CN103487716B - 一种电容屏功能片智能测试机 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种电容屏功能片智能测试机，其包括机壳、控制模块，机壳上安装有测试基台和测试组件；测试基台滑动连接安装于机壳上，控制模块控制测试基台在机壳上的滑动；测试基台上设连接有抽真空装置的真空吸气孔；控制模块控制抽真空装置的运行，以定位待测功能片；测试组件包括滑竿和测试押头，测试押头可沿滑竿上下滑动；测试押头的顶端设有探针以及红外测距模块；红外测距模块的输出端连接控制模块；控制模块控制测试押头的升降，探针随测试押头的升降在测试基台上方升降。本发明可对功能片进行有效定位，并能够自动控制探针的测试行程，以实现智能的对定位后的功能片进行测试，测试效率高，且测试押头和探针的损坏几率大大降低。

Description

一种电容屏功能片智能测试机

技术领域

本发明涉及触摸屏性能测试技术领域，特别是一种电容屏功能片智能测试机。

背景技术

电容式触摸屏相对于电阻式触摸屏具有支持多点触控、触摸灵敏度高和耐磨等优点，逐渐成为手机市场乃至触摸屏市场的主流产品。

在电容屏生产过程中，需要对电容屏功能片(sensor)的开、短路进行测试，即对其ITO导通率作测试，主要依靠测试机上的顶针与电容屏功能片的焊盘区域的金手指接触，主板芯片程序返回电容屏功能片的开、短路信号，显示于电脑上。然而现在大多数功能片测试机都需要手工操作，不能实现智能化，功能片定位难，押头及顶针易损坏，测试繁琐费时，产品生产效率很低。

发明内容

本发明的目的是提供一种电容屏功能片智能测试机，其能够定位电容屏功能片，并自动控制测试押头及探针的测试行程，以对定位后的功能片进行测试，测试效率高，且测试押头和探针的损坏几率大大降低。

为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：一种电容屏功能片智能测试机，包括机壳，机壳内设有控制模块，机壳上安装有测试基台和测试组件；

测试基台滑动连接安装于机壳上，控制模块控制测试基台在机壳上的滑动；

测试基台上设有一个以上真空吸气孔；真空吸气孔连接有抽真空装置；控制模块控制抽真空装置的运行，以使得真空吸气孔吸紧上方功能片；

测试组件包括滑竿和测试押头，测试押头可沿滑竿上下滑动；测试押头的顶端设有探针以及可将红外线照射于测试基台上的红外测距模块；红外测距模块的输出端连接控制模块；

控制模块控制测试押头的升降，探针随测试押头的升降在测试基台上方升降。

在应用时，功能片覆盖于真空吸气孔上，抽真空装置运行，功能片即被真空吸气孔吸住；然后控制模块控制测试押头的下降，红外测距模块中的红外线照射于功能片上经反射输出信号至控制模块，可实时测得探针与功能片之间的距离变化。控制模块根据此距离变化继续控制测试押头的下降，直至探针与功能片之间的距离为零，则控制模块控制测试押头停止下降，即可开始进行正常的探针测量。在此过程中，可保证测试押头不会因过度下压而导致探针的损坏。当测试完毕，则控制模块控制测试押头带动探针上升，等待下一次测试。

为了方便触摸屏功能片的目测定位，测试基台表面还设有定位线。在测试时可将触摸屏功能块靠定位线放置，进一步保证探针的测试点准确无误，减少多个功能片测试时，调整功能片位置的时间，提高测试效率。

控制模块包括押头升降驱动机构和控制器，控制器控制押头升降驱动机构的运行，从而带动测试押头沿滑竿上下滑动。押头升降驱动机构可为气缸等现有技术。控制器可采用现有的控制芯片配合继电器等执行机构实现对押头升降驱动机构的运行控制。

测试基台上设有2个测试区，2个测试区随测试基台在机壳上的滑动，可交替位于探针下方。在利用一个测试区进行功能片探针测试时，可同时在另一测试区放置新的待测功能片，待前一测试区的功能片测试完毕，直接控制测试基台滑动，至另一测试区位于探针下方，继续进行测试，测试效率较高。

测试基台上还设有横向微调旋钮和纵向微调旋钮，以分别控制测试基台在机壳上的横向和纵向移动。测试基台在机壳上的滑动可利用现有技术实现，如滑轨配合气缸、丝杆配合电机等方式。微动旋钮也可利用现有技术，实现测试基台在横向和纵向的微距调节。

红外测距模块包括红外光源和红外接收器，控制模块控制红外接收器发出红外线，红外接收器的输出端连接控制模块。红外测距模块可采用现有技术。红外光源与探针位于同一高度，当红外线照射于功能片时即反射，使得红外接收器接收反射光，从而确定当前被测功能片与探针之间的距离。

本发明的有益效果为：测试基台通过真空吸气孔可保证被测功能片在整个测试过程中不会移动；红外测距模块能够实时测得探针与待测功能片之间的距离，从而由控制器控制探针随测试押头的升降，保证探针在测试过程中能够与功能片良好接触，保证测试结果准确，且不因过度下压而损坏，测试效率得到大大提高。

附图说明

图1所示为本发明的具体实施例结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例做进一步描述。

如图1所示，电容屏功能片智能测试机，包括机壳1，机壳1内设有控制模块，机壳1上安装有测试基台2和测试组件；

测试基台2滑动连接安装于机壳1上，控制模块控制测试基台2在机壳1上的滑动；测试基台2上设有左测试区21和右测试区22；

测试基台2的测试区上均布有多个真空吸气孔3，真空吸气孔3的另一端连接抽真空装置，当功能片置于吸气孔上方时，控制模块控制抽真空装置的运行，抽真空即可定位功能片。测试基台2表面还设有定位线8，在测试时可将触摸屏功能片靠定位线8放置。

测试组件包括滑竿4和测试押头5，测试押头5可沿滑竿4上下滑动；测试押头5的顶端设有探针6以及可将红外线照射于测试基台上的红外测距模块7；红外测距模块7的输出端连接控制模块；

控制模块包括押头升降驱动机构和控制器，控制器控制押头升降驱动机构的运行，从而带动测试押头5沿滑竿4上下滑动，带动探针6在测试基台2的测试区上方升降。

测试基台2上还设有横向微调旋钮9和纵向微调旋钮10，以分别控制测试基台2在机壳1上的横向和纵向移动。测试基台2在机壳上的滑动可利用现有技术实现，如滑轨配合气缸、丝杆配合电机等方式。微动旋钮也可利用现有技术，实现测试基台在横向和纵向的微距调节。

红外测距模块7包括红外光源和红外接收器，控制模块控制红外接收器发出红外线，红外接收器的输出端连接控制模块。红外测距模块可采用现有技术。红外光源与探针位于同一高度，当红外线照射于功能片时即反射，使得红外接收器接收反射光，从而确定当前被测功能片与探针之间的距离。

本发明的机壳上还设有定位按钮12和启动按钮11，分别用于人工操作控制模块对相应工序的启动。在应用时，将功能片沿定位线放置，覆盖于真空吸气孔上，按下定位按钮12，控制模块即控制抽真空装置运行，功能片即被真空吸气孔3吸住；然后按下启动按钮11，控制模块控制测试押头5的下降，红外测距模块7中的红外线照射于功能片上经反射输出信号至控制模块，可实时测得探针6与功能片之间的距离变化。控制模块根据此距离变化继续控制测试押头的下降，直至探针与功能片之间的距离为零，则控制模块控制测试押头停止下降，即可开始进行正常的探针测量。在此过程中，可保证测试押头不会因过度下压而导致探针的损坏。当测试完毕，则控制模块控制测试押头带动探针上升，等待下一次测试。

测试基台2的两个测试区随测试基台2在机壳1上的滑动，可交替位于探针6下方。在利用一个测试区进行功能片探针测试时，可同时在另一测试区放置新的待测功能片，待前一测试区的功能片测试完毕，直接控制测试基台滑动，至另一测试区位于探针下方，继续进行测试，测试效率较高。

Claims (5)

1.一种电容屏功能片智能测试机，其特征是，包括机壳，机壳内设有控制模块，机壳上安装有测试基台和测试组件；

测试基台滑动连接安装于机壳上，控制模块控制测试基台在机壳上的滑动；

测试基台上设有一个以上真空吸气孔；真空吸气孔连接有抽真空装置；控制模块控制抽真空装置的运行，以使得真空吸气孔吸紧上方功能片；

测试组件包括滑竿和测试押头，测试押头可沿滑竿上下滑动；测试押头的顶端设有探针以及可将红外线照射于测试基台上的红外测距模块；红外测距模块的输出端连接控制模块；

控制模块控制测试押头的升降，探针随测试押头的升降在测试基台上方升降；

测试基台上包括2个测试区，2个测试区随测试基台在机壳上的滑动，可交替位于探针下方。

2.根据权利要求1所述的电容屏功能片智能测试机，其特征是，控制模块包括押头升降驱动机构和控制器，控制器控制押头升降驱动机构的运行，从而带动测试押头沿滑竿上下滑动。

3.根据权利要求1至2任一项所述的电容屏功能片智能测试机，其特征是，测试基台表面还设有定位线。

4.根据权利要求1至2任一项所述的电容屏功能片智能测试机，其特征是，测试基台上还设有横向微调旋钮和纵向微调旋钮，以分别控制测试基台在机壳上的横向和纵向移动。

5.根据权利要求1至2任一项所述的电容屏功能片智能测试机，其特征是，红外测距模块包括红外光源和红外接收器，控制模块控制红外接收器发出红外线，红外接收器的输出端连接控制模块。