CN102768005B - Smc1密封面平面度检验工装 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种SMC1密封面平面度检验工装，包括基准板、定位块和测量表；基准板的底面上设有三个凸台，其上表面为基准面，基准面与三个凸台的下端面所形成的表面平行；基准板上设有扇形槽，三个凸台放入SMC1高压负荷开关的气包壳体的密封槽中，扇形槽与密封槽的位置一致；定位块套在百分表的套管上，并用顶丝夹紧，百分表的测头穿过所述扇形槽伸入到密封槽中，定位块的下表面与基准面配合。能很方便的对SMC1高压负荷开关的气包壳体的密封槽的平面度进行测量，性价比高、实用、操作简单和维护费用低。

Description

SMC1密封面平面度检验工装

技术领域

本发明涉及一种平面度检验工装，尤其涉及一种SMC1密封面平面度检验工装。

背景技术

SMC1高压负荷开关为SF6充气柜，而SF6气体主要充放在气包中，故气包内SF6气体的泄漏量直接影响着开关的性能和使用寿命，造成设备的绝缘水平下降，引起环境污染，危害身体健康。因此，在出厂前要对每件气包中SF6气体年漏气率检验。经检验发现，同批次生产出的气包多数未能达到年漏气率低于5％的要求。

针对该问题，申请人经多方研究得出气包壳体上安装密封槽的平面度不达到精度要求是导致SF6泄漏率过高的主要原因。

目前，还没有一种专门的能够检测气包壳体密封槽平面度的检具。

现有技术中的一种检测技术是利用塞规进行测量，将负荷开关的气包装配完后（其中主要是气包壳体上安装密封圈和透明罩），用塞规对透明罩与气包壳体的缝隙进行检测，并规定了一个合格产品应满足的数据范围值，当检测的数值在允许的范围内视为合格产品，超出范围视为不合格产品。

这种检测技术的缺点是：

该测量技术在长期的使用期间出现了一种现象，根据设计要求获得的检测数据范围不能很好的用来作为塞规检测的依据。用塞规检测合格的产品，仍然会出现漏气率过高。这使得检测人员不得不一次次的提高他们认为的合格产品应满足的精度等级。这样一来给气包的生产厂家的加工带来了很大的困难，生产成本自然也就不断的增加，也给公司带来了不小的经济损失。即便是这样，仍然还是有部分气包出现年漏气率过高的现象；

现有技术中的另一种检测技术是采用目前先进的检测仪器，目前较为先进的对平面度检测仪器有三坐标测量机和专业平面度检测仪等。该类仪器设备利用智能光电技术实现对被测面的平面度测量，具有测量精度等级高、通用性好，能够适用于各种复杂平面的平面度、粗糙度的检测。

这种检测技术的缺点是：

利用先进的平面度检测仪器进行检测，确实能够很好的检测产品的平面度，检测的精度远远超过普通检测量具的精度等级。但是作为单纯检测一个零部件就需要花费几十万购买一台检测仪，且仅仅运用了其中很小一部分的功能，公司没有那么高的预算资金。另外，该类技术产品安装调试难度大、对操作人员的技术要求高和维护费用高等，很不适合用于气包密封槽的平面度测量。

发明内容

本发明的目的是提供一种性价比高、实用、操作简单和维护费用低的SMC1密封面平面度检验工装。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

本发明的SMC1密封面平面度检验工装，包括基准板、定位块和测量表；

所述基准板的底面上设有三个凸台，其上表面为基准面，所述基准面与三个凸台的下端面所形成的表面平行；

所述基准板上设有扇形槽，所述三个凸台放入SMC1高压负荷开关的气包壳体的密封槽中，所述扇形槽与密封槽的位置一致；

所述定位块套在百分表的套管上，并用顶丝夹紧，所述百分表的测头穿过所述扇形槽伸入到所述密封槽中，所述定位块的下表面与所述基准面配合。

由上述本发明提供的技术方案可以看出，本发明提供的SMC1密封面平面度检验工装，包括基准板、定位块和测量表；基准板的底面上设有三个凸台，其上表面为基准面，基准面与三个凸台的下端面所形成的表面平行；基准板上设有扇形槽，三个凸台放入SMC1高压负荷开关的气包壳体的密封槽中，扇形槽与密封槽的位置一致；定位块套在百分表的套管上，并用顶丝夹紧，百分表的测头穿过所述扇形槽伸入到密封槽中，定位块的下表面与基准面配合。能很方便的对SMC1高压负荷开关的气包壳体的密封槽的平面度进行测量，性价比高、实用、操作简单和维护费用低。

附图说明

图1为本发明实施例中SMC1高压负荷开关的气包的密封的结构示意图；

图2a为本发明实施例中基准板的平面结构示意图；

图2b为本发明实施例中基准板的侧面结构示意图；

图3为本发明实施例中定位块和测量表的结构示意图。

图中：1、透明罩，2、密封圈，3、密封槽，4、基准板，5、扇形槽，6、圆孔，7、凸台，8、测量表，9、顶丝，10、定位块。

具体实施方式

下面将对本发明实施例作进一步地详细描述。

本发明SMC1密封面平面度检验工装，其较佳的具体实施方式是：

包括基准板、定位块和测量表；

所述基准板的底面上设有三个凸台，其上表面为基准面，所述基准面与三个凸台的下端面所形成的表面平行；

所述基准板上设有扇形槽，所述三个凸台放入SMC1高压负荷开关的气包壳体的密封槽中，所述扇形槽与密封槽的位置一致；

所述定位块套在百分表的套管上，并用顶丝夹紧，所述百分表的测头穿过所述扇形槽伸入到所述密封槽中，所述定位块的下表面与所述基准面配合。

所述基准板的中间设有圆孔，所述圆孔的尺寸与SMC1高压负荷开关的气包壳体上的透明罩上安装的驱动轴的尺寸一致。

如图1所示，SMC1高压负荷开关的气包的密封是通过透明罩挤压安装在气包壳体密封槽内的密封圈来实现密封的。本发明能很方便的对SMC1高压负荷开关的气包壳体的密封槽的平面度进行测量，性价比高、实用、操作简单和维护费用低。

具体实施例：

主要有三部分组成：即基准板、定位块和测量表。

如图2a、图2b所示，基准板的扇形槽与气包壳体密封槽位置一致，并能方便测量表在里面滑动；基准板的底面上有三个凸台，基准板的上表面（基准面）与三个凸台的下端面所形成的表面保持平行（平行度误差不大于0.01mm），其原理是通过三点确定一个平面，该平面与被测平面平行，目的是保证检具能在一个与被测平面平行的工作台上运动。这样一来就不需要将气包搬运到基准工作台上测量，并保证了测试的精度。基准板中间的圆孔尺寸与透明罩上安装驱动轴所需要的尺寸相对应。

如图3所示，测量表和定位块共同组成了测量装置。测量表的选用需根据所测量的误差等级和被测量件的外形尺寸来确定，根据该气包选择的测量表为一个测量精度为0.01mm，行程为0～5mm的百分表（该百分表选择还应注意表盘下端到测头距离A不小于40mm）。定位块套在百分表套管上，用顶丝夹紧。

具体测量的步骤：

（一）、使用前检查：

1.检查百分表：轻轻推动测量杆时，测量杆在套筒内的移动要灵活，没有任何轧卡现象，每次手松开后，指针能回到原来的刻度位置。

2.检查测量面：用干净棉丝或软布把基准面和定位块表面擦净，定位块在基准面上应活动顺畅。

检查结果有疑问应及时进行校对或更换检具。

（二）、检具的正确使用：

1..对气包壳体密封槽的检测：

a.将基准板平稳的放到气包上端面，三个凸台插入密封槽内平面上，转动基准板到平稳位置。

b.将百分表装到定位块上，表盘下端与定位块留有1～3mm的间隙，用顶丝固定（注意固定时力不应太大，以防止损坏测量杆，力的大小以百分表不能轻松转动为宜）。

c.百分表测头透过基准板的扇形槽放入气包壳体密封槽内，使百分表有一定的压缩量，旋转百分表外圈调整大指针指到“0”位。滑动定位块使测头在槽内移动，观察百分表指针的摆动，读数并记录下数据。旋转基准板，以便检测整个槽面。

d.百分表读数：小表盘的一个分度值为1mm，大表盘的一个格分度值为0.01mm。读数时，先读小指针转过的刻度线（即毫米整数），再读大指针转过的刻度线（即小数部分），并乘以0.01，然后两者相加，即得到所测量的数值。

e.指针在表盘上摆动的差值应符合以下要求：气包壳体上端面密封槽最大差值应小于0.25mm，即被测平面度合格。

2.透明罩对应处的平面度：

将基准板平放到透明罩的内表面，用一根设计好的阶梯轴从两个零部件的中间圆孔上传过，使基准板固定到透明罩上，此时百分表所能检测到的位置即为与气包壳体密封槽相对应的位置。其他具体操作与气包壳体密封槽检测相似。

具体实施例中，影响本测量装置的因素有以下几个方面：

百分表精度：采用0级表，示值误差为0.01mm；

各面接触精度：综合后不大于0.002mm；

基准板上平面与三个凸台组成的平面之间的平行性误差：此值不大于0.01mm。

由此三项综合后，检具的示值误差为：

$\mathrm{\δ}=\sqrt{{0.01}^2+{0.002}^2+{0.005}^2}=0.011\mathrm{mm}$ 完全满足使用要求。

此种测量方法完全符合平面度公差带的定义。经过该检具检测合格的产品，年漏气率均小于5‰，满足产品要求。

本发明的有益效果是：

1.该技术方案成本低利用三点确定一个平面的原理，通过三个凸台确定了一个与被测平面平行的基准面，用满足精度要求的百分表（千分表）来对检测平面进行检测，即便是被测表面是倾斜的，只要三个凸台与其接触到都不会影响检测精度，这样减少了公司对购买基准工作平台和昂贵检测设备的费用。

2.该技术方案所设计出的产品移动性好当被检测零部件（包括气包）的体积和重量较大，且不易移动，直接将该检具放到被测面上进行检测即可，无需搬动被检测零部件，大大降低了检测人员的工作强度。

3.该技术方案所设计出的产品操作简单检测人员只要会用百分表就能实现对产品的检测。

4.维护费用低检测人员只要在使用前后涂油保护，禁止用粗糙的东西擦拭其表面和禁止悬空放置基准板等简单的检具维护方法即可。

本发明用于对SMC1密封面平面度的检测，利用基准板上与其上表面相平行的三个凸台确定一个基准面，将检测装置安放在基准板的上表面来检测平面度。较为实用、性价比高、操作简单、维护费用低，并且可根据被测区域的不同对基准面的几何形状尺寸进行改进（如将扇形槽变为成一定序列排列的小孔用来测量面积较大平面的平面度或粗糙度）。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明披露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。

Claims (1)

1.一种SMC1密封面平面度检验工装，其特征在于，包括基准板、定位块和测量表；

所述基准板的底面上设有三个凸台，其上表面为基准面，所述基准面与三个凸台的下端面所形成的表面平行；

所述基准板上设有扇形槽，所述三个凸台放入SMC1高压负荷开关的气包壳体的密封槽中，所述扇形槽与密封槽的位置一致；

所述定位块套在百分表的套管上，并用顶丝夹紧，所述百分表的测头穿过所述扇形槽伸入到所述密封槽中，所述定位块的下表面与所述基准面配合；

所述基准板的中间设有圆孔，所述圆孔的尺寸与SMC1高压负荷开关的气包壳体上的透明罩上安装的驱动轴的尺寸一致。