CN102692197B - 一种用于半导电胶辊平整度的检测仪及其检测方法 - Google Patents

一种用于半导电胶辊平整度的检测仪及其检测方法 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种用于半导电胶辊平整度的检测仪，所述半导体胶辊包括两端具有连接头的金属芯和包裹于金属芯外表面的胶辊面，本发明检测仪包括一平台以及分别设于该平台上的工作部件、支架部件、光源部件、限位部件和电气控制箱。本发明还提供了一种用于半导电胶辊平整度的检测方法。本发明检测仪及其检测方法与现有技术相比，具有以下优点：因检测仪两边有限位轴承的压力，且可以增加和减少，杜绝出现产品接触不均现象，保证产品品质；因为有容置槽卡位，所以产品只在固定的区域转动，避免左右摆动；固定灯管，灯管均匀，更有利于产品的判断；操作简单易学；基本接近碳粉盒的设计，能完全对产品判断，避免判断的不确定性。

Description

一种用于半导电胶辊平整度的检测仪及其检测方法
技术领域
本发明涉及半导电胶辊制造领域，尤其涉及一种用于半导电胶辊平整度的检测仪用于半导电胶辊平整度的检测仪及其检测方法。
背景技术
半导电胶辊在充电及显影的过程针对其外形要求相当严格，半导体胶辊包括两端具有连接头的金属芯和包裹于金属芯外表面的胶辊面，为检测半导电胶辊胶辊面的平整度，行业内基本采取在大理石平台上滚动来检测，此检测的方法弊端主要为：
1.打印用导电胶辊形状多为中间大两边小的圆弧形，在平台上滚动时只有外径大的部分接触，很难判断两边的平整度；
2.导电胶辊滚动时会左右晃动，无法判断；
3.安装平行的灯光时，灯光散射，影响视线；
4.操作员不方便操作，批量生产的可行性不高；
5.大理石平台凹凸较多，精度很难保证。
发明内容
本发明的目的，就是为了解决上述问题而提供了一种用于半导电胶辊平整度的检测仪及其检测方法，该检测仪基本接近碳粉盒的设计，能完全对产品判断，避免判断的不确定性。
本发明的目的是这样实现的：
本发明之一的一种用于半导电胶辊平整度的检测仪，所述半导体胶辊包括两端具有连接头的金属芯和包裹于金属芯外表面的胶辊面，其特征在于，包括一平台以及分别设于该平台上的工作部件、支架部件、光源部件、限位部件和电气控制箱，其中，
所述平台为一铁板；
所述工作部件包括一可转动的铁轴、两个分别支承在该铁轴两头的铁轴轴承、容纳所述铁轴轴承的固定座以及连接在所述铁轴的右端且驱动该铁轴转动的调速马达，所述铁轴通过其两头的固定座横向设置于所述平台的中央；
所述支架部件包括两个L型固定支架及两个悬臂，所述固定支架左右对称且可调节地设于所述铁轴的前侧，所述两个悬臂前端分别可调节地固定于所述两个固定支架的顶部，且该悬臂悬于所述铁轴的正上方，所述两个悬臂的后端分别开有两个相向的、用于容置所述半导电胶辊两端连接头的容置槽，且所述半导电胶辊的胶辊面与所述铁轴的外周面相切；
所述光源部件包括一灯管和包裹所述灯管的铁皮盒，所述铁皮盒固定于所述铁轴的后侧，且其面对所述铁轴的一侧面上横向设有一开口，该开口正对所述铁轴与所述半导电胶辊胶辊面的相切处；
所述限位部件包括一可转动的方轴、两个分别支承在该方轴两头的方轴轴承、两个倒L型的铁架、两根铁管、两个铁块、两个限位轴承和一扳手，所述方轴轴承容置于所述固定座上，且该方轴位于所述铁轴和所述铁皮盒之间，所述两个铁架的下端套设于所述方轴的两端，所述两根铁管分别穿过所述铁架上端的后半部，且位于与所述平台平行的同一平面上，所述两个铁块的上端分别可调节地垂直固定于所述两个铁架上端的前半部，所述铁块的下端固定有一限位轴承，所述两个限位轴承分别压于所述悬臂容置槽的上方，所述扳手的一端固定于所述两根铁管的中心处，另一端倾斜向上地悬于所述铁轴的上方；
所述电气控制箱固定于所述铁皮盒的右侧，所述电气控制箱分别与所述调速马达和所述灯管电连接。
上述的用于半导电胶辊平整度的检测仪，其中，所述固定支架的底部设有腰形孔，该固定支架通过穿过所述腰形孔的螺钉可调节地固定于所述铁轴的前侧。
上述的用于半导电胶辊平整度的检测仪，其中，所述悬臂的前端开有腰形孔，所述两个悬臂通过穿过该腰形孔的螺钉分别可调节地固定于所述两个固定支架的顶部。
上述的用于半导电胶辊平整度的检测仪，其中，所述铁块的上端开有腰形孔，所述两个铁块通过穿过该腰形孔的螺钉分别可调节地垂直固定于所述两个铁架上端的前半部。
本发明之二的一种用于半导电胶辊平整度的检测方法，包括以下步骤：
通过扳手将铁架向上抬起，将半导电胶辊两端连接头卡置于容置槽内，放下铁架，使限位轴承压于所述半导电胶辊两端连接头上，且半导电胶辊的胶辊面与铁轴的外周面相切，通过电气控制箱启动调速马达，调速到合适的速度，启动灯管，所述半导电胶辊由所述铁轴通过摩擦力带动转动，看有无灯光漏出，没有灯光漏出为良品。
本发明检测仪及其检测方法与现有技术相比，具有以下优点：
1.因检测仪两边有限位轴承的压力，且可以增加和减少，杜绝出现产品接触不均现象，保证产品品质；
2.因为有容置槽卡位，所以产品只在固定的区域转动，避免左右摆动；
3.固定灯管，灯管均匀，更有利于产品的判断；
4.操作简单易学；
5.基本接近碳粉盒的设计，能完全对产品判断，避免判断的不确定性。
附图说明
图1是本发明之一的用于半导电胶辊平整度的检测仪的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图，对本发明作进一步说明。
请参阅图1，图中示出了本发明之一的一种用于半导电胶辊平整度的检测仪，上述半导体胶辊包括两端具有连接头的金属芯和包裹于金属芯外表面的胶辊面，本发明检测仪包括一平台1以及分别设于该平台上的工作部件、支架部件、光源部件、限位部件和电气控制箱6，其中：
平台1为一铁板；
工作部件包括一可转动的铁轴21、两个分别支承在该铁轴21两头的铁轴轴承23、容纳铁轴轴承23的固定座22以及连接在铁轴21的右端且驱动该铁轴21转动的调速马达24，铁轴21通过其两头的固定座22横向设置于平台1的中央。
支架部件包括两个L型固定支架31及两个悬臂33，固定支架31的底部设有腰形孔32，该固定支架31通过穿过腰形孔32的螺钉可调节地固定于铁轴21的前侧，悬臂33的前端开有腰形孔35，两个悬臂33通过穿过该腰形孔35的螺钉分别可调节地固定于两个固定支架31的顶部，且该悬臂33悬于铁轴21的正上方，两个悬臂33的后端分别开有两个相向的、用于容置半导电胶辊两端连接头的容置槽34，且半导电胶辊的胶辊面与铁轴21的外周面相切。
光源部件包括一灯管和包裹灯管的铁皮盒41，铁皮盒41固定于铁轴21的后侧，且其面对铁轴21的一侧面上横向设有一开口42)，该开口42正对铁轴21与半导电胶辊胶辊面的相切处；
限位部件包括一可转动的方轴51、两个分别支承在该方轴51两头的方轴轴承52、两个倒L型的铁架53、两根铁管54、两个铁块55、两个限位轴承56和一扳手57，方轴轴承52容置于固定座22上，且该方轴51位于铁轴21和铁皮盒41之间，两个铁架53的下端套设于方轴51的两端，两根铁管54分别穿过铁架53上端的后半部，且位于与平台1平行的同一平面上，铁块55的上端开有腰形孔58，两个铁块55通过穿过该腰形孔58的螺钉分别可调节地垂直固定于两个铁架53上端的前半部，铁块55的下端固定有一限位轴承56，两个限位轴承56分别压于悬臂33容置槽34的上方，扳手57的一端固定于两根铁管的中心处，另一端倾斜向上地悬于铁轴21的上方。
电气控制箱6固定于铁皮盒41的右侧，电气控制箱6分别与调速马达24和灯管电连接，用于控制调速马达24和灯管的开启和关闭，以及调整调速马达24的转速。
本发明之二的一种用于半导电胶辊平整度的检测方法，包括以下步骤：
通过扳手57将铁架53向上抬起，将半导电胶辊两端的连接头卡置于容置槽34内，使得半导电胶辊的胶辊面与铁轴21的外周面相切，放下铁架53，使限位轴承56压于半导电胶辊两端连接头上，通过电气控制箱6启动调速马达24，调速到合适的速度，启动灯管，调速马达24带动铁轴21转动，由于半导电胶辊的胶辊面与铁轴21相切，铁轴21通过摩擦力带动半导电胶辊转动，观察铁轴21与半导电胶辊胶辊面的相切处是否有灯光漏出，没有灯光漏出则为良品。
以上实施例仅供说明本发明之用，而非对本发明的限制，有关技术领域的技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以作出各种变换或变型，因此所有等同的技术方案也应该属于本发明的范畴，应由各权利要求所限定。

Claims (5)

1.一种用于半导电胶辊平整度的检测仪，所述半导电胶辊包括两端具有连接头的金属芯和包裹于金属芯外表面的胶辊面，其特征在于，包括一平台(1)以及分别设于该平台上的工作部件、支架部件、光源部件、限位部件和电气控制箱(6)，其中，
所述平台(1)为一铁板；
所述工作部件包括一可转动的铁轴(21)、两个分别支承在该铁轴(21)两头的铁轴轴承(23)、容纳所述铁轴轴承(23)的固定座(22)以及连接在所述铁轴(21)的右端且驱动该铁轴(21)转动的调速马达(24)，所述铁轴(21)通过该铁轴两头的固定座(22)横向设置于所述平台(1)的中央；
所述支架部件包括两个L型固定支架(31)及两个悬臂(33)，所述固定支架(31)左右对称且可调节地设于所述铁轴(21)的前侧，所述两个悬臂(33)前端分别可调节地固定于所述两个固定支架(31)的顶部，且该悬臂(33)悬于所述铁轴(21)的正上方，所述两个悬臂(33)的后端分别开有两个相向的、用于容置所述半导电胶辊两端连接头的容置槽(34)，且所述半导电胶辊的胶辊面与所述铁轴(21)的外周面相切；
所述光源部件包括一灯管和包裹所述灯管的铁皮盒(41)，所述铁皮盒(41)固定于所述铁轴(21)的后侧，且其面对所述铁轴(21)的一侧面上横向设有一开口(42)，该开口(42)正对所述铁轴(21)与所述半导电胶辊胶辊面的相切处；
所述限位部件包括一可转动的方轴(51)、两个分别支承在该方轴(51)两头的方轴轴承(52)、两个倒L型的铁架(53)、两根铁管(54)、两个铁块(55)、两个限位轴承(56)和一扳手(57)，所述方轴轴承(52)容置于所述固定座(22)上，且该方轴(51)位于所述铁轴(21)和所述铁皮盒(41)之间，所述两个铁架(53)的下端套设于所述方轴(51)的两端，所述两根铁管(54)分别穿过所述铁架(53)上端的后半部，且位于与所述平台(1)平行的同一平面上，所述两个铁块(55)的上端分别可调节地垂直固定于所述两个铁架(53)上端的前半部，所述两个铁块(55)的下端均固定有一限位轴承(56)，两个所述限位轴承(56)分别压于所述悬臂(33)容置槽(34)的上方，所述扳手(57)的一端固定于所述两根铁管的中心处，另一端倾斜向上地悬于所述铁轴(21)的上方；
所述电气控制箱(6)固定于所述铁皮盒(41)的右侧，所述电气控制箱(6)分别与所述调速马达(24)和所述灯管电连接。
2.如权利要求1所述的用于半导电胶辊平整度的检测仪，其特征在于，所述固定支架(31)的底部设有腰形孔(32)，该固定支架(31)通过穿过所述腰形孔(32)的螺钉可调节地固定于所述铁轴(21)的前侧。
3.如权利要求1所述的用于半导电胶辊平整度的检测仪，其特征在于，所述悬臂(33)的前端开有腰形孔(35)，所述两个悬臂(33)通过穿过该腰形孔(35)的螺钉分别可调节地固定于所述两个固定支架(31)的顶部。
4.如权利要求1所述的用于半导电胶辊平整度的检测仪，其特征在于，所述铁块(55)的上端开有腰形孔(58)，所述两个铁块(55)通过穿过该腰形孔(58)的螺钉分别可调节地垂直固定于所述两个铁架(53)上端的前半部。
5.一种用于半导电胶辊平整度的检测方法，该检测方法所基于的检测仪，包括一平台(1)以及分别设于该平台上的工作部件、支架部件、光源部件、限位部件和电气控制箱(6)，所述半导电胶辊包括两端具有连接头的金属芯和包裹于金属芯外表面的胶辊面，其中，
所述平台(1)为一铁板；
所述工作部件包括一可转动的铁轴(21)、两个分别支承在该铁轴(21)两头的铁轴轴承(23)、容纳所述铁轴轴承(23)的固定座(22)以及连接在所述铁轴(21)的右端且驱动该铁轴(21)转动的调速马达(24)，所述铁轴(21)通过该铁轴两头的固定座(22)横向设置于所述平台(1)的中央；
所述支架部件包括两个L型固定支架(31)及两个悬臂(33)，所述固定支架(31)左右对称且可调节地设于所述铁轴(21)的前侧，所述两个悬臂(33)前端分别可调节地固定于所述两个固定支架(31)的顶部，且该悬臂(33)悬于所述铁轴(21)的正上方，所述两个悬臂(33)的后端分别开有两个相向的、用于容置所述半导电胶辊两端连接头的容置槽(34)，且所述半导电胶辊的胶辊面与所述铁轴(21)的外周面相切；
所述光源部件包括一灯管和包裹所述灯管的铁皮盒(41)，所述铁皮盒(41)固定于所述铁轴(21)的后侧，且其面对所述铁轴(21)的一侧面上横向设有一开口(42)，该开口(42)正对所述铁轴(21)与所述半导电胶辊胶辊面的相切处；
所述限位部件包括一可转动的方轴(51)、两个分别支承在该方轴(51)两头的方轴轴承(52)、两个倒L型的铁架(53)、两根铁管(54)、两个铁块(55)、两个限位轴承(56)和一扳手(57)，所述方轴轴承(52)容置于所述固定座(22)上，且该方轴(51)位于所述铁轴(21)和所述铁皮盒(41)之间，所述两个铁架(53)的下端套设于所述方轴(51)的两端，所述两根铁管(54)分别穿过所述铁架(53)上端的后半部，且位于与所述平台(1)平行的同一平面上，所述两个铁块(55)的上端分别可调节地垂直固定于所述两个铁架(53)上端的前半部，所述两个铁块(55)的下端均固定有一限位轴承(56)，两个所述限位轴承(56)分别压于所述悬臂(33)容置槽(34)的上方，所述扳手(57)的一端固定于所述两根铁管的中心处，另一端倾斜向上地悬于所述铁轴(21)的上方；
所述电气控制箱(6)固定于所述铁皮盒(41)的右侧，所述电气控制箱(6)分别与所述调速马达(24)和所述灯管电连接，
所述方法包括以下步骤：
通过扳手(57)将铁架(53)向上抬起，将半导电胶辊两端连接头卡置于容置槽(34)内，放下铁架(53)，使限位轴承(56)压于所述半导电胶辊两端连接头上，且半导电胶辊的胶辊面与铁轴(21)的外周面相切，通过电气控制箱(6)启动调速马达(24)，调速到合适的速度，启动灯管，所述半导电胶辊由所述铁轴(21)通过摩擦力带动转动，看有无灯光漏出，没有灯光漏出为良品。
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