CN103382534B - W-Cu-SiC三元复合材料及其制备方法 - Google Patents

W-Cu-SiC三元复合材料及其制备方法 Download PDF

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Abstract

本发明是一种新型的具有高致密结构的W-Cu-SiC三元热控复合材料及其制备方法,W-Cu-SiC三元复合材料是由W粉、SiC粉和Cu粉按比例混合后,经热压烧结而成。所述复合材料中含体积分数30~50vol%的Cu,50~70vol%的W与SiC,其中SiC的体积分数范围为20~80%,相对应W粉的体积分数范围为80~20%,在不同配比下W-Cu-SiC复合材料的致密度均高达98%以上,在40~300°C温度范围内,该复合材料的热膨胀系数均稳定在5.7×10-6—9.74×10-6/K。本发明是一种成型方便、成本低廉和高性能的新型的复合材料,在电子封装、半导体散热片等领域具有广泛的应用前景。

Description

W-Cu-SiC三元复合材料及其制备方法
技术领域
本发明涉及复合材料领域,特别是涉及一种热压烧结法制备高致密W-Cu-SiC三元热控复合材料的方法。
背景技术
W-Cu-SiC三元热控复合材料体系是由高导电、高塑性的Cu和高熔点、低热膨胀系数的W和低密度、低成本、高硬度SiC所组成的三元体系复合材料。W的熔点高、密度大、热膨胀系数低、强度高,Cu的导热性和导电性能好,SiC的热膨胀系数低、强度高、密度低、优良的耐磨性能等优点,结合W、Cu、SiC三者的优良性能,具有低热膨胀系数、低成本、高硬度、高强度、良好地导电性、导热性及优良的耐磨性等性能,具有非常广阔的应用前景。SiC的热膨胀系数为4.7×10-6/k,密度为3.2g/cm3,W的热膨胀系数为4.5×10-6/k,密度为19.3g/cm3,二者有相近的热膨胀系数,密度差距却很大,因此,通过调整W-Cu-SiC复合材料中SiC与W的配比,可获得密度可控的W-Cu-SiC三元复合材料。
在电子封装、半导体散热应用领域,由于W-Cu二元复合材料具有极高的耐热性和良好的导电导热性,又与硅片、砷化镓及陶瓷材料相匹配的低热膨胀系数而得到了应用,但是二元W-Cu复合材料的主要缺点在于其密度大,成本高,工艺复杂。二元W-Cu体系复合材料要求具有低的热膨胀系数,使得其一般选用高含量低热膨胀系数高密度的W及低含量高热膨胀系数高密度的Cu,必然造成二元W-Cu复合材料的密度均偏大,影响其可加工性,限制了二元W-Cu复合材料的应用。对比而言,二元SiC-Cu复合材料有降低复合材料的密度和低成本的优点,但是陶瓷相SiC的引入会降低复合材料的导热性和导电性,不利于广泛使用,同样限制了其实用性。因此,一种新型的具有高致密结构的W-Cu-SiC三元热控复合材料的制备显得尤为重要,其主要优点为:在保证复合材料具有低热膨胀系数、高导热导电性能的前提下,复合材料具有很宽的密度区间,扩大了其应用范围,降低成本,并且工艺简单。
近期对W-Cu-SiC这种三元复合材料的研究发现,新发明的W-Cu-SiC三元复合材料综合了W-Cu和Cu-SiC复合材料的优点,同时克服了它们的缺点,具有高致密度、低热膨胀系数、高硬度、优良的导电性、导热性及密度可控的优点,成型方便、成本低廉,具有广阔的应用前景。目前制备W-Cu复合材料和SiC-Cu复合材料的制备和研究都有不少相关报道,然而,W-Cu-SiC复合材料方面却鲜有报道和研究,因此,本发明为W-Cu-SiC复合材料的研究提供了参考,有一定意义。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种高致密结构、低热膨胀系数及密度可控的W-Cu-SiC三元复合材料,还提供该三元复合材料的制备工艺简单的方法。
本发明解决其技术问题采用以下的技术方案:
本发明提供的W-Cu-SiC三元复合材料,其各组分含量按体积百分比计是:Cu/(W+SiC+Cu)=30~50%,SiC/(W+SiC)=20~80%,W/(W+SiC)=20~80%。
所述的Cu的纯度为99.9%,其粉末的粒径为1~10μm。
所述的W的纯度为99.9%,其粉末的粒径为10~20μm。
所述的SiC的纯度为99%,其粉末的粒径为10~30μm。
本发明提供的W-Cu-SiC三元复合材料,其制备方法是:将Cu粉、W粉、SiC粉按照体积分数Cu/(W+SiC+Cu)=30~50%,(W+SiC)/(W+Cu+SiC)=50~70%的配比进行球磨混合;然后放入真空热压炉中进行真空热压烧结,得到W-Cu-SiC三元热控复合材料;所述真空热压烧结工艺为:真空度为1×10-3~1×10-4Pa,烧结温度为900~1000℃,保温时间为1~3h,施加压力为50~150MPa。
本发明与现有复合材料相比具有以下的主要优点:
通过热压烧结成型制备的W-Cu-SiC复合材料,具有高致密结构(致密度大于98%),基体内颗粒分散均匀,克服了二元W-Cu复合材料的高密度影响其加工及应用的缺点,使得材料具有中低端密度(7.164~12.49g/cm3)范围,提高了材料的可加工性能,扩展了复合材料的应用范围,同时在密度范围内具有低且稳定的热膨胀系数(6×10-6—9.74×10-6/K),在其性能满足应用的前提下实现了密度可控的目的,扩大了材料的应用范围,成本低廉,制备工艺简单,在电子封装、半导体散热片等领域具有广泛的应用前景。
附图说明
图1是本发明的工艺流程图。
图2是本发明制备的W-Cu-SiC复合材料的物相分析图。
图3是本发明制备的W-Cu-SiC复合材料的热膨胀系数图。
图4是本发明经过真空热压烧结工艺(烧结工艺为900℃-100MPa-2h)制备的W-Cu-SiC(Cu/(W+SiC+Cu)=30%,SiC/(W+SiC)=20%,W/(W+SiC)=80%体积配比)复合材料的显微结构图。
图5是本发明经过真空热压烧结工艺(烧结工艺为1000℃-100MPa-2h)制备的W-Cu-SiC(Cu/(W+SiC+Cu)=50%,SiC/(W+SiC)=80%,W/(W+SiC)=20%体积配比)复合材料的显微结构图。
图6是本发明经过真空热压烧结工艺(烧结工艺为950℃-100MPa-1h)制备的W-Cu-SiC(Cu/(W+SiC+Cu)=40%,SiC/(W+SiC)=50%,W/(W+SiC)=50%体积配比)复合材料的显微结构图。
图7是本发明经过真空热压烧结工艺(烧结工艺为950℃-100MPa-2h)制备的W-Cu-SiC(Cu/(W+SiC+Cu)=40%,SiC/(W+SiC)=30%,W/(W+SiC)=70%体积配比)复合材料的显微结构图。
图8是实施例9制备的W-Cu-SiC三元复合材料的显微结构图。
图9是实施例10制备的W-Cu-SiC三元复合材料的显微结构图。
具体实施方式
为了更好地理解本发明,下面结合实施例和附图对本发明作进一步说明。
实施例1:W-Cu-SiC三元复合材料
其各组分含量按体积百分比计是:Cu/(W+SiC+Cu)=30~50%,SiC/(W+SiC)=20~80%,W/(W+SiC)=20~80%。
所述的Cu的纯度为99.9%,其粉末的粒径为1~10μm。
所述的W的纯度为99.9%,其粉末的粒径为10~20μm。
所述的SiC的纯度为99%,其粉末的粒径为10~30μm。
实施例2:W-Cu-SiC三元复合材料
其各组分含量按体积百分比计是:Cu/(W+SiC+Cu)=30%,SiC/(W+SiC)=20%,W/(W+SiC)=80%。
其它同实施例1。
实施例3:W-Cu-SiC三元复合材料
其各组分含量按体积百分比计是:Cu/(W+SiC+Cu)=50%,SiC/(W+SiC)=80%,W/(W+SiC)=20%。
其它同实施例1。
实施例4:W-Cu-SiC三元复合材料
其各组分含量按体积百分比计是:Cu/(W+SiC+Cu)=40%,SiC/(W+SiC)=50%,W/(W+SiC)=50%。
其它同实施例1。
实施例5:W-Cu-SiC三元复合材料的制备
将W粉、Cu、SiC粉体积比按照Cu/(W+SiC+Cu)=30%,SiC/(W+SiC)=20%,W/(W+SiC)=80%的配比混粉,其中Cu粒径为1μm,SiC粒径为30μm,W粒径为10μm,然后放入真空热压炉中,按指定真空热压烧结工艺进行真空热压烧结,烧结工艺为900℃-100MPa-2h,具体来说,在300℃时开始加压,在840℃之前升温速率为10℃/min,840℃~890℃升温速率为5℃/min,890℃~900℃升温速率为2℃/min,在900℃保温2h,自然降温,得到致密的W-Cu-SiC复合材料。
测得该W-Cu-SiC复合材料的致密度达98.6%。该复合材料的物相分析结果如图2所示,从图中可以看出主相只有W、Cu、SiC三相;常温至300℃温度范围内复合材料的热膨胀系数如图3所示;显微结构如图4所示,W-Cu-SiC复合材料整体致密,结构均匀,无明显的孔洞,W、SiC颗粒分布均匀。
实施例6:W-Cu-SiC三元复合材料的制备
将W粉、Cu、SiC粉体积比按照Cu/(W+SiC+Cu)=50%,SiC/(W+SiC)=80%,W/(W+SiC)=20%的配比混粉,其中Cu粒径为1μm,SiC粒径为30μm,W粒径为10μm,然后放入真空热压炉中,按指定真空热压烧结工艺进行真空热压烧结,烧结工艺为1000℃-50MPa-1h,具体来说,在300℃时开始加压,在940℃之前升温速率为10℃/min,940℃~990℃升温速率为5℃/min,990℃~1000℃升温速率为2℃/min,在1000℃保温1h,自然降温,得到致密的W-Cu-SiC复合材料。
测得该W-Cu复合材料的致密度达99.4%。该复合材料的物相分析结果如图2所示,从图中可以看出主相只有W、Cu、SiC三相;常温至300℃温度范围内复合材料的热膨胀系数如图3所示;显微结构如图5所示,W-Cu-SiC复合材料整体致密,结构均匀,无明显的孔洞,W、SiC颗粒分布均匀。
实施例7:W-Cu-SiC三元复合材料的制备
将W粉、Cu、SiC粉体积比按照Cu/(W+SiC+Cu)=40%,SiC/(W+SiC)=50%,W/(W+SiC)=50%的配比混粉,其中Cu粒径为10μm,SiC粒径为20μm,W粒径为20μm,然后放入真空热压炉中,按指定真空热压烧结工艺进行真空热压烧结,烧结工艺为950℃-100MPa-1h,具体来说,在300℃时开始加压,在890℃之前升温速率为10℃/min,890℃~940℃升温速率为5℃/min,940℃~950℃升温速率为2℃/min,在950℃保温1h,自然降温,得到致密的W-Cu-SiC复合材料。
测得该W-Cu复合材料的致密度达98.9%。该复合材料的物相分析结果如图2所示,从图中可以看出主相只有W、Cu、SiC三相;常温至300℃温度范围内复合材料的热膨胀系数如图3所示;显微结构如图6所示,W-Cu-SiC复合材料整体致密,结构均匀,无明显的孔洞,W、SiC颗粒分布均匀。
实施例8:W-Cu-SiC三元复合材料的制备
将W粉、Cu、SiC粉体积比按照Cu/(W+SiC+Cu)=40%,SiC/(W+SiC)=30%,W/(W+SiC)=70%的配比混粉,其中Cu粒径为1μm,SiC粒径为10μm,W粒径为20μm,然后放入真空热压炉中,按指定真空热压烧结工艺进行真空热压烧结,烧结工艺为950℃-100MPa-2h,具体来说,在300℃时开始加压,在890℃之前升温速率为10℃/min,890℃~940℃升温速率为5℃/min,940℃~950℃升温速率为2℃/min,在950℃保温2h,自然降温,得到致密的W-Cu-SiC复合材料。
测得该W-Cu复合材料的致密度达99.3%。该复合材料的物相分析结果如图2所示,从图中可以看出主相只有W、Cu、SiC三相;常温至300℃温度范围内复合材料的热膨胀系数如图3所示;显微结构如图7所示,W-Cu-SiC复合材料整体致密,结构均匀,无明显的孔洞,W、SiC颗粒分布均匀。
实施例9:W-Cu-SiC三元复合材料的制备
将W粉、Cu、SiC粉体积比按照Cu/(W+SiC+Cu)=50%,SiC/(W+SiC)=80%,W/(W+SiC)=20%的配比混粉,其中Cu粒径为1μm,SiC粒径为10μm,W粒径为20μm,然后放入真空热压炉中,按指定真空热压烧结工艺进行真空热压烧结,烧结工艺为1000℃-100MPa-2h,具体来说,在300℃时开始加压,在940℃之前升温速率为10℃/min,940℃~990℃升温速率为5℃/min,990℃~1000℃升温速率为2℃/min,在1000℃保温2h,自然降温,得到致密的W-Cu-SiC复合材料。
测得该W-Cu复合材料的致密度达99.4%。该复合材料的物相分析结果如图2所示,从图中可以看出主相只有W、Cu、SiC三相;常温至300℃温度范围内复合材料的热膨胀系数如图3所示;显微结构如图8所示,W-Cu-SiC复合材料整体致密,结构均匀,无明显的孔洞,W、SiC颗粒分布均匀。
实施例10:W-Cu-SiC三元复合材料的制备
将W粉、Cu、SiC粉体积比按照Cu/(W+SiC+Cu)=40%,SiC/(W+SiC)=50%,W/(W+SiC)=50%的配比混粉,其中Cu粒径为1μm,SiC粒径为10μm,W粒径为10μm,然后放入真空热压炉中,按指定真空热压烧结工艺进行真空热压烧结,烧结工艺为950℃-100MPa-1h,具体来说,在300℃时开始加压,在890℃之前升温速率为10℃/min,890℃~940℃升温速率为5℃/min,940℃~950℃升温速率为2℃/min,在950℃保温1h,自然降温,得到致密的W-Cu-SiC复合材料。
测得该W-Cu复合材料的致密度达99.1%。该复合材料的物相分析结果如图2所示,从图中可以看出主相只有W、Cu、SiC三相;常温至300℃温度范围内复合材料的热膨胀系数如图3所示;显微结构如图9所示,W-Cu-SiC复合材料整体致密,结构均匀,无明显的孔洞,W、SiC颗粒分布均匀。

Claims (8)

1.一种W-Cu-SiC三元复合材料,其特征是其各组分含量按体积百分比计是:Cu/(W+SiC+Cu)=30~50%,SiC/(W+SiC)=20~80%,W/(W+SiC)=20~80%;所述Cu的粉末的粒径为1~10μm,所述W的粉末的粒径为10~20μm,所述SiC的粉末的粒径为10~30μm;
该材料由下述方法制成:
先按配比进行球磨混合;然后放入真空热压炉中进行真空热压烧结,得到W-Cu-SiC三元热控复合材料;所述真空热压烧结工艺为:真空度为1×10-3~1×10-4Pa,烧结温度为900~1000℃,保温时间为1~3h,施加压力为50~150MPa。
2.根据权利要求1所述的W-Cu-SiC三元复合材料,其特征是所述的Cu的纯度为99.9%。
3.根据权利要求1所述的W-Cu-SiC三元复合材料,其特征是所述的W的纯度为99.9%。
4.根据权利要求1所述的W-Cu-SiC三元复合材料,其特征是所述的SiC的纯度为99%。
5.一种W-Cu-SiC三元复合材料的制备方法,其特征是将Cu粉、W粉、SiC粉按照体积分数Cu/(W+SiC+Cu)=30~50%,SiC/(W+SiC)=20~80%,W/(W+SiC)=20~80%的配比进行球磨混合;然后放入真空热压炉中进行真空热压烧结,得到W-Cu-SiC三元热控复合材料;所述真空热压烧结工艺为:真空度为1×10-3~1×10-4Pa,烧结温度为900~1000℃,保温时间为1~3h,施加压力为50~150MPa;所述Cu的粉末的粒径为1~10μm,所述W的粉末的粒径为10~20μm,所述SiC的粉末的粒径为10~30μm。
6.根据权利要求5所述的W-Cu-SiC三元复合材料的制备方法,其特征是所述的Cu的纯度为99.9%。
7.根据权利要求5所述的W-Cu-SiC三元复合材料的制备方法,其特征是所述的W的纯度为99.9%。
8.根据权利要求5所述的W-Cu-SiC三元复合材料的制备方法,其特征是所述的SiC的纯度为99%。
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