CN103577295A - 设备的测试方法、相关的测试工具及测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及设备的测试方法、相关的测试工具及测试系统。一种电子设备(E)的测试方法,电子设备(E)包括彼此相连的至少一个第一板(A)和一个第二板(B),所述方法由电子设备外部的测试工具(T)控制,其特征在于如下步骤:由测试工具向第一板发送采集命令(ACQ),第一板包括至少一个输入端(Rx);第一板接收到采集命令(ACQ),发起对所述输入端上出现的信号的采集;由测试工具向第二板发送生成命令(GEN),第二板包括至少一个与所述输入端连接的输出端(Tx);第二板接收到生成命令(GEN),在所述信号输出端向所述输入端发起一个生成;由第一板接收信号;由第一板向测试工具发送与已接收信号相关的数据(DATA)。

Description

设备的测试方法、相关的测试工具及测试系统
技术领域
本发明涉及一种设备的测试方法以及相关的测试工具和测试系统。
背景技术
当希望借助集成化测试来测试一台设备内部电子板的运行情况和物理性能时,能够预计到其中一个电子板,在下文中被称为“主板”,包括能够通过发送适用于其他电子板的命令来组织和引导测试的测试定序器。
当有必要测试板之间在通信以及性能方面的互动时,“集成化测试”被谈及,其中各电子板运行性能最能表现其标称性能。这涉及每个待测电子板的全部内部以及尤其外部(输入/输出)资源的激烈活动。可能的互动存在于设备内部(不通向外部的通信连接,由于板间距、各机械元件相对于震动和冲击等的布置所产生的电磁和热辐射),由于如果设备不完整则不再具有代表性,因此不可能用一个测试工具来替代一个电子板。
在此情况下,可能直接被安装在设备内代替一个电子板并且因此是外部的的测试工具的角色,仅限于发起测试(通过发送对应于主板测试定序器的一条指令)以及接收由各电子板生成的信号为其可能的观察。主板应当自主管理所有电子板的同步,保证测试的正常运行并集中所有结果以将其提供给外部测试工具。
然而当人们使用大量的电子板并且这些电子板是由不同的生产者提供时这一解决方法并不适合,这样仍有必要验证电子板全体的协同运行性能,该验证通常由重新组合电子板的设备的装配者(它经常并非电子板生产者)来执行。
因此,例如,利用上述解决方案需要电子板(合并有测试定序器)装配者向主板生产者详细说明并解释待执行的不同测试,这意味着对其他电子板的了解。这一解决方案因此在如上面提及的众多参与者被涉及、以及设备在电子板类型和数量上的配置未被严格限定的情况下迅速显示出复杂性。
发明内容
在此背景下,本发明提出一种电子设备的测试方法(尤其用于测试该设备的物理性能),该电子设备包括彼此相连接(通常是直接连接,并且因此不可能在不改变测试物理性能的情况下插入测量工具或注入信号)的至少一个第一板和一个第二板,该方法借助设备外部的测试工具来执行,其特征在于包括如下步骤:
—由测试工具向第一板发送(例如周期性的)采集命令,第一板包括至少一个输入端;
—第一板接收到采集命令,发起对所述输入端上出现的信号的(例如周期性的)采集;
—由测试工具向第二板(例如周期性的)发送生成命令,第二板包括至少一个与所述输入端连接的输出端;
—第二板接收到生成命令,在所述信号输出端向所述输入端(例如周期性的)发起一个生成;
—由第一板(例如周期性的)接收信号;
—由第一板向测试工具(例如周期性的)发送与已接收信号相关的数据。
测试工具因此启动一种运行以及在接近运行正常条件的第一板和第二板之间的信号交换。如下文所释,通过为设备的不同电子板以及这些电子板的接口反复运行这一过程,在设备处得到有效的测试。因此能够对设备的多个电子板间的多个连接(即设备的内部输入-输出对),甚至对所有这些电子板间的连接,重复上文所述的各个步骤。
在实际中,提供第一板,包括对所述已接收信号进行处理的采集模块和所述处理产生的数据的存储器。
此外,与已接收信号相关的数据是已接收信号的描述数据,这样可以向测试工具传输所涉及信号的描述。测试工具因此能够例如分析该信号或向用户显示该信号。
可以规定,与已接收信号相关的数据被周期性发送。在变型中,与已接收信号相关的数据在第一板一接收到来自测试工具的专用命令时就被发送。
测试工具在实际应用中可包括能够发送采集和生成命令的组织模块。该组织模块在此情况下能够控制位于设备的多个板上的多个接口(换而言之输入和输出)。
这些电子板中至少一个电子板具有多个接口(换而言之多个输入和/或输出)并且能够同时处理与所述多个接口相关的多个接收到的周期性的采集和生成命令。这可以运用到设备的所有电子板上,这种情况下,获得了整个设备的尤为有效的模拟。
本发明还提供一种设备的测试工具,该设备包括至少一个第一板和一个第二板,测试工具的特征在于包括能够向第一板发送采集命令并向第二板发送生成命令的组织模块,接收到由第二板发出并由第一板接收的生成命令,该测试工具能够接收来自第一板的数据,该数据与第二板一接收到生成命令就生成并被第一板接收的信号有关。
因此提供一种包括这样的测试工具和所述设备的测试系统。
附图说明
本发明的其他特征和优势在结合附图的下述描述中将更好地被体现,附图中:
—图1表示实施本发明的一个实施例(已简化以便于理解);
—图2表示在图1情况下实施测试时的各执行步骤。
具体实施方式
图1表示容纳多个电子板,这里是一个电子板A和一个电子板B的设备E(例如一个电子机箱或电子机柜)。
设备E自然能够容纳其他电子板,以及板间的许多连接装置。
每个电子板A、B专用于执行设备E所在系统的一项功能;它例如涉及航天系统中使用的计算模块。
每个电子板A、B是例如基于微处理器设计的并根据其接收到的输入信号生成输出信号,这是建立在例如根据计算机程序的执行而确定、并由微处理器存储在电子板的存储器中的处理的基础上的。
在图1中提供借助于测试工具T实施设备E的设备集成化测试:它涉及验证装配在设备E内的不同电子板A、B在电、电子、机械和热方面的良好协同运行性能。
为此,在每一个电子板A、B内使用一个存储在相关电子板中并在集成化测试时由相关板的微处理器执行的集成化软件(分别是ISA、ISB)。
为了使集成化测试良好进行,测试工具T包括测试组织模块O,如下所述,它向设备E的不同的电子板A、B特别生成指令或命令。
测试组织模块O例如同样被设计成微处理器结构的形式,并且能够通过例如RS485型(例如10Mbps的高速率可用)的局域信息网络与电子板A、B交换数据,尤其是上述命令。
虽然出于简洁的考虑这并未被表示出来,测试工具T同样能够接收由不同电子板A、B生成的输出信号以便例如测量其中一个信号或将其中一个信号的表示显示在用户专用的显示装置上。
图2表示由刚刚描述过的元件协作执行以便进行集成化测试的方法的例子。
这一方法从步骤E2开始,由测试工具T的组织模块O向电子板A发送采集命令ACQ。在这里所述的例子中这一命令如已经提到的那样通过局域信息网络传输。
该采集命令ACQ在步骤E4由电子板A接收。
加载在电子板A上(由该电子板A的微处理器执行)的集成化软件ISA接收到采集命令,启动对在电子板A的输入端Rx上可能接收到的信号的采集过程(步骤E6)。这涉及例如一个周期性采集过程。
该采集例如是由电子板A的专用采集模块执行的,它对输入端Rx测量的信号典型地进行一个模拟-数字转换并且对由适当处理得到的信号的表示数据进行存储。
当采集继续进行时,测试工具T的组织模块O在步骤E8向电子板B发送生成命令GEN。
该生成命令GEN在步骤E10被电子板B接收。
接到这一命令,电子板B(执行由集成化软件ISB命令的一个处理)在步骤E12在其输出端Tx上生成一个信号(例如以可能由与所接收到的生成命令GEN相关联的参数确定的特别形式),输出端Tx根据设备E的设计连接到电子板A的输入端Rx。
在此规定周期性生成预定形式的信号,这样能够持续生成(但以相对简单的方式)一个模拟输出端Tx在正常运行下的性能的信号。
如果设备E的电子板A、B被正确装配,该信号在步骤E14在输入端Rx上被接收并被电子板A采集,随后,在步骤E16被分析。在使用如前文描述的周期性生成的情况下,将周期性接收一个给定数据。
电子板A执行处理产生的数据,为电子板B生成的信号的描述数据,在步骤E18被向测试工具T发送(例如通过局域信息网络向与电子板A相连的组织模块O发送)。
能够规定例如当采集在步骤E6启动时这些数据被周期性发送(这样能够有规律地释放用于存储采集信号的描述数据的内存)。在变型中,描述数据DATA在接收到组织模块O向电子板A发送的一个新的特定命令就被发送。
由电子板A发送的信号描述数据在步骤E20由测试工具T接收,例如由它的组织模块O接收。
测试工具T因此能够在步骤E22执行对接收到数据的分析,例如用于验证它们是否对应于期望的数据。此外能够在测试工具T的显示装置(未被表示出)上显示专用于用户的基于所接收到的描述数据的信息,例如表示电子板B生成的信号和电子板A接收的信号的图表曲线,或者如果刚才提到的验证结果为协同运行情况正确时电子板A和B协同运行情况正确的指征。
总而言之,通过控制设备的全部电子板,测试工具能够同时模拟实际的电子板间的所有连接,与电子板A和B之间之前描述的操作类似。
刚才描述的实现例只是本发明的一种实施可能,不限于此。

Claims (13)

1.一种电子设备(E)的测试方法,电子设备(E)包括彼此相连的至少一个第一板(A)和一个第二板(B),所述方法由电子设备(E)外部的测试工具(T)控制,其特征在于如下步骤:
由测试工具向第一板(A)发送(E2)采集命令(ACQ),第一板包括至少一个输入端(Rx);
第一板(A)接收到(E4)采集命令(ACQ),发起对所述输入端(Rx)上出现的信号的采集(E6);
由测试工具向第二板(B)发送(E8)生成命令(GEN),第二板(B)包括至少一个与所述输入端(Rx)连接的输出端(Tx);
第二板(B)接收到(E10)生成命令(GEN),在所述信号输出端(Tx)向所述输入端(Rx)发起一个生成(E12);
由第一板(A)接收(E14)信号;
由第一板(A)向测试工具(T)发送(E18)与已接收信号相关的数据(DATA)。
2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于采集模块实施对所述已接收信号的处理和对所述处理产生的数据的存储。
3.根据权利要求1或2所述的测试方法,其特征在于与已接收信号相关的数据是已接收信号的描述数据。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的测试方法,其特征在于与已接收信号相关的数据被周期地发送。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的测试方法,其特征在于与已接收信号相关的数据当第一板一接收到来自测试工具的专用命令就被发送。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的测试方法,其特征在于测试工具包括组织模块(O),采集命令(ACQ)和生成命令(GEN)由组织模块(O)发送。
7.根据权利要求6所述的测试方法,其特征在于组织模块能够控制位于电子设备的多个板上的多个接口。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的测试方法,其特征在于至少一个板带有多个接口,并且能够同时处理与所述多个接口相关的已接收的多个周期性采集和生成命令。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的测试方法,其特征在于在所述输出端上的信号的生成是在所述输出端上的信号的周期性生成。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的测试方法,其特征在于对所述输入端上出现的信号的采集是对所述输入端上出现的信号的周期性采集。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的测试方法,其特征在于第一板对信号的接收是第一板对信号的周期性接收。
12.一种设备(E)的测试工具(T),该设备(E)包括至少一个第一板(A)和一个第二板(B),测试工具(T)特征在于包括能够向第一板(A)发送采集命令(ACQ)和能够向第二板(B)发送生成命令(GEN)的组织模块(O),测试工具(T)能够接收来自第一板(A)的数据(DATA),数据(DATA)与第二板(B)一接收到生成命令(GEN)就生成并被第一板(A)接收的信号有关。
13.一种测试系统,包括根据权利要求12所述的测试工具和所述设备。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3021437B1 (fr) * 2014-05-21 2016-07-01 Oberthur Technologies Procede et systeme de test de qualite de service
CN110824386A (zh) * 2019-10-21 2020-02-21 中车太原机车车辆有限公司 一种用于电力机车电子插件箱的绕接线测试装置
CN110653850B (zh) * 2019-11-07 2021-03-12 珠海格力智能装备有限公司 测试机械手的方法及装置、存储介质和处理器

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101523232A (zh) * 2006-09-29 2009-09-02 泰拉丁公司 联网测试系统
CN201780505U (zh) * 2010-05-27 2011-03-30 中科华核电技术研究院有限公司北京分公司 核电厂数字化控制系统电气性能测试装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6880116B2 (en) * 2001-11-27 2005-04-12 Ati Technologies, Inc. System for testing multiple devices on a single system and method thereof
US7478298B2 (en) * 2006-01-26 2009-01-13 Honeywell International Inc. Method and system for backplane testing using generic boundary-scan units

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101523232A (zh) * 2006-09-29 2009-09-02 泰拉丁公司 联网测试系统
CN201780505U (zh) * 2010-05-27 2011-03-30 中科华核电技术研究院有限公司北京分公司 核电厂数字化控制系统电气性能测试装置

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