CN1029041C - 光记录介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开的光记录介质具有优良的记录敏感度以及基片对记录层的良好粘附力，所述的基片由乙烯和环烯烃的无规共聚物所组成，并具有一特殊的结构。
Description
本发明涉及光记录介质，其型式是通过如光或热的能量束的辐照在设于基片上的记录层上形成对应于信息的凹坑。
光记录介质有两种类型，一种是通过能量束的辐照在记录层一定地方形成物理上的变形部分如孔穴或凹面;另一种是通过能量束的辐照在记录层一定地方形成光学性质如折射率和反射系数被改变了的部分。
主要由低熔点金属如碲（Te）组成的记录层在此之前已在日本公开特许公报（公开号71195/1983
和9234/1983）中作为两种光学记录介质的记录层向世人公开。Te薄膜为典型的低熔点金属薄膜，在其上面可形成所需的物理上的变形部分或通过辐射很低的能量其光学性质被改变了的部分（下文中通常称作“凹坑”），因此作为一种高敏感度材料的非常有用的。此处所用的敏感度，其意义是，它被定义为每单位表面积形成凹坑所需的能量（毫焦耳/厘米2）。
虽然主要由Te组成的记录层是已知的，但是包含传统基片如聚碳酸酯树脂基片的光学记录介质和层压于其上的这些记录层具有这样的一个问题，即记录的敏感度往往是不足的。因此要求提供一种记录敏感度得到改进的光记录介质。
另外，包含传统基片如聚碳酸酯树脂基片的光记录介质和迭层于其上的主要由Te组成的记录层还有这样一个问题，即基片对记录层的粘附力是不充分的。因此，就需要除去包含在被用作基片的聚碳酸酯树脂中的水分这一处理阶段。另外，有时也需要有一个用等离子体处理聚碳酸酯树脂基片表面的阶段，以改进基片对记录层的粘附力。
以提供一种在记录敏感度上得到改进的光记录介质为目的以及在基片和记录层之间的粘结得到改进为目的，本发明者对此作了广泛的研究，并且已发现，当将其有特殊结构的、由乙烯和环烯烃单元组成的无规共聚物用作基片并以专用的记录层压于其上时，可以得到记录敏感度优良的以及基片和记录层之间粘结良好的光记录介质。本发明者在此发现的基础上最终完成了本发明。
本发明的意图是解决上述的与现有技术有关的问题，本发明的目的是提供在记录敏感度上以及在基片和记录层之间粘结上性能良好的光记录介质。
本发明的第一种光记录介质包括有基片和在其上形成的记录层，其中记录层受到能量束的辐照从而在其上形成对应于给定的信息资料的凹坑，从而记录该信息资料，所述的记录层为一主要由Te组成的薄膜和附加地含有C和H，所述的基片是由乙烯和环烯烃单元的环烯烃无规共聚物构成，它由上述的通式[Ⅰ]来表示。
本发明的第二种光记录介质包括有基片和在其上形成的记录层，其中记录层受到能量束的辐照从而在其上形成对应于给定的信息资料的凹坑，从而记录该信息资料，所述的记录层为一主要由Te组成的薄膜和附加地含有C和H，所述的基片由环烯烃无规共聚物成分构成，它包括有：
[A]含有乙烯单元和得自下述通式[Ⅰ]的环烯烃单元的环烯烃无规共聚物，它是有的特性粘度[η]为0.05-10分升/克，这是在萘烷中135℃温度下测得的;并且其软化温度（TMA）为不低于70℃。和
[B]含有乙烯单元和得自下述通式[Ⅰ]的环烯烃单元的环烯烃无规共聚物，在萘烷中135℃测得其特性粘度[η]为0.05-5分升/克，并且其软化温度（TMA）为低于70℃。所述的组分[A]对所述的组分[B]的重量比具有这样的比例，即其范围为100/0.1-100/10。
在通式[I]中，n为0或正整数，R1-R12可相同或相异，各代表氢原子、卤原子或烃基团，假如R9-R12合在一起，则可形成单环或多环烃环，它可任意地具有一个双键或多个双键，或者R9和R10、R11和、R12合在一起时，可形成次烷基。
在无规共聚物的聚合物链中，得自通式[I]环烯烃的单元是以重复单元的形式存在，它可由下面的通式[Ⅱ]来表示
这里R1-R12和n与上述所定义的相同
图1为本发明光记录介质的一个具体方案的粗略剖面图。
图2为本发明光记录介质的另一具体方案的粗略剖面图。
图中，数字10表示光记录介质，11表示基片，12表示记录层和13表示内涂层。
本发明的光记录介质在下面将更详细地加以说明。
如图1所示，根据本发明光记录介质10包括基片11和在其上面形成的记录层12。
基片
在本发明第一种光记录介质10中，基片11是由乙烯和至少一个环烯烃单元的环烯烃无规共聚物所构成，环烯烃单元由下面的通式[Ⅰ]来表示，并且在135℃下萘烷中测得其特性粘度[η]为0.05-10分升/克。
其中n为0或正整数，最好不大于3，R1-R12为相同原或相异的，并各表示氢原子、卤原子或烃基团，假如R9-R12结合在一起，则可形成单环或多环烃环，它可任选地具有一个双键或多个双键，或者R9和R10、R11和R12当合在一起时可形成次烷基。
在本发明第二种光记录介质10中，所述的基片11是由环烯烃无规共聚物成分构成，它包括;
[A]由乙烯单元和得自分子式[Ⅰ]的环烯烃单元组成的环烯烃无规共聚物，并且在135℃下萘烷中测得其特性粘度[η]为0.05-10分升/克，并且其软化温度（TMA）为不低于70℃，和
[B]由乙烯单元和得自分子式[Ⅰ]的环烯烃单元组成的环烯烃无规共聚物，在135℃下萘烷中测得其特性粘度[η]为0.05-5分升/克，并且其软化温度（TMA）为低于70℃，按这样的比例即所述的组分[A]对所述的组分[B]的重量比为100/0.1-100/10范围。
当组分[A]，即共聚物[A]按上述规定的比率再掺加组分[B]，即共聚物[B]时，则在基片11和记录层12之间的粘结有进一步改进的可能性，这是与记录层12被层压在单独由组分[A]构成的基片11上的情况相比较而言的。
此处所用的环烯烃包括例如下述的由通式[Ⅰ]表示的不饱和单体。
由通式[Ⅰ]表示的环烯烃类可通过狄尔斯-阿德耳反应即环戊二烯类与适量的烯烃类的缩合反应很容易地来制得。
由通式[Ⅰ]表示的环烯烃类的实例包括如表1中列出的这样化合物及其衍生物，并且还有以下这些化合物：1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘，此种八氢化萘类如2-甲基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘，2-乙基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘，2-丙基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘，2-己基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘，2-十八烷酰-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘，2，3-二甲基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘，2-甲基-3-乙基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘，2-氯-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘，2-溴-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘，2-氟-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘，2，3-二氯-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘，2-环己基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘和，2-n-丁基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘和2-异丁基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘。（表1见文后）
环烯烃无规共聚物包含的主要组分为上述的乙烯单元和环烯烃单元。除了所述的两种主要单元外，环烯烃无规共聚物可任选地含有其他可共聚合化的不饱和单体单元，其含量范围应不致会妨害本发明的目的。实际上这种可选择来作共聚合化物的不饱和单体为具有3-20个碳原子的α-烯烃，如丙烯、1-丁烯、4-甲基-1-戊烯、1-己烯、1-辛烯、1-癸烯、1-十二碳烯、1-十四碳烯、1-十六碳烯。1-十八碳烯、1-二十碳烯等等。
在环烯烃无规共聚物（该共聚物构成了本发明的第一种光记录介质的基片）中，自乙烯衍生出的重复单元（a）其存在量为40-85%（摩尔），最好为50-75%（摩尔），而自一种环烯烃或多种环烯烃衍生出的重复单元（b）其存在量为15-60%（摩尔），最好为25-50%（摩尔），而且这些重复单元（a）和（b）在共聚物的基本上直链中是随机排列的。重复单元（a）和（b）的摩尔百分比可通过13C-NMR来测定。共聚物在130℃温度下完全溶解于萘烷中的事实表明了所述共聚物的化学结构基本上是直链的，并且没有形成凝胶的交联结构。
此共聚物具有0.05-10分升/克的特性粘度，最好为0.08-5分升/克，这是在135℃温度
下于萘烷中测得的。
共聚物的软化温度（TMA），当用热机械分析仪测量时，希望至少为70℃，较好为90-250℃，更好为100-200℃。
共聚物[A]的软化温度（TMA）的测定是通过用杜邦公司供应的热机械分析仪检测1毫米厚共聚物薄片的热变形行为来实现的，更具体地来说，将石英针在49克负荷下垂直地放置于共聚物薄片上，将该装配件以5℃/分的速率加热。针头穿透入薄片达0.635毫米深度时的温度被取作共聚物的软化温度。
共聚物具有通常为50-230℃的玻璃化转变温度（Tg），最好为70-210℃。
共聚物的结晶度，当用X-射线衍射测定法测量时，一般为0-10%，较好为0-7%，更好为0-5%。
以下将更详细地说明第二种光记录介质。
在具有软化温度（TMA）不低于70℃的环烯烃无规共聚物[A]中，（而共聚物[A]包含在环烯烃无规共聚物组成中，它构成了本发明的第二种光记录介质的基片），得自乙烯的重复单元（a）其存在量为40-85%（摩尔），最好为50-75%（摩尔），而得自一种环烯烃或多种环烯烃的重复单元（b）其存在量为15-60%（摩尔），最好为25-50%（摩尔），并且这些重复单元（a）和（b）在共聚物[A]的基本上直链中是随机排列的。重复单（a）和（b）的摩尔百分比可通过13C-NMR来测定。在135℃温度下共聚物[A]完全溶解于萘烷中的事实表明了所述的共聚物的化学结构基本上直链的，并且没有形成凝胶的交联结构。
在135℃下于萘烷中测得的环烯烃无规共聚物[A]的特性粘度[η]为0.05-10分升/克，最好为0.08-5分升/克。当用热机械分析仪测量时，环烯烃无规共聚物（A]的软化温度[TMA]为不低于70℃，较好为90-250℃，更好为100-200℃。另外，所述的环烯烃无规共聚物[A]的玻璃化转变温度（Tg）通常为50-230℃，最好为70-210℃。
用X-射线衍射测定法测量时，环烯烃无规共聚物[A]的结晶度（指数）为0-10%，较好为0-7%，更好为0-5%。
在具有软化温度为低于70℃、包含在构成本发明第二种光记录介质基片的环烯烃无规共聚物成分中的环烯烃无规共聚物[B]中，其得自乙烯的重复单元（a）的存在量为60-98%（摩尔），最好为60-95%（摩尔），而得自一种环烯烃或多种环烯烃的重复单元（b）其存在量为2-40%（摩尔），最好为5-40%（摩尔），并且这些重复单元（a）和（b）在共聚物（B）的基本上直链中是随机排列的。重复单元（a）和（b）的摩尔百分比可通过13C-NMR来测定。该共聚物[B]完全溶解于135℃温度下萘烷中的事实表明了所述的共聚物的化学结构基本上是直链的、并且没有形成凝胶的交联结构。
该共聚物[B]具有的特性粘度[η]为0.05-5分升/克，最好为0.08-3分升/克，这是在135℃温度下于萘烷中测得的。
共聚物[B]的软化温度（TMA），当用热机械分析仪测量时，为低于70℃，较好为10-60℃，更好为10-55℃。
共聚物[B]具有的玻璃化转变温度（Tg）一般为-30-60℃，最好为-20-50℃。
共聚物[B]的结晶度，当用X-射线衍射测定法测定时，一般为0-10%，较好为0-7%，更好为0-5%。
在被用作本发明第二光记录介质基片的环烯烃无规共聚物成分中，共聚物[A]对共聚物[B]的重量比为100/0.1-100/10，较好为100/0.3-100/7，更好为100/0.5-100/5。当共聚物[A]按上述规定比率与共聚物[B]掺合时，可获得在严峻条件下的基片和记录层之间的改进的粘结，从而保持了优良的透明度和基片自身的表面光洁度。另外，由包含共聚物[A]和共聚物[B]的环烯烃无规共聚物成分组成的基片具有这样的优点，即在基片和用于本发明的记录层之间的良好粘结不会变坏恶化，即使让该记录介质放置于高温高湿的环境条件下。
环烯烃共规共聚物和构成本发明基片的环烯烃无规共聚物成分的环烯烃无规共聚物[A]和[B]可通过适当地选择工艺条件来制备，即可按照本申请人在日本专利中建议的方法来做，这些日本专利如下，日本公开特许公报的公开号是：168708/1985，120816/1986，115912/1986，115916/1986，95905/1986，95906/1986，271308/1986和272216/1986。
此外，根据本发明的光盘的基片可由具有来自
环烯烃单体[Ⅰ]开环形成的通式为[Ⅲ]的重复单元的聚合物来制造，或者由具有来自单元[Ⅲ]氢化作用形成的通式为[Ⅳ]的重复单元的聚合物来制造。
在通式[Ⅲ]或[Ⅳ]中，n和R1-R12与上述所定义的相同。
环烯烃无规共聚物或环烯烃无规共聚物成分还可掺入热稳定剂、老化稳定剂、抗静电剂、滑移剂、防结块剂、防雾剂、润滑剂、染料、颜料、天然油、合成油、石蜡等等。这些添加剂的量可适当确定。举例来说，可被任选地掺入的稳定剂具体包括有苯酚抗氧化剂如四个[亚甲基-3-（3，5-二叔丁基-4-羟苯基）丙酸酯]甲烷，β-（3，5-二叔丁基-4-羟苯基）丙酸的烷基酯类（特别可优先选用18碳或较低级烷基酯类），2，2′-草酰氨基双[乙基-3-（3，5-二叔丁基-4-羟苯基）]丙酸酯等等，脂肪酸的金属盐，如硬脂酸锌、硬脂酸钙、12-羟基硬脂酸钙等，以及多元醇的脂肪酸如甘油-硬脂酸酯、甘油-月桂酸酯、甘油二硬脂酸酯、季戊四醇二硬脂酸酯、季戊四醇三硬脂酸酯等。这些化合物可以单独形成或以结合形式掺入到共聚物或共聚物成分中。例如可用四个[亚甲基-3-（3，5-二叔丁基-4-羟苯基）丙酸酯]甲烷与硬脂酸锌和甘油-硬脂酸酯的这种结合形式，以及诸如此类的其他结合形式。
在本发明中，最好将苯酚抗氧剂与多元醇的脂肪酯类结合一起使用。多元醇的脂肪酯类最好是其中三元醇或多元醇的部分醇式羟基是被酯化了的。
这种多元醇的脂肪酯类的实例具体包括有甘油的脂肪酯如甘油-硬脂酸酯、甘油-月桂酸酯、甘油-肉豆蔻酸酯、甘油-棕榈酸酯、甘油二硬脂酸酯、甘油二月桂酸酯等，以及季戊四醇的脂肪酯如季戊四醇-硬脂酸酯、季戊四醇-月桂酸酯、季戊四醇二硬脂酸酯、季戊四醇二月桂酸酯、季戊四醇三硬脂酸酯等。
苯酚抗氧化剂的用量为0.01-10份（重量），较好为0.05-3份（重量），更好为0.1-1份（重量），以环烯烃无规共聚物或环烯烃无规共聚物成分的量为计算基准。多元醇的脂肪酯其用量为0.01-10份（重量），最好为0.05-3份（重量），以环烯烃无规共聚物或环烯烃无规共聚物成分的量为计算基准。
在本发明的光记录介质中，环烯烃无规共聚物或环烯烃无规共聚物成分被用作基片11。本发明的光记录介质的记录敏感度优于惯用的光记录介质，惯用介质是以聚碳酸酯或聚甲基丙烯酸甲酯用作为基片的，然而其效果不太理想的原因至今尚未被人了解。
由环烯烃无规共聚物或环烯烃无规共聚物成分组成的基片11对记录层12具有良好的粘附力，因此该记录层具有良好的长期稳定性和能有效地防止被氧化。
因此，包括由环烯烃无规共聚物或环烯烃无规共聚物成分组成的基片11和层压在其上面的记录层12的光记录介质，具有优良的记录敏感度以及耐久性和长期稳定性。此外，本发明的光记录介质10既不会引起翘曲又不会龟裂。
记录层
本发明的记录层12为主要由Te所组成并附加地至少含有C和H的薄膜。记录层还可含有除Te外的低熔点元素或其他组分。除Te之外，能被掺入在记录层12中的元素包括有，例如，Ti、Mn、Ni、Zr、Nb、Ta、Al、Pt、Sb、Ge、Ag、Sm、Bi、In、Se、Pb、Co、Si、Pd、Sn、Zn等等。
从改进记录层的记录敏感度和使用寿命的立场出发，希望记录层12中的C含量应少于40%（原子）最好是3-20%（原子），以存在于记录层中的全部原子为基准;或者少于40%（原子），最好为3-20%（原子），以存在于记录层中的Te和C原子的全部总数为基准。将C原子按上述的含量范围掺入到记录层中，有可能改进记录层的记录敏感度和记录裕度。
从改进使用寿命立场来看，希望在记录层12 中的H含量为1-40%（原子），最好为3-25%（原子），以存在于记录层中的全部原子为基准。
包含在记录层12中的元素量，例如，金属元素如Te的量，可通过IPC发射光谱分析（感应耦合等离子发射光谱法）来测定。C含量可通过X-射线光电子能谱测定法（ESCA）来测定，以及H含量则可通过有机元素分析来测定。
在将信息记录到具有上述这样组成的记录层12上时，给定信息件的所需记录可通过使用根据待记录的信息件调制（开或关）的如激光束那样的能量束辐照记录层并且在记录层的受辐照部分形成对应的凹坑的方法来完成。该凹坑可以为物理上变形的那些如孔穴或凹面，或者可以为记录层的这样的部分，即通过用能量束辐照，其中光学性质如折射率和反射系数被改变了的部分。
上述的记录层12其厚度必须大到这样程度，以使获得足够的光反射系数，并且同时，其厚度必须小到这样程度，以使不毁坏敏感性。具体地来说，当物理上变形部分如孔穴在记录层12上被形成时，记录层的薄膜厚度为100埃（
）-1微米（μm），较好为100-5000
，以及更好为150-700
。当其中光学性质如折射率和反射系数已改变了的部分在记录层12上被形成时，记录层的薄膜厚度为100
-1微米（μm），较好为100-5000
，以及更好为200-2000
。
记录层12可于基片11上形成，例如通过下述步骤。
由含有C和H的Te薄膜组成的记录层12可通过下法在基片11上形成，即用Te作极靶并在含有C和H（如CH4或C2H2）的有机气体和Ar气的混合气体中应用磁控管溅镀的方法。
由含有C和H的薄的Te膜组成的记录层12也可通过下法在基片11上形成，即不用溅镀法而是以等离子体形式沉积气相CH4和Te。记录层12也可通过气相生长或等离子气相生长的方法在基片11上形成。此外，还可用其他方法，例如，将部分或全部Te、C和H原子离子化为束状状态，并使其累积在基片上。
在由薄的Te膜组成的记录层12中，C和H的含量可借助CH4和Ar的混合比随意地控制，或者施加能量，最好是高频，记录层中最适宜的H含量的确定取决于C的含量。H含量可任意地选择，只要记录层中的H含量不如此高以致使氢气（H2）逸出。另外，因为薄膜厚度是与溅镀时间成正比例的，所以薄膜厚度能很容易地被控制。
由此形成的由包含C和H的Te薄膜构成的记录层12的光学特性如折射率和消光系数随C和H的含量而变化。因此，当记录系层是被用作记录信息时，要根据所需光学特性来确定薄膜厚度。
上述的记录层12，与单独使用一种低熔点金属如单独使用Te所形成的记录层相比较，则在抗氧化性能和记录敏感度方面已有显著的改进。
例如，已由实验证实，当主要由Te所组成和附加含有C和H的记录层在高温高湿条件下存放一段长时间时，随着C和H含量的增加，记录层的反射系数的变化变得较小，因此本发明的记录层与由Te单独构成的记录层相比较，在抗氧化性方面获得了改进。
另外，已由实验证实，本发明记录层只需要比较小的记录能量输出，并且具有改进的记录敏感度。
在本发明中，按上述方法在基片上形成记录层12之后，可把记录层单独或与基片11一起在含有惰性气体、还原气或氧气的气体气氛中进行热处理，热处理温度必须低于在记录层中含有的Te的熔点，并且最好为70-300℃，尤其是90-150℃。加热时间至少为5秒，较好为5秒-10小时，更好为5分-2小时。
在按上述方法在基片11上形成所说的记录层之后，由于记录层12单独或与基片11一起经受了热处理，故记录层的记录敏感获得了改进，同时扩大了记录裕度。这被认为是由于记录层经热处理而达到一定程度的结晶的这一事实。
本发明不限于图1所示的具体实例，但应该解释为：在本发明的精神和范围内还能作出一些变化和改进。
例如，如图2所示，在基片11和记录层12之间可提供一内涂层。该内涂层包括例如氟化物的薄膜如氟化镁（MgF2），硅化合物薄膜如氧化硅（SiO2，SiO）或氮化硅（Si3N4），由Ti、Ni、Cr、Al、或Ni-Cr所组成的金属薄膜，氟取代的碳氢化合物如聚四氟乙烯（PTFE）薄膜和/或它的聚合物薄膜，以及Cr-C-H薄膜（含有Cr、C和H的膜）。内涂层一般具有的膜厚度为10-1000
，最好为50-500
，然而薄膜厚度可根据内涂层所
用的材料而变化。由于如上所介绍的薄膜厚度，这些上面列举的内涂层能保持它们的透明度，同时该内涂层还能显示出其各种特性。
上述的内涂层13可以通过如磁控管溅镀、气相生长、等离子气相生长、真空蒸发或旋涂等方法形成记录层12的情况中相同的方式在基片11的表面上形成。
在基片11和记录层12之间具备上述的内涂层能导致记录敏感度的进一步改良和在某些情况下能进一步扩大其记录裕度。
按上述方法将记录层12层压在基片11上而得到的光记录介质在记录敏感度上特别优良并且有时具有扩大的记录裕度。
根据本发明，表面层又可在如图1和2所示的光记录介质10的记录层12的表面上形成。用作形成表面层的材料包括用作记录层的元素以及Si、Ti等的氧化物，氮化物和金属。表面层具有薄膜厚度为5-100
，最好为10-50
，然而该薄膜厚度可根据用作形成表面层的材料而变化。
本发明的光记录介质具有这样的结构，即主要由Te组成和附加地含有C和H的记录层被层压在由乙烯-环烯烃无规共聚物构成的基片上。因此，它们具有这样的特性，即它们具有优良的记录敏感度以及基片对记录层的良好粘附力和具有优良的抗氧化性。
参考实施例，对本发明作详细说明于下，但应该理解为：本发明绝不限于这样实例。
实施例1
在容器抽真空后，将Ar气和CH4气引入容器，容器中的内压力被调整至6×10-3乇（Ar/CH4的气体流量比为9/1）。在容器中，Te被用作靶并且被溅镀，与此同时要控制施加于靶的电压和溅镀时间，以获得由Te89C4H7组成的记录层并在光盘基片上（下面称作PO（1）基片）具有250
厚度的薄膜，该基片由乙烯和1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8a-八氢化萘（化学结构式为：
，下面缩写成DMON）的非晶态共聚物所构成，从而能得到一种光记录介质。当用13C-NMR分析法测量时，该共聚物具有59摩尔%的乙烯单元和41摩尔%的DMON单元;在135℃下于萘烷中测得其特性粘度（η]为0.42分升/克。以及软化温度（TMA）为154℃。
比较例1
重复实施例1的过程，用Te作为靶和气体流量比Ar/CH4＝9/1，不同的是使用由聚碳酸酯组成的光盘基片，得到由Te89C4H7构成的记录层，并且在由聚碳酸酯组成的基片上具有250
厚度的薄膜，从而制得光记录介质。
实施例2
重复实施例1的程序，用Te作靶，不同的是采用气体流量比Ar/CH4＝5/5，制得由Te67C20H15组成的记录层，并且在PO（1）基片上具有550
厚度的薄膜，从而得到光记录介质。
参考例1
制备一种由环烯烃无规共聚物成分构成的基片：
（ⅰ）聚合反应例1
具有软化温度不低于70℃的共聚物（A）的合成
采用装有搅拌桨叶的2-升玻璃聚合反应器，在反应器内连续进行乙烯和DMON之间的共聚合反应。即就是将在环己烷中的DMON溶液连续地加入到聚合反应器内，使聚合反应器内的DMON浓度成为60克/升，再加入在环己烷中的作为催化剂的VO（OC2H5）Cl2的溶液使在聚合反应器内的钒浓度成为0.9毫摩尔/升，以及再加入环己烷中的乙基铝倍半氯化物（Al（C2H5）1.5Cl1.5）使在聚合反应器内的铝浓度成为7.2毫摩尔/升，与此同时将聚合液体连续地从聚合反应器底部放出，使聚合反应器内的聚合液体的体积经常保持1升。同时将乙烯自聚合反应器的顶部以85升/小时的速率加入到聚合反应器中，氢气以6升/小时的速率加入以及氮气以45升/小时的速率加入。共聚反应在10℃下进行，这可通过装在聚合反应器外部的夹套进行致冷剂循环的方法来达到。
共聚反应在如上面所说明的条件下进行，因此可制得含有乙烯/DMON无规共聚物的聚合反应混合物。聚合反应终止后，将少量异丙醇加至自反应器底部放出的聚合液体中。之后，将聚合液体倾倒入含有约三倍于聚合液体体积的丙酮的普通混合器内。与此同时转动混合器，从而沉淀所生成的共聚物。沉淀的共聚物经过滤而收集之，并分散在丙酮中，使聚合物浓度成为约50克/升，并且将该共聚物在丙酮沸点下处理2小时。经如上处理后，用过滤法收集共聚物，并在减压条件下于120℃温
度干燥整夜（12小时）。
由此得到的乙烯-DMON无规共聚物（A）用13C-NMR分析法测得其乙烯单元含量为59摩尔%，在135℃下于萘烷中测得其特性粘度[η]为0.42分升/克，以及软化温度（TMA）为154℃。
（ⅱ）聚合反应例2
具有软化温度低于70℃的共聚物（B）的合成
进行如聚合反应例（ⅰ）中的相同共聚反应，不同处是DMON，VO（OC2H5）Cl2和乙基铝倍半氯化物被加入到聚合反应器中，使聚合反应器中的DMON，VO（OC2H5）Cl2和乙基铝倍半氯化物的浓度分别成为23克/升、0.7毫摩尔/升和5.6毫摩尔/升，并且乙烯、氢和氮各别以140升/小时，13升/小时和25升/小时的速率被送入聚合反应器，而且聚合反应的温度为10℃。共聚反应完成后，沉淀最终生成的共聚物，收集，和如同聚合反应例（ⅰ）在减压条件下于180℃温度干燥12小时。
由此得到的乙烯DMON共聚物（B），当用13C-NMR分析法测量时，含有89摩尔%的乙烯单元，在135℃下于萘烷中测得的特性粘度[η]为0.44分升/克，并且其软化温度（TMA）为39℃。（ⅲ）由环烯烃型无规共聚物成分组成的基片的制备
将400克在聚合反应例（ⅰ）中制备的共聚物（A）和4克在聚合反应例（ⅱ）中制备的共聚物（B）（A/B＝100/1，按重量计）引入到8升的环己烷中，并在50℃下溶解，同时充分地搅拌以获得均匀溶液。将如此所得均匀溶液倾倒入24升的丙酮中以沉淀（A）/（B）掺合物。由此得到的掺合物在减压下于120℃干燥过夜。
由此得到的（A）/（B）掺合物被并合加入0.5%的四个[亚甲基-3-（3，5-二叔丁基-4-羟苯基）丙酸酯]甲烷，0.05%的硬脂酸锌和0.5%的作为稳定剂的甘油-硬脂酸酯，各种物质的用量以共聚物（A）和（B）的总重量为基准。所生成的掺合物通过使用具有20毫米直径的挤压机（L/D＝20）在23℃温度下被制成丸粒，并且，通过使用注射模塑机模制成具有130毫米直径和1.2毫米厚度的光盘基片（后面称作PO（2）基片）。
实施例3
在容器抽真空后，将Ar气和CH4气引入容器中，并且将内部压力调整至6×10-3乇（气体流量比Ar/CH4＝9/1）。在容器中，Te被用作靶并被溅镀，同时控制施加于靶上的电压和溅镀时间，以获得由Te89C4H7组成的记录层，并且在PO（2）基片上具有250
厚度的薄膜，PO（2）基片是由在参考例1中得到的环烯烃型无规共聚物成分所组成的，从而得到一种光记录介质。
实施例4
重复实施例3的程序，用Te作为靶，所不同的是采用气体流量比Ar/CH4＝5/5，以得到组成为Te89C20H15，并且在PO（2）基片上具有550
厚度的薄膜，从而得到一种光记录介质。
试验结果
（1）光记录介质圆盘以1800转/分的速率旋转，并以3.7兆赫频率的激光束辐照，以鉴定记录特性。这里所用的C/Nmax是用来表示当激光功率改变时C/N的最大值。记录敏感度是用来表示当达到C/Nmax×0.9＜C/N时激光功率的最小值，以及裕度是用来表示当达到C/Nmax×0.9＜C/N时激光功率的范围（幅度）。
试验结果示于表2。
实施例1中所制备的（光）盘与具有实施例1的记录层的相同型式的比较例1中所制备的（光）盘相比较，前者明显地表示出较高的敏感度。
用作本发明基片材料的共聚物，具有的吸水性约为聚碳酸酯树脂吸水值的1/10，并且由所述共聚物组成的基片在溅镀前仅需要约一半的由聚碳酸酯组成的基片所需要的抽真空时间，因此，本发明的（光）盘的生产能力将大大提高。（表2见文后）（2）使光记录介质的圆盘处于70℃的温度和85%的相对湿度情况下所测量的反射系数R，与起始反射系数R0进行比较，以测定反射系数的百分变化率。
其试验结果示于表3。（表3见文后）
基片和记录层之间的粘附力评价
在实施例1到4中所得的每一光记录介质中基片和记录层之间的粘附力按下述方式进行评定，其试验结果示于表4。
粘附力试验
横割粘附力试验（JISK5400）
在记录层上画有11条平行线，即用切割刀以1毫米间隔在每一长度和宽度方向上相互成直角的画划平行线。切割作成方格盘的小方块形式，以得
到100方格/1平方厘米。
通过使用玻璃纸罩（Nichiban的产品）作剥离评定。评价（1）在记录层形成后即时就进行（2）在80℃温度和85%相对湿度环境下经过100小时之后进行（表4见文后）
Δ表1
化学式 组分名称
7-甲基双环[2，2，1]庚-2-烯
8-丙基四环[4，4，0，12.5，17.10]-3-十二碳烯
8-十八烷基四环[4，4，0，12.5，17.10]-3-十二碳烯
8-氯代四环[4，4，0，12.5，17.10]-3-十二碳烯
8，9-二氯代四环[4，4，0，12.5，17.10]-3-十二碳烯
8-亚乙基-9-异丙基四环[4，4，0，12.5，17.10]-3-
十二碳烯
8-亚乙基-9-丁基四环[4，4，0，12.5，17.10]-3-十二碳烯
5，10-二甲基四环[4，4，0，12.5，17.10]-3-十二碳烯
9-乙基-11，12-二甲基四环[4，4，0，12.5，17.10]-3-十二碳烯
15-甲基八环[8，8，0，12.9，14.7，111.18，113.16，03.8，012.17]-5-二十二碳烯
15-甲基八环[8，8，0，12.9，14.7，111.18，113.16，03.8，012.17]-5-二十二碳烯
15，16-二甲基五环[6，6，1，13.6，02.7，09.14]-4-十六碳烯
5-甲基-三环[4，3，0，12.5]-3-癸烯
表2
C/Nmax（dB） 记录敏感度（mW） 裕度（mW）
实施例1 53.5 6.3 0.3
实施例2 52.0 8.1 2.0
实施例3 53.5 6.3 0.3
实施例4 52.0 8.1 2.0
比较例1 53.5 7.1 0.7
表3
反射系数百分变化率（R0-R）×100/R0
实施例1 16%
实施例2 3%
实施例3 16%
实施例4 3%
比较例1 16%
表4
横割粘附力试验结果
基片 光记录层 在记录层形成 在80℃/85%相
后即时就进行 对湿度下经过
100小时之后进行
PO（1） 100/100※
实施例1 Te90C4H7-
基片 不剥离
PO（1） 100/100※
实施例2 Te67C20H15-
基片 不剥离
PO（2） 100/100※ 100/100※
实施例3 Te89C4H7
基片 不剥离 不剥离
PO（2） 100/100※ 100/100※
实施例4 Te67C20H15
基片 不剥离 不剥离
※100/100表示在100个小方格中，未剥离小方格的数目为100。
Claims (9)
1、一种光记录介质，包括基片和在其上形成的记录层，其中记录层经能量束辐照以便在它上面形成对应于给定信息件的凹坑，以及从而记录该信息件，所述的记录层为一主要由Te所组成和附加地含有C和H的薄膜，其中，C含量为3-40%(原子)，以记录层中存在的Te和C原子总数为计算基准；所述的基片包括由乙烯单元和得自下述通式[Ⅰ]的环烯烃单元所构成的环烯烃无规共聚物，
这里n为0或正整数，R1-R12为相同的或相异的，并每个表示氢原子，选自F、Cl、Br、和Ⅰ的卤原子或具有1-18个碳原子的羟基团，倘若当R9-R12合在一起时，可形成具有3-18个碳原子碳烃骨架组成的单环或多环的烃环，它们可任意地具有一个双键或多个双键，或者R9和R10、或R11和R12，当合在一起时，可形成具有2-3个碳原子的亚烷基。
2、如权利要求1所述的光记录介质，其特征在于基片包括具有软化温度（TMA）不低于70℃的环烯烃无规共聚物。
3、如权利要求1所述的光记录介质，其特征在于记录层中的C（碳）含量为小于40%（原子），以记录层中存在的全部原子为基准。
4、如权利要求1所述的光记录介质，其特征在于记录层中的H（氢）含量为1-40%（原子），以记录层中存在的全部原子为基准。
5、如权利要求1所述的光记录介质，其特征在于记录层的薄膜厚度为100埃（
）-1微米（μm）。
6、一种光记录介质，包括基片和在其上形成的记录层，其中记录层经能量束辐照，以便在它上面形成对应于给定信息件的凹坑，从而记录该信息件，所述的记录层为一主要由Te所组成和附加地含有C和H的薄膜，所述的基片由环烯烃无规共聚物成分所组成，后者包括：
[A]由40-85%（摩尔）乙烯单元和15-60%（摩尔）得自下述通式[I]的环烯烃单元所组成的环烯烃无规共聚物，并且当在135℃下于萘烷中测量时，具有特性粘度[η]为0.05-10分升/克，以及具有不低于70℃的软化温度（TMA），和
[B]由60-98%（摩尔）乙烯单元和2-40%（摩尔）得自下述通式[I]的环烯烃单元所组成的环烯烃无规共聚物，并且当在135℃下于萘烷中测量时，具有特性粘度[η]为0.05-5分升/克，以及具有70℃以下的软化温度（TMA），并按这样的比例，即组分[A]与组分[B]的重量比为100/0.1至100/10。
这里n为0或正整数，R1-R12为相同的或相异的，并且每个表示氢原子，选自F、Cl、Br和I的卤原子或具有1-18个碳原子的羟基团，尚若当R9-R12合在一起时，可形成具有3-18个碳原子碳烃骨架组成的单环或多环的烃环，它可任意地具有一个双键或多个双键，或者R9-R10，或R11和R12，当合在一起时，可形成具有2-3个碳原子的亚烷基。
7、如权利要求6所述的光记录介质，其特征在于记录层中C的含量为小于40%（原子），以记录层中存在的全部原子为基准。
8、如权利要求6所述的光记录介质，其特征在于记录层中H的含量为1-40%（原子），以记录层中存在的全部原子为基准。
9、如权利要求6所述的光记录介质，其特征在于记录层的薄膜厚度为100埃（
）-1微米（μm）。
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