CN102879651A - 一种测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种测试装置,其包含天线架、天线、距离量测器、控制器以及调整器。天线配置于天线架而于天线架上进行升降,并用以接收受测装置所发出的辐射。距离量测器配置于天线架上,并用以量测天线与受测装置之间的距离。控制器电性耦接于天线以及距离量测器,并用以根据前述距离,产生控制信号。调整器电性耦接于天线以及控制器,并用以接收控制信号来调整天线。采用本发明的测试装置,可以解决天线上升所导致测试距离逐渐变大以及天线无法面对其接收辐射能量的最强方向,从而对测试数据产生影响的问题。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试装置,尤其涉及一种辐射测试装置。
背景技术
在电磁兼容辐射测试时,按照相关规定,天线与受测笔记本之间的测试距离需保持3米。在实验室内测试时,当天线与受测笔记本处于同一平面,天线与受测笔记本之间的测试距离为3米,而当天线从与受测笔记本同一平面往上升3米时,随着天线高度不断升高,测试距离逐渐增长而变成5.656米,如此,会对测试数据产生影响。
此外,于高频测试时,由于天线的指向性较强,若天线随着高度不断升高,而无法将天线面对受测笔记本时,亦即天线无法面对其接收辐射能量的最强方向时,会导致测试准确度下降。
由此可见,上述现有的方式,显然仍存在不便与缺陷,而有待加以进一步改进。为了解决上述问题,相关领域莫不费尽心思来谋求解决之道,但长久以来一直未见适用的方式被发展完成。因此,如何能避免天线上升所导致测试距离逐渐变大以及天线无法面对其接收辐射能量的最强方向,从而对测试数据产生影响的问题,实属当前重要研发课题之一,亦成为当前相关领域亟需改进的目标。
发明内容
本发明内容之一目的是在提供一种测试装置,藉以解决天线上升所导致测试距离(即天线与受测装置之间的距离)逐渐变大以及天线无法面对其接收辐射能量的最强方向,从而对测试数据产生影响的问题。
为达上述目的,依据本发明的一个方面,提供了一种测试装置,其包含天线架、天线以及控制器。天线配置于天线架而于天线架上进行升降,并用以接收受测装置所发出的辐射。控制器电性耦接于天线,并用以根据天线的升降高度值以及控制器的预设参数表,产生控制信号来控制天线。
根据本发明一实施例,天线为偶极天线、对数周期天线、对数螺旋天线或喇叭天线。
根据本发明另一实施例,测试装置还包含调整器。调整器电性耦接于天线以及控制器,并用以接收控制信号来调整天线。
根据本发明再一实施例,调整器为长度调整器或角度调整器,其中长度调整器用以调整天线的长度,使天线与受测装置之间的距离维持一固定值,而角度调整器用以调整天线的角度,使天线维持面向受测装置。
为达上述目的,依据本发明的另一个方面,提供了一种测试装置,其包含天线架、天线、距离量测器以及控制器。天线配置于天线架而于天线架上进行升降,并用以接收受测装置所发出的辐射。距离量测器配置于天线架上,并用以量测天线与受测装置之间的距离。控制器电性耦接于天线以及距离量测器,并用以根据距离,产生控制信号来控制天线。
根据本发明一实施例,天线为偶极天线、对数周期天线、对数螺旋天线或喇叭天线。
根据本发明另一实施例,测试装置还包含调整器。调整器电性耦接于天线以及控制器,并用以接收控制信号来调整天线。
根据本发明再一实施例,调整器为长度调整器或角度调整器,其中长度调整器用以调整天线的长度,使天线与受测装置之间的距离维持一固定值,而角度调整器用以调整天线的角度,使天线维持面向受测装置。
根据本发明又一实施例,距离量测器包含红外线距离量测器。
根据本发明另再一实施例,红外线距离量测器包含红外线发射装置以及红外线接收装置。红外线发射装置配置于受测装置上,并用以发射红外线。红外线接收装置配置于天线架上并用以接收红外线,藉以量测天线与受测装置之间的距离。
因此,根据本发明的技术内容,本发明实施例藉由提供一种测试装置,以解决天线上升所导致测试距离逐渐变大以及天线无法面对其接收辐射能量的最强方向,从而对测试数据产生影响的问题。
附图说明
读者在参照附图阅读了本发明的具体实施方式以后,将会更清楚地了解本发明的各个方面。其中,
图1示出依照本发明一实施方式的一种测试装置示意图。
图2示出依照本发明另一实施例的一种测试装置示意图。
图3示出依照本发明图1或图2中的测试装置的方块示意图。
图4示出依照本发明图1或图2中的测试装置的方块示意图。
图5示出依照本发明图4中的测试装置的方块示意图。
【主要组件符号说明】
110:天线架
120:天线
130:控制器
140:受测装置
150:调整器
160:距离量测器
162:红外线发射装置
164:红外线接收装置
具体实施方式
为了使本揭示内容的叙述更加详尽与完备,可参照所附图式及以下所述各种实施例,图式中相同号码代表相同或相似组件。但所提供的实施例并非用以限制本发明所涵盖的范围,而结构运作的描述非用以限制其执行顺序,任何由组件重新组合的结构,所产生具有均等功效的装置,皆为本发明所涵盖的范围。其中图式仅以说明为目的,并未依照原尺寸作图。另一方面,众所周知的组件与步骤并未描述于实施例中,以避免对本发明造成不必要的限制。
为解决上述问题,本发明实施例提供一种测试装置100。图1是依照本发明一实施方式绘示一种测试装置100的示意图。前述测试装置100包含天线架110、天线120以及控制器130。天线120配置于天线架110而于天线架110上进行升降,并用以接收受测装置140所发出的辐射。控制器130电性耦接于天线120,并用以根据天线120的升降高度值以及控制器130的预设参数表,产生控制信号来控制天线120。
在此需先说明的是,在图1中绘示了两个天线120,并非表示测试装置100包含两个天线120,而是用以表示天线120可于天线架110上进行升降时所处的两种位置。其中标号B表示天线120的初始位置,而标号C表示天线120于天线架110上进行升降时的任一位置。
在一实施例中,当天线120开始进行测试时,天线120会由初始位置逐渐往C位置上升,此时控制器130可由天线120取得其升降高度值,而后控制器130会根据天线120的升降高度值以及控制器130的预设参数表,以产生控制信号来控制天线120,使天线120在初始位置时与受测装置140的距离为A,且使天线120由初始位置移动到C位置中的任意一位置与受测装置140的距离皆为A。
举例而言,天线120由初始位置往上升3米,此时控制器130由天线120取得的升降高度值为3。其中控制器130的预设参数表记录了天线120的升降高度值与预设天线120需移动的长度。详细而言,当天线120的升降高度值为3,经由控制器130的预设参数表可得预设天线120需移动的长度,控制器130会产生控制信号来控制天线120向受测装置的方向移动,以使天线120与受测装置140的距离维持固定值。
如此一来,于测试时,当天线120在天线架130上进行升降,皆能保持天线120与受测装置140之间的距离,以减少因天线120上升所导致测试距离(即天线120与受测装置140之间的距离)的误差,提升测试的准确度。
在任选的一实施例中,天线120为偶极天线、对数周期天线、对数螺旋天线或喇叭天线。
图2示出依照本发明另一实施方式绘示一种测试装置100的示意图。在此需先说明的是,在图2中绘示了两个天线120,并非表示测试装置100包含两个天线120,而是用以表示天线120可于天线架110上进行升降所处的两种位置。其中标号D表示天线120的初始位置,而标号E表示天线120于天线架110上进行升降时的任一位置。
在一实施例中,当天线120开始进行测试时,天线120会由初始位置逐渐往E位置上升,此时控制器130可由天线120取得其升降高度值,而后控制器130会根据天线120的升降高度值以及控制器130的预设参数表,以产生控制信号来控制天线120,使天线120在初始位置时面向受测装置140,且使天线120由初始位置移动到E位置中的任意一位置时,天线120皆维持面向受测装置140,以使天线120接收最强方向的辐射能量。
举例而言,天线120由初始位置往上升3米,此时控制器130由天线120取得的升降高度值为3。其中控制器130的预设参数表记录了天线120的升降高度值与预设天线120需转动的角度。详细而言,当天线120的升降高度值为3,经由控制器130的预设参数表可得预设天线120需转动的角度为45度,控制器130会产生控制信号来控制天线120向受测装置的方向转动45度,藉使天线120面向受测装置140。
如此一来,即可于高频测试时,当天线120于天线架130上进行升降皆能使天线120面向受测装置140,以接收最强方向的辐射能量,提升高频测试的准确度。
在任选的一实施例中,天线120为偶极天线、对数周期天线、对数螺旋天线或喇叭天线。
图3示出依照本发明图1或图2绘示的测试装置100的方块示意图。
请参照图3,测试装置100还包含调整器150。调整器150电性耦接于天线120以及控制器130,并用以接收控制信号来调整天线120。
举例而言,调整器150可为长度调整器或角度调整器,其中当调整器150为长度调整器时,用以调整天线120的长度,使天线120与受测装置140之间的距离维持固定值;而当调整器150为角度调整器时,用以调整天线120的角度,使天线120维持面向受测装置140。
图4示出依照本发明图1或图2绘示的测试装置100的方块示意图。在本实施例中,除测试装置100还包含距离量测器160之外,测试装置100的配置方式与图1或图2的配置方式相似。
如图4所示,测试装置100还包含距离量测器160。距离量测器160配置于天线架110上,并用以量测天线120与受测装置140之间的距离。此外,控制器130电性耦接于天线120(图中未示)以及距离量测器160,并用以根据距离量测器160所量测到的前述距离,产生控制信号来控制天线120。
举例而言,如图1所示,天线120由初始位置(B位置)往上升3米,此时距离量测器160会量测天线120与受测装置140之间的距离。当天线120与受测装置140之间的距离大于预设的固定值时,控制器130会根据前述距离产生控制信号来控制天线120。使天线120在初始位置时与受测装置140的距离为A,且使天线120由初始位置移动到C位置中的任意一位置与受测装置140的距离皆为A。
再者,于另一实施例中,天线120由初始位置(B位置)往上升3米,此时距离量测器160会量测天线120与受测装置140之间的距离。控制器130会根据前述距离产生控制信号来控制天线120。举例而言,当天线120的升降高度值为3,控制器130会产生控制信号来控制天线120向受测装置的方向转动45度,藉使天线120面向受测装置140。
在一实施例中,距离量测器160包含红外线距离量测器。
图5示出依照本发明图4绘示的测试装置100的方块示意图。在本实施例中,距离量测器160包含红外线发射装置162以及红外线接收装置164。
如图5所示,红外线发射装置162配置于受测装置140上,并用以发射红外线。红外线接收装置164配置于天线架110上并用以接收红外线,藉以量测天线120与受测装置140之间的距离。然其并非用以限定本发明,任何熟习此技艺者,在不脱离本发明的精神和范围内,当采用不同种类的距离量测装置以达到本发明的目的时,即落入本发明的保护范围。
然后,控制器130可根据前述距离产生控制信号来控制天线120。其控制方式如前揭,在此不做赘述。
由上述本发明实施方式可知,应用本发明具有下列优点。本发明实施例藉由提供一种测试装置100,于测试时,当天线120在天线架130上进行升降,皆能保持天线120与受测装置140之间的距离,以减少因天线120上升所导致测试距离的误差,提升测试的准确度。此外,于高频测试时,当天线120于天线架130上进行升降皆能藉由本发明实施例,以使天线120面向受测装置140,以接收最强方向的辐射能量,提升高频测试的准确度。如此,即可解决天线120上升所导致测试距离逐渐变大或天线120无法面对其接收辐射能量的最强方向,从而对测试数据产生影响的问题。
上文中,参照附图描述了本发明的具体实施方式。但是,本领域中的普通技术人员能够理解,在不偏离本发明的精神和范围的情况下,还可以对本发明的具体实施方式作各种变更和替换。这些变更和替换都落在本发明权利要求书所限定的范围内。
Claims (6)
1.一种测试装置,其特征在于,所述测试装置包含:
一天线架;
一天线,配置于该天线架而于该天线架上进行升降,并用以接收一受测装置所发出的辐射;
一距离量测器,配置于该天线架上,并用以量测该天线与该受测装置之间的距离;
一控制器,电性耦接于该天线以及该距离量测器,并用以根据该距离,产生一控制信号;以及
一调整器,电性耦接于该天线以及该控制器,并用以接收该控制信号来调整该天线。
2.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,该天线为一偶极天线、一对数周期天线、一对数螺旋天线或一喇叭天线。
3.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,该调整器为一长度调整器,用以调整该天线的长度,并使该天线与该受测装置之间的距离维持一固定值。
4.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,该调整器为一角度调整器,用以调整该天线的角度,并使该天线维持面向该受测装置。
5.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,该距离量测器包含一红外线距离量测器。
6.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,该距离量测器包含:
一红外线发射装置,配置于该受测装置上,并用以发射一红外线;以及
一红外线接收装置,配置于该天线架上并用以接收该红外线,藉以量测该天线与该受测装置之间的该距离。
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