CN103745747A - 电可擦可编程只读存储器及其位线布线方法 - Google Patents
电可擦可编程只读存储器及其位线布线方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103745747A CN103745747A CN201410010129.0A CN201410010129A CN103745747A CN 103745747 A CN103745747 A CN 103745747A CN 201410010129 A CN201410010129 A CN 201410010129A CN 103745747 A CN103745747 A CN 103745747A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- bit line
- programmable read
- electrically erasable
- eeprom
- cabling
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
- Non-Volatile Memory (AREA)
Abstract
本发明公开一种电可擦可编程只读存储器及其位线布线方法,该电可擦可编程只读存储器的位线分为两组,每组分别于不同金属层走线,两不同金属层间用较短的走线和过孔进行连接,通过本发明,可减小位线间的耦合电容,提高存储器的速度,减小浪费。
Description
技术领域
本发明关于一种半导体存储器件,特别是涉及一种电可擦可编程只读存储器及其位线布线方法。
背景技术
在半导体存储装置中,电可擦可编程只读存储器(EEPROM)是一种易失性存储器,且属于可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable Read-OnlyMemory,EPROM)。电可擦可编程只读存储器(EEPROM)的优点是其可针对整个存储器区块进行擦除,且擦除速度快,约需一至两秒。因此,近年来,电可擦可编程只读存储器(EEPROM)已运用于各种消费性电子产品中,例如:数码相机、数码摄影机、移动电话或笔记本电脑等。
现有技术中,一般EEPROM的字线和位线在走线时相互垂直,为了走线的便利,EEPROM的位线即存储器单元的源极S、漏极D的走线均在同一层金属如M1,如图1所示,这样位线间耦合较大,会引起EEPROM读写速度降低和功耗浪费,严重时甚至会导致读写错误。
发明内容
为克服上述现有技术存在的问题,本发明的主要目的在于提供一种电可擦可编程只读存储器及其位线布线方法,其通过将位线分组,使不同组的位线在不同金属层走线,和存储器电接触点不同金属层的走线通过一段与存储器电接触点同层的较短的走线和过孔与本走线相连,减小了位线间的耦合电容,提高了存储器的读写速度和可靠性,减小了功率浪费。
为达上述及其它目的,本发明提供了一种电可擦可编程只读存储器,其中,该电可擦可编程只读存储器的位线分为至少两组,每组分别于不同金属层走线,与存储器单元的电接触点不同金属层的走线通过过孔和与存储器单元的电接触点同金属层的较短走线与存储器单元的电接触点连接。
进一步地,该电可擦可编程只读存储器的位线按物理次序编号的奇偶分为两组,奇数编号的位线走线放在一层金属层,偶数编号的位线走线放在另一层金属层。
进一步地,该奇数编号的位线为漏极,该偶数编号的位线为源极。
进一步地,该奇数编号的位线为源极,该偶数编号的位线为漏极
为达到上述目的,本发明还提供一种电可擦可编程只读存储器的位线布线方法,包括如下步骤:
将电可擦可编程只读存储器的位线分为至少两组,每组分别在不同的金属层走线;
与存储器单元的电接触点不同金属层的走线通过过孔和与存储器单元的电接触点同金属层的较短走线与存储器单元的电接触点连接。
进一步地,将该电可擦可编程只读存储器的位线按物理次序编号的奇偶分为两组,奇数编号的位线走线放在一层金属层,偶数编号的位线走线放在另一层金属层。
进一步地,该奇数编号的位线为漏极,该偶数编号的位线为源极。
进一步地,该奇数编号的位线为源极,该偶数编号的位线为漏极
与现有技术相比,本发明一种电可擦可编程只读存储器及其位线布线方法通过将位线分组,使不同组的位线在不同金属层走线,和存储器电接触点不同金属层的走线通过一段与存储器电接触点同层的较短的走线和过孔与本走线相连,减小了位线间的耦合电容,提高了存储器的读写速度和可靠性,减小了功率浪费。
附图说明
图1为现有技术中一种EEROM之位线布线的结构示意图;
图2为本发明一种EEROM之位线布线的结构示意图;
图3为本发明一种EEPROM的位线布线方法的步骤流程图。
具体实施方式
以下通过特定的具体实例并结合附图说明本发明的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其它优点与功效。本发明亦可通过其它不同的具体实例加以施行或应用,本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用,在不背离本发明的精神下进行各种修饰与变更。
图2为本发明一种EEROM之位线布线的结构示意图。如图2所示,本发明一种电可擦可编程只读存储器(EEROM),包括两组位线,其中一组位线走线放在一层金属层M1,另一组位线的走线在另一层金属层,如M2,该组位线通过过孔与放在金属层M1的很短的走线和存储器电接触点相连。在本发明较佳实施例中,将EEPROM的位线按按物理次序编号的奇偶分为两组,奇数编号的位线(漏极D)走线放在一层金属如M1,而偶数编号的位线(源极S)走线放在另一层如M2,仅在金属层M1用很短的走线(记长度为d)和过孔连接至位于金属层M2的偶数编号的位线(源极S),如图2中,横向是字线(WL0,WL1,…WLj),纵向是位线(BL0,BL1,…BLi,BL(i+1))。
记存储器相邻单元垂直间隔距离为l,走线间隔距离为s,走线宽度为w。现有技术相邻单元走线间耦合电容为c,根据平板电容计算公式,电容c和l成正比、和s成反比。而在本发明较佳实施例中,在金属层M1只有长度为d的一段区域存在相邻位线的耦合。根据图中漏极D和源极S的物理位置,简单推算可知发明相邻位线耦合电容大小为原来的记则本发明相邻位线间耦合电容由于l>d,则m>1,电容本发明相邻位线间耦合电容C1小于现有技术相邻位线间耦合电容c,且d越小则相邻位线间耦合电容C1越小。
发明之间隔位线间耦合电容C2计算:先不考虑d这段线,间隔位线总耦合电容为
d这段短走线和相邻位线间耦合电容为
由于Cd已经在相邻位线总电容中计算,故间隔位线间电容为
记 则
因x>2且m>1,故C2<c/2,较现有技术之间隔位线间耦合电容C2=c/2小。
图3为本发明一种EEPROM的位线布线方法的步骤流程图。如图3所示,本发明一种EEPROM的位线布线方法,包括如下步骤:
步骤301,将EEPROM的位线分为两组,每组分别在不同的金属层走线。在本发明较佳实施例中,将EEPROM的位线按按物理次序编号的奇偶分为两组,奇数编号的位线(漏极D)走线放在一层金属如M1,而偶数编号的位线(源极S)走线放在另一层如M2。
步骤302,与存储器单元的电接触点不同金属层的走线通过过孔和与存储器单元的电接触点同金属层的较短走线与存储器单元的电接触点连接。在本发明较佳实施例中,仅在金属层M1用很短的走线(记长度为d)和过孔连接至金属层M2。
综上所述,本发明一种电可擦可编程只读存储器及其位线布线方法通过将位线分组,使不同组的位线在不同金属层走线,两金属层间利用较短的走线和过孔连接,减小了位线间的耦合电容,提高了存储器的读写速度和稳定性,减小了功率浪费。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰与改变。因此,本发明的权利保护范围,应如权利要求书所列。
Claims (8)
1.一种电可擦可编程只读存储器,其特征在于:该电可擦可编程只读存储器的位线分为至少两组,每组分别于不同金属层走线,与存储器单元的电接触点不同金属层的走线通过过孔和与存储器单元的电接触点同金属层的较短走线与存储器单元的电接触点连接。
2.如权利要求1所述的电可擦可编程只读存储器,其特征在于:该电可擦可编程只读存储器的位线按物理次序编号的奇偶分为两组,奇数编号的位线走线放在一层金属层,偶数编号的位线走线放在另一层金属层。
3.如权利要求1所述的电可擦可编程只读存储器,其特征在于:该奇数编号的位线为漏极,该偶数编号的位线为源极。
4.如权利要求1所述的电可擦可编程只读存储器,其特征在于:该奇数编号的位线为源极,该偶数编号的位线为漏极 。
5.一种电可擦可编程只读存储器的位线布线方法,包括如下步骤:
将电可擦可编程只读存储器的位线分为至少两组,每组分别在不同的金属层走线;
与存储器单元的电接触点不同金属层的走线通过过孔和与存储器单元的电接触点同金属层的较短走线与存储器单元的电接触点连接。
6.如权利要求5所述的电可擦可编程只读存储器的位线布线方法,其特征在于:将该电可擦可编程只读存储器的位线按物理次序编号的奇偶分为两组,奇数编号的位线走线放在一层金属层,偶数编号的位线走线放在另一层金属层。
7.如权利要求5所述的电可擦可编程只读存储器的位线布线方法,其特征在于:该奇数编号的位线为漏极,该偶数编号的位线为源极。
8.如权利要求5所述的电可擦可编程只读存储器的位线布线方法,其特征在于:该奇数编号的位线为源极,该偶数编号的位线为漏极。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410010129.0A CN103745747B (zh) | 2014-01-09 | 2014-01-09 | 电可擦可编程只读存储器及其位线布线方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410010129.0A CN103745747B (zh) | 2014-01-09 | 2014-01-09 | 电可擦可编程只读存储器及其位线布线方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN103745747A true CN103745747A (zh) | 2014-04-23 |
CN103745747B CN103745747B (zh) | 2017-09-19 |
Family
ID=50502760
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201410010129.0A Active CN103745747B (zh) | 2014-01-09 | 2014-01-09 | 电可擦可编程只读存储器及其位线布线方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN103745747B (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105097025A (zh) * | 2014-04-24 | 2015-11-25 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种电可擦可编程只读存储器 |
CN112837723A (zh) * | 2019-11-22 | 2021-05-25 | 上海磁宇信息科技有限公司 | 错层式金属位线走线的磁性随机存储器存储阵列 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6421267B1 (en) * | 2001-04-24 | 2002-07-16 | Macronix International Co., Ltd. | Memory array architecture |
US6500706B1 (en) * | 2001-03-19 | 2002-12-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Bit-line interconnection scheme for eliminating coupling noise in stack DRAM cell with capacitor under bit-line (CUB) in stand-alone or embedded DRAM |
CN1870246A (zh) * | 2005-05-23 | 2006-11-29 | 海力士半导体有限公司 | 形成闪速存储器器件位线的方法 |
CN101101904A (zh) * | 2006-07-05 | 2008-01-09 | 海力士半导体有限公司 | 半导体器件的金属线及其制造方法 |
US20090010054A1 (en) * | 2007-07-04 | 2009-01-08 | Hee Bok Kang | Semiconductor memory device with ferroelectric device |
CN101996998A (zh) * | 2009-08-21 | 2011-03-30 | 南亚科技股份有限公司 | 集成电路结构及存储器阵列 |
US20120268978A1 (en) * | 2011-02-04 | 2012-10-25 | Noboru Shibata | Semiconductor memory device in which capacitance between bit lines is reduced, and method of manufacturing the same |
-
2014
- 2014-01-09 CN CN201410010129.0A patent/CN103745747B/zh active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6500706B1 (en) * | 2001-03-19 | 2002-12-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Bit-line interconnection scheme for eliminating coupling noise in stack DRAM cell with capacitor under bit-line (CUB) in stand-alone or embedded DRAM |
US6421267B1 (en) * | 2001-04-24 | 2002-07-16 | Macronix International Co., Ltd. | Memory array architecture |
CN1870246A (zh) * | 2005-05-23 | 2006-11-29 | 海力士半导体有限公司 | 形成闪速存储器器件位线的方法 |
CN101101904A (zh) * | 2006-07-05 | 2008-01-09 | 海力士半导体有限公司 | 半导体器件的金属线及其制造方法 |
US20090010054A1 (en) * | 2007-07-04 | 2009-01-08 | Hee Bok Kang | Semiconductor memory device with ferroelectric device |
CN101996998A (zh) * | 2009-08-21 | 2011-03-30 | 南亚科技股份有限公司 | 集成电路结构及存储器阵列 |
US20120268978A1 (en) * | 2011-02-04 | 2012-10-25 | Noboru Shibata | Semiconductor memory device in which capacitance between bit lines is reduced, and method of manufacturing the same |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105097025A (zh) * | 2014-04-24 | 2015-11-25 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种电可擦可编程只读存储器 |
CN112837723A (zh) * | 2019-11-22 | 2021-05-25 | 上海磁宇信息科技有限公司 | 错层式金属位线走线的磁性随机存储器存储阵列 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103745747B (zh) | 2017-09-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11276437B2 (en) | Interconnections for 3D memory | |
KR101751950B1 (ko) | 비휘발성 메모리 장치 및 그것의 읽기 방법 | |
CN106575256B (zh) | 子块垃圾收集 | |
KR101751506B1 (ko) | 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 배드 영역 관리 방법 | |
US9064576B2 (en) | Apparatuses and methods for transposing select gates | |
US8811080B2 (en) | Flash memory system and word line interleaving method thereof | |
CN106909521B (zh) | 存储器系统及其操作方法 | |
US20170206007A1 (en) | Memory system and operating method of memory system | |
CN104143358A (zh) | 具有不同的伪字线的三维快闪存储器件和数据储存设备 | |
JP6320010B2 (ja) | 3次元構造のメモリセルアレイを含む不揮発性メモリ | |
CN102625948A (zh) | 3d存储器装置解码及布线系统与方法 | |
CN106548801B (zh) | 具有缩短的位线预充电时间的存储器件 | |
CN103093822A (zh) | 三阶储存单元的闪存装置及其控制方法 | |
CN106775474A (zh) | 一种Nand Flash磨损均衡方法、装置及存储器 | |
CN106407133B (zh) | 存储系统及其操作方法 | |
CN102884583A (zh) | 具有在读取操作期间的交叉耦合补偿的快闪存储器系统 | |
US20160371025A1 (en) | Memory system and operating method thereof | |
CN103227174A (zh) | 一种半导体存储装置及其版图 | |
US20170017408A1 (en) | Memory system and operating method of memory system | |
CN103745747A (zh) | 电可擦可编程只读存储器及其位线布线方法 | |
US9721670B1 (en) | Semiconductor device and operating method thereof | |
CN103544111B (zh) | 一种基于实时性处理的混合基fft方法 | |
CN101986389A (zh) | 闪存单元、闪存装置及其编程方法 | |
CN110162484A (zh) | 存储器控制器及具有该存储器控制器的存储器系统 | |
WO2024051131A1 (zh) | 一种水环境容量的计算方法、装置、电子设备及存储介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |