CN103134438A - 复合式量测治具 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种复合式量测治具，用于一待测电路板，复合式量测治具包含一平台、一光学检测组件以及一电路检测组件。待测电路板放置于平台上，光学检测组件具有光学检测显示单元，及相对设置于平台上的光发射器与光接收器。其中，光接收器接收光发射器发出的光线，并对应产生测试通过讯号或错误讯号传送到光学检测显示单元显示。电路检测组件具有一电路检测显示单元及一电性侦测组件，当电性侦测组件与待测电路板的电性接点相接触，电性侦测组件对应产生至少一测试数值传送到电路检测显示单元显示。

Description

复合式量测治具

【技术领域】

本发明是涉及一种量测治具，特别是一种具有多重测试功能的复合式量测治具。

【背景技术】

印制电路板(PRINTING CIRCUIT BOARD，PCB)是时下常见的电子零组件，其特色在于不透过外接的实体电线，插设于电路板的电子组件即可透过电路板上设计好的电路(layout)电性连接于其它电子组件，除了减少实体电路的设置以节省空间外，印制电路板并可于制作前依照电子装置内各电子组件的种类及电子装置所欲实施的功能，进行电路逻辑设计及电路布局，再依据设计结果制作印制电路板，因此可将印制电路板的表面积在满足客户需求的功能要求下缩减到最小，以符合目前电子产品体积日趋微型化的趋势。

此外，通过印刷制程可使印制电路板大量的生产，从而降低制作成本，更符合电子产业的经济效益。由于具备上述的优点，印制电路板于目前电子相关产业中，已经成为不可或缺的必要电子零组件，并且产业需求量极大。

然而，印制电路板在制造商生产完成后，必须针对不同的测试项目进行一连串的测试步骤，确保产品没有瑕疵，才能够出货，以保持产品的质量，维护消费者权益及公司的信誉。

常见的电路板测试项目包含有板弯测试、电路板的电池的电压测试以及漏电流的电压测试等不同测试项目。板弯测试主要是针对印制电路板在制作及加工过程中，会因为电路板本身的材质或在电路板经过回流焊及波峰焊等焊接步骤时受热膨胀或遇冷收缩，使得电路板相对释放内部的应力，并在受高温后导致有变形的情况。此类变形的电路板在组装到电子装置后会有电子组件空焊，锡裂等现象，造成电路板上装设的电子组件接触不良或是短路等问题。

另外，内建电池的电压的量测与漏电流电压的量测，是为了确保电路板上的内建电池的电压值为正常规范，同时也避免因为漏电流量过大而使得内建电池提前耗尽，进而引发电路板上的时间记录不准确，或电路板接不上电源等问题。上述这些瑕疵问题都会直接影响到电路板的质量，因此凡是出厂的电路板都至少必须经过板弯测试、电路板电池的电压测试以及漏电流的电压测试等三项测试项目，以避免瑕疵品出货，而影响产品的质量。

目前业界采用的板弯测试流程，首先将电路板平放在量测治具上，测试人员再以人工方式手持一厚薄规去量测电路板任一长边与量测治具间的间隙是否超出所定义的板弯范围，厚薄规的厚度为允许的板弯范围。

举例说明，若是厚薄规无法插入电路板任一长边与量测治具间的间隙，则代表此电路板没有弯折变形，或是板弯程度尚在可接受的范围内，若是厚薄规可插入，则代表此电路板板弯超过标准，因此归类为瑕疵品。但是此种以人工方式进行板弯测试的测试步骤因为受限于量测治具，测试人员仅能测量电路板的一长边，其它三边则只能以目测的方法判定，存在有很大的误差。

其次，若量测时若电路板的两角没有平贴于量测治具，则量测结果会不准确，导致虽然电路板通过测试，但是不良品仍有流到市场的风险。此外，以目前习知以人工测试板弯的检测流程并没有设计流程卡关机制，由于完全是采用人工测试的方式，导致纵然测试人员疏忽没有测试到的待测电路板，仍可进行后续其它项目的测试，同时测试通过与否的结果亦没有纪录，不利于日后的统计及追溯。

目前业界采用的电路板电池的电压测试以及漏电流的电压测试，亦采以人工方式进行检测，其步骤首先将电路板平放在静电桌上，测试人员用三用电表量测电路板上内建电池的电压值及电子组件漏电流的电压值是否超出所定义的规范，若内建电池有电压且漏电流电压也没有超过标准，则表示电路板合格；相反的，电压超过标准的电路板则归类为瑕疵品。

因为电压量测完全凭借在线测试人员的手动量测，旷日废时，不符合经济效益。同时如前述板弯测试的缺点，现有的电压量测工作流程并没有设计流程卡关机制，以及进行相对应的检测记录，不利于日后的统计及追溯，人员无法透过检测流程确保电路板的质量。

【发明内容】

鉴于以上的问题，本发明涉及一种具有多重测试功能的复合式量测治具，将前述的电路板检测必要的三个项目：板弯测试、电路板内建电池的电压测试以及电路板漏电流的电压测试等三个测试项目整合于一个量测治具上进行测试，从而解决习用完全以人工方式进行上述的检测，耗费大量人力及检测时间，致以增加测试成本，又容易产生测试误差，并且无法确实追踪测试流程是否确实执行等问题。

本发明涉及一种复合式量测治具，用于具有至少一电性接点的待测电路板。复合式量测治具包含一平台、一光学检测组件以及一电路检测组件，其中平台用以放置待测电路板于其上。光学检测组件包括一光学检测显示单元、一光发射器以及一光接收器，光发射器设置于平台上，且光发射器发出一光线，光接收器设置于平台上，光接收器与光发射器相对配置，且光接收器与光学检测显示单元电性连接。当光发射器的光线越过待测电路板至光接收器，光接收器对应产生一测试通过讯号或一错误讯号，并传送到光学检测显示单元显示。

电路检测组件包括至少一电路检测显示单元，以及电性连接于电路检测显示单元的至少一电性侦测组件，电性侦测组件配置于平台上。当待测电路板置放于平台上，待测电路板的电性接点与电性侦测组件相接触，电性侦测组件对应产生至少一测试数值传送到电路检测显示单元显示。

上述的复合式量测治具，平台还具有一容置槽，容置槽的尺寸与待测电路板的尺寸相符，待测电路板是容设于容置槽内。

上述的复合式量测治具，还包括有一处理单元及一显示器，处理单元与显示器电性连接，处理单元与电路检测组件电性连接，处理单元储存有一标准数值，电性侦测组件传送测试数值到处理单元，处理单元比对标准数值及测试数值，处理单元对应产生一比对讯号并传送到所述显示器上显示。

上述的复合式量测治具，处理单元还与光学检测组件电性连接，光接收器传送测试通过讯号或错误讯号到处理单元，处理单元对应产生另一比对讯号并传送到显示器上显示。

上述的复合式量测治具，处理单元还与一服务器电性连接，处理单元传送测试数值到服务器储存。

上述的复合式量测治具，还包括有一扫描仪，电性连接于处理单元，扫描仪侦测待测电路板的一序号信息，处理单元根据序号信息自服务器取得待测电路板的测试数值。

上述的复合式量测治具，光学收发组件还包括有三光发射器及三光接收器，各光发射器与各光接收器分别配置于待测电路板的其中三侧边。

上述的复合式量测治具还包括有一固定组件，具有一动力源及一抵顶件，动力源与抵顶件相连接，动力源被驱动而带动抵顶件相对于平台往复位移，抵顶件压抵待测电路板与电性侦测组件相接触。

上述的复合式量测治具，抵顶件还具有数个定位柱，所述待测电路板具有数个定位孔，当待测电路板设置于平台，定位柱分别穿设定位孔。

上述的复合式量测治具，动力源是气泵、马达或电动机。

上述的复合式量测治具，电路检测组件包括分别电性连接的二电路检测显示单元及二电性侦测组件，二电性侦测组件分别侦测待测电路板的电池电压值及漏电流电压值，并分别对应产生测试数值并传送到二电路检测显示单元显示。

上述的复合式量测治具，还包含有一测试开关，分别电性连接于光学检测组件与电路检测组件，测试开关选择性被致动，测试开关产生并电性传输一测试讯号到所述光学检测组件与所述电路检测组件执行作动。

本发明的功效在于，测试人员通过本发明的复合式量测治具，即可同时针对电路板进行板弯测试、电路板内建电池的电压测试以及电路板漏电流的电压测试等三个测试项目，如此可大幅减少测试时间，提高生产效能，同时有效地减少人为测试的误差，以确保测试的准确性，将瑕疵电路板筛选出来，进而提升产品的整体出货质量。

有关本发明的特征、实作与功效，兹配合图式作最佳实施例详细说明如下。

【附图说明】

图1为本发明第一实施例的复合式量测治具的立体示意图。

图2为本发明第一实施例的复合式量测治具的一实施态样平台的局部放大示意图。

图3为本发明第一实施例的复合式量测治具的另一实施态样平台的局部放大示意图。

图4为本发明第一实施例的复合式量测治具的测试示意图。

图5A为本发明第一实施例的复合式量测治具进行光学测试的示意图。

图5B为本发明第一实施例的复合式量测治具进行光学测试的示意图。

图6为本发明第一实施例的复合式量测治具的电路方块示意图。

图7为本发明第二实施例的复合式量测治具的立体示意图。

图8为本发明第二实施例的复合式量测治具的电路方块示意图。

图9为本发明第三实施例的复合式量测治具的立体示意图。

图10为本发明第三实施例的复合式量测治具的侧视图。

图11为本发明第三实施例的复合式量测治具的侧视图。

图12为本发明第四实施例的复合式量测治具的立体示意图。

主要组件符号说明：

10   复合式量测治具        100  平台

1001 容置槽                200  光学检测组件

201  光发射器              202  光接收器

203  光学检测显示模块      300  电路检测组件

301  电路侦测组件          302  电路检测显示单元

50   主机板                500  测试开关

501  电性接点              610  处理单元

620  显示器                630  扫描仪

800  服务器                900  固定组件

901  动力源                902  抵顶件

903  定位柱

【具体实施方式】

本发明所涉及的各实施例的复合式量测治具10用于一待测电路板50，待测电路板50具有贯通的数个定位孔(未标示)，待测电路板50的背面设有数个电性接点501。待测电路板50的定位孔以及电性接点501的位置是依据待测电路板50的种类及测试需求而有所不同，并不以本发明所揭露的各型态为限。

在第一实施例中，本发明涉及一种复合式量测治具10，请参考图1的复合式量测治具的立体图，并同时参考图2的一实施态样平台的局部放大图、图3的另一实施态样平台的局部放大图、图4的测试示意图及图6的电路方块示意图。

本发明第一实施例的复合式量测治具10包含一平台100、一光学检测组件200、一电路检测组件300，其中平台100用以放置待测电路板50于其上。于本实施例中，平台100具有两种不同的实施态样，其中一实施态样平台100如图2所示为水平平面的型态，待测电路板50系直接放置于平台100上；另一实施态样的平台100还具有一容置槽1001，容置槽1001的形状依据待测电路板50的种类不同而变更，使得容置槽1001的尺寸与待测电路板50的尺寸相符。当进行板弯测试时，待测电路板50是设置于容置槽1001内。

本实施例的光学检测组件200包括一光发射器201、一光接收器202以及一光学检测显示单元203。光发射器201及光接收器202均设置于平台100上，其中光接收器202与光学检测显示单元202电性连接，并且光发射器201是设置于平台100的一侧边上，光接收器202系设置于平台100的另一侧边，也就是说，光接收器201与光发射器202呈相对应的配置关系。

值得注意的是，光发射器201及光接收器202包含但不限于光纤、红外线等光学收发器材，本技术领域的人员可依据设计需求而对应采用不同的光学收发器材，并不以本实施例为限。同时，本发明所揭露的光发射器201及光接收器202在平台100的设置位置，可随着不同实施态样的平台100而对应变更。

举例说明，当平台100是平坦的一平面型态时，待测电路板50是直接安置于平台100上，使得待测电路板50的高度系超出于平台100的平面，因此光发射器201及光接收器202的设置高度亦必须相对设置的较高；相对地，当平台100凹设有一容置槽1001时，待测电路板50是安置于容置槽1001内，使待测电路板50的高度超出平台100较有限，甚至是待测电路板50与平台100的基准面位于同一水平线上，因此光发射器201及光接收器202的设置高度则不用太高，仅须超过待测电路板50并且可达到板弯测试的目的即可。然而，不论是采用上述何种态样的平台，光发射器201及光接收器202的设置位置皆是根据待测电路板50的板弯测试标准所决定，以精确地对待测电路板50进行板弯测试，以取得正确的检测结果。

本发明的光学检测组件200的测试原理，请同时参考第5A、5B图所示的测试示意图。当光发射器201发出一光线，若光线越过放置于平台100上的待测电路板50而被光接收器202所接收，光接收器202对应产生一测试通过讯号传送到光学检测显示单元203显示通过测试；相反的，若待测电路板50有变形弯折的缺陷，且超过板弯测试的标准值时，会导致光线被待测电路板50阻隔而无法被光接收器202接收，光接收器202在一定时间内没有接收到光线后，将对应产生一错误讯号，并传送到光学检测显示单元203显示没有通过测试。

详细而言，本实施例所述的光学检测显示单元203包括但不限于显示屏幕、七段显示器或灯号，本领域具有通常技艺的人士可依据复合式量测治具的设计及需求采用不同的显示装置。本实施例的光学检测显示单元203可经由显示屏幕显示或七段显示器依据测试通过讯号或错误讯号以文字型态呈现待测电路板50是否通过板弯测试，但显示方式不以此为限，光学检测显示单元203亦可以灯号的明灭或不同的色光切换呈现是否通过板弯测试，目的皆是让测试人员能最快且明确了解板弯测试的结果，同时不会产生判读错误的情形即可。

本实施例的板弯测试的测试标准值设定为待测电路板50的板弯度不得超过其长边边长的0.75％，并且最大的设限值为2.5厘米(mm)，但不以此为限，因应不同的待测电路板50种类，将制定有不同标准值，以符合测试需求。

承前所述，在第一实施例中，电路检测组件300包括至少一电路检测显示单元302以及至少一电性侦测组件301。电性侦测组件301与电路检测显示单元302电性连接，且电性侦测组件301配置于平台100上，其设置位置系对应于待测电路板50的电性接点501的位置。

因此，当待测电路50板置放于平台100上时，待测电路板50的电性接点501与电性侦测组件301相接触，并以电性侦测组件301侦测电性接点501的电压值，其中所侦测的电压值包含有待测电路板50内建电池的电压值及电子组件漏电流的电压值。

当电性侦测组件301在取得电压值后，对应产生至少一测试数值传送到电路检测显示单元303以显示测试结果，并由测试人员判断待测电路板50内建电池的电压值及电子组件漏电流的电压值是否超过标准值。

值得注意的是，本实施例所述的电路检测显示单元303包括但不限于显示屏幕、七段显示器或灯号，本领域具有通常技艺的人士可依据复合式量测治具的设计及需求采用不同的显示装置。本实施例的电路检测显示单元203可经由显示屏幕显示或七段显示器依据测试讯号以文字型态呈现待测电路板50被测试出的内建电池的电压值及电子组件漏电流的电压值，供测试人员判断进行判断，但显示方式不以此为限，目的只要让测试人员能最快且明确了解板弯测试的结果，同时不会产生判读错误的情形即可。

一般而言，主机板电池的电压值标准必须在2.7伏特以上，而电子组件漏电流的电压值标准则依据电子组件的种类及型号不同而改变。举例说明，Intel& AMD芯片其漏电流电压必须在0.2～7毫伏特(mV)之间，Nvidia芯片则必须0.2～10毫伏特(mV)。

值得注意的是，电路检测组件300的电路检测显示单元302及电性侦测组件301不以一组为限，使针对待测电路板50的电池的电压测试及漏电流的电压测试采用独立的电路检测显示单元302及电性侦测组件301，分别对应产生测试数值，并传送到二电路检测显示单元302分别显示电压测试结果。

本实施例的复合式量测治具10还包含有一测试开关500，分别电性连接于光学检测组件200及电路检测组件300。当测试开关500被测试人员致动后，测试开关500电性传输一测试讯号到光学检测组件200及电路检测组件300以执行作动。

本实施例的测试开关300具有两个启动按钮，且两个启动按钮必须同时被按压或开启，才能够启动本发明的复合式量测治具10，此一设计是为了避免测试人员在放置待测电路板50而手还未离开平台100的情况下错误启动测试开关500而发生意外伤害，因此必须以双手启动试开关500，加强操作人员于测试时的安全性。

当测试人员以第一实施例的复合式量测治具10进行测试时，首先将待测电路板50放置于平台100上，以光学检测组件200进行待测电路板50的板弯测试，并经由光学侦测显示单元203显示待测电路板50是否通过测试。在完成板弯测试步骤后，再以电路检测组件300同时进行待测电路板50的电池电压测试及漏电流电压测试，并以电路检测显示单元302显示测试结果，测试人员则依据测试结果判断是否超过标准值，前述的测试步骤可依照测试人员的需求调整顺序，但必须完成前一项测试后，才能够进行另一测试步骤。

在第二实施例中，请参考图6所示的立体示意图，并同时参考图8的电路方块示意图。本实施例的复合式量测治具10大致与第一实施例相同，惟其不同的地方在于，除了第一实施例所揭露的组件外，第二实施例的复合式量测治具10还包括有一处理单元610、一显示器620及一扫描仪630。

本实施例的处理单元610与显示器620电性连接，其中处理单元610并与光学检测组件200及电路检测组件300电性连接。当光接收器202传送测试通过讯号或错误讯号到处理单元610，处理单元610对应产生一比对讯号并传送到显示器620上显示。

此外，处理单元610还储存有一标准数值，当电性侦测组件301传送测试数值到处理单元610，处理单元610比对标准数值及测试数值，处理单元610对应产生另一比对讯号并传送到显示器620。

因此，本实施例的光学检测组件200及电路检测组件300的测试结果不仅可透过光学检测显示模块203及电路检测显示单元302显示外，亦可透过显示器620予以显示。或者是，本实施例的光学检测显示模块203及电路检测显示单元302亦可整合于显示器620一并显示三种测试的测试结果，以减少测试流程的步骤。

除此之外，本实施例的处理单元610还与一服务器800及一扫描仪630电性连接，在测试完成后，处理单元610传送测试数值及比对讯号传送并储存于服务器800，做为测试纪录，以便于后续的测试统计及稽核，进而改善测试质量。

同时，测试人员亦可以扫描仪630侦测待测电路板50的序号信息，处理单元610则根据序号信息自服务器800取得待测电路板50的测试数值，以利于处理单元610进行比对。

当测试人员以第二实施例的复合式量测治具10进行测试时，除实施第一实施例所揭露的测试外，处理单元610亦可比对测试数值及标准数值，并将结果显示于显示器620，毋须仰赖人工判断，减少操作时间，同时处理单元610在完成测试后上传相关数值及记录到服务器800，以利于日后统计及追踪。

在第三实施例中，请参考图9的立体示意图，并请同时参考图10及图11的侧视图。本实施例的复合式量测治具10大致与第二实施例相同，惟其不同的地方在于，除了第二实施例所揭露的组件外，第三实施例的复合式量测治具10还包括有一固定组件900，其具有相连接的一动力源901及一抵顶件90。

测试人员驱动动力源901以带动抵顶件902相对于平台100往复位移，使抵顶件902压抵待测电路板50与电性侦测组件301相接触，以避免电性侦测组件301与待测电路板50上的电性接点501接触不良，影响电压量测。

值得注意的是，本实施例所述的动力源901包含但不限于气泵、马达或电动机等的动力装置，凡能产生动能并带动与其相连的抵顶件902位移的动力装置皆可为动力源901，本领域具有通常技艺的人士可依据测试需求采用不同的装置。

此外，本实施例的抵顶件902还进一步具有数个定位柱903，其设置位置对应待测电路板50的定位孔。当待测电路板50设置于平台100时，定位柱903分别穿设待测电路板50的定位孔(图未示)，以避免抵顶件902因直接压抵待测电路板50而造成抵顶件902压抵待测电路板50损坏的情况，并且亦可加强抵顶件902固定待测电路板50的功效。

在第四实施例中，请参考图12的立体示意图，本实施例的复合式量测治具10大致与第三实施例相同，惟其不同的地方在于，除了第三实施例所揭露的组件外，第四实施例的复合式量测治具10还包括有有三组光发射器201及光接收器202。

各光发射器201与各光接收器202分别配置于待测电路板50的其中三侧边，因此可同时测试待测电路板50的任三边，以确认待测电路板50是否有弯折或是变形的情况，相较于第一至三实施例中光学检测组件200配置有单一组光发射器201及光接收器202的型态，仅能检测待测电路板50单一边的板弯程度，本实施例的三组光发射器201及光接收器202可检测待测电路板50的任三边的平直度，还确保板弯测试的精确性。

经由上述本发明所涉及的各实施例的复合式量测治具，测试人员经由一台量测治具，依序进行板弯测试、电路板内建电池的电压测试以及电路板漏电流的电压测试等三个测试项目，其优点在于，可以最精简的人力成本及检测时间，即能完成上述的三种测试项目。同时，测试人员亦毋须具备电子电机相关技术背景，仅须开动治具即可进行测试，有效避免人为因素对检测结果所造成的误差影响

此外，本发明所揭露的复合式量测治具，亦可将测试结果上传至服务器储存，作为日后统计、稽核或追踪的依据，以改善测试方法，加强测试的准确性，进一步提升产品的质量。

虽然本发明的实施例揭露如上所述，然并非用以限定本发明，任何熟习相关技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，举凡依本发明申请范围所述的形状、构造、特征及数量当可做些许的变更，因此本发明的专利保护范围须视本说明书所附的申请专利范围所界定者为准。

Claims (11)

1.一种复合式量测治具，用于一待测电路板，所述待测电路板具有至少一电性接点，其特征在于，所述复合式量测治具包含：

一平台，用以放置所述待测电路板于其上；

一光学检测组件，包括：

一光学检测显示单元；

一光发射器，设置于所述平台上，且所述光发射器发出一光线；以及

一光接收器，设置于所述平台上，所述光接收器与所述光发射器相对配置，且所述光接收器与所述光学检测显示单元电性连接；

其中，所述光发射器的所述光线越过所述待测电路板至所述光接收器，所述光接收器对应产生一测试通过讯号或一错误讯号，并传送到所述光学检测显示单元显示；以及

一电路检测组件，包括：

至少一电路检测显示单元；以及

至少一电性侦测组件，电性连接于所述电路检测显示单元，所述电性侦测组件配置于所述平台上，当所述待测电路板置放于所述平台上，所述待测电路板的所述电性接点与所述电性侦测组件相接触，所述电性侦测组件对应产生至少一测试数值传送到所述电路检测显示单元显示。

2.如权利要求1所述的复合式量测治具，其特征在于，所述平台还具有一容置槽，所述容置槽的尺寸与所述待测电路板的尺寸相符，所述待测电路板是容设于所述容置槽内。

3.如权利要求1所述的复合式量测治具，其特征在于，还包括有一处理单元及一显示器，所述处理单元与所述显示器电性连接，所述处理单元与所述电路检测组件电性连接，所述处理单元储存有一标准数值，所述电性侦测组件传送所述测试数值到所述处理单元，所述处理单元比对所述标准数值及所述测试数值，所述处理单元对应产生一比对讯号并传送到所述显示器上显示。

4.如权利要求3所述的复合式量测治具，其特征在于，所述处理单元还与所述光学检测组件电性连接，所述光接收器传送所述测试通过讯号或所述错误讯号到所述处理单元，所述处理单元对应产生另一比对讯号并传送到所述显示器上显示。

5.如权利要求4所述的复合式量测治具，其特征在于，所述处理单元还与一服务器电性连接，所述处理单元传送所述测试数值到所述服务器储存。

6.如权利要求5所述的复合式量测治具，其特征在于，还包括有一扫描仪，电性连接于所述处理单元，所述扫描仪侦测所述待测电路板的一序号信息，所述处理单元根据所述序号信息自所述服务器取得所述待测电路板的所述测试数值。

7.如权利要求1所述的复合式量测治具，其特征在于，所述光学收发组件还包括有三所述光发射器及三所述光接收器，各所述光发射器与各所述光接收器分别配置于所述待测电路板的其中三侧边。

8.如权利要求1所述的复合式量测治具，其特征在于，还包括有一固定组件，具有一动力源及一抵顶件，所述动力源与所述抵顶件相连接，所述动力源被驱动而带动所述抵顶件相对于所述平台往复位移，所述抵顶件压抵所述待测电路板与所述电性侦测组件相接触。

9.如权利要求8所述的复合式量测治具，其特征在于，所述抵顶件还具有多个定位柱，所述待测电路板具有多个定位孔，当所述待测电路板设置于所述平台，所述定位柱分别穿设所述定位孔。

10.如权利要求1所述的复合式量测治具，其特征在于，所述电路检测组件包括分别电性连接的二所述电路检测显示单元及二所述电性侦测组件，所述二电性侦测组件分别侦测所述待测电路板的电池电压值及漏电流电压值，并分别对应产生所述测试数值并传送到所述二电路检测显示单元显示。

11.如权利要求1所述的复合式量测治具，其特征在于，还包含有一测试开关，分别电性连接于所述光学检测组件与所述电路检测组件，所述测试开关选择性被致动，所述测试开关产生并电性传输一测试讯号到所述光学检测组件与所述电路检测组件执行作动。

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