CN103804600A - 一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法 - Google Patents

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CN103804600A CN201410045907.XA CN201410045907A CN103804600A CN 103804600 A CN103804600 A CN 103804600A CN 201410045907 A CN201410045907 A CN 201410045907A CN 103804600 A CN103804600 A CN 103804600A
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洪炜
赵斌元
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Abstract

本发明涉及一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法,包括溶胶凝胶合成单分散二氧化硅微球;利用自组装方法将二氧化硅微球沉积在玻璃基底上形成规整的二氧化硅蛋白石光子晶体薄膜;去除二氧化硅光子晶体薄膜,得到离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜;洗脱离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜中的重金属离子,即得到光子晶体薄膜。与现有技术相比,本发明设计新颖合理,成本低廉,可重复性好。本发明所制得的反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜,用于重金属离子的检测具有高的灵敏度、选择性和适用范围。

Description

一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法
技术领域
本发明属于材料制备和检测分析技术领域,涉及离子印迹聚合物、光子晶体的制备和应用,特别是涉及离子印迹反蛋白石结构光子晶体薄膜传感器的制备和提高检测分析效率的方法。
背景技术
重金属广泛地存在于自然界中,其中一些元素是生物的必须元素,如铜、锌等是人体的必须元素,广泛参与酶调节、细胞生长发育等重要的生命过程;然而,有相当多的重金属元素具有很高的毒性,如镉具有致畸性,汞具有急性毒性,铅具有慢性的神经毒性等等。环境中的重金属污染物通过水循环和食物链,最终传导到人类的饮用水、食品之中,最重危害人类的健康。因此,简历快速、高效的检测方法,不仅有利于掌握重金属的迁移特征,还可以为环境保护、政策执行进行评估,为开展有效控制提供理论和技术上的支持。
光子晶体是指折具有不同折射率的材料在亚微米尺度上交替形成一种周期性材料。与X射线能在晶体中产生衍射类似,可见光在光子晶体中产生衍射,从而显示出特定的颜色。光子晶体的发现是光和电磁波控制技术的一次革命,1999年,美国权威《科学》杂志将光子晶体评为21世纪的十大热门领域之一。
光子带隙是光子晶体的最根本特征,波长在光子带隙中的可见光是禁止传播的。由于光子带隙的存在,人们可以通过设计光子晶体微观结构,实现对各种波长光的调控。影响光子带隙的主要因素有两个,一个是光子晶体的微观结构,另一个则是两种介质的折射率比,因此,改变光子带隙可以从这两方面考虑:一是改变体系中的折射率,二是改变光子晶体的周期性。在外部环境的刺激下,改变其中一个参数可以起到调节光子禁带的目的。例如,利用光照、温度、压力、电场、磁场与溶液中的化学刺激改变折射率、晶格结构等参数,从而实现对光子带隙的调控,从而实现比色检测,这种方法为新型传感器的设计和制备提供了新思路,利用这一原理可以实现对生物大分子、溶剂、重金属离子等化学刺激进行检测。
发明内容
本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法,具有高的灵敏度、选择性以单分散二氧化硅微球为模板,组装制备蛋白石结构光子晶体膜,进而制得反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜。
本发明的目的可以通过以下技术方案来实现:
一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法,采用以下步骤:
(1)溶胶凝胶合成单分散二氧化硅微球:控制水浴温度为10-35℃,依次将硅酸酯、水、氨水加入乙醇中,搅拌均匀,反应10-15h制备得到稳定性、均一性良好的二氧化硅微球乳液;
(2)利用离心-超声纯化得到的二氧化硅微球乳液,再利用恒温箱控制温度为10-40℃,采用自组装方法,将二氧化硅微球沉积在玻璃基底上形成规整的二氧化硅蛋白石光子晶体薄膜;
(3)在二氧化硅蛋白石光子晶体薄膜上滴入离子印迹聚合物前驱体溶液,紫外光照聚合,并用0.8-2wt%的氢氟酸处理10-60min,去除二氧化硅光子晶休薄膜,得到离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜;
(4)利用乙二胺四乙酸缓冲溶液洗脱离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜中的重金属离子,即得到光子晶体薄膜。
步骤(1)中所述的二氧化硅微球乳液中,二氧化硅微球的平均粒径为150-600nm。
步骤(1)中所述的硅酸酯、水、氨水的质量比是(0.5~2)∶(0~2)∶(0.5~2),其中的硅酸酯分子式是Si(OR)4,其中R为CnH2n+1,n=1-6。
所述的硅酸酯优选正硅酸甲酯、正硅酸乙酯或正硅酸丙酯。
步骤(2)中的自组装方法采用以下步骤:
1.将单分散二氧化硅微球用无水乙醇分散,形成0.1-2%质量分数的分散液;
2.将分散液加入到洗净的玻璃溶液中,玻璃容器中垂直放置平整的玻璃片,放置于恒温箱中,在10-40℃下干燥2-8天。
步骤(3)中所述的离子印迹聚合物前驱体溶液由具有重金属螯合功能的单体、需要测量的重金属盐类、共聚单体、交联剂、溶剂、引发剂按重量比为1-50∶1-25:1-50∶1-10∶30-70∶0.05-0.2组成,
所述的具有重金属螯合功能的单体包括含有羧基、胺基或吡啶官能团的苯乙烯、甲基丙烯酰或丙烯酰衍生物,
所述的需要测量的重金属盐类包括汞、铅、铜、镉、铬或镍的盐类化合物,
所述的共聚单体包括苯乙烯、甲基丙烯酸甲酯或丙烯酰胺,
所述的交联剂包括乙二醇、二甲基丙烯酸酯或二乙烯基苯,
所述的溶剂包括醇类溶剂、芳香烃溶剂、氯仿、二甲亚砜,
所述的引发剂为光敏或热敏引发剂,包括偶氮二异丁氰或过氧化苯甲酰。
制备得到的光子晶休薄膜可用于检测重金属盐的浓度,采用以下步骤:
(1)将光子晶体薄膜浸泡在不同浓度的重金属盐溶液中,使用光谱仪依次测光子晶体薄膜在不同浓度的重金属盐溶液中的反射光谱曲线,然后拟合重金属盐浓度与光子晶体薄膜反射峰波长的关系曲线;
(2)将光子晶体薄膜浸泡在待测溶液之中,直接观察颜色变化,使用光谱仪测量反射光谱曲线,通过重金属盐浓度与光子晶体薄膜反射峰波长的关系曲线计算得到重金属离子在待测样品中的浓度。
步骤(1)中光子晶体薄膜浸泡在浓度为10-12~10-2mol/L重金属盐溶液中,使用光谱仪依次测量光子晶体薄膜在不同浓度的重金属盐溶液中的反射光谱曲线。
常见的重金属离子检测手段有耦合等离子体、原子吸收光谱、原子发射光谱、原子荧光光谱、色谱法等,一般而言这些方法所需要的设备昂贵、样品预处理较为复杂耗时。与现有技术相比,本发明设计新颖合理,成本低廉,可重复性好。本发明所制得的反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜,用于重金属离子的检测具有高的灵敏度、选择性和适用范围。例如,常见的铅离子检测手段是原子吸收光谱,然而原子吸收光谱检测设备较为昂贵,检测需要送到专门的检测部门,检测周期长并且昂贵;而使用苯并18-冠醚-6修饰的光子晶体薄膜(由甲基丙烯酸甲酯,乙烯基苯并18冠醚6,甲基丙烯酸3-磺酸丙酯铅盐,三缩四乙二醇(二甲基丙烯酸酯),2-羟基-4′-(2-羟乙氧基)-2-甲基苯丙酮,甲苯按照重量比为20∶15∶15∶3.8∶0.2∶46光照聚合而成)进行铅离子检测,当液体样品量为10mL时,能够检测低于1ppb的铅离子的浓度,并且成本非常低。检测过程中,液体中的重金属离子(铅离子)与光子晶体薄膜中的螯合基团(18冠醚6)定量地结合,引起了光子晶体薄膜中螯合基团和离子基团的交联,使得光子晶体薄膜收缩,从而光子晶体衍射峰波长蓝移。由此可见,使用本发明所涉及的基于光子晶体薄膜的重金属离子传感器,可以实现比现有技术一样灵敏的检测,并且具有低成本和易于操作等优点。
附图说明
图1是本发明所得到的二氧化硅光子晶体薄膜扫描电镜图片;
图2是本发明所得到的反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜扫描电镜图片;
图3是实施例1的效果展示图;
a)为实施例1所得到的铜离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜的化学结构;b)为实施例1所得到的铜离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜在不同浓度的铜离子溶液中的反射峰;c)为实施例1所得到的铜离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜在不同浓度的不同金属离子溶液中的反射峰波长变化,其中纵坐标α为归一化的反射峰波长,即某一状态下“反射峰波长:响应之前的反射峰波长”。
图4是实施例2的效果展示图;
a)为实施例2所得到的铅离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜的化学结构;b)为实施例2所得到的铅离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜在不同浓度的铅离子溶液中的反射峰;c)为实施例2所得到的铅离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜在不同浓度的不同金属离子溶液中的反射峰波长变化,其中纵坐标α为归一化的反射峰波长,即某一状态下“反射峰波长:响应之前的反射峰波长”。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细说明。
实施例1
1)通过溶胶凝胶法合成单分散二氧化硅微球:取40mL无水乙醇,恒温在25℃后,依次加入1.8g正硅酸乙酯、1.8g水、1.8g氨水,搅拌均匀,在25℃下反应10小时以上,得到微球的乙醇分散液;
2)将步骤1)制得的乳液,通过离心-超声纯化后,稀释成0.8%质量分数的乙醇乳液,在恒温箱中于温度25℃中,采用自组装方法,将二氧化硅微球沉积在玻璃基底上形成二氧化硅蛋白石光子晶体薄膜,其扫描电镜图片如图1所示,以该薄膜为模板:
3)往步骤2)得到的光子晶体薄膜滴入如下配方的聚合物前驱体溶液(质量分数),通过紫外光照在常温下聚合:
Figure BDA0000464392110000051
4)使用1%的氢氟酸水溶液以除去二氧化硅微球,并在EDTA缓冲溶液中洗脱铜离子,得到反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜,其扫描电镜图片如图2所示。
5)将步骤4)所制的反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜列用纯水清洗后,浸入到不同浓度的铜离子溶液之中,使用光谱仪依次测量光子晶体薄膜在不同的浓度的铜离子溶液中的反射光谱曲线,拟合出铜离子浓度与光子晶体薄膜反射峰波长的曲线关系。
6)将步骤5)中的光子晶体薄膜放入待测溶液中,使用光谱仪测量待测溶液中光子晶体薄膜的反射光谱曲线,进而推得溶液中的铜离子浓度。
本实施方式步骤五中拟合溶液中铜离子浓度与光子晶体薄膜反射峰波长的关系的方法可以是以光子晶体薄膜反射峰波长为纵坐标,溶液中铜离子浓度为横坐标描点,在坐标图上用平滑线拟合,图3是实施例1的效果展示图;
a)为实施例1所得到的铜离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜的化学结构;b)为实施例1所得到的铜离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜在不同浓度的铜离子溶液中的反射峰;c)为实施例1所得到的铜离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜在不同浓度的不同金属离子溶液中的反射峰波长变化,其中纵坐标α为归一化的反射峰波长,即某一状态下“反射峰波长:响应之前的反射峰波长”。
本实施方式作为一种测量溶液中铜离子浓度的新方法,是利用反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜识别铜离子后,会发生显著的收缩效应,导致光子晶体的周期性发生缩小,从而使得反射光蓝移。通过大量对比实验可以总结出不同重金属离子溶液浸泡后的光子晶体薄膜反射光谱变化曲线,以此为依据,推知待测溶液的铜离子浓度。
实施例2
1)通过溶胶凝胶法合成单分散二氧化硅微球:取100mL无水乙醇,恒温在22℃后,依次加入4g正硅酸乙酯、4.2g水、3.4g氨水,搅拌均匀,在22℃下反应10小时以上,得到微球的乙醇分散液;
2)将步骤1)制得的乳液,通过离心-超声纯化后,稀释成0.9%质量分数的乙醇乳液,在恒温箱中于温度25℃中,采用自组装方法,将二氧化硅微球沉积在玻璃基底上形成二氧化硅蛋白石光子晶体薄膜,以该薄膜为模板:
3)往步骤2)得到的光子晶体薄膜滴入如下配方的聚合物前驱体溶液(质量分数),通过紫外光照在常温下聚合:
Figure BDA0000464392110000061
4)使用1.5%的氢氟酸水溶液以除去二氧化硅微球,并在EDTA缓冲溶液中洗脱铅离子,得到反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜。
5)将步骤4)所制的反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜列用纯水清洗后,浸入到不同浓度的铅离子溶液之中,使用光谱仪依次测量光子晶体薄膜在不同的浓度的铅离子溶液中的反射光谱曲线,拟合出铅离子浓度与光子晶体薄膜反射峰波长的曲线关系。拟合方式与实施例1一致。
6)将步骤5)中的光子晶体薄膜放入待测溶液中,使用光谱仪测量待测溶液中光子晶体薄膜的反射光谱曲线,进而推得溶液中的铅离子浓度。
图4是实施例2的效果展示图;a)为实施例2所得到的铅离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜的化学结构;b)为实施例2所得到的铅离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜在不同浓度的铅离子溶液中的反射峰;c)为实施例2所得到的铅离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜在不同浓度的不同金属离子溶液中的反射峰波长变化,其中纵坐标α为归一化的反射峰波长,即某一状态下“反射峰波长:响应之前的反射峰波长”。
实施例3
1)通过溶胶凝胶法合成单分散二氧化硅微球:取40mL无水乙醇,恒温在26℃后,依次加入1.6g正硅酸乙酯、2.3g水、1.8g氨水,搅拌均匀,在26℃下反应10小时以上,得到微球的乙醇分散液;
2)将步骤1)制得的乳液,通过离心-超声纯化后,稀释成1%质量分数的乙醇乳液,在恒温箱中于温度30℃中,采用自组装方法,将二氧化硅微球沉积在玻璃基底上形成二氧化硅蛋白石光子晶体薄膜,以该薄膜为模板:
3)往步骤2)得到的光子晶体薄膜滴入如下配方的聚合物前驱体溶液(质量分数),通过紫外光照在常温下聚合:
Figure BDA0000464392110000071
4)使用1%的氢氟酸水溶液以除去二氧化硅微球,并在硫代硫酸钠溶液中洗脱汞离子,得到反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜。
5)将步骤4)所制的反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜列用纯水清洗后,浸入到不同浓度的汞盐溶液之中,使用光谱仪依次测量光子晶体薄膜在不同的浓度的汞盐溶液中的反射光谱曲线,拟合出汞盐浓度与光子晶体薄膜反射峰波长的曲线关系。拟合方式与实施例1一致。
6)将步骤5)中的光子晶体薄膜放入待测溶液中,使用光谱仪测量待测溶液中光子晶体薄膜的反射光谱曲线,进而推得溶液中的汞盐浓度。
实施例4
一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法,采用以下步骤:
(1)溶胶凝胶合成单分散二氧化硅微球:控制水浴温度为10℃,依次将硅酸酯、氨水按质量比为0.5∶0.5加入乙醇中,使用的硅酸酯为正硅酸甲酯,搅拌均匀,反应10h制备得到稳定性、均一性良好的二氧化硅微球乳液,其中的二氧化硅微球的平均粒径为150-600nm;
(2)利用离心-超声纯化得到的二氧化硅微球乳液,再利用恒温箱控制温度为10℃,采用自组装方法,首先将单分散二氧化硅微球用无水乙醇分散,形成0.1%质量分数的分散液,然后将分散液加入到洗净的玻璃溶液中,玻璃容器中垂直放置平整的玻璃片,放置于恒温箱中,在10℃下干燥8天,从而将二氧化硅微球沉积在玻璃基底上形成规整的二氧化砖蛋白石光子晶体薄膜;
(3)在二氧化硅蛋白石光子晶体薄膜上滴入离子印迹聚合物前驱体溶液,紫外光照聚合,并用0.8wt%的氢氟酸处理60min,去除二氧化硅光子晶体薄膜,得到离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜,其中,使用的离子印迹聚合物前驱体溶液由具有重金属螯合功能的单体、需要测量的重金属盐类、共聚单体、交联剂、溶剂、引发剂按重量比为1∶1∶1∶1∶30∶0.05组成,具有重金属螯合功能的单体为含有羧基官能团的苯乙烯,需要测量的重金属盐类包括汞、铅、铜、隔、铬或镍等的一种或几种的盐类化合物,共聚单体为苯乙烯,交联剂为乙二醇,溶剂采用醇类溶剂,引发剂为偶氮二异丁氰;
(4)利用乙二胺四乙酸缓冲溶液洗脱离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜中的重金属离子,即得到光子晶体薄膜,制备得到的光子晶体薄膜可用于检测重金属盐的浓度,采用以下步骤:
a、将光子晶体薄膜浸泡在浓度为10-12~10-2mol/L的重金属盐溶液中,使用光谱仪依次测光子晶体薄膜在不同浓度的重金属盐溶液中的反射光谱曲线,然后拟合重金属盐浓度与光子晶体薄膜反射峰波长的关系曲线;
b、将光子晶体薄膜浸泡在待测溶液之中,直接观察颜色变化,使用光谱仪测量反射光谱曲线,通过重金属盐浓度与光子晶体薄膜反射峰波长的关系曲线计算得到重金属离子在待测样品中的浓度。
实施例5
一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法,采用以下步骤:
(1)溶胶凝胶合成单分散二氧化硅微球:控制水浴温度为35℃,依次将硅酸酯、水、氨水按质量比为2∶2∶2加入乙醇中,硅酸酯采用正硅酸乙酯,搅拌均匀,反应15h制备得到稳定性、均一性良好的二氧化硅微球乳液,其中的二氧化硅微球的平均粒径为150-600nm;
(2)利用离心-超声纯化得到的二氧化硅微球乳液,再利用恒温箱控制温度为40℃,采用自组装方法,将单分散二氧化硅微球用无水乙醇分散,形成2%质量分数的分散液,再将分散液加入到洗净的玻璃溶液中,玻璃容器中垂直放置平整的玻璃片,放置于恒温箱中,在40℃下干燥2天,从而将二氧化硅微球沉积在玻璃基底上形成规整的二氧化硅蛋白石光子晶体薄膜;
(3)在二氧化硅蛋白石光子晶体薄膜上滴入离子印迹聚合物前驱体溶液,紫外光照聚合,并用2wt%的氢氟酸处理10min,去除二氧化硅光子晶体薄膜,得到离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜,离子印迹聚合物前驱体溶液由具有重金属螯合功能的单体、需要测量的重金属盐类、共聚单体、交联剂、溶剂、引发剂按重量比为50∶25∶50∶10∶70∶0.2组成,具有重金属螯合功能的单体为含有胺基官能团的甲基丙烯酰,需要测量的重金属盐类包括汞、铅、铜、镉、铬或镍中的一种或几种的盐类化合物,共聚单体为甲基丙烯酸甲酯,交联剂为二甲基丙烯酸酯,溶剂为氯仿,引发剂为过氧化苯甲酰;
(4)利用乙二胺四乙酸缓冲溶液洗脱离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜中的重金属离子,即得到光子晶体薄膜,制备得到的光子晶体薄膜可用于检测重金属盐的浓度,采用以下步骤:
a、将光子晶体薄膜浸泡在浓度为10-12~10-2mol/L的重金属盐溶液中,使用光谱仪依次测光子晶体薄膜在不同浓度的重金属盐溶液中的反射光谱曲线,然后拟合重金属盐浓度与光子晶体薄膜反射峰波长的关系曲线;
b、将光子晶体薄膜浸泡在待测溶液之中,直接观察颜色变化,使用光谱仪测量反射光谱曲线,通过重金属盐浓度与光子晶体薄膜反射峰波长的关系曲线计算得到重金属离子在待测样品中的浓度。

Claims (9)

1.一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法,其特征在于,该方法采用以下步骤: 
(1)溶胶凝胶合成单分散二氧化硅微球:控制水浴温度为10-35℃,依次将硅酸酯、水、氨水加入乙醇中,搅拌均匀,反应10-15h制备得到稳定性、均一性良好的二氧化硅微球乳液; 
(2)利用离心-超声纯化得到的二氧化硅微球乳液,再利用恒温箱控制温度为10-40℃,采用自组装方法,将二氧化硅微球沉积在玻璃基底上形成规整的二氧化硅蛋白石光子晶体薄膜; 
(3)在二氧化硅蛋白石光子晶体薄膜上滴入离子印迹聚合物前驱体溶液,紫外光照聚合,并用0.8-2wt%的氢氟酸处理10-60min,去除二氧化硅光子晶体薄膜,得到离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜; 
(4)利用乙二胺四乙酸缓冲溶液洗脱离子印迹反蛋白石结构聚合物光子晶体薄膜中的重金属离子,即得到光子晶体薄膜。 
2.根据权利要求1所述的一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法,其特征在于,步骤(1)中所述的二氧化硅微球乳液中,二氧化硅微球的平均粒径为150-600nm。 
3.根据权利要求1所述的一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法,其特征在于,步骤(1)中所述的硅酸酯、水、氨水的质量比是(0.5~2)∶(0~2):(0.5~2),其中的硅酸酯分子式是Si(OR)4,其中R为CnH2n+1,n=1-6。 
4.根据权利要求3所述的一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法,其特征在于,所述的硅酸酯优选正硅酸甲酯、正硅酸乙酯或正硅酸丙酯。 
5.根据权利要求1所述的一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法,其特征在于,步骤(2)中的自组装方法采用以下步骤: 
(1).将单分散二氧化硅微球用无水乙醇分散,形成0.1-2%质量分数的分散液; 
(2).将分散液加入到洗净的玻璃溶液中,玻璃容器中垂直放置平整的玻璃片,放置于恒温箱中,在10-40℃下干燥2-8天。 
6.根据权利要求1所述的一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法, 
其特征在于,步骤(3)中所述的离子印迹聚合物前驱体溶液由具有重金属螯合功能的单体、需要测量的重金属盐类、共聚单体、交联剂、溶剂、引发剂按重量比为按重量比为1-50∶1-25∶1-50∶1-10∶30-70∶0.05-0.2组成, 
所述的具有重金属螯合功能的单体包括含有羧基、胺基或吡啶官能团的苯乙烯、甲基丙烯酰或丙烯酰衍生物, 
所述的需要测量的重金属盐类包括汞、铅、铜、镉、铬或镍的盐类化合物, 
所述的共聚单体包括苯乙烯、甲基丙烯酸甲酯或丙烯酰胺, 
所述的交联剂包括乙二醇、二甲基丙烯酸酯或二乙烯基苯, 
所述的溶剂包括醇类溶剂、芳香烃溶剂、氯仿、二甲亚砜, 
所述的引发剂为光敏或热敏引发剂,包括偶氮二异丁氰或过氧化苯甲酰。 
7.根据权利要求6所述的一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法,其特征在于,具有重金属螯合功能的单体、重金属盐类、共聚单体、交联剂、溶剂、引发剂重量比优选20-25∶10-15∶10-20∶5∶40-50∶0.1。 
8.根据权利要求1所述的一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法,其特征在于,制备得到的光子晶体薄膜可用于检测重金属盐的浓度,采用以下步骤: 
(1)将光子晶体薄膜浸泡在不同浓度的重金属盐溶液中,使用光谱仪依次测光子晶体薄膜在不同浓度的重金属盐溶液中的反射光谱曲线,然后拟合重金属盐浓度与光子晶体薄膜反射峰波长的关系曲线; 
(2)将光子晶体薄膜浸泡在待测溶液之中,直接观察颜色变化,使用光谱仪测量反射光谱曲线,通过重金属盐浓度与光子晶体薄膜反射峰波长的关系曲线计算得到重金属离子在待测样品中的浓度。 
9.根据权利要求8所述的一种基于离子印迹技术的光子晶体薄膜的制备方法,其特征在于,步骤(1)中光子晶体薄膜浸泡在浓度为10-12~10-2mol/L重金属盐溶液中,使用光谱仪依次测量光子晶体薄膜在不同浓度的重金属盐溶液中的反射光谱曲线。 
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