或Wi-Fi（注册商标）、蓝牙（注册商标）、红外线通信等各种无线通信可通信。
控制部74具备用于控制终端装置7以及测色系统1的各种控制部，具体而言，如图1所示，具备显示控制部741、位置对准点选择部742、补正量检测部743、位置补正部744、指定位置检测部745以及光谱算出部746。该控制部74所具备的各种控制部通过适当组合运算电路、存储器和各种电路等而构成。
显示控制部741控制显示部71的显示内容。作为显示内容例示有将由测定装置2拍摄的分光图像合成后的参照图像。作为显示内容，除此之外，是例如用于操作测色系统1的操作画面、用于将测定装置2的动作状况以及测定结果通知给用户的通知图像等。
位置对准点选择部742根据分光图像的各像素的受光强度，选择在测定装置2取得的多个分光图像间进行位置对准时成为基准的位置对准点。在本实施方式中，将邻接的像素的受光强度差最大的像素的一方作为位置对准点。有关由位置对准点选择部742进行的位置对准点的选择方法，在后面详述。
补正量检测部743构成本发明中的位置偏移量测定部，根据由位置对准点选择部742选择的配置点，检测进行位置对准时的各分光图像的补正量。在本实施方式中，补正量检测部743检测以在多个测定波长的分光图像中测定波长最接近的分光图像间的位置对准点一致的方式进行补正时的补正量。有关由补正量检测部743进行补正量的检测，将在后面详述。
位置补正部744根据由补正量检测部743检测出的补正量，对各分光图像的像素位置进行补正。
指定位置检测部745指定通过用户的输入部72的操作指定的测定对象位置（指定位置）。具体而言，如果输入旨在选择从表示显示于显示部71的测定对象X的参照图像想要测色的位置、即指定位置的操作信号，则指定位置检测部745取得该指定位置的图像位置。
此外，在本实施方式中的指定位置，可以是包括指定的像素的坐标值的规定范围的区域。此时，既可以将以该坐标值为中心预先设定的像素范围内的区域作为指定位置，也可以将像素内预先分割为多个区域，包括指定的像素的坐标值的区域作为指定位置。
光谱算出部746由与通过测定装置2取得的多个测定对象波长各自对应的分光图像取得指定位置的各像素的光量值，算出作为其平均值的平均光量值。光谱算出部746使各测定对象波长的指定位置的平均光量值与测定波长相关联，生成测色结果，存储于未图示的存储部。
测色系统的动作
分光图像的取得
图4是表示测色系统1的动作的流程图。
如图4所示，为了由测色系统1进行分光测定处理，首先，滤波器控制部62将设定变量k初始化（k=1）（步骤S1）
然后，滤波器控制部62参照存储于存储部61的V-λ数据，读取对应于测定波长λk（1≤k≤n）的驱动电压Vk。然后，滤波器控制部62控制电压控制部33，将读取的驱动电压Vk施加于波长可变干涉滤波器5的静电致动器56（步骤S2）。此外，在以后的说明中，测定波长λk为λ1＞λ2＞…λi＞λi+1＞…λn-1＞λn的关系，λi+1-λi为例如10nm。
此外，在本实施方式中，虽然作为一例而示出依次取得为10nm间隔的测定波长λk的例子，但也可以使用预先设定的或者由用户适当设定的测定波长。在该情况下，也优选满足λ1＞λ2＞…λi＞λi+1＞…λn-1＞λn的关系。
如果通过步骤S1，驱动电压被施加于静电致动器56，则反射膜54、55间的间隙G1变更为对应于该驱动电压的尺寸。然后，测定波长λ1的光透过波长可变干涉滤波器5，由摄像元件32检测，由光量取得部63取得针对可摄像区域Ar1的测定用的分光图像Pk，受光量与像素位置和测定波长建立对应而存储于存储部61（步骤S3）。此外，虽然示出存储于存储部61的例子，但是也可以将取得的分光图像Pk依次发送至终端装置7，存储于设在终端装置7上的省略图示的存储器等存储单元。
另外，如果通过步骤S3取得分光图像Pk，则滤波器控制部62在变量k上加1（k=k+1）（步骤S4）。
接下来，滤波器控制部62判定是否k＞n（步骤S5）。也就是说，判断是否已经取得针对预先设定的所有测定波长λ1～λn的分光图像P1～Pn。
在步骤S5中，判定为k≤n，所有测定波长处的测定未结束时（判定为“否”时），返回步骤S2的处理。
另一方面，在步骤S5中，判定为k＞n，所有测定波长处的测定结束时（判定为“是”时），终端装置7进行取得的各分光图像Pk的位置对准处理。
位置对准点的选择
图5（A）是测定装置2拍摄的某一分光图像Pk的一部分区域的受光强度的示意图，图5（B）是表示行编号为4的各像素的受光强度、受光强度差、受光强度差的绝对值的图。图6（A）是表示图5所示的受光强度的曲线图，图6（B）是表示图5所示的邻接像素间的受光强度差的绝对值的曲线图。此外，在图5（A）中，作为一例，以0、2、4、6、8这5个等级表示6×6的36个像素的受光强度的值。
在位置对准处理中，位置对准点选择部742选择例如在各行方向上邻接像素间的受光强度差最大的像素作为位置对准点（步骤S6）。
在此，在本实施方式中，例如，如图5（B）所示，在将各像素（x，y）的受光强度设为S（x，y）时，行编号y1的各像素（x，y1）（其中，1≤x≤mmax）的受光强度差T（x，y1）为S（x，y1）-S（x-1，y1）。
然后，位置对准点选择部742对各行方向选出受光强度差的绝对值最大的像素。例如，对于行编号4选出列编号为3的像素（3，4）。位置对准点选择部742对各行同样地选出受光强度差为最大的像素，将这些选出的像素中的受光强度为最大的像素作为位置对准点Ck。
如此地选择有关各分光图像P1～Pn的位置对准点C1～Cn。
此外，在各行中的受光强度差为最大的像素具有多个时，既可以将受光强度最大的像素作为位置对准点，也可以将受光强度最小的像素作为位置对准点。
另外，虽然示出通过对行方向的扫描检测位置对准点Ck的例子，但也可以进行通过沿列方向扫描而检测位置对准点Ck的处理。并且，也可以进行通过对行方向和列方向两者扫描而检测位置对准点Ck的处理。例如，通过从在行方向上受光强度差最大的多个像素中，检测在列方向上观察受光强度差最大的像素作为位置对准点Ck，能够选出特征性的点。此外，该特征性的点是对应于本发明的测定对象的规定位置的点。
位置对准处理
接着，返回图4，补正量检测部743算出各分光图像Pk（k=2～n）的位置补正量ΔCk（k=2～n）（步骤S7）。
图7（A）是表示分光图像Pk-1的位置对准点Ck-1（Xk-1，Yk-1）的图，图7（B）是表示分光图像Pk的位置对准点Ck（Xk，Yk）的图。在图7中，一个格子表示一个像素。另外，图7（A）、图7（B）所示的各位置对准点Ck、Ck-1基本上是接收了来自测定对象X的同一点（测定对象的规定位置）的测定对象光的像素。
如图7所示，在取得分光图像Pk-1之后，到取得分光图像Pk为止的期间，如果由于手摆动等，测定装置2与测定对象X的相对的位置偏离，则如图7（B）所示，在各位置对准点Ck、Ck-1之间产生位置偏移。补正量检测部743将各位置对准点Ck、Ck-1之间的位置偏移量作为对分光图像Pk的位置补正量ΔCk。
具体而言，补正量检测部743通过下式（1）算出对分光图像Pk的位置补正量ΔCk。
ΔCk=（Xk-Xk-1，Yk-Yk-1）···（1）
然后，使用由补正量检测部743算出的位置补正量ΔCk，位置补正部744以分光图像Pk-1为基准进行分光图像Pk（k=2～n）的位置补正处理，取得补正图像P'k（k=2～n），存储于存储器等存储单元（步骤S8）。
指定位置的检测
接着，显示控制部741使用分光图像P1以及补正图像P'k生成参照图像，并显示于显示部71（步骤S9）。
具体而言，显示控制部741使用对应于R（例如610nm～760nm）、G（例如500nm～560nm）、B（例如435nm～480nm）的各色的各自的波长区域中预先设定的规定波长，即对应于R、G、B各色的3个规定波长（3波段）的补正图像P'k，生成3波段的参照图像，并显示于显示部71。
此外，不限于显示将3个补正图像合成后的参照图像，也可以合成分光图像P1以及补正图像P'k（k=2～n）的4个以上的图像。
图8是表示对测定对象X配置的测定装置2以及显示于终端装置7的显示部71的参照图像的例子的图。
在测定时，如图8所示，测定装置2配置于测定对象X的表面。然后，拍摄包含于光传感器部3的摄像元件32的摄像区域Ar1（由图8的虚线表示的区域）的图像，取得分光图像P1～Pn。如上所述，终端装置7根据取得的分光图像P1～Pn生成参照图像，在显示部71放大显示可摄像区域Ar1的图像。
用户一边参照显示的参照图像，一边进行用于指定想要取得光谱的位置（指定位置）的规定的操作。此外，该规定的操作只要是作为指定位置的指示由输入部72可检测的操作即可。
指定位置检测部745将检测包括通过输入部72的操作指定的操作位置的规定尺寸的区域（测色区域Ar2）作为指定位置（步骤S10）。
在此，图9示意性地示出本实施方式的指定位置的一例。如图9所示，拍摄到的分光图像预先分割例如10×10像素的像素区域，指定位置检测部745检测包括对应于通过输入操作指定的操作位置的像素p的像素区域作为测色区域Ar2。
此外，在由用户进行指定位置（测色区域Ar2）的指定时，如图8所示，也可以在显示部71显示表示指定位置的光标711。
测色结果的算出
然后，返回图4，光谱算出部746算出对应于检测到的指定位置的位置的光谱数据（步骤S11）。
具体而言，光谱算出部746检测包含于分光图像P1以及各补正图像P'k（k=2～n）的指定位置（测色区域Ar2）的像素，由检测到的像素的光量值算出指定位置的平均光量值。然后，将使算出的平均光量值与对应的测定波长相关联的光谱数据作为测色结果，存储于控制部74内的存储器等存储单元（图示略）。
此外，终端装置7既可以使算出的光谱数据显示于例如显示部71，也可以根据需要而将其输出至印刷装置或图像显示装置等外部装置。
第一实施方式的作用效果
在测色系统1中，通过检测分光图像间的像素位置的位置偏移，在分光图像间对位置进行补正，从而进行位置对准。此时，根据分光图像P1～Pn的受光强度选择作为进行位置对准时的比较点的位置对准点C1～Cn。然后，检测分光图像P1～Pn间的对应的位置对准点的位置偏移量，根据位置偏移量进行位置对准。由此，即使在测定中在与测定对象之间产生位置偏移，通过进行分光图像的位置对准，也能够抑制位置偏移的影响。
另外，由于根据分光图像的受光强度选择位置对准点，因而不需要设置检测位置偏移量的传感器等部件，或者另外测定位置偏移量的时间，能够以高速且简易的结构进行位置对准。
在测色系统1中，针对各行方向提取出邻接像素间的受光强度差为最大的像素，将这些提取出的像素中的受光强度为最大的像素作为位置对准点。这样，分光图像中受光强度差为最大的像素（受光强度的变化率大的像素）成为图像中的边缘部的可能性高，在各分光图像中成为相同位置的可能性高。因此，通过采用这种像素位置对准点，能够高精度地进行分光图像间的位置对准。
在测色系统1中，在测定波长最近的分光图像间进行位置对准。
在波长间隔近的分光图像间，受光强度高的位置成为共同位置的可能性高，另外，受光强度分布（光量分布）大致相同的可能性高。因此，在这种分光图像间，易于检测共同的位置对准点，能够提高位置对准的精度。
尤其是，在波长间隔最近的分光图像彼此之间，如上所述的位置对准点一致的可能性进一步增高，能够实现位置对准精度的进一步提高。
在测色系统1中，如上所述，由于能够进行高精度的位置对准，因而能够提供高精度的光谱数据。
另外，在测色系统1中，使用波长可变型的法布里-珀罗标准具进行测定对象光的分光。由此，能够通过变更间隙尺寸而在短时间内取出多个波长的光，能够实现缩短测定所需要的时间。另外，法布里-珀罗标准具与使用例如AOTF或LCTF等的情况相比，可以小型化，能够实现分光测定装置的小型化。
在测色系统1中，指定位置是包含多个像素的测色区域Ar2，将指定区域的平均光量值作为指定位置的光量值而输出测色结果。
由此，能够将测色区域Ar2中的测定对象X的点（像素）间的颜色偏差，以及摄像元件32在各像素间的受光强度的偏差平均化，能够提高S/N。
此外，在上述实施方式中，作为位置对准处理，使用位置补正量ΔCk，将分光图像Pk-1作为基准图像而进行分光图像Pk（k=2～n）的位置补正处理，但不限于此。
例如，也可以将分光图像P1作为基准图像，进行分光图像Pk（k=2～n）的位置补正处理而取得补正图像P'k（k=2～n）。此时，补正图像P'k（k=2～n）的各像素的坐标通过下式（2）算出。
第二实施方式
接下来，说明本发明所涉及的第二实施方式。
在上述第一实施方式中，例示出在各分光图像彼此之间检测到共同的位置对准点时，可以进行恰当的分光图像的位置对准的结构以及方法。然而，各分光图像由于各自受光强度（光量分布）不同，因而有时难以检测共同的位置对准点。与此相对，在第二实施方式中，在分光图像中，不能够检测共同的位置对准点时，重新设定恰当的位置对准点，在这一点上与上述第一实施方式不同。
在本实施方式中，在步骤S6中，通过以下的处理选择位置对准点。
即，位置对准点选择部742判定对分光图像Pk检测到的位置对准点Ck是否是以在分光图像Pk-1中选择的位置对准点Ck-1的像素位置（xk-1，yk-1）为中心的规定的像素区域内（例如（xk-1-50，yk-1-50）×（xk-1+50，yk-1+50）的矩形区域内）的像素。
在此，在检测到的位置对准点Ck位于以检测分光图像Pk-1的位置对准点Ck-1为中心的像素区域内时，作为分光图像Pk-1以及分光图像Pk的位置对准中的位置对准点，选择Ck-1，Ck（与第一实施方式相同）。
反之，在检测到的位置对准点Ck不在以分光图像Pk-1的位置对准点Ck-1为中心的像素区域内时，位置对准点选择部742选择分光图像Pk-1中以位置对准点Ck的像素位置（xk，yk）为中心的像素区域（例如（xk-50，yk-50）×（xk+50，yk+50）的矩形区域内），在该区域内提取出第二位置对准点C'k-1。作为第二位置对准点C'k-1的选择方法，能够采用例如与上述第一实施方式同样的方法，对各行提取受光强度差为最大的像素，选择在提取得像素中受光强度为最大的像素。
此外，在本实施方式中，步骤S6的处理的另外的例子为以下的处理。
在分光图像Pk中，选择以对分光图像Pk-1选择的位置对准点Ck-1的像素位置（xk-1，yk-1）为中心的规定的像素区域（例如（xk-1-50，yk-1-50）×（xk-1+50，yk-1+50）的矩形区域内），在该区域内，提取出位置对准点Ck。在不能够提取时，在分光图像Pk的任意区域提取出位置对准点Ck，在分光图像Pk-1中，选择以位置对准点Ck为中心的规定的像素区域，在该区域内提取出第二位置对准点C'k-1。
第二实施方式的作用效果
在第二实施方式的测色系统中，判断在分光图像中，是否能够按照取得的顺序检测共同的位置对准点。在不能够检测共同的位置对准点时，以成为判断对象的分光图像中的以后取得的分光图像中检测到的位置对准点为基准，重新设定以前取得的分光图像的位置对准点。
由此，位置对准点不必在测定对象波长的整个区间上将同一点作为位置对准点，能够高效且可靠地进行位置对准。
第三实施方式
接下来，说明本发明所涉及的第三实施方式。
在上述第一实施方式中，示出对一个分光图像选择一个位置对准点的例子。与此相对，在第三实施方式中，对一个分光图像选择多个位置对准点，在这一点上与上述第一实施方式不同。
在本实施方式中，在步骤S6的位置对准点的选择中，选择例如对各行提取的受光强度差成为最大的像素分别作为位置对准点Ckj（j是位置对准点的标识符，例如对应于行编号）。
另外，在具有多个对各行提取的受光强度差为最大的像素时，也可以将符合这些多个像素的所有像素作为位置对准点Ckj（j是位置对准点的标识符，例如表示分光图像Pk的第j个位置对准点。）并且，也可以选择受光强度差为规定的阈值以上的像素作为位置对准点Ckj。
在如上所述的情况下，判定分光图像Pk的各位置对准点Ckj是否对应于对分光图像Pk-1检测到的位置对准点C(k-1)j。例如，判定在分光图像Pk-1上，以位置对准点Ckj为中心的规定像素区域（例如100×100dpi内），是否存在位置对准点C(k-1)j。
在此，不存在对应的位置对准点C(k-1)j时，不进行针对该位置对准点Ckj的位置对准。此外，如第二实施方式那样，也可以另行检索相对于位置对准点Ckj的位置对准点C(k-1)j。
然后，在步骤S7中，补正量检测部743将各位置对准点Ckj的坐标设为（Xkj，Ykj），将各位置对准点C(k-1)j的坐标设为（X(k-1)j，Y(k-1)j），通过下式（3），算出部分位置补正量ΔCkj。
ΔCkj=（Xkj-X(k-1)j，Ykj-Y(k-1)j）···（3）
也就是说，在本实施方式中，按照在分光图像Pk，Pk-1中对应的位置对准点的个数份，算出部分位置补正量ΔCkj。
此后，补正量检测部743在相对于分光图像Pk-1对分光图像Pk进行位置对准时，以位置对准后的各位置对准点Ckj，C(k-1)j的距离的总和为最小的方式，算出对分光图像Pk的全部补正量ΔCk。
例如，补正量检测部743例如如下式（4）所示，将部分位置补正量ΔCkj的平均值作为全部补正量ΔCk。
ΔCk=∑ΔCkj／j···（4）
第三实施方式的作用效果
在本实施方式中，对一个分光图像选择多个位置对准点，进行分光图像间的位置对准。由此，即使在测定装置2，在与测定对象X平行的面内产生伴有旋转的位置偏移，也能够进行对应于该位置偏移的位置对准，可以实现位置对准精度的进一步提高。
另外，在本实施方式中，以位置对准后的多个对应的位置对准点间的距离的总和为最小的方式进行位置对准。
通常，在测定对象X与测定装置2的位置关系的变化为倾斜的变化和距离的变化等各种各样的变化进行组合时，所有的位置对准点不一定仅仅通过二维移动（平行移动或旋转移动）而一致。
因此，通过以位置对准后的多个各位置对准点间的距离的总和为最小的方式进行分光图像间的位置对准，能够仅仅通过基于平行移动以及旋转移动的位置对准，高效地进行最适的位置偏移的补正。
此外，在如本实施方式所示使用多个位置对准点进行位置对准时，存在没有对应的位置对准点的点时，也可以仅仅通过存在对应的点的位置对准点进行位置对准。另外，如在第二实施方式中说明的，也可以再次设定对应的位置对准点。
第四实施方式
接下来，根据附图明本发明的第四实施方式。
在上述第一实施方式中，测色系统1以拍摄测定对象X取得各分光图像P1～Pn之后，根据指示检测测色位置的方式而动作。
与此相对，在第四实施方式中，测色系统使由测定装置2以3波段（3个波长）拍摄的分光图像合成后的实时图像（参照图像）显示于设于终端装置7的显示部71。然后，如果用户一边参照显示于终端装置7的显示部71的实时图像一边指定指定位置，则终端装置7检测该指定位置。测色系统如果检测指定位置，则进行测色。
此外，在第四实施方式中，测色系统根据由显示于显示部71的实时图像指定的指定位置而检测测色位置，然后取得各分光图像P1～Pn，在这一点上不同，但是基本上具备与第一实施方式的测色系统1同样的结构。
测色系统的动作
图10是显示表示测色系统的动作的流程图。
如图10所示，在本实施方式的测色系统中，首先，如果通过用户的输入部72的操作接受取得实时图像的指示，则取得对应于R（红色波长区域）、G（绿色波长区域）、B（蓝色波长区域）的各色的3个规定波长λR、λG、λB（3波段）的分光图像PR、PG、PB（参照图像生成用的分光图像）（步骤S21）。在此，滤波器控制部62控制电压控制部33，使对应于3个规定波长的驱动电压VR、VG、VB依次施加于静电致动器56。由此，3个规定波长的光依次透过波长可变干涉滤波器5，通过由摄像元件32检测（摄像），依次取得对应于这些波长的各分光图像PR、PG、PB。
另外，测定装置2将取得的分光图像PR、PG、PB依次发送到终端装置7。然后，如果终端装置7接收到分光图像PR、PG、PB，则通过显示控制部741，将将这些分光图像分光图像PR、PG、PB合成后的参照图像作为实时图像，放大显示于显示部71（步骤S22）。
用户通过一边参照显示的实时图像一边进行规定的操作，指定指定位置。指定位置检测部745通过所述操作的输入，检测指定位置即测色区域Ar2（步骤S23）。此外，由指定位置检测部745进行的指定位置的检测与第一实施方式相同。
测色系统持续进行实时图像的取得和显示，直到由用户进行测色位置的指定，并由指定位置检测部745检测到指定位置为止（步骤S21～S23）。
终端装置7如果通过步骤S23检测到指定位置，则向测定位置2指示开始测色处理。测定装置2从终端装置7接受开始测色处理的指示后，则进行与上述第一实施方式的测色系统1中的处理同样的测定用的分光图像的取得处理（步骤S1～S5）。然后，如果通过步骤S5判定为对应于所有测定波长的分光图像Pk都被取得，则将参照图像生成用的分光图像作为基准图像而进行位置对准。
具体而言，位置对准点选择部742选择用于合成步骤S23中在检测到指定位置的时刻所显示的实时图像的分光图像PR、PG、PB的位置对准点CR（XR，YR）、CG（XG，YG）、CB（XB，YB）（步骤S24）。
另外，位置对准点选择部742选择从所有测定波长λ1～λn中，与波长λR、λG、λB各自相同或最接近的波长λr、λg、λb的分光图像Pr、Pg、Pb的位置对准点Cr（Xr，Yr）、Cg（Xg，Yg）、Cb（Xb，Yb）（步骤S25）。分光图像Pr、Pg、Pb是本发明的代表图像的一例。
此外，在本实施方式中，Cr（Xr，Yr）、Cg（Xg，Yg）、Cb（Xb，Yb）从以像素p为中心的检查区域（例如100像素×100像素的区域）检测各位置对准点CR（XR，YR）、CG（XG，YG）、CB（XB，YB），该像素p对应于以通过步骤S23检测到的指定位置为中心的图8所示的用户的操作位置。此外，不限于上述检查区域，也可以是例如测色区域Ar2等。
另外，位置对准点的选择（检测）能够采用从上述第一至第三实施方式同样的方法，例如，在检查区域中沿各行方向选择受光强度差为最大的像素，提取出其中受光强度为最大的像素，将在各行中提取出的像素中的受光强度为最大的像素作为位置对准点。
接下来，补正量检测部743算出各分光图像P1～Pn共同的位置补正量ΔC。
具体而言，首先，算出在分光图像Pr、Pg、Pb和参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB中对应的各位置对准点间的位置偏移量ΔDr=（Xr-XR，Yr-YR），ΔDg=（Xg-XG，Yg-YG），ΔDb=（Xb-XB，Yb-YB）（步骤S26）
然后，通过算出这些位置偏移量ΔDr、ΔDg、ΔDb的平均值，算出ΔC（步骤S27）。即，ΔC能够作为下式（5）而算出。
ΔC=（ΔDr+ΔDg+ΔDb）/3···（5）
然后，使用由补正量检测部743算出的位置补正量ΔC，位置补正部744取得将各分光图像P1～Pn补正后的补正图像P'1～P'n（步骤S28）。具体而言，补正图像P'1～P'n通过从各分光图像P1～Pn的像素坐标减去ΔC而取得。
光谱算出部746算出对应于指定位置的位置的光谱数据（步骤S29）。
第四实施方式的作用效果
在第四实施方式的测色系统中，相对于选择指定位置时显示的参照图像，使用选择指定位置之后取得的测定用的分光图像中的对应于3波段图像的波长的分光图像Pr、Pg、Pb而检测位置偏移量，使用该位置偏移量进行测定用分光图像P1～Pn的位置对准，因而能够高效地进行高精度的位置对准。
即，在指定指定位置时，用户在将测定装置2固定于测定对象X的状态下，进行终端装置7的操作。此时，需要用户固定测定装置2等，用户接触测定装置2时，测定装置2产生位置偏移的可能性高。另一方面，在测定中，由于用户不进行操作，因而位置偏移产生的可能性低。
对此，在本实施方式中，通过根据即将检测指定位置之前的参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB与选择指定位置之后取得的测定用的分光图像Pr、Pg、Pb的位置偏移量，进行测定用的分光图像P1～Pn的位置对准，能够高效地校准如上所述的操作者操作测定装置2时的像素位置的位置偏移。
另外，对应于进行位置对准的参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB的波长的测定用的分光图像Pr、Pg、Pb是与参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB实质上相同或类似的图像。因此，将摄像对象中的相同部分作为位置对准点而检测的可能性高，通过进行使用这些位置对准点的位置对准，能够进行高精度的位置对准。
在第四实施方式的测色系统中，对以指定位置的像素p为中心的规定的检查区域或测色区域Ar2等比分光图像的整个区域狭窄的规定区域进行位置对准点的选择。
在位置偏移伴随有相对于测定对象的倾斜的变化时，有时难以在整个图像上进行位置对准。在本实施方式中，通过限制于规定区域而进行位置对准，能够在规定区域上进行高精度的位置对准。
在第四实施方式的测色系统中，用户指定指定位置时，取得3个波长的参照图像生成用的分光图像，使将这些图像合成后的参照图像显示。然后，如果根据一边参考参照图像一边选择指定位置的用户的输入操作而检测到指定位置，则取得测定用的各分光图像P1～Pn。
由此，通过合成参照图像生成用的分光图像，能够使与测定对象同等或类似的参照图像显示于显示部。然后，用户一边参照显示于显示部的参照图像一边选择，因而能够恰当且容易地选择测定对象中的所期望的位置作为指定位置。
尤其是，即使在测定位置不确定而使测定装置2在测定对象X上移动的情况下，在本实施方式中，也由于在确定需要进行测色的位置之后进行测色处理，因而能够抑制测色的耗电。
在第四实施方式的测色系统中，为了生成参照图像，从对应于R、G、B各色的波长区域分别选择一个波长，取得对于选择的3个波长（3波段）的分光图像。将这些分光图像合成而能够生成与测定对象同等或类似的图像。
另外，通过将3波长的图像作为参照图像，能够缩短参照图像的拍摄时间。例如，如果能够每秒拍摄50张参照图像，则用户能够一边移动分光测定装置一边实时显示参照图像，能够容易地查找测定位置。
第五实施方式
接下来，说明本发明的第五实施方式。
在上述第四实施方式中，比较参照图像用的分光图像PR、PG、PB与测定用的分光图像Pr、Pg、Pb，算出位置补正量ΔC，进行测定用的各分光图像的位置对准。
与此相对，在第五实施方式中，取得测定用的分光图像后，取得用于与参照图像用的分光图像PR、PG、PB比较的比较用的分光图像作为代表图像。该比较用的分光图像是与分光图像PR、PG、PB各自相同或接近的波长（例如，位置偏移为10nm等测定间隔程度）的图像。然后，比较参照图像生成用的分光图像与比较用的分光图像，算出位置补正量ΔC，进行测定用的各分光图像的位置对准。
第五实施方式中的测色系统的动作除了取得比较用的分光图像，比较参照图像生成用的分光图像与比较用的分光图像而算出位置补正量ΔC这一点以外，与第四实施方式相同。
即，如图10所示，用户一边参照由测定装置2取得的3波段的分光图像PR、PG、PB合成的参照图像（实时图像）一边指定指定位置（步骤S21～S23）。然后，测定装置2进行测定用的分光图像的取得处理（步骤S1～S5）。如果在步骤S5中判定为对于所有测定波长的分光图像被取得，则接着取得比较用的分光图像P'R、P'G、P'B。
如果比较用的分光图像P'R、P'G、P'B被取得，则位置对准点选择部742与第四实施方式的步骤S24同样，从分光图像PR、PG、PB检测位置对准点CR（XR，YR）、CG（XG，YG）、CB（XB，YB）。
此后，位置对准点选择部742从比较用的分光图像P'R、P'G、P'B检测位置对准点C'R（X'R，Y'R）、C'G（X'G，Y'G）、C'B（X'B，Y'B）。
此外，这些位置对准点的选择方法能够采用与从第一到第四实施方式同样的方法等。
此后，补正量检测部743在对应的波长间比较参照图像用的分光图像PR、PG、PB与比较用的分光图像P'R、P'G、P'B，算出各波长的位置偏移量ΔDr、ΔDg、ΔDb。然后，通过算出这些位置偏移量ΔDr、ΔDg、ΔDb的平均值，算出位置补正量ΔC。
位置补正部744取得使用算出的位置补正量ΔC而对各分光图像P1～Pn进行补正后的补正图像P'1～P'n（步骤S28）。
光谱算出部746算出对应于指定位置的位置的光谱数据（步骤S29）。
第五实施方式的作用效果
在第五实施方式的测色系统中，依次取得参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB，测定用的分光图像P1～Pn，比较用的分光图像P'R、P'G、P'B。然后，比较参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB与比较用的分光图像P'R、P'G、P'B，算出所有分光图像中共同的位置补正量ΔC。
如上所述，由于在指定指定位置时，用户进行操作，因而产生分光测定装置的位置偏移的可能性高。在本实施方式中同样，在指定位置的选择前后，比较具有大致同样的特征的图像彼此，取得位置补正量，进行位置对准。因此，能够高效地进行高精度的位置对准。
此外，在上述第四以及第五实施方式中，比较参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB和对应的波长的分光图像，算出测定用的所有分光图像Pk共同的位置补正量ΔC，但是不限于此。
即，也可以红色波长区域的分光图像使用位置偏移量ΔDr，绿色波长区域的分光图像使用位置偏移量ΔDg，蓝色波长区域的分光图像使用位置偏移量ΔDb而分别进行补正。
另外，也可以通过位置偏移量ΔDr、ΔDg、ΔDb中的任意一个或两个算出位置补正量ΔC，进行位置对准。
另外，也可以从参照图像和分光图像Pr、Pg、Pb或比较用的分光图像P'R、P'G、P'B的合成图像选择位置对准点，进行位置对准。
第六实施方式
接下来，说明本发明的第六实施方式。
在上述第四实施方式中，比较参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB与测定用的分光图像Pr、Pg、Pb，算出位置补正量ΔC，进行测定用的各分光图像的位置对准。
与此相对，在第六实施方式中，通过对参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB以及由这些生成的参照图像（实时图像）中的至少任一个图像与测定用的分光图像中的最初拍摄的第一分光图像P1进行比较而算出位置补正量ΔC，进行测定用的各分光图像的位置对准。即，第一分光图像P1相当于本发明的代表图像。
以下，说明比较分光图像PR与第一分光图像P1的情况。
第六实施方式中的测色系统的动作除了通过比较参照图像生成用的分光图像PR与测定用的第一分光图像P1而算出位置补正量ΔC这一点以外，与第四实施方式相同。
即，如图10所示，用户一边参照由测定装置2取得的3波段的分光图像PR、PG、PB合成的参照图像（实时图像）一边指定指定位置（步骤S21～S23）。然后，测定装置2进行测定用的分光图像的取得处理（步骤S1～S5）。
然后，如果在步骤S5中，所有测定波长的分光图像被取得，则位置对准点选择部742选择分光图像PR的位置对准点CR（XR，YR）（步骤S24）。
也就是说，在本实施方式中，为了使反射膜54、55间的间隙G1依次减小而取得分光图像Pk，优选选择与第一分光图像P1的波长λ1最接近的参照图像生成用的分光图像PR的位置对准点CR（XR，YR）。此外，根据进行分光测定的测定波长区域或第一分光图像的测定波长，也可以使用其他参照图像生成用的分光图像。另外，也可以从将各参照图像生成用的分光图像合成后的参照图像检测位置对准点。
接着，在本实施方式中，位置对准点选择部742选择第一分光图像P1的位置对准点C1（X1，Y1）。
此外，位置对准点通过与上述第一到第五实施方式同样的方法等而选择。
接着，补正量检测部743通过比较分光图像PR的位置对准点CR（XR，YR）和第一分光图像P1的位置对准点C1（X1，Y1），算出各分光图像P1～Pn共同的位置补正量ΔC。
即，算出第一分光图像P1与分光图像PR的位置偏移量ΔD1（X1-XR，Y1-YR）作为位置补正量ΔC。
位置补正部744取得使用算出的位置补正量ΔC对各分光图像P1～Pn的位置进行补正后的补正图像P'1～P'n（步骤S28），光谱算出部746算出光谱数据（步骤S29）。
第六实施方式的作用效果
在本实施方式中，通过比较测定用的各分光图像中的最初取得的第一分光图像P1和参照图像生成用的分光图像，算出所有分光图像中共同的位置补正量ΔC。由此，能够减少位置对准中的运算量，因而能够实现处理负荷的减轻以及处理速度的提高。
即，从取得参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB之后到取得测定用的第一分光图像P1为止的期间，由于进行指定位置的检测、测定指示以及测定开始动作，因而比测定用的各分光图像间的取得间隔还长。因此，参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB与第一分光图像P1的位置偏移量比测定用的各分光图像间的位置偏移量增大的可能性高。另外，取得测定用的分光图像的期间，由于用户未进行操作，因而与到取得第一分光图像P1为止的期间相比，位置偏移产生的可能性低。因此，通过比较参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB与第一分光图像P1而算出所有分光图像中共同的位置补正量ΔC，能够抑制位置偏移量最大的区间的位置偏移的影响，并且能够减少位置对准中的运算量，能够实现处理负荷的减轻以及处理速度的提高。因此，能够高效地进行高精度的位置对准。
第七实施方式
接下来，说明本发明的第七实施方式。
在上述第五、第六实施方式中，通过对参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB以及由这些生成的参照图像（实时图像）中的至少任一个图像与测定用的分光图像中的最初拍摄的第一分光图像P1进行比较而算出位置补正量ΔC，进行测定用的各分光图像的位置补正。
与此相对，在本实施方式中，通过对参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB以及由这些生成的参照图像（实时图像）中的至少任一个图像与测定用的分光图像中的最初拍摄的第一分光图像P1进行比较而算出位置偏移量，根据参照图像中的指定位置坐标和位置偏移量，算出测定用的分光图像的指定位置坐标。
以下，在本实施方式中，与第六实施方式同样，说明比较分光图像PR与第一分光图像P1的情况。
本实施方式中的测色系统的动作除了根据参照图像生成用的分光图像PR和测定用的第一分光图像P1的位置偏移量ΔD1而算出各分光图像指定位置的坐标这一点以外，与第六实施方式相同。
即，如图10所示，用户一边参照由测定装置2取得的3波段的分光图像PR、PG、PB合成的参照图像（实时图像）一边指定指定位置（步骤S21～S23）。然后，测定装置2进行测定用的分光图像的取得处理（步骤S1～S5）。
如果在步骤S5中，所有测定波长的分光图像被取得，则位置对准点选择部742与上述第六实施方式同样，选择分光图像PR的位置对准点CR（步骤S24）。
另外，位置对准点选择部742选择第一分光图像P1的位置对准点C1。
补正量检测部743算出分光图像PR的位置对准点CR与第一分光图像P1的位置对准点C1的位置偏移量ΔD1作为位置补正量ΔC。
接着，在本实施方式中，位置补正部744使用算出的位置补正量ΔC算出各分光图像P1～Pn的指定位置坐标。
具体而言，由于位置补正量ΔC是从参照图像到第一分光图像P1的移动量，因而通过在参照图像中的指定位置的像素p的坐标上加上位置补正量ΔC，从而可以算出第一分光图像P1中的指定位置坐标。作为该各分光图像P1～Pn的指定位置坐标。
光谱算出部746使用算出的指定位置坐标，算出各分光图像P1～Pn的该指定位置的受光强度的平均值，算出光谱数据（步骤S29）。
第七实施方式的作用效果
在本实施方式中，与第六实施方式同样，通过比较测定用的各分光图像中的最初取得的第一分光图像P1和参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB而算出位置补正量ΔC。因此，能够进一步减少位置对准中的运算量，能够实现处理负荷的减轻以及处理速度的进一步提高。
并且，在本实施方式中，通过在参照图像的指定位置坐标上加上位置补正量ΔC而算出测定用的分光图像P1～Pn的指定位置坐标，从而进行位置对准。由此，能够进一步减少位置对准中的运算量，能够实现处理负荷的减轻以及处理速度的进一步提高。
此外，在本实施方式中，在进行指定位置坐标的补正时，使用根据参照图像生成用的分光图像（参照图像）和第一分光图像的各自的位置对准点而算出的位置补正量ΔC=ΔD1，但是不限于此。即，可以使用第一实施方式～第六实施方式中的至少任一个方式中所述的位置补正量对指定位置坐标进行补正。
另外，在上述第六以及第七实施方式中，说明了在比较第一分光图像P1与参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB时，比较与第一分光图像P1波长最近的分光图像PR的情况，但不限于此。
即，既可以与分光图像PR、PG、PB中的任意两个或全部比较，也可以与作为一个图像的参照图像比较。此外，如上述实施方式所示，通过减少比较的图像的数量，能够减轻算出位置补正量ΔC时的处理负荷。
另外，在上述第六以及第七实施方式中也可以，第一分光图像P1与参照图像（参照图像生成用的分光图像）进行位置对准，第一分光图像P1以外的测定用的分光图像P2～Pn如在第一实施方式中说明的那样，根据最近的波长的分光图像间的位置偏移量，即按照测定的顺序依次进行位置对准。
第八实施方式
接下来，根据附图说明本发明的第八实施方式。
在上述各实施方式中，根据分光图像的受光强度选择位置对准点，进行分光图像间的位置对准点的位置对准。
与此相对，本实施方式的测色系统1B除了上述第二实施方式的测色系统1的结构以外，还通过作为角度变化量检测单元的陀螺仪传感器，在物理上检测测定装置的旋转，进行对应于检测结果的位置对准。
图11是表示本发明所涉及的第八实施方式的测色系统1B的简要结构的框图。如图11所示，测色系统1B除了测定装置2B具备陀螺仪传感器26，电路基板6B具备角度变化量检测部65以及终端装置7B在控制部74B具备旋转补正部747以外，基本上具有与上述第四实施方式同样的结构。因此，在以下的说明中，对于与上述第四实施方式同样的结构赋予相同的符号，并省略或简化其说明。
陀螺仪传感器26是检测相对于测定对象X的位置的变化的位置变化检测单元，尤其是检测测定装置2B相对于测定对象X的旋转。
角度变化量检测部65根据陀螺仪传感器26的检测结果，检测测定装置2B的角度变化量。
旋转补正部747使用角度变化量，进行分光图像的旋转补正处理，取得旋转补正图像。
测色系统的动作
图12是表示测色系统1B的动作的流程图。
本实施方式中的测色系统的动作除了根据陀螺仪传感器26的检测结果进行分光图像的旋转补正这一点以外，与第四实施方式相同。
即，如图12所示，用户一边参照由测定装置2取得的3波段的分光图像PR、PG、PB合成的参照图像（实时图像）一边指定指定位置（步骤S21～S23）。
终端装置7B如果检测到指定位置，则向测定装置2B指示开始测色处理。
测定装置2B接受开始测色处理的指示后，则开始由陀螺仪传感器26进行的旋转角度的测量（步骤S31）。
进行测定用的分光图像的取得处理。即，首先，滤波器控制部62将设定变量k初始化（k=1）（步骤S1），控制电压控制部33，使读取的驱动电压Vk施加于波长可变干涉滤波器5的静电致动器56（步骤S2）。驱动电压Vk施加于静电致动器56后，则反射膜间间隙G1被变更，测定波长的光透过波长可变干涉滤波器5，取得测定波长λ1的分光图像Pk（步骤S3）。
在本实施方式中，取得分光图像Pk后，则根据由陀螺仪传感器26检测的、测定装置2B相对于测定对象X的旋转量，角度变化量检测部65检测测定装置2B相对于测定对象X的角度变化量Ak（步骤S32）。
接着，如果分光图像Pk以及角度变化量Ak被取得，则滤波器控制部62对变量k加1（k=k+1）（步骤S4）。然后，滤波器控制部62判定是否k＞n（步骤S5），k≤n时返回步骤S2的处理，k＞n时结束由陀螺仪传感器26进行的旋转量的测量（步骤S33）。
在本实施方式中，与第四实施方式同样，将参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB作为基准图像进行位置对准。
首先，位置对准点选择部742与第四实施方式同样，选择分光图像PR、PG、PB的各位置对准点CR（XR，YR）、CG（XG，YG）、CB（XB，YB）（步骤S24）。
接着，旋转补正部747使用角度变化量Ak（k=1～n），进行分光图像Pk（k=1～n）的旋转补正处理，取得旋转补正图像Pka（步骤S34）。此外，旋转补正处理是使用角度变化量Ak对伴随着测定装置2的角度变化的图像扭曲或位置偏移进行补正的处理。
位置对准点选择部742选择对所有测定波长λ1～λn中与波长λR、λG、λB各自相同或最接近的波长λr、λg、λb的分光图像Pr、Pg、Pb进行旋转补正处理而取得的旋转补正图像Pra、Pga、Pba的各位置对准点Cra（Xra，Yra）、Cga（Xga，Yga）、Cba（Xba，Yba）（步骤S35）。位置对准点的选择利用与上述各实施方式同样的方法进行。
接下来，补正量检测部743算出各分光图像P1～Pn中共同的位置补正量ΔC。
具体而言，首先，算出在旋转补正图像Pra、Pga、Pba和参照图像生成用的分光图像PR、PG、PB中对应的各位置对准点间的位置偏移量ΔDra=（Xra-XR，Yra-YR），ΔDga=（Xga-XG，Yga-YG），ΔDba=（Xba-XB，Yba-YB）（步骤S36）。
然后，通过算出这些位置偏移量ΔDra、ΔDga、ΔDba的平均值，算出ΔC（步骤S37）。即，ΔC能够作为下式（6）而算出。
ΔC=（ΔDra+ΔDga+ΔDba）/3···（6）
然后，使用由补正量检测部743算出的位置补正量ΔC，位置补正部744取得对各旋转补正图像P1a～Pna进行补正后的补正图像P'1a～P'na（步骤S38）。具体而言，补正图像P'1a～P'na通过从各分光图像P1a～Pna的像素坐标减去ΔC而取得。
然后，光谱算出部746算出对应于指定位置的位置的光谱数据（步骤S29）。
第八实施方式的作用效果
在本实施方式的测色系统1B中，由于位置偏移的检测能够在物理上进行检测，因而能够进行高精度的位置对准。
尤其是，通过使用检测角度变化量的陀螺仪传感器作为位置偏移的检测单元，能够进行考虑了分光图像伴随着角度变化而变化的位置对准。
即，如果测定装置2相对于测定对象X的角度变化，则变化后的分光图像与变化前的分光图像相比，有时成为缩小的这种图像。这种图像伴随着角度变化而发生的变化不易通过解析分光图像而进行检测。
在本实施方式中，通过使用利用陀螺仪传感器26检测到的角度变化量Ak进行位置对准，能够进行更高精度的位置对准。
尤其是，在本实施方式中，作为物理上检测位置偏移的单元，只设有检测角度变化量Ak的陀螺仪传感器26。而且，以如下方式构成：使用检测到的角度变化量Ak进行对角度变化的补正，有关平行于测定对象X的面方向的位置偏移，进行使用了位置对准点的位置对准。由此，能够以简易的结构实现高精度的位置对准，能够以低成本提供高性能的测色系统。
此外，在本实施方式中，虽然对所有的分光图像Pk检测角度变化量Ak，取得旋转补正图像，但不限于此，也可以只检测相对于第一分光图像P1的角度变化量A1，使用其进行所有分光图像Pk的旋转补正。
另外，也可以取得相对于规定的分光图像Pi的角度变化量Ai，进行旋转补正。例如，也可以取得分光图像PR、PG、PB的角度变化量AR、AG、AB，使用这些量对所有分光图像Pk以共同的补正量进行旋转补正。另外，也可以红色波长区域的分光图像使用角度变化量AR，绿色波长区域的分光图像使用角度变化量AG，蓝色波长区域的分光图像使用角度变化量AB分别进行旋转补正。
另外，在本实施方式中，虽然只搭载有陀螺传感器26，但是除此之外，还可以搭载加速度传感器或焦距检测装置等作为检测与测定对象X的相对的位置变化的位置变化检测单元的任何传感器。
另外，在本实施方式中，虽然使用根据受光强度选择的位置对准点对使用利用陀螺传感器26检测到的角度变化量Ak进行旋转补正后的测定用分光图像进行位置对准，但也可以使用由上述位置变化检测单元检测到的测定装置的姿势或位置的变化，进行分光图像间的位置对准。由此，能够进行高精度的位置对准。
实施方式的变形
此外，本发明并非限于所述的实施方式，在能够达到本发明的目的的范围内的变形、改良等都包含于本发明。
例如，在上述各实施方式中，作为本发明的分光测定装置的一例，例示出具备测定装置和终端装置的测色系统，但是本发明不限于此，上述的测定装置和终端装置也可以构成为一体。
在上述各实施方式中，对将受光强度差最大的像素作为位置对准点的例子进行了说明，但本发明不限于此，也可以将受光强度最大的像素作为位置对准点。
受光强度为最大的点是辉点的可能性高，这种辉点在多个波长中光量同样地变大。因此，通过将受光强度为最大的点作为位置对准点，能够在较宽的波长范围内选择同样的位置对准点，能够提高位置对准精度。
另外，也可以选择受光强度为规定的第一阈值以上的像素作为位置对准点。
通过选择受光强度为规定的第一阈值以上的像素作为位置对准点，能够设定多个位置对准点。存在多个辉点时，由于波长不同，有时光量为最大的辉点不同。对此，通过将阈值以上的多个点作为位置对准点，可以实现位置对准精度的进一步提高。
另外，除了邻接像素间的受光强度差为最大的点以外，也可以将邻接像素间的受光强度差为第二阈值以上的点作为位置对准点。
邻接像素间的受光强度差为第二阈值以上的像素成为受光强度的变化率大的像素间，即成为分光图像的边缘部（轮廓部）。这种边缘部无论分光图像的波长如何，都出现于相同位置。通过将邻接像素间的受光强度差为第二阈值以上的像素作为位置对准点，能够通过多个边缘部进行位置对准，能够高精度地进行分光图像间的位置对准。
由此，能够根据邻接像素间的受光强度差的关系，将多个像素作为位置对准点，能够进行更高精度的位置对准。
另外，不限于邻接像素间的受光强度差，也可以是成为例如1个～2个像素间隔的像素间。通过参照数个像素间的受光强度差，能够高效地检测在分光图像间共同的边缘部（轮廓部），能够高精度且高效地进行分光图像间的位置对准。这样，通过参照在数个像素的变化量，能够减少用于选择位置对准点的运算量，能够减轻处理负荷。
此外，从变化量为最大或为阈值以上的区间选择位置对准点的方法没有特别地限制，例如，也可以将区间的两端或正中间的像素或受光强度最大的像素作为位置对准点。
在上述各实施方式中，将邻接像素间的受光强度差最大的点作为位置对准点，但是本发明不限于此。
例如，在将沿一个方向连续的像素作为第一像素、第二像素以及第三像素时，算出第一像素和第二像素的受光强度差与第二像素和第三像素的受光强度差的差分值作为第二像素的邻接强度差。然后，提取沿一个方向排列的像素中的邻接强度差为最小的像素，选择这些像素中的受光强度为最大的像素作为位置对准点。
图13是表示构成某分光图像Pk的某行的各像素的受光强度、邻接像素间的受光强度差以及受光强度差的邻接差（邻接强度差）的表。该邻接强度差是沿行方向连续的3个像素中的邻接像素间的受光强度差的差分值。
图14（A）是表示图13所示的受光强度的曲线图，图14（B）是表示图13所示的受光强度差的邻接差的曲线图。
如图14（B）所示，受光强度差的邻接差为最小的点Q以及点T的值为-8。根据图13，点Q是表示列编号2、3、4的各像素的受光强度差的邻接差（邻接强度差）的点，点T是表示列编号14、15、16的各像素的受光强度差的邻接差（邻接强度差）的点。在图14（A）中，将列编号2、3、4、14、15、16的各点分别设为点Q1、Q2、Q3、T1、T2、T3。如图13、图14（A）所示，这些点中受光强度最大的点是点T2，即列编号15的像素，将该点作为位置对准点。
如图14（A）所示，点Q1、Q2、Q3以及点T1、T2、T3分别是跨过受光强度的峰的位置，点Q2以及点T2分别是峰位置。即，邻接强度差为最小的像素成为光量值大的边缘部（轮廓线）的可能性高，该边缘部中受光强度最大的像素进一步是边缘部上的像素的可能性高。因此，这种像素无论波长如何，成为光量高的点的可能性高，通过选择作为位置对准点，能够进行更高精度的位置对准。
在上述各实施方式中，以必须进行对检测出的位置偏移的位置对准的方式而构成，但是本发明不限于此，也可以以进行位置偏移量超过了规定量的分光图像的位置对准的方式构成。
在此，规定量是根据例如测定精度、测定对象、分光测定装置的规格等而适当设定的值。
通过在位置偏移量超过规定量的分光图像进行位置对准，能够不对无需进行位置对准的图像进行位置对准。由此，能够减少位置对准的处理量，因而能够减轻分光测定装置的处理负荷，能够缩短处理时间。
在上述第四～第六实施方式中，作为作为与参照图像或参照图像生成用的分光图像的比较对象的代表图像分别使用了不同的图像，例如与参照图像生成用的分光图像大致相同波长的测定用的分光图像、与参照图像生成用的分光图像大致相同波长的比较用的分光图像、以及第一分光图像。在本发明中，也可以在这些中同时选择两种以上的代表图像。即，可以将与参照图像生成用的分光图像大致相同波长的测定用的分光图像和第一分光图像作为代表图像，分别选择位置对准点，进行位置对准。
在上述各实施方式中，作为分光元件使用了波长可变干涉滤波器5，但本发明不限于此。也可以使用例如液晶可调滤波器或AOTF等可面分光的分光滤波器。
在上述各实施方式以及变形例中，作为波长可变干涉滤波器5例示出在作为第一基板的固定基板51上设有作为第一反射膜的固定反射膜54，在作为第二基板的可动基板52上设有作为第二反射膜的可动反射膜55的结构，但不限于此。例如，也可以采用不设置第一基板或第二基板的结构。
这种情况下例如采用，在基板的一个表面层压形成第一电极、第一反射膜、间隙间隔物、第二反射膜以及第二电极，第一反射膜与第二反射膜以及第一电极与第二电极间隔着间隙而相对的结构。在该结构中，成为由一个基板组成的结构，能够使分光元件更薄型化。另外，也可以采用在第一反射膜上设置第一电极，在第二反射膜上设置第二电极的结构。
在上述各实施方式以及变形例中，具备光源21，但是在作为测定对象X被限于自身发光的情况下，也可以不一定具备光源21。
在上述各实施方式中，具备远心光学系统31，但是本发明不限于此。只要是设置有能够将来自测定对象图像的光导向分光滤波器的导光光学系统的结构即可，例如也可以采用设置有LCF（Light Control Film：光控制薄膜）等的结构。
此外，本发明实施时的具体的结构，在能够达到本发明的目的的范围内，既可以通过适当组合上述各实施方式和变形例而构成，也可以适当变更为其他结构等。

Claims (23)

1.一种分光测定装置，其特征在于，
具备：
分光元件，能够变更选择的光的波长，使来自对象物的光分光；
摄像部，分别接收由所述分光元件分光为多个波长的光而取得多个分光图像；
位置偏移量检测部，从由所述摄像部取得的所述多个分光图像中选择基准图像，在所述基准图像与所述基准图像以外的至少一个所述分光图像之间，检测接收到来自所述对象物的规定位置的光的像素位置的位置偏移量；
位置对准部，根据由所述位置偏移量检测部检测出的所述位置偏移量，进行所述基准图像以外的所述分光图像的位置对准；
显示部，显示将分光图像合成后的参照图像；以及
指定位置检测部，检测显示于所述显示部的所述参照图像中的由用户的输入操作指定的指定位置，
所述摄像部取得包括所述指定位置的区域中的与多个波长各自对应的分光图像，
所述位置偏移量检测部将参照图像生成用的分光图像以及所述参照图像中的至少任一个图像作为所述基准图像，检测所述基准图像与所述分光图像的所述位置偏移量，
所述位置对准部根据检测出的所述位置偏移量，进行所述分光图像的位置对准。
2.根据权利要求1所述的分光测定装置，其特征在于，
所述位置偏移量检测部具备：位置对准点选择部，根据所述分光图像的各像素的受光强度，选择接收到来自所述对象物的所述规定位置的光的像素位置作为位置对准点；以及位置偏移量测定部，测定所述基准图像中的所述位置对准点与所述基准图像以外的所述分光图像中的所述位置对准点的位置偏移量。
3.根据权利要求2所述的分光测定装置，其特征在于，
所述位置对准点选择部选择在各分光图像中所述受光强度最大的像素作为所述位置对准点。
4.根据权利要求2所述的分光测定装置，其特征在于，
所述位置对准点选择部选择在各分光图像中所述受光强度为规定的第一阈值以上的像素作为所述位置对准点。
5.根据权利要求2所述的分光测定装置，其特征在于，
所述位置对准点选择部选择在各分光图像中受光强度差最大的两个像素中的至少一个像素作为所述位置对准点。
6.根据权利要求2所述的分光测定装置，其特征在于，
所述位置对准点选择部在将沿一个方向连续的像素作为第一像素、第二像素以及第三像素时，算出所述第一像素和所述第二像素的受光强度差与所述第二像素和所述第三像素的受光强度差的差值作为所述第二像素的邻接强度差，提取在各分光图像中沿所述一个方向排列的像素中的、所述邻接强度差为最小的像素，并选择这些像素中的、所述受光强度为最大的像素作为所述位置对准点。
7.根据权利要求2所述的分光测定装置，其特征在于，
所述位置对准点选择部选择多个所述位置对准点，
所述位置对准部以位置对准后的多个对应的所述位置对准点间的距离的总和为最小的方式而进行位置对准。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的分光测定装置，其特征在于，
具备检测所述分光图像内的指定位置的指定位置检测部，
所述位置对准部对包括所述分光图像的所述指定位置的规定区域中所包含的所述位置对准点进行位置对准。
9.根据权利要求1所述的分光测定装置，其特征在于，
所述位置偏移量检测部在规定的波长范围内的所述分光图像间检测所述位置偏移量，
所述位置对准部在所述规定的波长范围内的所述分光图像间进行位置对准。
10.根据权利要求1所述的分光测定装置，其特征在于，
所述位置对准部进行所述位置偏移量超过规定量的所述分光图像的位置对准。
11.根据权利要求1所述的分光测定装置，其特征在于，
具备：
显示控制部，使所述显示部显示由所述摄像部取得的至少3个波长的分光图像合成后的所述参照图像。
12.根据权利要求11所述的分光测定装置，其特征在于，
所述显示控制部使所述显示部显示将3个所述参照图像生成用的分光图像合成后的所述参照图像。
13.根据权利要求11所述的分光测定装置，其特征在于，
所述位置偏移量检测部取得多个所述分光图像以及由该分光图像合成的合成图像中的至少任意一个作为代表图像，检测所述基准图像与所述代表图像的位置偏移量，
所述位置对准部根据检测出的所述位置偏移量，进行所述分光图像的位置对准。
14.根据权利要求13所述的分光测定装置，其特征在于，
所述代表图像是与所述参照图像生成用的分光图像相同波长的所述分光图像。
15.根据权利要求13或14所述的分光测定装置，其特征在于，
所述代表图像是将与至少3个所述参照图像生成用的分光图像相同波长的3个所述分光图像合成后的合成图像。
16.根据权利要求13所述的分光测定装置，其特征在于，
所述摄像部依次取得多个所述分光图像，
所述代表图像是依次取得的所述分光图像中的最初取得的所述分光图像。
17.根据权利要求13所述的分光测定装置，其特征在于，
所述摄像部在取得多个所述分光图像之后，取得与所述参照图像生成用的分光图像相同波长的比较用的分光图像，
所述代表图像是所述比较用的分光图像。
18.根据权利要求11所述的分光测定装置，其特征在于，
所述摄像部依次取得多个所述分光图像，
所述位置偏移量检测部检测所述基准图像与依次取得的所述分光图像中的最初取得的所述分光图像的所述位置偏移量、以及所述分光图像与该分光图像的下一个取得的所述分光图像的所述位置偏移量，
所述位置对准部进行所述基准图像与所述最初取得的分光图像的位置对准，对以后取得的所述分光图像进行所述分光图像与该分光图像的下一个取得的所述分光图像的位置对准。
19.根据权利要求11所述的分光测定装置，其特征在于，
所述位置对准部根据所述位置偏移量算出对应于各分光图像中的所述指定位置的位置。
20.根据权利要求1所述的分光测定装置，其特征在于，
所述位置偏移量检测部具备检测相对于测定对象的位置的变化的位置变化检测单元，并根据所述位置的变化检测所述位置偏移量。
21.根据权利要求20所述的分光测定装置，其特征在于，
所述位置变化检测单元是检测相对于测定对象的角度变化量的角度变化量检测单元。
22.根据权利要求1所述的分光测定装置，其特征在于，
具备由与多个波长各自对应的所述分光图像生成光谱数据的光谱生成部。
23.根据权利要求1至7中任一项所述的分光测定装置，其特征在于，
所述分光元件是波长能够变化型的法布里-珀罗标准具。
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5987573B2 (ja) 2012-09-12 2016-09-07 セイコーエプソン株式会社 光学モジュール、電子機器、及び駆動方法
US10274715B2 (en) * 2014-08-06 2019-04-30 Cellomics, Inc. Image-based laser autofocus system
US9977961B2 (en) * 2014-10-21 2018-05-22 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Method for maintaining detection capability when a frame in a multispectral image is corrupted
KR102323212B1 (ko) * 2014-11-07 2021-11-09 삼성전자주식회사 위치 변동을 보상할 수 있는 분광 시스템 및 이를 이용한 분광 방법
GB201501731D0 (en) * 2015-02-03 2015-03-18 Vito Nv Method and system for estimating an input spectrum from sensor data
EP3064915A1 (en) * 2015-03-03 2016-09-07 Seiko Epson Corporation Spectrometry device, image forming apparatus, and spectrometry method
JP6146491B2 (ja) * 2015-03-03 2017-06-14 セイコーエプソン株式会社 分光測定装置、画像形成装置、及び分光測定方法
JP6372805B2 (ja) * 2015-07-03 2018-08-15 日本電信電話株式会社 画像処理装置、方法、及びプログラム
JP6623685B2 (ja) * 2015-10-29 2019-12-25 セイコーエプソン株式会社 測定装置及び印刷装置
JP6903998B2 (ja) * 2017-03-29 2021-07-14 セイコーエプソン株式会社 ヘッドマウントディスプレイ
US10624175B2 (en) * 2017-09-15 2020-04-14 Ledvance Llc Lamp with power supply containing gyroscopic sensor used for light management operations
JP2020195104A (ja) * 2019-05-30 2020-12-03 セイコーエプソン株式会社 表示方法、表示装置および情報システム
JP2021022894A (ja) * 2019-07-30 2021-02-18 セイコーエプソン株式会社 画像処理方法、画像処理装置および情報システム
JP2021047310A (ja) * 2019-09-19 2021-03-25 セイコーエプソン株式会社 プロジェクター、及びプロジェクターの制御方法
JP2021196528A (ja) * 2020-06-16 2021-12-27 株式会社日立ハイテク 位置合わせ装置および光学装置
CN114384191B (zh) * 2020-10-06 2024-04-09 株式会社岛津制作所 色谱图用波形处理装置及色谱图用波形处理方法

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3792273B2 (ja) 1995-06-30 2006-07-05 株式会社島津製作所 分光測定装置
US5832110A (en) * 1996-05-28 1998-11-03 Ricoh Company, Ltd. Image registration using projection histogram matching
IL119520A0 (en) * 1996-10-30 1997-01-10 Applied Spectral Imaging Ltd Method for interferometer based spectral imaging of moving objects
JP3878259B2 (ja) * 1996-11-13 2007-02-07 東芝医用システムエンジニアリング株式会社 医用画像処理装置
JPH10311757A (ja) 1997-05-13 1998-11-24 Shimadzu Corp 色彩測定装置の調整方法及び色彩測定装置
JP3430093B2 (ja) 1999-12-02 2003-07-28 三菱電機株式会社 分光撮像方法および装置
JP2002056798A (ja) 2000-08-10 2002-02-22 Hitachi Ltd エネルギーフィルタを用いた透過型電子顕微鏡の分光データ処理方法、及びその透過型電子顕微鏡
EP1389956B1 (en) 2001-04-25 2012-10-31 Amnis Corporation Method and apparatus for correcting crosstalk and spatial resolution for multichannel imaging
JP2003004533A (ja) * 2001-06-25 2003-01-08 Nireco Corp 印刷物の測色方法及び測色装置
JP4037294B2 (ja) 2003-03-20 2008-01-23 オリンパス株式会社 分光画像から複数の固有スペクトル成分の存在割合を求める方法
JP4072108B2 (ja) 2003-10-07 2008-04-09 オリンパス株式会社 画像表示装置及び画像表示方法
JP4800591B2 (ja) * 2004-05-26 2011-10-26 オリンパス株式会社 撮影システム
US7850305B2 (en) 2004-12-03 2010-12-14 Topcon Corporation Apparatus and method for measuring spectrum image data of eyeground
JP4756854B2 (ja) 2004-12-03 2011-08-24 株式会社トプコン 分光眼底画像データ測定装置及び測定方法
JP3989521B2 (ja) * 2005-12-19 2007-10-10 オリンパス株式会社 画像合成装置およびその方法並びにプログラム
US8012327B2 (en) * 2006-01-16 2011-09-06 Hitachi High-Technologies Corporation Capillary electrophoresis apparatus and electrophoresis method
JP4854390B2 (ja) 2006-06-15 2012-01-18 株式会社トプコン 分光眼底測定装置及びその測定方法
JP4854389B2 (ja) 2006-06-15 2012-01-18 株式会社トプコン 分光眼底測定装置及びその測定方法
JP4804238B2 (ja) * 2006-06-20 2011-11-02 三菱電機株式会社 動きベクトル検出装置
JP4775957B2 (ja) * 2006-07-28 2011-09-21 Ｋｄｄｉ株式会社 顔検出装置
JP2009267834A (ja) * 2008-04-25 2009-11-12 Olympus Corp 撮像装置
JP5248951B2 (ja) * 2008-08-12 2013-07-31 ソニーモバイルコミュニケーションズ， エービー カメラ装置、画像撮影支援装置、画像撮影支援方法、及び画像撮影支援プログラム
JP5495598B2 (ja) * 2009-03-30 2014-05-21 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
JP2010279454A (ja) 2009-06-03 2010-12-16 Olympus Corp 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラムおよび撮像装置
JP2013017165A (ja) * 2011-06-10 2013-01-24 Panasonic Corp 撮像装置
WO2013001994A1 (ja) * 2011-06-28 2013-01-03 オリンパス株式会社 分光画像取得装置及び分光画像取得方法
JP5948757B2 (ja) * 2011-08-08 2016-07-06 株式会社ニデック 眼底撮影装置

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