CN103036738A - 一种验证系统及其验证方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种验证系统,包括:寄存器生成模块,根据被测模块的寄存器信息生成随机寄存器数据;TS测试流生成模块,根据前述的随机寄存器数据生成随机TS测试流;被测模块,接收并处理随机的寄存器数据和TS测试流,并将得到的输出数据发送到检验器;检验器,接收并处理随机寄存器数据和TS测试流,得到被测模块的检验标准值,通过检验被测模块的输出和检验标准值是否相同,判断被测模块的工作状态以实现对被测模块的验证;本发明在无“采样源”的条件下生成TS测试流,可以大幅节省TS测试流的准备时间;通过对各个数据配置随机数值,在短时间内,生成多种格式的TS流;使得TS流接收器的功能覆盖率迅速提高,同时伴随多次各种格式TS流的相互转换,使得对TS流接收器稳定性测试得以实现。
Description
技术领域
本发明涉及芯片(IC)设计中的功能验证领域,主要涉及一种IC验证以及在IC验证中可以生成随机TS流的方法。
背景技术
近年来,随着IC设计复杂度的规模的不断扩大,功能验证也变得越来越复杂。在目前的IC设计中,设计周期的70%-80%都花费在功能验证上,因此找出一种切实可行的功能验证方案,快速准确地建立验证平台,针对各个功能点设计出合适的测试激励,是提高验证效率,缩短设计周期的有效途径。现在IC设计中广泛应用的功能验证方法是设计者根据设计规范文档的功能说明,输入相对应的测试激励,通过软件模拟找出设计中存在的逻辑缺陷。最终保证逻辑设计的正确性。在这个过程中对输入测试激励的编写要求很高,但是,目前现有技术中仍然缺乏一种能够快速准确的对测试激励进行描述的有效方法,现有的编写测试激励的方法主要是通过编程和脚本文件来实现,这些方法受到外界因素的影响大,对编写激励的人员的要求高,编写费时,费力,又非常难以维护,常常导致验证工作不能按期完成。因此验证领域迫切需要一种有效的方法,可以弥补上各个方法的不足,显著提高验证效率。
同时,目前现有技术中作为测试激励中的一种的TS测试流,其生成方法也存在以下诸多弊端:
1. 必须有采样源。目前的TS流接收器验证的方法一般是对已有的媒体流(一般是广播电视数据流)进行采样生成TS流数据,然后直接使用或者经过加工后使用。但是,如果要测试新格式的TS流是否支持,以及新格式TS流与其他格式TS流混合输出是否兼容时,上述方法就无法支持,因为没有采样源。
2. 由于被采样媒体流的配置一般不会改变,或者改变的幅度范围远远小于接收器功能能够支持的范围。所以导致接收器有很多功能要验证,用上述方法得到的测试用TS流只能测试到很少的功能。
3. 同时由于,上述方法生成的测试TS流的配置跳变少,所以无法测试各种配置跳变时,TS流接收器的功能是否正常。所以无法测试TS流接收器的稳定性。
4. 目前生成TS测试流时必须先生成PES/PSI或者其他加载包(PAYLOAD)的全部数据才能够生成TS包,当PAYLOAD数据包很长的时候就需要先开辟很大的空间来存储生成的PAYLOAD.
综上所述,为了避免上述情形,降低资源耗费,一种新的,灵活、实用的芯片(IC)设计中的功能验证的TS流的生成方法和系统的发明是势在必行的。
发明内容
本发明的目的是:
1、提供一种在无采样源的前提下,用于生成TS测试流的方法和数据生成器。以解决在没有采样源的前提下,无法生成各种合法的TS测试流的问题。
2、短时间内生成多种对于被测TS流接收器来说合法的TS流(符合用户需求的TS包,字段可为随机数或者用户添加取值范围的值)的TS流。解决短时间内无法生成验证覆盖率高的TS测试流的问题。同时解决TS流接收器稳定性难以测试的问题。
3、提供一种使用很小的空间就可以生成大数据量的加载数据包的方法。即只生成加载数据的配置,这个配置包含加载数据包的长度,但并不包含加载数据中的数据。例如,对于PES数据包,生成和PES包的长度而不生成数据。然后在生成TS包的时生成随机数据充当PES的数据。这样就避免了PES包的数据长度很长的时候,必须给PES分配一个很长的存储空间的问题。这种方法只需要一个很小的空间来存储PES的配置和TS包的随机数据。
4、对于相同的有效TS包,插入各种不同的无效TS包。生成有效TS包相同,无效TS包不同的多个TS流。以解决TS流接收器稳定性难以测试的问题。
为了解决上述技术问题,本发明提供的技术方案为:
一种验证系统, 主要应用于芯片(IC)设计中的功能验证,其包括:
寄存器生成模块,根据被测模块的寄存器信息生成随机寄存器数据;
TS测试流生成模块,根据前述的随机寄存器数据生成随机TS测试流;
被测模块,接收并处理随机的寄存器数据和TS测试流,并将得到的输出数据发送到检验器;
检验器,接收并处理随机寄存器数据和TS测试流,得到被测模块的检验标准值,通过检验被测模块的输出和检验标准值是否相同,判断被测模块的工作状态以实现对被测模块的验证。
所述寄存器生成模块根据被测模块的寄存器地址,生成随机寄存器数据,并打包成为寄存器数据包;所述的寄存器数据包包括:寄存器地址和寄存器数据。
所述TS测试流生成模块包括:有效数据包生成模块、无效数据包生成模块以及通道复用模块,其中,
有效数据包生成模块:生成会被被测模块接收的TS包;
无效数据包生成模块:生成会被被测模块丢弃的TS包;
通道复用模块:从有效数据包生成模块和无效数据包生成模块,随机选择一个数据包生成模块,获得一个生成的TS包并发送出去。
所述有效数据包生成模块对应于TS测试流中的通道,为该通道生成TS包;所述TS包包括:配置信息和加载数据;所述配置信息包括同步字段,包识别码,加载数据长度指示值以及其它配置信息。
所述有效数据包生成模块生成TS包的加载数据,所述TS包的加载数据是由加载数据包分割而成的数据块;所述加载数据包是需要被TS流传输的数据包。
所述有效数据包生成模块生成加载数据包,其包括配置信息和加载数据;所述加载数据包的配置信息包括:加载数据包标识,标识数据包种类、加载数据包总长度,记录加载数据包总长度、待传输数据长度,当前还需要传输的数据长度;每当要生成一个新的TS包并且加载数据包中需要被传输的数据长度为零时,有效数据包生成模块就生成新的加载数据包。
所述有效数据包生成模块生成TS包的加载数据的步骤为:
若加载数据包待传输数据长度等于零,随机生成加载数据包的配置信息:
加载数据包标识,随机生成;
加载数据包总长度,随机生成;
传输数据长度等于加载数据包总长度;否则,
加载数据包的配置信息不变,更新TS包的加载数据长度。
所述有效数据包生成模块生成TS包的加载数据的步骤为:如果待传输加载数据包长度小于本TS包加载数据长度时,则TS包的加载数据长度等于加载数据包的待传输数据长度;否则,TS包的加载数据长度保持不变,随机生成TS包的加载数据,长度为:TS包的加载数据长度;其生成的TS包的加载数据包括:加载数据包的配置信息、TS测试流生成模块随机生成的TS包加载数据。
所述无效数据包生成模块只有一个,所述无效数据包生成模块为TS包的包识别码赋值为寄存器数据包中记录的包识别码数值以外的数值,TS包的其他字段赋随机数据,被测模块在收到生成的数据包时检验TS包的包识别码值与被测模块的寄存器中记录的所有包识别码值均不相等,则,被测模块丢弃该TS包;且,本模块产生的包识别码值在同一寄存器配置下是可变的随机值。
所有的随机寄存器数据和TS测试流等皆可加取值范围来限制。
一种验证系统的验证方法, 主要应用于芯片(IC)设计中的功能验证,其包括如下步骤:
根据被测模块的寄存器信息多次生成随机寄存器数据;
根据寄存器数据生成随机TS测试流;并将随机的TS测试流和寄存器数据发送给被测模块和检验器进行处理;
随机的寄存器数据和TS测试流经过被测模块处理得到的输出数据发送到检验器;
所述寄存器数据和TS测试流经过检验器处理得到被测模块的检验标准值;检验器通过检验被测模块的输出和检验标准值是否相同,判断被测模块的工作状态实现对被测模块的验证。
所述TS测试流包括若干TS包,所述TS包包括:配置信息和加载数据;所述TS包的加载数据是由加载数据包分割而成的数据块;所述加载数据包是需要被TS流传输的数据包;所述加载数据包,其包括配置信息和加载数据;所述加载数据包的配置信息包括:加载数据包标识,标识数据包种类、加载数据包总长度,记录加载数据包总长度、待传输数据长度,当前还需要传输的数据长度;每当要生成一个新的TS包并且加载数据包中需要被传输的数据长度为零时,就生成新的加载数据包。
所述TS包的加载数据的生成步骤为:
首先,生成TS包的配置信息,其中包括TS包的加载数据长度指示值;
继续的,按照以下条件和步骤生成加载数据包的配置信息:
如果加载数据包待传输数据长度大于零,加载数据包的配置信息不变;否则,
则随机生成加载数据包的配置信息:
加载数据包标识以及加载数据包总长度,随机生成;使传输数据长度等于加载数据包总长度;
接着,按照以下条件和步骤修正本TS包加载数据长度指示值:如果待传输数据长度小于本TS包加载数据长度时,使TS包的加载数据长度等于加载数据包的待传输数据长度;否则,TS包的加载数据长度保持不变;
然后,按照TS包的加载数据长度指示值,随机生成TS包的加载数据,然后用加载数据包的配置信息把TS包加载数据上对应位置的随机数据替换掉;则TS包的加载数据包括:加载数据包的配置信息、TS测试流生成模块随机生成的加载数据;
最后,更新加载数据包的配置信息中的待传输数据长度,从待传输数据长度中把上述经过修正的TS包已经传输完成的加载数据长度减掉。
本发明的有益效果是:通过采用无“采样源”的条件下生成TS测试流的方式,使得验证人员可以从搜集,加工测试用TS流的工作中解放出来。特别是对于一些市面上难以找到,但是根据协议又是合法的TS流。本方法可以大幅节省TS测试流的准备时间。
通过对各个数据配置随机数值(包括随机寄存器数据,加载数据包配置信息,TS包的加载数据和配置信息),在短时间内,生成多种格式的TS流;可以使得TS流接收器的功能覆盖率迅速提高,同时伴随多次各种格式TS流的相互转换,使得对TS流接收器稳定性测试得以实现。
随机数据可以采用用户制定的随机算法,所以大幅增强了测试的灵活性。
由于生成的TS流的配置和TS包的各个字段值均为随机数据,可以在短时间内迅速收敛,在短时间内就可以大幅提升验证覆盖率。
区别与传统的必须生成加载数据包的配置和数据生成才可以生成TS包的方法。无需在同一时刻生成并保持数据量庞大的加载数据包的数据,会节约大量的资源消耗,从而提高验证速度。
可以对相同的有效TS包,插入不同的无效TS包产生多种不同的TS流。使得被测模块的稳定性得以测试。
附图说明:
通过以下对本发明的实施例结合其附图的描述,可以进一步理解其发明的目的、具体结构特征和优点。其中,附图为:
图1是: 本发明的测试环境的示意框图。
图2是: TS测试流的数据生成器内部的示意框图。
图3是: TS测试流的数据生成器寄存器配置的工作顺序示意图。
图4是: 本发明中的加载数据包生成方式与传统的加载数据包生成方式的对比示意图。
图5是: TS测试流的数据生成器生成一个TS包的工作流程示意图。
具体实施方式:
下面结合附图中的实例对本发明作进一步的描述。
本发明涉及芯片(IC)设计中的功能验证领域,主要是指一种IC验证系统以及在IC验证中生成随机TS流(本发明仅限于TS级协议的测试流生成)的方法,应用于TS流接收器的验证环境搭建。采用本发明的系统以及方法可以大幅提高TS流接收器模块相关验证的效率。
如图1-5所示,本发明所述的验证系统具体包括寄存器生成模块、TS测试流生成模块、被测模块和检验器。
所述的寄存器生成模块首先会根据被测模块的寄存器信息多次生成随机寄存器数据。寄存器生成模块对于被测模块的每一个寄存器地址,生成一个随机寄存器数据;然后打包成为一个寄存器数据包。所述的寄存器数据包包括:一个寄存器地址和一个寄存器数据。
继续的,所述的寄存器生成模块对所有的寄存器地址执行完一次寄存器数据生成,称为一次寄存器配置。寄存器配置可以被多次执行,每次执行寄存器配置时对于同一个寄存器地址生成的寄存器数据不同,而随机寄存器数据决定了TS测试流生成模块所生成的TS测试流的配置。因此通过多次执行寄存器配置可以实现TS测试流配置的各种跳变。所述寄存器配置执行完以后,其寄存器数据会被发送到以下三个地方:TS流生成模块、通过寄存器输出接口发送到被测模块、通过寄存器输出接口发送到检验器。
所述的TS测试流生成模块根据前述的随机寄存器数据生成随机TS测试流。所述随机TS测试流中会包含多路通道的数据,每路通道通过一个特殊的数据来识别,这个数据就是TS包(所述TS测试流是由多个TS包构成的测试数据流)中的包识别码,即PID(packet identifier )字段。且,每路通道的PID数值是不同的。执行寄存器配置时为每路通道生成PID字段的数值,把它存入寄存器数据包中。TS测试流生成模块,在执行完一次寄存器配置后,开始根据生成的寄存器数据来生成随机TS包,然后连续的发送出去形成TS测试流。上述的TS包,包含以下两部分内容:配置信息(本实例分为同步字段,PID值,加载数据长度指示值,其他配置信息)和加载数据(需要被传输的数据)。
本发明实施例中的TS测试流生成模块,包括以下部分:有效数据包生成模块、无效数据包生成模块以及通道复用模块。
所述有效数据包生成模块:生成会被被测模块接收的TS包。这个模块的个数为上述的TS测试流中的通道数。每一个有效数据包生成模块对应TS测试流中的一个通道,为这个通道生成TS包。且,所述有效数据包生成模块同时为TS包随机生成TS包的配置信息,其中包括 一个加载数据长度指示值,这个长度的取值范围为0-184。
继续的,所述有效数据包生成模块生成一个TS包的配置信息时,为TS包的同步字段赋值为0x47(TS包同步字段标准数值);为TS包的PID赋值为寄存器数据包中记录的PID数值。一次寄存器配置完成后,每个有效数据包生成模块采用的PID数值相互之间是不同的。直到下一次寄存器配置完成之前,这些PID数值是不变的。被测模块在收到本模块生成的数据包时检验TS包的PID值与被测模块寄存器记录的PID相等时被测模块接收该TS包。
所述有效数据包生成模块生成TS包的加载数据,TS包的加载数据是由加载数据包分割而成的数据块。所述加载数据包是需要被TS流传输的数据包,它的长度从零到无限大均可,几百万字节甚至不设上限都有可能。当加载数据包很大时就会被分割为多个数据块放置到TS包中的加载数据中进行传输。
所述有效数据包生成模块中的加载数据包也由配置信息和加载数据构成。加载数据包的配置信息包含以下内容:加载数据包标识,标识数据包的属性,包括种类、加扰模式等;加载数据包总长度,记录加载数据包总长度;待传输数据长度,当前还需要传输的数据长度。上述的加载数据包在本实例中为PES数据包,或者PSI数据包。当然,在实际使用中不仅限于这两种数据包,例如:EMM数据包(entitlement management messages)即授权管理信息也是可以通用的。
每当要生成一个新的TS包并且加载数据包中需要被传输的数据长度为零时,有效数据包生成模块就生成新的加载数据包。传统的生成加载数据包的方式是配置信息和加载数据都同时刻生成,由上述的说明可知:当加载数据包很大时,要生成和存放如此多的数据就需要很大资源。而本发明中的有效数据包生成模块,采用了如下的方法解决当加载数据包很大时,要生成和存放很多的数据需要很大资源的问题:
本发明TS包的加载数据生成步骤为:
首先,有效数据包生成模块生成TS包的配置信息,其中包括TS包的加载数据长度指示值。
继续的,有效数据包生成模块按照以下条件和步骤生成加载数据包的配置信息:
如果加载数据包待传输数据长度大于零,加载数据包的配置信息不变。
否则,加载数据包待传输数据长度等于零,则随机生成加载数据包的配置信息:
加载数据包标识,随机生成;
加载数据包总长度,随机生成;
传输数据长度等于加载数据包总长度。
接着,有效数据包生成模块按照以下条件和步骤修正本TS包加载数据长度指示值:如果待传输数据长度小于本TS包加载数据长度时,则TS包的加载数据长度等于加载数据包的待传输数据长度;否则,TS包的加载数据长度保持不变。
然后,有效数据包生成模块按照TS包的加载数据长度指示值,随机生成TS包的加载数据,此处生成的加载数据就模拟了加载数据包中的加载数据。然后用加载数据包的配置信息把TS包加载数据上对应的位置的随机数据替换掉。这样生成的一个TS包的加载数据就包含了以下两部分:加载数据包的配置信息、TS测试流生成模块随机生成的加载数据。
最后,有效数据包生成模块更新加载数据包的配置信息中的待传输数据长度,从待传输数据长度中把经过修正的上述TS包已经传输完成的加载数据长度减掉。
由以上描述可知,采用本方法时无需在同一时刻存储加载数据包的所有加载数据,只在生成一个TS包的加载数据时生成长度是0-184个字节的随机数据块即可,它远小于几百万字节。这样解决当加载数据包很大的时候,要生成和存放很多的数据需要很大资源的问题。
所述无效数据包生成模块:生成会被被测模块丢弃的TS包。这个模块只有一个。无效数据包生成模块为TS包的同步字段赋值为0x47,为TS包的PID赋值为寄存器数据包中记录的PID数值以外的数值。TS包的其他字段赋随机数据。被测模块在收到生成的数据包时检验TS包的PID值,检验到TS包的PID值与被测模块的寄存器中记录的所有PID值均不相等。所以,被测模块丢弃该TS包。因为本模块产生的PID值在同一寄存器配置下是可变的随机值,所以其可以仿真多路无效数据通道。通过一个模块就可以完成多路无效通道的方法大大节省了资源。
所述通道复用模块:从所有有效数据包生成模块和无效数据包生成模块随机选择一个数据包生成模块,获得一个它生成的TS包并发送出去。这样实现了在一个TS流中传输多个通道的数据。
继续的,验证过程中将上述的TS测试流和随机寄存器数据发送给被测模块和检验器。
随机寄存器数据和TS测试流经过被测模块处理得到的输出数据发送到检验器。
随机寄存器数据和TS测试流经过检验器处理得到被测模块的检验标准值。检验器通过检验被测模块的输出和检验标准值是否相同,判断被测模块是否工作正常,实现对被测模块的验证。
当然,本发明所有的随机生成数据,即随机寄存器数据和TS测试流等都可以加取值范围来限制。
寄存器生成模块追加限制,使寄存器数据包的数据为合法的固定值。有效数据生成模块追加限制,使其随机数据为合法的固定值,生成的TS流就是有效数据相同、无效数据为多路通道的多种TS流。
综上所述,本发明验证系统以及验证方法通过采用无“采样源”的条件下生成TS测试流的方式,使得验证人员可以从搜集,加工测试用TS流的工作中解放出来。特别是对于一些市面上难以找到,但是根据协议又是合法的TS流。本方法可以大幅节省TS测试流的准备时间。通过对各个数据配置随机数值(包括随机寄存器数据,PES配置,PSI配置,TS数据和配置),在短时间内,生成多种格式的TS流。可以使得TS流接收器的功能覆盖率迅速提高。同时伴随多次各种格式TS流的相互转换,使得对TS流接收器稳定性测试得以实现。再者,本发明采用小空间生成加载数据的方法,节省资源消耗,大幅提高验证的速度和质量。
本技术领域中的普通技术人员应当认识到,以上的实施例仅是用来说明本发明的目的,而并非用作对本发明的限定,只要在本发明的实质范围内,对以上所述实施例的变化、变型都将落在本发明的权利要求的范围内。
Claims (13)
1.一种验证系统, 主要应用于芯片(IC)设计中的功能验证,其特征在于,其包括:
寄存器生成模块,根据被测模块的寄存器信息生成随机寄存器数据;
TS测试流生成模块,根据前述的随机寄存器数据生成随机TS测试流;
被测模块,接收并处理随机的寄存器数据和TS测试流,并将得到的输出数据发送到检验器;
检验器,接收并处理随机寄存器数据和TS测试流,得到被测模块的检验标准值,通过检验被测模块的输出和检验标准值是否相同,判断被测模块的工作状态以实现对被测模块的验证。
2.根据权利要求1所述的验证系统,其特征在于: 所述寄存器生成模块根据被测模块的寄存器地址,生成随机寄存器数据,并打包成为寄存器数据包;所述的寄存器数据包包括:寄存器地址和寄存器数据。
3.根据权利要求1所述的验证系统,其特征在于: 所述TS测试流生成模块包括:有效数据包生成模块、无效数据包生成模块以及通道复用模块,其中,
有效数据包生成模块:生成会被被测模块接收的TS包;
无效数据包生成模块:生成会被被测模块丢弃的TS包;
通道复用模块:从有效数据包生成模块和无效数据包生成模块,随机选择一个数据包生成模块,获得一个生成的TS包并发送出去。
4.根据权利要求3所述的验证系统,其特征在于: 所述有效数据包生成模块对应于TS测试流中的通道,为该通道生成TS包;所述TS包包括:配置信息和加载数据;所述配置信息包括同步字段,包识别码,加载数据长度指示值以及其它配置信息。
5.根据权利要求3所述的验证系统,其特征在于:所述有效数据包生成模块生成TS包的加载数据,所述TS包的加载数据是由加载数据包分割而成的数据块;所述加载数据包是需要被TS流传输的数据包。
6.根据权利要求5所述的验证系统,其特征在于:所述有效数据包生成模块生成加载数据包,其包括配置信息和加载数据;所述加载数据包的配置信息包括:加载数据包标识,标识数据包属性、加载数据包总长度,记录加载数据包总长度、待传输数据长度,当前还需要传输的数据长度;每当要生成一个新的TS包并且加载数据包中需要被传输的数据长度为零时,有效数据包生成模块就生成新的加载数据包。
7.根据权利要求6所述的验证系统,其特征在于:所述有效数据包生成模块生成TS包的加载数据的步骤为:
若加载数据包待传输数据长度等于零,随机生成加载数据包的配置信息:
加载数据包标识,随机生成;
加载数据包总长度,随机生成;
传输数据长度等于加载数据包总长度;否则,
加载数据包的配置信息不变,更新TS包的加载数据长度。
8.根据权利要求6所述的验证系统,其特征在于:所述有效数据包生成模块生成TS包的加载数据的步骤为:如果待传输加载数据包长度小于本TS包加载数据长度时,则TS包的加载数据长度等于加载数据包的待传输数据长度;否则,TS包的加载数据长度保持不变,随机生成TS包的加载数据,长度为:TS包的加载数据长度;其生成的TS包的加载数据包括:加载数据包的配置信息、TS测试流生成模块随机生成的TS包加载数据。
9.根据权利要求3所述的验证系统,其特征在于:所述无效数据包生成模块只有一个,所述无效数据包生成模块为TS包的包识别码赋值为寄存器数据包中记录的包识别码数值以外的数值,TS包的其他字段赋随机数据,被测模块在收到生成的数据包时检验TS包的包识别码值与被测模块的寄存器中记录的所有包识别码值均不相等,则,被测模块丢弃该TS包;且,本模块产生的包识别码值在同一寄存器配置下是可变的随机值。
10.根据权利要求1所述的验证系统,其特征在于:所有的随机寄存器数据和TS测试流等皆可加取值范围来限制。
11.如权利要求1所述的一种验证系统的验证方法, 主要应用于芯片(IC)设计中的功能验证,其特征在于,其包括如下步骤:
根据被测模块的寄存器信息多次生成随机寄存器数据;
根据寄存器数据生成随机TS测试流;并将随机的TS测试流和寄存器数据发送给被测模块和检验器进行处理;
随机的寄存器数据和TS测试流经过被测模块处理得到的输出数据发送到检验器;
所述寄存器数据和TS测试流经过检验器处理得到被测模块的检验标准值;检验器通过检验被测模块的输出和检验标准值是否相同,判断被测模块的工作状态实现对被测模块的验证。
12.如权利要求11所述的验证方法,其特征在于,所述TS测试流包括若干TS包,所述TS包包括:配置信息和加载数据;所述TS包的加载数据是由加载数据包分割而成的数据块;所述加载数据包是需要被TS流传输的数据包;所述加载数据包,其包括配置信息和加载数据;所述加载数据包的配置信息包括:加载数据包标识,标识数据包种类、加载数据包总长度,记录加载数据包总长度、待传输数据长度,当前还需要传输的数据长度;每当要生成一个新的TS包并且加载数据包中需要被传输的数据长度为零时,就生成新的加载数据包。
13.如权利要求12所述的验证方法,其特征在于,所述TS包的加载数据的生成步骤为:
首先,生成TS包的配置信息,其中包括TS包的加载数据长度指示值;
继续的,按照以下条件和步骤生成加载数据包的配置信息:
如果加载数据包待传输数据长度大于零,加载数据包的配置信息不变;否则,
则随机生成加载数据包的配置信息:
加载数据包标识以及加载数据包总长度,随机生成;使传输数据长度等于加载数据包总长度;
接着,按照以下条件和步骤修正本TS包加载数据长度指示值:如果待传输数据长度小于本TS包加载数据长度时,使TS包的加载数据长度等于加载数据包的待传输数据长度;否则,TS包的加载数据长度保持不变;
然后,按照TS包的加载数据长度指示值,随机生成TS包的加载数据,然后用加载数据包的配置信息把TS包加载数据上对应位置的随机数据替换掉;则TS包的加载数据包括:加载数据包的配置信息、TS测试流生成模块随机生成的加载数据;
最后,更新加载数据包的配置信息中的待传输数据长度,从待传输数据长度中把上述经过修正的TS包已经传输完成的加载数据长度减掉。
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