CN103369804A - 检测发光二极管短路的方法及其装置 - Google Patents

检测发光二极管短路的方法及其装置 Download PDF

Info

Publication number
CN103369804A
CN103369804A CN2013101083539A CN201310108353A CN103369804A CN 103369804 A CN103369804 A CN 103369804A CN 2013101083539 A CN2013101083539 A CN 2013101083539A CN 201310108353 A CN201310108353 A CN 201310108353A CN 103369804 A CN103369804 A CN 103369804A
Authority
CN
China
Prior art keywords
circuit
voltage
node
light
emitting diode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2013101083539A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103369804B (zh
Inventor
林书民
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Realtek Semiconductor Corp
Original Assignee
Realtek Semiconductor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Realtek Semiconductor Corp filed Critical Realtek Semiconductor Corp
Publication of CN103369804A publication Critical patent/CN103369804A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103369804B publication Critical patent/CN103369804B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/44—Testing lamps
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)

Abstract

本发明公开了了一种检测发光二极管短路的方法及其装置。该检测装置，包括一第一节点、一电流源、一电压产生电路、一第一比较电路。第一节点与一第一外部电路耦接，其中，第一外部电路包括有多个发光二极管相串接。电流源产生一电流至第一节点。电压产生电路通过一第二节点，以输出一节点电压至第一外部电路。第一比较电路具有二个输入端分别耦接第一节点以及一参考电压，第一比较电路比较二个输入端的电压以产生一第一比较信号。其中，第一比较信号用以指示多个发光二极管中是否有短路情形。

Description

检测发光二极管短路的方法及其装置
技术领域
本发明是有关于一种电子电路，且特别是有关于一种用以检测发光二极管短路的电子电路及其方法。
背景技术
近来，显示面板(panel)应用于许多电子产品上。例如：数字电视、数字监示器、智能手机、笔记本电脑、平板电脑、ipad、…等各式各样的电子产品上。显示面板(panel)须有一个背光设备用以提供光源。目前较常见的背光设备利用多颗发光二极管(LED)来提供光源。其中该多颗发光二极管可分成4串或8串(channel)以进行控制。
一般而言，在发光二极管背光控制器(back-light controller)的电路应用上，传统的发光二极管短路检测电路检测发光二极管串(LED channel)的负端电压ISEN，当发光二极管有烧掉(短路)发生时，发光二极管串的跨压会变小导致发光二极管串的负端电压ISEN提高，利用检测发光二极管串负端电压ISEN的变化，即可得知发光二极管串短路发生的数目。然而，发光二极管串的跨压通常约为30～60伏特，因此要用上述机制来检测发光二极管串短路数目，一般都需要使用特殊的高压工艺来实现。当有使用到特殊的高压工艺时，则无法将其检测电路整合使用一般工艺的集成电路中，特别是在系统在晶片(system on chip，soc)的应用上。
此外，由于背光控制器用以控制发光二极管的亮/暗(ON/OFF)，一般而言，当面板尺寸愈大，则所须的发光二极管的串数、或是每串的数量就会愈多。若对一个发光二极管串进行短路检测须要该背光控制器的节点(PIN)数量愈少时，则愈可节省到背光控制器的节点数。例如：当对一个发光二极管串进行短路检测须要该背光控制器的愈多节点(PIN)时，则该背光控制器就会被占用到愈多节点(PIN)，造成生产成本提高。
由于传统作法存在着一些问题点。所以，本发明提出一个检测发光二极管短路的电子电路及其方法，以克服上述的至少一个问题点。
发明内容
本发明的目的在于提供一种检测发光二极管短路的电子电路及其方法。
根据本发明，提出了一种检测电路，包括一第一节点、一电流源、一电压产生电路、一第一比较电路。第一节点与一第一外部电路耦接，其中，第一外部电路包括有多个发光二极管相串接。电流源产生一电流至第一节点。电压产生电路通过一第二节点，以输出一节点电压至第一外部电路。第一比较电路具有二个输入端分别耦接第一节点以及一参考电压，第一比较电路比较二个输入端的电压以产生一第一比较信号。其中，第一比较信号用以指示多个发光二极管中是否有短路情形。
根据本发明，提出了一种检测方法，该方法被使用来检测一发光二极管串中是否具有短路情形，该方法包括有下列步骤：首先，提供一电流至一第一节点，其中，第一节点通过一耐压元件与一发光二极管串相耦接。提供一第一电压至一第二节点，其中，耐压元件与第二节点相耦接，耐压元件的一控制端接收与第一电压相对应的一第二电压。接着，依据位于第一节点的电压电平产生一第一比较信号。其中，第一比较信号指示出发光二极管串中的至少一个发光二极管是否短路情形。
为了对本发明的上述及其他方面有更佳的了解，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。
附图说明
图1绘示依照本发明的检测电路的一实施例的示意图。
图2绘示依照本发明的电压产生电路的一实施例的示意图。
图3绘示依照本发明的检测电路的一第二实施例的示意图。
图4A绘示依照本发明的检测电路一模式的一实施例的示意图。
图4B绘示为依照本发明的检测电路另一模式的一实施例的示意图。
图4C绘示为依照本发明的检测电路另一模式的一实施例的示意图。
图4D绘示为依照本发明的检测电路另一模式的一实施例的示意图。
图5绘示为依照本发明的检测电路的另一实施例的示意图。
其中，附图标记说明如下：
LEDs发光二极管串
D0～DN二极管
M0、M1晶体管
R1、R2、RI1、RI2电阻
100检测电路
101电压产生电路
102、104分压电路
105比较电路
106模式控制电路
107通用输入输出电路
具体实施方式
图1绘示依照本发明的检测电路的一实施例的示意图。发光二极管短路检测电路100通过一第一节点ISEN1与一第二节点CRT与一第一外部电路EC1相耦接。一实施例，第一外部电路EC1包括有一发光二极管串LEDs。该发光二极管串LEDs包含有多个发光二极管相串接。检测电路100用以检测第一外部电路EC1的发光二极管串LEDs是否存有短路情形。该检测电路100包括有：一电压产生电路101、一(可调)电流源103、一第二分压电路104、以及一比较电路105。一实施例，该一第一节点ISEN1与第二节点CRT可为集成电路(IC)的不同接脚(PIN)。
该第一外部电路EC1可能具有许多实施方式。在一实施例中，该第一外部电路EC1除了具有发光二极管串LEDs之外，还包括有：一第一分压电路102、以及一耐压元件M1。第一分压电路102耦接于工作电压VX以及该第二节点CRT的可控的节点电压VCRT之间。第一分压电路102接收节点电压VCRT，且利用二个阻抗元件(例如是电阻R1、R2)分压工作电压VX与节点电压的压差，产生一第一分压V1至第一分压电路102的输出端，其中，该第一分压V1的电压值为(R1VX+R2VCRT)/(R1+R2)。由于节点电压VCRT可调的。换言之，该第一分压V1的电压值亦为可调的。
耐压元件M1的栅极耦接于该第一分压电路102的输出，也就是，该耐压元件M1的栅极接收该第一分压V1。换言之，该耐压元件M1的工作区受到该第一分压V1的控制。电压产生电路101用以产生节点电压VCRT，通过第二节点CRT输出节点电压VCRT至外部电路EC。
电流源103产生一电流I至第一节点ISEN1，以流通发光二极管串LEDs点亮发光二极管串LEDs，并于该第一节点ISEN1产生一电压信号V ISEN1。一实施例，电流源103为可调电流源。
第二分压电路104与该第一节点ISEN1相耦接以接收电压信号V ISEN1，第二分压电路104分压电压信号VISEN1(例如是利用电阻RI1与RI2来进行分压)，以产生一第二分压V2给比较电路105。若电压信号V ISEN1的大小在尚未进行分压前就已适用于比较电路105，不需要再进行分压，则第二分压电路104可省略。
比较电路105具有二个输入端分别耦接该第一节点ISEN1以及一参考电压VREF，接收该二个输入端的电压(设有第二分压电路104时为第二电压V2与参考电压VREF)，并比较第二分压V2(当第二分压电路104可省略时，则为电压信号V ISEN1)及参考电压VREF，来产生一比较信号LED_SHORT。其中，参考电压VREF依据一发光二极管短路的电压大小来进行设定(例如：参考电压VREF设为等于或是略大于一发光二极管短路的电压大小)，比较信号LED_SHORT用以指示第一外部电路EC1的多个发光二极管中是否有短路情形。例如：当第二分压V2大于参考电压VREF时，则比较电路105判断出第一外部电路EC1的发光二极管串LEDs中至少一个发光二极管有发光二极管短路，以输出比较信号LED_SHORT。换言之，比较电路105依据位于该第一节点ISEN1的电压电平来产生一第一比较信号。检测电路100及其方法是利用一个外部耐压元件M1(一实施例为一晶体管)来阻挡(抵抗)发光二极管串LEDs电流导通(调亮)下，节点ISEN0的高电压(例如是30V～60V)。在耐压元件M1(例如是一实施例的晶体管型号2N7002)的栅极(gate)提供适当的电压就能确保节点电压V ISEN1永远小于检测电路100所能承受的最高电压。一实施例，在发光二极管串LEDs在电流导通(dimming on)时，为了让集成电路的检测电路，例如是比较电路105，可以确实的检测到节点电压V ISEN1，耐压元件M1应操作在线性区，因此须供给耐压元件M1的栅极电压至大于欲检测发光二极管短路电压之上。一实施例，可设定供给耐压元件M1的栅极电压应大于全部的该多个发光二极管的短路电压总合电压值加上耐压元件M1的临界电压值的电压。
一实施例，耐压元件M1可为型号2N7002的晶体管，当然，本发明不限于此，耐压元件M1可为目前现有或未来发展出的各种耐压的元件。
图2绘示本发明的电压产生电路101的一实施例的示意图。该电压产生电路101包括有串接的一第一晶体管MI0与一第二晶体管MI1、串接的多个二极管D0～DN。
串接的第一晶体管MI0与第二晶体管MI1，耦接于一第一电源V1st与该第二节点CRT之间，其中，第一晶体管MI0的第三端(控制端)接收一反相时脉信号CKDDB。其中，反相时脉信号CKDDB为时脉信号CKDD(未图示)的反相信号，时脉信号CKDD用以进行发光二极管串LEDs的数字调光(digitaldimming)。
串接的多个二极管D0～DN，耦接于一第二电源V2st与该第二节点CRT之间。
当时脉产生电路101的数字调光功能启动(on)时－CKDD=1，CKDDB=0，第一晶体管MI0被关掉(off)，假如此时节点电压VCRT比多个二极管D0～DN耦接的电压(例如5V)高，则电流I会流过二极管D0、D1及D2到电压5V处。假设每个二极管D0～Dn的临界电压Vth=0.7V，以本图的示例来看节点电压VCRT会等于7.1V。此时利用第一分压电路102的分压，耐压元件M1的栅极可接收到一高于发光二极管短路电压的电压，例如接收一大于VREF+Vth的电压，例如10V。
当时脉产生电路101的数字调光(digital dimming)功能关掉(off)－CKDD=0，CKDDB=1，第一晶体管MI0导通，节点电压VCRT会被拉到0V，此时二极管D0～Dn为逆偏，二极管D0～Dn不会有电流流过。而耐压元件M1栅极接收的电压，利用第一分压电路102分压后例如可为8V。所以经由时脉产生电路101的数字调光启动/关掉(digital dimming on/off)的功能，节点电压VCRT会有7.1V与0V的电压变化。此时节点电压VCRT会产生如图示中0V与7V上下变动的信号。而耐压元件M1耦接的电压，可如图示中8V与10V上下变动的信号，以在耐压元件M1的工作区操作。
一实施例，晶体管MI1可为一LDnMOS晶体管，可为耐压8V的晶体管。晶体管MI0为MOS晶体管(可为耐压3.3V的晶体管)。当然，本发明不限于此，晶体管MI0与MI1可为目前现有或未来发展出的各种晶体管，例如晶体管MI1可为一耐压晶体管用以保护晶体管MI0。换言之，第二晶体管MI1的击穿电压(breakdown voltage)高于第一晶体管MI0的击穿电压。
须注意，如图5所示，本发明一实施例的检测电路100，可包括一第三节点ISEN2、及至少一第二比较电路105’，用以同时量测多个发光二极管串LEDs’。第三节点ISEN2与一第二外部电路EC2耦接，第二外部电路EC2包括有多个发光二极管相串接形成一发光二极管串LEDs’。第二比较电路105’具有二个输入端分别耦接第三节点ISEN2以及参考电压VREF，第二比较电路105’产生一第二比较信号LED_SHORT’用以指示第二外部电路EC2发光二极管串LEDs’的多个发光二极管中是否有短路情形。比较电路105与比较电路105’的工作原理相同，故省略其说明
一实施例，如图3所示，本发明的发光二极管短路检测电路100还包含一模式控制电路106。模式控制电路106包含有多个控制模式，对于不同的发光二极管背光控制器(LED back light controller)的应用下，设定各种对应集成电路(IC)的控制模式。一实施例，模式控制电路106的多个控制模式用以控制多个开关SW1、SW2～SWN的动作，利用设定其模式控制电路参数来控制开关的动作，例如控制第4A、4B、4C图的开关SW1、SW2及SW3导通(on)与关掉(off)，以选择集成电路内部的对应电路。一实施例，如图3所示，例如可设定开关是否耦接一通用输入输出电路(GPIO Circuit)107与任一接脚(节点)，以共用接脚(节点)而达到减少晶片的接脚数量。
一实施例，如图4A所示，发光二极管短路检测电路100进入检测模式，欲检测包含复数颗发光二极管的发光二极管串LEDs。此时，欲检测发光二极管串LEDs的短路电压可能比电压产生电路101调光关掉(dimming off)时节点ISEN1的电压大。调光关掉时，节点电压VCRT为0V，则可设定模式控制电路106的一模式－控制电压产生电路101耦接该第二节点CRT以导通(on)开关SW1，关掉(off)开关SW2、SW3。此时电压产生电路101耦接节点CRT，以控制节点电压VCRT的大小，再配合第一分压电路102则耐压元件M1的栅极端在电压产生电路的调光导通(dimming on)时的电压比调光关掉(dimmingoff)的电压大。在耐压元件M1导通时，电流I流过发光二极管串LEDs、耐压元件M1节点ISEN1、及第二分压电路104的电阻RI1至比较电路105的非反相输入端，以比较电压V2与参考电压VREF产生发光二极管串LEDs是否短路的判断结果LED_SHORT。请注意，此时集成电路的短路检测，仅需使用两个节点CRT与ISEN，可减少现有技术中检测发光二极管串短路电路的接脚使用数目。
一实施例，如图4B所示，当发光二极管短路检测电路100进入检测模式，且于集成电路内部元件的栅极端能承受的电压比电压产生电路101的调光关掉(dimming off)的节点ISEN1的电压还小时，为防止集成电路的损坏，则模式控制电路106设定一模式控制第二分压电路104对第一节点ISEN1的电压V ISEN1进行分压，即让SW3也导通(on)，导通(on)开关SW1、SW3，关掉(off)开关SW2。节点ISEN1的电压经由第二分压电路104的电阻RI1、RI2分压，使集成电路中比较电路105的非反相输入端的电压V2变的比节点ISEN1电压V ISEN1要小的电压，以保护集成电路(IC)内部元件不会因输入电压过高而被损坏。此时，集成电路的短路检测，亦仅需使用两个节点CRT与ISEN。
如图4C所示，一实施例，当发光二极管短路检测电路100进入非检测模式，且发光二极管串LESs的总和短路电压比电压产生电路101的调光关掉(dimming off)时节点ISEN1的电压还小时，此时待测的发光二极管数目可能为一颗发光二极管，则模式控制电路106可设定一模式让第二节点CRT耦接一通用输入输出电路107，而不耦接电压产生器101，即导通(on)开关SW2，关掉(off)开关SW1、SW3。此时检测电路100不需要用到电压产生电路101，节点CRT不需要提供数字调光(digital dimming)信号给耐压元件M1的栅极。耐压元件M1接收工作电压VX。依此方式，可将多出的节点CRT耦接通用输入输出电路107来应用。须注意，此时集成电路的短路检测，仅需使用一个节点ISEN，更减少现有技术中检测发光二极管串短路电路的接脚使用数目。
如图4D所示，一实施例，延续图4C的发光二极管短路检测电路100的非检测模式，当发光二极管串LEDs的总和短路电压比电压产生电路101的调光关掉(dimming off)时节点ISEN1的电压还小，且假设集成电路内部元件的栅极端能承受的电压比电压产生电路101的调光关掉(dimming off)的节点ISEN1的电压还小时，为防止集成电路损坏，则模式控制电路106可设定一模式让SW3也导通(on)，即导通(on)开关SW2、SW3，关掉(off)开关SW1。节点ISEN1的电压经由第二分压电路104的电阻RI1、RI2分压，使集成电路的比较电路105的非反相输入端的电压V2比节点ISEN1电压V ISEN1要小的电压，以保护集成电路内部元件不会因输入电压过高而被损坏。此时，集成电路的短路检测，亦仅需使用一个节点ISEN。
由以上叙述可知，利用模式控制电路设定参数，可使集成电路内部切换成多种模式，使接脚CRT能拥有多种使用功能，更能达成节省接脚的功效。
综上所述，虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明。本发明所属技术领域中技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰。因此，本发明的保护范围当视所附的申请专利权利要求范围所界定者为准。

Claims (14)

1.一种检测电路，包括：
一第一节点，与一第一外部电路耦接，其中，该第一外部电路包括有多个发光二极管相串接；
一电流源，产生一电流至该第一节点；
一电压产生电路，通过一第二节点，以输出一节点电压至该第一外部电路；以及
一第一比较电路，具有二个输入端分别耦接该第一节点以及一参考电压，该第一比较电路比较该二个输入端的电压以产生一第一比较信号，其中，该第一比较信号用以指示该多个发光二极管中是否有短路情形。
2.如权利要求1所述的检测电路，其中该第一外部电路还包括有一第一耐压元件与一第一分压电路，该耐压元件的栅极耦接该第一分压电路的输出端，该第一分压电路接收该节点电压，并提供一电压至该输出端。
3.权利要求2所述的检测电路，其中提供至该耐压元件的栅极电压大于全部的该多个发光二极管的短路电压总合电压值加上该耐压元件的临界电压值的电压。
4.如权利要求1所述的检测电路，还包括：
一第三节点，与一第二外部电路耦接，该第二外部电路包括有多个发光二极管相串接；以及
一第二比较电路，具有二个输入端分别耦接该第三节点以及该参考电压，该第二比较电路产生一第二比较信号用以指示该第二外部电路的该多个发光二极管中是否有短路情形。
5.如权利要求1所述的检测电路，其中该电压产生电路包括有：
串接的一第一晶体管与一第二晶体管，耦接于一第一电源与该第二节点之间，其中，该第一晶体管的第三端接收一反相时脉信号;以及
串接的多个二极管，耦接于一第二电源与该第二节点之间。
6.如权利要求5所述的检测电路，其中该第二晶体管的击穿电压高于该第一晶体管的击穿电压。
7.如权利要求1所述的检测电路，还包含一模式控制电路，该模式控制电路包含有多个控制模式，该模式控制电路用以控制多个开关的动作。
8.如权利要求7所述的检测电路，其中，当该检测电路进入检测模式时，该模式控制电路控制该电压产生电路耦接该第二节点。
9.如权利要求8所述的检测电路，其中，当该检测电路进入检测模式时，该模式控制电路更控制一第二分压电路对该第一节点的电压进行分压。
10.如权利要求7所述的检测电路，当检测电路进入非检测模式时，该模式控制电路让该第二节点耦接一通用输入输出电路，而不耦接该电压产生电路。
11.一种检测方法，该方法被使用来检测一发光二极管串中是否具有短路情形，该方法包括：
提供一电流至一第一节点，其中，该第一节点通过一耐压元件与一发光二极管串相耦接；
提供一第一电压至一第二节点，其中，该耐压元件与该第二节点相耦接，该耐压元件的一控制端接收与该第一电压相对应的一第二电压；以及
依据位于该第一节点的电压电平产生一第一比较信号，其中，该第一比较信号指示出该发光二极管串中的至少一个发光二极管是否短路情形。
12.如权利要求11所述的检测方法，进入一检测模式时，提供该第一电压至该第二节点。
13.如权利要求12所述的检测方法，其中，进入该检测模式，对该第一节点的电压进行分压。
14.如权利要求12所述的检测方法，其中，进入一非检测模式时，将该第二节点耦接一通用输入输出电路。
CN201310108353.9A 2012-04-10 2013-03-29 检测发光二极管短路的方法及其装置 Active CN103369804B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101112549 2012-04-10
TW101112549 2012-04-10

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103369804A true CN103369804A (zh) 2013-10-23
CN103369804B CN103369804B (zh) 2017-02-08

Family

ID=49291798

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310108353.9A Active CN103369804B (zh) 2012-04-10 2013-03-29 检测发光二极管短路的方法及其装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9329243B2 (zh)
CN (1) CN103369804B (zh)
TW (1) TWI477788B (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105093048A (zh) * 2014-04-30 2015-11-25 比亚迪股份有限公司 端口检测系统及具有其的车辆
CN106199299A (zh) * 2015-05-27 2016-12-07 英飞凌科技股份有限公司 用于负载链中的短路检测的系统和方法
CN106574944A (zh) * 2014-08-26 2017-04-19 欧司朗Oled股份有限公司 用于识别第一发光二极管元件中的短路的方法和光电子组件
CN110189689A (zh) * 2019-06-20 2019-08-30 深圳市艾希亿智能科技有限公司 Led显示控制电路

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5056921B2 (ja) * 2010-08-24 2012-10-24 カシオ計算機株式会社 半導体光源装置、半導体光源制御方法及び投影装置
JP2013167776A (ja) * 2012-02-16 2013-08-29 Mitsubishi Electric Corp 投射型映像表示装置
CN104062532B (zh) * 2013-03-18 2017-03-22 戴泺格集成电路（天津）有限公司 检测led串中led短路或led串之间匹配性的方法和系统
JP6293623B2 (ja) * 2014-09-05 2018-03-14 株式会社東芝 半導体検査装置
US9689930B2 (en) * 2014-10-07 2017-06-27 Infineon Technologies Ag Single LED failure detection in a LED chain
TWI566491B (zh) * 2015-01-23 2017-01-11 ding-cheng Lai Power protection devices and three-phase power protection devices
CN104931896B (zh) * 2015-06-24 2018-07-06 兴威电脑（昆山）有限公司 灯具耐压点亮功率测试装置及其切换控制电路
JP7305303B2 (ja) * 2018-03-20 2023-07-10 三菱電機株式会社 駆動装置及びパワーモジュール
US11495120B2 (en) * 2018-04-10 2022-11-08 Advancetrex Sensor Technologies Corp. Universal programmable optic/acoustic signaling device with self-diagnosis

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102026438A (zh) * 2009-09-18 2011-04-20 立锜科技股份有限公司 发光元件控制电路与控制方法、及用于其中的集成电路
CN102026442A (zh) * 2009-09-11 2011-04-20 艾沃特有限公司 自适应开关模式led驱动器
CN201805597U (zh) * 2010-09-29 2011-04-20 深圳麦格米特电气股份有限公司 一种线性恒流电路

Family Cites Families (61)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4045623A (en) * 1976-05-03 1977-08-30 Luis Albert Arce Short circuit indicator for a terminator matrix
US4435700A (en) * 1978-12-01 1984-03-06 Alley Patrick H Event detection and indication system
US4395767A (en) * 1981-04-20 1983-07-26 Control Data Corporation Interconnect fault detector for LSI logic chips
US4532436A (en) * 1983-09-30 1985-07-30 Rca Corporation Fast switching circuit
US4891743A (en) * 1987-11-09 1990-01-02 Enercon Industries Corporation Power supply controller
JP2752640B2 (ja) * 1988-08-07 1998-05-18 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 中間レベル発生回路
KR970003809B1 (ko) * 1991-12-09 1997-03-22 후지쓰 가부시끼가이샤 소거특성을 개량한 플래쉬메모리 및 그것에 대한 회로
US5684415A (en) * 1995-12-22 1997-11-04 Symbios Logic Inc. 5 volt driver in a 3 volt CMOS process
US5781026A (en) * 1996-03-28 1998-07-14 Industrial Technology Research Institute CMOS level shifter with steady-state and transient drivers
US6075448A (en) * 1998-05-21 2000-06-13 Verkhovskiy; Yan Apparatus and method for testing an electrical circuit
KR100296911B1 (ko) * 1998-10-28 2001-08-07 박종섭 전류 방향 감지 증폭기
DE19950135A1 (de) * 1999-10-18 2001-04-19 Patent Treuhand Ges Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh Ansteuerschaltung für LED und zugehöriges Betriebsverfahren
GB2365130B (en) * 2000-07-20 2005-01-19 Honeywell Control Syst Improved proximity sensor and related methods
US6842321B2 (en) * 2001-03-27 2005-01-11 Texas Instruments Incorporated Supply independent low quiescent current undervoltage lockout circuit
JP2003249383A (ja) * 2002-02-25 2003-09-05 Patoraito:Kk Ｌｅｄ表示灯の故障診断回路
KR100521370B1 (ko) * 2003-01-13 2005-10-12 삼성전자주식회사 파워 검출부를 구비하여 누설 전류 경로를 차단하는 레벨쉬프터
JP3916163B2 (ja) * 2004-02-19 2007-05-16 ローム株式会社 電流方向検出回路及びそれを備えたスイッチングレギュレータ
WO2006001057A1 (ja) * 2004-06-25 2006-01-05 Spansion Llc 電圧制御回路および半導体装置
JP4657789B2 (ja) * 2005-04-21 2011-03-23 ローム株式会社 昇圧型スイッチング電源装置及びこれを備えた電子機器
KR100691326B1 (ko) * 2005-09-16 2007-03-12 삼성전자주식회사 디스플레이장치
WO2007091211A2 (en) * 2006-02-09 2007-08-16 Nxp B.V. Circuit arrangement and method for detecting a power down situation of a voltage supply source
TWI299405B (en) * 2006-03-02 2008-08-01 Macroblock Inc Method and apparatus for silent current detection
GB0622199D0 (en) * 2006-11-07 2006-12-20 Cambridge Silicon Radio Ltd Rail to rail flash
US7675246B2 (en) * 2006-12-18 2010-03-09 Addtek Corp. Driving circuit and related driving method for providing feedback control and open-circuit protection
EP1965609A3 (en) * 2007-02-27 2011-06-15 Lumination, LLC LED chain failure detection
EP2143206B1 (en) * 2007-03-28 2011-11-02 Synopsys, Inc. Electronic device with a high voltage tolerant unit
JP2009044081A (ja) * 2007-08-10 2009-02-26 Rohm Co Ltd 駆動装置
US20090085542A1 (en) * 2007-09-27 2009-04-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Drive system for power semiconductor device
US20090155674A1 (en) * 2007-12-18 2009-06-18 Mitsumi Electronic Co., Ltd. Battery Pack, Portable Device, Internal Short Detecting Method, and Internal Short Detecting Program
JP5433417B2 (ja) * 2008-03-25 2014-03-05 ローム株式会社 発光ダイオードの駆動回路
US7550934B1 (en) * 2008-04-02 2009-06-23 Micrel, Inc. LED driver with fast open circuit protection, short circuit compensation, and rapid brightness control response
US8054603B2 (en) * 2008-10-08 2011-11-08 Himax Analogic, Inc. Power converter, short detection circuit thereof, and method for detecting short
US8214165B2 (en) * 2008-12-30 2012-07-03 International Business Machines Corporation Apparatus, system, and method for precise early detection of AC power loss
TW201029513A (en) * 2009-01-22 2010-08-01 Ite Tech Inc Controlling circuit and controlling method
TW201040550A (en) * 2009-05-15 2010-11-16 Ene Technology Inc Apparatus and method for detecting faulty diode
JP5519182B2 (ja) * 2009-05-15 2014-06-11 ルネサスエレクトロニクス株式会社 画像表示装置
US20100327835A1 (en) * 2009-06-26 2010-12-30 Intersil Americas Inc. Integrator for providing overshoot protection and light switching mode during non-zero load condition for an led driver circuitry
TWI419609B (zh) * 2009-08-19 2013-12-11 Novatek Microelectronics Corp 具有同時偵測開路及短路功能之發光二極體裝置及其方法
DE102010005907B4 (de) * 2010-01-27 2015-06-11 Austriamicrosystems Ag Detektorschaltung und Verfahren zum Betreiben einer Detektorschaltung
US8456096B2 (en) * 2010-02-11 2013-06-04 Dongbu Hitek Co., Ltd. Thermally controlled driver/switching regulator, and methods of controlling and/or regulating a driver and/or switching regulator
CN102196623A (zh) * 2010-03-16 2011-09-21 登丰微电子股份有限公司 具有电路检测功能的发光二极管驱动电路与电力转换电路
TWI532028B (zh) * 2010-05-06 2016-05-01 立錡科技股份有限公司 平板顯示裝置、應用於平板顯示裝置之發光模組、與應用於發光模組中之積體電路
TWI510130B (zh) * 2010-09-20 2015-11-21 Novatek Microelectronics Corp 短路偵測電路、發光二極體驅動晶片、發光二極體裝置及短路偵測方法
JP5636241B2 (ja) * 2010-09-29 2014-12-03 ローム株式会社 Ｌｅｄ駆動装置
TW201216763A (en) * 2010-10-06 2012-04-16 Novatek Microelectronics Corp Light-emitting diode driving device, light-emitting diode device method for driving the same
TWI418247B (zh) * 2010-12-06 2013-12-01 Leadtrend Tech Corp 積體電路、控制方法、與光源提供系統
JP5616768B2 (ja) * 2010-12-08 2014-10-29 ローム株式会社 発光素子の駆動回路、それを用いた発光装置および電子機器
TWI426816B (zh) * 2010-12-21 2014-02-11 Au Optronics Corp 發光二極體的驅動電源控制電路與驅動電源控制方法
US8558463B2 (en) * 2011-01-11 2013-10-15 Panasonic Corporation LED matrix open/short detection apparatus and method
US8829884B2 (en) * 2011-01-12 2014-09-09 Wenxing Zhong Current balancing circuit and method
US9906018B2 (en) * 2011-01-20 2018-02-27 Triune Systems, LLC Electrical line status monitoring system
TWM423974U (en) * 2011-04-29 2012-03-01 Princeton Technology Corp A driver circuit for LED device and a voltage detection device thereof
TWM418292U (en) * 2011-05-18 2011-12-11 Richtek Technology Corp Light emitting device open/short detection circuit
TWI430239B (zh) * 2011-05-19 2014-03-11 Realtek Semiconductor Corp 應用於背光源的操作電路及其相關方法
US9192014B2 (en) * 2011-07-19 2015-11-17 Nxp B.V. LED short circuit protection
CN102243854B (zh) * 2011-08-18 2013-10-16 深圳市华星光电技术有限公司 一种led背光驱动方法、液晶显示装置及led背光驱动电路
KR101876561B1 (ko) * 2011-08-26 2018-07-10 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치와 이의 구동방법
US9232587B2 (en) * 2011-09-30 2016-01-05 Advanced Analogic Technologies, Inc. Low cost LED driver with integral dimming capability
KR101955034B1 (ko) * 2011-12-07 2019-03-07 매그나칩 반도체 유한회사 Ｌｅｄ 어레이 쇼트여부 감지회로 및 이를 이용한 ｌｅｄ 구동장치
US8896319B2 (en) * 2012-02-24 2014-11-25 Richtek Technology Corporation Light emitting device control circuit and short detection circuit thereof
US8970115B2 (en) * 2012-03-28 2015-03-03 Dialog Semiconductor Inc. Delaying startup under fault conditions

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102026442A (zh) * 2009-09-11 2011-04-20 艾沃特有限公司 自适应开关模式led驱动器
CN102026438A (zh) * 2009-09-18 2011-04-20 立锜科技股份有限公司 发光元件控制电路与控制方法、及用于其中的集成电路
CN201805597U (zh) * 2010-09-29 2011-04-20 深圳麦格米特电气股份有限公司 一种线性恒流电路

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105093048A (zh) * 2014-04-30 2015-11-25 比亚迪股份有限公司 端口检测系统及具有其的车辆
CN105093048B (zh) * 2014-04-30 2018-03-13 比亚迪股份有限公司 端口检测系统及具有其的车辆
CN106574944A (zh) * 2014-08-26 2017-04-19 欧司朗Oled股份有限公司 用于识别第一发光二极管元件中的短路的方法和光电子组件
US10578665B2 (en) 2014-08-26 2020-03-03 Osram Oled Gmbh Method for identifying a short circuit in a first light emitting diode element, and optoelectronic subassembly
CN106199299A (zh) * 2015-05-27 2016-12-07 英飞凌科技股份有限公司 用于负载链中的短路检测的系统和方法
CN106199299B (zh) * 2015-05-27 2019-08-23 英飞凌科技股份有限公司 用于负载链中的短路检测的系统和方法
CN110189689A (zh) * 2019-06-20 2019-08-30 深圳市艾希亿智能科技有限公司 Led显示控制电路

Also Published As

Publication number Publication date
TW201341815A (zh) 2013-10-16
CN103369804B (zh) 2017-02-08
US20130265056A1 (en) 2013-10-10
TWI477788B (zh) 2015-03-21
US9329243B2 (en) 2016-05-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103369804A (zh) 检测发光二极管短路的方法及其装置
CN102781137B (zh) 发光元件电流调节电路及其控制方法
US9084330B2 (en) Short circuit detection for lighting circuits
KR100843148B1 (ko) 액정 표시 장치, 액정 표시 장치의 테스트용 커넥터 및이의 테스트 방법
US8120274B2 (en) Controlling circuit for a light emitting device
US9456475B2 (en) LED light source with reduced flicker
CN105325062A (zh) 具有综合故障保护的led驱动器
CN101674696A (zh) 发光元件驱动电路
US8400075B2 (en) Illumination circuit having bypass circuit controllable according to voltage change of series circuit thereof
CN109314508A (zh) 供电控制装置
US9979207B2 (en) Transmission device and control method thereof
CN103929854A (zh) 一种led驱动装置及其led调光控制器
US9188628B2 (en) Load apparatus for testing
US20140103956A1 (en) Power supply detection circuit and method
US8395520B2 (en) Device for monitoring voltage of motherboard
TW201415745A (zh) 具有箝位裝置之發光二極體照明系統
US20140184265A1 (en) Test circuit for power supply unit
CN107666740B (zh) 点亮电路和车辆用灯具
CN107682951B (zh) Led灯控制和按键输入分时复用电路及其控制方法
CN102779479B (zh) Led显示系统
CN204945296U (zh) 一种手机数据线测试器
KR20120055324A (ko) Ｌｅｄ 발광 장치의 구동 장치 및 구동 방법
CN102026438B (zh) 发光元件控制电路与控制方法、及用于其中的集成电路
US20130082732A1 (en) Power test system for testing operation voltage of power supply circuit of computer
CN105451403B (zh) 发光亮度段级控制方法及电路、分段调光的照明系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant