CN103152109A - 用于无线装置的测试台以及其校准方法 - Google Patents

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CN103152109A CN2012105215195A CN201210521519A CN103152109A CN 103152109 A CN103152109 A CN 103152109A CN 2012105215195 A CN2012105215195 A CN 2012105215195A CN 201210521519 A CN201210521519 A CN 201210521519A CN 103152109 A CN103152109 A CN 103152109A
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Abstract

一种用于无线装置的测试台以及所述测试台的校准方法。所述测试台包括信号发生器、校准器、具有接收和发射天线的扫描仪、信号分析器以及计算机。在计算机的指导下，信号发生器根据可编程校准信号脚本生成校准信号。所述校准器可用于仿真传输模式下的无线装置，方法是将所述校准信号传输到所述扫描仪以供信号分析器进行分析，或者可用于仿真接收模式的无线装置，方法是从所述扫描仪接收所述校准信号以供信号分析器进行分析。校准所述测试台的操作的方法是将校准信号脚本规定的与信号分析器的测量的校准信号的信号参数相关联。

Description

用于无线装置的测试台以及其校准方法
技术领域
本发明涉及一种用于无线装置的测试台，以及一种用于对其进行校准的方法。
背景技术
在制造传输和/或接收射频(RF)信号的无线装置(例如，蜂窝式电话)的过程中，在生产线上的指定测试台上对无线装置进行测试，以确保装置满足传输或接收功能相关的性能参数。用于无线装置的传统测试台具有固定装置，这些固定装置经配置以在测试过程中将受测装置(DUT)固定在特定位置，而探针将与DUT建立一个或多个传播(有线)物理连接。合格的装置将被接受并继续组装，不合格装置将被拒绝并进行维修。在合格和不合格边缘的装置可能被重新测试一次或两次，以确认它们是否合格。为了最大化制造效率和盈利性，理想情况下，测试应占用尽可能少的时间。这对原创设计制造商(ODM)尤为重要，因为他们的盈利与优化生产时间有关。
具有公知的传输或接收性能，通常称为黄金单元(GU)的参考无线装置，可用于校准并验证测试台的校准。GU也可用于确认DUT的测试结果，或者确定DUT测试结果存在偏差。例如，如果两个或更多连续DUT未通过测试，那么可用GU测试并比较测试结果，以发现DUT生产过程中的问题，例如，DUT中具有存在故障的部件或者测试台的测试不够准确。为了更多层次且更为透彻地验证测试台的校准，可采用一些不同标准的GU的组合，例如“刚刚合格”的GU(即，持续通过测试的刚刚在可接受范围的单元)以及“刚刚不合格”的黄金单元(即，持续通不过测试的刚刚在不可接受的范围的单元)。
由于无线装置的传统测试台需要与DUT建立传导连接，且还需使用到GU，因此存在若干潜在缺点。在测试台与DUT或GU之间的物理连接通常需要对传统测试台定制相关的固定装置和探针，因此仅限于特定的DUT类型(例如，特定品牌和型号的蜂窝式电话)或GU。此外，DUT或GU可能需要通过机械导向器来精确地定位在测试台内。因此，构建特定DUT类型专用的测试台，以及对不同的DUT类型重新构造测试台都需要大量精力、时间和金钱。此外，新测试固定装置和相关软件可能需要安装在旧测试固定装置的适当位置，并且需要接受检测和校准。快速测试具有多个输入端/多个输出端的MIMO DUT可能极为复杂。DUT或GU的物理连接和断开连接会导致测试台和DUT或GU都受到磨损。最后，难以制造许多GU，并将它们维持在理想的性能水平。尤其难以制造和维护“刚刚合格”或“刚刚不合格”的GU来分别验证在合格和不合格边缘的校准。
因此，所属领域需要开发涉及能够缓解现有技术缺点的测试台的校准的系统和方法。优选地，这种系统和方法将免去在测试台与DUT之间建立传导物理连接以及使用专用GU的需要。
发明内容
一方面，本发明提供一种测试台校准方法，所述测试台用于测试传输模式下的无线装置，所述测试台包括接收天线、具有校准器天线的校准器、信号发生器，以及信号分析器，所述方法包括以下步骤：
(a)提供信号通道，所述信号通道包括：从所述信号发生器到所述校准器天线的传导通道，从所述校准器天线到所述接收天线的无线通道，以及从所述扫描仪天线到所述信号分析器的传导通道；
(b)提供校准信号脚本编码，用于所述校准器天线处具有目标传输功率电平的校准信号的；
(c)使用所述信号发生器来生成通过所述信号通道的校准信号；
(d)使用信号分析器来测量所述校准信号的功率电平；以及
(e)将所述校准信号的目标传输功率电平与所述校准信号的所测量功率电平相关联。
在一具体实施例中，所述校准信号脚本还规定了校准信号的一个或多个以下参数：频率；调制和数据速率；误差矢量幅值；频谱掩模和均匀性；占有带宽；相位噪声；I-Q不平衡；时钟频率偏移；中心频率泄漏；或定序。
另一方面，本发明提供一种测试台，用于测试传输模式下的无线装置，所述测试台包括：
(a)信号发生器，用于生成传导校准信号；
(b)校准器，包括至少一个校准器天线，所述校准器天线与所述信号发生器传导连接，以无线传输所述校准信号；
(c)接收天线，用于无线接收所述校准信号；
(d)信号分析器，与所述接收天线传导连接，以接收并测量所述校准信号的功率电平；
(e)计算机，包括：
(i)存储器，用于存储校准信号文件编码，以及实施本发明方法的程序指令集，所述校准信号文件编码用于所述校准器天线处具有目标传输功率电平的校准信号；
(ii)处理器，所述处理器可操作地连接到所述存储器、所述信号发生器；以及所述信号分析器，所述处理器配置为可执行所述程序指令集。
在一实施例中，所述校准器还包括用于保护所述校准器天线的外壳，其经由校准器信号通道与所述信号发生器传导连接，其中所述校准器信号通道包括：
(a)可选择性地与所述信号分析器传导连接的端口；
(b)校准器天线开关，用于选择性地将所述校准器天线与所述校准器信号通道相连接以及将所述端口与所述校准器信号通道断开，或者断开所述校准器天线与所述校准器信号通道的连接并将所述端口连接到所述校准器信号通道。
另一方面，本发明提供一种测试台校准方法，所述测试台用于测试接收模式下的无线装置，所述测试台包括发射天线，具有校准器天线的校准器，信号发生器，以及信号分析器，所述方法包括以下步骤：
(a)提供信号通道，所述信号通道包括从所述发生器到所述扫描仪天线的传导通道，从所述发射天线到所述校准器天线的无线通道，以及从所述校准器天线到所述信号分析器的传导通道；
(b)提供校准信号脚本编码，用于所述信号分析器处具有目标接收功率电平和相应目标BER的校准信号；
(c)使用信号发生器来生成通过所述信号通道的校准信号；
(d)将所述信号分析器处接收到的校准信号的功率电平设置成目标接收功率电平；
(e)测量在所述信号分析器处接收到的校准信号的BER；
(f)必要时，改变由所述信号发生器生成的校准信号的功率电平，以使所测量的BER向目标BER会聚；
(g)将目标接收功率电平和目标BER与由信号发生器生成的校准信号功率电平相关连，其中在所述信号发生器处，所测量的BER向目标BER会聚。
再一方面，本发明提供一种测试台，用于测试接收模式下的无线装置，所述测试台包括：
(a)用于生成传导校准信号的信号发生器；
(b)发射天线，与所述信号发生器传导连接，以无线传输所述校准信号；
(c)校准器，包括至少一个校准器天线，用于无线接收所述校准信号；
(d)信号分析器，所述信号分析器与所述校准器天线传导连接，以接收和测量所述校准信号的功率电平；
(e)发生器信号振幅改变装置，所述装置可操作地连接到所述信号发生器，以改变由所述信号发生器生成的校准信号的幅度；
(f)分析器信号振幅改变装置，所述装置可操作地连接到所述信号分析器，以设置由所述信号分析器接收的校准信号的振幅；
(g)BER测量装置，所述装置可操作地连接到所述信号分析器，以测量由所述信号分析器接收的校准信号的BER；
(h)计算机，包括：
(i)存储器，用于存储所校准信号文件编码，以及实施权利要求10所述方法的程序指令集，其中所述校准信号文件编码用于所述信号分析器处具有目标接收功率电平和相应目标BER的校准信号；
(ii)处理器，所述处理器可操作地连接到所述存储器、所述信号发生器、所述信号分析器、所述发生器信号振幅改变装置、所述分析器信号振幅改变装置以及所述BER测量装置，所述处理器配置为可执行所述程序指令集。
附图说明
附图中，类似的元件具有类似的参考标号。附图不一定按比例绘制，重点在于体现本发明的原理。此外，示出的每项实施例仅代表使用本发明基本概念的若干可能的布置方式中的一种。附图中：
图1A示出了本发明测试台的一实施例的示意图。
图1B示出了图1A所示测试台的实施例的物理实施方案。
图2示出了一种使用本发明测试台来测试DUT的方法的一实施例的流程示意图。
图3A示出了本发明校准器的一实施例的示意图。
图3B示出了图1B所示测试台的示意图，其中校准器用作GU仿真器。
图4示出了本发明校准方法的一实施例的流程示意图，所述方法用于针对传输模式下的DUT，校准本发明的测试台。
图5示出了本发明测试台的一实施例的电路示意图，该实施例用于针对温度影响校准测试台。
图6示出了一种校准方法的一实施例的流程图，所述方法用于针对温度影响校准如图5所示测试台。
图7示出了本发明测试台的一实施例的电路示意图，该实施例用于针对温度影响校准测试台。
图8示出了一种校准方法的一实施例的流程图，该方法用于针对温度影响校准如图7所示测试台。
图9示出了一种用于准备校准信号文件的方法的流程图。
图10示出了本发明校准器的一实施例的自动检测电路的电路示意图。
图11A到11D示出了用于校准本发明一实施例的测试台的方法的一实施例的流程图。
图12示出了本发明测试台的自我校准计算的实例。
图13A到13K示出了多幅电路示意图和随附的校准计算实例，用于针对因电缆插入影响而造成的信号功率损耗来校准本发明的测试台。
图14A到14E示出了多幅电路示意图和随附的校准计算实例，用于针对传导信号损耗而校准本发明的测试台。
图15A到15C示出了在使用GU校准时，测试台的一实施例的电路示意图。
具体实施方式
本发明涉及一种用于校准无线装置的测试台的系统和方法。在描述本发明时，本专利申请文件未定义的所有术语都采用所属领域认可的常规意义。
以下描述的是关于本发明的特定实施例或特定用途，它们仅作说明之用，不限制权利要求所定义的本发明的范围。以下说明意图涵盖包括在由随附权利要求书定义的本发明的精神和范围内的所有替代形式、修改形式和等效形式。
本专利申请文件所用术语“无线装置”是指以电磁辐射方式传输、接收或既传输也接收信号的任何装置(无论功率和范围多少)。无线装置可以采用各种配置和协议，例如，但不限于，蜂窝式电话、WiFi、WiMax、蓝牙、Zigbee等。在一实施例中，无线装置包括同时具有蓝牙和WiFi天线的蜂窝式电话。
本专利申请文件“受测装置”或“DUT”是指无线装置，其无线传输或接收功能，或这两项功能，正在接受无线装置测试台的测试。
本发明的一个方面提供一种包括无线校准器的测试台。图1A和图1B示出本发明的测试台(5)的实施例，下文将对其进行描述。测试台(5)包括扫描仪(10)、输入/输出模块(12)、测试模块(14)、运行测试软件的计算机(15)、校准器(16)，以及可选的温度传感器(未图示)。其中扫描仪(10)包括接收和/或发射天线，或多个接收和/或发射天线组成的阵列。
扫描仪(10)的天线检测由DUTs、GUs或校准器(16)发出的无线信号。在一实施例中，扫描仪(10)包括传输并检测无线信号的天线探针阵列(101)、连接到RF输入/输出端口(103)的RF开关(102)、用于接收天线探针阵列(101)检测到的信号的接收器(104)，以及通过USB接口连接到计算机(15)的数据控制模块(105)。天线探针(101)可以发射由计算机(15)或由测试模块(14)生成的无线信号。扫描仪(10)可以封入能抵挡电磁辐射的防护箱或防护室(11)中，但是防护箱或防护室并不是必要的，例如，如果外部电磁辐射水平足够低，因此不会影响任何测试结果时即可不配备。在一实施例中，扫描仪(10)是近场扫描仪(10)，例如，作为非限制性例子，本申请人的发明名称为“多信道无吸收近场测量系统(Multichannel Absorberless NearField Measurement System)”的7,672,640号美国专利和共同待审的2007/0285322号专利申请中描述的近场扫描仪，该专利和专利申请的全部内容都在许可的情况下以引用方式并入本专利申请文件中。
输入/输出模块(12)用作测试模块(14)与扫描仪(10)之间，以及测试模块(14)与校准器(16)之间的传导信号接口。在一实施例中，如图1A和1B所示，这些传导信号通过测试模块(14)与输入/输出模块(12)之间的共轴电缆#2和#3以及SMA连接器，以及测试模块(14)与校准器(16)之间的共轴电缆#1和SMA连接器传输。电缆#1、#2和#3可以由一个电缆或串联的若干电缆制成。输入/输出模块(12)优选地包括一个或多个低噪声、低失真功率放大器(A1)，以便扫描仪(10)或校准器(16)能够以与DUT相当的电平来发出无线信号(如下所述)。
测试模块(14)包括用于生成传导信号的信号发生器以及用于接收传导信号的信号分析器。测试模块(14)可操作地经由标准USB连接到计算机(15)。测试模块(14)可以包括装置，例如，作为非限制性例子，LitePoint IQ2010TM测试仪(LitePoint公司，加利福尼亚州，美国)，该测试仪具有用于信号发生器的矢量信号发生器(VSG)以及用于信号分析器的矢量信号分析器(VSA)。典型的VSA通过功率电平、误差矢量幅值(EVM)、占有的带宽(OBW)、频谱掩模、剩余中心频率泄漏，副载波、频率偏移等参数，以及所属领域技术人员已知的参数等来分析信号的物理层完整性。
计算机(15)具有用于存储校准和测试软件以及校准软件脚本的存储器，还具有用于执行校准和测试软件的处理器。计算机(15)可操作地连接到VSG、VSA、扫描仪(10)，并且可通过USB接口进一步连接到校准器(16)。
校准器(16)可以通过在计算机(15)的指导下，将由VSG生成的无线信号传输到扫描仪(10)以传导传输到VSA来仿真传输模式下的GU。或者，校准器(16)可以通过在计算机(15)的指导下，从扫描仪(10)接收由VSG生成的无线信号来仿真接收模式下的GU。校准器(16)可与系统一起(在部件的技术限制之内)用于仿真任何标准(例如，“好”、“坏”、“刚刚合格”、或者“刚刚不合格”等)任何类型的DU或GU，因为由校准器(16)传输或接收的信号均是由VSG根据计算机(15)的指导下生成的，并且信号参数可以依据用户的意愿进行编程。
图3A示出了校准器(16)的一实施例的示意图。校准器(16)包括可以经由端口P4通过印刷电路板与输入/输出模块(12)传导连接的校准器天线(160)。校准器天线(160)以不同频率传输和接收无线信号。例如，频率可以包括WLAN2.4和5GHz带以及802.11b、g、a和n，具有20MHz和40MHz的带宽。在一实施例中，校准器天线(160)是双频带天线(160)。双频带天线(160)优选是平衡天线，其不易受附近的地平面、部件和拾音器噪声的影响，并且比单频带天线更加全方位。校准器(16)可进一步包括的端口P6、开关SW6、USB接口(164)、校准器存储器(166)和指示器(168)。端口P6可以选择性地经由端口P5连接到输入/输出模块(12或与输入/输出模块(12)断开连接。在计算机(15)的指导下，USB接口(164)选择性地切换开关SW6，以将校准器天线(160)或端口P6传导连接到端口P4。USB接口(164)也控制指示器(168)，以显示校准器的连接状态(例如，端口P6是否连接到端口P5)以及校准器(16)的信号传输状态(例如，校准器(16)是否正在传输或接收无线信号)。在一实施例中，指示器(168)是多色LED。存储器(166)可用于存储用于控制文本的软件指令集，用于校准系统的信号参数，以及用于选择合适校准文件并避免混淆的唯一标示符。
图3B示出了经由共轴电缆#1与输入/输出模块(12)物理相连的校准器(16)的一实施例。校准器可包括包封校准器天线(16)的塑料盒，大小大约等于典型蜂窝式电话的大小。天线(16)在盒内的位置可以在盒外标注，以便于将校准器(16)正确放置在扫描仪(10)上。优选地，校准器(16)保持连接，以便测试台(5)即使是在生产过程中也可快速且方便地校准，而不会导致测试台(5)出现额外磨损。
在一实施例中，系统还包括温度传感器(未图示)，其可操作地连接到计算机，用于监视系统(5)部件的温度变化，这些部件的性能均有受到温度变化的影响。可通过在测试台(5)的不同区域分别安置温度传感器来获得更多层次(more granularity)。
现在将参考图5所示的系统实施例，以示例方式来描述测试台(5)的使用和操作的一实施例，以及以下阶段：
阶段A：准备校准信号文件；
阶段B：测试模块(14)的自我校准(可选)；
阶段C：测试台(5)针对电缆插入损耗和传导损耗进行校准；
阶段D：测试台(5)针对传输和接收模式下的DUT校准合并的传导和无线信号损耗；
阶段E：测试台(5)针对温度影响进行校准(可选)；
阶段F：测试台(5)利用GU进行校准(可选)；
阶段G：测试台(5)将校准器(16)用作仿真器来校准(可选)；以及
阶段H：DUT测试。
下述例子仅供说明本发明示例性实施例，而不对权利要求所定义的本发明构成限制。
阶段A：准备校准信号脚本。校准信号脚本对关于即将在后续校准阶段中生成的校准信号的信号参数的信息进行编码。图9示出了准备校准信号脚本的示例性过程。校准信号脚本可以电子表格的形式手动或自动生成，然后存储在计算机(15)的存储器或校准器(16)的存储器(166)中。例如，如下进一步所述，当校准器(16)用于仿真传输模式下的GU时，校准脚本可以含有关于将由校准器天线(16)发射的校准信号的功率电平的信息。当校准器(16)用于仿真接收模式下的GU时，校准脚本可以含有关于GU的目标BER的目标灵敏度级别的信息。可以编码的其他信号参数包括：(a)单位频率的传输电平；(b)调制和数据速率；(c)用误差矢量幅值(EVM)参数衡量的相关信号完整性；(d)频率掩模和均匀性；(e)占有的带宽(OBW)；(f)相位噪声和IQ不平衡；(g)时钟频率偏移；以及(h)中心频率泄漏。校准脚本文件也可以对关于以下内容的信息进行编码：DUT或DUT型的测试安装；标识号；软件版本；WLAN芯片集驱动器版本；日期；与扫描仪板之间的距离。
一旦校准信号脚本已准备就绪，校准流程就可以继续。图11A到11D示出了用于图5所示测试台(5)的实施例的校准流程的一实施例。校准流程从计算机(15)读取准备的校准信号脚本(步骤1101)开始。在优选实施例中，校准流程对每个DUT类型执行一次，且硬件和电缆的手动处理最少。可以理解的是，所有的校准步骤都可以在计算机(15)的指示下自动进行，以控制各种部件并存储信息，并几乎不需要用户手动处理测试台(5)或执行计算。
阶段B：测试模块(14)的自我校准(可选)。验证测试模块(14)的校准(图11A：步骤1102)。VSG仅使用测试模块(14)内的信号通道与VSA传导连接。VSG根据校准测试脚本生成信号。图12示出了该测试模块自我校准计算的实例。自我校准因数(L列)作为VSG生成的信号的功率电平(J列)与VSA接收到的信号的功率电平(K列)之差来计算。存储自我校准因数，并准备用于后续校准步骤中，具体是将其添加到即将由VSG生成的信号的功率电平中。
步骤C：测试台(5)针对电缆插入损耗进行校准。测试台(5)针对电缆#1、#2和#3的电缆插入损耗进行校准(图11A，步骤1103-1110)。通常，完成校准的方法是按顺序建立从VSG经由电缆到VSA的多条传导信号通道，根据通过这些通道的校准信号脚本，使用VSG生成具有已知功率电平的信号，使用VSA来在信号通道的末端测量信号的功率电平，以及在考虑到其他已功率损耗之后，计算VSG与VSA处信号的功率电平差。如下所述，校准器(16)用于形成传导信号通道的多个部分。
确定电缆#2和电缆#3的合并插入损耗(步骤1103)。计算机(15)切换连接，以建立同时通过电缆#2和#3的信号通道，如图13A中用“x”强调显示。VSG根据校准信号脚本生成信号。该信号由VSA接收，并被测量和临时存储。图13B例示了根据以下公式合并计算电缆#2和#3的电缆插入损耗，IL23m(f)(在所有公式中，变量f是信号的频率)(步骤1110)：
IL23m(f)＝LVSG(f)-LVSA(f)-ILP3-P2(f)  (式1)
其中：
LVSG(f)：由VSG发出的经过编程和校准的信号的电平(dB)
LVSA(f)：由VSA接收的已测量信号的电平(dB)
ILP3-P2(f)：之前在各种频率下测量的从端口P3到P2的插入损耗工厂校准(dB)。
这里，所有电平(L)均以dB给出且指的是毫瓦特(dBm).
接下来，确定电缆#3的大约插入损耗(步骤1104)。计算机(15)切换连接以建立通过电缆#3(但不通过电缆#2)的信号通道，如图13C中用“x”强调示出。VSG根据校准信号脚本生成同过信号通道的信号。信号由扫描仪(10)接收，并被测量并临时存储。图13D例示了如何根据以下公式计算电缆#3的大约插入损耗，IL3m(f)+ε(f)(步骤1110)：
IL3m(f)+ε(f)＝LVSG(f)-LRFxRX(f)  (式2)
其中：
LVSG(f)：由VSG发出的经过编程和校准的信号的电平(dB)；
LRFxRX(f)：由扫描仪(10)接收的测量信号的电平(dB)。
接下来，确定电缆#2的大约插入损耗(步骤1105)。计算机(15)切换连接以建立通过电缆#2(但不通过电缆#3)的信号通道，如图13E中的“x”强调示出。VSG根据校准信号脚本生成通过信号通道的信号。信号由扫描仪(10)接收，并被测量和临时存储。图13F例示了根据以下公式，计算电缆#2的大约插入损耗值，IL2m(f)+ε(f)，(步骤1110)：
IL2m(f)+ε(f)＝LVSG(f)-LRFxRX2m(f)  (等式3)
其中：
LVSG(f)：由VSG发出的经过编程和校准的信号的电平(dB)；
LRFxRX2m(f)：由扫描仪(10)接收的测量信号的电平(dB)。
根据上文确定的值，更准确地计算出IL23m(f)、IL2m(f)+ε(f)和IL3m(f)+ε(f)、电缆#2的插入损耗、ILCable#2(f)以及电缆#3的插入损耗、
ILCable#3(f)，图13G示例通过在“排除”传感器(10)中的任何潜在不精确因
素或频率变化的情况下解以下公式来计算这些值(步骤1110)：
ILCable#3(f)+ILCable#2(f)＝IL23m(f)  (等式4)
Figure BDA00002539442900111
(等式5)
接下来，在准备计算电缆#1的电缆插入损耗期间，校准器(16)经由端口P5和P6连接到输入/输出模块(12)。测试台(5)利用图10所示自动检查电路自动检查校准器(16)是否连接到P5-P6(步骤1107)。
如果校准器(16)已连接，则确定电缆#1的插入损耗(步骤1108)。计算机(15)切换连接以建立通过电缆#1并绕过放大器A3的信号通道，如图13H中的“x”强调示出。VSG根据校准信号脚本生成通过信号通道的信号。该信号在VSA处接收，并被测量并临时存储。图13I例示了根据以下公式来计算电缆#1的插入损耗值，(步骤1110)：
ILCable#1(f)＝LVSG(f)-LVSA(f)-ILP3-P1(f)-ILP5*-P2(f)-ILP4-P6(f)-IL23m(f)
(式6)
其中：
LVSG(f)：由VSG发出的经过编程和校准的信号的电平(dB)；
LVSA(f)：由VSA接收的信号的电平(dB)；
ILP3-P1(f)：从端口P3到P1，输入/输出模块(12)之前测量的插入损耗工厂校准；
ILP5*-P2(f)：从端口P5到P2，输入/输出模块(12)之前测量的插入损耗工厂校准；
ILP4-P6(f)：从端口P4到P6，输入/输出模块(12)之前测量的插入损耗工厂校准(dB)；
IL23m(f)：电缆#3和#2的合并插入损耗(dB)；参见(式1)
最后，确定从端口P3通过放大器A3到端口P1的信号通道传导损耗(步骤1109)。计算机(15)切换连接以建立包括放大器A3且通过电缆#1的信号通道，如图13J中用“x”强调示出。VSG根据校准信号脚本生成通过信号通道的信号。该信号由VSA接收、并被测量并临时存储。图13K例示了根据以下公式计算从端口P3通过放大器A1到端口P1的信号通道的传导损耗，ILP3-P1wPA(f)(步骤1110)：
ILP3-P1wPA(f)＝LVSG(f)-LVSA(f)-ILP5*-P2(f)-ILP4-P6(f)-IL23m(f)-ILCable#1(f)
(式7)
其中
LVSG(f)：由VSG发出的经过编程和校准的信号的电平(dB)；
LVSA(f)：由VSA接收的信号的电平(dB)；
ILP5*-P2(f)：从端口P5到P2，之前测量的输入/输出模块(12)的插入损耗工厂校准(dB)；
ILP4-P5(f)：从端口P4到P6，之前测量的校准器(16)的插入损耗工厂校准(dB)；
IL23m(f)：电缆#3和#2的合并插入损耗(dB)；(参见式1)；
ILCable#1(f)：电缆#1的插入损耗(dB)；(参见式6)。
在图13K所示实例中，插入损耗值为负表明实际上存在插入增益而不是插入损耗，约为28dB。
可以理解，上述电缆校准过程可用于校准任何电缆，无论长度、类型或减损。电缆校准过程自动、迅速且容易地进行，因为完全由软件驱动并且不需要手动处理电缆。此外，可以理解的是，电缆校准过程不需要反复进行。
这是因为校准器(16)和电缆被视作测试台(5)的一部分，并且根本无需与输入/输出模块(12)断开，或者至少不需要像传统测试台一样频繁断开连接。
步骤D：测试台为传输和接收模式的DUT针对合并传导和无线信号损耗进行校准。在DUT处于传输模式以及DUT处于接收模式时，校准测试台(5)的传导信号损耗(图11B，步骤1111-1117)。通常，实现此校准的方法是按顺序从VSG通过VSA构建合适的部分传导和部分无线信号通道，使用VSG根据校准信号脚本生成通过这些通道的具有已知功率电平的信号，使用VSA测量信号通道末端处的信号功率电平，在考虑其他已知功率损耗之后，计算VSG与VSA处的信号功率电平之差。如下所述，校准器(16)用作传输模式和接收模式下的DUT的代理。
在准备这些校准期间，在P5-P6处校准器(16)与输入/输出模块(14)之间的连接被断开，且校准器(16)如图14A所示置于扫描仪(10)上(步骤1111)。计算机(15)切换连接以建立如图14A中“x”强调示出的信号通道。计算机(15)加载自我校准数据文件，将VSG设置成传输模式，并使VSG在合适信道上以最大功率和数据速率生成随机无线数据信号，并由校准器(16)将该信号发送到扫描仪(10)的天线探针阵列(101)，然后将信号传送到VSA(步骤11 12)。扫描仪(10)通过询问天线阵列中的每个天线探针(101)，并选择从校准器接收到强信号的一个探针，来定位校准器(16)的位置(步骤11 13)。扫描仪(10)可以在该过程中根据需要自我校准。
确定传输模式下的DUT与VSA之间的传导和无线信号损耗。计算机(15)切换连接到包括放大器A1的低增益信号通道(但绕过放大器A2)，如图14A所示。VSG根据校准信号脚本生成通过信号通道的信号。该信号被校准器(16)无线传输到扫描仪(10)的天线探针阵列(101)，然后将信号传导到VSA(步骤1114)。图14B例示了根据以下公式计算通过强调的信号通道段从校准器天线(160)，通过放大器A1到端口RF1的合并传导和无线损耗，ILTotwTX(f)(步骤1116)。
ILTotwTX(f)＝LCalibratorTX_EIRP(f)+ILDUT_Ant_Dist(d，f)-LVSA(f)
(式9)
其中
LCalibratorTX_EIRP(f)：校准器(16)发出的信号的准确校准电平(dB)；
其中
LCalibratorTX_EIRP(f)＝LVSG(f)-ILCable#3(f)-ILP3-P1wPA(f)-ILCable#1(f)-ILCalibratorP4-EIRP(f)(dB)
；
LVSG(f)：VSG发出的之前计算的信号(dB)；
ILCable#3(f)：电缆#3之前在各测试脚本频率下测量的插入损耗(dB)参阅(式4)和(式5)；
ILP3-P1wPA(f)：从放大的P3到P1通道，输入/输出模块(12)之前计算的插入损耗；参见(式7)；
ILCable#1(f)：电缆#1之前计算的插入损耗(dB)；参见(式6)；
ILCalibratorP4-EIRP(f)：包括天线(160)的校准器(16)的之前插入损耗工厂校准(dB)；
ILDUT_Ant_Dist(d，f)：之前计算的因DUT天线与扫描仪(10)板分离而产生的损耗(dB)，作为分离d和频率f的函数；
LVSA(f)：由VSA接收的信号的电平(dB)。
可从式9注意到，如果从校准器(16)发出的功率电平LCalibratorTX_EIRP(f)和VSA处接收的信号的功率电平LVSA(f)都准确已知，那么就可以准确地估计ILTotwTX(f)，而无需准确知道接收通道中在校准器(16)与VSA之间的任何损耗，只要这些损耗是可以重复的就可以。这放松了对测试台(5)接收通道中任何部件的要求。
接下来，计算机(15)切换连接以建立图14A所示的高增益信号通道，但也包括与放大器A1串联的放大器A2。VSG根据校准信号脚本生成通过信号通道的信号。该信号被校准器(16)无线传输到扫描仪(10)的天线探针阵列(101)，然后将信号传导到VSA(步骤1115)。图14C例示了根据上面的式9计算信号通道中从扫描仪天线(160)通过放大器A1和A2到端口RF2一段的传导损耗ILTotwTX(f)(步骤1116)。
接下来(图11B中未图示)，确定VSG到接收模式下的DUT之间的传导和无线信号损耗。计算机(15)切换连接以建立如图14D中“x”强调示出的信号通道。VSG根据校准信号脚本生成信号。该信号被天线探针阵列(101)无线传输到校准器(16)，然后将信号传导到VSA。图14E例示了根据以下公式计算强调的信号通道中从端口RF2到校准器天线(160)一段的合并传导和无线损耗ILTotwRX(f)(步骤1116)：
ILTotwRX(f)＝LVSG(f)-ILDUT_Ant_Dist(d，f)-LCalibrarorRX_EIRP(f)(式10)
其中：
LVSG(f)：VSG发出的之前已校准信号(dB)；
ILDUT_Ant_Dist(d，f)：之前计算的因DUT天线与扫描仪(10)板分离而产生的损耗(dB)，作为分离d和频率f的函数；
LCalibratorRX_EIRP(f)：准确计算的校准器(16)检测的信号的电平(dB)；
其中：
LCalibratorRX_EIRP(f)＝
LVSA(f)+ILCable#2(f)+ILP1-P2TX(f)+ILCable#1(f)+ILCalibratorP4-EIRP(f)in(dB)
；
LVSA(f)：VSA接收的信号的电平(dB)。
ILCable#2(f)：电缆#2的插入损耗(dB)；参见(式4)以及(式5)
ILP1-P2TX(f)：输入/输出模块(12)中从端口P1到P2的之前已经过工厂校准的插入损耗(dB)；
ILCable#1(f)：电缆#1的插入损耗(dB)，参见(式6)
ILCalibratorP4-EIRP(f)：校准器(16)(包括天线(160))的之前已经过工厂校准的插入损耗(dB)。
在步骤D结束时，校准器(16)从扫描仪(10)移除，并在端口P5-P6重新连接到输入/输出模块(14)。测试台(5)完全校准并且可用于根据阶段E、F和G的额外校准，或者可以用于根据阶段H的DUT。
阶段E：测试台(5)针对温度影响进行校准(可选)。所属领域的技术人员可以理解的是，测试台(5)中的某些部件，例如图7所示的功率放大器A1、A2、A3，可能随温度的变化而性能有所不同。使用温度校准方法来针对温度影响校准测试台(5)，测试台(5)的准确性可以得到进一步提高。
温度校准过程可以在任何时候进行。在一实施例中，温度校准过程可以在连续DUT测试之间进行，在刚测试过的DUT刚从扫描仪(10)移去，并且另一DUT正在往扫描仪(10)上放时进行。通过这种方式，温度校准过程并不增加DUT测试过程的总时间。
温度校准过程能够在一个信号频率或若干不同信号频率进行。在一实施例中，温度再校准过程在一个信号频率进行，并同一地应用到所有其他频率的信号，假设温度改变的影响不随信号频率而变。在另一实施例中，针对至少两个不同信号频率(例如，2.45GHz、5GHz、5.4GHz和5.8GHz)执行温度再校准过程，以建立温度再校准直线或曲线，这能够建立趋势线，将温度对信号频率的影响外推到这些频率之间的信号频率。在另一实施例中，温度再校准可以在多个频率下进行，例如，在由校准信号脚本编码的信号的每一频率下。
用于校准温度对放大器A3(如图5所出)影响的温度校准过程在图6中示意性介绍。温度传感器监视当前温度T，并由计算机(15)将其与前次温度校准的温度Ti进行比较，Ti可以是工厂校准温度(步骤601)。如果T与Ti之间的差超出阈值T，计算机(15)将检查测试台(5)是否正忙于另一过程(步骤602)。如果测试台(5)不忙，计算机(15)将建立通过放大器A3的信号通道，如图5中的“x”强调示出。VSG根据校准信号脚本生成通过信号通道的信号。该信号通过扫描仪(10)路由，并被计算机(15)接收以用于测量(步骤603)。接下来，测试模块(14)建立信号通道CALc#3，排除放大器A3，如图5中用“y”标注。VSG根据校准信号脚本生成通过信号通道的信号。该信号通过扫描仪(10)路由并被计算机(15)接收以用于测量(步骤604).这些测量的信号电平在指定温度下针对相同频率与预定或预先校准的信号值进行比较(步骤605)。计算机(15)计算以下两项之间的差值做为放大器A3的温度校准因素：所测量的通过包括放大器A3的信号通道传导的信号的功率电平；以及所测量的通不包括放大器A3的信号通道传导的信号的功率电平。该温度校准因数可用于在测试接收模式下的DUT时，调整总无线和传导插入损耗ILTotwRX(f)。
校准温度对放大器A1和A2(如图7所示)影响的温度校准过程图8中示意性的介绍。步骤(801)和(802)与上述步骤(601)和(602)相同。计算机(15)建立通过放大器A3和A1的信号通道，如图7中用“x”标出。VSG根据校准测试脚本生成通过信号通道的信号。该信号由VSA接收，并被测量并临时存储(步骤803)。接下来，计算机(15)建立通过放大器A3，A2和A1的信号通道，如图7中用“x”和“y”标出。VSG根据校准测试脚本生成通过信号通道的信号。该信号由VSA接收，并被测量并临时存储(步骤804)。这些测量的信号电平在给定温度下针对相同频率与预定或预校准信号值进行比较(步骤805)。计算机(15)将放大器A3和A1(共同)，以及A3、A1和A2(共同)的温度校准因数计算成以下两项之差：通过包括特定放大器的通道的信号的测量功率电平；以及通过不包括该特定放大器的通道的信号的测量功率电平。这些温度校准因数可用于在测试传输模式下的DUT时，调整总无线和传导插入损耗，ILTotwTX(f)(步骤806)。
阶段F：用GU校准测试台(5)(可选)。测试台(5)使用GU进行校准(图11C：步骤(1118)到(1123))。
GU置于扫描仪表(10)表面上，GU天线与扫描仪(10)表面上的天线位置标记对准，如图15A所示(步骤1118)。计算机(15)初始化GU；将GU设置成传输模式；以及使GU在适当信道上以最大功率和数据速率传输随机数据(步骤1119)。扫描仪(10)通过询问天线阵列中的每一探险探针(101)，并选择从GU接收强信号的一个探针来定位GU的位置(步骤1120)。软件在系统(10)与GU之间建立无线链路，设置增益，以及将RF开关设置到RF I/O连接器(步骤1121)。
接下来，使用传输模式下的GU对系统(5)进行校准。计算机(15)切换连接以建立如图15B中“x”强调示出的信号通道。GU获得许可在各种频率调制和数据速率下传输信号。信号由扫描仪(10)检测并传导到VSA(步骤1122)。通过确认假定由GU生成的信号的电平LGUTX(f)与VSA测量的信号的电平LGUTX(f)之间的差可以被校准器天线(160)与VSA之间的之前经过校准的传导和无线损耗ILTotwTX(f)抵消，可验证测试台的校准(5)(步骤1123)：
LGUTX(f)-LVSA(f)＝ILTotwTX(f)？(式10)
接下来(图11C中未图示)，使用接收模式下的GU对系统(5)进行校准。计算机(15)切换连接以建立如图15C中“x”和“y”强调示出的信号通道。VSG沿“x”所示的信号通道生成信号。信号由天线探针(101)发出并被GU接收。通过确认VSG生成的信号的电平LVSG(f)与GU报告接收的信号的电平LGURX(f)之间的差可以被VSG与校准器天线之间的之前经过校准的传导和无线损耗ILTotwRX(f)抵消，可验证测试台的校准(5)：
LVSG(f)-LGURX(f)＝ILTotwRW(f)？(式11)
阶段G：将校准器(16)用作GU仿真器校准测试台(5)(可选)。
测试台(5)使用校准器(16)进行校准，以仿真传输模式下的各种标准GU(图11D：步骤(1124)到(1134))。所属领域的技术人员可以理解的是，当DUT制造过程稳定时，DUT的传输功能测试主要涉及验证DUT的部件均已正确焊接组装。但是，当制造过程不稳定时(例如，在试运行或早期生产阶段)，DUT可能受其他问题的影响，例如软件不稳定(DUT或测试程序或驱动器)、部件在DUT内的位置和定向、部件缺失或有故障、DUT印刷电路板的质量问题或设计问题以及时序问题等。前述问题可能导致一个或多个以下信号参数不合规格：(a)每频率传输电平；(B)调制和数据速率；(C)用误差矢量幅值(EVM)参数衡量的相关信号完整性；(d)频谱掩模和均匀性；(e)占有的带宽(OBW)；(f)相位噪声和IQ不平衡；(g)时钟频率偏移；以及(h)中心频率泄漏。不同标准的GU可以通过准备校准信号脚本编码来仿真，该编码用于传输有一个或多个目标信号参数在不同程度上不合规格的信号。表1以非限制实例的方式列出了DUT设计规则的传输信号的参数TXoutGU1和TXoutGU2，针对传输模式下的“好”、“勉强好”以及“坏”GU。通过为VSG准备校准信号脚本，以调整输出电平，从而匹配12.5dBmEIRPresp.9.5dBmEIRP的目标价值，以及通过将EVM从-35dB到-14dBresp.-26dB的固有高线性中释放，校准器(16)可以准确仿真DUT和各种标准的DTU。信号文件可以进一步修改以减小OBW从而降级任何副载波，或者根据需要影响频谱掩模。
Figure BDA00002539442900181
Figure BDA00002539442900191
为了开始校准过程，将校准器(16)置于扫描仪(10)上(步骤1124)。计算机(16)读取校准信号脚本，将测试模块(14)设置成传输模式，使校准器(16)在合适信道上以最大功率和数据速率传输随机数据(步骤1125)。扫描仪(10)通过询问天线阵列中的每个天线探针(101)，并选择从校准器接收强信号的单个探针确定校准器(16)的位置(步骤1126)。系统(5)根据从无线耦合损耗文件读取的增益设置(步骤1128)或者通过基于先前的无线值计算增益设置来调整扫描仪输入/输出模块(12)的增益设置(步骤1129)。
计算机(15)切换连接以建立如图14A中的“x”强调示出的信号通道(步骤1130)。VSG生成通过信号通道的信号，以便校准器天线(160)处的信号具有由针对DUT和各种级别GU的校准信号脚本规定的参数(步骤1131、1132和1133)。在每种情况下，通过确认校准器天线(160)生成的信号的电平LC(f)与VSA测量的信号的电平LVSA(f)之间的差是否可以被校准器天线(160)与VSA之间的之前经过校准的传导和无线损耗ILTotwTX(f)抵消，来验证测试台的校准(5)(步骤1134)：
LC(f)-LVSA(f)＝ILTotwTX(f)？(式12)
可以理解的是，上述关系均通过检测校准器天线(160)处的目标信号电平与VSA处的测量信号电平之间的相关关系来校准测试台(5)，并且验证扫描仪(10)的性能。校准结果可作为校准验证值存储，并且以报告的形式向用户显示。
在图示的测试台(5)的实施例中，校准器(16)用于仿真SISO(即，1个接收器，1个发射器)GU。在其他实施例(未图示)中，校准器(16)可以用于仿真MIMO(即，至少一个接收器以及一个以上发射器，或者一个以上接收器和至少一个发射器)GU装置，方法是将测试台(5)配备具有多个双向放大器的多个VSG单元、多个校准器天线(160)，以及具有一个以上同步耦合通道的无线耦合板的扫描仪(10)。
测试台(5)也使用校准器(16)校准，以仿真接收模式下各种不同标准的GU。对于接收模式下的DUT，常规是通过计算数据包数并计算误码率(BER)来确定其在给定的信道频率、数据速率和接收功率电平下的接收灵敏度。对802.11a/g/n调制，接收功率最小灵敏度被定义成在BER达到包括4096位PSDU(物理层服务数据单元)的帧的10％时的功率电平。对于802.11b，接收功率最小灵敏被定义成在BER达到包括4096位PSDU(物理层服务数据单元)的帧的8％时的功率电平。不同标准的GU可以通过准备校准信号脚本编码来仿真，该脚本编码用于具有指定BER和接收功率电平对的接收信号。表2以非限制实例的方式概述了对应于DUT设计规格的目标接收功率电平和目标BER，并且针对的是在接收模式下的“好”、“勉强好”和“坏”GU。
Figure BDA00002539442900201
Figure BDA00002539442900211
应了解，由于测试信号由VSG在校准信号脚本的控制下生成，因此一个或多个其他信号参数可能受到损害，以更实际地模拟真实条件，DUT需要在这些条件下运行以达到目标BER。例如(非限定性)，VSG生成的信号可能略受减弱，从EVM＝-35dB到EVM＝-15dB。
为了让校准器(16)仿真接收模式下的GU，测试台(5)必须进一步包括BER测量装置，用以测量校准器(16)接收的信号的BER。在一实施例中，BER测量装置包括接收器(例如，但不限于，WLAN接收器)和用于计数BER的BER表。尽管可能，但该实施例不是优选，因为它极为复杂，并且因为芯片集专用(chipset specific)和最小接收灵敏度性能可能随时间和温度改变。在一项替代性实施例中，测试台(5)配备有：BER测量装置，用以测量VSA处的BER；分析器信号幅度改变装置，用于改变VSA处接收的信号的幅度；以及发生器信号幅度改变装置，用以改变由VSG生成的信号的幅度。BER测量装置、分析器信号幅度改变装置以及发生器信号幅度改变装置可具体实现为硬件、软件，或这两者。在一实施例中，BER测量装置和分析器信号幅度改变装置均可以完全由软件实现。例如，可以将不定可控的输入衰减器与VSA一起使用(例如，设在LitePoint IQ2010TM测试仪上(LitePoint，加利福尼亚州，美国))，以改变输入接收电平，并将其设定在目标接收功率电平，从而增大或减小BER。VSA的输入接收电平可以不同于实际装置，但BER条件类似。也可以从仪器背部提取基带信号，并在不添加或改变主要硬件或软件的情况下计算BER。或者，当功率电平比VSA的最小接收功率高出足够多时，信号能够得到改善，所以无论功率电平如何，VSA处都将有特定的BER。
要开始校准过程时，计算机(15)切换连接以建立如图14D中“x”强调示出的信号通道。VSG根据校准信号脚本生成通过信号通道的信号。分析器信号振幅改变装置用于在VSA衰减(或放大)信号，直到信号的功率电平与目标输入接收电平匹配。发生器信号振幅改变装置用于在VSG衰减(或放大)信号，直到由BER测量装置测量的信号的BER与目标BER匹配。记录建立VSA目标BER所需的在VSG生成的信号的功率电平，并将其与目标输入接收电平和该目标BER相关。
阶段H：DUT测试。一旦测试台(5)已得到满意地校准，则可用于测试DUT。测试过程的一实施例如图2所示。DUT(本情况中为WLANDUT)被手动置于扫描仪(10)表面，使DUT天线可以与天线探针阵列(101)相互传输信号(步骤201)。扫描仪(10)的表面上绘制了针对不同DUT的模板布局图，以便于DUT的正确放置。测试台(5)与DUT之间不进行物理连接。往返于DUT的双向通信由无线协议实现。可选地，DUT可以通过电力或数字连接线连接，以提供电力供应和/或实现双向通信。无线或有线模式下的双向通信是指，初始化、开始测试、读取结果等。可对DUT或测试台(5)本身进行初步检查。确保DUT与电源相连，且任何防护箱(11)已关闭(步骤202)。DUT在传输模式下初始化，并且要求在适当信号上以最大功率和数据速率传输随机数据(步骤203)。扫描仪(10)询问天线阵列中的每一个天线探针(101)，并选择从DUT接收强信号的一个探针(步骤204)。如果天线探针阵列(101)无法检测DUT，则打开防护箱，确保DUT位于天线探针阵列(101)中的合适位置(步骤205)。相反，如果天线探针阵列(101)能够检测DUT，则扫描仪(10)建立连到DUT的无线链路；测试台(5)设置增益电平；读取用于测试台(5)和DUT类型的校准文件；如需要的话进行校准；将RF开关设置到RF I/O控制器；并发信号示意扫描仪(10)准备就绪，可用于连续检测任务(步骤206)。然后可以进行标准WLAN检测，其中测试模块(14)向设置的校准添加校准因数；根据DUT芯片集校准DUT传输功能，并检测各种传输和接收速率(步骤207)。如果DUT未通过测试，则可以根据步骤203到207(通道208)重复测试，或者可将DUT从防护箱移除，扫描确认身份并将其分配到“坏”装置箱中(步骤209)。如果DUT通过测试，则将DUT从防护箱移除，扫描确认身份，然后将其分配到“好”装置箱中(步骤210)。
从一种DUT转换到另一种不同类型可通过在测试计算机(15)中切换测试软件来实现。这种测试台(5)可以涵盖大多数单入单出(SISO)WiFi和蓝牙装置的常规测试和校准。在一实施例中，可以测试具有高发射器或弱发射器的任何DUT，从+34dBmEIRP到-22dBmEIRP的DUT(2.4-2.5GHz频带，无论WiFi还是蓝牙)，以及+28dBmEIRP到-13dBmEIRP(5-6GHz频带，802.11a/n)。
对所属领域的技术人员显而易见的是，可在不脱离本专利申请文件中权利要求所限定的本发明范围的情况下，对前述公开内容做各种修改、改变和变化。

Claims (15)

1.一种测试台校准方法，所述测试台用于测试传输模式下的无线装置，所述测试台包括接收天线、具有校准器天线的校准器、信号发生器以及信号分析器，所述方法包括以下步骤：
a、提供信号通道，所述信号通道包括从所述信号发生器到所述校准器天线的传导通道、从所述校准器天线到所述接收天线的无线通道、以及从所述接收天线到所述信号分析器的传导通道；
b、为所述校准器天线处具有目标传输功率电平的校准信号提供校准信号脚本编码；
c、使用所述信号发生器生成通过所述信号通道的所述校准信号；
d、使用所述信号分析器测量所述校准信号的功率电平；以及
e、将所述校准信号的所述目标传输功率电平与所述校准信号的测量功率电平相关联。
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述校准信号脚本额外地指定所述校准信号的一个或多个以下参数：频率、调制和数据速率、误差矢量幅值、频谱掩模和均匀性；占有的带宽、相位噪声；I-Q不平衡；时钟频率偏移、中心频率泄漏；或者时序。
3.一种测试台，用于测试传输模式下的无线装置，所述测试台包括：
a、信号发生器，用于生成传导校准信号；
b、校准器，包括至少一个校准器天线，所述天线与所述信号发生器传导连接，以无线传输所述校准信号；
c、至少一个接收天线，用于无线接收所述校准信号；
d、信号分析器，所述信号分析器与所述接收天线传导连接，以接收并测量所述校准信号的功率电平；以及
e、计算机，包括：
i、存储器，用于存储校准信号文件编码，以及实施权利要求1所述方法的程序指令集，其中所述校准信号文件编码用于所述校准器天线处所述校准信号的目标传输功率电平；
ii、处理器，所述处理器可操作地连接到所述存储器、所述信号发生器以及所述信号分析器，所述处理器配置为可执行所述程序指令集。
4.根据权利要求3所述的测试台，其中所述校准器可以选择性地置于所述无线扫描仪上或与其分开。
5.根据权利要求3所述的测试台，其中所述校准器还包括用于保护所述校准器天线的外壳。
6.根据权利要求3所述的测试台，其中所述校准器天线经由校准器信号通道与所述信号发生器传导连接，所述校准器信号通道包括：
a、端口，可以选择性地与所述信号分析器传导连接；
b、校准器天线开关，用于选择性地将所述校准器天线连接到所述校准器信号通道，以及断开所述端口与所述校准器信号通道的连接，或者断开所述校准器天线与所述校准器信号通道的连接以及将所述端口连接到所述校准器信号通道。
7.根据权利要求6所述测试台，其中所述校准器天线开关可操作地连接到所述计算机。
8.根据权利要求3所述的测试台，其中所述接收天线包含在近场扫描仪中。
9.根据权利要求3所述的测试台，其中存储所述校准信号文件的所述存储器是可以修改的。
10.一种测试台校准方法，所述测试台用于测试接收模式下的无线装置，所述测试台包括发射天线、具有校准器天线的校准器、信号发生器以及信号分析器，所述方法包括以下步骤：
a、提供信号通道，所述信号通道包括从所述发生器到所述发射天线的传导通道；从所述发射天线到所述校准器天线的无线通道；以及从所述校准器天线到所述信号分析器的传导通道；
b、为所述信号分析器处具有目标接收功率电平和相应目标BER的校准信号提供校准信号脚本编码；
c、使用所述信号发生器生成通过所述信号通道的所述校准信号；
d、将在所述信号分析器处接收的所述校准信号的功率电平设置成所述目标接收功率电平；
e、测量在所述信号分析器处接收的所述校准信号的所述BER；
f、如果必要，改变由所述信号发生器生成的所述校准信号的功率电平，以使所测量的BER向所述目标BER会聚；以及
g、将所述目标接收功率电平和所述目标BER与由所述信号发生器生成的所述校准信号的动率电平相关联，其中所述信号发生器处测量的BER向所述目标BER会聚。
11.根据权利要求10所述的方法，其中所述校准信号脚本额外地指定所述校准信号的一个或多个以下信号参数：频率、调制和数据速率；误差矢量幅值、频谱掩模和均匀性；占有的带宽；相位噪声；I-Q不平衡；时钟频率偏移；中心频率泄漏；或时序。
12.一种测试台，用于测试接收模式下的无线装置，所述无线装置包括：
a、信号发生器，用于生成传导校准信号；
b、至少一个发射天线，所述发射天线与所述信号发生器传导连接，以无线传输所述校准信号；
c、校准器，包括至少一个校准器天线，所述校准器天线用于无线接收所述校准信号；
d、信号分析器，所述信号分析器与所述校准器天线传导连接，以接收并测量所述校准信号的功率电平；
e、发生器信号振幅改变装置，所述发生器信号振幅改变装置可操作地连接到所述信号发生器，以改变由所述信号发生器生成的校准信号的振幅；
f、分析器信号振幅改变装置，该分析器信号振幅改变装置可操作地连接到所述信号分析器，以设置所述信号分析器接收到的所述校准信号的振幅；
g、BER测量装置，该BER测量装置可操作地连接到所述信号分析器，
以测量所述信号分析器接收到的所述校准信号的BER；以及
h、计算机，包括：
i、存储器，用于存储校准信号文件编码，以及实施权利要求10所述方法的程序指令集，其中所述校准信号文件编码用于所述信号分析器处的所述校准信号的目标接收功率电平和相应目标BER；
ii、处理器，所述处理器可操作地连接到所述存储器、所述信号发生器、所述信号分析器、所述生成器信号振幅改变装置、所述分析器信号振幅改变装置，以及所述BER测量装置，所述处理器配置为可执行所述程序指令集。
13.根据权利要求3所述的测试台，其中所述校准器可以选择性地置于所述无线扫描仪之上或者与其分开。
14.根据权利要求3所述的测试台，其中所述校准器还包括用于保护所述校准器天线的外壳。
15.根据权利要求3所述的测试台，其中存储所述校准信号文件的存储器是可修改的。
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