CN103257912A - 测试装置及其测试pcie插槽的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种测试装置及其测试PCIE插槽的方法,在测试人员把PCIE设备连接到的PCIE插槽后,该测试装置侦测连接有设备的PCIE插槽及存储相应插槽和设备信息,对该连接设备的PCIE插槽进行模拟设备移出和插入测试,根据模拟设备移出和插入时侦测到的信息与存储的信息进行比较,根据两者比较情况来判断测试结果。因此,本发明的测试装置通过模拟PCIE设备的热拔插过程来取代PCIE设备的物理拔插来实现对相应PCIE插槽的测试,且在测试过程中无需频繁开关PCIE插槽的电源,从而大大方便了PCIE插槽的测试。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试装置,更具体地,涉及一种测试装置及其通过模拟拔插连接设备测试PCIE(Peripheral Component InterconnectExpress,快速外设组件互联标准)插槽的方法。
背景技术
在主板上的PCIE插槽的测试中,测试人员必须先断开所测PCIE插槽的电源,然后连接PCIE设备,再接通所测PCIE插槽的电源并开始做测试,测试完成后继续进行上述步骤连接另一PCIE设备来对该PCIE插槽进行测试,利用上述频繁开关PCIE插槽的电源及物理拔插PCIE设备来测试PCIE插槽是一个繁琐的过程。
发明内容
为了解决上述存在的问题,本发明的目的在于,提供一种测试装置,其用于通过模拟拔插PCIE插槽上的连接设备测试主板上的该PCIE插槽,该主板的存储空间存储有各个PCIE插槽的总线接口信息,当一PCIE设备插入连接一PCIE插槽时,该主板根据PCIE规范给该PCIE设备分配一配置空间,该配置空间包括相应连接设备的相关信息,该测试装置包括:一设备侦测模块用于侦测主板上连接有设备的PCIE插槽;一信息获取模块用于当该设备侦测模块侦测到PCIE插槽连接有设备时,从主板的存储空间中获取连接有设备的该PCIE插槽的总线接口信息和从该连接设备相应的配置空间中获取该连接设备的相关信息及存储该所获取的信息;一模拟设备移出模块用于模拟实现让PCIE插槽上连接的设备断开移出及侦测连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息;一模拟设备插入模块用于模拟实现让已经被该设备移出模块移出的设备再次插入到PCIE插槽及侦测连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息;及一判断模块用于分别获取该模拟设备移出模块侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息以及该模拟设备插入模块侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与该信息获取模块存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息进行比较,该模拟移出的信息包括连接该模拟移出设备的PCIE插槽的总线接口信息和该模拟移出设备的相关信息,根据比较情况判断连接有设备的PCIE插槽的测试结果。
一种测试装置测试PCIE插槽的方法,该测试装置用于通过模拟拔插PCIE插槽上的连接设备测试主板上的该PCIE插槽,该主板的存储空间存储有各个PCIE插槽的总线接口信息,当一PCIE设备插入连接一PCIE插槽时,该主板根据PCIE规范给该PCIE设备分配一配置空间,该配置空间包括相应连接设备的相关信息,该方法包括步骤:侦测到主板上连接有设备的PCIE插槽;从主板的存储空间中获取连接有设备的该PCIE插槽的总线接口信息和从该连接设备相应的配置空间中获取该连接设备的相关信息及存储该所获取的信息;模拟实现让PCIE插槽上连接的设备断开移出及侦测连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息;模拟实现让已经被该设备移出模块移出的设备再次插入到PCIE插槽及侦测连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息;及分别获取在模拟设备移出侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息以及模拟设备插入时侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息进行比较,该模拟移出的信息包括连接该模拟移出设备的PCIE插槽的总线接口信息和该模拟移出设备的相关信息,根据比较情况判断连接有设备的PCIE插槽的测试结果。
一种测试装置,其用于通过模拟拔插PCIE插槽上的连接设备测试主板上的该PCIE插槽,该主板的存储空间存储有测试之前的各个PCIE插槽的总线接口信息和该主板根据PCIE规范给连接PCIE插槽的设备分配的配置空间,该配置空间包括相应连接设备的相关信息,每一连接设备相应的配置空间还包括三个中断源、每一中断源的寄存器值、及控制寄存器的电源控制器的控制位信息,该测试装置包括:一模拟设备移出模块用于通过连接设备的PCIE插槽的总线接口信息和连接设备的相关信息读取相应设备配置空间中的三个中断源,修改各个中断源的寄存器值,使三个中断源的中断被屏蔽掉,同时修改相应设备配置空间中的控制寄存器的电源控制器的控制位让该PCIE插槽处于断电状态,从而实现模拟设备被移出;一模拟设备插入模块用于通过连接设备的PCIE插槽的总线接口信息和连接设备的相关信息读取相应设备配置空间中的三个中断源,修改各个中断源的寄存器值来打开该中断源,同时修改相应设备配置空间中的控制寄存器的电源控制器的控制位给该PCIE插槽上电,从而实现模拟设备被插入;及一判断模块用于分别获取模拟设备移出模块模拟移出和模拟设备插入模块模拟插入测试后的信息和测试前的信息进行比较,根据比较情况判断连接有设备的PCIE插槽的测试结果。
本发明提供一种测试装置及其测试PCIE插槽的方法,在测试人员把PCIE设备连接到的PCIE插槽后,该测试装置侦测连接有设备的PCIE插槽及存储相应插槽和设备信息,对该连接设备的PCIE插槽进行模拟设备移出和插入测试,根据模拟设备移出和插入时侦测到的信息与存储的信息进行比较,根据两者比较情况来判断测试结果。因此,本发明的测试装置通过模拟PCIE设备的热拔插过程来取代PCIE设备的物理拔插来实现对相应PCIE插槽的测试,且在测试过程中无需频繁开关PCIE插槽的电源,从而大大方便了PCIE插槽的测试。
附图说明
图1是本发明一测试装置的软件功能模块示意图。
图2是图1的测试装置测试PCIE插槽的方法流程图。
主要元件符号说明
测试装置 | 1 |
设备侦测模块 | 10 |
信息获取模块 | 20 |
显示模块 | 30 |
插槽选择模块 | 40 |
模拟设备移出模块 | 50 |
模拟设备插入模块 | 60 |
判断模块 | 70 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
图1是本发明一测试装置的软件功能模块示意图。该测试装置1用于通过模拟拔插PCIE插槽上的连接设备测试主板上的该PCIE插槽。该主板定义有一存储装置,该存储装置存储有位于主板上的各个PCIE插槽的总线接口信息。该测试装置1包括一设备侦测模块10、一信息获取模块20、一显示模块30、一插槽选择模块40、一模拟设备移出模块50、一模拟设备插入模块60及一判断模块70。
该设备侦测模块10用于侦测主板上连接有设备的PCIE插槽。当一连接设备插入一PCIE插槽时,连接该PCIE插槽的主板根据PCIE规范给该连接设备分配一配置空间。该设备侦测模块10可通过读取配置空间中的插槽状态寄存器(Slot Status Register)的侦测状态(PresenceDetect State)位判断该PCIE插槽上是否有连接设备。例如,当一PCIE插槽连接的设备的配置空间中的插槽状态寄存器的侦测状态位为1时,该设备侦测模块10判断该PCIE插槽连接有设备。每一连接设备对应的配置空间还包括连接设备的相关信息,如三个中断源(INTx、MSI、MSI-X)及每一中断源的寄存器值。INTx、MSI、MSI-X三个中断源在PCIE规范中有定义,在此不再赘述。
当该设备侦测模块10侦测到连接有设备的PCIE插槽时,该信息获取模块20用于从主板定义的存储装置中获取连接有设备的该PCIE插槽的总线接口信息和从连接设备的配置空间中获取该连接设备的相关信息并存储该获取的PCIE插槽的总线接口信息和连接设备的相关信息。该连接设备的相关信息为主板给插入PCIE插槽的设备分配的配置空间所存储的信息,如设备编号和功能信息等。例如,该设备侦测模块10侦测到两个PCIE插槽连接有设备,该信息获取模块20获取该两个PCIE插槽的接口总线信息及其各自所连接设备的相关信息,即两组PCIE插槽总线信息及连接设备的相关信息,每组信息都包括PCIE插槽的总线/设备/功能号信息,如一组信息包括PCI总线接口5、设备1及功能6,即总线接口5的PCIE插槽连接有设备1及可实现功能6,另一组信息包括PCI总线接口2、设备2及功能1,即总线接口2的PCIE插槽连接有设备2及可实现功能1。
该显示模块30用于显示各连接有设备PCIE插槽的总线接口信息和各连接设备的相关信息。该插槽选择模块40用于根据显示模块30显示的界面信息响应用户的输入操作从该设备侦测模块10所侦测的连接有设备的PCIE插槽中选择需要测试的PCIE插槽。即测试人员可以从该显示模块30显示的连接有设备的PCIE插槽中选择一个或多个PCIE插槽进行测试。例如,测试人员选择PCI总线接口5对应的PCIE插槽进行测试。
该模拟设备移出模块50用于模拟实现让该插槽选择模块40选择的PCIE插槽上连接的设备断开移出及侦测连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息,即模拟连接设备被拔除操作。该模拟设备移出模块50实现模拟设备被拔除的具体过程为:通过所选择的PCIE插槽的总线/设备/功能号信息读取相应设备配置空间中的三个中断源,修改各个中断源的寄存器值,如将一中断源的寄存器值1修改为0,使三个中断源的中断被屏蔽掉,即该三个中断源不再提供中断,同时修改相应设备配置空间中的控制寄存器(Control Register)的电源控制器的(Power Controller)控制位让该PCIE插槽处于断电状态,因此,连接该PCIE插槽的设备就无法被侦测到,从而实现模拟设备被移出。
在本发明的另一实施方式中,该测试装置1不包括该显示模块30和该插槽选择模块40,该模拟设备移出模块50直接模拟该设备侦测模块10侦测到的PCIE插槽上连接设备的断开移出。
该模拟设备插入模块60用于模拟实现让已经被该模拟设备移出模块50移出的设备再次插入到PCIE插槽及侦测连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息,即模拟被模拟移出的设备的插入。该模拟设备插入模块60实现模拟设备被插入的具体过程为:通过所选择的PCIE插槽的总线/设备/功能号信息读取相应设备配置空间中的三个中断源,修改各个中断源的寄存器值,如将一中断源的寄存器值0修改为1来打开该中断源,即让该中断源能提供中断,同时修改相应设备配置空间中的控制寄存器的电源控制器的控制位给该PCIE插槽上电,因此,连接该PCIE插槽的设备就能被侦测到,即能正常的给连接PCIE插槽的设备分配资源,从而实现模拟设备被插入。
该判断模块70用于分别获取该模拟设备移出模块50侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息以及该模拟设备插入模块60侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与该信息获取模块20存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息比较,该模拟移出的信息包括连接该模拟移出设备的PCIE插槽的总线接口信息和该模拟移出设备的相关信息,根据比较情况判断测试结果,即该模拟设备移出模块50侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息和该信息获取模块20存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息进行比较,以及该模拟设备插入模块60侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与该信息获取模块20存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息进行比较。
当该模拟设备移出模块50侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息以及该模拟设备插入模块60侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与该信息获取模块20存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息都一致时,该判断模块70判断所选择测试的PCIE插槽测试通过;当该模拟设备移出模块50侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息或该模拟设备插入模块60侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与该信息获取模块20存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息不一致时,该判断模块70判断所选择测试的PCIE插槽测试失败。
例如,该设备侦测模块10侦测到总线接口2和5的两个PCIE插槽连接有设备,该信息获取模块20获取该两个PCIE插槽的总线接口信息和连接该两个PCIE插槽的两设备的相关信息及存储所述信息,该插槽选择模块40响应用户的输入选择需要测试的PCIE插槽为总线接口5的插槽,该模拟设备移出模块50模拟实现总线接口5的PCIE插槽连接的设备断开移出及侦测到连接有设备的PCIE插槽的总线接口2和该PCIE插槽总线接口2连接的设备的相关信息,该模拟设备插入模块60模拟实现让已经被该模拟设备移出模块50移出的设备再次插入到总线接口5的PCIE插槽及侦测到连接有设备的PCIE插槽的总线接口2和5和该PCIE插槽总线接口2和5连接设备的相关信息,该判断模块70分别获取该模拟设备移出模块50侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息以及该模拟设备插入模块60侦测到的信息与该信息获取模块20存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息比较,判断两者都一致,说明所选择总线接口为5的PCIE插槽的测试通过,若该判断模块70判断出获取该模拟设备移出模块50侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息或该模拟设备插入模块60侦测到的信息与该信息获取模块20存储的相关信息比较不一致,说明所选择总线接口为5的PCIE插槽的测试失败。
图2是图1的测试装置测试PCIE插槽的方法流程图。该设备侦测模块10侦测主板上连接有设备的PCIE插槽(步骤S200)。该信息获取模块20获取连接有设备的该PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息及存储该所获取的信息(步骤S210)。该显示模块30显示各连接有设备PCIE插槽的总线接口信息和各连接设备的相关信息(步骤S220)。该插槽选择模块40响应用户的输入从该设备侦测模块10所侦测的连接有设备的PCIE插槽中选择需要测试的PCIE插槽(步骤S230)。该模拟设备移出模块50模拟实现让该插槽选择模块40选择的PCIE插槽上连接的设备断开移出及侦测连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息(步骤S240)。该模拟设备插入模块60模拟实现让已经被该模拟设备移出模块50移出的设备再次插入到PCIE插槽及侦测连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息(步骤S250)。
该判断模块70分别获取该模拟设备移出模块50侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息和该模拟设备插入模块60侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与该信息获取模块20存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息比较判断两者是否都一致。如果该模拟设备移出模块50侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息和该模拟设备插入模块60侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与该信息获取模块20存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息都一致,该判断模块70判断所选择测试的PCIE插槽测试通过(步骤S270)。如果该模拟设备移出模块50侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息或该模拟设备插入模块60侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与该信息获取模块20存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息不一致,该判断模块70判断所选择测试的PCIE插槽测试失败(步骤S280)。
本发明的一种测试装置1及其测试PCIE插槽的方法,在测试人员把PCIE设备连接到的PCIE插槽后,该测试装置1侦测连接有设备的PCIE插槽及存储相应插槽和设备信息,对该连接设备的PCIE插槽进行模拟设备移出和插入测试,根据模拟设备移出和插入时侦测到的信息与存储的信息进行比较,根据两者比较情况来判断测试结果。因此,本发明的测试装置1通过模拟PCIE设备的热拔插过程来取代PCIE设备的物理拔插来实现对相应PCIE插槽的测试,且在测试过程中无需频繁开关PCIE插槽的电源,从而大大方便了PCIE插槽的测试。
尽管对本发明的优选实施方式进行了说明和描述,但是本领域的技术人员将领悟到,可以作出各种不同的变化和改进,这些都不超出本发明的真正范围。因此期望,本发明并不局限于所公开的作为实现本发明所设想的最佳模式的具体实施方式,本发明包括的所有实施方式都有所附权利要求书的保护范围内。
Claims (14)
1.一种测试装置,其用于通过模拟拔插PCIE插槽上的连接设备测试主板上的该PCIE插槽,该主板的存储空间存储有各个PCIE插槽的总线接口信息,当一PCIE设备插入连接一PCIE插槽时,该主板根据PCIE规范给该PCIE设备分配一配置空间,该配置空间包括相应连接设备的相关信息,其特征在于,该测试装置包括:
一设备侦测模块用于侦测主板上连接有设备的PCIE插槽;
一信息获取模块用于当该设备侦测模块侦测到PCIE插槽连接有设备时,从主板的存储空间中获取连接有设备的该PCIE插槽的总线接口信息和从该连接设备相应的配置空间中获取该连接设备的相关信息及存储该所获取的信息;
一模拟设备移出模块用于模拟实现让PCIE插槽上连接的设备断开移出及侦测连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息;
一模拟设备插入模块用于模拟实现让已经被该设备移出模块移出的设备再次插入到PCIE插槽及侦测连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息;及
一判断模块用于分别获取该模拟设备移出模块侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息以及该模拟设备插入模块侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与该信息获取模块存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息进行比较,该模拟移出的信息包括连接该模拟移出设备的PCIE插槽的总线接口信息和该模拟移出设备的相关信息,根据比较情况判断连接有设备的PCIE插槽的测试结果。
2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,当该模拟设备移出模块侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息以及该模拟设备插入模块侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与该信息获取模块存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息都一致时,该判断模块判断连接有设备的PCIE插槽测试通过;当该模拟设备移出模块侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息或该模拟设备插入模块侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与该信息获取模块存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息不一致时,该判断模块判断连接有设备的PCIE插槽测试失败。
3.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,还包括一显示模块和一插槽选择模块,该显示模块用于显示各连接有设备PCIE插槽的总线接口信息和各连接设备的相关信息,该插槽选择模块用于响应用户的输入从该设备侦测模块所侦测的连接有设备的PCIE插槽中选择需要测试的PCIE插槽,该模拟设备移出模块模拟实现让该插槽选择模块选择的PCIE插槽上连接的设备断开移出。
4.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,每一连接设备相应的配置空间还包括插槽状态寄存器的侦测状态位信息,该设备侦测模块通过读取主板给连接PCIE插槽的设备分配的配置空间中的插槽状态寄存器的侦测状态位判断PCIE插槽上是否有连接设备。
5.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,每一连接设备相应的配置空间还包括三个中断源、每一中断源的寄存器值、及控制寄存器的电源控制器的控制位信息,该模拟设备移出模块通过连接设备的PCIE插槽的总线接口信息和连接设备的相关信息读取相应设备配置空间中的三个中断源,修改各个中断源的寄存器值,使三个中断源的中断被屏蔽掉,同时修改相应设备配置空间中的控制寄存器的电源控制器的控制位让该PCIE插槽处于断电状态,从而实现模拟设备被移出。
6.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,每一连接设备相应的配置空间还包括三个中断源、每一中断源的寄存器值、及控制寄存器的电源控制器的控制位信息,该模拟设备插入模块通过连接设备的PCIE插槽的总线接口信息和连接设备的相关信息读取相应设备配置空间中的三个中断源,修改各个中断源的寄存器值来打开该中断源,同时修改相应设备配置空间中的控制寄存器的电源控制器的控制位给该PCIE插槽上电,从而实现模拟设备被插入。
7.一种测试装置测试PCIE插槽的方法,该测试装置用于通过模拟拔插PCIE插槽上的连接设备测试主板上的该PCIE插槽,该主板的存储空间存储有各个PCIE插槽的总线接口信息,当一PCIE设备插入连接一PCIE插槽时,该主板根据PCIE规范给该PCIE设备分配一配置空间,该配置空间包括相应连接设备的相关信息,其特征在于,该方法包括步骤:
侦测到主板上连接有设备的PCIE插槽;
从主板的存储空间中获取连接有设备的该PCIE插槽的总线接口信息和从该连接设备相应的配置空间中获取该连接设备的相关信息及存储该所获取的信息;
模拟实现让PCIE插槽上连接的设备断开移出及侦测连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息;
模拟实现让已经被该设备移出模块移出的设备再次插入到PCIE插槽及侦测连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息;及
分别获取在模拟设备移出侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息以及模拟设备插入时侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息进行比较,该模拟移出的信息包括连接该模拟移出设备的PCIE插槽的总线接口信息和该模拟移出设备的相关信息,根据比较情况判断连接有设备的PCIE插槽的测试结果。
8.根据权利要求7所述的测试装置测试PCIE插槽的方法,其特征在于,步骤“分别获取在模拟设备移出侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息以及模拟设备插入时侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息比较判断,根据比较情况判断连接有设备的PCIE插槽的测试结果”包括:
如果在模拟设备移出侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息以及模拟设备插入时侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与该信息获取模块存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息都一致,判断连接有设备的PCIE插槽测试通过;及
如果在模拟设备移出侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息或模拟设备插入时侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息不一致,判断连接有设备的PCIE插槽测试失败。
9.根据权利要求7所述的测试装置测试PCIE插槽的方法,其特征在于,在步骤“模拟实现让PCIE插槽上连接的设备断开移出及侦测连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息”之前还包括步骤:
显示各连接有设备PCIE插槽的总线接口信息和各连接设备的相关信息;及
响应用户的输入从该设备侦测模块所侦测的连接有设备的PCIE插槽中选择需要测试的PCIE插槽。
10.根据权利要求7所述的测试装置测试PCIE插槽的方法,其特征在于,每一连接设备相应的配置空间还包括插槽状态寄存器的侦测状态位信息,步骤“侦测主板上连接有设备的PCIE插槽”具体为:通过读取主板给连接PCIE插槽的设备分配的配置空间中的插槽状态寄存器的侦测状态位判断PCIE插槽上是否有连接设备。
11.根据权利要求7所述的测试装置测试PCIE插槽的方法,其特征在于,每一连接设备相应的配置空间还包括三个中断源、每一中断源的寄存器值、及控制寄存器的电源控制器的控制位信息,步骤“模拟实现让PCIE插槽上连接的设备断开移出”具体为:通过连接设备的PCIE插槽的总线接口信息和连接设备的相关信息读取相应设备配置空间中的三个中断源,修改各个中断源的寄存器值来打开该中断源,同时修改相应设备配置空间中的控制寄存器的电源控制器的控制位给该PCIE插槽上电,从而实现模拟设备被插入。
12.根据权利要求7所述的测试装置测试PCIE插槽的方法,其特征在于,每一连接设备相应的配置空间还包括三个中断源、每一中断源的寄存器值、及控制寄存器的电源控制器的控制位信息,步骤“模拟实现让已经被该设备移出模块移出的设备再次插入到PCIE插槽”具体为:通过连接设备的PCIE插槽的总线接口信息和连接设备的相关信息读取相应设备配置空间中的三个中断源,修改各个中断源的寄存器值来打开该中断源,同时修改相应设备配置空间中的控制寄存器的电源控制器的控制位给该PCIE插槽上电,从而实现模拟设备被插入。
13.一种测试装置,其用于通过模拟拔插PCIE插槽上的连接设备测试主板上的该PCIE插槽,该主板的存储空间存储有测试之前的各个PCIE插槽的总线接口信息和该主板根据PCIE规范给连接PCIE插槽的设备分配的配置空间,该配置空间包括相应连接设备的相关信息,每一连接设备相应的配置空间还包括三个中断源、每一中断源的寄存器值、及控制寄存器的电源控制器的控制位信息,其特征在于,该测试装置包括:
一模拟设备移出模块用于通过连接设备的PCIE插槽的总线接口信息和连接设备的相关信息读取相应设备配置空间中的三个中断源,修改各个中断源的寄存器值,使三个中断源的中断被屏蔽掉,同时修改相应设备配置空间中的控制寄存器的电源控制器的控制位让该PCIE插槽处于断电状态,从而实现模拟设备被移出;
一模拟设备插入模块用于通过连接设备的PCIE插槽的总线接口信息和连接设备的相关信息读取相应设备配置空间中的三个中断源,修改各个中断源的寄存器值来打开该中断源,同时修改相应设备配置空间中的控制寄存器的电源控制器的控制位给该PCIE插槽上电,从而实现模拟设备被插入;及
一判断模块用于分别获取模拟设备移出模块模拟移出和模拟设备插入模块模拟插入测试后的信息和测试前的信息进行比较,根据比较情况判断连接有设备的PCIE插槽的测试结果。
14.根据权利要求13所述的测试装置,其特征在于,当该模拟设备移出模块侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息以及该模拟设备插入模块侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与测试之前存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息都一致时,该判断模块判断连接有设备的PCIE插槽测试通过;当该模拟设备移出模块侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息加上该模拟移出的信息或该模拟设备插入模块侦测的连接有设备的PCIE插槽的总线接口信息和该连接设备的相关信息与测试之前存储的PCIE插槽的总线接口信息和设备的相关信息不一致时,该判断模块判断连接有设备的PCIE插槽测试失败。
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