CN103245276B - 一种轴承轴向游隙的测量方法 - Google Patents
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Abstract
一种轴承轴向游隙的测量方法,该测量方法涉及到一套测量装置,所述测量装置包含上外压盘(3)、上内压盘(4)、下内垫盘(5)、下外垫盘(6)以及千分表(7),上外压盘与下外垫盘之间放置外圈(1),上内压盘与下内垫盘放置内圈(2),在上内压盘的压力下内圈相对外圈达到最大轴向位移,此时千分表依靠自身弹力将其测头抵在上内压盘的上端面,从三个千分表的读数盘上分别读出第一测值、第二测值和第三测值,第一测值、第二测值和第三测值的算术平均值就是被测轴承的轴向游隙,该轴向游隙就是最大轴向位移,测量准确度较高,测量方法简便可行,尤其适用于批量被测轴承轴向游隙的测量,测量速度快,测量标准统一。
Description
技术领域
本发明属于轴承测量技术领域,尤其涉及到一种轴承轴向游隙的测量方法。
背景技术
轴承轴向游隙的测量方法已有多种方式,要么测量范围受限,比如轴承的最大外径不能超过φ350mm,要么测量的准确度不高,要么测量的误差较大。
发明内容
为解决上述问题,本发明提供了一种轴承轴向游隙的测量方法,该测量方法不受轴承外径的限制,利用三点测量的算术平均值可以精确测量轴承的轴向游隙,测量的准确度较高,测量方法简便可行。
为实现上述发明目的,本发明采用了如下技术方案:
一种轴承轴向游隙的测量方法,设定:被测轴承外圈的外径为D1,被测轴承外圈的内径为D2,被测轴承内圈的外径为D3;该测量方法涉及到一套测量装置,所述测量装置包含上外压盘、上内压盘、下内垫盘、下外垫盘以及千分表,本发明的特征是:
上外压盘的上端面正中具有凸状内孔且下端面具有下凹环槽,所述凸状内孔的直径设定为d1,所述下凹环槽的深度设定为H1,所述下凹环槽的外径≥所述D1,所述下凹环槽的内径≤所述D2,在上外压盘的上端面对称设置有三个用于安装千分表的安装孔,三个所述安装孔均处于相同直径的同心圆中心线上;上内压盘的上端面正中具有凸圆台阶,所述凸圆台阶的最大直径与所述d1匹配,所述凸圆台阶的最小直径<所述凸圆台阶的最大直径,上内压盘的外径与所述D3匹配,上内压盘外径处的厚度=所述H1;下外垫盘的下端面正中具有凸状锥孔且上端面具有上凹环槽,所述凸状锥孔的最小直径设定为d2,所述上凹环槽的深度、外径以及内径均分别与所述H1、所述D1以及所述D2相匹配;下内垫盘的外径与上内压盘的外径匹配但下内垫盘的厚度与所述H1形成厚度差,所述厚度差>被测轴承的许用轴向游隙,在下内垫盘的下端面正中设置有圆凸台,所述圆凸台的直径≤所述d2;
先将下外垫盘的下端面平放在测量平台上,然后在下外垫盘的所述上凹环槽内放入下内垫盘,注意下内垫盘的所述圆凸台必须套在所述凸状锥孔内,在下外垫盘和下内垫盘的上端面放置被测轴承,注意被测轴承的外圈不能超出下外垫盘的所述上凹环槽之外;
将上内压盘的下端面平放在测量平台上,依靠上外压盘的所述凸状内孔使上内压盘的最大所述凸圆台阶处得到定位,然后在三个所述安装孔处配装并固定三个结构相同的千分表,由于上内压盘外径处的厚度=所述下凹环槽的深度H1,因此上内压盘的上端面与所述下凹环槽的内端面是完全接触的,在此情况下将三个千分表的测头抵在上内压盘的上端面并将三个千分表的读数盘统一调整到零位,将上内压盘、上外压盘以及三个千分表配装在一起的联接结构称其为组测件;
将所述组测件移至被测轴承的上方,由于外圈宽度=内圈宽度说明被测轴承在垂直状态时其外圈两端面平行与内圈两端面,且由于上外压盘3压在外圈端面并限定外圈1不能超出上外压盘3的所述下凹环槽之外,因此,虽然被测轴承的内圈2在平放时相对外圈1产生向下微量轴向位移,此时千分表依靠自身弹力将其测头抵在上内压盘的上端面,从三个千分表的读数盘上分别读出第一测值、第二测值和第三测值,第一测值、第二测值和第三测值的算术平均值就是被测轴承的轴向游隙,该轴向游隙就是上述所述最大轴向位移。
由于采用如上所述技术方案,本发明具有如下优越性:
1、本发明不受被测轴承外径的限制,利用三点测量的算术平均值可以精确计算出被测轴承的轴向游隙,测量的准确度较高,测量方法简便可行。
2、本发明尤其适用于批量被测轴承轴向游隙的测量,测量速度快,测量标准统一。
3、三个千分表分布在一个同心圆上,三个测值具有代表性,三个测值的算术平均值更能表达被测轴承的轴向游隙,测量精度较高。
附图说明
图1是本发明测量轴承轴向游隙的方法示意简图。
图2是图1的俯视图。
上述图中:1-外圈;2-内圈;3-上外压盘;4-上内压盘;5-下内垫盘;6-下外垫盘;7-千分表。
具体实施方式
本发明是一种轴承轴向游隙的测量方法,该测量方法不受被测轴承外径的限制,利用三点测量的算术平均值可以精确计算出被测轴承的轴向游隙,测量的准确度较高,测量方法简便可行。
首先设定:被测轴承外圈的外径为D1,被测轴承外圈的内径为D2,被测轴承内圈的外径为D3,外圈宽度=内圈宽度。
结合图1-2,本发明的测量方法涉及到一套测量装置,所述测量装置包含上外压盘3、上内压盘4、下内垫盘5、下外垫盘6以及千分表7。
通过下面的实施例可以更详细的解释本发明,本发明并不局限于下面的实施例,公开本发明的目的旨在保护本发明范围内的一切变化和改进。
本发明的特征是:
上外压盘3的上端面正中具有凸状内孔且下端面具有下凹环槽,所述凸状内孔的直径设定为d1,所述下凹环槽的深度设定为H1,所述下凹环槽的外径≥所述D1,所述下凹环槽的内径≤所述D2,在上外压盘3的上端面对称设置有三个用于安装千分表7的安装孔,三个所述安装孔均处于相同直径的同心圆中心线上。三个千分表7分布在一个同心圆上,三个测值就具有代表性,三个测值的算术平均值更能表达被测轴承的轴向游隙,测量精度较高。
上内压盘4的上端面正中具有凸圆台阶,所述凸圆台阶的最大直径与所述d1匹配,所述凸圆台阶的最小直径<所述凸圆台阶的最大直径,上内压盘4的外径与所述D3匹配,上内压盘外径处的厚度=所述H1。上内压盘4依靠自身重量对被测轴承内圈2施加轴向压力,如果上内压盘4的自身重量不足以使被测轴承产生最大轴向位移,可借助外力对所述凸圆台阶施加向下的压力,借助的外力加上上内压盘4的自身重量不能超过被测轴承的许用轴向力。
下外垫盘6的下端面正中具有凸状锥孔且上端面具有上凹环槽,所述凸状锥孔的最小直径设定为d2,所述上凹环槽的深度、外径以及内径均分别与所述H1、所述D1以及所述D2相匹配。
下内垫盘5的外径与上内压盘4的外径匹配但下内垫盘5的厚度与所述H1形成厚度差,所述厚度差>被测轴承的许用轴向游隙,注意所述厚度差一定要>被测轴承的许用轴向游隙,否则就不能测量出被测轴承的轴向游隙,在下内垫盘5的下端面正中设置有圆凸台,所述圆凸台的直径≤所述d2。
先将下外垫盘6的下端面平放在测量平台上,然后在下外垫盘6的所述上凹环槽内放入下内垫盘5,注意下内垫盘5的所述圆凸台必须套在所述凸状锥孔内,在下外垫盘6和下内垫盘5的上端面放置被测轴承,注意被测轴承的外圈1不能超出下外垫盘6的所述上凹环槽之外。
将上内压盘4的下端面平放在测量平台上,依靠上外压盘3的所述凸状内孔使上内压盘4的最大所述凸圆台阶处得到定位,然后在三个所述安装孔处配装并固定三个结构相同的千分表7,由于上内压盘4外径处的厚度=所述下凹环槽的深度H1,因此上内压盘的上端面与所述下凹环槽的内端面是完全接触的,在此情况下将三个千分表7的测头抵在上内压盘4的上端面并将三个千分表7的读数盘统一调整到零位,将上内压盘4、上外压盘3以及三个千分表7配装在一起的联接结构称其为组测件。
将所述组测件移至被测轴承的上方,由于外圈宽度=内圈宽度说明被测轴承在垂直状态时其外圈两端面平行与内圈两端面,且由于上外压盘3压在外圈端面并限定外圈1不能超出上外压盘3的所述下凹环槽之外,因此,虽然被测轴承的内圈2在平放时相对外圈1产生向下微量轴向位移,但在上内压盘4的压力下内圈2相对外圈1达到最大轴向位移,注意所述压力或为上内压盘4的自身重量,或为借助的外力+上内压盘4的自身重量。此时千分表7依靠自身弹力将其测头抵在上内压盘4的上端面,从三个千分表7的读数盘上分别读出第一测值、第二测值和第三测值,第一测值、第二测值和第三测值的算术平均值就是被测轴承的轴向游隙,该轴向游隙就是上述所述最大轴向位移。上述上内压盘4的压力或为上内压盘4的自身重量。
从上述可以看出:本发明尤其适用于批量被测轴承轴向游隙的测量,测量速度快,测量标准统一。
为了公开本发明的目的而在本文中选用的实施例,当前认为是适宜的,但是应了解的是,本发明旨在包括一切属于本构思和本发明范围内的实施例的所有变化和改进。
Claims (1)
1.一种轴承轴向游隙的测量方法,设定:被测轴承外圈(1)的外径为D1,被测轴承外圈(1)的内径为D2,被测轴承内圈(2)的外径为D3,外圈宽度=内圈宽度;该测量方法涉及到一套测量装置,所述测量装置包含上外压盘(3)、上内压盘(4)、下内垫盘(5)、下外垫盘(6)以及千分表(7),其特征是: 上外压盘(3)的上端面正中具有凸状内孔且下端面具有下凹环槽,所述凸状内孔的直径设定为d1,所述下凹环槽的深度设定为H1,所述下凹环槽的外径≥所述D1,所述下凹环槽的内径≤所述D2,在上外压盘(3)的上端面对称设置有三个用于安装千分表的安装孔,三个所述安装孔均处于相同直径的同心圆中心线上;上内压盘(4)的上端面正中具有凸圆台阶,所述凸圆台阶的最大直径与所述d1匹配,所述凸圆台阶的最小直径<所述凸圆台阶的最大直径,上内压盘(4)的外径与所述D3匹配,上内压盘(4)外径处的厚度=所述H1;下外垫盘(6)的下端面正中具有凸状锥孔且上端面具有上凹环槽,所述凸状锥孔的最小直径设定为d2,所述上凹环槽的深度、外径以及内径均分别与所述H1、所述D1以及所述D2相匹配;下内垫盘(5)的外径与上内压盘(4)的外径匹配但下内垫盘(5)的厚度与所述H1形成厚度差,所述厚度差>被测轴承的许用轴向游隙,在下内垫盘(5)的下端面正中设置有圆凸台,所述圆凸台的直径≤所述d2;先将下外垫盘(6)的下端面平放在测量平台上,然后在下外垫盘(6)的所述上凹环槽内放入下内垫盘(5),注意下内垫盘(5)的所述圆凸台必须套在所述凸状锥孔内,在下外垫盘(6)和下内垫盘(5)的上端面放置被测轴承,注意被测轴承的外圈(1)不能超出下外垫盘(6)的所述上凹环槽之外;将上内压盘(4)的下端面平放在测量平台上,依靠上外压盘(3)的所述凸状内孔使上内压盘(4)的最大所述凸圆台阶处得到定位,然后在三个所述安装孔处配装并固定三个结构相同的千分表(7),由于上内压盘(4)外径处的厚度=所述下凹环槽的深度H1,因此上内压盘(4)的上端面与所述下凹环槽的内端面是完全接触的,在此情况下将三个千分表(7)的测头抵在上内压盘(4)的上端面并将三个千分表(7)的读数盘统一调整到零位,将上内压盘(4)、上外压盘(3)以及三个千分表(7)配装在一起的联接结构称其为组测件;将所述组测件移至被测轴承的上方,由于外圈宽度=内圈宽度说明被测轴承在垂直状态时其外圈两端面平行与内圈两端面,且由于上外压盘(3)压在外圈端面并限定外圈(1)不能超出上外压盘(3)的所述下凹环槽之外,因此,虽然被测轴承的内圈(2)在平放时相对外圈(1)产生向下微量轴向位移,此时千分表(7)依靠自身弹力将其测头抵在上内压盘(4)的上端面,从三个千分表(7)的读数盘上分别读出第一测值、第二测值和第三测值,第一测值、第二测值和第三测值的算术平均值就是被测轴承的轴向游隙,该轴向游隙就是上述所述最大轴向位移。
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