CN103038647B - 电流检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种批量生产如下的导体的技术，该导体上固定有对在导体中流通的电流值进行检测的电流检测头，且检测值和电流值之间的关系稳定。电流检测头具备：透镜、磁光元件、导体、和固定部件，在该固定部件上分别固定有：透镜、磁光元件、和导体。所述导体中形成了如下的光学系统，即，通过电流检测头，从而将光经过透镜而引导至磁光元件，并且将通过磁光元件而受到了磁光效应的光引导至透镜。由于与电流检测相关的全部部件分别被固定在固定部件上，因此与电流检测相关的全部部件之间的相对位置关系被确定为一定，从而能够批量生产电流检测特性的误差较小的导体。还可以采用如下方式，即，预先在固定部件和导体之间形成对两者的位置关系进行定位的形状，从而对被定位了的电流检测头和导体进行固定，以得到所述导体。

Description

电流检测装置

技术领域

本发明涉及一种固定有用于对导体中流通的电流值进行检测的电流检测头的导体。此外，涉及一种为了制造固定有电流检测头的导体而使用的电流检测头。

背景技术

为了对在导体中流通的电流值进行检测，开发出了利用磁光效应的技术。在专利文献1中公开了如下了的电流检测装置，即，将磁光元件固定在导体的外表面上，并通过入射用光导纤维而对磁光元件和光源之间进行连接，通过射出用光导纤维而对磁光元件和受光装置之间进行连接的装置。在专利文献1的技术中，对被引导至受光装置的光的强度进行测量。当在导体中流通有电流时，在磁光元件上将作用有磁场，当在磁光元件上作用有磁场时，在透过磁光元件的光上将作用有法拉第效应而使偏振面旋转，当偏振面旋转时，通过受光装置而接受的光的强度将发生变化。由于在导体中流通的电流值决定磁场强度，且磁场强度决定旋转角，而旋转角决定通过受光装置而接受的光的强度，因此在专利文献1的电流检测装置中，根据由受光装置测量出的光的强度来对在导体中流通的电流值进行检测。

在专利文献2中公开了如下的电流检测头，所述电流检测头具备入射用光导纤维、棒状透镜、全反射镜、偏振器、磁光元件、检测器、全反射镜、以及射出用光导纤维。在专利文献2的技术中，在围绕导体的周围的芯上设置间隙，并在该间隙内设置上述的电流检测头。在专利文献2的技术中，通过使电流检测头小型化而缩短间隙的间隔，从而提高在芯上产生的磁场强度，进而增大电流检测灵敏度。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开昭60-202365号公报

专利文献2：日本特开平9-145809号公报

发明内容

发明所要解决的课题

当利用法拉第效应或者磁光克尔效应等磁光现象而对在导体中流通的电流值进行检测时，相对于导体的磁光元件的位置、相对于导体的磁光元件的方位(例如相对于导体的磁光元件的易磁化轴的方位)、相对于磁光元件的入射用光导纤维和入射用透镜的位置、相对于磁光元件的射出用光导纤维和射出用透镜的位置等，对检测值与电流值之间的关系具有较大影响。在对固定有电流检测头的导体进行批量生产时，如果所述的位置关系等不稳定，则每个导体的检测特性(是指检测值与电流值之间的关系)将会产生较大的误差。从而无法批量生产检测特性稳定的导体。

专利文献1中，仅对将磁光元件固定在导体上，并将入射用光导纤维的一端和射出用光导纤维的一端固定在磁光元件上的内容进行了说明，而并未认识到在前面段落中所说明的位置关系的重要性。在专利文献1中，并未认识到如下问题，且没有采取与之对应的对策，所述问题为，例如当入射用光导纤维和射出用光导纤维的位置关系发生偏离时，则由受光装置测量出的光的强度和在导体中流通的电流值之间的关系将发生较大的偏差。

根据专利文献2，关于从入射用光导纤维至射出用光导纤维的光学系统，以部件彼此的位置关系被调节为所需的位置关系的状态而被固定。但是，在专利文献2中，相对于导体的电流检测头的位置和方位未被定位。专利文献2并未认识到如下问题，且没有采取与之对应的对策，所述问题为，当相对于导体的磁光元件的位置和方位未被定位时，由受光装置测量出的光的强度和在导体中流通的电流值之间的关系将发生较大的偏差。

在本发明中，提供一种在对组装了电流检测头的导体进行批量生产时，能够批量生产检测值与电流值之间的关系的误差较小的导体群的技术。

用于解决课题的方法

本申请涉及一种固定有电流检测头的导体。电流检测头具备：透镜、磁光元件、以及固定部件，在固定部件上分别固定有透镜、磁光元件、以及导体。在该状态下，在导体中形成了如下的光学系统，即，将光经过透镜而引导至磁光元件，并且将通过磁光元件而受到了磁光效应的光引导至透镜。

在这里所说的透镜既可以被区分为入射用和射出用，也可以为入射用和射出用兼用的透镜。磁光元件只需为产生依存于磁场强度而发生变化的光学现象的材料即可，既可以为发挥法拉第效应的材料，也可以为发挥磁光克尔效应的材料。固定部件即可以由一体的部件构成，也可以由如下的两个以上的部件构成，所述两个部件为，在为了形成相互定位的形状而进行组合时，保证了成为一定的相对位置关系的部件。

在本申请的导体中，由于在固定部件上分别固定有透镜、磁光元件、和导体，因此相对于导体的磁光元件的位置、相对于导体的磁光元件的方位(例如，相对于导体的易磁化轴的方位)、相对于磁光元件的入射用透镜的位置、以及相对于磁光元件的射出用透镜的位置等对检测结果具有较大影响的全部位置关系，均被调节为一定的位置关系并被固定。从而能够批量生产检测值和电流值之间的关系的误差较小的导体。

如果在固定部件上预先形成将固定部件固定在导体上的固体部，并且在固定部件和导体之间预先形成将两者的位置关系定位在一定位置的定位形状，则通过将固定部件固定在导体上，从而能够对电流检测头被固定在预定位置上的导体进行批量生产。

可以采用如下方式，即，在固定部件上固定有光导纤维的一端，光导纤维从电流检测头延伸。此时，电流检测头和光源、或电流检测头和受光装置之间的连接作业被简化。另外，能够通过透镜、镜子以及空间来确保导光通道。也可以使用由透镜和镜子等构成的导光通道来代替光导纤维。光导纤维的使用并不是必不可少的。

优选为，当导体为导体板时，在导体板的一个面上固定有固定部件。此时，优选为，磁光元件为发挥磁光克尔效应的元件，并形成如下的光学系统，即，通过磁光元件而将穿过了透镜的光进行反射，以使此时受到了磁光克尔效应的光返回至透镜。此时，既可以使入射用透镜和射出用透镜被分别设置，也可以使用入射用和出射用兼用的透镜。

当使用通过磁光元件而进行反射的光学系统时，能够得到如下的状态，即，通过将固定部件固定在导体板的一个面上，从而将相对于导体板的光学系统的位置关系调节并固定在预定的位置关系的状态。由此能够容易地批量生产检测值与电流值之间的关系稳定的导体群。

优选为，在延伸有光导纤维的电流检测头被固定在导体上时，将光导纤维的端部固定在基板上而使用。该基板被配置在与固定有固定部件的导体板的一个面相对的位置处。当在该基板上预先形成有贯穿孔时，能够在该贯穿孔中插入并固定光导纤维的端部。此外，能够在基板上配置光源和受光装置。因此，通过基板从而使光导纤维和光源的位置关系被调节，并且使光导纤维和受光装置的位置关系被调节。由此能够利用基板来预先配置光源和受光装置，所述光源将进行了偏振的光入射到入射用光导纤维的端部，所述受光装置输出与从射出用光导纤维的端部射出的偏振光的旋转角相对应的电信号。另外，受光装置只需为输出与通过磁光克尔效应而产生的旋转角相对应的电信号的装置即可，其既可以为使受到了磁光克尔效应的偏振光穿过偏振滤光镜之后对强度进行检测的装置，也可以为对正交的两个方向上的偏振光成分的强度比或强度差进行检测的装置。

虽然可以使用一体的部件来构成固定部件，但也可以通过对第一固定部件和第二固定部件进行组合的方式而构成固定部件。此时，在第一固定部件和第二固定部件的双方上预先形成定位形状，所述定位形状在对两者进行组合时保证一定的相对位置关系。

当对第一固定部件和第二固定部件进行组合而构成固定部件时，既可以设为在第一固定部件上固定有光导纤维和透镜，在第二固定部件上固定有磁光元件和导体的结构，也可以设为在第一固定部件上固定有光导纤维，在第二固定部件上固定有透镜、磁光元件和导体的结构。

根据上述结构，使固定有“光导纤维和透镜”或“光导纤维”的第一固定部件、和固定有“透镜、磁光元件和导体”或“磁光元件和导体”的第二固定部件的制造被容易化，进而使固定部件的制造容易化。

当预先在第二固定部件上形成将与导体之间的位置关系定位在一定位置上的形状时，能够通过将第二固定部件固定在导体上，从而批量生产电流检测头被固定在预定位置上的导体。

当使用光导纤维时，能够容易地确保导光通道。此时，既可以分别准备入射用的光导纤维和射出用的光导纤维，也可以使用双向的光导纤维。此外还可以为，具备使朝向磁光元件的光穿过的第一芯和使来自磁光元件的光穿过的第二芯的一根光导纤维。在后者的情况下，光导纤维的根数为一根即可。

同样地，既可以分别准备用于使朝向磁光元件的光穿过的透镜和用于使来自磁光元件的光穿过的透镜，也可以使用双向的透镜。

附图说明

图1为固定有实施例1的电流检测头的导体的分解图。

图2为图1中的电流检测头的放大图。

图3为表示与图1中的电流检测头连接的光源和受光装置的结构的图。

图4为用于对导体、磁光元件、光程的位置关系和方位关系进行说明的图。

图5为固定有实施例2的电流检测头的导体的分解图。

图6为表示在固定有实施例2的电流检测头时的、检测值与电流值之间的关系的图。

图7为表示在固定有现有技术的电流检测头时的、检测值与电流值之间的关系的图。

图8为固定有实施例3的电流检测头的导体的分解图。

图9为表示实施例4的电流检测头的图。

图10为表示实施例5的电流检测头的图。

图11为表示实施例6的电流检测头的图。

具体实施方式

图1为，图示了第一实施例的电流检测头70。参照符号22为，使用树脂而被一体成形的固定部件，磁光元件28、透镜24、将光引导至透镜24的入射用光导纤维14的下端、对来自透镜24的光进行引导的射出用光导纤维16的下端被固定在固定部件22上。此外，在固定部件22的预定位置上形成有安装孔30、32，在导体板34的预定位置上也形成有安装孔36、38。如果使螺栓18穿过安装孔30、36并拧紧螺母40，并使螺栓20穿过安装孔32、38并拧紧螺母42，则固定部件22将被固定在导体板34上。通过固体部件22的安装孔30、导体板34的安装孔36、和螺栓18，从而使安装孔30相对于导体板34的位置被固定，通过固定部件22的安装孔32、导体板34的安装孔38、和螺栓20，从而使安装孔32相对于导体板34的位置被固定。由于固定部件22的两处位置相对于导体板34而被定位，因此相对于导体板34的固定部件22的位置和方位被定位为一定。通过固定部件22的安装孔30、32和导体板34的安装孔36、38，从而使固定部件22和导体板34的相对位置关系被定位在一定位置上。形成在固定部件22上的安装孔30、32和形成有安装孔30、32的凸缘部成为，将固定部件22固定在导体板34上的固定部。

由于入射用光导纤维14的下端、透镜24、磁光元件28、射出用光导纤维16的下端、和导体板34全部通过固定部件22而被定位并固定，因此入射用光导纤维14的下端、透镜24、磁光元件28、射出用光导纤维16的下端、和导体板34之间的全部的相对位置关系始终被调节并固定为一定关系。

在与导体板34相对的位置处配置有基板6。在基板6上形成有贯穿孔8、10，在贯穿孔8中插入并固定有入射用光导纤维14的上端，在贯穿孔10中插入并固定有射出用光导纤维16的上端。参照符号12为，对入射用光导纤维14的上端和射出用光导纤维16的上端进行固定的固定部件，且被定位在基板6上。在贯穿孔8的上部固定有光源2，所述光源2将偏振光入射至入射用光导纤维14的上端。在贯穿孔10的上部固定有受光装置4，所述受光装置4接受从射出用光导纤维16的上端射出的偏振光。光源2和受光装置4通过基板6而被固定。

在图3中图示了光源2的详细情况。光源2由半导体激光器52、偏光棱镜54和透镜56构成，并将通过偏光棱镜54而被偏振后的激光输入至入射用光导纤维14。受光装置4由透镜58、光束分离器60、第一光电二极管62、第二光电二极管64、和运算放大器66构成。光束分离器60具备将光沿着偏振方向而进行二分的功能，入射至第一光电二极管62的光的偏振面和入射至第二光电二极管64的光的偏振面正交。通过运算放大器66而对第一偏振面的光强度和第二偏振面的光强度的差进行放大而得到的值对应于偏振光的旋转角而发生变化。

以图1所示的结构，对固定有电流检测头70的导体板34进行批量生产。光导纤维14、16从电流检测头70延伸。将该光导纤维14、16的上端固定在基板6上。由此，光源2和磁光元件28之间通过光导纤维14而被连接，磁光元件28和受光装置4之间通过光导纤维16而被连接，由此完成了电流检测装置。

对图1中的电流检测装置的作用进行说明。半导体激光器52发射出激光。通过使该激光穿过偏光棱镜54，从而使仅在特定的偏振面内偏振的光的成分经由透镜56而入射至光导纤维14。如图2所示，到达了光导纤维14的下端的偏振光通过透镜24而向倾斜方向改变光程，并到达磁光元件28的上表面。到达了磁光元件28的上表面的偏振光，通过磁光元件28的上表面而被反射。

图1中的导体板在纸面垂直方向上较长，在纸面垂直方向上流通有电流I。图1相当于图4中的A-A线剖视图。因此，在磁光元件28上作用有图1和图2中的左右方向上的磁场H。在通过作用有磁场H的磁光元件28的上表面而使偏振光被反射时，将产生磁光克尔效应(此时为纵向克尔效应)。在磁光元件28上，选择发挥磁光克尔效应的结晶。由于产生磁光克尔效应，因此通过磁光元件28的上表面而被反射的偏振光的偏振面进行旋转。即，入射光16的偏振面和反射光48的偏振面并不相同，而是旋转的。

通过磁光元件28的上表面而被反射的光，经过透镜24、射出用光导纤维16、透镜58、和光束分离器60，而入射至第一光电二极管62和第二光电二极管64。对由第一光电二极管62检测出的第一偏振面的光强度、和由第二光电二极管64检测出的第二偏振面(与第一偏振面正交)的光强度的差进行放大而得到的值，依存于通过磁光克尔效应而产生的偏振面的旋转角而发生变化。根据运算放大器66的输出，从而检测出通过磁光克尔效应而产生的偏振面的旋转角、造成该旋转角的作用在磁光元件28上的磁场H的强度、造成该磁场强度的电流I的大小。

当批量生产附带有图1至图3的电流检测头70的导体板34时，为了批量生产检测值与电流值之间的关系稳定的导体板34，与电流检测相关的部件彼此间的相对位置关系和相对方位关系被调节并固定为一定的关系是很重要的。

如图4所示，在导体板34中流通有电流I时所产生的磁场H的强度根据相对于导体板34的位置而发生变化。因此，导体板34和磁光元件28的相对位置关系是很重要的。磁光元件28具备易磁化轴J。通过磁光克尔效应而产生的偏振面的旋转角，还会受到由易磁化轴J和磁场H所成的角度θ1的影响。因此，磁光元件28的易磁化轴J和导体板34所成的角度θ1也是很重要的。通过磁光克尔效应而产生的偏振面的旋转角，还受到易磁化轴J和入射光46所成的角度(水平方向上的角度θ2和垂直方向上的角度θ3)的影响。光导纤维14、透镜24、磁光元件28、和光导纤维16之间的相对位置关系是很重要的。

在图1至图3的电流检测装置中，由于在固定部件22上分别固定有光导纤维14、透镜24、磁光元件28、光导纤维16、和导体板34，因此光导纤维14、透镜24、磁光元件28、光导纤维16、和导体板34之间的相对位置关系和相对方位关系被调节并固定为一定的关系。在本实施例中，由于与电流检测相关的全部部件14、24、28、16、34被固定在固定部件22上，因此与电流检测相关的全部部件14、24、28、16、34之间的相对位置关系和方位关系(角度关系)被调节并固定为一定的关系。根据图1至图3的电流检测装置，能够批量生产检测值和电流值之间的关系稳定的、附带有电流检测头70的导体板34。

此外，通过基板6，从而使光导纤维14的上端、半导体激光器52、偏光棱镜54、和透镜56之间的相对位置关系和相对角度关系被调节并固定为一定的关系。而且，通过基板6，从而使光导纤维16的上端、透镜58、光束分离器60、第一光电二极管62、和第二光电二极管64之间的相对位置关系和相对角度关系被调节并固定为一定的关系。这些要素也有助于批量生产检测值与电流值之间的关系稳定的、附带有电流检测装置的导体板34。

固定部件22既可以如图1所示由一个物体形成，也可以如图5所示由两个物体形成。在图5的情况下，例示了如下情况，即，在第一固定部件22a上固定有光导纤维14、16，在第二固定部件22f上固定有透镜24和磁光元件28。在第一固定部件22a上形成有一对凹处22b、22c，在第二固定部件22b上形成有一对卡合爪22d、22e。在对第一固定部件22a和第二固定部件22b进行组合时，以卡合爪22d与凹处22b相咬合，卡合爪22e与凹处22c相咬合的状态，而使第一固定部件22a和第二固定部件22b被固定。在该状态下，第一固定部件22a和第二固定部件22b之间的相对位置关系被调节并固定为一定的关系。当第一固定部件22a和第二固定部件22b被组合时，第一固定部件22a和第二固定部件22b之间的相对位置关系稳定，从而光导纤维14的下端、透镜24、磁光元件28、和光导纤维16的下端之间的相对位置关系被调节并固定为一定的关系。

在第二固定部件22f上形成有：与导体板34进行定位并固定的凸缘22g和安装孔30、32。被形成在第二固定部件22f上的凸缘22g和安装孔30、32成为将第二固定部件22f固定在导体板34上的固定部。

如果使螺栓18穿过安装孔30和安装孔36并拧紧螺母40，且使螺栓20穿过安装孔32和安装孔38并拧紧螺母42，则光导纤维14的下端、透镜24、磁光元件28、光导纤维16的下端、和导体板34之间的相对位置关系和相对角度关系被调节为一定的关系并固定。

在本实施例中，在导体板34上形成有凹处34a，磁光元件28被收纳在导体板34的厚度范围内。作用在磁光元件28上的磁场的强度增大，从而电流检测灵敏度增大。如图1和图5所例示，透镜24的形状配合特性而进行选择。

图6图示了，批量生产了固定有图5中的电流检测头72的导体板34时的、检测值(运算放大器66的值)与真正的电流值之间的关系的误差范围。误差范围较窄。图7图示了，使用如下方法来批量生产了带有电流检测头的导体板时的、检测值与电流值之间的关系的误差范围，所述方法为，将磁光元件固定在导体板上，并相对于磁光元件而对透镜进行定位，且相对于而透镜对光导纤维进行定位的方法。误差范围较大。当使用现有的技术来批量生产带有电流检测头的导体板时，在批量生产的产品之间，检测值与电流值的关系将会产生较大的误差。

图8图示了第三实施例。在第一固定部件22j上固定有：光导纤维14、16和透镜24，在第二固定部件22o上固定有磁光元件28。透镜24既可以如图8所示而固定在第一固定部件22j上，也可以如图5所示儿而固定在第二固定部件22f上。

图9图示了如下实施例，即，使用树脂材料通过插入形成而制造出导体板34、磁光元件28、透镜24、和光导纤维15的下端的实施例。通过固定部件22r，从而使导体板34、磁光元件28、透镜24、和光导纤维15的下端之间全部的相对位置关系被调节并固定为一定的状态。由此能够批量生产检测值与电流值之间的关系稳定的导体板34。在导体板34上形成有开口34b，从而固定部件22r不会从导体板34上分离。

在图9的情况下，对朝向磁光元件28的光进行引导的芯(第一芯)14a、对通过磁光元件28而被反射的光进行引导的芯(第二芯)16a被收纳在一根光导纤维15内。由于只需一根光导纤维15即可，因此使连接作业简化。

图10图示了如下实施例，即，在导体板34的一个面上，使用树脂材料通过插入形成而制造出导体板34、磁光元件28、透镜24、光导纤维14的下端、和光导纤维16的下端的实施例。当在导体板34上预先形成斜向延伸的槽34c、34d时，固定部件22s将不会从导体板34上分离。

图11图示了将固定部件22t固定在导体板34上而进行制造的实施例，该固定部件22t是使用树脂材料并通过插入形成磁光元件28、透镜24、光导纤维14的下端、和光导纤维16的下端而制造出的。在该实施例中，对形成在导体板34上的孔34e的直径和设置在固定部件22t的下表面上的筒部的直径进行管理，从而将两者设定为紧贴的关系。通过将固定部件22t的筒部插入到导体板34的孔34e中，从而对相对于导体板34的固定部件22t的位置进行准确地定位。此外，通过螺钉18a、20a，从而将相对于导体板34的、固定部件22t的安装角度准确地调节为一定角度。

以上，虽然对本发明的具体例进行了详细说明，但这些只不过是示例，并不对专利权利要求进行限定。在专利权利要求所记载的技术中，包括对以上例示的具体例进行了各种改变、变更的技术。本说明书或者附图中所说明的技术要素为，以单独的方式或者通过各种组合而发挥技术方面的有用性的要素，并不限定于申请时的权利要求中所记载的组合。并且，本说明书或者附图中所例示的技术为，能够同时达成多个目的技术，而达成其中一个目的本身也具有技术方面的有用性。

符号说明

2：光源；

4：受光装置；

6：基板；

8：贯穿孔；

10：贯穿孔；

12：上端固定部件；

14：入射用光导纤维；

16：射出用光导纤维；

22：固定部件；

22a、22j：第一固定部件；

22f、22o：第二固定部件；

24：透镜；

26：空间；

28：磁光元件；

34：导体板。

Claims (8)

1.一种电流检测装置，其为对导体中流动的电流进行检测的装置，其特征在于，

具备：

电流检测头，其固定在该导体上而进行使用；

基板；

光导纤维，其在所述电流检测头与所述基板之间延伸，

在所述电流检测头上固定有：所述光导纤维的一端、透镜、以及磁光元件，

在所述基板上形成有贯穿孔，

在所述基板的所述贯穿孔中插入并固定有所述光导纤维的另一端，

在所述基板上配置有光源和受光装置，其中，所述光源将偏振光入射到所述光导纤维的所述另一端，所述受光装置输出与从所述光导纤维的所述另一端射出的偏振光的旋转角相对应的电信号，

所述电流检测装置中形成了如下的光学系统，即，通过所述电流检测头，从而将穿过了所述光导纤维的偏振光经过所述透镜而引导至所述磁光元件，并且将通过所述磁光元件而受到了磁光效应的偏振光经过所述透镜而引导至所述光导纤维。

2.如权利要求1所述的电流检测装置，其特征在于，

所述光导纤维被划分为，使朝向所述磁光元件的光穿过的入射用光导纤维、和使来自所述磁光元件的光穿过的射出用光导纤维。

3.如权利要求1或2所述的电流检测装置，其特征在于，

所述电流检测头被固定在所述导体的一个面上，

所述磁光元件为，发挥磁光克尔效应的元件，

所述电流检测装置中形成了如下的光学系统，即，通过所述磁光元件而将穿过了所述透镜的光进行反射以使之返回至所述透镜。

4.如权利要求1或2所述的电流检测装置，其特征在于，

所述电流检测头具备固定部件，所述固定部件上分别固定有所述光导纤维的一端、所述透镜、以及所述磁光元件，

在该固定部件上固定有所述导体。

5.如权利要求4所述的电流检测装置，其特征在于，

所述固定部件具备：第一固定部件、和相对于第一固定部件以预定的位置关系而被固定的第二固定部件，

在所述第一固定部件上固定有所述光导纤维和所述透镜，

在所述第二固定部件上固定有所述磁光元件。

6.如权利要求4所述的电流检测装置，其特征在于，

所述固定部件具备：第一固定部件、和相对于第一固定部件以预定的位置关系而被固定的第二固定部件，

在所述第一固定部件上固定有所述光导纤维，

在所述第二固定部件上固定有所述透镜和所述磁光元件。

7.如权利要求1、2、5、6中的任意一项所述的电流检测装置，其特征在于，

所述光导纤维为，具备使朝向所述磁光元件的光穿过的第一芯和使来自所述磁光元件的光穿过的第二芯的一根光导纤维。

8.如权利要求1、2、5、6中的任意一项所述的电流检测装置，其特征在于，

朝向所述磁光元件的光和来自所述磁光元件的光穿过共用的透镜。