CN103975252B - 检测器模块的配置确定方法、γ射线检测器、以及PET装置 - Google Patents

Abstract

提高PET装置的性能均匀性。本发明涉及一种方法，用于确定构成为将响应起因于湮没事件产生的入射γ射线而产生的光转换成电信号的多个检测器模块在γ射线检测器内的配置的方法。首先，取得多个检测器模块的每一个模块的性能信息。接着，根据所取得的性能信息，确定γ射线检测器内的多个检测器模块的每一个模块的相对的位置。

Description

检测器模块的配置确定方法、γ射线检测器、以及PET装置

技术领域

本实施方式涉及检测器模块的配置确定方法、γ射线检测器、以及PET装置。

背景技术

PET（positron emission tomography）装置搭载定时特性不同的大约数十个至大约一百个的检测器模块。检测器模块在PET装置内不规则地配置。例如，当是被配置为多个检测器模块形成检测器环的PET检测器时，检测器模块一般在检测器环内不规则地配置。

当是TOF（time of flight）型PET装置时，由于该不规则性，通常，PET_FOV（fieldof view）或重建剖面中的时间分辨率变得不均匀。当尝试消除该不均匀性时，图像重建会变得更复杂，当不尝试消除该不均匀性时，画质会降低。

发明内容

实施方式的目的在于，提供一种能够提高PET装置的性能的均匀性的检测器模块的配置确定方法、γ射线检测器、以及PET装置。

本实施方式所涉及的检测器模块的配置确定方法，是用于确定构成为将响应由于湮没事件产生的入射γ射线而产生的光转换成电信号的多个检测器模块在γ射线检测器内的配置的方法，该方法包含取得上述多个检测器模块的各个的性能信息，根据上述取得的性能信息，确定上述γ射线检测器内的上述多个检测器模块的各个的相对的位置的步骤。

提高PET装置的性能的均匀性。

附图说明

图1是表示搭载于本实施方式所涉及的PET装置的检测器环所包含的40个检测器模块的配置例的图。

图2是表示本实施方式所涉及的、基于性能信息的检测器模块对的确定方法的典型的流程的图。

图3是表示搭载于本实施方式所涉及的PET装置的检测器环所包含的检测器模块的第1配置方法的典型的流程的图。

图4A是三维地表示搭载于本实施方式所涉及的PET装置的检测器环所包含的160个检测器模块的配置例的图。

图4B是平面地表示搭载于本实施方式所涉及的PET装置的检测器环所包含的160个检测器模块的配置例的图。

图5是表示搭载于本实施方式所涉及的PET装置的检测器环所包含的检测器模块的第2配置方法的典型的流程的图。

图6是表示本实施方式所涉及的PET装置的结构的一个例子的图。

图7是表示本实施方式所涉及的检测器模块的时间分辨率的测量所使用的改良型的PET装置的结构的一个例子的图。

图8是表示本实施方式所涉及的检测器模块的定时频谱的一个例子的图。

图9是表示本实施方式所涉及的、用于测量时间分辨率的测量装置的结构例的图。

图10是表示本实施方式所涉及的、用于测量时间分辨率的测量装置的另一结构例的图。

符号说明

100…闪烁晶体、105…闪烁晶体阵列、115…光导、120…闪烁晶体、125…闪烁晶体阵列、130…光导、135…光电倍增管、140…光电倍增管、145…显示装置、150…数据收集部、170…CPU、175…接口、180…电子存储装置、195…光电倍增管

具体实施方式

本实施方式记载改善PET装置中的性能的均匀性的装置以及方法，更具体而言，记载通过根据检测器模块的性能信息在检测器环内配置检测器模块，从而涵盖PET装置的FOV全域改善性能的均匀性的装置以及方法。

本实施方式提供一种为了使检测器模块的时间分辨率均等化，由此涵盖PET装置整体使时间分辨率更均匀，使用以前的信息，例如，使用检测器模块的预备性能特性和/或生成性能（production performance）特性，在PET装置内配置检测器模块的方法。涵盖FOV全域实现使用TOF信息改善画质的优点。

根据本实施方式，提供一种在γ射线检测器内配置分别包含将响应起因于湮没事件产生的入射γ射线而产生的光转换成电信号的闪烁晶体的阵列的检测器模块的方法，该方法具备：取得检测器模块各自的性能信息的工序、和根据所取得的检测器模块的性能信息，确定γ射线检测器内的检测器模块各自的相对位置的工序。

根据本实施方式，提供一种γ射线检测器，该γ射线检测器包含多个检测器模块，上述检测器模块分别包含将响应起因于湮没事件产生的入射γ射线而产生的光转换成电信号的闪烁晶体的阵列，被配置成形成检测器环，检测器模块根据检测器模块的性能特性被配置在检测器环内。

根据本实施方式，提供一种测量各检测器模块的时间分辨率，根据这些时间分辨率对PET装置内的检测器模块添加顺位的方法。

根据本实施方式，检测器模块以各对的平均时间分辨率尽可能接近的方式进行配对。接着，属于一对的检测器模块以它们的位置对于FOV的中心互为镜像的方式配置在PET装置内。

根据本实施方式，检测器模块被配置成，定时性能比较低的任意的检测器模块与定时性能比较低的另一检测器模块配对的概率较低。

根据本实施方式，由于为了优化时间分辨率的均匀性而考虑来自检测器模块的LOR（line-of-responses），因此，使用算法。

根据本实施方式，检测器模块被配置为对象的器官（例如，心脏）位于时间分辨率比较高的区域内。

根据本实施方式，提供一种通过将时间分辨率比较高的检测器模块与时间分辨率比较低的读出用电子设备连结，从而将PET装置中的时间分辨率均等化的方法。

接着，参照附图针对本实施方式所涉及的PET装置进行说明。图1是表示PET装置中的多个检测器模块的配置例的图。如图1所示，排列在圆周上的多个检测器模块构成检测器环。本实施方式所涉及的检测器模块的个数能够设定为任意的个数。在图1中，示出示例性地由40个检测器模块构成的检测器环。图1中的内侧的数值表示检测器模块的位置。设检测器环的顶点为1，检测器模块的位置逆时针方向旋转依次分配编号。图1中的外侧的数值表示检测器模块的时间分辨率的相对顺位。在该例子中，时间分辨率最高的检测器模块（第1位）和时间分辨率最低的检测器模块（第40位）被确定为一对。将确定两个检测器模块的对的步骤称为配对（pairing）。一对的检测器模块被配置为对置。同样地，将时间分辨率第二高的检测器模块（第2位）和时间分辨率第二低的检测器模块（第39位）进行配对。这样，在本实施方式中，以成为一对的两个检测器模块的相对顺位的合计大致相同的方式，将多个检测器模块配置在圆周上。以下，将两个检测器模块的对称为检测器模块对。

图2是表示基于检测器模块的性能信息的检测器模块对的确定方法的典型的流程的图。

如图2所示，在步骤S201中，取得搭载于检测器环的检测器模块的性能信息。作为性能信息，例如，能够列举各检测器模块的时间分辨率、空间分辨率或能量分辨率。另外，作为性能信息，也可以是与时间分辨率、空间分辨率、或能量分辨率类似的其他的信息。

在步骤S203中，根据所取得的性能信息，对各检测器模块添加顺位。

在步骤S205中，将最高顺位的（性能最优的）检测器模块与顺位最低的检测器模块进行配对。

在步骤S207中，确认是否对所有的检测器模块都进行了配对。当没有对所有的检测器模块进行配对时，在步骤S209中，将没有配对的检测器模块中性能顺位最高的检测器模块与性能顺位最低的检测器模块进行配对。接着，再次返回到步骤S207，确认是否对所有的检测器模块进行了配对。并且，在步骤S207中，当确认对所有的检测器模块进行了配对时，在步骤S211中结束检测器模块对的确定处理。

另外，检测器模块对的确定处理并不只限定于上述的处理。例如，检测器模块也可以以各检测器模块对的平均时间分辨率尽可能接近的方式，对两个检测器模块进行配对。

另外，也可以以定时性能比较低的任意的检测器模块与定时性能比较低的另一检测器模块配对的概率变低的方式，对两个检测器模块进行配对。

图3是表示搭载于本实施方式所涉及的PET装置的检测器环内的检测器模块对的第1配置处理的典型的流程的图。通过该第1配置处理，涵盖FOV全域性能进一步均匀化。另外，在图3的配置处理的开始时，假设检测器模块对已经通过图2所示的确定处理等进行了配对。

在步骤S301中，根据各检测器模块对中的顺位高的一方的检测器模块的顺位，对多个检测器模块对进行排序（sort）。例如，第1位的检测器模块对是包含最高顺位的检测器模块的检测器模块对。

在步骤S303中，第1位的检测器模块对所包含的两个检测器模块以相互对置的方式配置在检测器环内。第1位的检测器模块对所包含的两个检测器模块在相互对置这样的限制下，能够配置在检测器环的任意的位置。

在步骤S305中，将下一配置对象的检测器模块对中的顺位高的一方的检测器模块配置在上次的配置对象的检测器模块对中的顺位高的一方的检测器模块的右侧或者左侧的空余的位置。该配置对象的检测器模块对中的顺位低的一方的检测器模块被配置于该配置对象的检测器模块对中的顺位高的一方的检测器模块的相对的一侧。配置对象的检测器模块对被确定为没有配置的检测器模块对中的最高顺位的检测器模块对。

在步骤S307中，确认是否配置了所有的检测器模块对。当存在没有被配置的检测器模块对时，返回到步骤S30，配置没有被配置的检测器模块对。然后，在步骤S307中，当确认了所有的检测器模块都被配置时，在步骤S309中，配置处理结束。根据该配置方法，属于检测器模块对的两个检测器模块以它们的位置对于FOV的中心互为镜像的方式被配置在PET装置内。

图4A是三维地表示搭载于PET装置的检测器环所包含的160个检测器模块的配置例的图。图4B是平面地表示搭载于PET装置的检测器环所包含的160个检测器模块的配置例的图。如图4A以及图4B所示，检测器环包含沿着轴线排列的多个检测器模块。例如，检测器环包含沿着轴线显示的1至4的4个检测器模块位置、和在方位角方向逆时针方向旋转显示1至40的40个检测器模块位置。在图4A中，由线连接的第1以及第160对表示由在检测器环内相互对置地配置的第1位的检测器模块和第160位的检测器模块构成的检测器模块对。

图5是表示搭载于本实施方式所涉及的PET装置的检测器环内的检测器模块的第2配置处理的典型的流程的图。通过该第2配置处理，涵盖FOV全域性能进一步均匀化。另外，与图3中的配置处理相同，假设在开始图5的配置处理时已经将检测器模块对通过图2所示的确定处理等进行了配对。

在步骤S501中，根据各检测器模块对中的顺位高的一方的检测器模块的顺位，对多个检测器模块对进行排序（sort）。例如，第1位检测器模块对是包含最高顺位的检测器模块的检测器模块对。

在步骤S503中，第1位的检测器模块对中的顺位高的一方的检测器模块被配置在检测器环中的任意的方位角位置，即，被配置成尽可能接近轴线的中央平面。第1位的检测器模块对中的顺位低的一方的检测器模块被配置在顺位高的一方的检测器模块的相对的一侧。

在步骤S505中，将下一配置对象的检测器模块对中的顺位高的一方的检测器模块配置为尽可能接近上次的配置对象的检测器模块对中的顺位高的一方的检测器模块。将该配置对象的检测器模块对中的顺位低的一方的检测器模块配置于该配置对象的顺位高的一方的模块的相对的一侧。配置对象的检测器模块对被确定为没有配置的检测器模块对中的最高顺位的检测器模块对。

在步骤S507中，确认是否配置了所有的检测器模块对。当存在没有配置的检测器模块对时，返回到步骤S505，配置没有配置的检测器模块对。并且，当在步骤S507中确认配置了所有的检测器模块时，在步骤S509中结束配置处理。

另外，检测器模块的配置处理并不只限定于上述的处理。例如，为了优化时间分辨率的均匀性也可以考虑来自检测器模块的LOR。

另外，检测器模块也可以在空间上以时间分辨率不同的方式进行配置。通过将性能比较高的检测器模块定位在特定的范围或者位置，从而能够使FOV的时间分辨率在空间上不均匀。此时，当是特殊任务的摄像（例如，心脏摄像或者肿瘤摄像）时，摄像对象被配置在时间分辨率比较高的区域内。例如，当是心脏摄像时，以心脏位于时间分辨率比较高的区域内的方式对患者进行定位。

根据本实施方式，当读出用电子设备具有不均匀的定时性能时，为了进一步根据读出用电子设备的定时性能使时间分辨率均等化，也可以配置检测器模块。例如，安装于现场可编程逻辑门阵列（FPGA）的时间数字转换器（TDC：time-to-digital converter）有时具有不同的定时精度。读出用电子设备的定时性能通常能够通过作为制造过程的标准部分的、对于各电子基板的过去的性能试验得到。为了使PET装置的定时性能均等化，时间分辨率比较高的检测器模块为了得到均衡的性能，与定时性能比较低的读出用电子设备合并组装。此时，检测器模块的性能的顺位根据组合检测器模块、和在制造中与该检测器模块合并组装的读出用电子设备得到的性能来确定。

如上所述，检测器模块对在检测器环内的任意的位置相互对置地配置。从而，通过检测器环的中心附近的LOR的质量进一步均匀化。

图6是表示本实施方式所涉及的PET装置的结构的一个例子的图。如图6所示，光电倍增管135以及140被配置在光导130上，闪烁晶体的阵列105被配置在光导130下。闪烁晶体的第2阵列125被配设在闪烁晶体105的相反侧，光导115和光电倍增管195，110被配置在其之上。

在图6中，如果从被检体（未图示）放射γ射线，则γ射线向相互大致180°远离的方向行进。γ射线由闪烁晶体100以及120同时检测，当γ射线在既定的时限内由闪烁晶体100以及120检测出时，判断为是闪烁事件。即，γ射线检测器由闪烁晶体100以及120同时检测γ射线。

光电倍增管110、135、140、以及195与数据收集部150连接。数据收集部150包含构成为对来自光电倍增管的信号进行处理的硬件。数据收集部150测量γ射线的到达时间。数据收集部150生成2个输出（与光电倍增管135/140的组合相关的输出、和与光电倍增管110/195的组合相关的输出），通过上述两个输出对对于系统时钟（未图示）的识别器脉冲的时间进行符号化。当是TOF型PET装置时，数据收集部150一般以15～25ps的精度生成时间标记。数据收集部150测量各光电倍增管的信号（来自数据收集部150的输出中的4个）的振幅。

来自数据收集部150的输出被供给至CPU170。CPU170对来自数据收集部150的输出实施信号处理。信号处理包含来自数据收集部150的输出的能量以及位置、和对于各事件的来自时间标记输出的到达时间的推定。另外，为了改善能量、位置、以及时间的推定值的精度，信号处理也可以包含适用基于过去的校正的多个校正处理。作为个别的逻辑门，CPU170能够安装为特殊用途集成电路（ASIC）、现场可编程逻辑门阵列（FPGA）、或者其他的复杂可编程逻辑器件（CPLD）。FPGA或者CPLD的安装可以由VHDL、Verilog、或者其他的任意的硬件记述语言来符号化，符号在FPGA或者CPLD内可以直接保存于电子存储器，或者也可以保存于单独的电子存储器。另外，电子存储器也可以是ROM、EPROM、EEPROM、或者FLASH存储器等非易失性的。电子存储器还可以是静态或者动态RAM等易失性的、以及微控制器或者微处理器等处理器，也可以为了管理电子存储器、FPGA或者CPLD与电子存储器之间的相互作用而设置。

或者，CPU170也可以安装为保存于上述的电子存储器、硬盘驱动器、CD、DVD、FLASH驱动器、或者其他的任意的既知的存储介质的任一个的、计算机可读命令集。另外，计算机可读命令作为与美国英特尔公司（Intel）的Xenon处理器或者美国AMD公司的Opteron处理器等处理器、和Microsoft（注册商标）_VISTA（注册商标）、UNIX（注册商标）、Solaris（注册商标）、LINUX（注册商标）、Apple（注册商标）、MAC-OS、以及本领域的技术人员既知的其他的操作系统等操作系统联动地执行的、应用程序，背景程式、或者操作系统的组件、或者它们的组合来提供。

如果由CPU170进行处理，则处理完成的信号保存于电子存储装置180，或者显示于显示装置145。电子存储装置180也可以是硬盘驱动器、CD-ROM驱动器、DVD驱动器、FLASH驱动器、RAM、ROM、或者该领域中既知的其他的任意的电子存储装置。显示装置145也可以安装为LCD显示器、CRT显示器、等离子显示器、OLED、LED、或者该领域中既知的其他的任意的显示装置。

如图6所示，本实施方式所涉及的PET装置包含接口175。本实施方式所涉及的PET装置经由接口175，与其他的外部设备或用户通过接口连接。例如，接口175也可以是USB接口、PCMCIA接口、以太网（注册商标）接口、或者在该领域既知的其他的任意的接口。另外，接口175可以是有线的也可以是无线的，或者是键盘或鼠标、是与用户进行相互作用的在该领域中既知的其他的人机接口设备。

图7是表示在本实施方式所涉及的检测器模块的时间分辨率的测量中所使用的改良型的PET装置的结构的一个例子的图。如图7所示，基准检测器400以及试验用检测器（DUT：detector under test）500被配置在⁶⁸Ge或者²²Na等放射性同位素300的两侧。放射性同位素300放射具有511keV的一对γ射线。基准检测器400包含基准检测器闪烁体晶体200和基准检测器光传感器205。

在通过收集系统对同时计数判定窗口（coincidence window）内的事件进行了配对之后，定时频谱看上去如图8那样。通过真的同时计数事件的一小部分，得到在基准检测器400以及试验用检测器500的双方中大致同时检测的γ射线，生成图8所示的那样的瞬发同时计数峰值（prompt coincidence peak）。除了同时计数事件之外，各检测器还检测对应的γ射线没有被相对的一侧的检测器检测的单一的γ射线。例如，一部分的γ射线不会发生相互作用而通过检测器。这些单一γ射线也可以通过收集系统，与相对的一侧的检测器中的其他的单一γ射线不规则地配对。这些不是真的同时计数，因此，它们的时间分布不规则，因此，得到图8所示的那样的、定时频谱的偶发同时计数的连续分量（randomcoincidence continuum）。对于检测器对（即，试验用检测器500以及基准检测器400）的测量时间分辨率Δt_measured也可以与减去偶发同时计数的连续分量之后的定时频谱的半最大值全宽度（FWHM）相等。

通过检测器各自的时间分辨率的平方的加法的平方根（add in quadrature），得到测量时间分辨率Δt_measured。从而，假设基准检测器400的时间分辨率是既知的，试验用检测器500的时间分辨率可以通过下式来提供。

【数学公式1】

$\begin{array}{c}{\mathrm{\Δt}}_{\mathrm{measured}=\sqrt{{\left(t_{\mathrm{reference}}\right)}^2+{\left(\mathrm{\Δ}{t}_{\mathrm{DUT}}\right)}^2}}\\ \⇒{\mathrm{\Δt}}_{\mathrm{DUT}}=\sqrt{{\left(\mathrm{\Δ}{t}_{\mathrm{measured}}\right)}^2-{\left(\mathrm{\Δ}{t}_{\mathrm{reference}}\right)}^2}\end{array}$

式中，Δt_DUT表示试验用检测器500的时间分辨率，Δt_reference表示基准检测器400的时间分辨率。

接着，针对首先测量基准检测器400的时间分辨率的方法进行叙述。根据本实施方式，基准检测器400包含光电倍增管上的单晶体，但也可以代替它为多像素。此时，确定各像素的时间分辨率。

当是具有未知的时间分辨率Δt_A、Δt_B、以及Δt_C的3个基准检测器A、B、以及C时，测量所认为的检测器对的时间分辨率，即，Δt_AB、Δt_AC、以及Δt_BC。另外，未知的时间分辨率也可以是4个以上。接着，求以下的一组一次方程式（在测量中存在某些不可靠性/噪音，因此，是指最小平方）的解，确定Δt_A、Δt_B、以及Δt_C。

【数学公式2】

$\left[\begin{array}{ccc}1& 1& 0\\ 1& 0& 1\\ 0& 1& 1\end{array}\right]\left[\begin{array}{c}\mathrm{\Δ}{t}_A^2\\ \mathrm{\Δ}{t}_B^2\\ \mathrm{\Δ}{t}_C^2\end{array}\right]=\begin{array}{}\end{array}\begin{array}{}\end{array}\left[\begin{array}{c}\mathrm{\Δ}{t}_{\mathrm{AN}}^2\\ \mathrm{\Δ}{t}_{\mathrm{AC}}^2\\ \mathrm{\Δ}{t}_{\mathrm{BC}}^2\end{array}\right]$

也可以将3个基准检测器A、B、或者C中的任一个作为基准检测器400来使用。根据一实施例，使用时间分辨率最低的基准检测器。

确定基准检测器的时间分辨率的代替方法是构筑2个名义上相同的基准检测器（即，闪烁体晶体的种类以及尺寸相同，晶体的周围的反射器的种类相同，晶体与PMT之间的光耦合化合物相同，PMT的种类相同等）。由此，2个名义上相同的基准检测器的时间分辨率能够假定为相同，能够通过下式得到。

【数学公式3】

$\begin{array}{c}\mathrm{\Δ}{t}_{\mathrm{measured}}=\sqrt{{\left(\mathrm{\Δ}{t}_{\mathrm{reference}}\right)}^2+{\left(\mathrm{\Δ}{t}_{\mathrm{reference}}\right)}^2}=\sqrt{2\·{\left(\mathrm{\Δ}{t}_{\mathrm{reference}}\right)}^2}=\sqrt{2}\·\mathrm{\Δ}{t}_{\mathrm{reference}}\\ \⇒\mathrm{\Δ}{t}_{\mathrm{reference}}=\frac{\mathrm{\Δ}{t}_{\mathrm{reference}}}{\sqrt{2}}\end{array}$

图9是表示本实施方式所涉及的、用于测量时间分辨率的测量装置的结构例的图。基准检测器和试验用检测器被放置在放射性同位素的两侧。该放射性同位素放射具有511keV的一对湮没γ射线。该放射性同位素例如能够列举⁶⁸Ge或者²²Na等。试验用检测器与时间选截（time pick-off）模块（例如，比较器）连接，时间选截模块与时间振幅转换器（TAC：time-to-amplitude converter）的开始输入连接。基准检测器与时间选截模块（例如，比较器）连接，时间选截模块与固定延迟模块连接，固定延迟模块与TAC的停止输入连接。TAC的输出与多通道分析器（MCA：multi-channel analyzer）连接。在图9中，只示出定时通道。本实施方式所涉及的测量装置以记录各事件的能量，只将既定的能窗内的事件取入MCA的方式，搭载逻辑电路。

图10是表示本实施方式所涉及的、测量时间分辨率的测量装置的另一结构例的图。基准检测器和试验用检测器被放置在放射性同位素的两侧。该放射性同位素放射具有511keV的一对湮没γ射线。该放射性同位素例如能够列举⁶⁸Ge或者²²Na等。基准检测器以及试验用检测器与时间选截模块（例如，比较器）连接，时间选截模块与时间数字转换器（TDC）连接。各TDC与同一处理装置连接。处理装置确定同时计数，生成定时直方图。在图10中，只示出定时通道。本实施方式所涉及的测量装置还记录各事件的能量，通过处理装置只将既定的能量窗口内的事件进行直方图化。

在上述的记载中，流程图中的所有的过程、叙述、或者框应该理解为表示包含用于实现过程中的特定的逻辑功能或者步骤的1个或者多个可执行命令的模块、段、或者编码的部分，代替的实施例包含于本发明的示例的实施例的范围内，此时，如本领域的技术人员所理解的那样，也可以根据相关的功能性，以包含实质上同时或者相反的顺序的、图示或者与所考察的顺序不同的顺序来执行功能。

针对特定的实施例进行了说明，但这些实施例只是作为一个例子而提示的，并没有限定本发明的范围。实际上，本说明书所记载的新的方法、装置、以及系统可以以各种其他的方式进行具体化，另外，在不脱离本发明的要旨的范围内，本说明书所记载的方法、装置、以及系统的形态能够进行各种省略、置换、以及变更。附加的权利要求项以及其等价物将该方式或者修正包含于本发明的范围以及要旨的范围内。

虽然说明了本发明的几个实施方式，但这些实施方式是作为例子而提示的，并不意图地限定本发明的范围。这些实施方式能够以其他的各种方式进行实施，在不脱离发明的要旨的范围内，能够进行各种的省略、置换、变更。这些实施方式或其变形与包含于发明的范围或要旨中，并且包含于权利要求书记载的发明及其均等的范围中。

Claims (7)

1.一种检测器模块的配置确定方法，是确定多个检测器模块在γ射线检测器内的配置的方法，该多个检测器模块构成为将响应起因于湮没事件产生的入射γ射线而产生的光转换成电信号，上述配置确定方法的特征在于包括：

取得工序，取得上述多个检测器模块中的每一个检测器模块的性能信息；

相对的位置的确定工序，根据上述取得的性能信息，确定上述γ射线检测器内的上述多个检测器模块中的每一个检测器模块的相对的位置；和

配置工序，为了形成搭载于上述γ射线检测器的检测器环，根据上述确定的相对的位置，在上述γ射线检测器内配置上述多个检测器模块，

上述相对的位置的确定工序根据上述取得的性能信息，从上述多个检测器模块中确定多个对，

上述配置工序以构成上述多个对的每一个对的两个检测器模块在上述检测器环中相互离开180°而就位的方式，将上述多个对配置在上述检测器环内，

上述相对的位置的确定工序根据上述性能信息对上述多个检测器模块添加顺位，以上述多个对实质上具有相同的平均顺位的方式，从上述多个检测器模块中确定上述多个对。

2.根据权利要求1所述的检测器模块的配置确定方法，其特征在于：上述取得工序取得上述多个检测器模块中的每一个检测器模块的时间分辨率信息以作为上述性能信息。

3.根据权利要求1所述的检测器模块的配置确定方法，其特征在于：上述相对的位置的确定工序为了使上述γ射线检测器整体的时间分辨率至少部分地均等化，确定上述多个检测器模块中的每一个检测器模块的上述相对的位置。

4.根据权利要求1所述的检测器模块的配置确定方法，其特征在于：

上述多个检测器模块中的每一个检测器模块具有接收上述电信号的数据收集部，

上述检测器模块的配置确定方法还包括确定上述数据收集部的每一个的性能信息的工序，

上述相对的位置的确定工序还根据上述数据收集部的每一个的性能信息确定上述相对的位置。

5.根据权利要求1所述的检测器模块的配置确定方法，其特征在于：

上述相对的位置的确定工序还具备：

为了最佳化上述γ射线检测器的时间分辨率的均匀性，根据来自上述多个检测器模块的多个LOR确定上述相对的位置的工序。

6.一种γ射线检测器，具备被配置成形成检测器环的多个检测器模块，其特征在于：

上述多个检测器模块中的每一个检测器模块构成为将响应起因于湮没事件产生的入射γ射线而产生的光转换成电信号，根据上述多个检测器模块中的每一个检测器模块的性能特性而被配置于上述检测器环内，

根据上述多个检测器模块中的每一个检测器模块的性能特性，从上述多个检测器模块中确定多个对，

以构成上述多个对的每一个对的两个检测器模块在上述检测器环中相互离开180°而就位的方式，将上述多个对配置在上述检测器环内，根据上述性能特性对上述多个检测器模块添加顺位，以上述多个对实质上具有相同的平均顺位的方式，从上述多个检测器模块中确定上述多个对。

7.一种PET装置，其特征在于：

具备检测来自被检体的γ射线的γ射线检测器，

上述γ射线检测器具有被配置为形成检测器环的多个检测器模块，

上述多个检测器模块中的每一个检测器模块构成为将响应起因于湮没事件产生的入射γ射线而产生的光转换成电信号，根据上述多个检测器模块中的每一个检测器模块的性能特性而被配置于上述检测器环内，

根据上述多个检测器模块中的每一个检测器模块的性能特性，从上述多个检测器模块中确定多个对，

以构成上述多个对的每一个对的两个检测器模块在上述检测器环中相互离开180°而就位的方式，将上述多个对配置在上述检测器环内，

根据上述性能特性对上述多个检测器模块添加顺位，以上述多个对实质上具有相同的平均顺位的方式，从上述多个检测器模块中确定上述多个对。