CN103909446A - 一种用于外径千分尺测量的支撑定位装置 - Google Patents

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王雨
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
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Abstract

本发明涉及外径千分尺测量的支撑定位技术领域,具体地说是一种用于外径千分尺测量的支撑定位装置。传统立车、立磨在外圆测量时方法通常为,先将外径千分尺尺架,平放于左右两臂,左右手各握外径千分尺,测砧和测微螺杆的护套处,右手同时用拇指、食指旋拧棘轮旋柄,测量费时、费力,而且易产生测量误差。本发明由V型支板、沉头螺钉、联接盘、升降套、长螺杆、锁紧螺母、支架底座构成。升降套、支架底座可独立沿长螺杆做上、下移动和定位。升降套带动V型支板做上下移动的同时,V型支板也可做独立360°旋转运动。本发明结构合理、操作简单,可在立车、立磨测量已加工外圆表面时,排除千分尺重量对测量结果的影响,提高测量的准确率。

Description

一种用于外径千分尺测量的支撑定位装置
技术领域
本发明涉及用于外径千分尺测量的支撑定位技术领域,具体地说是一种用于外径千分尺测量的支撑定装置,是在立车、立磨测量已加工外圆表面时,用于外径千分尺测量而使用的支撑定位装置,彻底解决因千分尺重量因素对测量结果的影响,有效提高测量的准确率。
背景技术
在立车、立磨测量已加工外圆表面时,传统的外径千分尺测量方法一为:先将外径千分尺尺架,平放于左右两臂,左右手用力握住外径千分尺,测砧和测微螺杆的护套处,右手同时用拇指、食指旋拧棘轮旋柄;方法二为:左手用力握住外径千分尺尺架中部,右手用拇指、食指旋拧棘轮旋柄。方法三为:左手用力握住外径千分尺支架中部,左臂悬垂伸出,使外径千分尺于被测外圆水平线重合,右手旋转棘轮旋柄。以上三种方法,都是将外径千分尺的全部重量,传递到测量者的手腕和双臂上,同时还要找正测量位置,再用右手拇指、食指旋拧棘轮旋柄,费时、费力测量误差大。长时间用力抓握外径千分尺的尺架,手臂、手腕易产生疲劳,测量准确率大幅下降。
发明内容
本发明的目的是提供一种用于外径千分尺测量的支撑定位装置,彻底解决传统测量方法,因为外径千分尺自身重量原因,造成在测量已加工外圆表面时产生的测量误差,有效提高测量的准确率。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:在立车、立磨测量已加工外圆表面时,将外径千分尺测量的支撑定位装置的支架底座,水平摆放于已加工外圆柱的端面上,长螺杆与已加工外圆中心线大致重合即可,再将外径千分尺的尺架中部架在V型支板的V型凹槽内,手动旋转升降套在长螺杆的上部做上下垂直移动,使外径千分尺的测砧、测微螺杆的测量端面,到达外圆柱的已加工外圆表面,操作者左手轻轻扶住外径千分尺的测砧套外部,右手握住棘轮旋柄,做上下、左右轻微摆动,找到被测外圆表面的最高点,用拇指、食指旋拧棘轮旋柄,即可。现在可以松开双手,观察外径千分尺的测砧、测微螺杆的测量端面,与已加工表面位置是否正确,并读取测量数值。如果还要测量已加工外圆表面的不圆度,可再次松开棘轮旋柄,将V型支板与外径千分尺同时,在外径千分尺测量的支撑定装置上旋转90°或任意角度,再次测量已加工表面,即可。
本发明的有益效果是,整体结构设计合理,操作使用方便,外径千分尺的全部重量都传递到支撑定装置上,又从支撑定装置分三等份,传递到被测量外圆柱的端面,支撑牢固可靠,有效的解放出双手,使双手只用于测量位置的寻找,每次测量的使用时间都比传统测量方法用时短,而且准确度高。尤其在大规格外径千分尺测量时,效果更加明显。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明的外径千分尺测量的支撑定装置(主视图)。
图2是本发明的V型支板(主视图)。
图3是本发明的V型支板(左视图)。
图4是本发明的V型支板、沉头螺栓、连接盘、升降套(主视图)。
图5是本发明的长螺杆、锁紧螺母、支架底座(俯视图)。
图6是本发明的测量示意图。
具体实施方式
图中:1、V型支板,2、沉头螺钉,3、联接盘,4、升降套,5、长螺杆,6、锁紧螺母,7、支架底座。
从图1~5中可知,外径千分尺测量的支撑定位装置由:V型支板1、沉头螺钉2、联接盘3、升降套4、长螺杆5、锁紧螺母6、支架底座7组成。
从图2~4中可知,V型支板1的顶部有一个与外径千分尺尺架匹配的V型凹槽,夹角为120°。
从图4中可知,联接盘3的中间孔与升降套4的外圆为孔轴间隙配合,升降套4的顶面与V型支板1的底面之间有0.5mm间隙。
测量外圆柱已加工表面时,将外径千分尺测量的支撑定位装置的支架底座7,水平摆放于已加工外圆柱的端面上,长螺杆5与已加工外圆中心线大致重合即可,再将外径千分尺的尺架中部架在V型支板1的V型凹槽内,手动旋转升降套4在长螺杆5的上部做上下垂直移动,使外径千分尺的测砧、测微螺杆的测量端面,到达外圆柱的已加工外圆表面,操作者左手轻轻扶住外径千分尺的测砧套外部,右手握住棘轮旋柄,做上下、左右轻微摆动,找到被测外圆表面的最高点,用拇指、食指旋拧棘轮旋柄,即可。现在可以松开双手,观察外径千分尺的测砧、测微螺杆的测量端面,与已加工表面位置是否正确,并读取测量数值。如果还要测量已加工外圆表面的不圆度,可再次松开棘轮旋柄,将V型支板与外径千分尺同时,在外径千分尺测量的支撑定装置上旋转90°或任意角度,再次测量已加工表面,即可。

Claims (2)

1.一种用于外径千分尺测量的支撑定位装置,其特征是:V型支板(1)、沉头螺钉(2)、联接盘(3)、升降套(4)、长螺杆(5)、锁紧螺母(6)、支架底座(7)组成;升降套(4)插入联接盘(3)的中间通孔;V型支板(1)左右两侧,分别由两条沉头螺钉(2)与联接盘(3)螺纹固定连接在一起;升降套(4)中心螺纹孔旋拧与长螺杆(5)顶部;锁紧螺母(6)和支架底座(7)分别顺序旋拧与长螺杆(5)底部。
2.根据权利要求1所述的一种用于外径千分尺测量的支撑定位装置,其特征在于:联接盘(3)的中间孔与升降套(4)的外圆为孔轴间隙配合;升降套(4)的顶面与V型支板(1)的底面之间有0.5mm间隙;V型支板(1)的顶部有一个与外径千分尺尺架相匹配的V型凹槽,夹角为120°。
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