CN102735967A - 电子元件电性能综合测试机 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种电子元件电性能综合测试机，其特征在于：包括电控机构，电控机构连接控制主机机构，主机机构包括上料机构、测试机构和下料分档机构，上料机构固定在机架上，上料机构的出料口处布置有测试机构，测试机构的出料口布置有下料分档机构。本发明通过在测试盘上安装两组探针和多个摄像机来实现多产品多方位的检测，多个摄像机能够准确的测量产品的外观使其有效的提高精确性。

Description

电子元件电性能综合测试机
技术领域
本发明涉及一种电子元件电性能综合测试机。
背景技术
目前国内采用的电阻片分档方法主要是采用电阻片测试分档机。基本原理是将散放的电阻片送入输送结构后，经电阻片测试分档机测试并自动分类存放。该方法提高了生产效率，节省了劳动力，改变了长期以来全部人工手动测试的局面，且分档范围可以视具体情况调整。这种方法对电阻分档有一定的效果，但存在精度不高，不能测试电阻片外形尺寸参数，分档范围不广等缺陷，在生产实践中的使用受到了一定的限制。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术存在的不足，提供一种电子元件电性能综合测试机，有效提高了稳定性、精确性。
本发明的目的通过以下技术方案来实现：
电子元件电性能综合测试机，其特征在于：包括电控机构，所述电控机构连接控制主机机构，所述主机机构包括上料机构、测试机构和下料分档机构，所述上料机构固定在机架上，所述上料机构的出料口处布置有测试机构，所述测试机构的出料口布置有下料分档机构；
所述上料机构包括分度盘和上料装置，所述分度盘通过安装转轴转动，所述分度盘上沿圆周边间隔90°布置有吸嘴，所述分度盘的上方设置有水平相对的下压气缸，所述下压气缸通过顶柱与分度盘上的吸嘴竖直相对且相互配合，所述分度盘上的吸嘴的正下方设置有上料装置，所述上料机构以上料装置的上料为上料口水平旋转180°为上料机构的出料口；
所述测试机构包括测试盘，所述测试盘通过安装转轴转动，所述测试盘正对出料口的位置为起始位置逆时针旋转45°90°135°180°215°处通过支架依次布置有第一探针、第二探针、第一摄像机、第二摄像机和第三摄像机，其中第一探针、第二探针、第一摄像机、第二摄像机沿测试盘的圆周外围固定，第三摄像机固定在测试盘中心处，所述测试盘的270°处为出料口；
所述下料分档机构包括分档盘和分档盒，所述分档盒设有十个且都沿分档盘的圆周外围依次布置，所述分档盘的中心处设置夹取装置，所述夹取装置与分档盒相配合。
进一步地，上述的电子元件电性能综合测试机，其中，上料装置包括料匣、步进电机以及顶杆，所述步进电机通过丝杆与顶杆形成传动副，所述顶杆正对料匣的底部与料匣相配合。
更进一步地，上述的电子元件电性能综合测试机，其中，分档盘的圆周外围设置有废料盒。
更进一步地，上述的电子元件电性能综合测试机，其中，分档盒处设置有储料匣。
再进一步地，上述的电子元件电性能综合测试机，其中，废料盒处设置有储料匣。
本发明技术方案的实质性特点和进步主要体现在：
本发明通过在测试盘上安装两组探针和多个摄像机来实现多产品多方位的检测，多个摄像机能够准确的测量产品的外观使其有效的提高精确性，该装置能有效提高生产效率，且装置操作简便，容易维护。
附图说明
下面结合附图对本发明技术方案作进一步说明：
图1：本发明的构造示意图；
图2：本发明的上料机构结构示意图：
图3：本发明的上料装置的结构示意图；
图4：本发明的测试机构结构示意图；
图5：本发明的下料分档机构结构示意图。
具体实施方式
如图1、图2、图3、图4、图5所示，电子元件电性能综合测试机，包括电控机构，电控机构连接控制主机机构，主机机构包括上料机构1、测试机构2和下料分档机构3，上料机构1固定在机架上，上料机构1的出料口处布置有测试机构2，测试机构2的出料口布置有下料分档机构3；上料机构1包括分度盘4和上料装置，分度盘4通过安装转轴转动，分度盘4上沿圆周边间隔90°布置有吸嘴7，分度盘4的上方设置有水平相对的下压气缸5，下压气缸5通过顶柱6与分度盘4上的吸嘴7竖直相对且相互配合，分度盘4上的吸嘴7的正下方设置有上料装置，上料机构1以上料装置的上料为上料口水平旋转180°为上料机构1的出料口；测试机构2包括测试盘12，测试盘12通过安装转轴转动，测试盘12正对出料口的位置为起始位置逆时针旋转45°90°135°180°215°处通过支架依次布置有第一探针13、第二探针14、第一摄像机15、第二摄像机16和第三摄像机17，其中第一探针13、第二探针14、第一摄像机15、第二摄像机16沿测试盘12的圆周外围固定，第三摄像机17固定在测试盘12中心处，测试盘12的270°处为出料口；下料分档机构3包括分档盘18和分档盒20，分档盒20设有十个且都沿分档盘18的圆周外围依次布置，分档盘18的中心处设置夹取装置21，夹取装置21与分档盒20相配合。
上料装置包括料匣10、步进电机8以及顶杆11，步进电机8通过丝杆9与顶杆11形成传动副，顶杆11正对料匣10的底部与料匣10相配合。
分档盘18的圆周外围设置有废料盒，分档盒20处设置有储料匣19，废料盒处设置有储料匣。
步进电机8是上料装置的动力装置，驱动着料匣10的运动。在上料处的空料匣槽中依次放入待测阻值和外形参数的电阻片。（上料用的是料匣槽而不是振动盘，因为电阻片的表面镀银，这样可以避免元件之间的磨损）放满后，料匣10中的检测传感器检测到电阻片放满后，步进电机8启动，步进电机8通过顶杆11将料匣10中电阻片的上升，上升到吸料位置处，在下压气缸5的作用下，带动顶柱6将吸嘴7下压，之后将电阻片吸附起来。传感器检测到上面的电阻片被吸附后，由料匣10下面的顶杆11将电阻片再一次顶起。分度盘4逆时针转动，转动到90°处后，对电阻片的下表面进行影像检测，检测的目的有两个，一是检测电阻片表面是否存在表面划痕，塌边等缺陷，若是存在这样的缺陷则由电脑程序记录该该电阻片；二是根据投影的下表面的影像的像素点的个数，借助每个像素点的尺寸，计算出电阻片下表面长边和短边的长度。检测完成以后，分度盘4继续转动，在分度盘4的180°位置处，分度盘4依次将电阻片下放到测试盘12上的治具中。
测试盘12的主要功能是测试电阻片的阻值以及表面的尺寸参数。在测试盘12的45°90°位置处安装有第一探针13和第二探针14，第一探针13和第二探针14分别有两个探针顶压在电阻片的上下表面，探针分别代表正负极，在测量过程中保证两个探针与电阻片的金属部位有良好的接触，其第一探针13和第二探针14先后两次对电阻片进行阻值测量确保了所测阻值的精度，两次测量的阻值差应保持在一定的误差范围内，若误差较大可根据需要进行重测。在测试盘12的135°处安装有第一摄像机15且对电阻片上表面进行影像检测，检测电阻片的表面状况及各边长度。在测试盘12的180°处的第二摄像机16对电阻片的外短侧面及长侧面摄像，利用影像像素点测出各面的各边长。在215°处，同理得到内短侧面各边的长度以及电阻片内外各处的厚度。对电阻片各边的长度进行两次测量是为了避免电阻片的分割过程中可能因为不均匀分割造成误差。在测量盘12的270°处，分档盘18上的夹取装置21将测试盘12上的电阻片取走，然后对其电阻片进行分档。
对电阻片按阻值分档是最后一道工序，分档盘18主要包括的是十个分档盒20，其中还设置有一个废料盒，电阻片随分档盘18转动，各电阻片分别进入不同的分档盒20中，不同的分档盒20中有不同的阻值范围。具体阻值范围可以视具体生产要求而定，体现了该装置的灵活性。
具体应用时，在料匣10中放入电阻片，电阻片在下压缸和顶杆11的作用下，上升到吸料位置处，由吸嘴7吸附后，随分度盘4转动，在此过程中进行一次影像检测，检测该电阻片是否存在缺陷，在分度盘4的180°处为出料口，分料盘4将电阻片下放在测试盘12上的治具中，在测试盘12的45°90°处分别存在第一探针13和第二探针14，对电阻片进行先后2次测量电阻片的阻值，接着在测试盘12的135°180°和215°处的第一摄像机15、第二摄像机16、第三摄像机17对电阻片进行一次上面和两次侧面的影像检测，测出电阻片各边的长度以及内外各处的厚度，测试盘12的270°处为出料口，将测试盘12上的电阻片取走放置于分档盘18上进行电阻片分档，分档盘18将各电阻片按阻值分别进入不同的分档盒20中，满料后，步进电机启动收料放置于储料匣19中，如此循环往复，直至将电阻片分档完成。
需要强调的是：以上仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (5)

1.电子元件电性能综合测试机，其特征在于：包括电控机构，所述电控机构连接控制主机机构，所述主机机构包括上料机构、测试机构和下料分档机构，所述上料机构固定在机架上，所述上料机构的出料口处布置有测试机构，所述测试机构的出料口布置有下料分档机构；
所述上料机构包括分度盘和上料装置，所述分度盘通过安装转轴转动，所述分度盘上沿圆周边间隔90°布置有吸嘴，所述分度盘的上方设置有水平相对的下压气缸，所述下压气缸通过顶柱与分度盘上的吸嘴竖直相对且相互配合，所述分度盘上的吸嘴的正下方设置有上料装置，所述上料机构以上料装置的上料为上料口水平旋转180°为上料机构的出料口；
所述测试机构包括测试盘，所述测试盘通过安装转轴转动，所述测试盘正对出料口的位置为起始位置逆时针旋转45°90°135°180°215°处通过支架依次布置有第一探针、第二探针、第一摄像机、第二摄像机和第三摄像机，其中第一探针、第二探针、第一摄像机、第二摄像机沿测试盘的圆周外围固定，第三摄像机固定在测试盘中心处，所述测试盘的270°处为出料口；
所述下料分档机构包括分档盘和分档盒，所述分档盒设有十个且都沿分档盘的圆周外围依次布置，所述分档盘的中心处设置夹取装置，所述夹取装置与分档盒相配合。
2.根据权利要求1所述的电子元件电性能综合测试机，其特征在于：所述上料装置包括料匣、步进电机以及顶杆，所述步进电机通过丝杆与顶杆形成传动副，所述顶杆正对料匣的底部与料匣相配合。
3.根据权利要求1所述的电子元件电性能综合测试机，其特征在于：所述分档盘的圆周外围设置有废料盒。
4.根据权利要求1所述的电子元件电性能综合测试机，其特征在于：所述分档盒处设置有储料匣。
5.根据权利要求3所述的电子元件电性能综合测试机，其特征在于：所述废料盒处设置有储料匣。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103706578A (zh) * 2013-12-19 2014-04-09 苏州方林科技股份有限公司 自动检测设备
CN104406516A (zh) * 2014-11-05 2015-03-11 大族激光科技产业集团股份有限公司 工件异形尺寸检测装置
CN104534995A (zh) * 2014-12-26 2015-04-22 大族激光科技产业集团股份有限公司 光学测量设备
CN105067629A (zh) * 2015-07-24 2015-11-18 北京理工大学 一种色环电阻外观缺陷和阻值集成检测方法
CN106771977A (zh) * 2016-12-31 2017-05-31 东莞市求是测试设备有限公司 一种smt智能首件检测设备
CN106938255A (zh) * 2017-04-28 2017-07-11 扬州爱迪秀自动化科技有限公司 芯片测试分类机器人
CN109499908A (zh) * 2018-11-10 2019-03-22 东莞理工学院 一种用于机械零件的视觉检测系统
CN114308737A (zh) * 2021-12-31 2022-04-12 前进电子(苏州)有限公司 一种用于分选不同阻值电阻的分选方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55121605A (en) * 1979-03-13 1980-09-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Resistance value sorter
JPH08197006A (ja) * 1995-01-26 1996-08-06 Seiwa Sangyo Kk チップ状ワークの自動選別装置
JPH0933609A (ja) * 1995-07-24 1997-02-07 Seiwa Sangyo Kk チップ状電子部品の自動選別装置
CN201253611Y (zh) * 2008-07-26 2009-06-10 广东风华高新科技股份有限公司 一种磁环电感测试分选机
CN201399436Y (zh) * 2009-03-06 2010-02-10 江都市东元机电设备有限公司 半导体器件测试分选机
CN201757776U (zh) * 2010-06-25 2011-03-09 深圳市创益科技发展有限公司 太阳能电池自动测试装置
CN101992189A (zh) * 2009-08-25 2011-03-30 康准电子科技（昆山）有限公司 工件检测分拣装置及方法
CN102107190A (zh) * 2010-12-20 2011-06-29 常州市科文传感器材料有限公司 二极管型热敏电阻高速测试系统
CN102338751A (zh) * 2011-06-02 2012-02-01 浙江工业大学 基于视觉检测法的电路板缺陷检测设备
CN203287444U (zh) * 2012-06-13 2013-11-13 苏州慧捷自动化科技有限公司 电子元件电性能综合测试机

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55121605A (en) * 1979-03-13 1980-09-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Resistance value sorter
JPH08197006A (ja) * 1995-01-26 1996-08-06 Seiwa Sangyo Kk チップ状ワークの自動選別装置
JPH0933609A (ja) * 1995-07-24 1997-02-07 Seiwa Sangyo Kk チップ状電子部品の自動選別装置
CN201253611Y (zh) * 2008-07-26 2009-06-10 广东风华高新科技股份有限公司 一种磁环电感测试分选机
CN201399436Y (zh) * 2009-03-06 2010-02-10 江都市东元机电设备有限公司 半导体器件测试分选机
CN101992189A (zh) * 2009-08-25 2011-03-30 康准电子科技（昆山）有限公司 工件检测分拣装置及方法
CN201757776U (zh) * 2010-06-25 2011-03-09 深圳市创益科技发展有限公司 太阳能电池自动测试装置
CN102107190A (zh) * 2010-12-20 2011-06-29 常州市科文传感器材料有限公司 二极管型热敏电阻高速测试系统
CN102338751A (zh) * 2011-06-02 2012-02-01 浙江工业大学 基于视觉检测法的电路板缺陷检测设备
CN203287444U (zh) * 2012-06-13 2013-11-13 苏州慧捷自动化科技有限公司 电子元件电性能综合测试机

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103706578A (zh) * 2013-12-19 2014-04-09 苏州方林科技股份有限公司 自动检测设备
CN103706578B (zh) * 2013-12-19 2015-12-09 苏州方林科技股份有限公司 自动检测设备
CN104406516A (zh) * 2014-11-05 2015-03-11 大族激光科技产业集团股份有限公司 工件异形尺寸检测装置
CN104534995A (zh) * 2014-12-26 2015-04-22 大族激光科技产业集团股份有限公司 光学测量设备
CN104534995B (zh) * 2014-12-26 2018-01-05 大族激光科技产业集团股份有限公司 光学测量设备
CN105067629A (zh) * 2015-07-24 2015-11-18 北京理工大学 一种色环电阻外观缺陷和阻值集成检测方法
CN106771977A (zh) * 2016-12-31 2017-05-31 东莞市求是测试设备有限公司 一种smt智能首件检测设备
CN106938255A (zh) * 2017-04-28 2017-07-11 扬州爱迪秀自动化科技有限公司 芯片测试分类机器人
CN109499908A (zh) * 2018-11-10 2019-03-22 东莞理工学院 一种用于机械零件的视觉检测系统
CN114308737A (zh) * 2021-12-31 2022-04-12 前进电子(苏州)有限公司 一种用于分选不同阻值电阻的分选方法

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