CN103634174A - 用于级联网络的虚拟模型适配器移除和替换技术 - Google Patents

用于级联网络的虚拟模型适配器移除和替换技术 Download PDF

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CN103634174A CN201310372986.0A CN201310372986A CN103634174A CN 103634174 A CN103634174 A CN 103634174A CN 201310372986 A CN201310372986 A CN 201310372986A CN 103634174 A CN103634174 A CN 103634174A
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L.J.杜布拉瓦
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Abstract

系统和方法可以允许信号测量仪器的操作者特性化和校准具有不被支持的连接器类型(例如,不可被跟踪至已知的标准)的网络。具有被支持的和不被支持的接口的适配器可以被用于测量在试验中的系统中的网络的系统响应。这些测量可以在数学上被级联以推导出产生准确的和完全校准的总的系统响应的虚拟模型。

Description

用于级联网络的虚拟模型适配器移除和替换技术
对相关申请的交叉引用
本申请要求标题为“用于级联网络的虚拟模型适配器移除和替换技术”以及2012年8月24日提交的美国临时专利申请No.61/693,229(其内容由此通过引用的方式被完全并入此处)的权益。
背景技术
被用于测量电气系统中的信号的行为的试验仪器必须被校准以便采集准确的测量值。为了进行信号处理,典型的测量装置由观察装置、探针模块以及探针尖构成。通过将这些各个部件中的每一个以及它们之间的接口特性化来实现此装置的校准。这些部件和它们的接口被数学建模为电气网络的元件。
特性化要求:这些部件的测量是可跟踪至已知的校准标准。商业上可获得的校准工具包包含针对给定的连接器和要被测量的网络的类型的若干标准。然而,不是针对每个连接器类型的校准工具包均是商业上可获得的。
出现至市场上的部件可能不是使用标准校准技术可测量的,因为它们的连接器类型不被支持。支持这些连接器类型所必需的校准工具包在商业上不存在。用不被支持的连接器所做的测量不可跟踪至已知的校准标准,这使得它们难以特性化。
被授予Blackham等人的美国专利No.6823,276公开了用于确定测试设备的测量误差的系统和方法。矢量网络分析器(VNA)被用于测量与单端口校准相关的三种系统误差:方向性、反射跟踪以及源匹配。尽管用于这三种类型的系统误差的标准是已知的,它们可能在所关心的整个频率范围之上是不适用的。Blackham因此对在特定的频率范围中是更值得信赖的标准分配了权重。这些权重被应用于最小平方计算,导致网络中的元件的特性化。
被授予Martens的美国专利No.6,650,123公开了用于确定与矢量网络分析器一起使用的接口设备的特性的方法。Martens将多端口适配器或试验夹具作为一个实体来对待,而不是作为多个双端口网络,其每次被作为一个双端口网络来对待。执行两个校准:一个在内部反射平面处,并且另一个在外部反射平面处。
因此,存在对如下系统和方法的需要:允许信号测量仪器的操作者特性化并校准具有不可被跟踪至已知的校准标准的不被支持的连接器类型的网络。
发明内容
所公开的技术的实施例一般允许信号测量仪器的操作者特性化和校准具有不被支持的连接器类型(例如,不可被跟踪至已知的标准)的网络。
在实施例中,信号测量仪器被耦接到第一网络和第二网络。所述第一和第二网络被耦接到第一适配器。根据第一系统响应测量通过所述仪器、第一网络、第一适配器、第二网络并且回到所述仪器的路径以产生第一特性化。
在另一个实施例中,所述仪器随后被耦接到第三网络和第四网络。所述第三和第四网络被耦接到第二适配器。根据第二系统响应测量通过所述仪器、所述第三网络、第二适配器、第四网络并且回到所述仪器的路径以产生第二特性化。
根据另一个实施例,所述仪器随后被耦接到所述第一网络和所述第四网络。所述第一网络被耦接到所述第一适配器,所述第一适配器被耦接到所述第二适配器,并且所述第二适配器被耦接到所述第四网络。根据第三系统响应测量通过所述仪器、所述第一网络、所述第一适配器、所述第二适配器、所述第四网络并且回到所述仪器的路径以产生第三特性化。
根据又另一个实施例,所述第一适配器的第四特性化被移除,如从所述第一、第二和第三特性化移除所述第二适配器的第五特性化一样。结果产生经组合的第二网络和第三网络的第六特性化。所述第二和第三网络之间的接口(其不被校准工具包支持并且不可被跟踪至已知的标准)被校准用以解译跨越所述不被支持的接口而传送的信号。
附图说明
图1示出了示例性的信号测量仪器的前视立体图。
图2示出了在其中图1的信号测量仪器在网络之上被连接到计算机的例子。
图3示出了使用已知的可跟踪标准的信号仪器的校准,从而建立用于特性化具有被支持的连接器的设备的校准参考平面。
图4示出了使用适配器的具有不被支持的连接器的网络的经校准的测量的第一例子。
图5示出了使用适配器来测量具有不被支持的连接器的网络的第二例子。
图6示出了测量被背对背连接的两个适配器的例子。
图7示出了总的系统测量的验证的例子。
图8是示出了使用图1的信号测量仪器和诸如在图3-6中示出的那些连接器和适配器的示例性的校准过程的控制流程图。
图9示出了使用具有不被支持的连接器的适配器来测量网络的例子。
具体实施方式
图1示出了示例性的信号测量仪器110的前视立体图。在一些实施例中,这可以是独立的矢量网络分析器(VNA),或者在其他实施例中,其可以是被加载有能够执行VNA的功能的软件的示波器。显示器130、输入按钮120a-g、信号通道150a-d以及输入拨盘160a-c位于所述仪器上。输入按钮120a-g允许仪器110的操作者与所述显示器交互并改变测量信号140的方式。相似地,输入拨盘160a-c允许操作者与所述设备交互。
参考由图2所示出的例子,仪器210也可以拥有被连接到网络220的网络接口(未示出)。在一些实施例中,网络220可以是局域网(LAN),或者其可以是广域网(WAN)。相似地被连接到网络220的计算机230可以在所述网络220之上与所述仪器210通信。所述仪器210的操作者可以通过图1的输入设备120a-g和160a-c来与其交互,或者他可以通过与所述仪器210通信的计算机220与其交互。
参考由图2所示出的例子,所述仪器210也可以拥有被连接到网络220的网络接口(未示出)。在一些实施例中,网络220可以是局域网(LAN),或者其可以是广域网(WAN)。相似地被连接到网络220的计算机230可以在所述网络220之上与所述仪器210通信。所述仪器210的操作者可以通过图1的输入设备120a-g和160a-c来与其交互,或者他可以通过与所述仪器210通信的计算机220来与其交互。
图3示出了例子CAL,在其中具有被支持的连接器的可跟踪校准标准的两个示例性的装置被耦接到所述信号仪器以建立测量校准参考平面。
图4示出了使用适配器[A1]来测量具有不被支持的连接器的网络[N1]的第一例子Ml,其中:
[Ml]=[Nl]:[Al]  使用适配器[A1]的网络[N1]测量。
图5示出了使用适配器[A2]来测量具有不被支持的连接器的网络[N2]的第二例子M2,其中:
[M2]=[A2]:[N2]  使用适配器[A2]的网络[N2]测量。
图6示出了测量被背对背连接的两个适配器[A2]和[A1]的例子M3,其中:
[M5]=[A2]:[Al]  背对背适配器-对测量。
图7示出了总的系统测量[NT1]的验证的例子M10,其中:
[M10]=[Nl]:[N2]  总的系统测量。
关于此处所使用的虚拟模型矩阵数学,某些块(例如:[M1]、[M2]和[M10])一般代表所测量的数据的集合(例如,s-参数),其他块(例如:[N1]和[N2])一般代表网络特性(例如,s-参数),并且其他块(例如:[A1]和[A2])一般代表适配器特性(例如,s-参数)。诸如[N3]=[N1][N2]的记号一般指示:网络[Nl]和[N2]被级联(或者被嵌入)以创建网络[N3]。诸如[N3]=[N1]:[N2]的记号一般指示:网络[Nl]和[N2]被用不被支持的连接器级联(或嵌入)。诸如[N2]=[N1]-1[N3]的记号一般指示:网络[Nl]正被从网络[N3]解除嵌入以求解所述网络[N2]数据集。
诸如上面所描述的那些块可以由多端口s-参数的集合或其他参数集合(诸如ABCD-参数)来表示。一般而言,诸如s-参数的参数不能够经由直接矩阵相乘而被级联;相反地,一般必须向所述s-参数(或其他)数据应用某些矩阵变换以便向其应用标准矩阵数学技术用以级联s-参数的数据块。S-参数(或其他参数)的级联、嵌入以及解除嵌入网络一般需要在矩阵相乘和/或求逆之前和之后将各个网络的参数变换到适当的参数集(例如,t-参数)。
当被数学级联时,各个特性化的网络(例如,[Nl]和[N2])生成总的系统响应[NT]:[Nl][N2]=[NT]。当网络之间的接口不被支持时,必须使用适配器来测量各个网络。适配器(A1和A2)准许用被支持的连接器连接到测量系统,提供可跟踪至已知的校准标准的测量。然而,用适配器测量的直接级联网络导致不正确的总的系统响应:[N1][A1][A2][N2]≠[NT]。
根据所公开的技术的实施例,虚拟网络模型将在数学上移除在所述网络的测量和特性化期间使用的适配器的影响。级联一对(或更多)虚拟网络(VN)模型导致正确的总的系统响应:[VN1][VN2]=[NT]。
如此处所描述的生成虚拟网络模型一般开始于标识在级联的网络中要被特性化的各个网络部件。考虑下面的例子:
[NT]=[Nl]:[N2]  级联的网络(总网络)。
其中要被特性化的各个网络部件如下:
[Nl]  网络[Nl]
[N2]  网络[N2]
:不被支持的连接器接口
可以进行每个单个网络的经校准的测量,并且在必要时可以添加适当的适配器以呈现针对所述测量仪器的“被支持的”连接器接口。这些变成经扩充的网络测量。考虑下面的例子:
[Ml]=[N1]:[A1]  [Nl]经扩充的网络的测量
[M2]=[A2]:[N2]  [N2]经扩充的网络的测量
其中:[Al]适配器1
      [A2]适配器2
级联所述经扩充的网络的第一次试验一般包括直接级联所述各个经扩充的网络:
[NT]≠[Ml]  [M2]
[NT]≠[N1]:[A1]  [A2]:[N2]
用所添加的适配器在数学上级联所述扩充的网络不创建正确的总网络,[NT]。
随后可以标识在被插入在所述扩充的网络之间时将消除所述适配器的影响并生成正确的总的级联的网络[NT]的解除嵌入的网络。例如,用解除嵌入的网络[Al]-1和[A2]-1来级联所述各个扩充的网络导致下面的结果:
[NT]=[N1]:[A1]  [A1]-1[A2]-1  [A2]:[N2]
[NT]=[Nl]:  :[N2]  :
[NT]=[N1]:[N2]
在初始扩充的网络测量期间使用的适配器的背对背测量提供了解除嵌入网络所需要的必要的数据:
[M5]=[A2]:[A1]并且[M5]-1=[[A2]:[A1]]-1=[Al]-1[A2]-1
在虚拟模型分区中,所述虚拟网络模型可以将适配器-对测量[M5]并入到所述扩充的网络测量中,例如通过将逆适配器-对测量[M5]-1吸收到所述扩充的网络测量的一个或多个中以生成所述虚拟网络模型[VN1]和[VN2]:
[NT]=[N1]:[A1][A1]-1[A2]-1[A2]:[N2]
[NT]=[Ml]  [M5]-1  [M2]
上面表示了特性化所述总网络所需的网络测量。
考虑第一分区选择:
[NT]=[Ml]  [M5]-1[M2]
[NT]=[VN1]  [VN2]
此处,适配器-对测量[M5]-1两者与所述扩充的网络[M2]相关联,生成所述虚拟网络模型[VN2]=[M5]-1[M2]。
根据虚拟模型[VN1]和[VN2],两个观察是显而易见的。第一,虚拟模型[VN1]等同于测量[Ml]。第二,虚拟模型[VN2]等于与测量[M2]级联的测量[M5]-1。第三,[VN1]不等于[Nl]并且[VN2]不等于[N2]。尽管如此,[VN1][VN2]=[N1]:[N2],其中:
[VN1]=[N1]:[A1]
[VN2]=[M5]-1  [M2]
[VN2]=[Al]-1[Al]-1[A2]:[N2]
[VN2]=[A1]-1:[N2]
因此:
[VN1][VN2]=[N1]:[A1][A1]-1:[N2]
[VN1][VN2]=[N1]:[N2]
[VN1][VN2]=[NT]
此处,所述级联的虚拟网络模型[VN1][VN2]生成所述总的网络[NT]。
考虑第二分区选择:
[NT]=[M1][M5]-1  [M2]
[NT]=[N1]:[A1][M5]-1[A2]:[N2]
[NT]=[VN5]  [VN6]
对于此分区选择,所述适配器-对测量[M5]与所述扩充的网络[M1]=[N1]:[A1]相关联,生成所述虚拟网络模型[VN5],其中:
[VN5]=[M1][M5]-1
[VN5]=[Nl]:[Al][Al]-1[A2]-1=[N1]:[A2]-1
[VN6]=[M2]
[VN6]=[A2]:[N2]
[VN5][VN6]=[M1][M5]-1  [M2]
[VN5][VN6]=[N1]:[A2]-1  [A2]:[N2]
[VN5][VN6]=[N1]:[N2]
[VN5][VN6]=[NT]
此处,所述级联的虚拟网络模型[VN5][VN6]生成所述总的网络[NT]。
不考虑所使用的分区方法,所述扩充的网络测量可以与所述适配器-对测量的逆[M5]-1相级联以获得所述总的系统响应[NT]:
[N1]:[N2]=[Ml][M5]-l[M2]
[N1]:[N2]=[N1]:[A1][A1]-1[A2]-1[A2]:[N2]
[N1]:[N2]=[VN1][VN2]
[N1]:[N2]=[VN5][VN6]
在用所述扩充的网络测量[Ml]和[M2]来进行级联操作期间,用逆适配器-对测量[M5]-1来移除被用于测量各个网络的适配器的影响。由于多种原因,这是有利的。例如,各个适配器的特性化是不必要的并且是潜在不可能的,在不被支持的连接器处的测量是不必要的,并且所有测量在被支持的连接器处被进行并可跟踪至已知的标准。
用虚拟模型实现了若干优点。适配器-对测量[M5]不再需要被单独地保持。换句话说,所述适配器-对测量被并入到所述虚拟模型中。它们独自地,虚拟模型的级联返回正确的总的系统响应。此外,使用标准的、商业上可获得的校准工具包来将虚拟网络特性化到已知的校准标准。总而言之,所述虚拟模型技术有效地向初始网络测量应用适配器移除以允许在不被支持的接口处的级联的虚拟网络模型的无缝接合。
虚拟模型不限于仅一对网络。具有多个不被支持的接口的链条中的多个网络可以被单独地测量(使用适当的适配器)并且被变换到虚拟模型。再次在数学上级联所得到的虚拟网络模型返回正确的总的网络响应。考虑具有3个网络的下面的例子:
[NT]=[N1]:[N2]:[N3]  级联的网络(总的网络)。
其中要被特性化的各个网络部件如下:
[N1]探针尖
[N2]探针模块
[N3]示波器
:不被支持的连接器接口
可以进行每个单个网络的经校准的测量并且在必要时可以添加适当的适配器以呈现针对所述测量仪器的“被支持的”连接器接口。这些变成所述经扩充的网络测量。考虑下面的例子:
[Ml]=[N1]:[A1]  [Nl]经扩充的网络的测量
[M3]=[A2]:[N2]:[A3]  [N2]经扩充的网络的测量
[M4]=[A4]:[N3]  [N3]经扩充的网络的测量
其中:
[Al]适配器1
[A2]适配器2
[A3]适配器3
[A4]适配器4
级联所述经扩充的网络的第一次试验一般包括直接级联各个经扩充的网络:
[NT]≠[Ml]  [M3]  [M4]
[NT]≠[N1]:[A1]  [A2]:[N2]:[A3]  [A4]:[N3]
(用添加的适配器)在数学上级联所述经扩充的网络不创建正确的总的网络[NT]。
随后可以确定在被插入在所述经扩充的网络之间时将消除所述适配器的影响并生成正确的总的级联的网络[NT]的解除嵌入的网络。例如,用解除嵌入的网络[Al]-1、[A2]-1、[A3]-1和[A4]-1级联所述各个经扩充的网络导致下面的结果:
[NT]=[N1]:[A1][Al]-1[A2]-1[A2]:[N2]:[A3][A3]-1[A4]-1[A4]:[N3]
[NT]=[Nl]:  :[N2]:  :[N3]
[NT]=[N1]:[N2]:[N3]
在初始的经扩充的网络测量期间使用的适配器的背对背测量提供了解除嵌入的网络所需要的必要的数据:
[M5]=[A2]:[A1]以及[M5]-1=[[A2]:[A1]]-1=[A1]-1[A2]-1
[M6]=[A4]:[A3]以及[M6]-1=[[A4]:[A3]]-1=[A3]-1[A4]-1
在虚拟模型分区中,所述虚拟网络模型可以将所述适配器-对测量[M5]和[M6]并入到所述经扩充的网络测量中,例如通过将逆适配器-对测量[M5]-1和[M6]-1吸收到所述经扩充的网络测量的一个或多个中以生成所述虚拟网络模型[VN1]、[VN3]和[VN4]:
[NT]=[N1]:[A1][Al]-1[A2]-1[A2]:[N2]:[A3][A3]-1[A4]-1[A4]:[N3]
[NT]=[Ml]  [M5]-1  [M3]  [M6]-1  [M4]
上面表示了特性化所述总的网络所需的网络测量。
考虑第一分区选择:
[NT]=[Ml]  [M5]-1[M3]  [M6]-1  [M4]
[NT]=[VN1]  [VN3]  [VN4]
此处,所述适配器-对测量[M5]-1和[M6]-1两者与所述经扩充的网络[M3]=[A2]:[N2]:[A3]相关联,生成所述虚拟网络模型[VN3]=[M5]-1[M3][M6]-1
其中:[VN1]=[N1]:[A1]
      [VN3]=[M5]-1  [M3]  [M6]-1
      [VN3]=[A1]-1[A2]-1  [A2]:[N2]:[A3]  [A3]-1[A4]-1
      [VN3]=[A1]-1:[N2]:[A4]-1
      [VN4]=[A4]:[N3]
因此:
[VN1][VN3][VN4]=[N1]:[A1]  [A1]-1:[N2]:[A4]-1  [A4]:[N3]
[VN1][VN3][VN4]=[N1]:[N2]:[N3]
[VN1][VN3][VN4]=[NT]
此处,所述级联的虚拟网络模型[VN1][VN3][VN4]生成所述总的网络[NT]。
考虑第二分区选择:
[NT]=[M1][M5]-1  [M3]  [M6]-1[M4]
[NT]=[N1]:[A1][M5]-1  [A2]:[N2]:[A3]  [M6]-1[A4]:[N3]
[NT]=[N1]:[A2]-1  [A2]:[N2]:[A3]  [A3]-1:[N3]
[NT]=[VN5]  [VN7]  [VN8]
针对此分区选择,所述适配器-对测量[M5]与所述扩充的网络[M1]=[N1]:[A1]相关联,并且所述适配器-对测量[M6]与所述扩充的网络[M4]=[A4]:[N3]相关联,其中:
[VN5]=[M1][M5]-1
[VN5]=[N1]:[A1][A1]-1[A2]-1=[Nl]:[A2]-1
[VN7]=[M3]
[VN7]=[A2]:[N2]:[A3]
[VN8]=[M6]-1[M4]
[VN8]=[A3]-1[A4]-1[A4]:[N3]=[A3]-1:[N3]
[VN5][VN7][VN8]=[M1][M5]-1  [M3]  [A6]-1:[M4]
[VN5][VN7][VN8]=[N1]:[A2]-1  [A2]:[N2]:[A3]  [A3]-1:[N3]
[VN5][VN7][VN8]=[N1]:[N2]:[N3]
[VN5][VN7][VN8]=[NT]
此处,所述级联的虚拟网络模型[VN5][VN7][VN8]生成所述总的网络[NT]。
不考虑所使用的分区方法,所述扩充的网络测量可以与所述适配器-对测量的逆[M5]-1和[M6]-1相级联,以获得所述总的系统响应[NT]:
[N1]:[N2]:[N3]=[Ml][M5]-1[M3][M6]-1[M4]
[N1]:[N2]:[N3]=[Nl]:[Al][A1]-1[A2]-1[A2]:[N2]:[A3][A3]-1[A4]-1[A4]:[N3]
[N1]:[N2]:[N3]=[VN1][VN3][VN4]
[N1]:[N2]:[N3]=[VN5][VN7][VN8]
在用所述网络测量[Ml]、[M3]和[M4]进行级联操作期间,用所述逆适配器-对测量[M5]-1和[M6]-1来移除被用于测量各个网络的适配器的影响。
图8是示出了使用图1的信号测量仪器和诸如在图3-6中示出的那些连接器和适配器的示例性的校准和特性化过程的控制流程图。第一测量810(例如,网络1的)是用第一适配器进行的,所述第一适配器具有被支持的连接器接口和不被支持的接口两者,所述不被支持的接口与网络1的不被支持的连接器紧密配合。第二测量820(例如,网络2的)是用第二适配器进行的,所述第二适配器也具有被支持的和不被支持的接口两者,所述不被支持的接口与网络1的不被支持的连接器紧密配合。第三测量830是用通过所述不被支持的接口彼此耦接的两个适配器进行的。通过在数学级联中对第三测量求逆来从所述总的系统响应中移除所述适配器的特性。在没有所述适配器中的任一个的情况下所述网络被测量840,并且对照所述级联的结果来验证所述测量850。
在其他实施例中,所述虚拟网络模型也利用互连“子弹”来良好地工作以接纳不被支持的接口。以与上面所描述的相似的方式来用适配器对子弹(像
Figure BDA0000371139820000131
SMPM互连的家族)建模。图9示出了一对不被支持的接口930和用子弹990跨越所述接口930而被耦接的连接器910和915,所述子弹990被子弹接收器995接收。接口930不被商业上可获得的校准工具包支持并且不可被跟踪至已知的标准。连接器910经由网络元件970而被耦接到[图1的]所述仪器110。这可以是被耦接到所述第一通道150a的同轴电缆,或者其可以是对网络测试和测量的实践而言是常规的网络元件的集合。相似地,连接器915经由网络元件975而被耦接到所述仪器110,所述网络元件975被耦接到所述第二通道150b。
在实施例中,网络[N8]和[N9]利用子弹跨越不被支持的接口而被互连。网络[N8]和[N9]被单独地测量和特性化以生成虚拟网络模型,所述虚拟网络模型在被在数学上级联时提供正确的总的系统响应[NT3]:
[NT3]=[N8]:[B]:[N9]-具有子弹[B]的级联的网络[NT3]。
其中要被特性化的各个网络部件如下:
[N8]-网络[N8]
[N9]-网络[N9]
[B]-子弹
:-不被支持的连接器接口
每个经扩充的网络的经校准的测量:
[M7]=[N8]:[B]:[A7]
[M8]=[A8]:[B]:[N9]
背对背适配器-对的经校准的测量:
[M9]=[A8]:[B]:[A7]
生成所述解除嵌入的网络
[M9]-1=[[A8]:[B]:[A7]]-1=[A7]-1[B]-1[A8]-1
向所述经扩充的网络应用所述解除嵌入的网络产生如下结果:
[M7]:[M9]-1[M8]=[N8]:[B]:[A7][A7]-1[B]-1[A8]-1[A8]:[B]:[N9]
              =[N8]:[B]:[N9]
              =[NT3]
虚拟网络模型分区可以包括将逆适配器-对测量[M9]-1吸收到[M8]中:
[N8]:[B]:[N9]=[M7]  [M9]-1[M8]
[N8]:[B]:[N9]=[N8]:[B]:[A7]  [A7]-1[B]-1[A8]-1[A8]:[B]:[N9]
[N8]:[B]:[N9]=[N8]:[B]:[A7]  [A7]-1[N9]
[N8]:[B]:[N9]=[VN9]  [VN10]
从上面可以导出下面的定义:
[VN9]=[M7]=[N8]:[B]:[A7]
[VN10]=[M9]-1[M8]=[A7]-1[N9]
如可以被看到的,虚拟模型[VN9]等于测量[M7]。此外,虚拟模型[VN10]等于与测量[M8]级联的测量[M9]-1。可以用下面的等式验证这些导出:
[VN9]:[VN10]=[N8]:[B]:[A7][A7]-1[N9]
[VN9]:[VN10]=[N8]:[B]:[N9]
[VN9]:[VN10]=[NT3]
已经参考所示出的实施例描述和示出了本发明的原理,如下将被认识到:可以在布置和细节上修改所示出的实施例,而不背离这样的原理,并且可以以任何期望的方式组合所示出的实施例。并且尽管前面的讨论已经聚焦在特定的实施例上,其他配置被考虑。特别地,尽管在此处使用了诸如“根据本发明的实施例”或相似的表达,这些短语意思是一般性地参考实施例可能性,并且不是意在将本发明限制到特定的实施例配置。如在此处所使用的,这些术语可以参考可组合成其他实施例的相同的或不同的实施例。
因此,鉴于对此处所描述的实施例的广泛的各种排列,此详细的描述和随附的材料意在仅是说明性的,并且不应被当作是限制本发明的范围。因此,作为本发明被要求权利的技术方案是如可能落入随后的权利要求以及其等同技术方案的范围和精神之内的所有这样的修改。

Claims (19)

1.一种方法,包括: 
特性化总的网络[TN],所述总的网络[TN]具有由不被支持的连接器级联和互连的第一单个多端口网络[Nl]和第二单个多端口网络[N2],其中“:”表示所述不被支持的连接器接口,并且[TN]=[N1]:[N2]; 
通过向所述第一单个多端口网络[Nl]添加第一适配器[Al]来特性化第一扩充的网络[Ml],其中[Ml]=[N1]:[A1];以及 
通过向所述第二单个多端口网络[N2]添加第二适配器[A2]来特性化第二扩充的网络[M2],其中[M2]=[A2]:[N2]。 
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,其中特性化所述第一和第二扩充的网络[Ml]和[M2]中的任一个或两者虑及经校准的测量。 
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,其中所述经校准的测量包括能够被跟踪至已知的标准的测量。 
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,其中所述不被支持的连接器具有不虑及经校准的测量的连接器类型。 
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,其中所述不被支持的连接器接口“:”表示不具有对被进行至已知的、可跟踪的标准的测量的支持的连接器类型。 
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,其中所述特性化中的任一个可以由时域或频域校准的测量来表示。 
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,其中所述特性化中的任一个可以由数学模型来表示。 
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,包括: 
通过用所述第一和第二扩充的网络[Ml]和[M2]级联解除嵌入的网络[DN]来生成第一和第二虚拟网络模型[VN1]和[VN2],以致: 
[VN1]=[N1][A1]=[Ml] 
[VN2]=[DN]-1[A2][N2]=[M3]-1[M2] 。
9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,进一步包括通过如下方式来生成所述总的网络[TN]: 
级联所述第一和第二虚拟网络模型[VN1]和[VN2]的总和,以致: 
[TN]=[VN1][VN2]=[M1][M3]-1[M2]; 
替换,以致: 
[TN]=[VN1][VN2]=[N1][A1][A1]-1[A2]-l[A2][N2];以及 
消去项,以致: 
[TN]=[VN1][VN2]=[N1][N2] 。 
10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,其中所述级联的虚拟网络模型[VN1]和[VN2]的总和等于所述级联的单个多端口网络[Nl]和[N2]以及所述总的网络[TN]的总和。 
11.一种方法,包括: 
以符号表示级联/嵌入操作,其采用使用“[”和“]”的矩阵数学,以致“[N1][N2]”表示第一单个多端口网络[Nl]和第二单个 多端口网络[N2]的级联/嵌入;以及 
以符号表示解除嵌入操作,其采用使用“[”和“]-1”的矩阵数学,以致“[N3][N1]-1”表示将所述第一单个多端口网络[N1]从第三单个多端口网络[N3]解除嵌入。 
12.如权利要求11所述的方法,其特征在于,其中使用ABCD参数矩阵来描述所述第一和第二单个多端口网络[Nl]和[N2]。 
13.如权利要求12所述的方法,其特征在于,其中“[N1][N2]”由[Nl]和[N2]的矩阵相乘来直接实现。 
14.如权利要求11所述的方法,其特征在于,其中使用s-参数矩阵来描述所述第一和第二单个多端口网络[Nl]和[N2]。 
15.如权利要求14所述的方法,其特征在于,进一步包括: 
将[Nl]和[N2]变换为t-参数矩阵; 
执行所述t-参数矩阵的矩阵相乘;以及 
将所述矩阵相乘的结果变换为s-参数。 
16.如权利要求11所述的方法,其特征在于,其中所述第一和第二单个多端口网络[Nl]和[N2]使用s-参数矩阵来描述解除嵌入的过程[Nl][N2]-1。 
17.如权利要求16所述的方法,其特征在于,进一步包括: 
分别将[Nl]和[N2]变换为t-参数矩阵[Tl]和[T2]; 
在所述[Tl]和[T2]矩阵上执行所述矩阵操作([T1][T2]-1);以及 
将所述结果变换为s-参数。 
18.一种方法,包括: 
定义两个扩充的网络[Ml]和[M2],以致: 
[Ml][M2]=[N1]:[A1][A2]:[N2] 
其中[Nl]和[N2]分别表示第一和第二单个网络,[Al]和[A2]分别表示第一和第二适配器,并且“:”表示不被支持的连接器接口;以及 
在所述两个扩充的网络[Ml]和[M2]之间插入解除嵌入的网络[DN],其中[DN]-1=[[A2][Al]]-1,因此[DN]=[A2][A1],以致: 
[N1]:[A1]  [DN]-1  [A2]:[N2],因此 
[N1]:[A1]  [[A2][A1]]-1  [A2]:[N2],因此 
[N1]:[A1]  [Al]-1[A2]-1  [A2]:[N2],因此 
[Nl]:  :[N2]。 
19.如权利要求16所述的方法,其特征在于,进一步包括: 
从所述第一和第二适配器[Al]和[A2]组装物理解除嵌入的网络[M3];以及 
通过定义如下等式来测量[M3]: 
[M3]=[A2][A1],因此 
[M3]-1=[Al]-1[A2]-1=[DN]-1。 
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104270209A (zh) * 2014-10-14 2015-01-07 大唐移动通信设备有限公司 基于不同校准平面的rru驻波比的检测方法和装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1735815A (zh) * 2002-05-16 2006-02-15 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于校准和去嵌入的方法、用于去嵌入的装置组和矢量网络分析仪
US7627028B1 (en) * 2008-10-18 2009-12-01 Sun Microsystems, Inc. Multi-port S-parameter and T-parameter conversion

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6188968B1 (en) * 1998-05-18 2001-02-13 Agilent Technologies Inc. Removing effects of adapters present during vector network analyzer calibration
US6941377B1 (en) * 1999-12-31 2005-09-06 Intel Corporation Method and apparatus for secondary use of devices with encryption
US6650123B2 (en) 2002-01-15 2003-11-18 Anritsu Company Methods for determining characteristics of interface devices used with vector network analyzers
US6665628B2 (en) * 2002-01-15 2003-12-16 Anritsu Company Methods for embedding and de-embedding balanced networks
US7181531B2 (en) * 2002-04-30 2007-02-20 Microsoft Corporation Method to synchronize and upload an offloaded network stack connection with a network stack
US6785625B1 (en) 2002-05-14 2004-08-31 Ncr Corporation Characterizing multi-port cascaded networks
US7019535B2 (en) * 2002-09-16 2006-03-28 Agilent Technologies, Inc. Method and system for calibrating a measurement device path and for measuring a device under test in the calibrated measurement device path
US7107170B2 (en) * 2003-02-18 2006-09-12 Agilent Technologies, Inc. Multiport network analyzer calibration employing reciprocity of a device
US6823276B2 (en) 2003-04-04 2004-11-23 Agilent Technologies, Inc. System and method for determining measurement errors of a testing device
US7034548B2 (en) * 2003-04-11 2006-04-25 Agilent Technologies, Inc. Balanced device characterization including test system calibration
US20050185769A1 (en) * 2004-02-25 2005-08-25 Pickerd John J. Calibration method and apparatus
JP2006317156A (ja) * 2005-05-10 2006-11-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd ベクトルネットワークアナライザ、ベクトルネットワークアナライザの校正方法、計算機及び標準器基板
JP2007010522A (ja) * 2005-06-30 2007-01-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd スルー標準器基板及びライン標準器基板
KR20080045195A (ko) * 2005-09-12 2008-05-22 마이크로소프트 코포레이션 일관된 애플리케이션 인식 방화벽 횡단 제공
US7589536B2 (en) * 2007-01-05 2009-09-15 Apple Inc. Systems and methods for determining the configuration of electronic connections
JP2008014781A (ja) * 2006-07-05 2008-01-24 Agilent Technol Inc ネットワーク・アナライザの校正方法、および、ネットワーク・アナライザ
EP2363719A1 (en) * 2010-02-12 2011-09-07 ATE Systems, Inc Method and apparatus for calibrating a test system for measuring a device under test
US8661118B2 (en) * 2010-03-08 2014-02-25 Microsoft Corporation Detection of end-to-end transport quality

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1735815A (zh) * 2002-05-16 2006-02-15 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于校准和去嵌入的方法、用于去嵌入的装置组和矢量网络分析仪
US7627028B1 (en) * 2008-10-18 2009-12-01 Sun Microsystems, Inc. Multi-port S-parameter and T-parameter conversion

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
AGILENT TECHNOLOGIES: "Application Note 1364-1 Agilent De-embedding and Embedding S-Parameter Networks Using a Vector Network Analyzer", 《AGILENT TECHNOLOGIES》 *
HOLGER HEUERMANN: "Multiport S-parameter calculation from two-port network analyzer measurements with or without switch matrix", 《ARFTG CONFERENCE》 *
秦红波,赵伟,任荣获: "矢量网络分析的广义二端口校正方法", 《华中科技大学学报(自然科学版)》 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104270209A (zh) * 2014-10-14 2015-01-07 大唐移动通信设备有限公司 基于不同校准平面的rru驻波比的检测方法和装置

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