CN103874928A - 用于测量至少一个太阳能电池或光伏模组的电势诱导衰减的方法及其在制备太阳能电池和光伏模组中的用途 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种用于测量至少一个太阳能电池的电势诱导衰减(PID)的方法。根据本发明,导电塑性材料压在各个太阳能电池的上面或下面,特别是上面上,且高于50伏特的直流电压施加到塑性材料和各个太阳能电池之间。可选地,电晕放电可以施加到太阳能电池或光伏模组。在一个实施例中,以时间间隔重复测量各个太阳能电池或光伏模组的电气特征。根据本发明的方法可以在单独的太阳能电池上实施,在通过测试并且不需要另外的复杂制备的条件下,这些单独的太阳能电池可以进一步直接处理以制备例如光伏模组。原则上,本方法也适于在整个光伏模组上进行测量。

Description

用于测量至少一个太阳能电池或光伏模组的电势诱导衰减的方法及其在制备太阳能电池和光伏模组中的用途
本申请要求于2011年6月5日提交的德国专利申请DE102011104693.7、名称为“Methodfor measuring the high-voltage degradation ofat least one solar cell”以及2011年6月16日提交的德国专利申请DE102011051112.1、名称为“Method for measuring the high-voltagedegradation ofat least one solar cell orphotovoltaic module”的优先权,其全部内容通过引用清楚地并入本文。
技术领域
本发明总体上涉及一种用于测量太阳能电池的高压衰减(高压应力(HVS)或电势诱导衰减(PID))的方法,更具体地涉及一种用于测量至少一个太阳能电池的高压衰减的方法。根据优选的实施例,在该方法中,将弹性的导电塑性材料压在各个太阳能电池上,且按规则的时间间隔重复测量各个太阳能电池的特征电气参数。其他的应用还涉及备用的光伏模组的高压衰减以及相应特征的测量。本发明的另一方面涉及这种方法在太阳能电池或光伏模组的制备中的用途。
背景技术
典型的光伏模组包括通过金属连接器串联连接的多个太阳能电池。这些太阳能电池层压成绝缘的嵌入材料,用于防止天气状况的影响。现在,光伏模组中串联的太阳能电池或者串联成系统的几个这种光伏模组规则地产生数百伏特的系统电压,从而导致太阳能电池和地电势之间的高电场,高电场通过串联电路导致非期望的位移电流和泄漏电流。结果是,特别是电荷会地持续地沉积在太阳能电池的表面,从而显著地降低并联电阻,因此降低其效率。在光伏模组中,这一过程尤为可能并得以维持,这是因为,太阳能电池在该模组中没有被密封地封装并隔离,而由于材料特性,这是可能的。太阳能电池所嵌入的封装材料、模组框架、甚至是前盖玻璃都允许泄漏电流的形成。这些情况不仅存在于晶体硅太阳能电池中,而且存在于薄膜太阳能电池中。
2010年9月6日至10日,在西班牙巴伦西亚市举办的第五届光伏能量转换国际会议文章,“Potential Induced Degradation of solar cells and panels”(Hold J.Berg,O.Frank等,第3753-3759页),以及2010年第35届IEEE PVSC会议文章“Potential InducedDegradation of solar cells and panels”(S.Pingel,O.Frank等)公开一种测试模组的方法,其中恒定的连续的水膜被喷洒到前盖玻璃上,或其中设置了例如85%的高湿度,且在电池阵列和模组框架之间施加高压。以重复的间隔的方式去除水膜,并测量特征电气参数,特别是光照下的电流-电压特征或分路电阻。有时也将导电涂层涂到模组的前侧。这种情况下,在测量光照下的电流-电压特征之前,必须费时地去除导电涂层。
这些测试方法涉及完成的光伏模组,其中,通过水膜或导电涂层提高前侧上的导电性。另一方面,并不存在可靠的测试单独的太阳能电池的方法,尤其是快速测试。因此,在单独的太阳能电池没有安装在光伏模组中之前,不可能评估单独的太阳能电池,并且不可能挑选出受损的电池。同样,避免使用水或高湿度或导电涂层的光伏模组的快速测试也不存在。
EP1274760B1和US2007/0246094A1公开了用于太阳能电池的塑性材料的电极,该电极通过层沉积技术固定地连接到半导体表面,或者以测量用尖端电极(仅可以局部地应用在表面上)的形式存在。
从EP1024369A1中,可拆卸的大面积的电极以电解质的形式已知,但这代表一种不同的方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种简单方法,就电荷的应用方面,用于可靠而快速地测试太阳能电池的稳定性。其他的应用还包括用于备用的光伏模组的相应的测试方法。
根据本发明,这些问题可以通过根据权利要求1所述的测量至少一个太阳能电池或者光伏模组的高压衰减的方法以及根据权利要求36所述的这种方法的用途来解决。另外有利的实施例是从属权利要求的主题。
在根据本发明的用于测量至少一个太阳能电池的高压衰减(PID)的方法中,将导电塑性材料,特别是具有一定弹性的导电塑性材料,例如,合适的弹性体树脂或泡沫,压在各个太阳能电池的前侧上或底侧上,特别是该前侧上;将(大于50伏特,特别是可以达到数百伏特量级,例如6500伏特的)直流电压施加在导电塑性材料和各个太阳能电池之间。优选地,各个太阳能电池直接放置在接地的基板(例如不锈钢基板)上。优选地,直流电压被均匀地施加在各个太阳能电池的前侧上和底侧上,特别是该前侧上。出人意外的是,经证实通过这种测试条件可以很好地模拟真实的操作条件。特别地,可以容易而且可靠地检测泄漏电流,且不必为此而将各个太阳能电池暴露于潮湿环境又甚或是永久性水膜的条件下。相反,根据本发明,各个太阳能电池可以基本在干燥条件下用可靠的方式测试,因此,在成功地通过测试之后,各个太阳能电池可以直接安装到光伏模组中,不需要为了恰当处理各个太阳能电池以使其用于安装而进行的复杂的清洗过程及进一步的处理步骤。
通过高压电极将高压施加到导电塑性材料,其中,优选地,导电泡沫材料的整个后侧,即,泡沫的远离所述太阳能电池的前侧或底侧特别是远离该前侧的一侧,在与太阳能电池相对的部分涂有导电层,特别是金属层或金属镀层(metallization)。由此,电荷可以分布得更均匀。
根据实施例,在施加高直流电压时,按时间间隔重复地测量各个太阳能电池的特征电气参数,例如电压-电流特征曲线(UI特征)和/或分路电阻,以表征各个太阳能电池并获得数据,基于此,可以评估用于安装到光伏模组中的各个太阳能电池的质量和可接受性。
为提供可靠的测试条件,优选地,对导电塑性材料施加预定的压力,该预定的压力均匀地施加在各个太阳能电池或所有太阳能电池的整个表面上,其中,优选地,调节该压力,从而使泡沫保持其弹性特征以便可再次用于新的测试。其中,应该遵守某一最小压力,以保证泡沫的整个表面接触到各个太阳能电池的前侧上或底侧上,特别是该前侧上;该压力可以是例如0.3kPa。
特别是弹性泡沫是合适的导电塑性材料,该导电塑性材料基于苯乙烯或聚氨酯制备的塑性材料制备,特别是在惰性气体气氛下,特别是在惰性稀有气体的气氛下制备。此外,导电塑性橡胶和硅也是合适的材料。
为了使压力均匀地施加到各个太阳能电池的整个区域,通过隔离塑性平板施加压力,该压力作用于导电塑性材料的背侧上。此处,特别地可以使用纤维增强型塑性平板,从而实现相对高的抗弯刚度,并进而在作用在塑性平板上的局部力的情况下实现压力的均衡。
根据另一实施例,通过至少一个电极来施加来自于高压电源的直流电压,该至少一个电极连接到各个太阳能电池的远离背侧(即,上述远离导电泡沫材料的各个太阳能电池的前侧或底侧,特别是该前侧)并接触直流电压的一侧。
优选地,在第一方法步骤和第二方法步骤中,第一电压和第二电压分别施加到太阳能电池和对电极之间,或者光伏模组的电池阵列和对电极之间。为此,太阳能电池或光伏模组的背侧适当地支撑在接地基板上,其中前述第一电压和第二电压分别通过对电极施加到太阳能电池或光伏模组的前侧或底侧,特别是该前侧。特别地,压在太阳能电池或光伏模组的前侧或底侧特别是该前侧的弹性的导电塑性材料适于作为对电极。适当地,对电极全表面接触太阳能电池或光伏模组的前侧或底侧,特别是该前侧,且出于此目的,对电极通过压力平板等压在太阳能电池的前侧或底侧,特别是该前侧。对电极不必毗邻太阳能电池或光伏模组的前侧或下侧特别是该前侧的整个表面,但根据进一步的优选实施例中,对电极毗邻太阳能电池或光伏模组的前侧或下侧特别是该前侧的整个表面。
根据进一步的实施例,使用测量电极来测量太阳能电池的特征电气参数,测量电极通过隔离套筒特别是塑性套筒穿过导电塑性材料,并且接触各个太阳能电池的前侧或底侧,特别是该前侧,优选地接触各个太阳能电池的前侧上的金属镀层。为接触太阳能电池的前侧,触点接触就足够了。这种情况下,导电塑性材料的厚度可能会变化,例如依赖于执行的测试条件或因为加压而变化。因此,测量电极套筒优选地构造为高度可调节。
可选地,在背面接触太阳能电池的情况下,设备的背侧上设置至少两个单独的触点。
优选地,为了保证太阳能电池的均匀充电,导电塑性材料的薄层电阻(即,电阻率/厚度)的范围为105Ω/sq至1011Ω/sq。
根据另一实施例,通过以多路复用器以预定的顺序以及在预定的时间间隔连接或切换太阳能电池而依次测量多个太阳能电池的特征电气参数,从而实施各个测量。根据另一实施例,在将导电塑性材料压到各个太阳能电池的前侧或底侧特别是该前侧上以及施加直流电压时,也可以测量每个太阳能电池的特征电气参数。
根据另一可选实施例,电晕放电被施加到各个太阳能电池或多个太阳能电池上,且按时间间隔重复测量各个太阳能电池的特征电气参数。在这个实施例中,上述导电塑性材料不是必须的;相反,电晕放电也可以在气体气氛(特别是空气)下施加。通过测量电极以相应的方式进行测量,如上所述,该测量电极局部接触太阳能电池的前侧或底侧,特别是该前侧。
优选地,特征电气参数为各个太阳能电池的电压-电流特征曲线和/或分路电阻,以延长的时间段(例如以24小时)测量特征电气参数。基于各个特征参数的时间依赖性,确定高压衰减是可能的。
根据另一实施例,测试条件也可以包括较高的环境湿度和/或温度,为此,待测试太阳能电池也可以插入到人工气候室等,人工气候室中设置了这些参数的预定的值和/或随时间变化的值。湿度例如可以为85%,温度例如可以为85℃。
本发明的另一方面还涉及上述方法的用途,用于测量其中安装了多个太阳能电池的光伏模组的高压衰减。于此,导电塑性材料接触到光伏模组的前侧,特别是前盖玻璃,或电晕放电被施加到此区域。在一个实施例中,用相应的方式同时测量特征电气参数。即使是在这种条件下,在施加高压时,仍然可以以相当简单而可靠的方式测量备用的光伏模组的泄漏电流、电流-电压特征、分路电阻等。
附图说明
进一步的特征、优点及要解决的问题将从下面参考附图以示例方式对本发明的描述中变得明显,其中:
图1是光伏模组的层状结构的示意性截面图,导电塑性材料被施加到前盖玻璃上用于实施根据本发明的测试方法;
图2在示意性剖视图中示出了用于多个光伏模组的同时衰减和测量的测量设备;
图3示出了实施根据本发明的方法的测量设备的示意性表示;和
图4示出了使用根据本发明的方法所得到的测量曲线。
附图标记列表
1  导电塑性材料
2  玻璃
3  电池前侧上的嵌入材料
4  太阳能电池
5  电池背侧上的嵌入材料
6  背罩板
7  压力平板
8  光伏模组
9  垫片
10 导杆
11 滑动部件
15 测量设备
16 基板
17 高压接触电极
18 测量触点
20 高压电源
21 多路复用器
22 仪表(数字万用表或4象限源)
23 分析装置(计算机)
具体实施方式
参考图1,首先描述光伏模组的示意性结构,对该光伏模组可执行根据本发明的测量方法。光伏模组包括多个太阳能电池4,太阳能电池4嵌入或封装在嵌入材料3、5(例如EVA)中的前侧或后侧上,从而提供气密性封装以及防风雨隔离。此外,以通常方式在后侧设置背罩板6。在前侧上,用盖玻璃板2覆盖光伏模组。这种层状结构用已知方式包含在框架(未示出)中。导电塑性材料1通过压力平板7压住盖玻璃板2,且在塑性材料1和太阳能电池4之间施加高压。在进一步的实施例中,使用第二光伏模组取代压力平板7,也在第二光伏模组的电池阵列和塑性材料1之间施加高压。
首先,使用太阳能电池4的高压衰减的测量的例子,下面将参考图3描述用于执行根据本发明的方法的测量装置15的基本结构。测量装置15支撑在接地基板16上,接地基板16优选地由不锈钢制成。太阳能电池4的后侧支撑在基板16上。如图3所示,导电塑性材料1压在太阳能电池4的前侧上。导电塑性材料1优选地具有范围为105Ω/sq至1011Ω/sq的薄层电阻(=电阻率/厚度)。远离太阳能电池4的导电塑性材料1的后侧可以设置有金属板1或金属镀层(如图3所示,无附图标记)。通过压力平板7对弹性塑性材料1均匀地加压,该压力平板优选地由纤维增强型塑料制成。这导致了塑性材料1在太阳能电池4的顶面上的全表面接触,同时保持了基板16与太阳能电池4之间良好的电接触以及压力平板7与太阳能电池4之间的恒定的电势差。更具体地,恒定的电势差通过对金属板或金属镀层施加适当的电压(优选地,高电压)而产生,其中太阳能电池4的后侧的整个表面接触接地基板16。压力平板7不仅用于施加压力,而且用于隔离环境影响。为将高压施加到金属板或金属镀层上,至少一个高压接触电极17延伸穿过压力平板7到达金属板或金属镀层,每个高压接触电极17连接到高压电源20。高压接触电极17适当地旋入隔离接触套筒。高压接触电极17相对于压力平板7电隔离。
可选地,基板16是隔离的,因此,可以将高压施加到基板,且可以将地电势施加到导电塑性材料。
对本领域技术人员来说很明显的是,电压也可以以相应的方式施加到待测量与评估的光伏模组。
此外,至少一个隔离接触套筒18旋入压力平板17,在至少一个隔离接触套筒18中插入测量触点,测量触点接触太阳能电池4的前侧,特别是待评估太阳能电池4的前表面金属镀层,以测量特征电气参数。优选地,测量触点接触太阳能电池4的前表面金属镀层。在没有前表面金属镀层的背面接触太阳能电池的情况下,可选地在设备的背侧上设置至少两个单独的端子。
如果太阳能电池4没有前侧金属镀层,如背面接触太阳能电池那样的情况,基板就由隔离塑性材料取代不锈钢制成,且基板设置有导电通路,还可能设置有触点引脚,这样就可以分别接触太阳能电池的两极,从而测量电气特征量。
在这种构造中使用的材料,特别是使用的塑性材料,适合于高达130℃的温度,其中压力平板7和基板16之间的平板距离可在10mm与20mm之间调节。接触套筒18构造为其高度可调节。为了保证导电塑性材料1不会在测试中横向滑动,在压力平板7上设置有定位构件,定位构件例如配备为使塑性材料保持在原位的横向突出物。
如图3所示,基板16连接到地电势,高压接触电极17连接到高压电源20。通过测量触点18形成的每个测量点,通过反向设置的齐纳二极管对Z1...Z40,平行连接到测量装置22,特别是数字万用表,从而防止测量过程中出现不需要的电压尖峰。如果在测量过程中在测量触点18处出现例如大于12伏特或小于-12伏特的电压,则反向设置的齐纳二极管对会穿通并造成短路。通过多路复用器21,通过接通或接转各个测量触点18,以预定的时间顺序在对应于前述接触套筒的多个离散的测量点18处依次测量特征电气参数。测量装置22的输出信号传递到分析装置23(例如计算机),分析装置分析测量数据和/或准备对其进行图形分析。
为在单独的太阳能电池处测量,通过提供标准大小的不同测试场(例如4英寸乘以4英寸,5英寸乘以5英寸,6英寸乘以6英寸,7英寸乘以7英寸),这些太阳能电池可被保持在基板16上的预定的位置,这些测试场凹入到基板的前侧中,例如以对应于各个待测量太阳能电池的大小的合适大小的凹槽的形式,特别是蚀刻或雕刻形式。
于此,包括基板16、导电的弹性的塑性材料1和压力平板7的整个测量区域也可以设置在人工气候室中,该人工气候室中可模拟任何适宜的环境条件,包括高温(例如85℃)和/或预定的相对湿度(例如85%)。另外地或可选地,只有导电塑性材料和/或待测量太阳能电池或待测量光伏模组可以保持在预定的温度(例如40℃之上)。
为了实现快速测试,优选地将数百伏特的电压(例如1000伏特)施加到导电塑性材料1和待测试太阳能电池或待测试光伏模组之间。模组或太阳能电池以特定的时间间隔重复地断开电压,从而确定特征电气参数,特别是电流-电压特征(IU)、黑暗条件下的特征和/或明亮条件下的特征和/或分路电阻。可选地,也可在不中断高电压的情况下测量特征电气参数。应当注意的是,通常也可以施加较高的电压,如前面所述,特别是高达6500伏特的电压。
图4示出了用于在1350分钟的时间段内重复测量的八个太阳能电池的示例性波形。图4为各个分路电阻随时间变化的曲线。很明显,短时间后,有些电池已经衰减了,因此,不适宜进一步用于安装到光伏模组中。
从图4中可知,例如,如果测量的特征电气参数或由其获得的量并不在预定范围内或超出预定阀值或低于预定阀值,则可用有意义的方式在相对较短时间段内(例如一晚上或一个工作日)评估及可能挑选出太阳能电池。
为保证可再现的结果,导电的弹性的塑性材料对于光伏模组的玻璃表面的压力应当以可再现的方式设置为恒定值。为此,可使用例如图2所示的夹持装置,其中插入有各个导电塑性层1的多个光伏模组8沿导杆10夹持。垫片9环绕导杆10并横向布置在每两对光伏模组8之间,从而将压力均匀地施加到插入有导电塑性材料1的各对光伏模组8。在这种夹持装置中,压力必须均匀地施加到横向滑动部件11,可通过例如最终盖板(未示出)容易地实现这一过程。如双箭头所示,可变的夹持宽度和预定的夹持压力可以通过这种夹持装置实现。
本发明的另一重要方面涉及用于执行上述测量方法或评估方法的测量设备,例如如图3所示。
本发明的另一重要方面进一步涉及用于使用前述测量方法或评价方法制备太阳能电池以及具有多个这种太阳能电池的光伏模组的方法。
为此,最初使用适当的制备方法制备太阳能电池。随后,利用图1所示的测量设备单独地或成组地评估太阳能电池。在这种方法中,只有那些测量到的特征电气参数满足预定的标准的太阳能电池可进一步使用,例如封装后备用或进一步处理以形成光伏模组。
在光伏模组的制备过程中,最初也可以使用适当的制造工艺制备光伏模组。随后,利用图1所示的测量设备评估每个光伏模组。在这种方法中,只有那些测量到的特征电气参数满足预定的标准的光伏模组可被进一步使用,例如封装和组装后备用。
尽管上面提出将导电塑性材料压在太阳能电池或光伏模组的前侧或者将电晕放电施加到太阳能电池或光伏模组的前侧,但是在研究上述描述时,对本领域技术人员很明显的是,特别是对于太阳能电池和光伏模组,即,对于那些两侧都感光的太阳能电池和光伏模组,导电塑性材料也可以被压在太阳能电池或光伏模组的背侧上或电晕放电也可以被施加到太阳能电池或光伏模组的背侧上。
在研究上述描述时,对本领域技术人员很明显的是,本发明的方法不仅可以用于快速测试单独的太阳能电池或多个太阳能电池,而且可以用于完整的光伏模组。整体而言,使用这种方式,可在相对短的时间段内可靠地获得有意义的特征参数,其中,不必将液体或保护层或涂层施加到模组的表面上。对于太阳能电池,特别是表面没有隔离层,以及特别是没有抗反射层的太阳能电池,其表面会受损或被移除。上面公开的测试方法适合于全自动的测试过程及分析。基于测试结果,可以挑选出单独的太阳能电池或光伏模组(例如,如果测量的特征电气参数或由其获得的量并不在预定的范围内或超出了预定的阀值或低于预定的阀值),或者将这些单独的太阳能电池或光伏模组进行进一步处理、直到达到期望的特征电气参数。本发明特别的优点是,本发明的方法也可以在单独的电池级快速实现,其中被测试的太阳能电池可以接着直接进一步处理为光伏模组,而无需进行额外的高成本处理。

Claims (36)

1.一种用于测量至少一个太阳能电池或者光伏模组的高压衰减(PID)的方法,其特征在于,将导电塑性材料(1)压在各个太阳能电池(4)或光伏模组(8)的前侧上或底侧上,特别是该前侧上,并且在所述导电塑性材料(1)和所述各个太阳能电池(4)之间或在所述导电塑性材料(1)和所述光伏模组中的太阳能电池阵列之间施加电压。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述电压为直流电压。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述导电塑性材料(1)和所述各个太阳能电池或所述光伏模组中的所述太阳能电池阵列之间的直流电压大于50伏特。
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述导电塑性材料(1)为弹性的,以与所述太阳能电池(4)或所述光伏模组(8)的表面相配合。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述导电塑性材料(1)的、根据DIN EN ISO3386的压缩硬度的40%的范围为1.5kPa至60kPa。
6.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述导电塑性材料(1)为基于苯乙烯或聚氨酯制备的塑料,或者为泡沫塑料,例如尤其是也在惰性气体气氛下,特别是在惰性稀有气体的气氛下制备的泡沫。
7.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述导电塑性材料(1)为导电橡胶或导电硅树脂。
8.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述导电塑性材料(1)不粘贴至所述太阳能电池或所述光伏模组,且特别是不贴附至所述太阳能电池或所述光伏模组。
9.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,对所述导电塑性材料(1)施加预定的压力,所述预定的压力均匀地施加在所述各个太阳能电池的表面上或所述光伏模组的前侧上或底侧上,特别是该前侧上。
10.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述导电塑性材料(1)对所述各个太阳能电池或光伏模组的所述压力大于0.3kPa。
11.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述导电塑性材料(1)对所述各个太阳能电池或光伏模组的所述压力通过平板(7)均匀地产生在所述各个太阳能电池或所述光伏模组的所述表面上。
12.根据权利要求11所述的方法,其中,所述平板(7)为电隔离,且将高压电源(20)的电压施加在所述导电塑性材料(1)的远离所述各个太阳能电池或光伏模组的前侧或底侧的一侧上,特别是远离该前侧的一侧上。
13.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,使用测量电极(18)来测量特征电气参数,所述测量电极(18)通过隔离套筒特别是塑性套筒穿过所述导电塑性材料(1),并且接触所述各个太阳能电池或所述光伏模组的前侧或底侧,特别是该前侧。
14.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述导电塑性材料(1)的薄层电阻的范围为105Ω/sq至1011Ω/sq。
15.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,按时间间隔重复地测量所述各个太阳能电池(4)或所述光伏模组(8)的至少一个特征电气参数,用于测量所述高压衰减。
16.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,当将所述导电塑性材料(1)压在所述各个太阳能电池(4)或所述光伏模组(8)的前侧上或底侧上,特别是该前侧上,并且施加所述电压时,测量所述各个太阳能电池的所述特征电气参数。
17.根据权利要求15所述的方法,其中,当将所述导电塑性材料(1)压在所述各个太阳能电池或所述光伏模组的前侧上或底侧上,特别是该前侧上,并且所述导电塑性材料(1)与所述太阳能电池(4)之间的所述电压或者所述导电塑性材料(1)与所述光伏模组中的太阳能电池阵列之间的所述电压暂时性缺失时,测量所述各个太阳能电池(4)或所述光伏模组(8)的所述特征电气参数。
18.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,测量多个太阳能电池(4)的所述高压衰减,其中通过以多路复用器(21)在预定的时间间隔以预定的顺序切换所述太阳能电池而依次测量所述多个太阳能电池的所述特征电气参数。
19.根据权利要求13-18中任一项所述的用于测量太阳能电池(4)的所述高压衰减的方法,其中,每个测量触点(18)被分配了反向设置的齐纳二极管(Z)对,以测量所述特征电气参数。
20.根据权利要求13-19中任一项所述的方法,其中,所述特征电气参数为所述各个太阳能电池的电压-电流特征曲线(UI)和/或分路电阻(Rshunt)。
21.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述各个太阳能电池或所述光伏模组和/或所述导电塑性材料(1)的温度设置为40℃之上,且优选地设置为85℃。
22.根据前述权利要求中任一项所述的方法,还包括以下步骤:将所述至少一个太阳能电池或所述光伏模组所暴露的环境的湿度和/或温度设置为预定值或随时间变化的值。
23.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述太阳能电池为背面接触太阳能电池,且通过基板来测量所述特征电气参数,在所述基板上设置有局部触点表面或者在所述基板中设置有局部触点引脚,所述局部触点表面或所述局部触点引脚分别地接触所述各个太阳能电池的负极端子或正极端子。
24.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述太阳能电池为晶体硅太阳能电池。
25.一种用于测量至少一个太阳能电池(4)或者光伏模组(8)的高压衰减的方法,其特征在于,将电晕电荷施加在所述太阳能电池或者所述光伏模组上。
26.根据权利要求25所述的方法,其中,为了测量所述高压衰减,按时间间隔重复地测量所述各个太阳能电池(4)或者光伏模组(8)的至少一个特征电气参数。
27.根据权利要求25或26所述的方法,其中,当将所述电晕电荷施加至所述太阳能电池或者所述光伏模组时,测量所述各个太阳能电池或光伏模组(8)的所述特征电气参数。
28.根据权利要求26所述的方法,其中,当所述电晕电荷将被暂时关闭时,测量所述各个太阳能电池(4)或光伏模组(8)的所述特征电气参数。
29.根据权利要求25-28中任一项所述的方法,其中,测量多个太阳能电池(4)的所述高压衰减,其中通过以多路复用器(21)在预定的时间间隔以预定的顺序接通所述太阳能电池而依次测量所述多个太阳能电池的所述电气特征。
30.根据权利要求25-29中任一项所述的用于测量太阳能电池(4)的所述高压衰减的方法,其中,每个测量触点(18)被分配了反向设置的齐纳二极管(Z)对,以测量所述特征电气参数。
31.根据权利要求25-30中任一项所述的方法,其中,所述特征电气参数为所述各个太阳能电池的电压-电流特征曲线(UI)和/或分路电阻(Rshunt)。
32.根据权利要求25-31中任一项所述的方法,其中,所述各个太阳能电池或光伏模组的温度设置为40℃之上,且优选地设置为85℃。
33.根据权利要求25-33中任一项所述的方法,其中,所述各个太阳能电池或所述光伏模组和/或所述导电塑性材料(1)的温度设置为40℃之上,且优选地设置为85℃。
34.根据权利要求25-34中任一项所述的方法,其中,所述太阳能电池为背面接触太阳能电池,且通过基板来测量所述特征电气参数,在所述基板上设置有局部触点表面或者在所述基板中设置有局部触点引脚,所述局部触点表面或所述局部触点引脚分别地接触所述各个太阳能电池的负极端子或正极端子。
35.根据权利要求25-34中任一项所述的方法,其特征在于,所述太阳能电池为晶体硅太阳能电池。
36.根据前述权利要求中任一项所述的方法在太阳能电池或在包括多个太阳能电池的光伏模组的制造中的用途,该方法用于测量所述太阳能电池的电气特征或用于测量其中待安装所述太阳能电池的所述光伏模组的所述多个太阳能电池的至少一个太阳能电池的电气特征,其中,如果所测量到的特征电气参数不满足预定的标准,则将所述各个太阳能电池挑选出来不用于或者将不用于制备光伏模组。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106253850A (zh) * 2016-08-29 2016-12-21 奥特斯维能源(太仓)有限公司 一种减反射膜抗pid性能的测试方法
CN108429535A (zh) * 2018-03-12 2018-08-21 福建省宏闽电力工程监理有限公司 一种光伏模块中电位诱发的劣化电路布置用线路固定装置
CN111446923A (zh) * 2020-04-09 2020-07-24 杭州晶宝新能源科技有限公司 一种太阳电池的电势感应衰减快速测试方法及系统

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9876468B2 (en) * 2012-11-20 2018-01-23 University Of Central Florida Research Foundation, Inc. Method, system and program product for photovoltaic cell monitoring via current-voltage measurements
DE102012022825B4 (de) * 2012-11-22 2014-10-16 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zur Prüfung der Anfälligkeit für potentialinduzierte Degradation bei Komponenten von Solarmodulen
CN104167989B (zh) * 2013-05-20 2016-08-31 晶科能源有限公司 一种太阳能电池片抗pid效应能力的检测装置及检测方法
BE1020776A5 (nl) 2013-05-27 2014-04-01 Futech Werkwijze en inrichting voor het detecteren, regenereren en/of voorkomen van defecten in een zonnepaneelinstallatie.
CN103454567B (zh) * 2013-08-29 2015-12-09 上海晶澳太阳能科技有限公司 设定水膜厚度的pv组件pid水平测试方法及测试系统
US10547272B2 (en) * 2013-09-19 2020-01-28 Episolar, Inc. Device for measuring leakage current and aging of a photovoltaic module
CN103904993B (zh) * 2014-03-13 2016-04-27 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 一种太阳能电池片的pid测试方法
DE102015108880A1 (de) 2015-06-04 2016-12-08 Hanwha Q.CELLS GmbH Vorrichtung und Verfahren zur Temperatursteuerung von gestapelten Photovaltaikzellen
DE102015213047A1 (de) * 2015-06-08 2016-12-08 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und Anordnung zur Prüfung eines Solarmoduls auf Anfälligkeit für Potential-induzierte Degradation
CN106486389A (zh) * 2015-08-24 2017-03-08 电子部品研究院 太阳能电池的pid特性测试方法、测试用薄片及其制造方法
CN105388944A (zh) * 2015-12-03 2016-03-09 中国华能集团清洁能源技术研究院有限公司 光伏检测的装置和方法
CN105450175B (zh) * 2015-12-04 2018-03-02 海润光伏科技股份有限公司 测试光伏电站组件污染的装置
CN108306612B (zh) 2017-12-20 2019-11-26 华为技术有限公司 一种光伏电站中的光伏组件衰减修复方法和装置
US10931229B2 (en) * 2018-12-13 2021-02-23 Industrial Technology Research Institute Solar cell testing system and testing method thereof
CN109541429A (zh) * 2018-12-28 2019-03-29 佛山科学技术学院 一种光热电三场耦合器件测试装置
US10734945B1 (en) * 2019-11-20 2020-08-04 Gumi Electronics & Information Technology Research Institute Potential induced degradation test apparatus for solar cell and the method thereof
US11456698B2 (en) 2020-02-28 2022-09-27 University Of Cyprus Early detection of potential induced degradation in photovoltaic systems
DE102020203747B4 (de) 2020-03-24 2022-08-25 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung eingetragener Verein Verfahren zur Prüfung von Solarmodulen oder Solarzellen auf potentialinduzierte Degradation

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008019703A1 (de) * 2008-04-18 2009-10-22 Harrexco Ag Verfahren und System zur Herstellung von Photovoltaikmodulen
US7649365B1 (en) * 2007-03-24 2010-01-19 Kla-Tencor Corporation Inline inspection of photovoltaics for electrical defects
US20100304512A1 (en) * 2007-11-30 2010-12-02 University Of Toledo System for Diagnosis and Treatment of Photovoltaic and Other Semiconductor Devices
CN101943744A (zh) * 2009-07-06 2011-01-12 应用材料股份有限公司 干型高电位测试器以及太阳模拟工具
DE102009049704A1 (de) * 2009-10-18 2011-04-28 Harrexco Ag Vorrichtung zur Prüfung der Isolationseigenschaften einer Photovoltaikmodulplatte, Prüfmittel sowie Verfahren zur Prüfung

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4412297C2 (de) * 1994-04-09 1998-03-19 Max Planck Gesellschaft Verfahren zur Rekombinationslebensdauermessung und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
EP1024369B1 (en) * 1999-01-26 2004-10-20 STMicroelectronics S.r.l. Characterization of a semiconductor-dielectric interface by photocurrent measurements
JP2001345472A (ja) 2000-03-29 2001-12-14 Canon Inc 太陽電池モジュールの検査方法、検査装置及び製造方法、太陽光発電システムの点検方法及び点検装置、並びに絶縁抵抗測定器及び耐電圧試験器
EP1274760B1 (en) * 2000-04-11 2004-03-24 DuPont Displays, Inc. Soluble poly(aryl-oxadiazole) conjugated polymers
JP2002164557A (ja) * 2000-11-28 2002-06-07 Canon Inc 太陽電池モジュールの絶縁試験方法及び絶縁試験装置
US6734696B2 (en) 2001-11-01 2004-05-11 Kla-Tencor Technologies Corp. Non-contact hysteresis measurements of insulating films
US7064565B1 (en) 2002-10-31 2006-06-20 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for determining an electrical property of an insulating film
JP2005236051A (ja) * 2004-02-19 2005-09-02 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 光電変換パネルの検査方法及び光電変換パネル検査装置
US8158881B2 (en) * 2005-07-14 2012-04-17 Konarka Technologies, Inc. Tandem photovoltaic cells
KR100665191B1 (ko) 2005-07-20 2007-01-09 삼성전자주식회사 반도체 소자 테스트 설비 및 테스트 방법
DE102008038184A1 (de) * 2008-08-19 2010-02-25 Suss Microtec Test Systems Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur temporären elektrischen Kontaktierung einer Solarzelle
US8305105B2 (en) * 2008-11-12 2012-11-06 Novasolar Holdings Limited Simulated mounting structure for testing electrical devices
DE102009049806A1 (de) * 2009-10-16 2011-04-28 Miprojex Limited Zweigniederlassung Deutschland Verfahren und Einrichtung zur elektrischen Isolationsprüfung sowie Verfahren und System zur Herstellung von Photovoltaikmodulen

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7649365B1 (en) * 2007-03-24 2010-01-19 Kla-Tencor Corporation Inline inspection of photovoltaics for electrical defects
US20100304512A1 (en) * 2007-11-30 2010-12-02 University Of Toledo System for Diagnosis and Treatment of Photovoltaic and Other Semiconductor Devices
DE102008019703A1 (de) * 2008-04-18 2009-10-22 Harrexco Ag Verfahren und System zur Herstellung von Photovoltaikmodulen
CN101943744A (zh) * 2009-07-06 2011-01-12 应用材料股份有限公司 干型高电位测试器以及太阳模拟工具
DE102009049704A1 (de) * 2009-10-18 2011-04-28 Harrexco Ag Vorrichtung zur Prüfung der Isolationseigenschaften einer Photovoltaikmodulplatte, Prüfmittel sowie Verfahren zur Prüfung

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
R.S. SUGIMURA等: "ELECTRICAL ISOLATION DESIGN AND ELECTROCHEMICAL CORROSION IN THIN-FILM PHOTOVOLTAIC MODULES", 《IEEE》, 31 December 1988 (1988-12-31) *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106253850A (zh) * 2016-08-29 2016-12-21 奥特斯维能源(太仓)有限公司 一种减反射膜抗pid性能的测试方法
CN106253850B (zh) * 2016-08-29 2018-09-14 奥特斯维能源(太仓)有限公司 一种减反射膜抗pid性能的测试方法
CN108429535A (zh) * 2018-03-12 2018-08-21 福建省宏闽电力工程监理有限公司 一种光伏模块中电位诱发的劣化电路布置用线路固定装置
CN111446923A (zh) * 2020-04-09 2020-07-24 杭州晶宝新能源科技有限公司 一种太阳电池的电势感应衰减快速测试方法及系统

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