WO2012168249A3 - Verfahren zur messung der hochspannungsdegradation von zumindest einer solarzelle oder eines photovoltaik-moduls sowie verwendung desselben bei der herstellung von solarzellen und photovoltaik-modulen - Google Patents

Verfahren zur messung der hochspannungsdegradation von zumindest einer solarzelle oder eines photovoltaik-moduls sowie verwendung desselben bei der herstellung von solarzellen und photovoltaik-modulen Download PDF

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Messung der Hochspannungsdegradation (PID) von zumindest einer Solarzelle. Erfindungsgemäß wird ein leitfähiger Kunststoff auf die Ober- oder Unterseite, insbesondere die Vorderseite, der jeweiligen Solarzelle aufgedrückt und eine Gleichspannung, die größer als 50 V ist, zwischen den Kunststoff und die jeweilige Solarzelle angelegt. Alternativ können Coronaentladungen auf Solarzellen bzw. Photovoltaik-Module aufgebracht werden. In einer Ausführungsform wird eine elektrische Kenngröße der jeweiligen Solarzelle bzw. des Photovoltaik-Moduls wiederholt in zeitlichen Abständen gemessen. Das erfindungsgemäße Verfahren kann an einzelnen Solarzellen ausgeführt werden, die nach bestandenem Test ohne weitere aufwändige Aufbereitung unmittelbar weiterverarbeitet werden können, beispielsweise zu einem Photovoltaik-Modul. Grundsätzlich ist das Verfahren auch geeignet zur Messung an kompletten Photovoltaik-Modulen.
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