L'invention concerne un procédé de test d'un équipement ainsi qu'un outil de test et un système de test associés. Lorsque l'on souhaite tester le fonctionnement et le comportement physique de cartes électroniques au sein d'un équipement au moyen d'un test d'intégration, on peut prévoir que l'une des cartes, dite « carte principale » dans la suite, comprenne un séquenceur de test apte à organiser et conduire le test en envoyant des commandes adéquates aux autres cartes électroniques. On parle de « test d'intégration » lorsqu'il est nécessaire de tester l'interaction entre les cartes aussi bien au niveau de leurs communications que de leur comportement, en fonctionnement le plus représentatif possible de son fonctionnement nominal. Cela implique une forte activité de l'ensemble des ressources internes mais surtout externes (Entrée/Sorties) de chaque carte à tester. Les interactions possibles étant internes à l'équipement (liens de communication non accessibles à l'extérieur, rayonnements électromagnétiques et thermique due à la proximité des cartes, disposition des éléments mécaniques par rapport aux vibrations et chocs, etc.), il n'est pas possible de remplacer une carte par un outillage de test car l'équipement n'est plus représentatif s'il n'est pas complet. Dans ce contexte, le rôle d'un outil de test, qui ne peut être directement embarqué dans l'équipement en lieu et place d'une carte et est donc externe, se limite à initier le test (par envoi d'une instruction correspondante au séquenceur de test de la carte principale) et à recevoir, pour leur observation éventuelle, les signaux générés par les diverses cartes. La carte principale doit gérer de manière autonome le synchronisme des toutes les cartes, assurer le bon déroulement du test et centraliser tous les résultats pour les fournir à l'outil de test externe. Cette solution n'est toutefois pas adaptée lorsqu'on utilise un grand nombre de cartes, fournies qui plus est par des fabricants différents, alors qu'il reste nécessaire de vérifier le fonctionnement conjoint de l'ensemble des cartes, vérification en général effectuée par l'assembleur de l'équipement regroupant les cartes (qui n'est souvent pas le fabricant des cartes). Ainsi par exemple, l'utilisation de la solution présentée ci-dessus nécessite que l'assembleur des cartes spécifie et explique au fabricant de la carte principale (incorporant le séquenceur de test) les différents tests à effectuer, qui impliquent la connaissance des autres cartes. Cette solution se révèle ainsi rapidement complexe dans le cas où de nombreux acteurs sont impliqués comme évoqué ci-dessus, et où la configuration de l'équipement en type et en nombre de cartes n'est pas strictement figée. Dans ce contexte, l'invention propose un procédé de test d'un équipement électronique (visant en particulier à tester le comportement physique de cet équipement) comprenant au moins une première carte et une seconde carte connectées entre elles (en général directement, et donc sans possibilité d'insérer des outils de mesures ou d'injection de signaux sans modification du comportement physique à tester), le procédé étant piloté au moyen d'un outil de test externe à l'équipement, caractérisé par les étapes suivantes : - émission d'une commande d'acquisition (par exemple cyclique) par l'outil de test et à destination de la première carte, celle-ci comprenant au moins une entrée ; - à réception de la commande d'acquisition par la première carte, lancement d'une acquisition (par exemple cyclique) des signaux présents sur ladite entrée ; - émission d'une commande de génération (par exemple cyclique) par l'outil de test et à destination de la seconde carte, la seconde carte comprenant au moins une sortie connectée à ladite entrée ; - à réception de la commande de génération par la seconde carte, lancement d'une génération (par exemple cyclique) sur ladite sortie de signaux à destination de ladite entrée ; - réception (par exemple périodique) des signaux par la première carte ; - émission (par exemple périodique), par la première carte et à destination de l'outil de test, de données relatives aux signaux reçus. L'outil de test lance ainsi un fonctionnement et un échange de signaux entre les première et seconde cartes qui s'approchent des conditions 5 normales de fonctionnement. Comme expliqué ci-après, en réitérant ce processus pour les différentes cartes de l'équipement et les interfaces de ces cartes, on obtient un test efficace au niveau de l'équipement. On peut ainsi envisager de répéter les étapes présentées ci-dessus pour une pluralité de liens inter-cartes de l'équipement (c'est-à-dire de couples entrée-sortie internes 10 à l'équipement), voire pour tous ces liens inter-cartes. On peut prévoir en pratique que la première carte comprenne un module d'acquisition qui mette en oeuvre un traitement desdits signaux reçus et une mémorisation des données issues dudit traitement. Par ailleurs, les données relatives au signal reçu sont des données 15 descriptives du signal reçu, ce qui permet de transmettre à l'outil de test une description du signal concerné. L'outil de test peut ainsi par exemple analyser ce signal ou l'afficher à destination de l'utilisateur. On peut prévoir que les données relatives au signal reçu soient émises périodiquement. En variante, les données relatives au signal reçu 20 pourraient être émises à réception, par la première carte, d'une commande dédiée en provenance de l'outil de test. L'outil de test peut comprendre en pratique un module organisateur apte à émettre les commandes d'acquisition et de génération. Le module organisateur peut dans ce cas commander une pluralité d'interfaces (c'est-à- 25 dire d'entrées et de sorties) situées sur une pluralité de cartes de l'équipement. Au moins une de ces cartes présente une pluralité d'interfaces (c'est-à-dire plusieurs entrée et/ou sorties) et est capable de traiter simultanément une pluralité de commandes d'acquisition et de génération cycliques reçues relatives aux interfaces de ladite pluralité. Ceci peut s'appliquer pour toutes les 30 cartes de l'équipement, auquel cas on obtient une simulation particulièrement efficace pour l'ensemble de l'équipement. L'invention propose également un outil de test d'un équipement comprenant au moins une première carte et une seconde carte, caractérisé en ce qu'il comprend un module organisateur apte à émettre une commande d'acquisition à destination de la première carte et apte à émettre une 5 commande de génération à destination de la seconde carte, l'outil de test étant apte à recevoir, en provenance de la première carte, des données relatives à un signal généré, à réception de la commande de génération, par la seconde carte et reçu par la première carte. On propose ainsi un système de test comprenant un tel outil de test 10 et ledit équipement. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront mieux à la lecture de la description qui suit, faite aux dessins annexés dans lesquels : - la figure 1 représente un exemple de contexte (simplifié pour 15 faciliter la compréhension) dans lequel est mis en oeuvre l'invention ; - la figure 2 représente des étapes mises en oeuvre lors d'un test mis en oeuvre dans le cadre de la figure 1. La figure 1 représente un équipement E (par exemple un cabinet ou armoire électronique) qui reçoit une pluralité de cartes électroniques, ici une 20 carte électronique A et une carte électronique B. L'équipement E peut naturellement contenir d'autres cartes électroniques, et beaucoup d'autres liens entre cartes. Chaque carte électronique A, B est destinée à remplir une fonctionnalité du système dans lequel l'équipement E est situé ; il s'agit par 25 exemple de modules calculateurs utilisés dans un système aéronautique. Chaque carte électronique A, B est par exemple conçue à base de microprocesseur et génère des signaux de sortie en fonction de signaux d'entrée qu'elle reçoit, ce sur la base d'un traitement déterminé par exemple en fonction de l'exécution d'un programme d'ordinateur, mémorisé dans une 30 mémoire de la carte électronique, par le microprocesseur. On propose sur la figure 1 de mettre en oeuvre un test d'intégration matérielle de l'équipement E au moyen d'un outil de test T: il s'agit de vérifier le bon fonctionnement conjoint, au sens électrique, électronique, mécanique, et thermique des différentes cartes électroniques A, B assemblées au sein de l'équipement E. De ce fait, on utilise au sein de chacune des cartes électroniques A, B un logiciel d'intégration (respectivement ISA, ISB), mémorisé dans la carte électronique concernée et exécuté par le microprocesseur de la carte concernée lors du test d'intégration. Afin de mener à bien le test d'intégration, l'outil de test T comprend un module organisateur du test 0 qui génère notamment des instructions ou 10 commandes à destination des différentes cartes électroniques A, B de l'équipement E, comme expliqué ci-après. Le module organisateur 0 est par exemple également conçu sous forme d'une architecture à microprocesseur et peut échanger des données avec les cartes électroniques A, B, notamment les commandes 15 susmentionnées, à travers un réseau informatique local, par exemple de type R5485 (utilisable à haut débit, par exemple 10 Mbps). Bien que cela ne soit pas représenté par souci de concision, l'outil de test T peut également recevoir les signaux de sortie générés par les diverses cartes électroniques A, B afin par exemple de mesurer l'un de ces signaux ou 20 d'afficher une représentation de l'un de ces signaux sur un dispositif d'affichage destiné à un utilisateur. La figure 2 représente un exemple de procédé mis en oeuvre par la coopération des éléments qui viennent d'être décrits afin de procéder à un test d'intégration.
25 Ce procédé commence à une étape E2 par l'émission pal' le module organisateur 0 de l'outil de test T, d'une commande d'acquisition ACQ à destination de la carte électronique A. Cette commande est véhiculée dans l'exemple décrit ici par le réseau informatique local, comme déjà mentionné. La commande d'acquisition ACQ est reçue à l'étape E4 par la carte 30 électronique A. Le logiciel d'intégration ISA, embarqué sur la carte électronique A (et exécuté par le microprocesseur de cette carte électronique A) déclenche, à réception de la commande d'acquisition, un processus d'acquisition des signaux éventuellement reçus sur une entrée Rx de la carte électronique A (étape E6). Il s'agit par exemple d'un processus d'acquisition cyclique. Cette acquisition est par exemple mise en oeuvre par un module 5 d'acquisition dédié de la carte électronique A qui procède typiquement à une conversion analogique-numérique des signaux mesurés sur l'entrée Rx et mémorise les données représentatives du signal issues d'un traitement approprié. Alors que l'acquisition se poursuit, le module organisateur 0 de l'outil 10 de test T émet à l'étape E8 une commande de génération GEN à destination de la carte électronique B. La commande de génération GEN est reçue à l'étape E10 par la carte électronique B. A réception de cette commande, la carte B (mettant en oeuvre un 15 traitement commandé par le logiciel d'intégration ISB) génère à l'étape E12 un signal (par exemple avec une forme particulière déterminée éventuellement par des paramètres associés à la commande de génération GEN reçue) sur sa sortie Tx, connecté selon la conception de l'équipement E à l'entrée Rx de la carte électronique A.
20 On prévoit ici la génération cyclique d'un signal de forme prédéterminée, ce qui permet de générer continûment (mais de manière relativement simple) un signal qui simulera le comportement de la sortie Tx en fonctionnement normal. Si les cartes électroniques A, B de l'équipement E sont correctement 25 assemblées, le signal est reçu à l'étape E14 sur l'entrée Rx et acquis par la carte électronique A, puis analysé, à l'étape E16. Dans le cas où on utilise une génération cyclique comme décrit ci-dessus, on recevra périodiquement un signal donné. Les données issues du traitement mis en oeuvre par la carte 30 électronique A, descriptives du signal généré par la carte B, sont émises à l'étape E18 à destination de l'outil de test T (par exemple à destination du module organisateur 0 lié à la carte électronique A par le réseau informatique local). On peut prévoir par exemple que ces données soient émises périodiquement lors de l'acquisition déclenchée à l'étape E6 (ce qui permet de vider régulièrement la mémoire utilisée pour mémoriser les données descriptives du signal acquis). En variante, les données descriptives DATA pourraient être émises à réception d'une nouvelle commande spécifique issue du module organisateur 0 à destination de la carte électronique A. Les données descriptives du signal, émises par la carte électronique 10 A, sont reçues à l'étape E20 par l'outil de test T, par exemple par son module organisateur O. L'outil de test T peut ainsi effectuer à l'étape E22 une analyse des données reçues, par exemple pour vérifier qu'elles correspondent aux données attendues. On peut par ailleurs afficher sur le dispositif d'affichage (non 15 représenté) de l'outil de test T des informations destinées à l'utilisateur et basées sur les données descriptives reçues, telle que par exemple une courbe représentative du signal généré par la carte B et reçue par la carte A, ou une indication du fonctionnement conjoint correct des cartes électroniques A et B si ce fonctionnement correct résulte de la vérification qui vient d'être mentionnée.
20 Plus globalement, en pilotant l'ensemble des cartes de l'équipement, l'outil de test peut simultanément stimuler tous les liens entre les cartes présentes, à l'image de l'opération précédemment décrite entre les cartes A et B. L'exemple de réalisation qui vient d'être décrit n'est qu'une possibilité 25 de mise en oeuvre de l'invention, qui ne s'y limite pas.