CN103823396B - 电子控制装置及其控制特性调整方法 - Google Patents

Abstract

本发明的电子控制装置及其控制特性调整方法在由折线特性表示的特定传感器中设置用于校正检测信号的固体偏差变动的标签电阻，以较低的成本来得到高精度的校正信号。将多个样本的平均特性即标准特性近似为由第1直线、第2直线、第3直线组成的折线，将成为比较调整点的第1、第2直线的坐标点位置作为标准数据保存于电子控制装置的数据存储器中。将作为校正对象的现有样本特性近似为由第1直线、第2直线、第3直线组成的折线，将第1标签电阻的电阻值调整为与监视输出的比率相对应的值，将第2标签电阻的电阻值调整为与监视输出的比率相对应的值。电子控制装置读取标签电阻的电阻值，并与所保存的标准特性进行组合，插补第3直线部分来还原并生成现有样本特性。

Description

电子控制装置及其控制特性调整方法

技术领域

本发明涉及一种电子控制装置、及其控制特性调整方法的改进，该电子控制装置包括微处理器，所述微处理器与输入传感器组的动作状态及程序存储器的内容进行联动，从而对电负载组进行驱动控制，并且，在所述电子控制装置中，输入传感器组中的一部分特定传感器具有用于校正传感器检测特性的固体偏差变动的标签电阻，或者，电负载组中的一部分特定负载具有用于校正输出特性的固体偏差变动的标签电阻(label resistor)。

背景技术

对于输入传感器的测定输入与检测输出的关系即检测特性、或者作为例如发动机、电磁阀这样的电磁致动器的电负载的控制输入与所产生的输出的关系即输出特性，进行如下动作的电子控制装置是公知的：使用包括用于校正该固体偏差变动的标签电阻在内的特性传感器或特定负载，并由微处理器读取出标签电阻的电阻值，根据所读取出的电阻值来正确地识别出所使用的特定传感器的检测特性或特定负载的输出特性。

例如，根据下述专利文献1“气体传感器、气体传感器的连接器、以及气体浓度检测装置”，如图23中所记载的，在气体传感器的用于连接外部的连接器部分设有标签电阻RL，所述气体传感器利用第1泵电流IP1来检测氧浓度(参照图23(A))，利用第2泵电流IP2来检测ＮＯx浓度(参照图23(B))，对于对第1泵电流IP1的6个级别的修正系数β＝－2、－1、0、1、2、3、与对第2泵电流IP2的6个级别的修正系数α＝－2、－1、0、1、2、3之间的二维映射，分配为等级1～36(参照图23(C))，根据标签电阻RL的电阻值来决定是等级1～36中的哪一个，作为其结果，决定修正系数α、β，从而利用规定的计算式(1)、(3)、(4)、(5)来检测出氧浓度与ＮＯx浓度。

另外，根据下述专利文献2“喷射器及燃料喷射系统”，在喷射器处设有修正电阻，对燃料喷射用电磁阀的输出响应特性中包含的固体偏差变动进行修正，如图24所记载的那样，为了对用于获得设为目标的燃料喷射量的指令喷射量计算出用于决定所需的燃料喷射用电磁阀的开阀时间的喷射脉冲时间，对由图24(A)的实线所示的基本喷射脉冲时间特性，生成由虚线表示的修正后的喷射脉冲时间特性，该修正后的喷射脉冲时间特性是通过基本喷射脉冲时间特性与第1、第2基准修正量代数相加而得到。

第1及第2基准修正量均可以选择－20，－10，±0，＋10，+20μs这5个级别的修正量，对由第1及第2基准修正量组成的二维映射分配为等级1～25(参照图24(B))，并利用修正电阻的电阻值来确定是等级1～25中的哪一个。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开平11－281617号公报(图4、图8、第0062、0065段)

专利文献2：日本专利特开2000－220508号公报(图14、图18、第0064、0067段)

发明内容

发明所要解决的技术问题

上述专利文献1中的作为气体传感器的特定传感器具有能够利用一个标签电阻来决定两种修正系数α、β的特征，该修正系数α、β均是用于修正第1泵电流IP1及第2泵电流IP2的比例增益GP1st(β)或GP2st(α)的，对于第2泵电流IP2中的偏移分量IP2off不进行修正而使用固定值。

因此，并没有示出利用标签电阻来修正包含偏移分量在内的检测特性、或至少难以利用一次直线函数来表示的曲线检测特性的概念，因此在这种复杂的曲线检测特性的情况下，需要经由IC存储器来发送特性数据。

此外，根据表示专利文献1的第2实施例的所述文献中的图6，将调整第1泵电流IP1的比例增益的修正电阻Rc1、调整第2泵电流IP2的比例增益的修正电阻Rc2、以及调整第2泵电流IP2的偏移电流的修正电阻Rc3用作为检测装置内的放大电路的一个电路元器件，然而在这种硬件方法中，由于弱电流信号电路与检测装置的外部相连接，因此会产生噪声误动作的危险，或检测装置的硬件成本会变高，从而产生问题。

另外，上述专利文献2中的作为喷射器的特定负载仅仅修正了燃料喷射用电磁阀的响应时间的固体偏差变动，因此并没有考虑到比例增益的偏差修正，该比例增益决定对燃料喷射用电磁阀的指令电流的大小与喷射脉冲时间之间的关系。

另外，并没有示出当喷射脉冲时间无法简单地利用一次直线函数来表示时利用修正电阻来进行修正的概念，因此在这种复杂的曲线检测特性的情况下，需要经由IC存储器来发送特性数据。

本发明的第1目的在于，提供一种简易的电子控制装置，该电子控制装置中的特定传感器的检测特性或特定负载的输出特性是单调递增或单调递减的曲线特性，而并非山形或谷形的二值曲线，该电子控制装置适用于检测特性或输出特性能以一对以上的折线特性来进行近似的情况，并能抑制由于检测特性或输出特性的固体偏差变动而使得控制精度下降。

本发明的第2目的在于，提供一种简易的电子控制装置的控制特性调整方法，能够应对各种变动原因，从而抑制由于检测特性或输出特性的固体偏差变动而使得控制精度下降，其中，所述各种变动原因有：由多个样本的试验数据的平均值决定的标准特性、与作为对象的现有样本所相关的个体特性之间的偏差特性较大地依赖于特性直线的倾斜角的偏差；或者倾斜角不发生变动而偏差分量的变动较大；又或者倾斜角与偏差分量都是原因等。

解决技术问题所采用的技术方案

本发明的电子控制装置包括微处理器，该微处理器与输入传感器组的动作状态及程序存储器的内容进行联动，从而对电负载组进行驱动控制，并且，在所述电子控制装置中，所述输入传感器组的一部分特定传感器具有用于校正传感器检测特性的固体偏差变动的标签电阻，或者，所述电负载组中的一部分特定负载具有用于校正输出特性的固体偏差变动的标签电阻，

所述微处理器还与用于运算处理的RAM存储器、作为所述程序存储器的一部分区域的或分开设置的非易失性数据存储器、以及AD转换器相连接并相互联动，

并且，所述程序存储器或数据存储器中以规定数据形式保存有多个样品的实验数据的平均特性数据即所述特定传感器的标准检测特性数据、或者所述特定负载的标准输出特性数据即标准特性数据。

所述检测特性或输出特性的2次微分值具有不进行正负翻转的单调递增特性或单调递减特性，近似于至少一对以上的折线特性，

所述程序存储器或数据存储器中还保存有插补信息，该插补信息用于填补近似于折线特性的所述标准特性数据、与实际的标准特性数据之间的误差。所述程序存储器包含成为标签电阻读取转换单元的控制程序，所述标签电阻读取转换单元参照与所述标签电阻串联连接的串联电阻的电阻值、以及该标签电阻的两端电压及施加在串联电路上的电压即控制电压，来计算该标签电阻的电阻值，并基于所计算出的电阻值来计算所述特定传感器的检测特性、或用于修正所述特定负载的输出特性的固体偏差变动的修正常数，并将其保存到所述数据存储器或所述RAM存储器中，

所述修正常数是以所述标准特性数据为基准的所述特定传感器的个别检测特性数据、或是用于确定所述特定负载的个别输出特性数据即个别特性数据的一对调整倍率、或是一对调整加法运算值、又或是将调整倍率与调整加法运算值进行复合后得到的数据。

所述调整倍率是通过与所述标准特性数据相乘从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对比率即斜率系数，

所述调整加法运算值是通过与所述标准特性数据进行代数加法运算从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对偏差即斜率调整值。

所述标签电阻读取转换单元在电源开关接通后的运行开始时执行，或是在对所述特定传感器或所述特定负载进行维护更换时执行，对所述修正常数是由所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或斜率调整值的哪种组合来构成的进行识别，并将所识别出的修正常数及所述特定传感器或所述特定负载的所述标准特性数据、与所述插补信息进行组合，从而还原生成所述个别特性数据，所述微处理器参照所生成的所述个别检测特性数据来对所述电负载组进行驱动控制，或者参照所生成的所述个别输出特性数据来对所述特定负载进行驱动控制。

在本发明的电子控制装置的控制特性调整方法中，在所述程序存储器或所述数据存储器中，除了所述标准特性数据以外，还添加有用于选择所述数据形式的辅助数据，

在由输入共同的比较调整值的调整输入轴、和输出不同的比较监视值的监视输出轴所组成的二维坐标上，或者在由输出共同的比较调整值的调整输出轴、和输入不同的比较监视值的监视输入轴所组成的二维坐标上，所述标准特性数据的标准特性与所述个别特性数据的个别特性折线近似，

作为构成所述修正常数的选择参数，所述辅助数据可以从如下选择A1至选择A7的一部分或全部之中选择出任意一个：(1)由所述调整系数与所述斜率系数的组合形成的选择A1、或选择由所述第1及第2调整系数的组合形成的一对调整系数的选择A2；或者(2)由所述偏置调整值与斜率调整值的组合形成的选择A3、或选择由所述第1及第2偏置调整值形成的一对偏置调整值的选择A4；或者(3)选择由所述偏置调整值与所述调整系数的复合组合的选择A5、或选择由所述调整系数与所述斜率调整值的组合形成的复合组合的选择A6、或者选择所述偏置调整值与所述斜率系数的组合的选择A7，

另外，(4)所述折线特性的坐标轴选择调整输入轴对监视输出轴的二维坐标轴即选择B1、或调整输出轴对监视输入轴的二维坐标轴即选择B2中的任意一个，由此，指定共计14种选择项中的一个来作为选择参数，

并且，所述调整系数是由比率(ｙn0/ｙ0)或比率(xn0/x0)来决定的参数，所述比率(ｙn0/ｙ0)是对于共同的比较调整输入x0、将个别特性的比较监视输出yn0与所述标准特性的比较监视输出y0进行比较后得到的比率，所述比率(xn0/x0)是对于共同的比较调整输出y0、将所述个别特性的比较监视输入xn0与所述标准特性的比较监视输入x0进行比较后得到的比率，

所述斜率系数是由比率(θn/θ0，或tanθn/tanθ0)来决定的参数，所述比率(θn/θ0，或tanθn/tanθ0)是将用于计算所述调整系数的比较调整点上的所述个别特性的变化率即线段的倾斜角或其正切、与所述标准特性的变化率即线段的倾斜角或其正切进行比较后得到的比率，

所述偏置调整值是由比较偏差(ｙ1n－ｙ1)或比较偏差(ｘ1n－ｘ1)来决定的参数，所述比较偏差(ｙ1n－ｙ1)是与共同的比较调整输入x1相对的、所述个别特性的比较监视输出y1n与标准特性的比较监视输出y1之间的比较偏差，所述比较偏差(ｘ1n－ｘ1)是与共同的比较调整输出y1相对的、所述个别特性的比较监视输入x1n与所述标准特性的比较监视输入x1之间的比较偏差，

所述斜率调整值是由比较偏差(θn－θ1，或tanθn－tanθ1)来决定的参数，所述比较偏差(θn－θ1，或tanθn－tanθ1)是用于计算所述偏差修正值的比较调整点上的所述个别特性的变化率即线段的倾斜角或其正切、与所述标准特性的变化率即线段的倾斜角或其正切之间的比较偏差。

发明效果

如上所述，在本发明的电子控制装置中，输入传感器组的一部分特定传感器或电负载组的一部分特定负载包括用于校正检测特性或输出特性的固体偏差变动的标签电阻，在运行开始时将所测定到的标签电阻的电阻值、与预先存储的标准特性数据及插补信息进行组合，还原生成与所使用的特定传感器或特定负载相对应的个别特性数据，并利用从根据标签电阻的电阻值决定的调整系数或斜率系数或偏置调整值或斜率调整值中选择出的多个常数，来得到折线特性。

因此，如果在电子控制装置的制造出厂阶段利用成为标准样本的特定传感器或特定负载来对控制装置进行调整操作，并在特定传感器或特定负载的制造出厂阶段组装用于修正固体偏差的标签电阻，则在组装两者的总合组装阶段、或在市场上对特定传感器或特定负载或电子控制装置进行维护更换时，无需对两者进行组合调整，因此使得组装及维护更换变得容易，从而能够得到一种利用较为廉价的特定传感器或特定负载设备、并具有高精度的控制性能的电子控制装置，

即使在检测特性或输出特性是包含一对以上的折线特性的复杂特性，特定传感器或特定负载中也无需用于存储修正常数的IC存储器，从而能够通过读取出小型且廉价的标签电阻的电阻值来简单地校正固体偏差变动，由此，无需在特定传感器或特定负载与电子控制装置之间进行复杂的信号交互，从而产生能整体地提高经济性的效果。另外，设在电子控制装置中的微处理器在不进行输入输出控制的期间读取标签电阻，并预先生成有个别特性数据，因此无需在运行中对标签电阻进行读取或转换处理，从而具有能减少微处理器的控制负担，并能使用廉价的微处理器的效果。

如上所述，在本发明的电子控制装置的控制特性调整方法中，程序存储器或数据存储器包含用于选择修正常数的数据形式的辅助数据，所述修正常数用于根据标准特性数据来计算个别特性数据。

因此，在为了生成标准特性数据而对多个样本进行实验测定时，将此处所获得的标准特性与各种偏差特性进行对比，选择修正常数的变动幅度较小的数据形式，从而具有能抑制标签电阻的电阻值的调整幅度的效果。

此外，例如在标准特性的倾斜角θ0是非常小的平坦线的情况下，与个别特性的倾斜角θn之间的比率即斜率系数θn/θ0或tanθn/tanθ0将变为过大的数值，导致斜率系数的变动幅度过大，从而难以利用标签电阻来表现这种情况。

一般来说，在倾斜角的变动较小、标准特性与个别特性接近于互为平行线状态的情况下，偏置方式较为有利，在标准特性与个别特性之间的倾斜角较小、并相对于X轴呈平坦的平行特性的情况下，调整输入对监视输出的形式较为有利，在相对于X轴呈陡峭的平行特性的情况下，调整输出对监视输入的方式较为有利。

与此相对，在标准特性与个别特性之间的倾斜角的变动较大的情况下，调整系数方式较为有利。

在该情况下，当标准特性的线段与个别特性的线段之间的交叉点位于第1、第4坐标的情况下，使用一对调整系数较为有利，与此相对，当标准特性的线段与个别特性的线段之间的交叉点位于第2、第3坐标的情况下，斜率系数方式较为有利。

附图说明

图1是表示本发明的实施方式1的整体结构图。

图2是实施方式1所用的一个一用的标签电阻的结构图。

图3是说明使用图2的标签电阻时的调整系数的特性曲线图。

图4是图2的标签电阻的分配结构图。

图5是实施方式1所用的两个一用的标签电阻的结构图。

图6是说明使用图5的标签电阻时的调整系数的特性曲线图。

图7是实施方式1中的特定负载的控制框图。

图8是实施方式1中的特定传感器及特定负载的调整操作的流程图。

图9是实施方式1中的电子控制装置的调整操作的流程图。

图10是实施方式1中的电子控制装置的运行动作的流程图。

图11是表示本发明的实施方式2的整体结构图。

图12是实施方式2中使用的标签电阻的结构图。

图13是说明使用图12的标签电阻时的调整系数的特性曲线图。

图14是表示用于计算实施方式2中的修正系数的变形方式的图。

图15是实施方式2中的特定负载的控制框图。

图16是带有实施方式2中的特定传感器的特定负载的调整操作的流程图。

图17是实施方式2中的电子控制装置的调整操作的流程图。

图18是实施方式2中的电子控制装置的运行动作的流程图。

图19是用于说明本发明的控制特性调整方法中的调整倍率的特性曲线图。

图20是用于说明本发明的控制特性调整方法中的调整加法运算值的特性曲线图。

图21是与本发明的控制特性调整方法中的修正常数相关的说明图。

图22是与本发明的控制特性调整方法中的修正常数的分配相关的图表。

图23是用于说明作为现有技术的专利文献1的图表。

图24是用于说明作为现有技术的专利文献2的图表。

实施方式

实施方式1

下面，对表示本发明的实施方式1的整体结构图即图1进行说明。

图1中，以电子控制模块110A为主体构成的电子控制装置100A例如由负端子与车体101相连的车载电池等外部电源102进行供电，在未图示的电源开关闭合时，经由激励中的电源继电器的输出触点103施加作为主电源的供电电压Vb，经由负载电源继电器的输出触点104施加负载电源电压Vbb，并直接提供存储器的备用电源电压Vbu。

此外，电源继电器通过闭合未图示的电源开关来进行激励，一旦电源继电器的输出触点103闭合而使得电子控制装置100A开始动作，则利用由电子控制装置100A产生的自保持指令信号来维持激励状态，从而即使电源开关开路激励状态也得以持续，若在电子控制装置100A完成动作停止处理的时刻解除自保持指令信号，则电源继电器去激励，输出触点103开路。

电子控制装置100A与作为输入信号的传感器组105相连，该传感器组包含：与手动操作开关或后述的电负载组108的动作状态进行联动的各种开关传感器或模拟传感器、或者例如作为温度传感器的环境传感器105a等。

传感器组105的一部分即特定传感器106A包括用于校正检测特性的固体偏差变动的第1及第2标签电阻61a、62a。

由电子控制装置100A来进行驱动控制的电负载组108例如是发动机、电磁阀等致动器，或者是作为人机接口的显示设备。电负载组108的一部分即特定负载107A对指令输入产生的输出特性中存在固体偏差变动，所述特定负载107A包括用于进行校正、使得提供适当的指令信号以得到作为目标的产生输出的标签电阻74a。

此外，特定传感器106A的检测特性或特定负载107A的输出特性不是山形或谷形曲线，而是单调递增或单调递减的曲线特性，在为比较平缓的直线特性的情况下，只需一个标签电阻即可，在为弯曲特性的情况下使用两个标签电阻。

因此，如果特定传感器106A是比较平缓的直线特性的情况下，使用一个标签电阻，在特定负载107A是弯曲特性的情况下，使用两个标签电阻，这里，作为一个简单的示例，设特定传感器106A是两个一用，而特定负载107A是一个一用。

电子控制装置100A的内部设有定电压电源110a，该定电压电源110a由外部电源102并经由电源继电器的输出触点103来进行供电而产生例如DC5V的稳定的控制电压Vcc，对包含电子控制模块110A或未图示的接口电路的各单元进行供电。

电子控制模块110A利用总线将作为运算处理装置的微处理器111、与用于运算处理的RAM存储器112、例如作为快闪存储器的非易失性程序存储器113A、非易失性数据存储器114、多信道AD转换器115、以及串行－并行转换器116互相连接而构成。

此外，程序存储器113A中保存有后述的成为标签电阻读取转换单元1004的控制程序。

另外，AD转换器115中施加有作为基准电压的控制电压Vcc，AD转换器115的模拟输入信号电压Vi的数字转换值、与控制电压Vcc和输入信号电压Vi的比率成正比，若输入信号电压Vi等于控制电压Vcc，则能得到与AD转换器115的分辨率相对应的满刻度值。

将由外部电源102直接供电的定电压电源110b作为备用电源，以使得在电源继电器的输出触点103开路的状态下，写入RAM存储器112中的数据不会消失，在未图示的电源开关开路使得电源继电器的输出触点103延迟闭合的期间，将写入RAM存储器112中的数据中的重要数据传送并保存于数据存储器114中。

此外，可以将以1比特为单位、可进行简单地电读写的非易失性存储器用作为数据存储器114，在程序存储器113A是以块为单位一并进行电清除的快闪存储器的情况下，也可以将特定的块用作为数据存储器114。

另外，程序存储器113A具有如下结构：在连接有未图示的编程工具或后述的调整工具190的状态下，进行程序的重写，在未连接例如这些工具等的状态下，只能进行读取而不能进行重写处理。然而，对于数据存储器114，如果即使是程序存储器113A的一部分区域、所保存的数据块有所不同，则即使不连接工具也能通过微处理器111自由地进行读写然而，在使用快闪存储器的情况下，可消除的次数有限，因此一般在运行过程中写入RAM存储器112中的数据在电源开关开路后马上被传送并保存到数据存储器114中。

设在电子控制装置100A内部的接口电路160a将与特定传感器106A的检测信号进行联动的监视电压Va1输入到多通道AD转换器115。

此外，在特定传感器106A例如产生DC0～5V的检测信号的情况下，无需接口电路160a，而在检测信号电压较为微小的情况下，利用接口电路160a来进行放大，在检测信号电压穿越正负区域的情况下，利用接口电路160a加上偏置电压，并进行标准化转换，使得监视电压Va1处于DC0～5V的正坐标区域。

与第1标签电阻61a串联连接的串联电阻161a的一端连接有控制电压Vcc，将另一端作为第1标签电阻61a的两端电压Va2输入到多通道AD转换器115中。

与第2标签电阻62a串联连接的串联电阻162a的一端连接有控制电压Vcc，将另一端作为第2标签电阻62a的两端电压Va3输入到多通道AD转换器115中。

与特定负载107A的标签电阻74a串联连接的串联电阻174的一端连接有控制电压Vcc，将另一端作为标签电阻74a的两端电压Va5输入到多通道AD转换器115中。

此外，若将串联电阻174的电阻值设为R174，将标签电阻74a的电阻值设为R74，则式(1)和式(2)的关系成立。

Ｖa5＝Ｖcc×Ｒ74/(Ｒ74＋Ｒ174)···········(1)

∴Ｒ74＝Ｒ174×(Ｖa5/Ｖcc)/［1－(Ｖa5/Ｖcc)]···(2)

因此，能够根据作为已知值的串联电阻174的电阻值R174、以及AD转换器115的标签电阻74a的两端电压Va5的数字转换值来计算出标签电阻74a的电阻值。

这点对于第1及第2标签电阻61a、62a也相同。

以未图示的晶体管为主体得以构成的电流控制电路171根据由微处理器111产生的作为脉宽调制信号(ＰＷＭ信号)的控制指令信号DR1来进行开闭动作，经由与一端施加有负载电源电压Vbb的特定负载107A的另一端串联连接的电流检测电阻172对特定负载107A进行供电，并根据闭合时间与开闭周期的比率即开闭占空比来控制负载电流。

电流检测电阻172的两端电压通过差动放大器173放大，并作为负反馈电压Va4输入到AD转换器115中。

调整工具190A在电子控制装置100A的出厂调整运行时，经由串行通信电路109进行连接，以进行接口电路160a与电流控制电路171的初始校正，在该出厂调整运行时特定传感器106A和特定负载107A使用标准样本。

将接口电路160a的输入电压经由用于测量的数字电压计191和调整工具190A输入到电子控制装置100A中，求出在提供一大一小两种输入电压Vi1、Vi2时的监视电压Va1经AD转换器115转换后得到的数字转换值Di1、Di2，并根据输入电压Vi1、Vi2与数字转换电压Di1、Di2的关系，计算出接口电路160a内所施加的实际的偏置电压、以及接口电路160a的实际放大率。

其结果是，即使在接口电路160a内所施加的偏置电压、接口电路160a的实际放大率中存在固体偏差变动，也能通过预先将实际测定到的偏置电压及放大率存储到数据存储器114中，从而准确地获取到经由接口电路160a输入的信号电压。

将电流控制电路171的输出电流经由用于测量的电流检测器193、数字电流计192及调整工具190A，输入到电子控制装置100A中，求出在提供一大一小两种输出电流Ai1、Ai2时的负反馈电压Va4经AD转换器115转换后得到的数字转换值Di1、Di2，并根据输出电流Ai1、Ai2与数字转换电压Di1、Di2的关系，计算出由差动放大器173产生的偏移电压或电流检测电阻172的实际值，并计算出控制指令信号DR1与实际的输出电流的关系。

其结果是，即使在电流控制电路171或电流检测电阻172中存在固体偏差变动，也能通过预先将实际测定到的偏移电压、电流检测电阻172的值、控制指令信号DR1、及输出电流之间的关系存储到数据存储器114中，从而根据经由差动放大器173输入的负反馈电压Va4来精确地获取施加给特定负载107A的供电电流，并生成能够得到作为目标的输出电流的控制指令信号。

如上所述，可以认为：电子控制装置100A内相对于特定传感器106A或特定负载107A的接口电路预先经过适当的校正处理，因而即使特定传感器106A发出正负的检测信号，也能通过接口电路160a内的偏差加法运算来将其重新置于正坐标上的检测信号。

因此，在下述说明中，对特定传感器的检测特性或特定负载的输出特性均不含有负值的情况进行说明。

接下来，对图2、图3、以及图4进行说明，图2是实施方式1中所用的一个一用的标签电阻74a的结构图，图3是对使用了图2的标签电阻74a时的调整系数进行说明的特性曲线图，图4是图2的标签电阻的分配结构图。

图2中，标签电阻74a依次串联连接有多个串联电阻80～89，串联电阻80～89的电阻值中，后级的电阻值是前级的电阻值的2倍，各个串联电阻80～89通过设在调整窗内的多个短路/开路端子Ｂ0～Ｂ9来进行短路或开路。

此外，电阻器的电阻值使用等比数列的标准数，因此在一个电阻器中依次选择出具有2倍值的电阻值的电阻器较为困难，所以适当地连接以虚线表示的并联电阻，从而来进行修正以使其变成近似于2倍的电阻值。

所述短路/开路端子B0～B9与作为目标的标签电阻74a的电阻值的二进制值相对应，在二进制值“0”时短路，在二进制值“1”时开路。

在预先构成这种电路的情况下，在通过短路/开路端子B0～B9的任意组合来使端子短路时，利用该组合使作为标签电阻74a的合成电阻发生变化，由靠近B9的左侧位置上的短路/开路端子发生短路而导致的标签电阻74a电阻值的变化要比由靠近B0的位置上的短路/开路端子发生短路而导致的标签电阻74a电阻值的变化要大，因此将其置于高比特位。

因此，标签电阻74a的电阻值是与二进制值(Ｂ9，Ｂ8···Ｂ1·Ｂ0)成正比的值。

其中，若在二进制值“0”时开路、在二进制值“1”时短路，则能得到补数值。

此外，作为标签电阻74a的调整操作，利用焊料来使短路/开路端子Ｂ0～Ｂ9的一部分或全部短路，根据情况在全部都开路的状态下，若该调整操作结束，则在未图示的调整窗内注入密封材。

接下来，对图3进行说明，图3是图1中的特定负载107a的标准特性曲线图及个别特性曲线图。

图3(A)是表示多个样本的特定负载107A的输出特性所相关的平均值的标准特性曲线图，如果特定负载107A例如是直流发动机，则横轴是提供给发动机的成为控制输入的供电电流，而纵轴表示发动机所产生的转矩。

该标准特性近似为第1线段303a与第2线段304a所组成的折线，第1线段303a与第2线段304a还能近似成一根合成直线305a。

合成直线305a通过坐标点(Ｐ0，Ｖ0)，其与横轴的斜率为θ0。

其中，Ｐ0是规定的实际测定电流，Ｖ0是实际测定电流Ｐ0所产生的转矩，由此标准数据(Ｐ0，Ｖ0，θ0)得以构成。

另外，在实际测定电流为Pi时，合成直线305a与折线数据之间存在误差ΔＶi0，与各个实际测定电流Pi相对应地构成差分数据(ΔＶi0)。

标准数据(Ｐ0，Ｖ0，θ0)与差分数据(ΔＶi0)是作为标准输出特性数据保存在程序存储器113A或数据存储器114中的数据。

图3(B)是表示作为出厂检查对象的现有样本的特定负载107A的输出特性的个别特性曲线图，横轴与纵轴的关系与图3(A)的情况相同。

该个别特性近似为第1线段303b与第2线段304b所组成的折线，第1线段303b与第2线段304b还能近似成一根合成直线305b。

合成直线305b通过坐标点(Ｐ0，Ｖn)，其与横轴的斜率为θn。

其中，Ｐ0是规定的实际测定电流，Ｖn是实际测定电流Ｐ0所产生的转矩，由此个别数据(Ｐ0，Ｖn，θn)得以构成。

另外，在实际测定电流为Pi时，合成直线305b与折线数据之间存在误差ΔＶin，与各个实际测定电流Pi相对应地构成差分数据(ΔＶin)。

这里，将个别特性中所产生的转矩Vn与标准特性中所产生的转矩V0的比率Vn/V0作为一次调整系数，将个别特性中的斜率θn与标准特性中的斜率θ0的比率θn/θ0作为一次斜率系数，并将一次修正系数定为(Ｖn/Ｖ0，θn/θ0)。

该一次修正系数(Ｖn/Ｖ0，θn/θ0)由标签电阻74a的电阻值来体现，微处理器111通过读取出标签电阻74a的电阻值，来识别所使用的特定负载107A所相关的一次修正系数(Ｖn/Ｖ0，θn/θ0)。

其结果是，微处理器111能够利用预先保存的标准特性数据、以及通过读取出标签电阻74a的电阻值而获取的一次修正系数，来获取所使用的特定负载107A即发动机的个别输出特性。

如图3(C)示出了如上述那样获取的个别输出特性，利用标准的合成直线305a及一次修正系数(Ｖn/Ｖ0，θn/θ0)来重现与个别的合成直线305b相同的合成直线305c。

通过将标准差分数据ΔＶi0与该重现的合成直线305c(＝305b)进行代数加法运算，来生成第1线段303c及第2线段304c。

由此生成的图3(C)中的一次修正折线特性与图3(B)的个别检查特性相比，差分数据ΔＶin有所不同。

图3(D)示出了二次修正折线特性中的第1线段303d、第2线段304d、合成直线305d。

合成直线305d通过坐标点(Ｐ0，Ｖm)，其与横轴的斜率为θm，标签电阻74a体现出二次修正系数(Ｖm/Ｖ0，θm/θ0)，而非一次修正系数。

此外，二次修正系数是计算二次调整系数(Ｖm/Ｖ0)及二次斜率系数(θm/θ0)的值后得到的值，使得在分别使一次调整系数(Ｖn/Ｖ0)与一次斜率系数(θn/θ0)的值微增或微减时所得到的一次修正折线特性的第1线段303c及第2线段304c、与个别折线特性中的第1线段303b及第2线段304b之间的相对误差最小。

微处理器111利用标准数据(Ｐ0,Ｖ0，θ0)以及从所述标签电阻74a的电阻值读取出的所述二次修正系数，来确定合成直线305d，并通过将差分数据ΔＶi0与所确定的合成直线305d进行代数加法运算，来确定由第1线段303d及第2线段304d组成的二次修正折线特性，并利用所确定的二次修正折线特性来得到特定负载107A的个别输出特性。

在上述说明中，对将直流发动机用作为特定负载107A的情况进行了说明，一般来说，图3的横轴为相对于特定负载107A的控制输入，而纵轴为特定负载107A所产生的输出。

特别的，在这里的说明中，将控制输入P0设作共同的调整输入，将标准特性中所产生的输出V0与个别特性中所产生的输出Vn作为监视输出，并进行对比，但也可以将为了能得到共同的调整输出时的监视输入的比率设作为调整系数。

另外，也可以不使用斜率系数，而在合成直线305a上决定一对比较坐标点，并利用标准数据(Ｐ0,Ｖ0，Ｐ00,Ｖ00)来表示合成直线305a，利用一对调整系数(Ｖn/Ｖ0，Ｖnn/Ｖ00)来计算出个别的合成直线305b。

在上述说明中，将规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数、或者规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的变化率所相关的相对比率即斜率系数设为调整倍率，该调整倍率是通过乘上标准特性数据而得到个别特性数据的修正常数。

与此相对，将规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值、或者规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的变化率所相关的相对偏差即斜率调整值设为调整加法运算值，该调整加法运算值是通过与标准特性数据进行代数加法运算从而得到个别特性数据的修正常数。

接下来，对图4进行说明，图4是用于说明标签电阻74a的电阻值的决定方法的图表。

图4(A)示出了在对标签电阻74a的电阻值进行数字转换、从而利用二进制值来表示时的比特位结构。

低比特位(Ｂ4～Ｂ0)是用于指定1.04～0.95来作为调整系数的数值区域，例如，在希望将调整系数设作为0.95时，将低比特位设为00001～00011的中心值00010即可。

由此，在将标签电阻的调整误差或AD转换误差考虑在内的情况下，即使产生1比特程度的误差，也能可靠地识别出调整系数0.95。

此外，在图4(A)中，将低比特位上的二进制值00001～11110换算成10进制值时为1～30，与1～30相对应地分配调整系数0.95～1.04。

高比特位(Ｂ8～Ｂ6)用于分配1.04～0.97来作为斜率系数，例如，在希望将斜率系数设作为1.01时，设定(Ｂ8,Ｂ7,Ｂ6)＝(1，0，0)即可。

该情况下的十进制值为256，然而如果例如十进制值为258＝256+2，则斜率系数选择1.01，而调整系数选择0.95。

图4(B)是用于说明其它实施方式中的标签电阻74a的电阻值的决定方法的图表，这里，作为修正常数，在第1比较调整点上应用偏置调整值，而在第2比较调整点上应用使用了调整系数的数据形式。

此外，使用调整系数、斜率系数、偏置调整值、斜率调整值的哪个组合作为修正常数是以数据形式的方式预先写入并保存在程序存储器113A或数据存储器114中。

图4(B)是9行7列共计63格的表，能够选择精调与粗调来作为偏置调整值，精调能够进行(＋3，＋2，+1，0，－1，－2，－3)这7个级别的修正，而粗调能够进行(＋6，＋4，＋2，0，－2，－4，－6)这7个级别的修正。一个单位的修正量所表示的含义均被定义在程序存储器113A或数据存储器114中，例如保存有5mV或－10Kg这样具体的数值。

另外，也可以选择能够进行(1.04，1.03，1.02，1.01，1.00，0.99，0.98，0.97，0.96)这9个级别修正的精调、以及能够进行(1.08，1.06，1.04，1.02，1.00，0.98，0.96，0.94，0.92)这9个级别修正的粗调，来作为调整系数。

另一方面，标签电阻能够进行比特位0～6的7个比特位的选择调整，由此，可将标签电阻的数字转换值0～127中的1～126作为等级编号来进行分配。

等级编号1～126中，奇数编号被分配为用于精调，而偶数编号被分配为用于粗调，例如如果等级编号为81，则偏置调整值以＋2为单位来进行加法运算修正，而调整系数进行0.99倍的乘法修正。

另外，例如如果等级编号为82，则偏置调整值以＋4为单位来进行加法运算修正，而调整系数进行0.98倍的乘法修正。

接下来，对图5及图6进行说明，图5是实施方式1中所用的两个一用的标签电阻61a、62a的结构图，图6是对使用了图5的标签电阻61a、62a时的调整系数进行说明的特性曲线图。

图5中，与特定传感器106A一体化的第1及第2标签电阻61a、62a由经过激光微调后的薄膜电阻构成，通过一个调整窗来进行电阻值的调整。

此外，薄膜电阻的宽度为X、长度为Y、厚度为T，若将宽度方向上的切割尺寸设为ΔＸ，将长度方向上的切割尺寸设为ΔＹ，则通过对初始的电阻值R0进行切割而增加的增加电阻值ΔＲ可通过式(3)计算得出。

ΔＲ/Ｒ0＝(ΔＹ/Ｙ)×ΔＸ/(Ｘ－ΔＸ)····(3)

因此，通过调整切割尺寸能大幅度地调整电阻，并且，利用微口径激光束完成的电阻精度较高。

接下来，对图6进行说明，图6是图1中的特定传感器106A的标准检测特性曲线图及个别检测特性曲线图。

图6(A)是表示多个样本的特定传感器106A的检测特性所相关的平均值的标准特性曲线，在特定传感器106A例如是压力传感器的情况下，横轴为利用用于测量的高精度的压力检测器所测定到的高精度的实际测定压力，纵轴是利用用于测量的高精度的电压计所测定到的特定传感器106A的实际测定检测输出电压。

该标准特性近似为由第1线段601a和第2线段602a所形成的折线，第1线段601a通过坐标点(Ｐ10，Ｖ10)，其与横轴的斜率为θ10，并且，第2线段602a通过坐标点(Ｐ20，Ｖ20)，其与横轴的斜率为θ20。另外，第1线段601a与第2线段602a的交点部分可以利用曲率半径为Ra的圆弧来补充。

图6(B)是表示作为出厂检查的对象的特定传感器106A的检测特性的个别特性曲线图，横轴与纵轴的关系与图6(A)的情况相同。

该个别特性近似为由第1线段601b和第2线段602b所组成的折线，第1线段601b通过坐标点(Ｐ10，Ｖ1n)，其与横轴的斜率为θ1n，并且，第2线段602b通过坐标点(Ｐ20，Ｖ2n)，其与横轴的斜率为θ2n。

另外，第1线段601b与第2线段602b的交点部分可以利用曲率半径为Rb的圆弧来补充，而该曲率半径Rb可以近似沿用标准特性中的曲率半径Ra。

这里，将个别特性中的第1检测输出V1n与标准特性中的第1检测输出V10的比率V1n/V10作为第1调整系数，将个别特性中的第1斜率θ1n与标准特性中的第1斜率θ10的比率θ1n/θ10作为第1斜率系数，并将第1修正系数定为(Ｖ1n/Ｖ10，θ1n/θ10)。

同样，将个别特性中的第2检测输出V2n与标准特性中的第2检测输出V20的比率V2n/V20作为第2调整系数，将个别特性中的第2斜率θ2n与标准特性中的第2斜率θ20的比率θ2n/θ20作为第2斜率系数，并将第2修正系数定为(Ｖ2n/Ｖ20，θ2n/θ20)。

根据上述要领，由此计算出的第1、第2修正系数可由一对标签电阻61a、62a的电阻值来体现。

其结果是，电子控制装置100A的微处理器111能够利用预先保存的标准特性数据、以及通过读取一对标签电阻61a、62a的电阻值而得到的第1、第2修正系数，来获取与所使用的特定传感器106A相关的个别检测特性。

在上述说明中，对将压力传感器用作为特定传感器106A的情况进行了说明，一般来说，图6的横轴为对特定传感器106A的测定输入，而纵轴为特定传感器106A的检测输出。特别的，在这里的说明中，将测定输入P10、P20作为共同的调整输入，将标准特性中的检测输出V10、V20与个别特性的检测输出V1n、V2n作为监视输出，并进行对比，但也可以将为了能得到共同的调整输出时的监视输入的比率设为调整系数。

另外，也可以不使用斜率系数，而是确定第1直线601a与第2直线602a上的一对比较坐标点，并利用第1标准数据(Ｐ10,Ｖ10，Ｐ11,Ｖ11)及第2标准数据(Ｐ20,Ｖ20，Ｐ21,Ｖ21)来表示第1直线601a与第2直线602a，利用一对调整系数(Ｖ1n/Ｖ10，Ｖ11n/Ｖ11)及(Ｖ2n/Ｖ20，Ｖ21n/Ｖ21)来计算个别的第1直线601b与第2直线602b。

在上述说明中，将规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数、或者规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的变化率所相关的相对比率即斜率系数设为调整倍率，该调整倍率是通过乘上标准特性数据而得到个别特性数据的修正常数。

与此相对，将规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值、或者规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的变化率所相关的相对偏差即斜率调整值设为调整加法运算值，该调整加法运算值是通过与标准特性数据进行代数加法运算从而得到个别特性数据的修正常数。

接下来，对图7进行说明，图7是图1的电子控制装置100A中的特定负载的驱动控制框图。

图7中，控制模块700a中，在特定负载107A例如是直流发动机的情况下，设定作为其目标输出转矩的目标驱动输出Ps。

接下来，在控制模块700b中，读取标签电阻74a的电阻值，并根据图3中说明的要领来计算特定负载107A的个别输出特性。

接下来，在控制模块701中参照由控制模块700a设定的目标驱动输出Ps、以及由控制模块700b计算出的个别输出特性来设定目标电流Is。

在控制模块702a中测定施加到特定负载107A上的负载电源电压Vbb。此外，由于负载电源电压Vbb与供电电压Vb是几乎相同的值，因此一般来说，将供电电压Vb的分压电压输入到AD转换器115中，并测定负载电源电压Vbb与供电电压Vb。

在接下来的控制模块702b中，根据基于计算式(4)的通电占空比Kd来产生控制信号DR1。

Ｋd＝Ｉs×Ｒc/Ｖbb······(4)

其中，Is是目标电流，Rc是基准温度下特定负载107A的电阻值，Vbb是在控制模块702a中计算出的供电电压Vbb的当前值。

控制模块702c用于将计算式(4)中的电阻值Rc的值替换成当前温度下的当前电阻值，该当前电阻值通过计算出平均施加电压和平均电流并将平均施加电压除以平均电流而得到，所述平均施加电压作为控制直流信号DR1的最近之前的多个开闭周期中的通电占空比Kd与负载电源电压Vbb之积所相关的移动平均值而被计算出，所述平均电流作为同一期间内的检测电流的移动平均值而被计算出，并且，在运行刚开始后，使用所述特定负载107A在基准温度下的电阻值即规定的固定常数。

在控制模块703a中，根据输入到AD转换器115中的负反馈电压Va4的值来计算提供给特定负载107A的供电电流。

在控制模块703b中，乘上控制误差修正系数α，该误差修正系数α用于对在电子控制装置100A的出厂检查时刻所测定到的目标电流相对于负载电流特性的固体偏差变动进行校正。

在接下来的控制模块704中，基于由控制模块701设定的目标电流Is、与由控制模块703a、703b检测并校正后的负载电流之间的偏差信号，来生成PID控制信号，并与提供给控制模块702b的目标电流进行代数加法运算。

下面，利用图8～图10所示的流程图，对具有图1那样的结构的本发明的实施方式1所涉及的电子控制装置进行作用动作的详细说明。

首先，对图8进行说明，图8是特定传感器106A及特定负载107A的出厂调整操作的流程图。

图8(A)是与特定负载107A相关的流程图，工序800a是出厂调整操作的前一阶段即实验测定的工序，在该工序中，制定图3(A)所示的特定负载107A的标准输出特性，并且为了得到标准数据而对通过实验测定到的多个样本的个别特性的固体偏差变动范围进行观察，从而决定标准数据的数据形式，并生成例如(Ｐ0，Ｖ0，θ0)及差分数据ΔＶi0来作为标准数据。

此外，在特定负载107A的输出特性例如根据周围的温度而发生变动、且无法忽略该变动的情况下，需要测定在基准温度环境及其它高温、低温环境下的输出特性，并生成不同温度环境下的标准数据。

工序801a是对作为出厂调整现有样本的特定负载107A进行出厂调整操作的开始步骤。

在接下来的工序802a中，在规定的基准环境下将特定负载107A安装到作为试验设备的测定装置上，在接下来的工序803a中测定图3(B)所示的个别输出特性，在接下来的工序804a中求出合成直线305b的计算式，在接下来的工序805a中计算用于获得图3(C)的一次修正折线特性的一次修正系数、或者用于获得图3(D)的二次修正折线特性的二次修正系数，在接下来的工序806a中参照图4进行标签电阻的调整，并利用工序810a完成出厂调整。

此外，在工序800a中在驱动OA设备的同时，原则上进行手动操作，然而从工序802a至工序806a为止的一系列操作也可以通过以可编程控制器为主体的自动化设备来实现整体省力。

图8(B)是与特定传感器106A相关的流程图，工序800b是出厂调整操作的前阶段即实验测定的工序，在该工序中，测定图6(A)所示的特定传感器106A的标准检测特性，并且为了得到标准数据而对通过实验测定到的多个样本的个别特性的固体偏差变动范围进行观察，从而决定标准数据的数据形式，并生成例如第1标准数据(Ｐ10，Ｖ10，θ10)及第2标准数据(Ｐ20，Ｖ20，θ20)来作为标准数据。

此外，在特定传感器106A的检测特性例如根据周围的温度而发生变动、且无法忽略该变动的情况下，需要测定在基准温度环境及其它高温、低温环境下的检测特性，并生成不同温度环境下的标准数据。

工序801b是对作为出厂调整现有样本的特定传感器106A进行出厂调整操作的开始工序。在接下来的工序802b中，在规定的基准环境下将特定传感器106A安装到作为试验设备的测定装置上，在接下来的工序803b中测定图6(B)所示的个别检测特性，在接下来的工序804b中求出第1、第2直线601b、602b的计算式，在接下来的工序805b中计算第1、第2修正系数，在接下来的工序806b中参照图4来进行第1、第2标签电阻61a、62a的调整，并利用工序810b完成出厂调整。

此外，在工序800b中在驱动OA设备的同时，原则上进行手动操作，然而从工序802b至工序806b为止的一系列操作也可以通过以可编程控制器为主体的自动化设备来实现整体省力。

接下来，对图9进行说明，图9是图1中的电子控制装置100A的调整动作的流程图。图9中，工序900a是进行如下动作的准备工序：对电子控制装置100A连接成为标准样本的特定传感器106A及特定负载107A，并将图1中示出的调整工具190A、数字电压计191、数字电流计192、以及测量用电流检测器193相连接。

此外，成为标准样本的特定传感器106A的标签电阻61a、62a及特定负载107A的标签电阻74a预先被调整到调整系数或斜率系数均为1.0的标准状态。

另外，电子控制装置100A的程序存储器113A或数据存储器114中预先保存有成为标签电阻读取转换单元1004的控制程序、输入输出控制程序，还预先保存有特定传感器106A的标准检测数据及数据形式、特定负载107A的标准输出数据及数据形式。

工序900b是对电子控制装置100A进行出厂调整操作的开始工序。

接下来的工序901是读取出作为标准样本而进行连接的特定传感器106A及特定负载107A的标签电阻的值、并判断是否能够读取出规定的电阻值的工序，若能够读取则进行“是”的判断并转移至工序902，在不能读取时进行“否”的判断，并转移至工序906。

此外，标签电阻61a、62a、74a的电阻值能参照图1的两端电压Va2、Va3、Va5的值并利用计算式(2)计算得出。

从在工序902中读取出的标签电阻的电阻值中，将调整系数与斜率系数分离开，在接下来的工序903中判断在工序902中提取出的调整系数与斜率系数是否均为1.0的标准系数，若是标准系数，则进行“是”的判断并转移至工序904a，若不是标准系数则进行“否”的判断并转移至工序906，由此来检查标签电阻61a、62a、74a的读取功能是否正常。

工序904a是在规定的供电电压Vbb的基础上、从调整工具190A设定例如特定负载107A的额定电流即规定的目标电流Isn、从而对特定负载107A进行通电的工序。接下来的工序905a是进行如下动作的成为修正控制常数保存单元的步骤：读取出由数字电流计192测定到的励磁电流Ifn，并计算出与目标电流Isn相对的电流修正系数α＝Ｉsn/Ｉfn，将其保存到程序存储器113A或数据存储器114中。

此外，图7的控制模块703b中所使用的控制误差修正系数α是在该工序905a中测定得到的。

在接下来的工序904b中，从特定传感器106A或未图示的代替基准电压源向电子控制装置100A内的接口电路160a施加规定的电压，读取出作为其输出电压的监视电压Va1的数字转换值，并将其与从调整工具190A输入的对接口电路160a的实际测定输入电压进行对比。

接下来的工序905b是利用两种输入电压由工序904b来进行对比、并根据与输入电压对数字转换值相关的连立方程来计算并存储接口电路160a中的偏置电压及放大率的工序。

工序906是在工序901、工序903进行“否”的判断时、对调整工具190A进行异常警告、并转移至调整完成工序910的工序。

接下来，对图10进行说明，图10是图1中的电子控制装置100A的运行动作的流程图。

图10中，工序1000a是使未图示的电源开关闭合、使得图1中的电源继电器激励并使输出触点103闭合、从而向电子控制装置100A进行供电的工序。

在接下来的工序1000b中，通过使电子控制装置100A内的定电压电源110a产生规定的控制电压Vcc，从而使微处理器111开始动作，接下来的工序1001是进行如下动作的判断步骤：根据未图示的标记存储器的动作状态来判断是否是电源开关闭合后首次执行的控制流程，如果是首次动作，则进行“是”的判断并转移至工序1002，若不是首次动作则进行“否”的判断，并转移至工序模块1007。

工序模块1002是进行如下动作的步骤：进行RAM存储器112的初始化设定，产生自保持指令信号，从而使电源继电器的输出触点103持续闭合，并使负载电源继电器激励，从而使输出触点104闭合。

工序1003是读取出设置于特定传感器106A及特定负载107A中的标签电阻61a、62a、74a的值、并判断是否能够读取出规定的电阻值的步骤，若能够读取则进行“是”的判断并转移至工序模块1004，在不能读取时则进行“否”的判断，并转移至工序1010。

接下来的工序模块1004是由工序1005a至工序1005c构成的标签电阻读取转换单元。

参照在工序1005a中读取出的标签电阻的电阻值、及保存在数据存储器114中的标准数据的数据形式，来识别作为调整要素的调整系数或斜率系数或偏置调整值或斜率调整值，接下来的工序1005b是在基于在工序1005a中提取出的调整系数及斜率系数来生成图3(C)或图3(D)所示的输出特性的计算式或数据表格之后、转移至工序1005c的工序。

接下来的工序1005c是在基于在工序1005a中提取出的调整系数及斜率系数来生成图6(B)所示的检测特性的计算式或数据表格之后、转移至工序模块1007的工序。

接下来的工序模块1007是由工序1008a至工序1008d构成的负反馈控制模块。

工序1008a对应于图7的控制模块700a、700b、701，根据所设定的目标输出转矩、以及在工序1005b中生成的特定负载107A的输出特性来计算目标电流。

接下来的工序1008b对应于图7的控制模块702a、702b、702c，生成与所测定到的负载电源电压Vbb及推定出的负载电阻的值相对应的通电占空比的控制指令信号DR1。

接下来的工序1008c对应于图7的控制模块703a、703b，参照与负载电流成正比的负反馈电压Va4及在图9的工序905a中计算出的控制误差修正系数α来计算出经校正后的负载电流。

接下来的工序1008d对应于图7的控制模块704，是进行如下动作的步骤：与在工序1008a中所设定的目标电流和在工序1008c中所检测出的负载电流之间的偏差信号进行联动，从而生成将该比例信号、积分信号与微分信号进行合成后得到的PID控制信号，并与目标电流信号进行代数加法运算。

在接下来的工序1009中，读取特定传感器106A的检测信号，从而检测出消除个别偏差变动后的输入信号，该个别偏差变动利用在工序1005c中生成的个别检测特性、以及在图9的工序905b中测定到的接口电路160a的校正特性得以消除。

接下来的工序模块1011是进行如下动作的步骤：与传感器组105及特定传感器106a的动作状态、以及保存在程序存储器113A中的输入输出控制程序的内容进行联动，从而对电负载组108进行驱动控制。

接下来的工序1012是在工序模块1011中定期执行、判断未图示的电源开关是否闭合的步骤，如果电源开关依然闭合则进行“否”的判断并转移至动作结束工序1020，如果电源开关开路则进行“是”的判断并转移至工序模块1013。

工序模块1013是在工序模块1011的执行过程中将写入RAM存储器112中的学习信息、异常发生信息等重要数据传送并保存到数据存储器114中、并转移至工序1014的步骤。

在工序1014中，通过解除在工序模块1002中产生的自保持指令信号来使电源继电器去激励，从而使输出触点103开路，并停止向电子控制装置100A供电。其中，利用在电子控制装置100A内直接由外部电源102进行供电的定电压电源110b来对RAM存储器112的一部分区域进行持续的供电。

在作为动作结束工序的工序1020中，执行其它控制程序，在规定的时间内返回工序1000b，由此重复执行工序1000b至工序1020。

此外，在工序1010中进行异常警告并转移至动作结束工序1020。在上述说明中，成为标签电阻读取转换单元的工序模块1004每次都在电源接通后马上执行，因此将与所使用的现有样本相对应的检测特性或输出特性的计算式或数据表格保存于RAM存储器112中，因而无需向非易失性数据存储器114传送及保存。

然而，作为标签电阻的读取时刻，在外部电源102的端子被卸下后电源开关首次被接通时，执行标签电阻读取转换单元的情况下，需要预先向非易失性数据存储器114传送并保存。

如上述说明的那样，本发明的实施方式1所涉及的电子控制装置100A，

包括微处理器111，该微处理器111与输入传感器组105的动作状态及程序存储器113A的内容进行联动，从而对电负载组108进行驱动控制，并且，所述输入传感器组105的一部分特定传感器106A具有用于校正传感器的检测特性的固体偏差变动的标签电阻61a、62a，或者，所述电负载组108的一部分特定负载107A具有用于校正输出特性的固体偏差变动的标签电阻74a，

所述微处理器111还与用于运算处理的RAM存储器112、所述程序存储器113A的一部分区域或分开设置的非易失性数据存储器114、以及AD转换器115相连，并相互联动，

并且，所述程序存储器113A或数据存储器114中以规定的数据形式保存有多个样本的实验数据的平均特性数据即所述特定传感器106A的标准检测特性数据、或者所述特定负载107A的标准输出特性数据即标准特性数据。

所述检测特性或输出特性的2次微分值具有不进行正负翻转的单调递增特性或单调递减特性，近似于至少一对以上的折线特性，

所述程序存储器113A或数据存储器114中还保存有插补信息，该插补信息用于填补近似于折线特性的所述标准特性数据、与实际的标准特性数据之间的误差，

所述程序存储器113A包含成为标签电阻读取转换单元1004的控制程序，所述标签电阻读取转换单元1004参照与所述标签电阻61a、62a、74a串联连接的串联电阻161a、162a、174的电阻值、以及该标签电阻的两端电压Va2、Va3、Va5及施加在串联电路上的电压即控制电压Vcc，来计算该标签电阻的电阻值，并基于所计算出的电阻值来计算所述特定传感器106A的检测特性、或用于修正所述特定负载107A的输出特性的固体偏差变动的修正常数，并将其保存到所述数据存储器114或所述RAM存储器112中。

所述修正常数是以所述标准特性数据为基准的所述特定传感器106A的个别检测特性数据，或是用于确定所述特定负载107A的个别输出特性数据即个别特性数据的一对调整倍率，或是一对调整加法运算值，又或是将调整倍率与调整加法运算值进行复合后得到的数据，

所述调整倍率是通过与所述标准特性数据相乘从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对比率即斜率系数，

所述调整加法运算值是通过与所述标准特性数据进行代数加法运算从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对偏差即斜率调整值。

所述标签电阻读取转换单元1004在电源开关接通后的运行开始时执行，或是在对所述特定传感器106A或所述特定负载107A进行维护更换时执行，对所述修正常数是由所述调整系数或斜率系数或偏置调整值或斜率调整值的哪个组合所构成的进行识别，并将所识别出的修正常数及所述特定传感器106A或所述特定负载107A的所述标准特性数据、与所述插补信息进行组合，从而还原生成所述个别特性数据，

所述微处理器111参照所生成的所述个别检测特性数据来对所述电负载组108进行驱动控制，或者参照所生成的所述个别输出特性数据来对所述特定负载107A进行驱动控制。

所述标签电阻74a依次串联连接有多个串联电阻80～89，该串联电阻80～89的电阻值中，后级的电阻值是前级的电阻值的2倍，各个串联电阻80～89通过设在调整窗内的多个短路/开路端子Ｂ0～Ｂ9来进行短路或开路，所述短路/开路端子Ｂ0～Ｂ9对应于作为目标的标签电阻74a的电阻值的二进制值，根据各比特位的逻辑状态来进行短路或开路。

如上所述，与本发明的权利要求4相关联，标签电阻由多级串联电阻构成，各串联电阻的电阻值依次翻倍，并且，在安装特定传感器或特定负载以后，通过调整窗来使短路/开路端子短路或开路。

因此，其特征在于，在调整标签电阻时，即使没有标签电阻的测定器，也能将标签电阻的电阻值多级设定成作为目标的值。

所述标签电阻61a、62a使用薄膜电阻，该薄膜电阻可以通过调整窗利用激光微调来对电阻值进行调整，以使得在对电阻值进行测量监视的同时，利用宽度方向的切割尺寸ΔＸ及长度方向的切割尺寸ΔＹ来使其变为目标电阻值。

如上所述，与本发明的权利要求5相关联，标签电阻使用薄膜电阻，通过调整窗利用在宽度方向尺寸及长度尺寸方向上的0激光加工来进行切割，从而在一边对该电阻值进行测定一边对其进行调整。

因此，其特征在于，利用安装标签电阻后的后处理，能够一边对标签电阻的电阻值进行测量，一边对具有高精度的电阻值的标签电阻进行无级调整。

特别是，其特征在于，能够通过使一对标签电阻的调整部位相邻，从而通过一个调整窗来进行调整，并在一个地方完成调整后的密封处理。

将所述微处理器111所测定到的所述标签电阻61a、62a、74a的数字转换值分割成高比特位组及低比特位组来使用，

将所述高比特位组及低比特位组分别分配给所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的某一个的设定，将所分配的设定值、以及与所述偏置调整值或所述斜率调整值相关的最小值保存在所述程序存储器113A或数据存储器114中，利用与所述最小值相对的倍率来对所述偏置调整值或所述斜率调整值进行设定。

如上所述，与本发明的权利要求7相关联，能够利用设置于特定传感器或特定负载上的一个标签电阻，来分别识别出调整系数或斜率系数或偏置调整值或斜率调整值中的任意的多个设定值。

因此，其特征在于，能够利用较少的标签电阻来获取到所使用的特定传感器或特定负载的个别特性数据，并能够利用程序存储器或数据存储器来自由地对调整系数或斜率系数或偏置调整值或斜率调整值的具体设定值与多个设定值间的比率或间隔进行设定。

由所述微处理器111测定到的所述标签电阻61a、62a、74a的数字转换值与设置在对所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值的设定值进行分配的二次映射中的流水号相对应，

利用所述流水号来指定所述设定值的等级编号，

在将所述流水号分割成小号组与大号组、或者奇数编号组与偶数编号组时，同一等级将被分配到两个流水号，将分配给各个等级编号的用于精调或用于粗调的所述设定值、以及与所述偏置调整值或所述斜率调整值相关的最小值保存在所述程序存储器113A或数据存储器114中，

利用与所述最小值相对的倍率来对所述偏置调整值或所述斜率调整值进行设定。

如上所述，与本发明的权利要求8相关联，能够利用设置于特定传感器或特定负载的一个标签电阻，来识别出调整系数或斜率系数或偏置调整值或斜率调整值的设定值。

因此，其特征在于，能够利用较少的标签电阻来获取到所使用的特定传感器或特定负载的个别特性数据，并能利用程序存储器或数据存储器来自由地对调整系数或斜率系数或偏置调整值或斜率调整值的具体的值与多个设定值间的比率或间隔进行设定。

实施方式2

下面，以与图1的情况的不同点为中心，对表示本发明的实施方式2的整体结构图即图11进行说明。

此外，在各图中同一标号表示同一或相等部分。

图11中，以电子控制模块110B为主体而构成的电子控制装置100B直接由外部电源102并经由电源继电器的输出触点103以及负载电源继电器的输出触点104进行供电。

电子控制装置100B与输入传感器组105及特定传感器106B的动作状态、以及保存在程序存储器113B中的输入输出控制程序的内容进行联动，从而对电负载组108及特定负载107B进行驱动控制。

特定负载107B例如是像线性螺线管这样的电磁致动器，产生与负载驱动电流进行联动的电磁动力。

特定传感器106B例如是用于对由特定负载107B产生的电磁动力与线圈弹簧的阻力相斥的位置进行检测的位置传感器。

特定传感器106B中设有第1及第2标签电阻61b、62b，该第1及第2标签电阻61b、62b用于对将作为特定负载107B的输出特性的负载电流对电磁动力的固体偏差变动、与特定传感器106B的位置检测特性的固体偏差变动进行合成后所得的合成输出特性进行校正。

此外，特定传感器106B的合成输出特性或特定负载107B的输出特性不是山形或谷形曲线，而是单调递增或单调递减的曲线特性，在比较平缓的直线特性的情况下，只需一个标签电阻即可，在是弯曲特性的情况下使用两个标签电阻。

设于电子控制装置100B内部的接口电路160b将与特定传感器106B的检测信号进行联动的监视电压Va1输入到多通道AD转换器115。

此外，在特定传感器106B例如产生DC0～5V的检测信号的情况下，无需接口电路160b，而在检测信号电压较为微小的情况下，利用接口电路160b来进行放大，在检测信号电压穿越正负区域的情况下，利用接口电路160b来加上偏置电压，并进行标准化转换，使得监视电压Va1处于DC0～5V的正坐标区域。

与第1标签电阻61b串联连接的串联电阻161b的一端连接有控制电压Vcc，将另一端作为第1标签电阻61b的两端电压Va2输入到多通道的AD转换器115中。

与第2标签电阻62b串联连接的串联电阻162b的一端连接有控制电压Vcc，将另一端作为第2标签电阻62b的两端电压Va3输入到多通道的AD转换器115中。

调整工具190B在电子控制装置100B的出厂调整运行时，经由串行通信电路109进行连接，以进行接口电路160b与电流控制电路171的初始校正，在该出厂调整运行时，具有特定传感器106B的特定负载107B使用标准样本。

将接口电路160b的输入电压经由用于测量的数字电压计191与调整工具190B输入到电子控制装置100B中，求出在提供一大一小两种输入电压Vi1、Vi2时的监视电压Va1经AD转换器115转换后得到的数字转换值Di1、Di2，并根据输入电压Vi1、Vi2与数字转换电压Di1、Di2之间的关系计算出接口电路160a内所施加的实际的偏置电压、以及接口电路160b的实际放大率。

其结果是，即使在接口电路160b内施加的偏置电压、接口电路160b的放大率中存在固体偏差变动，也能通过预先将实际测定到的偏置电压及放大率存储到数据存储器114中，从而准确地获取到经由接口电路160b输入的信号电压。

电流控制电路171或电流检测电阻172的固体偏差变动所相关的校正如上述在图1中阐述的那样。

如上所述，可以认为：电子控制装置100B内相对于特定传感器106B或特定负载107B的接口电路预先经过适当的校正处理，因而即使特定传感器106B发出正负的检测信号，也能通过接口电路160b内的偏置加法运算来将其重新置于正坐标上的检测信号。

因此，在下述说明中，对特定传感器的检测特性或特定负载的输出特性均不含有负值的情况进行说明。

接下来，对图12及图13进行说明，图12是以实施方式2中所用的两个一用的标签电阻61b、62b为代表的结构图，图13是对使用了图12的标签电阻61a、62a时的调整系数进行说明的特性曲线图。

图12中，构成标签电阻61b、62b的串联电阻依次在构成为漩涡状的薄膜电阻体处设置有连接端子，将该连接端子用作为多个短路/开路端子B0～B9，通过调整窗使其短路或开路。

短路/开路端子B0～B9间的电阻从小的电阻开始依次设有通过激光微调形成的切割部分63，由此来进行调整、以使得其变成依次翻倍的电阻值。

在预先构成这种电路的情况下，在通过短路/开路端子B0～B9的任意组合来使端子短路时，利用该组合使作为标签电阻61a、62b的合成电阻变化，由靠近B9的左侧位置上的短路/开路端子发生短路而导致的标签电阻61b、62b的电阻值的变化要比由靠近B0的位置上的短路/开路端子发生短路而导致的标签电阻61b、62b的电阻值的变化要大，因此将其置于高比特位。

此外，获取到的标签电阻61b、62b是事先经过调整的标准元器件，在将其安装到特定传感器106B的阶段，利用焊料使短路/开路端子B0～B9的一部分或全部短路，若该调整操作结束，则在未图示的调整窗内注入密封材。

图13(A)是表示多个样本的特定传感器106B的合成输出特性所相关的平均值的标准合成曲线图，在特定传感器106B例如是线性螺线管的活塞的位置传感器的情况下，横轴为提供给特定负载107B即线性螺线管的实际测定励磁电流，而纵轴是由用于测量的高精度的电压计测定到的特定传感器106B的实际测定输出电压。

该标准特性近似为第1线段315a与第2线段325a的折线，第1线段315a通过坐标点(Ｐ10，Ｖ10)，其与横轴的斜率为θ10，并且，第2线段325a通过坐标点(Ｐ20，Ｖ20)，其与横轴的斜率为θ20。

第1直线315a还是将由前段的第1线段313a与第2线段314a所组成的折线进行合成后得到的直线，而第2直线325a还是将由后段的第1线段323a与第2线段324a所组成的折线进行合成后得到的直线。

前段及后段的第1、第2线段更精确地反映出了实际的标准合成特性，所计算出的第1直线315a是使得前段的第1线段313a与第2线段314a之间的相对误差最小的合成直线，在通有作为各个分散调整值Pi1的励磁电流时，第1线段313a与第2线段314a之间具有由第1差分数据ΔＶi1所示的误差。

同样，所计算出的第2直线325a是使得后段的第1线段323a与第2线段324a之间的相对误差最小的合成直线，在通有作为各个分散调整值Pi2的励磁电流时，第1线段323a与第2线段324a之间具有由第2差分数据ΔＶi2所示的误差。

图13(B)是作为出厂对象现有样本的带有特定传感器106B的特定负载107B所相关的个别合成曲线图。

该个别特性近似为第1线段315b与第2线段325b的折线，第1线段315b通过坐标点(Ｐ10，Ｖ1n)，其与横轴的斜率为θ1n，并且，第2线段325b通过坐标点(Ｐ20，Ｖ2n)，其与横轴的斜率为θ2n。

第1直线315b还是将由前段的第1线段313b与第2线段314b所组成的折线进行合成后得到的直线，而第2直线325b还是将由后段的第1线段323b与第2线段324b所组成的折线进行合成后得到的直线。

前段及后段的第1、第2线段更精确地反映出了实际的个别合成特性，所计算出的第1直线315b是使得前段的第1线段313b与第2线段314b之间的相对误差最小的合成直线。

同样，所计算出的第2直线325b是使得后段的第1线段323b与第2线段324b之间的相对误差最小的合成直线。

图13(C)示出了还原折线特性，该还原折线特性由与个别第1直线315b相同的直线即还原第1直线315c、以及与个别第2直线325b相同的直线即还原第2直线325c构成，其中，通过对图13(A)中示出的标准特性的第1直线315a及第2直线325a的第1标准数据(Ｐ10，Ｖ10，θ10)及第2标准数据(Ｐ20，Ｖ20，θ20)乘上第1修正常数(Ｖ1n/Ｖ10，θ1n/θ10)及第2修正常数(Ｖ2n/Ｖ20，θ2n/θ20)，从而得到第1个别数据(Ｐ10，Ｖ1n，θ1n)及第2个别数据(Ｐ20，Ｖ2n，θ2n)，由此获得该还原第1直线315c及还原第2直线325c。另外，在还原折线特性中，前段的第1线段313c及第2线段314c是通过将还原第1直线315c与图13(A)中的第1差分数据ΔＶi1进行代数加法运算而获取到的线段，后段的第1线段323c及第2线段324c是通过将还原第2直线325c与图13(A)中的第2差分数据ΔＶi2进行代数加法运算而获取到的线段。

将由此获取到的4段还原折线特性保存在数据存储器113B或RAM存储器112中，微处理器111利用该还原折线特性来获取经校正后的合成输出特性。

在上述说明中，对将特定传感器106B设为位置传感器、将特定负载107B设为线性螺线管的情况进行了说明，一般来说，图13的横轴为提供给特定负载107B的供电电流，而纵轴为特定传感器106B的检测输出。

特别的，在这里的说明中，将供电电流P10、P20设作共同的调整输入，将标准特性中的检测输出V10、V20与个别特性的检测输出V1n、V2n作为监视输出来进行对比，但也可以将为了能得到共同的调整输出时的监视输入的比率设作为调整系数。

另外，也可以不使用斜率系数，而是确定第1直线315a与第2直线325a上的一对比较坐标点，并利用第1标准数据(Ｐ10,Ｖ10，Ｐ11,Ｖ11)及第2标准数据(Ｐ20,Ｖ20，Ｐ21,Ｖ21)来表示第1直线315a与第2直线325a，利用一对调整系数(Ｖ1n/Ｖ10，Ｖ11n/Ｖ11)及(Ｖ2n/Ｖ20，Ｖ21n/Ｖ21)来计算个别的第1直线315b和第2直线325b。

在上述说明中，将规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数、或者规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的变化率所相关的相对比率即斜率系数设为调整倍率，该调整倍率是通过乘上标准特性数据而得到个别特性数据的修正常数。

与此相对，将规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值、或者规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的变化率所相关的相对偏差即斜率调整值设为调整加法运算值，该调整加法运算值设为通过与标准特性数据进行代数加法运算从而得到个别特性数据的修正常数。

接下来，对用于计算修正常数的变形方式即图14进行说明。

图14(A)所示的概念图中，特定传感器106B具有第1、第2标签电阻，由特定传感器106B产生的检测信号被输入到电子控制装置100B，并且，通过测定第1、第2标签电阻的电阻值来校正特定传感器106B的固体偏差变动。

图14(B)中，实线示出了标准合成曲线图，该标准合成曲线图示出了多个样本的特定传感器106B的合成输出特性所相关的平均值，而虚线示出了与作为出厂对象现有样本的带有特定传感器106B的特定负载107B相关的个别合成曲线图。

由实线表示的标准特性近似为由第1直线315a及第2直线325a、以及位于第1直线315a和第2直线325a中间的第3直线335a所组成的折线，第1直线315a通过坐标点(Ｐ10，Ｖ10)及(Ｐ20，Ｖ20)，而第2直线325a通过坐标点(Ｐ30，Ｖ30)及(Ｐ40,Ｖ40)。

第3直线335a通过与第1直线315a共通的坐标点(Ｐ20,Ｖ20)、以及与第2直线325a共通的坐标点(Ｐ30,Ｖ30)。

由虚线表示的个别特性近似为由第1直线315b及第2直线325b、以及位于第1直线315b和第2直线325b中间的第3直线335b所组成的折线，第1直线315b通过坐标点(Ｐ10，Ｖ10n)及(Ｐ20，Ｖ20n)，而第2直线325b通过坐标点(Ｐ30，Ｖ30n)及(Ｐ40,Ｖ40n)。

第3直线335b通过与第1直线315b共通的坐标点(Ｐ20,Ｖ20n)、以及与第2直线325b共通的坐标点(Ｐ30,Ｖ30n)。

图14(C)示出了作为第1直线315a、315b以及第2直线325a、325b的坐标点的标准数据及个别数据，并且，还列出了由第1、第2标签电阻表示的修正常数。

作为修正常数，记载有用于乘上标准数据以得到个别数据的调整系数的情况、以及用于加上标准数据以得到个别数据的偏置调整值的情况。

由此，在进行三段折线的近似的情况下，能够利用两个标签电阻来进行对应于三根直线的修正。

接下来，以与图7的情况的不同点为中心、对图15进行说明，图15是图11的电子控制装置100B中的特定负载的驱动控制框图。

图15中，从控制模块701到703b为止的编号以7打头的控制模块与图7的情况相同，将特定负载107B换成线性螺线管，并且在程序存储器113B中保存有线性螺线管的励磁电流对电磁动力、与相对于线圈弹簧的互斥平衡位置之间的关系，以作为特定负载107B的标准输出特性。

因此，在控制模块710b中，与由控制模块710a决定的所为目标的驱动位置相对应，并根据特定负载107B的标准输出特性来计算所需的励磁电流，从而在控制模块701中设定目标电流。

在控制模块710c中读取出标签电阻61b、62b的电阻值，从而预先还原生成图13(C)所示的特定负载107B的个别合成输出特性。

在控制模块710d中参照由控制模块710a设定的目标驱动位置、以及由控制模块710c还原生成的个别合成输出特性，来设定要由特定传感器106B生成的目标检测电压。

在控制模块713a中，根据输入到AD转换器115中的负反馈监视电压Va1的值来获得特定传感器106B的位置信号信息。

在控制模块713b中，将在电子控制装置100B的出厂检查时所测定到的输入接口电路160b的固体偏差变动考虑在内，来转换成经校正后的位置信号。

在接下来的控制模块714中，基于由控制模块710d所设定的目标检测电压、与经控制模块713a、713b检查并校正后的位置检测信号电压之间的偏差信号，来生成PID控制信号，并与控制模块701的目标电流进行代数加法运算。如上所述，具有特定传感器106B的特定负载107B利用控制模块702a、702b、702c来进行开环控制，以使得变为由控制模块701基于该标准输出特性数据而设定的目标电流，如果目标电流与实际的励磁电流之间存在误差，则可以由控制模块703a、703b、704进行一次负反馈控制。

此外，如果与在工序710a中设定的目标驱动位置相对应，由控制模块710c、710d所设定的特定传感器106B的目标检测电压、与经控制模块713a、713b检测并校正后的实际的驱动位置之间存在误差，则利用控制模块714来进行二次负反馈控制，参照个别合成输出特性数据来对控制指令信号进行增减修正。

下面，利用图16～图18所示的流程图，并以与图8～图10所示的流程图的不同点为中心，对如图11那样构成的本发明的实施方式2所涉及的电子控制装置的运行动作进行详细说明。

此外，代替图8、图9中所使用的编号以8、9打头的标号，在图16、图17中使用编号以16～17打头的标号，在图18中使用与图10相同的编号以10打头的标号，为了保持互相的对应关系，付上首两位10之后的编号。

首先，对图16进行说明，图16是带有特定传感器106B的特定负载107B所相关的出厂调整操作的流程图。

图16中，工序1600a是出厂调整操作的前阶段、即实验测定的工序，在该工序中，制定图13(A)所示的带特定传感器的特定负载107B的标准合成输出特性，并且为了得到标准数据而对通过实验测定到的多个样本的个别特性的固体偏差变动范围进行观察，从而确定标准数据的数据形式，并生成例如第1标准数据(Ｐ10，Ｖ10，θ10)与差分数据ΔＶi1、以及第2标准数据(Ｐ20，Ｖ20，θ20)与差分数据ΔＶi2，以作为标准数据。

另外，还结合生成不包含特定传感器106B的、特定负载107B单独的标准输出特性。

工序1601a是对作为出厂调整现有样本的带特定传感器的特定负载107B进行出厂调整操作的开始步骤。

在接下来的工序1602a中，在规定的基准环境下将带特定传感器的特定负载107B安装到作为试验设备的测定装置上，在接下来的工序1603a中测定图13(B)所示的个别输出特性，在接下来的工序1604a中求出第1直线315b及第2直线325b的个别数据，在接下来的工序1605a中计算第1、第2修正系数，并在接下来的工序1606a中参照图4来进行标签电阻的调整，并利用工序1610a完成出厂调整。

此外，在工序1600a中在驱动OA设备的同时，原则上进行手动操作，然而从工序1602a至工序1606a为止的一系列操作可以通过以可编程控制器为主体的自动化设备来实现整体省力。

接下来，对图17进行说明，图17是图11的电子控制装置100B的调整动作的流程图。

图17中，工序1700a是进行如下动作的准备工序：对电子控制装置100B连接成为标准样本的带有特定传感器的特定负载107B，并将图11中示出的调整工具190B、数字电压计191、数字电流计192、以及测量用电流检测器193相连接。

此外，将成为标准样本的带有特定传感器的特定负载107B的标签电阻61b、62b预先调整到调整系数或斜率系数均为1.0的标准状态。

另外，电子控制装置100B的程序存储器113B或数据存储器114中预先保存有成为标签电阻读取转换单元1004的控制程序、输入输出控制程序，还预先保存有带特定传感器的特定负载107B的标准合成输出数据、特定负载107B的标准输出数据及数据形式。

工序1700b是对电子控制装置100B进行出厂调整操作的开始步骤。

接下来的工序1701是读取出作为标准样本而进行连接的带特定传感器的特定负载107B的标签电阻的值、并判断是否能够读取出规定的电阻值的步骤，若能够读取则进行“是”的判断并转移至工序1702，在不能读取时进行“否”的判断，并转移至工序1706。

此外，标签电阻61b、62b的电阻值参照图11的两端电压Va2、Va3的值并利用计算式(2)计算得出。

从在工序1702中读取出的标签电阻的电阻值中，将调整系数与斜率系数分离开，在接下来的工序1703中判断在工序1702中所提取出的调整系数与斜率系数是否均为1.0的标准系数，若是标准系数，则进行“是”的判断并转移至工序1704a，若不是标准系数则进行“否”的判断，并转移至工序1706，由此来检查标签电阻61b、62b的读取功能是否正常。

工序1704a是在规定的供电电压Vbb的基础上、从调整工具190B设定例如特定负载107B的额定电流即规定的目标电流Isn、从而对特定负载107B进行通电的步骤。

接下来的工序1705a是进行如下动作的成为修正控制常数保存单元的步骤：读取出由数字电流计192测定到的励磁电流Ifn，并计算出与目标电流Isn相对的电流修正系数α＝Ｉsn/Ｉfn，将其保存到程序存储器113B或数据存储器114中。

此外，图15的控制模块703b中所使用的控制误差修正系数α是在该工序1705a中测定得到的。

在接下来的工序1704b中，从特定传感器106B或未图示的代替基准电压源向电子控制装置100B内的接口电路160b施加规定的电压，读取出作为其输出电压的监视电压Va1的数字转换值，并将其与从调整工具190B输入的对接口电路160b的实际测定输入电压进行对比。

接下来的工序1705b是利用两种输入电压由工序1704b来进行对比、并根据与输入电压对数字转换值相关的连立方程来计算并存储接口电路160b中的偏置电压及放大率的工序。

工序1706是工序1701、工序1703进行“否”的判断时、对调整工具190B进行异常警告并转移至调整完成工序1710的工序。

接下来，对图18进行说明，图18是图11的电子控制装置100B的运行动作的流程图。

此外，图18与上述图10的主要不同点仅在于将工序模块1007修改为1007a，并添加了工序模块1007b。

其中，在工序1005b中不对特定负载107B的个别输出特性进行读取，而是读取保存在程序存储器113B或数据存储器114中的标准输出特性，在工序1005c中生成特定传感器106B的个别合成输出特性。

图18中，新添加的工序模块1007b是由工序1018a、1018c、1018d构成的负反馈控制模块。

工序1018a对应于图15的控制模块710a、710c、710d，根据所设定的目标驱动位置、以及在工序1005c中生成的特定负载107B的个别合成特性来计算特定传感器106B的目标检测电压。

接下来的工序1018c对应于图15的控制模块713a、713b，参照与驱动位置相对应的负反馈监视电压Va1及在图17的工序1705b中计算出的接口电路160b的特性来计算出经校正后的驱动位置。

接下来的工序1018d对应于图15的控制模块714，这里，基于由控制模块710d设定的目标检测电压、与由控制模块713a、713b检测并校正后的位置检测信号电压之间的偏差信号，来生成PID控制信号，并与控制模块701中的目标电流进行代数加法运算。

如上述说明的那样，本发明的实施方式2的电子控制装置100B，

包括微处理器111，该微处理器111与输入传感器组105的动作状态及程序存储器113B的内容进行联动，从而对电负载组108进行驱动控制，并且，所述电负载组108的一部分特定负载107B具有检测该特定负载的输出的特定传感器106B，所述特定传感器106B包括标签电阻61b、62b，该标签电阻61b、62b用于对将所述特定负载107B的输出特性与所述特定传感器106B的检测特性进行合成后得到的合成输出特性的固体偏差变动进行校正，

所述微处理器111还与用于运算处理的RAM存储器112、作为所述程序存储器113B的一部分区域的或分开设置的非易失性数据存储器114、以及AD转换器115相连，并相互联动，

并且，在所述程序存储器113B或数据存储器114中，以规定的数据形式保存有多个样本的实验数据的平均特性数据、即所述特定负载107B与所述特定传感器106B的标准合成特性数据。

所述合成输出特性的2次微分值具有不进行正负翻转的单调递增特性或单调递减特性，近似于至少一对以上的折线特性，

所述程序存储器113B或数据存储器114还保存有近似于折线特性的所述标准合成特性数据、以及用于填补实际的标准合成特性数据间的误差的插补信息，并且所述程序存储器113B包含成为标签电阻读取转换单元1004的控制程序，所述标签电阻读取转换单元1004参照与所述标签电阻61b、62b串联连接的串联电阻161b、162b的电阻值、以及该标签电阻的两端电压Va2、Va3及施加在串联电路上的电压即控制电压Vcc，来计算该标签电阻的电阻值，并基于所计算出的电阻值来计算用于修正所述特定负载107B的合成输出特性的固体偏差变动的修正常数，并将其保存到所述数据存储器114或所述RAM存储器112中。

所述修正常数是以所述标准合成特性数据即标准特性数据为基准、用于对所述特定负载107B的个别合成特性数据即个别特性数据进行确定的一对调整倍率、或一对调整加法运算值、又或是将调整倍率与调整加法运算值进行复合后得到的数据，

所述调整倍率是通过与所述标准特性数据相乘从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数，或者是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的变化率所相关的相对比率即斜率系数，

所述调整加法运算值是通过与所述标准特性数据进行代数加法运算从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值，或者是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的变化率所相关的相对偏差即斜率调整值。

所述标签电阻读取转换单元1004在电源开关接通后的运行开始时执行，或是在对所述特定传感器106B或所述特定负载107B进行维护更换时执行，对所述修正常数是由所述调整系数或斜率系数或偏置调整值或斜率调整值的哪个组合所构成的进行识别，并将所识别出的修正常数与所述插补信息、所述特定负载107B的所述标准特性数据进行组合，从而还原生成所述个别特性数据，

所述微处理器111参照所生成的所述个别合成特性数据来对所述特定负载107B进行驱动控制。

如上所述，本发明的实施方式2所涉及的电子控制装置中的电负载组的一部分特定负载包括用于检测该特定负载的输出特性的特定传感器，并添加有标签电阻，所述标签电阻用于校正将存在于该特定传感器本身中的检测特性的固体偏差变动、与特定负载的输出特性的固体偏差变动进行合成而得到的合成输出特性，所述电子控制装置将运行开始时测定到的标签电阻的电阻值、与预先所存储的标准合成特性数据及插补信息相结合，从而还原并生成与所使用的特定传感器及特定负载相对应的个别合成特性数据，

从由标签电阻的电阻值决定的调整系数或斜率系数或偏置调整值或斜率调整值中选出多个常数，所述电子控制装置利用所选出的所述多个常数来获得折线特性。

因此，如果在电子控制装置的制造出厂阶段利用成为标准样本的带特定传感器的特定负载来对控制装置进行调整操作，并在带特定传感器的特定负载的制造出厂阶段组装用于修正合成后的固体偏差的标签电阻，则在组装两者的总合组装阶段、或在市场上对带特定传感器的特定负载或电子控制装置进行维护更换时，无需对两者进行组合调整，因此使得组装及维护更换变得容易，从而能够得到一种利用较为廉价的带特定传感器的特定负载、并具有高精度的控制性能的电子控制装置，

即使检测特性或输出特性是包含一对以上的折线特性的复杂特性，带特定传感器的特定负载中也无需用于存储修正常数的IC存储器，从而能够通过读取出小型且廉价的标签电阻的电阻值来简单地校正固体偏差变动，由此，无需在带特定传感器的特定负载与电子控制装置之间进行复杂的信号交互，从而产生整体地提高经济性的效果。

另外，设在电子控制装置中的微处理器在不进行输入输出控制的期间读取标签电阻，并预先生成有个别合成特性数据，因此无需在运行中对标签电阻进行读取或转换处理，从而具有能减少微处理器的控制负担，并具有能使用廉价的微处理器的效果。

所述程序存储器113B或所述数据存储器114中，除了所述特定负载107B与所述特定传感器106B的标准合成特性数据以外，还以规定的数据形式保存有所述特定负载107B的标准输出特性数据，

所述微处理器111为了使所述特定负载107B产生作为目标的控制输出，参照所述标准输出特性数据来生成控制指令信号，并且作为其结果，在参照所述特定负载的个别合成特性数据而得到所述特定传感器106B的检测输出、与所述目标控制输出之间存在控制偏差时，所述微处理器111对所述控制指令信号进行增减修正并进行负反馈控制，以获取所述目标控制输出。

如上所述，与本发明的权利要求3相关联，在具有特定传感器的特定负载的驱动控制中，参照特定负载的标准输出特定数据来决定对特定负载的控制指令信号，并参照个别合成输出特性数据来对控制指令信号进行增减修正。因此，其特征在于，在作为目标的控制输出发生突变时，迅速地基于标准输出特性数据来改变控制指令信号，从而提高控制的响应特性，即使在特定负载的输出特性中存在固体偏差变动，也能基于个别合成特性数据对控制指令信号进行增减修正，从而生成高精度的控制输出。

构成所述标签电阻61b、62b的串联电阻依次在构成为漩涡状的薄膜电阻体处设置连接端子，将该连接端子用作为所述短路/开路端子B0～B9，通过调整窗使其短路或开路，

所述短路/开路端子B0～B9间的电阻预先从小的电阻开始依次通过激光微调来进行调整，以将其调整成依次翻倍的电阻值。

如上所述，与本发明的权利要求6相关联，标签电阻利用薄膜电阻体来构成串联电阻，该薄膜电阻经激光微调后，其其电阻值依次翻倍，并且各串联电阻通过设置在调整窗内的短路/开路端子来进行短路或开路所。

因此，其特征在于，所获取到的标签电阻是事先经过调整的标准元器件，在将其安装到特定传感器或特定负载上的阶段，利用焊料使短路/开路端子B0～B9的一部分或全部短路，即使没有标签电阻的测定器，也能对具有高精度电阻值的标签电阻进行多级设定。

下面，基于图19所示的特性曲线图，来对本发明所涉及的电子控制装置的控制特性调整方法中的调整倍率的计算方法进行详细说明。

图19(A)中，横轴(X轴)是表示与对特定传感器的测定输入、或对特定负载的控制输入相等的调整输入的值的坐标轴。

纵轴(Y轴)是表示特定传感器的测定输出、或与特定负载所产生的输出相等的监视输出的值的坐标轴。

特定传感器或特定负载的标准特性即标准特性直线610a通过坐标点(ｘ0，ｙ0)及(ｘ1，ｙ1)，并且其与基准坐标点上的横轴的斜率为θ0。

直线610a如计算式(10a)所示，若已知一对坐标点，或已知一个坐标点和斜率，则常数A0与常数B0得以确定。

ｙ＝Ａ0·ｘ＋Ｂ0······(10a)

其中Ａ0＝(ｙ1－ｙ0)/(ｘ1－ｘ0)

Ｂ0＝(ｙ0·ｘ1－ｙ1·ｘ0)/(ｘ1－ｘ0)

或者Ａ0＝tanθ0

Ｂ0＝ｙ0－ｘ0·tanθ0

因此，对于标准特性直线610a，若作为标准数据已知比较基准点上的坐标及斜率(ｘ0，ｙ0，θ0)或者一对比较基准点的坐标(ｘ0，ｙ0，ｘ1，ｙ1)，则直线的计算式得以确定，能够计算出对任意调整输入x的监视输出y。

作为出厂对象现有样本的特定传感器或特定负载的个别特性即个别特性直线610b通过坐标点(ｘ0，ｙn0)及(ｘ1，ｙn1)，并且其与基准坐标点上的横轴的斜率为θn。

直线610b如计算式(10b)所示，若已知一对坐标点，或已知一个坐标点和斜率，则常数A与常数B得以确定。

ｙ＝Ａ·ｘ＋Ｂ······(10b)

其中Ａ＝(ｙn1－ｙn0)/(ｘ1－ｘ0)

Ｂ＝(ｙn0·ｘ1－ｙn1·ｘ0)/(ｘ1－ｘ0)

或者Ａ＝tanθn

Ｂ＝ｙn0－ｘ0·tanθn

此外，在图19(A)中，个别特性与标准特性的不同点体现为：在给出相同的调整输入x0或x1时，所得到的监视输出y0与yno、或θ0与θn、或ｙ1与ｙn1不同。这里，若作为修正常数给出调整系数ｙn0/ｙ0、以及斜率系数θn/θ0，则能够通过将调整系数与斜率系数乘上标准数据(ｘ0，ｙ0，θ0)来获得个别数据(ｘ0，ｙn0，θn)，从而能够确定个别特性直线610b。

同样的，若作为修正常数给出一对调整系数ｙn0/ｙ0、ｙn1/ｙ1，则能够通过将一对调整系数乘上标准数据(ｘ0，ｙ0，ｘ1，ｙ1)来获得个别数据(ｘ0，ｙn0，ｘ1，ｙn1)，从而能够确定个别特性直线610b。

图19(B)中，横轴(X轴)是表示对特定传感器的测定输入、或与对特定负载的控制输入相等的监视输入的值的坐标轴。

纵轴(Y轴)是表示特定传感器的检测输出、或与特定负载所产生的输出相等的调整输出的值的坐标轴。

特定传感器或特定负载的标准特性即标准特性直线620a通过坐标点(ｘ0，ｙ0)及(ｘ1，ｙ1)，并且其与基准坐标点上的纵轴的斜率为θ0。

直线620a如计算式(20a)所示，若已知一对坐标点，或已知一个坐标和斜率，则常数A0与常数B0得以确定。

ｙ＝Ａ0·ｘ＋Ｂ0······(20a)

其中Ａ0＝(ｙ1－ｙ0)/(ｘ1－ｘ0)

或者Ａ0＝cotθ0

Ｂ0＝ｙ0－ｘ0·cotθ0

因此，对于标准特性直线620a，若作为标准数据已知比较基准点上的坐标及斜率(ｘ0，ｙ0，θ0)或者一对比较基准点坐标(ｘ0，ｙ0，ｘ1，ｙ1)，则直线的计算式得以确定，能够计算出对任意监视输入x的调整输出y。

作为出厂对象现有样本的特定传感器或特定负载的个别特性即个别特性直线620b通过坐标点(ｘn0，ｙ0)及(ｘn1，ｙ1)，并且其与基准坐标上的纵轴的斜率为θn。

直线620b如计算式(20b)所示，若已知一对坐标点，或已知一个坐标点和斜率，则常数A与常数B得以确定。

ｙ＝Ａ·ｘ＋Ｂ······(20b)

其中Ａ＝(ｙ1－ｙ0)/(ｘn1－ｘn0)

Ｂ＝(ｙ0·ｘn1－ｙ1·ｘn0)/(ｘn1－ｘn0)

或者Ａ＝cotθn

Ｂ＝ｙ0－ｘn0·cotθn

此外，在图19(B)中，个别特性与标准特性的不同点体现为：用于得到相同的调整输出y0或y1的监视输入x0与xno、或θ0与θn、或x1与xn1不同。

这里，若作为修正常数给出调整系数xn0/x0、以及斜率系数θn/θ0，则能够通过将调整系数与斜率系数乘上标准数据(ｘ0，ｙ0，θ0)来获得个别数据(ｘn0，ｙ0，θn)，从而能够确定个别特性直线620b。

同样的，若作为修正常数给出一对调整系数xn0/x0、xn1/x1，则能够通过将一对调整系数乘上标准数据(ｘ0，ｙ0，ｘ1，ｙ1)来获得个别数据(ｘxn0，ｙ0，ｘn1，ｙ1)，从而能够确定个别特性直线620b。

如上述说明所述，调整倍率是通过将其乘上标准特性数据来得到个别特性数据的修正常数，可以将规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数、或者规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的变化率所相关的相对比率即斜率系数用作为选择要素，利用一对调整系数或调整系数与斜率系数的组合来确定一条个别特性直线。

此外，在特定传感器的检测特性或特定负载的输出特性根据以温度或气压等为代表的设置环境而发生变化的情况下，设定用于测定特定传感器或特定负载的设置环境的环境传感器，并利用预先测定到的多个环境条件下的标准特性数据、以及所检测出的当前环境条件，来计算换算成当前环境的标准特性数据，基于基准环境下的修正常数以及当前环境下的标准特性数据，来生成当前环境下的个别特性数据。

下面，基于图20所示的特性曲线图，并以与图19的不同点为中心，来对本发明所涉及的电子控制装置的控制特性调整方法中的调整加法运算值的计算方法进行说明。

图20(A)中，横轴(X轴)是表示对特定传感器的测定输入、或与对特定负载的控制输入相等的调整输入的值的坐标轴。

纵轴(Y轴)是表示特定传感器的测定输出、或与特定负载所产生的输出相等的监视输出的值的坐标轴。

特定传感器或特定负载的标准特性即标准特性直线630a通过坐标点(ｘ1，ｙ1)及(ｘ2，ｙ2)，并且其与基准坐标点上的横轴的斜率为θ1。

直线630a如计算式(30a)所示，若已知一对坐标点、或已知一个坐标点和斜率，则常数A1与常数B1得以确定。

ｙ＝Ａ1·ｘ＋Ｂ1······(30a)

其中Ａ1＝(ｙ2－ｙ1)/(ｘ2－ｘ1)

Ｂ1＝(ｙ1·ｘ2－ｙ2·ｘ1)/(ｘ2－ｘ1)

或者Ａ1＝tanθ1

Ｂ1＝ｙ1－ｘ1·tanθ1

因此，对于标准特性直线630a，若作为标准数据已知比较基准点上的坐标及斜率(ｘ1，ｙ1，θ1)或者一对比较基准点的坐标(ｘ1，ｙ1，ｘ2，ｙ2)，则直线的计算式得以确定，并能够计算出对任意的调整输入x的监视输出y。

作为出厂对象现有样本的特定传感器或特定负载的个别特性即个别特性直线630b通过坐标点(ｘ1，ｙ1n)及(ｘ2，ｙ2n)，并且其与基准坐标点上的横轴的斜率为θn。

直线630b如计算式(30b)所示，若已知一对坐标点，或已知一个坐标点和斜率，则常数A与常数B得以确定。

ｙ＝Ａ·ｘ＋Ｂ······(30b)

其中Ａ＝(ｙ2n－ｙ1n)/(ｘ2－ｘ1)

Ｂ＝(ｙ1n·ｘ2－ｙ2n·ｘ1)/(ｘ2－ｘ1)

或者Ａ＝tanθn

Ｂ＝ｙ1n－ｘ1·tanθn

此外，在图20(A)中，个别特性与标准特性的不同点体现为：在给出相同的调整输入x1或x2时，所得到的监视输出y1与y1n、或θ0与θn、或ｙ2与ｙ2n不同。这里，若作为修正常数给出偏置调整值Δｙ1＝ｙ1n－ｙ1、以及斜率调整值Δθ＝θn－θ1，则能够通过将偏置调整值Δｙ1和斜率调整值Δθ与标准数据(ｘ1，ｙ1，θ1)进行代数加法运算来获得个别数据(ｘ1，ｙ1n，θn)，从而能够确定个别特性直线630b。

同样的，若作为修正常数给出一对偏置调整值Δｙ1＝ｙ1n－ｙ1、Δｙ2＝ｙ2n－ｙ2，则能够通过将一对偏置调整值与标准数据(ｘ1，ｙ1，ｘ2，ｙ2)进行代数加法运算来获得个别数据(ｘ1，ｙ1n，ｘ2，ｙ2n)，从而能够确定个别特性直线630b。

图20(B)中，横轴(X轴)是表示对特定传感器的测定输入、或与对特定负载的控制输入相等的监视输入的值的坐标轴。

纵轴(Y轴)是表示特定传感器的检测输出、或与特定负载所产生的输出相等的调整输出的值的坐标轴。

特定传感器或特定负载的标准特性即标准特性直线640a通过坐标点(ｘ1，ｙ1)及(ｘ2，ｙ2)，并且其与基准坐标点上的纵轴的斜率为θ1。

直线640a如计算式(40a)所示，若已知一对坐标点，或已知一个坐标点和斜率，则常数A1与常数B1得以确定。

ｙ＝Ａ1·ｘ＋Ｂ1······(40a)

其中Ａ1＝(ｙ2－ｙ1)/(ｘ2－ｘ1)

Ｂ1＝(ｙ1·ｘ2－ｙ2·ｘ1)/(ｘ2－ｘ1)

或者Ａ1＝cotθ1

Ｂ1＝ｙ1－ｘ1·cotθ1

因此，对于标准特性直线640a，若作为标准数据已知比较基准点上的坐标及斜率(ｘ1，ｙ1，θ1)或者一对比较基准点的坐标(ｘ1，ｙ1，ｘ2，ｙ2)，则直线的计算式得以确定，能够计算出对任意监视输入x的调整输出y。

作为出厂对象现有样本的特定传感器或特定负载的个别特性即个别特性直线640b通过坐标点(ｘ1n，ｙ1)及(ｘ2n，ｙ2)，并且其与基准坐标点上的纵轴的斜率为θn。

直线640b如计算式(40b)所示，若已知一对坐标点，或已知一个坐标点和斜率，则常数A与常数B得以确定。

ｙ＝Ａ·ｘ＋Ｂ······(40b)

其中Ａ＝(ｙ2－ｙ1)/(ｘ2n－ｘ1n)

Ｂ＝(ｙ1·ｘ2n－ｙ2·ｘ1n)/(ｘ2n－ｘ1n)

或者Ａ＝cotθn

Ｂ＝ｙ1－ｘ1n·cotθn

此外，在图20(B)中，个别特性与标准特性的不同点体现为：用于得到相同的调整输出y1或y2的监视输入x1与x1n、或θ1与θn、或x2与x2n不同。

这里，若作为修正常数给出偏置调整值Δｘ1＝ｘ1n－ｘ1、以及斜率调整值Δθ＝θn－θ0，则能够通过将偏置调整值和斜率调整值与标准数据(ｘ1，ｙ1，θ1)进行代数加法运算来获得个别数据(ｘ1n，ｙ1，θn)，从而能够确定个别特性直线640b。

同样的，若作为修正常数给出一对偏置调整值Δｘ1＝ｘ1n－ｘ1、Δｘ2＝ｘ2n－ｘ2，则能够通过将一对偏置调整值与标准数据(ｘ1，ｙ1，ｘ2，ｙ2)进行代数加法运算来获得个别数据(ｘ1n，ｙ1，ｘ2n，ｙ2)，从而能够确定个别特性直线640b。

如上述说明所述，调整加法运算值是通过将其与标准特性数据进行代数加法运算来得到个别特性数据的修正常数，可以将规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值、或者规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的变化率所相关的相对偏差即斜率调整值用作为选择要素，利用一对偏置调整值或偏置调整值与斜率调整值的组合来确定一条个别特性直线。

成为所有选择要素的调整系数、斜率系数、偏置调整值、斜率调整值可以组成各种组合，这些组合被指定为数据形式。其中，一对斜率系数或一对斜率调整值、或者斜率系数与斜率调整值的组合是无效的，不存在这种数据形式。

下面，基于图21、图22所示的图表，来对本发明所涉及的电子控制装置的控制特性调整方法中的修正常数的分配方法进行说明。

首先，整理有与修正常数相关的用语的图21(A)中，坐标上的折线即标准特性有：与特性传感器相关的标准检测特性以及与特定负载相关的标准输出特性、或者带特定传感器的特定负载所相关的标准合成输出特性。

利用坐标点、倾斜角或曲率半径、差分值等数值来表示的这些标准特性等是标准特性数据，所述标准特性数据有：标准检测特性数据或标准输出特性数据、标准合成特性数据。

个别特性或个别特性数据也相同。

将标准特性数据与个别特性数据进行比较、从而计算出的修正常数有：调整倍率以及调整加法运算值。

调整倍率有调整系数或斜率系数，调整加法运算值有偏置调整值以及斜率调整值，这些系数或调整值等由标签电阻的电阻值来体现。

通过将测定标签电阻的电阻值而得到的调整倍率或调整加法运算值与标准特性数据相乘或进行代数加法运算，由此来还原并生成个别特性数据。

接下来，在与修正常数有关的说明图即图21(B)中，一条个别直线所需的选择参数被分为第1参数以及第2参数。

在第1参数中可以使用的选择要素是调整系数与偏置调整值中的任意一个，与此相对，在第2参数中可以使用的选择要素是调整系数或斜率系数或偏置调整值或斜率调整值中的任意一个。

因此，作为选择参数的组合，可以从如下选择A1至选择A7中选择任意一个：(1)由调整系数与斜率系数的组合形成的选择A1、或选择由第1与第2调整系数的组合形成的选择A2，或者(2)由偏置调整值与斜率调整值的组合形成的选择A3、或选择由第1与第2偏置调整值形成的一对偏置调整值的选择A4，或者(3)选择由调整系数与偏置调整值的复合组合的选择A5、或者选择由调整系数与斜率调整值的组合形成的复合组合的选择A6，或者选择斜率系数与偏置调整值的组合的选择A7。

其中，(4)虽然不能将折线特性的坐标轴为调整输入轴对监视输出轴的二维坐标轴的选择B1、或折线特性的坐标轴为调整输出轴对监视输入轴的二维坐标轴的选择B2的任意一个进行混合，但可以进行混合使用，使得第1直线使用选择B1，而第2直线使用选择B2等，因此需要预先决定数据形式。

图22(A)示出了在将第1偏置调整值用作为第1参数、将第2偏置调整值用作为第2参数的选择A4的情况下、在对标签电阻的电阻值进行数字转换而由二进制来表示时的比特位结构。

低比特位(Ｂ4～Ｂ0)是用于指定－10～＋8为止的10等级来作为第1偏置调整值的数值区域，例如，在希望将偏置调整值设为－10时，将低比特位设为00001～00011的中心值00010即可。

由此，在将标签电阻的调整误差或AD转换误差考虑在内的情况下，即使产生－1比特程度的误差，也能可靠地识别出偏置调整值－10。

此外，在图22(A)中，将低比特位的二进制值00001～11110换算成10进制值时为1～30，与1～30相对应地分配偏置调整值－10～＋8，作为偏置调整值的最小单位的“1”的具体值在程序存储器中得以定义。

高比特位(Ｂ8～Ｂ6)用于分配－4～＋3这8等级以作为第2偏置调整值，例如，在希望将第2偏置调整值设为＋1时，设定(Ｂ8,Ｂ7,Ｂ6)＝(1，0，1)即可。

在该情况下的十进制值为320，如果例如十进制值为322＝320+2，则第1偏差调整值选择－10，而第2偏置调整值选择＋1。

图22(B)与图4(B)的情况相同，是将偏置调整值用作为第1参数、将调整系数(或斜率系数)用作为第2参数的、选择A5(或选择A7)的情况。

图22(B)是9行7列共计63格的表，能够选择精调与粗调来作为偏置调整值，精调能够进行(＋3，＋2，＋1，0，－1，－2，－3)这7个级别的修正，而粗调能够进行(＋6，＋4，＋2，0，－2，－4，－6)这7个级别的修正。

程序存储器或数据存储器中定义了一个单位的修正量的含义。

另外，也可以选择能够进行(1.04，1.03，1.02，1.01，1.00，0.99，0.98，0.97，0.96)这9个级别的修正的精调、以及能够进行(1.08，1.06，1.04，1.02，1.00，0.98，0.96，0.94，0.92)这9个级别的修正的粗调，来作为调整系数。

另一方面，标签电阻能够进行比特位0～6的7个比特位的选择调整，由此，可将标签电阻的数字转换值0～127中的1～126作为等级编号来进行分配。

等级编号1～126中，编号较小的1～63被分配为用于精调，而编号较大的64～126被分配为用于粗调，例如如果等级编号为80，则偏置调整值以＋2的单位来进行加法运算修正，而调整系数进行1.04倍的乘法运算修正。

另外，例如如果等级编号为17，则偏置调整值以＋1的单位来进行加法运算修正，而调整系数进行1.02倍的乘法运算修正。

此外，根据所示出的示例，在图4(B)的情况下，根据等级编号是奇数(Ｂ0＝1)还是偶数(Ｂ0＝0)来区分精调和粗调，在图22(B)的情况下，根据等级编号较小(Ｂ6＝0)还是较大(Ｂ6＝1)来区分精调和粗调，然而，实际上应该统一成其中的一种方法。

另外，对于构成选择参数的第1参数和第2参数，根据标准特性数据的记载顺序来作区分，例如只要将先行记载的设为第1参数即可。

另外，在图4(A)及图22(A)中，预先作出统一，使得标签电阻的电阻值的数字转换值的低比特位组与第1参数相对应，高比特位组与第2参数相对应即可。

并且，在图4(B)及图22(B)中，只要预先作出统一，使得等级编号表的上侧一栏与第1参数相对应，左侧一栏与第2参数相对应即可。

另外，与精调或粗调相对应的具体的修正常数根据用途进行适当地设定即可，然而对于如特定传感器或特定负载的固体偏差变动最甚也小于±10％、而通常小于±5％那样的用途，可以预先统一成这里所示出的修正常数。

在上述说明中，调整系数或斜率系数是个别数据/标准数据的比率，若将这些系数等与标准数据相乘，则能得到个别数据。

然而，如果调整系数或斜率系数是标准数据/个别数据的比率，则也可以通过将标准数据除以这些系数等，来得到个别数据。

同样，偏置调整值或斜率调整值是从个别数据中减去标准数据后得到的偏差，若将这些调整值等与标准数据相加，则能得到个别数据。

然而，如果将偏置调整值或斜率调整值设为从标准数据中减去个别数据后得到的偏差，则也可以通过从标准数据中减去这些调整值等来得到个别数据。

如上述说明的那样，在本发明的实施方式1或实施方式2所涉及的电子控制装置100A、100B的控制特性调整方法中，

在所述程序存储器113A、113B或所述数据存储器114中，除了所述标准特性数据之外，还添加有用于选择所述数据形式的辅助数据，

在由输入共同的比较调整值的调整输入轴、和输出不同的比较监视值的监视输出轴所组成的二维坐标上，或者在由输出共同的比较调整值的调整输出轴、和输入不同的比较监视值的监视输入轴所组成的二维坐标上，所述标准特性与个别特性折线近似，

作为构成所述修正常数的选择参数，所述辅助数据可以从如下选择A1至选择A7的一部分或全部之中选择出任意一个：(1)由所述调整系数与所述斜率系数的组合形成的选择A1、或选择所述第1及第2调整系数的一对调整系数的组合的选择A2；或者(2)由所述偏置调整值与斜率调整值的组合形成的选择A3、或选择由所述第1及第2偏置调整值组成的一对偏置调整值的选择A4；或者(3)选择由所述偏置调整值与所述调整系数的复合组合的选择A5、或选择由所述调整系数与所述斜率调整值的组合形成的复合组合的选择A6，或者选择所述偏置调整值与所述斜率系数的组合的选择A7，

另外，(4)所述折线特性的坐标轴选择调整输入轴对监视输出轴的二维坐标轴即选择B1、或调整输出轴对监视输入轴的二维坐标轴即选择B2中的任意一个，由此，指定共计14种选择项中的一个来作为选择参数。

所述调整系数是由比率(ｙn0/ｙ0)或比率(xn0/x0)来决定的参数，所述比率(ｙn0/ｙ0)是对于共同的比较调整输入x0、将个别特性的比较监视输出yn0与标准特性的比较监视输出y0进行比较后得到的比率，所述比率(xn0/x0)是对于共同的比较调整输出y0，将个别特性的比较监视输入xn0与标准特性的比较监视输入x0进行比较后得到的比率，

所述斜率系数是由比率(θn/θ0，或tanθn/tanθ0)来决定的参数，所述比率(θn/θ0，或tanθn/tanθ0)是将用于计算所述调整系数的比较调整点上的个别特性的变化率即线段的倾斜角或其正切、与标准特性的变化率即线段的倾斜角或其正切进行比较后得到的比率，

所述偏置调整值是由比较偏差(ｙ1n－ｙ1)或比较偏差(ｘ1n－ｘ1)来决定的参数，所述比较偏差(ｙ1n－ｙ1)是与共同的比较调整输入x1相对的个别特性的比较监视输出y1n与标准特性的比较监视输出y1之间的比较偏差，所述比较偏差(ｘ1n－ｘ1)是与共同的比较调整输出y1相对的个别特性的比较监视输入x1n与标准特性的比较监视输入x1之间的比较偏差，

所述斜率调整值是由比较偏差(θn－θ1，或tanθn－tanθ1)来决定的参数，所述比较偏差(θn－θ1，或tanθn－tanθ1)是用于计算所述偏差修正值的比较调整点上的个别特性的变化率即线段的倾斜角或其正切、与作为标准特性的变化率即线段的倾斜角或其正切之间的比较偏差。

如上所述，与本发明的权利要求9相关联，程序存储器或数据存储器包含用于对修正常数的数据形式进行选择的辅助数据，所述修正常数用于根据标准特性数据来计算个别特性数据。

由此，其特征在于，在为了生成标准特性数据而对多个样本进行实验测定时，通过将这里所得到的标准特性与各种偏差特性进行比较，并预先选择使修正常数的变动幅度变小的数据形式，从而能够抑制标签电阻的电阻值的调整幅度。

此外，例如在标准特性的倾斜角θ0是非常小的平坦直线的情况下，与个别特性的倾斜角θn之间的比率即斜率系数θn/θ0或tanθn/tanθ0将变为过大的数值，导致斜率系数的变动幅度过大，从而难以利用标签电阻来表现这种情况。

一般来说，在倾斜角的变动较小、标准特性与个别特性接近于互为平行线的状态的情况下，偏差方式较为有利，在标准特性与个别特性之间的倾斜角较小，并对X轴呈平坦的平行特性的情况下，如图20(A)所示的调整输入对监视输出的形式较为有利，在对X轴呈陡峭的平行特性的情况下，如图20(B)所示的调整输出对监视输入的方式较为有利。

与此相对，在标准特性与个别特性之间倾斜角变动较大的情况下，调整系数方式较为有利。

在该情况下，当标准特性的线段与个别特性的线段之间的交点位于第1、第4坐标时，使用一对调整系数较为有利，与此相对，当标准特性的线段与个别特性的线段之间的交点位于第2、第3坐标时，斜率系数方式较为有利。

将所述标准特性近似为由第1线段303a及第2线段304a所形成的标准折线特性，并且计算出该第1线段303a与第2线段304a之间相对误差最小的合成直线305a，

所述标准特性数据由标准数据及差分数据ΔＶi0构成，所述标准数据包含与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点上的坐标及比较调整点上的所述合成直线305a的斜率θ0、或一对比较调整点的坐标，

所述差分数据ΔＶi0是与大小不同的多个分散调整值Pi相对应的所述第1线段303a及所述第2线段304a、与所述合成直线305a之间的误差，

将所述个别特性近似为由第1线段303b及第2线段304b所形成的个别折线特性，并且计算出该第1线段303b与第2线段304b之间相对误差最小的合成直线305b，

所述个别特性数据由个别数据构成，所述个别数据包含：在所述标准特性数据中所使用的、，与选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述合成直线305b的斜率θn、或一对比较调整点的坐标，

将个别的所述合成直线305b与标准的所述合成直线305a相比较，将所述标签电阻调整为用于确定所述选择参数的电阻值，

所述微处理器111读取出所述标签电阻的电阻值，并提取出所指定的所述选择参数，将其作为一次修正常数，

利用所述标准数据及所述一次修正常数来确定与所述个别的合成直线305b相同的合成直线305c，通过将所述差分数据ΔＶi0作为插补信息与所确定的合成直线305c进行代数加法运算，来确定由修正后的第1线段303c及第2线段304c所构成的一次修正折线特性，并利用所确定的一次修正折线特性来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。

如上所述，与本发明的权利要求10相关联，将特定传感器或特定负载的标准特性及个别特性近似于将由第1线段及第2线段所构成的折线及将其进行合成后得到的合成直线，在特定传感器或特定负载中设置一个标签电阻，利用一个选择参数来表现多个样本的标准特性与对象现有样本特性间的差异。

因此，其特征在于，能够利用标签电阻的电阻值来表现复杂的检测特性或输出特性，并能利用简单的结构来获得所使用的特定传感器或特定负载的个别特性数据。

另外，还具有如下显著的特征：标准特定数据包含折线线段与合成直线之间的差分值数据来作为插补信息，因此通过将差分值数据与所使用的特定传感器或特定负载所相关的合成直线进行代数加法运算，从而能够利用一个标签电阻来获得与折线特性相等的个别特性数据。

根据成为所述一次修正常数的所述选择参数的值来计算成为二次修正常数的选择参数，

所述二次修正常数是对所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的任意值进行修正计算的常数，在使构成所述选择参数的所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的任意值微增或微减时得到的，以使得所述一次修正折线特性的第1线段303c及第2线段304c、与所述个别折线特性中的第1线段303b及第2线段304b之间的相对误差最小，将所述标签电阻调整为用于确定经修正并计算出的所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的任意值的电阻值，

所述微处理器111利用从所述标准数据和所述标签电阻的电阻值中所读取出的所述二次修正常数，来确定合成直线305d，并通过将所述差分数据ΔＶi0作为插补信息与所确定的合成直线305d进行代数加法运算，来确定由经补充修正后的第1线段303d及第2线段304d所组成的二次修正折线特性，并利用所确定的二次修正折线特性来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。

如上所述，与本发明的权利要求11相关联，利用二次修正常数来对特定传感器或特定负载的个别特性进行修正，从而进行校正，使得个别折线特性与二次修正折线特性间的相对误差最小。

因此，具有能够利用一个标签电阻来更高精度地进行与折线特性相等的校正的显著特征。

将所述标准特性近似为由第1直线601a及第2直线602a所组成的标准折线特性，

并且，所述标准特性数据由与所述第1直线601a相关的第1标准数据、及与所述第2直线602a相关的第2标准数据构成，

所述第1标准数据包含：与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第1直线601a的斜率θ10、或一对比较调整点的坐标，

所述第2标准数据包含：与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线602a的斜率θ20、或一对比较调整点的坐标，

将所述个别特性近似为由第1直线601b及第2直线602b所组成的个别折线特性，并且，所述个别特性数据由与所述第1直线601b相关的第1个别数据、以及与所述第2直线602b相关的第2个别数据构成，

所述第1个别数据包含：所述第1标准数据中所使用的，与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第1直线601b的斜率θ1n、或一对比较调整点的坐标，

所述第2个别数据包含：所述第2标准数据中所使用的，与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线602b的斜率θ2n、或一对比较调整点的坐标。

所述标签电阻由第1标签电阻及第2标签电阻构成，所述第1标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第1直线601b与所述标准的第1直线601a相比较，来确定的所述选择参数的电阻值，

所述第2标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第2直线602b与所述标准的第2直线602a相比较，来确定的所述选择参数的电阻值，

所述微处理器111读取出所述第1及第2标签电阻的电阻值，

提取出与所述个别的第1直线601b相对的所述选择参数，并将其作为第1修正常数，提取出与所述个别的第2直线602b相对的所述选择参数，并将其作为第2修正常数，利用所述第1标准数据及所述第1修正常数来确定个别的第1直线601b的计算式，利用所述第2标准数据及所述第2修正常数来确定个别的第2直线602b的计算式，利用由所确定的个别的第1直线601b及第2直线602b组成的折线特性，来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据，

并且，所述程序存储器113B或所述数据存储器114还包含曲率半径Ra来作为第3标准数据，该曲率半径Ra用于对所述标准的第1直线601a与第2直线602a的交叉部分进行圆弧修正，

对于所述个别的第1直线601b与第2直线602b的交叉部分，将作为所述第3标准数据来保存的曲率半径Ra作为插补信息，以进行圆弧修正。

如上所述，与本发明的权利要求12相关联，将特定传感器或特定负载的标准特性及个别特性近似为由第1直线及第2直线所构成的折线，通过在特定传感器或特定负载中设置两个标签电阻，从而利用各直线各自的一个选择参数来表现多个样本的标准特性与对象现有样本的特性间的差异。

因此，其特征在于，能够利用标签电阻的电阻值来表现复杂的检测特性或输出特性，并能利用简单的结构来获得所使用的特定传感器或特定负载的个别数据。

另外，还具有如下的显著特征：利用作为第3标准数据来保存的标准特性的曲率半径来对个别特性中的折线的交叉部分进行圆弧修正，因此即使不指定标签电阻的曲率半径，也能减小因折线近似而产生的特性误差。

将所述标准特性近似为由第1直线315a及第2直线325a、以及位于所述第1直线315a与第2直线325a中间的第3直线335a所组成的标准折线特性，并且，所述标准特性数据由与所述第1直线315a相关的第1标准数据、及与所述第2直线325a相关的第2标准数据构成，

所述第1标准数据至少包含：所述第1直线315a与第3直线335a的交点位置的坐标、以及与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第1直线315a的斜率、或一对比较调整点的坐标，

所述第2标准数据至少包含：所述第2直线325a与第3直线335a的交点位置的坐标、以及与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线325a的斜率、或一对比较调整点的坐标，

将所述个别特性近似为由第1直线315b及第2直线325b、以及位于该第1直线315b与第2直线325b中间的第3直线335b所组成的个别折线特性，并且，所述个别特性数据由与所述第1直线315b相关的第1个别数据、以及与所述第2直线325b相关的第2个别数据构成，

所述第1个别数据包含：所述第1标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第1直线315b的斜率、或一对比较调整点的坐标，

所述第2个别数据包含：所述第2标准数据中所使用的，与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线325b的斜率、或一对比较调整点的坐标。

所述标签电阻由第1标签电阻及第2标签电阻构成，所述第1标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第1直线315b与所述标准的第1直线315a相比较，来确定的所述选择参数的电阻值，所述第2标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第2直线325b与所述标准的第2直线325a相比较，来确定的所述选择参数的电阻值，

所述微处理器111读取出所述第1及第2标签电阻的电阻值，

提取出与所述个别的第1直线315b相对的选择参数，并将其作为第1修正常数，

提取出与所述个别的第2直线325b相对的选择参数，并将其作为第2修正常数，

利用所述第1标准数据及所述第1修正常数来确定个别的第1直线315b的计算式，

利用所述第2标准数据及所述第2修正常数来确定个别的第2直线325b的计算式，

根据所确定的个别的第1直线315b及第2直线325b的计算式，来生成成为插补信息的个别的第3直线335b的计算式，

利用由所确定的个别的所述第1直线315b及所述第2直线325b、以及所生成的所述第3直线335b所组成的折线特性，来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。

如上所述，与本发明的权利要求13相关联，将特定传感器或特定负载的标准特性及个别特性近似为由第1直线、第2直线及第3直线所构成的折线，通过在特定传感器或特定负载中设置两个标签电阻，从而利用第1直线及第2直线各自的选择参数来表现多个样本的标准特性与对象现有样本的特性间的差异。

因此，其特征在于，能够利用标签电阻的电阻值来表现复杂的检测特性或输出特性，并能利用简单的结构来获得所使用的特定传感器或特定负载的个别数据。

此外，还具有如下的显著特征：第1直线与第3直线、或者第2直线与第3直线的交点坐标的位置可能由于标准特性与个别特性的不同而在二维中有所不同，与此相对，虽然所述调整系数或偏置调整值只能在一维中进行修正，但在标准特性曲线与个别特性曲线为相似形状的曲线的情况下，个别特性中的第3直线的计算式能够根据所确定的第1直线及第2直线的计算式来进行计算，并作为插补信息来使用，从而能够利用两个标签电阻来得到三段的折线特性。

将所述标准特性近似为由第1直线315a及第2直线325a所组成的标准折线特性，

所述标准特性数据由与所述第1直线315a相关的第1标准特性数据、以及与所述第2直线325a相关的第2标准特性数据构成，并且所述第1直线315a与第2直线325a中的至少一条直线是将前段的第1线段313a与第2线段314a进行合成后得到的第1直线315a，或者是将后段的第1线段323a与第2线段324a进行合成后得到的第2直线325a，

所述第1标准特性数据由第1标准数据以及第1差分数据ΔＶi1构成，所述第1标准数据包含：与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第1直线315a的斜率θ10、或一对比较调整点的坐标，

所述第1差分数据ΔＶi1是与大小不同的多个分散调整值Pi1相对应的所述第1线段313a及第2线段314a、与所述第1直线315a之间的误差，

所述第2标准特性数据由第2标准数据以及第2差分数据ΔＶi2构成，所述第2标准数据包含：与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线325a的斜率θ20、或一对比较调整点的坐标，

所述第2差分数据ΔＶi2是与大小不同的多个分散调整值Pi2相对应的所述第1线段323a及第2线段324a、与所述第2直线325a之间的误差，

将所述个别特性近似为由第1直线315b及第2直线325b所组成的个别折线特性，所述第1直线315b是将前段的第1线段313b与第2线段314b进行合成后得到的直线，所述第2直线325b是将后段的第1线段323b与第2线段324b进行合成后得到的直线，

并且，所述个别特性数据由与所述第1直线315b相关的第1个别数据、及与所述第2直线325b相关的第2个别数据构成，

所述第1个别数据包含：所述第1标准数据中所使用的，与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第1直线315b的斜率θ1n、或一对比较调整点的坐标，

所述第2个别数据包含：所述第2标准数据中所使用的，与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及所述比较调整点上的第2直线325b的斜率θ2n、或一对比较调整点的坐标。

所述标签电阻由第1标签电阻及第2标签电阻构成，所述第1标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第1直线315b与所述标准的第1直线315a相比较，来确定的所述选择参数的电阻值，所述第2标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第2直线325b与标准的第2直线325a相比较，来确定的所述选择参数的电阻值，

所述微处理器111读取出所述第1及第2标签电阻的电阻值，

提取出与所述个别的第1直线315b相对的所述选择参数，并将其作为第1修正常数，

提取出与所述个别的第2直线325b相对的所述选择参数，并将其作为第2修正常数，

利用所述第1标准数据及所述第1修正常数来确定个别的第1直线315b的计算式，

利用所述第2标准数据及所述第2修正常数来确定个别的第2直线325b的计算式，

将所述第1差分数据ΔＶi1作为插补信息与所确定的所述第1直线315b进行代数加法运算，由此来确定由经修正后的前段的第1线段313c及第2线段314c所组成的前段折线特性，将所述第2差分数据ΔＶi2作为插补信息与所确定的所述第2直线325b进行代数加法运算，由此来确定由经修正后的后段的第1线段323c及第2线段324c所组成的后段折线特性，利用所确定的所述前段折线特性及所述后段折线特性来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。

如上所述，与本发明的权利要求14相关联，将特定传感器或特定负载的标准特性及个别特性近似为由第1直线及第2直线所构成的折线，通过在特定传感器或特定负载中设置两个标签电阻，从而利用各直线各自的选择参数来表现多个样本的标准特性与对象现有样本的特性间的差异，并且第1直线或第2直线中的至少一条直线被进一步分割成第1线段与第2线段，并被加上与标准特性之间的差分数据以作为插补信息。

因此，具有如下的显著特征：能够利用标签电阻的电阻值来高精度地表现复杂的检测特性或输出特性，并且即使所使用的特定传感器的检测特性或特定负载的输出特性是较为复杂的折线特性，也能容易地得到精确的个别特性数据。

所述特定传感器106A、106B或所述特定负载107A、107B通过环境传感器105a、105b来测定以温度或气压为一个例子的设置环境，

所述个别特性数据在规定的基准环境条件下被测得，与此相对，所述标准特性数据是在所述规定的基准环境条件、以及其它环境条件下所测定到的多个标准特性数据，所测得的多个标准特性数据被保存于所述程序存储器113A、113B或所述数据存储器114中，

所述修正常数由所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值的多个组合构成，该所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值是基于在所述基准环境条件下所测定到的标准特性数据及个别特性数据而计算得出，

所述微处理器111生成由所述环境传感器105a、105b所测定到的所述特定传感器106A、106B或所述特定负载107A、107B的设置环境信息、以及根据所述多个标准特性数据进行插补计算后所得到的当前环境下的标准特性数据，以作为插补信息，

并且，基于所述基准环境下的修正常数及所述当前环境下的标准特性数据，来还原并生成当前环境下的个别特性数据，

参照当前环境下的个别检测特性数据来对所述电负载组108进行驱动控制，或者参照当前环境下的个别输出特性数据或个别合成特性来对所述特定负载107A、107B进行驱动控制。

如上所述，与本发明的权利要求15相关联，包括环境传感器，所述环境传感器在特定传感器的检测特性或特定负载的输出特性根据以温度或气压等为代表的设置环境而发生变化的情况下，用于测定特定传感器或特定负载的设置环境，利用预先测定到的多个环境条件下的标准特性数据、以及所检测出的当前环境条件，来计算换算成当前环境下的标准特性数据，基于基准环境下的修正常数以及当前环境下的标准特性数据，来生成当前环境下的个别特性数据。

因此，其特征在于，能够通过预先在多个样本的试验测定时刻测定环境变化特性，从而在各个产品出厂检测时刻，在规定的基准环境下简单地进行调整操作，并在运行阶段得到与当前环境相对应的个别特性数据，以进行高精度的控制。

此外，本发明可以在该发明的范围内对各实施方式自由地进行组合，或对各实施方式进行适当的变形、省略。

标号说明

100A、100B 电子控制装置

105 输入传感器组

105a、105b 环境传感器(温度传感器)

106A、106B 特定传感器

61a、61b 第1标签电阻

62a、62b 第2标签电阻

107A、107B 特定负载

74a 标签电阻

80～89 串联电阻

108 电负载组

111 微处理器

112 ＲＡＭ存储器

113A、113B 程序存储器

114 数据存储器

115 ＡＤ转换器

161a、161b 串联电阻

162a、162b 串联电阻

174 串联电阻

1004 标签电阻读取转换单元

303a 第1线段(标准)

303b 第1线段(个别)

303c 第1线段(一次修正)

303d 第1线段(二次修正)

304a 第2线段(标准)

304b 第2线段(个别)

304c 第2线段(一次修正)

304d 第2线段(二次修正)

305a 合成直线(标准)

305b 合成直线(个别)

305c 合成直线(一次修正)

305d 合成直线(二次修正)

313a 第1线段(标准前段)

313b 第1线段(个别前段)

313c 第1线段(修正前段)

314a 第2线段(标准前段)

314b 第2线段(个别前段)

314c 第2线段(修正前段)

315a 第1直线(标准)

315b 第1直线(个别)

315c 第1直线(修正)

323a 第1线段(标准后段)

323b 第1线段(个别后段)

323c 第1线段(修正后段)

324a 第2线段(标准后段)

324b 第2线段(个别后段)

324c 第2线段(修正后段)

325a 第2直线(标准)

325b 第2直线(个别)

325c 第2直线(修正)

335a 第3直线(标准)

335b 第3直线(个别)

601a 第1直线(标准)

601b 第1直线(个别)

602a 第2直线(标准)

602b 第2直线(个别)

Claims (15)

1.一种电子控制装置，包括微处理器，该微处理器与输入传感器组的动作状态及程序存储器的内容进行联动，从而对电负载组进行驱动控制，并且，在所述电子控制装置中，所述输入传感器组的一部分特定传感器具有用于校正传感器检测特性的固体偏差变动的标签电阻，或者，所述电负载组中的一部分特定负载具有用于校正输出特性的固体偏差变动的标签电阻，所述电子控制装置的特征在于，

所述微处理器还与用于运算处理的RAM存储器、作为所述程序存储器的一部分区域的或分开设置的非易失性数据存储器、以及AD转换器相连接并相互联动，

并且，所述程序存储器或数据存储器中以规定数据形式保存有多个样本的实验数据的平均特性数据即所述特定传感器的标准检测特性数据、或者所述特定负载的标准输出特性数据即标准特性数据，

所述检测特性或输出特性的2次微分值具有不进行正负翻转的单调递增特性或单调递减特性，近似于至少一对以上的折线特性，

所述程序存储器或数据存储器中还保存有插补信息，该插补信息用于填补近似于折线特性的所述标准特性数据、与实际的标准特性数据之间的误差，

所述程序存储器包含成为标签电阻读取转换单元的控制程序，所述标签电阻读取转换单元参照与所述标签电阻串联连接的串联电阻的电阻值、以及该标签电阻的两端电压及施加在串联电路上的电压即控制电压，来计算该标签电阻的电阻值，并基于所计算出的电阻值来计算所述特定传感器的检测特性、或用于修正所述特定负载的输出特性的固体偏差变动的修正常数，并将其保存到所述数据存储器或所述RAM存储器中，

所述修正常数是以所述标准特性数据为基准的所述特定传感器的个别检测特性数据，或是用于确定所述特定负载的个别输出特性数据即个别特性数据的一对调整倍率，或是一对调整加法运算值，又或是将调整倍率与调整加法运算值进行复合后得到的数据，

所述调整倍率是通过与所述标准特性数据相乘从而得到所述个别特性数据的修正常数，是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对比率即斜率系数，

所述调整加法运算值是通过与所述标准特性数据进行代数加法运算从而得到所述个别特性数据的修正常数，是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对偏差即斜率调整值，

所述标签电阻读取转换单元在电源开关接通后的运行开始时执行，或是在对所述特定传感器或所述特定负载进行维护更换时执行，对所述修正常数是由所述调整系数和所述偏置调整值中的哪一个与所述调整系数、或与所述斜率系数、或与所述偏置调整值、或与所述斜率调整值的组合来构成的进行识别，并将所识别出的修正常数及所述特定传感器或所述特定负载的所述标准特性数据、与所述插补信息进行组合，从而还原并生成所述个别特性数据，

所述微处理器参照所生成的所述个别检测特性数据来对所述电负载组进行驱动控制，或者参照所生成的所述个别输出特性数据来对所述特定负载进行驱动控制。

2.一种电子控制装置，包括微处理器，该微处理器与输入传感器组的动作状态及程序存储器的内容进行联动，从而对电负载组进行驱动控制，并且，在所述电子控制装置中，所述电负载组的一部分特定负载具有检测该特定负载的输出的特定传感器，所述特定传感器包括标签电阻，该标签电阻用于校正将所述特定负载的输出特性与所述特定传感器的检测特性进行合成后所得到的合成输出特性的固体偏差变动，所述电子控制装置的特征在于，

所述微处理器还与用于运算处理的RAM存储器、作为所述程序存储器的一部分区域的或分开设置的非易失性数据存储器、以及AD转换器相连接并相互联动，

并且，在所述程序存储器或数据存储器中，以规定数据形式保存有多个样本的实验数据的平均特性数据即所述特定负载及所述特定传感器的标准合成特性数据，

所述合成输出特性的2次微分值具有不进行正负翻转的单调递增特性或单调递减特性，近似于至少一对以上的折线特性，

所述程序存储器或数据存储器中还保存有插补信息，该插补信息用于填补近似于折线特性的所述标准合成数据、与实际的标准合成特性数据之间的误差,

所述程序存储器包含成为标签电阻读取转换单元的控制程序，所述标签电阻读取转换单元参照与所述标签电阻串联连接的串联电阻的电阻值、以及该标签电阻的两端电压及施加在串联电路上的电压即控制电压，来计算该标签电阻的电阻值，并基于所计算出的电阻值来计算用于修正所述特定负载的合成输出特性的固体偏差变动的修正常数，并将其保存到所述数据存储器或所述RAM存储器中，

所述修正常数是以所述标准合成特性数据即标准特性数据为基准、用于确定所述特定负载的个别合成特性数据即个别特性数据的一对调整倍率，或是一对调整加法运算值，又或是将调整倍率与调整加法运算值进行复合后得到的数据，

所述调整倍率是通过与所述标准特性数据相乘从而得到所述个别特性数据的修正常数，是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对比率即斜率系数，

所述调整加法运算值是通过与所述标准特性数据进行代数加法运算从而得到所述个别特性数据的修正常数，是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对偏差即斜率调整值，

所述标签电阻读取转换单元在电源开关接通后的运行开始时执行，或是在对所述特定传感器或所述特定负载进行维护更换时执行，对所述修正常数是由所述调整系数和所述偏置调整值中的哪一个与所述调整系数、或与所述斜率系数、或与所述偏置调整值、或与所述斜率调整值的组合来构成的进行识别，并将所识别出的修正常数、所述插补信息及所述特定负载的所述标准特性数据进行组合，从而还原并生成所述个别特性数据，

所述微处理器参照所生成的所述个别合成特性数据来对所述特定负载进行驱动控制。

3.如权利要求2所述的电子控制装置，其特征在于，

所述程序存储器或所述数据存储器中，除了所述特定负载与所述特定传感器的标准合成特性数据以外，还以规定数据形式保存有所述特定负载的标准输出特性数据，

所述微处理器为了使所述特定负载产生作为目标的目标控制输出，参照所述标准输出特性数据来生成控制指令信号，并且作为其结果，在参照所述特定负载的个别合成特性数据而得到的所述特定传感器的检测输出、与所述目标控制输出之间存在控制偏差时，所述微处理器对所述控制指令信号进行增减修正并进行负反馈控制，以获取所述目标控制输出。

4.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于，

所述标签电阻依次串联连接有多个串联电阻，该串联电阻的电阻值中，后级的电阻值是前级的电阻值的2倍，各个串联电阻通过设在调整窗内的多个短路/开路端子来进行短路或开路，

所述短路/开路端子与作为目标的标签电阻的电阻值的二进制值相对应，根据各比特位的逻辑状态来进行短路或开路。

5.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于，

所述标签电阻使用薄膜电阻，该薄膜电阻能够通过调整窗利用激光微调来对电阻值进行调整，以使得在对电阻值进行测量监视的同时，利用宽度方向的切割尺寸及长度方向的切割尺寸来使其变为目标电阻值。

6.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于，

构成所述标签电阻的串联电阻在构成为漩涡状的薄膜电阻体处设置有多个连接端子，将该连接端子用作为短路/开路端子，通过调整窗使其短路或开路，

所述短路/开路端子间的电阻预先从小的电阻开始依次通过激光微调来进行调整，以将其调整成依次翻倍的电阻值。

7.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于，

将所述微处理器所测定到的所述标签电阻的数字转换值分割成高比特位组及低比特位组来使用，将所述高比特位组及低比特位组分别分配给所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的某一个的设定，将所分配的设定值、以及与所述偏置调整值或所述斜率调整值相关的最小值保存在所述程序存储器或数据存储器中，

利用与所述最小值相对的倍率来对所述偏置调整值或所述斜率调整值进行设定。

8.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于，

由所述微处理器测定到的所述标签电阻的数字转换值与设置在对所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值的设定值进行分配的二次映射中的流水号相对应，

利用所述流水号来指定所述设定值的等级编号，

在将所述流水号分割成小号组与大号组、或者奇数编号组与偶数编号组时，同一等级将被分配到两个流水号，将分配给各个等级编号的用于精调或用于粗调的所述设定值、以及与所述偏置调整值或所述斜率调整值相关的最小值保存在所述程序存储器或数据存储器中，利用与所述最小值相对的倍率来对所述偏置调整值或所述斜率调整值进行设定。

9.一种权利要求1或2中所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于，

在所述程序存储器或所述数据存储器中，除了所述标准特性数据以外，还添加有用于选择所述数据形式的辅助数据，

在由输入共同的比较调整值的调整输入轴、和输出不同的比较监视值的监视输出轴所组成的二维坐标上，或者在由输出共同的比较调整值的调整输出轴、和输入不同的比较监视值的监视输入轴所组成的二维坐标上，所述标准特性数据的标准特性与所述个别特性数据的个别特性用折线近似，

作为构成所述修正常数的选择参数，所述辅助数据从如下选择A1至选择A7的一部分或全部之中选择出任意一个：(1)由所述调整系数与所述斜率系数的组合形成的选择A1、或选择由第1及第2调整系数的组合形成的一对所述调整系数的选择A2；或者(2)由所述偏置调整值与所述斜率调整值的组合形成的选择A3、或选择由第1及第2偏置调整值形成的一对所述偏置调整值的选择A4；或者(3)选择由所述偏置调整值与所述调整系数的复合组合的选择A5、或选择由所述调整系数与所述斜率调整值的组合形成的复合组合的选择A6、或者选择所述偏置调整值与所述斜率系数的组合的选择A7，

另外，(4)所述折线特性的坐标轴选择调整输入轴对监视输出轴的二维坐标轴即选择B1、或调整输出轴对监视输入轴的二维坐标轴即选择B2中的任意一个，由此，指定共计14种选择项中的一个来作为选择参数，

并且，所述调整系数是由比率yn0/y0或比率xn0/x0来决定的参数，所述比率yn0/y0是对于共同的比较调整输入x0、将所述个别特性的比较监视输出yn0与所述标准特性的比较监视输出y0进行比较后得到的比率，所述比率xn0/x0是对于共同的比较调整输出y0、将所述个别特性的比较监视输入xn0与所述标准特性的比较监视输入x0进行比较后得到的比率，

所述斜率系数是由比率θn/θ0或tanθn/tanθ0来决定的参数，所述比率θn/θ0或tanθn/tanθ0是将用于计算所述调整系数的比较调整点上的所述个别特性的变化率即线段的倾斜角或其正切、与所述标准特性的变化率即线段的倾斜角或其正切进行比较后得到的比率，

所述偏置调整值是由比较偏差y1n－y1或比较偏差x1n－x1来决定的参数，所述比较偏差y1n－y1是与共同的比较调整输入x1相对的、所述个别特性的比较监视输出y1n与标准特性的比较监视输出y1之间的比较偏差，所述比较偏差x1n－x1是与共同的比较调整输出y1相对的、所述个别特性的比较监视输入x1n与所述标准特性的比较监视输入x1之间的比较偏差，

所述斜率调整值是由比较偏差θn－θ1或tanθn－tanθ1来决定的参数，所述比较偏差θn－θ1或tanθn－tanθ1是用于计算所述偏差修正值的比较调整点上的所述个别特性的变化率即线段的倾斜角或其正切、与所述标准特性的变化率即线段的倾斜角或其正切之间的比较偏差。

10.如权利要求9所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于，

将所述标准特性近似为由第1线段及第2线段所形成的标准折线特性，并且计算出该第1线段与第2线段之间相对误差最小的标准合成直线，

所述标准特性数据由标准数据及差分数据ΔVi0构成，所述标准数据包含与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述标准合成直线的倾斜角θ0、或一对比较调整点的坐标，所述差分数据ΔVi0是与大小不同的多个分散调整值Pi相对应的所述第1线段及所述第2线段、与所述标准合成直线之间的误差，

将所述个别特性近似为由第1线段及第2线段所形成的个别折线特性，并且计算出该第1线段与第2线段之间相对误差最小的个别合成直线，

所述个别特性数据由个别数据构成，所述个别数据包含：在所述标准特性数据中所使用的，与选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述个别合成直线的倾斜角θn、或一对比较调整点的坐标，

将所述个别合成直线与所述标准合成直线相比较，将所述标签电阻调整为用于确定所述选择参数的电阻值，

所述微处理器读取出所述标签电阻的电阻值，并提取出所指定的所述选择参数，将其作为一次修正常数，

利用所述标准数据及所述一次修正常数来确定与所述个别合成直线相同的合成直线，通过将所述差分数据ΔVi0作为插补信息与所确定的合成直线进行代数加法运算，来确定由经修正后的第1线段及第2线段所构成的一次修正折线特性，并利用所确定的一次修正折线特性来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。

11.如权利要求10所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于，

根据成为所述一次修正常数的所述选择参数的值来计算成为二次修正常数的选择参数，

所述二次修正常数是对所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的任意值进行修正计算的常数，在使构成所述选择参数的所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的任意值微增或微减时得到的，以使得所述一次修正折线特性的第1线段及第2线段、与所述个别折线特性中的第1线段及第2线段之间的相对误差最小，

将所述标签电阻调整为用于确定经修正并计算出的所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的任意值的电阻值，

所述微处理器利用从所述标准数据和所述标签电阻的电阻值中所读取出的所述二次修正常数，来确定合成直线，并通过对将所述差分数据ΔVi0作为插补信息而与所确定的合成直线进行代数加法运算，来确定对由经补充修正后的第1线段及第2线段所组成的二次修正折线特性，利用所确定的二次修正折线特性来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。

12.如权利要求9所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于，

将所述标准特性近似为由第1直线及第2直线组成的标准折线特性，

并且，所述标准特性数据由与所述第1直线相关的第1标准数据、以及与所述第2直线相关的第2标准数据构成，

所述第1标准数据包含：与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第1直线的倾斜角θ10、或一对比较调整点的坐标，

所述第2标准数据包含：与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的倾斜角θ20、或一对比较调整点的坐标，

将所述个别特性近似为由第1直线及第2直线所组成的个别折线特性，并且，所述个别特性数据由与所述第1直线相关的第1个别数据、以及与所述第2直线相关的第2个别数据构成，

所述第1个别数据包含：所述第1标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第1直线的倾斜角θ1n、或一对比较调整点的坐标，

所述第2个别数据包含：所述第2标准数据所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的倾斜角θ2n、或一对比较调整点的坐标，

所述标签电阻由第1标签电阻及第2标签电阻构成，所述第1标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第1直线与所述标准的第1直线相比较，来确定所述选择参数的电阻值，所述第2标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第2直线与所述标准的第2直线相比较，来确定所述选择参数的电阻值，

所述微处理器读取出所述第1及第2标签电阻的电阻值，

提取出与所述个别的第1直线相对的所述选择参数，并将其作为第1修正常数，

提取出与所述个别的第2直线相对的所述选择参数，并将其作为第2修正常数，

利用所述第1标准数据及所述第1修正常数来确定个别的第1直线的计算式，

利用所述第2标准数据及所述第2修正常数来确定个别的第2直线的计算式，

利用由所确定的个别的第1直线与第2直线组成的折线特性，来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据，

并且，所述程序存储器或所述数据存储器还包含曲率半径Ra来作为第3标准数据，该曲率半径Ra用于对所述标准的第1直线与第2直线的交叉部分进行圆弧修正，

对于所述个别的第1直线与第2直线的交叉部分，将作为所述第3标准数据来保存的曲率半径Ra作为插补信息，以进行圆弧修正。

13.如权利要求9所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于，

将所述标准特性近似为由第1直线及第2直线、以及位于所述第1直线与所述第2直线中间的第3直线所组成的标准折线特性，

并且，所述标准特性数据由与所述第1直线相关的第1标准数据、及与所述第2直线相关的第2标准数据构成，

所述第1标准数据至少包含：所述第1直线与第3直线的交点位置的坐标、以及与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第1直线的倾斜角、或一对比较调整点的坐标，

所述第2标准数据至少包含：所述第2直线与第3直线的交点位置的坐标、以及与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的倾斜角、或一对比较调整点的坐标，

将所述个别特性近似为由第1直线及第2直线、以及位于所述第1直线与所述第2直线中间的第3直线所组成的个别折线特性，

并且，所述个别特性数据由与所述第1直线相关的第1个别数据、及与所述第2直线相关的第2个别数据构成，

所述第1个别数据包含：所述第1标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第1直线的倾斜角；或一对比较调整点的坐标，

所述第2个别数据包含：所述第2标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的倾斜角；或一对比较调整点的坐标，

所述标签电阻由第1标签电阻及第2标签电阻构成，所述第1标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第1直线与所述标准的第1直线相比较、来确定所述选择参数的电阻值，所述第2标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第2直线与所述标准的第2直线相比较、来确定所述选择参数的电阻值，

所述微处理器读取出所述第1及第2标签电阻的电阻值，

提取出与所述个别的第1直线相对的选择参数，并将其作为第1修正常数，

提取出与所述个别的第2直线相对的选择参数，并将其作为第2修正常数，

利用所述第1标准数据及所述第1修正常数来确定个别的第1直线的计算式，

利用所述第2标准数据及所述第2修正常数来确定个别的第2直线的计算式，

根据所确定的个别的第1直线和第2直线的计算式，来生成成为插补信息的个别的第3直线的计算式，

利用由所确定的个别的所述第1直线和所述第2直线、以及所生成的所述第3直线所组成的折线特性，来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。

14.如权利要求9所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于，

将所述标准特性近似为由第1直线及第2直线组成的标准折线特性，

所述标准特性数据由与所述第1直线相关的第1标准特性数据、以及与所述第2直线相关的第2标准特性数据构成，并且所述第1直线与第2直线中的至少一条直线是将前段的第1线段与第2线段进行合成后得到的第1直线，或者是将后段的第1线段与第2线段进行合成后得到的第2直线，

所述第1标准特性数据由第1标准数据及第1差分数据ΔVi1构成，所述第1标准数据包含：与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第1直线的倾斜角θ10、或一对比较调整点的坐标，

所述第1差分数据ΔVi1是与大小不同的多个分散调整值Pi1相对应的所述第1线段及第2线段、与所述第1直线之间的误差，

所述第2标准特性数据由第2标准数据及第2差分数据ΔVi2构成，所述第2标准数据包含：与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的倾斜角θ20、或一对比较调整点的坐标，

所述第2差分数据ΔVi2是与大小不同的多个分散调整值Pi2相对应的所述第1线段及第2线段、与所述第2直线之间的误差，

将所述个别特性近似为由第1直线及第2直线所组成的个别折线特性，所述第1直线是将前段的第1线段与第2线段进行合成后得到的直线，所述第2直线是将后段的第1线段与第2线段进行合成后得到的直线，

并且，所述个别特性数据由与所述第1直线相关的第1个别数据、及与所述第2直线相关的第2个别数据构成，

所述第1个别数据包含：所述第1标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第1直线的倾斜角θ1n、或一对比较调整点的坐标，

所述第2个别数据包含：所述第2标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的倾斜角θ2n、或一对比较调整点的坐标，

所述标签电阻由第1标签电阻及第2标签电阻构成，所述第1标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第1直线与所述标准的第1直线相比较，来确定的所述选择参数的电阻值，所述第2标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第2直线与标准的第2直线相比较、来确定的所述选择参数的电阻值，

所述微处理器读取出所述第1及第2标签电阻的电阻值，

提取出与所述个别的第1直线相对的所述选择参数，并将其作为第1修正常数，

提取出与所述个别的第2直线相对的所述选择参数，并将其作为第2修正常数，

利用所述第1标准数据及所述第1修正常数来确定个别的第1直线的计算式，

利用所述第2标准数据及所述第2修正常数来确定个别的第2直线的计算式，

将所述第1差分数据ΔVi1作为插补信息与所确定的所述第1直线进行代数加法运算，由此来确定由经修正后的前段的第1线段及第2线段所组成的前段折线特性，

将所述第2差分数据ΔVi2作为插补信息与所确定的所述第2直线进行代数加法运算，由此来确定由经修正后的后段的第1线段及第2线段所组成的后段折线特性，

利用由所确定的所述前段折线特性及所述后段折线特性来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。

15.一种电子控制装置的控制特性调整方法，该电子控制装置的控制特性调整方法是权利要求1或2所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于，

所述特定传感器或所述特定负载通过环境传感器来测定以温度或气压为一个例子的设置环境，

所述个别特性数据在规定的基准环境条件下被测得，

与此相对，所述标准特性数据是在所述规定的基准环境条件、以及其它环境条件下所测定到的多个标准特性数据，所测得的多个标准特性数据被保存于所述程序存储器或所述数据存储器中，

所述修正常数由所述调整系数和所述斜率系数中的任意一个与所述调整系数、或与所述斜率系数、或与所述偏置调整值、或与所述斜率调整值的组合构成，所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值是基于在所述基准环境条件下所测定到的标准特性数据及个别特性数据而计算得出，

所述微处理器生成由所述环境传感器所测定到的所述特定传感器或所述特定负载的设置环境信息、以及根据所述多个标准特性数据进行插补计算后所得到的当前环境下的标准特性数据，以作为插补信息，

并且，基于所述基准环境下的修正常数及所述当前环境下的标准特性数据来还原并生成当前环境下的个别特性数据，

参照当前环境下的个别检测特性数据来对所述电负载组进行驱动控制，或者参照当前环境下的个别输出特性数据或个别合成特性来对所述特定负载进行驱动控制。