CN112838900A - 一种复合多进多出的功率校准方法及系统 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种复合多进多出的功率校准方法及系统，属于WIFI产品功率测试技术领域。本发明包括复合多进多出的功率校准方法，包括如下步骤：步骤一、开始，待测设备DUT进入测试模式；选择设定的天线同时工作；设置工作中的所有天线的功率因子，并分别发送流信号；测试仪器采集CMIMO数据，并分析功率数据；判断功率是否符合校准指标，如果符合指标，完成校准，功率校准结束，否则再次调整不符合标准的天线的功率因子，重新发送流信号。本发明还提供一种实现所述方法的系统。本发明的有益效果为：兼容原有的测试物理模式；成倍提高测试效率。

Description

一种复合多进多出的功率校准方法及系统
技术领域
本发明涉及一种WIFI产品功率测试技术，尤其涉及一种复合多进多出的功率校准方法，还涉及一种实现所述复合多进多出的功率校准方法的系统。
背景技术
近几年，物联网在智能家居、智能穿戴产业的迅速发展和兴起, 带来了无线AP、无线网卡、智能穿戴、蓝牙耳机等通信产品的普及。在这新兴的行业里，商机瞬息万变，市场需求千变万化。如何响应市场变化，做好市服务，是各大制造业、方案提供商等生产、服务业不断追求、提升和完善的课题。
物联网的WIFI、BT等产品，其射频质量要遵循国际IEEE 的相关协定。因此，每个产品生产制造过程中，需要使用专业的测试设备，配套测试软件支持产品指标的快速检测判断，进行射频指标的测试，方能满足制造产能需求。所以，制造商在响应市场需求，从整个物料供应、产品研发、生产制造、品质检查，产品交付的整个流程中，各个环节都是紧密相联。而仅仅在品产的生产制造过程中，就有一系列的生产节点，每一个节点都会产生相应的成本。在流水式的生产过程中，产能的高低是直接成本的体现。所以，如何在提高单位时间的生产产能，是各大生产制造业力求改善的方向。那么，测试环节也如此。在具备一套完备的测试方案后，如何缩短测试时间，提高测试效率是一个值得思考的问题。
对于WIFI 类产品，生产测试是品质保证的重要过程。通常，生产测试需要经过以下几个步骤：
1. 频偏校准；
2. 功率校准；
3. TX 射频指标验证；
4. RX射频指标验证；
5. 校准数据写入DUT。
在这些过程中，都需要测试程序以串行的时序方式控制测试仪器及DUT进行工作。除了测试仪器及DUT本身的工作耗时外，测试程序本身也需要对数据进行大量的运算。常规的测试采用SISO（single input single output，单进单出）的方式，对每个天线进行单独的串行测试。随着WIFI技术的不断发展，高吞吐率，高速传输的要求，目前DUT的天线数据已多达12根之多。天线数量每增加一根，测试时间就会成倍的增加。从而使功率测试耗费大量的时间，效率非常低。
发明内容
为解决现有技术中测试效率低，耗费时间长的问题，本发明提供一种复合多进多出的功率校准方法。
本发明复合多进多出的功率校准方法，包括如下步骤：
步骤一、开始，待测设备DUT进入测试模式；
步骤二、选择设定的天线同时工作；
步骤三、设置工作中的所有天线的功率因子，并分别发送流信号；
步骤四、测试仪器采集CMIMO数据，并分析功率数据；
步骤五、判断功率是否符合校准指标，如果符合指标，完成校准，功率校准结束，否则返回执行步骤三，调整不符合标准的天线的功率因子，重新发送流信号。
本发明作进一步改进，还包括步骤六、当调整次数达到设定值，功率仍然不符合标准，则功率校准结束。
本发明作进一步改进，步骤二中，设定天线的个数为待测设备DUT的所有天线，所有天线同时并行测试。
本发明作进一步改进，步骤四中，所述测试仪器设置测量参数，获取功率数据并分析。
本发明还提供一种实现所述复合多进多出的功率校准方法的系统，包括功分器和测试仪器，其中，所述待测设备DUT的输出端通过功分器与测试仪器的RF射频口相连，所述待测设备DUT与测试仪器之间采用复合多进多出方式对待测设备DUT的设定天线并行测试。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：兼容原有的测试物理模式；成倍提高测试效率；天线数量越多，效率提高的倍数越多，节省的时间效果越明显。
附图说明
图1为本发明一实施例系统结构示意图；
图2为本发明一实施例方法流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明做进一步详细说明。
如图1所示，本发明针对现有技术测试效率低的问题，本发明通过对CMIMO（Composite multiple-in multiple-out，复合多进多出）技术的应用，可以明显的改善多天线DUT的测试效率。生产测试环境中，本发明CMIMO的组网方式为，待测设备DUT的多根天线通过功分器合路后与仪器的RF（射频）口连接。
合路后的信号功率区分，是由测试仪器端的分析算法提供的功能。因此部分在测试仪器中应用比较普遍，为现有技术，也并非是本发明的技术方案范畴，此处不再阐述。
本例以4根为例进行详细说明，当然，在具体测试中，还可以为8根、12根等其他数量的天线的数据同时测试。本发明保持原有的组网结构，通过减少SISO测试中每个天线的遍历测试来提升测试效率。
如图2所示，本发明复合多进多出的功率校准方法，包括如下步骤：
步骤一、开始功率校准流程，待测设备DUT进入测试模式；
步骤二、选择DUT天线1,2,3,4同时工作；
步骤三、设置4个天线的功率因子，并发送四条流的信号；
步骤四、设置测试仪器的测量参数，控制测试仪器采集CMIMO数据中的功率数据，并进行分析四个天线的功率结果；
步骤五、判断各个天线的功率结果是否符合校准指标，如果符合指标，完成校准，功率校准结束，否则返回执行步骤三，调整不符合标准的天线的功率因子，重新发送流信号。
优选的，本发明还包括步骤六、判断调整的次数是否达到设定值，如果是，当调整次数达到设定值，功率仍然不符合标准，则功率校准结束。如果否，继续调整。
本发明与现有的测试方法相比，可以明确看出CMIMO 功率校准的方式比SISO的功率校准方式更加高效。因SISO模式需要对每一根天线都进行重新遍历。而本发明CMIMO模式只需进行一次性设置即可。因此，四天线的产品，在功率校准部分可比原有方式减少约四分之三的时间。天线数量越多，节省的时间效果越明显。此外，本发明1.兼容原有的测试物理模式，不需要重新设置测试环境，从而很方便实现。
以上所述之具体实施方式为本发明的较佳实施方式，并非以此限定本发明的具体实施范围，本发明的范围包括并不限于本具体实施方式，凡依照本发明所作的等效变化均在本发明的保护范围内。

Claims (5)

1.一种复合多进多出的功率校准方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤一、开始，待测设备DUT进入测试模式；
步骤二、选择设定的天线同时工作；
步骤三、设置工作中的所有天线的功率因子，并分别发送流信号；
步骤四、测试仪器采集CMIMO数据，并分析功率数据；
步骤五、判断功率是否符合校准指标，如果符合指标，完成校准，功率校准结束，否则返回执行步骤三，调整不符合标准的天线的功率因子，重新发送流信号。
2.根据权利要求1所述的复合多进多出的功率校准方法，其特征在于：还包括步骤六、当调整次数达到设定值，功率仍然不符合标准，则功率校准结束。
3.根据权利要求1或2所述的复合多进多出的功率校准方法，其特征在于：步骤二中，设定天线的个数为待测设备DUT的所有天线，所有天线同时并行测试。
4.根据权利要求3所述的复合多进多出的功率校准方法，其特征在于：步骤四中，所述测试仪器设置测量参数，获取功率数据并分析。
5.一种实现权利要求4所述的复合多进多出的功率校准方法的系统，其特征在于：包括功分器和测试仪器，其中，所述待测设备DUT的输出端通过功分器与测试仪器的RF射频口相连，所述待测设备DUT与测试仪器之间采用复合多进多出方式对待测设备DUT的设定天线并行测试。
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