CN102682798B - 光盘装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光盘装置，其根据测量β值和目标β值而高精度地调节记录功率。光盘装置的系统控制器(32)在光盘的内周部和外周部求出跳动或出错率最小的β值，并分别求出与目标β值的差分。然后，使用内周部的差分值和外周部的差分值并通过线性插补来计算任意位置、速度、温度下的校正值，校正任意位置、速度、温度下的测量β值，与目标β值比较，而调节记录功率。

Description

光盘装置

技术领域

本发明涉及光盘装置，特别涉及记录功率的调节。

背景技术

记录到光盘时的记录功率主要以β值作为指标被调节。即，预先对应当记录的光盘决定作为目标的β值，并调节记录功率，使得将数据记录到光盘而测量的β值成为该目标β值。

在下面的专利文献1中公开了以下技术：测量光盘的内周和外周的目标β值，并对这些值进行线性插补，从而计算光盘的数据区域中的各速度(各半径位置)的目标β值。

另外，在下面的专利文献2中公开了以下技术：在光盘的内周执行OPC(Optimum Power Control：最优功率控制)时，以多种速度进行OPC而测量目标β值，对于未测量的记录速度通过直线近似来进行插补而计算出目标β值。

【现有技术文献】

【专利文献】

【专利文献1】特开2010-500700号公报

【专利文献2】特开2003-115110号公报

发明内容

发明要解决的问题

在调节记录功率使得测量得到的β值与目标β值一致的情况下，作为其前提需要测量得到的β值正确，但可能会因种种原因使测量β值产生误差。因此，提出了以下方案：在光盘装置出厂时，在生产线上使用基准光盘进行调节，使得任何装置均是相同的测量β值，使用该调节值进行实际将数据记录到光盘时的校正。但其无法保证生产线上的调节时和实际记录数据时的条件相同，例如记录时的温度、速度有可能变化，因此并不充分。

本发明的目的在于提供一种装置，校正包含在测量得到的β值中的误差，由此能够进行与目标β值的正确比较，从而能够高精度地调节记录功率。

用于解决问题的手段

本发明为根据测量的β值和目标β值调节记录功率的光盘装置，其特征在于，具备：在光盘的第一位置上求出跳动最小的β值，并计算与上述第一位置上的目标β值的第一差分的单元；在不同于上述第一位置的第二位置上求出跳动最小的β值，并计算与上述第二位置上的目标β值的第二差分的单元；使用上述第一差分和上述第二差分来计算校正值的校正值计算单元；根据上述校正值校正所测量的β值的单元；以及根据被校正了的β值和目标β值调节记录功率的单元。

另外，本发明为根据测量的β值和目标β值调节记录功率的光盘装置，其特征在于，具备：在光盘的第一位置上求出出错率最小的β值，并计算与上述第一位置上的目标β值的第一差分的单元；在不同于上述第一位置的第二位置上求出出错率最小的β值，并计算与上述第二位置上的目标β值的第二差分的单元；使用上述第一差分和上述第二差分来计算校正值的校正值计算单元；根据上述校正值校正所测量的β值的单元；以及根据被校正了的β值和目标β值调节记录功率的单元。

在本发明的一种实施方式中，上述第一位置是光盘的内周部，上述第二位置是光盘的外周部。

另外，在本发明的其他实施方式中，上述校正值计算单元通过使用了上述第一差分和上述第二差分的线性插补来计算任意位置上的校正值。

另外，在本发明的其他实施方式中，上述校正值计算单元通过使用了上述第一差分和上述第二差分的线性插补来计算任意速度下的校正值。

另外，在本发明的其他实施方式中，上述校正值计算单元通过使用了上述第一差分和上述第二差分的线性插补来计算任意温度下的校正值。

发明效果

根据本发明，校正包含在测量得到的β值中的误差，能够高精度地调节记录功率。

附图说明

图1是实施方式中的光盘装置的整体构成图。

图2是表示记录功率和跳动(jitter)以及β值的关系的图表。

图3是实施方式的流程图。

附图标记说明

10：光盘；

32：系统控制器。

具体实施方式

下面，根据附图说明本发明的实施方式。

图1表示本实施方式涉及的光盘装置的整体构成图。可记录数据的光盘10由主轴马达(spindle motor：SPM)12驱动而旋转。主轴马达SPM12由驱动器14驱动，驱动器14由伺服处理器30伺服控制成所期望的旋转速度。

光拾取器16包括用于对光盘10照射激光的激光二极管(LD)、接收来自光盘10的反射光并转换成电信号的光检测器(PD)，与光盘10相向配置。光拾取器16由螺纹马达(thread motor)18向光盘10的半径方向驱动，螺纹马达18被驱动器20驱动。驱动器20与驱动器14相同地由伺服处理器30伺服控制。另外，光拾取器16的LD被驱动器22驱动，驱动器22由自动功率控制电路(APC)24控制成使驱动电流成为所期望的值。APC24控制驱动器22的驱动电流，以便成为通过在光盘10的测试区域中执行的OPC(Optimum Power Control：最优功率控制)而选择的最优记录功率。OPC是以下的处理，即，通常使记录功率多级变化而将测试数据记录到光盘10的测试区域中，播放该测试数据而评价其信号品质，选择得到所期望的信号品质的记录功率。通常使用β值、跳动、出错率作为信号品质。在将RC耦合的播放RF信号的峰值电平设为A，将谷值电平设为B时，β值由β＝(A-B)/(A+B)来定义。另外，跳动是播放RF信号的二值化信号和同步时钟信号的相位差。APC24调节记录功率以使得测量得到的β值成为目标β值，而目标β值被决定为跳动、出错率最小时的β值。

在播放记录在光盘10上的数据时，从光拾取器16的LD照射播放功率的激光，其反射光在PD中转换成电信号而输出。来自光拾取器16的播放信号被供给至RF电路26。RF电路26根据播放信号生成聚焦错误信号、跟踪错误信号，并供给至伺服处理器30。伺服处理器30根据这些错误信号伺服控制光拾取器16，将光拾取器16维持在聚焦(onfocus)状态以及跟踪(on tracking)状态。另外，RF电路26将播放信号供给至地址解码电路28。地址解码电路28由地址信号提取部以及解码部构成，将播放信号二值化而提取地址信号，之后将所提取的地址信号进行解码而解调地址数据，供给至伺服处理器30、系统控制器32。另外，RF电路26将播放RF信号供给至二值化电路34。二值化电路34将播放信号二值化，将所得到的8-16调制信号供给至编码/解码电路36。在编码/解码电路36中，对二值化信号进行8-16解调以及错误纠正而得到播放数据，经由接口I/F40将该播放数据输出到个人计算机等主装置。此外，在将播放数据输出至主装置时，编码/解码电路36将播放数据暂时存储到缓冲存储器38之后输出。

在将数据记录到光盘10时，来自主装置的应当记录的数据经由接口I/F40而供给至编码/解码电路36。编码/解码电路36将应当记录的数据存储到缓冲存储器38中，对应当记录的数据进行编码而作为8-16调制数据供给至写入策略电路42。写入策略电路42根据给定的记录策略将调制数据转换成多脉冲(脉冲串)，并作为记录数据供给至驱动器22。记录策略例如由多脉冲中的起始脉冲的脉冲宽度、后续脉冲的脉冲宽度、脉冲占空比构成。记录策略影响记录品质，因此通常被固定为某最优策略。也可以在OPC时一并设定记录策略。通过记录数据进行了功率调制的激光从光拾取器16的LD照射，而将数据记录到光盘10。记录数据之后，光拾取器16照射播放功率的激光而播放该记录数据，并供给至RF电路。RF电路将播放信号供给至二值化电路34，二值化的8-16调制数据被供给至编码/解码电路36。编码/解码电路36对8-16调制数据进行解码，并与存储在缓冲存储器38中的记录数据对照(校验，verify)。校验结果被供给至系统控制器32。

本实施方式的光盘装置为上述构成，下面详述使用β值的记录功率的调节。

在OPC中，改变记录功率而记录测试数据，将播放所记录的测试数据而得到的β值与目标β值一致的记录功率设为最优记录功率，但在测量β值不正确的情况下，作为结果，最优记录功率也不正确，因此导致记录品质下降。

测量β值中有可能包含误差，鉴于在本实施方式中目标β值被设计成跳动或出错率最小的值，而求出播放测试数据得到的跳动或出错率最小的β值，将该β值和目标β值的差分当作测量β值中包含的误差量。然后，使用该误差量校正测量β值。

图2表示记录功率和跳动以及β值的关系。着眼于跳动，如果记录功率不足，则无法形成凹坑(pit)或者即使形成也是形成不足，因此跳动增大。随着记录功率增大，跳动逐渐减少。另外，如果记录功率过剩，则形成凹坑过多，跳动再次增大。因此，跳动随着记录功率的增加而呈现U字型的特性。另一方面，着眼于β值，则随着记录功率的增大而通常显示出单调增加的特性。

因此，在OPC中测量测试数据的β值和跳动，求出跳动最小的β值。在β值的测量正确的情况下跳动最小的β值应该与目标β值一致，两者不同则认为是因为测量β值中含有误差，而运算两者的差分。即，如果将目标β值设为βt，将跳动最小的β值设为βo，则计算出Δβ＝βt-βo。这就是包含在测量β值中的误差。

另一方面，误差有可能根据光盘的半径位置、温度、速度而变化，因此在光盘的内周和外周求出误差，在其他任意的半径位置、任意的速度、任意的温度下，可以将该误差量进行线性插补而求出。

图3表示本实施方式的处理流程图。

首先，系统控制器32在光盘的内周部执行OPC(S101)。即，一边使记录功率分多个阶段变化一边记录测试数据，播放所记录的测试数据而测量其β值以及跳动。然后，求出跳动最小的β值。

执行OPC之后，计算出在内周部预先设定的目标β值和在S101中求出的β值(跳动最小的β值)的差分Δβin(S102)。目标β值可以读入预先记录在光盘上的值，或者也可以从存储在光盘装置中的每个厂家的表中检索。具体而言，系统控制器的存储器中预先存储有规定每个厂家的目标β值的表，读取应当记录数据的光盘的厂家，从表中获得与所读取的厂家对应的目标β值。

接着，使光拾取器搜索至光盘的外周部，在外周部执行OPC(步骤S103)。即，与内周侧相同地一边使记录功率分多个阶段变化一边记录测试数据，播放所记录的测试数据而测量其β值以及跳动。然后，求出跳动最小的β值。

在执行OPC之后，计算出在外周部预先设定的目标β值和在S103中求出的β值(跳动最小的β值)的差分Δβout(S104)。

计算出的Δβin、Δβout为测量β值的误差，使用这些进行测量β值的校正。具体而言，使用Δβin、Δβout，通过线性插补来计算任意半径位置、任意速度或任意温度下的校正值Δβnow(S105)。

如果将内周部的半径位置设为Rin、将外周部中的半径位置设为Rout、将任意的半径位置设为Rnow，则任意半径位置下的校正值Δβnow通过下式(1)计算。

Δβnow＝Δβin+(Rnow-Rin)(Δβout-Δβin)/(Rout-Rin)...(1)

如果将内周部的速度设为Vin、将外周部的速度设为Vout、将任意的速度设为Vnow，则任意速度下的校正值Δβnow通过下式(2)计算。

Δβnow＝Δβin+(Vnow-Vin)(Δβout-Δβin)/(Vout-Vin)...(2)

如果将内周部中的OPC时的温度设为Tin、将外周部中的OPC时的温度设为Tout、将任意的温度设为Tnow，则任意温度下的校正值Δβnow通过下式(3)计算。

Δβnow＝Δβin+(Tnow-Tin)(Δβout-Δβin)/(Tout-Tin)...(3)

如上计算出校正值Δβnow之后，校正实际测量了β值的半径位置、速度、温度下的测量β值(S106)。即，在某半径位置上执行回顾OPC的情况下，通过对在该位置上测量得到的β值加上在式(1)中计算的校正值Δβnow来校正测量β值。然后，比较校正的β值和目标β值，而调节成得到目标β值的记录功率。另外，在某速度下执行回顾OPC的情况下，通过对在该速度下测量得到的β值加上在式(2)中计算的校正值Δβnow来校正测量β值。然后，比较校正的β值和目标β值，调节成得到目标β值的记录功率。再有，在某温度下执行回顾OPC的情况下，通过对在该温度下测量得到的β值加上在式(3)中计算的校正值Δβnow来校正测量β值。然后，比较校正的β值和目标β值，调节成得到目标β值的记录功率。

下面，以在各个区(zone)中速度一定的光盘记录数据的情况为例，具体说明本实施方式的处理。

假设光盘上的各区域自内周部朝向外周部被分为2倍速(2×)、4倍速(4×)、6倍速(6×)、8倍速(6×)，系统控制器32的存储器中存储有各区域的目标β值。当然，可以从光盘读取该目标β值而存储到存储器中，也可以从光盘读取厂家、光盘种类并从表中检索对应的目标β值来获得。

首先，系统控制器32在内周部的测试区域(OPC区域)中以2倍速执行OPC，测量β值以及跳动，求出跳动最小的β值。然后，计算出2倍速下的目标β值和跳动最小的β值之间的差分而作为Δβin。

接着，在外周部的测试区域中以8倍速执行OPC，测量β值以及跳动，求出跳动最小的β值。然后，计算出8倍速下的目标β值和跳动最小的β值之间的差分而作为Δβout。

如上所述计算出Δβin以及Δβout之后，使用式(1)、(2)、(3)中的任一个计算出校正值Δβnow。

如果计算出校正值Δβnow，则使用该校正值Δβnow校正测量β值，与目标β值比较而调节记录功率。例如，在6倍速区域中调节记录功率的情况下，使用式(2)计算出6倍速区域中的校正值Δβnow。然后，测量在6倍速的区域中记录的数据的β值后，将校正值Δβnow加到该测量β值而进行校正，并将校正后的β值与目标β值比较。在校正后的β值小于目标β值的情况下，进行增大记录功率的调节，在校正后的β值大于目标β值的情况下，进行减小记录功率的调节。

应当注意的是：在本实施方式中，不是校正目标β值，而是维持预先设定的目标β值，校正测量得到的β值，并比较校正后的测量β值和目标β值，来调节记录功率。即，本实施方式的基本技术思想如下：不是将预先设定的目标β值抛开而另行将执行OPC而跳动或出错率最小的β值用作新的目标β值，而是仍然使用预先设定的目标β值作为控制目标，在执行OPC而跳动或出错率最小的β值背离目标β值的情况下，认为因测量得到的β值中含有误差而产生背离，使用该差分值校正测量β值。在本实施方式中，目标β值直接作为控制目标来使用，因此能够有效地利用目标β值。

另外，在本实施方式中，生产线上的β值的调节是大多在常温下进行，在实际使用时为高温或低温的情况下，虽然有可能因与调节时的温度的差而产生β值的偏移，但在本实施方式中即使存在温度的差异也能够考虑该差异而计算出校正值，因此能够高精度地调节记录功率。

以上，说明了本发明的实施方式，但本发明不限定于此，可以进行多种变更。

例如，在本实施方式中，计算跳动最小的β值和目标β值的差分，但也可以计算出错率最小的β值和目标β值的差分。

此外，在本实施方式中，根据式(1)、(2)、(3)的任一个来计算校正值Δβnow，但也可以使用任两个公式或全部的公式来计算Δβnow，并在一定基准下选择使用算出的任一个Δβnow。

另外，在本实施方式中，在内周部的OPC区域和外周部的OPC区域中执行OPC而计算出Δβin以及Δβout，但不一定限定于内周部和外周部，只要是在光盘的任意两个位置上计算出跳动或出错率最小的β值和目标β值的差分即可。对任意两个位置所要求的条件是，在此位置能够测量β值以及跳动或出错率，在此位置预先设定有目标β值。但是，任意两个位置以外的位置上的校正值Δβnow是根据任意两个位置中的Δβ通过插补来计算的，因此，任意两个位置与位于附近相比，优选相互离开。

另外，在本实施方式中计算出的校正值Δβnow可以利用于在任意位置上为了确认记录品质而进行的β值的测量。其一例是回顾OPC，在数据记录中途中断记录，播放之前的已记录部分而计算β值，根据与目标β值的偏移量校正在接着追加记录时的记录功率。

再有，在本实施方式中，使用差分Δβin和Δβout来计算出校正值Δβnow，但也可以使用对差分Δβin以及差分Δβout分别乘上小于1的系数来计算出校正值Δβnow。具体而言，将系数设为α(α＜1)，通过下式(4)、(5)、(6)中的任一个而可以计算出校正值Δβnow。

Δβnow＝α·Δβin+(Rnow-Rin)(α·Δβout-α·Δβin)/(Rout-Rin)...(4)

Δβnow＝α·Δβin+(Vnow-Vin)(α·Δβout-α·Δβin)/(Vout-Vin)...(5)

Δβnow＝α·Δβin+(Tnow-Tin)(α·Δβout-α·Δβin)/(Tout-Tin)...(6)

以上对差分Δβin和Δβout乘上相同的系数α，但也可以对Δβin乘上系数α，对Δβout乘上与α不同的系数γ(γ＜1)。

Claims (6)

1.一种光盘装置，根据测量的β值和目标β值调节记录功率，其特征在于，具备：

在光盘的第一位置上通过执行最优功率控制求出跳动最小的β值，并计算与在上述第一位置预先设定的目标β值的第一差分的单元；

在不同于上述第一位置的第二位置上通过执行最优功率控制求出跳动最小的β值，并计算与在上述第二位置预先设定的目标β值的第二差分的单元；

使用上述第一差分和上述第二差分来计算校正值的校正值计算单元；

根据上述校正值校正所测量的β值的单元；以及

根据对被校正了的β值和目标β值进行比较的结果调节记录功率的单元，

在将RC耦合的播放RF信号的峰值电平设为A，将谷值电平设为B时，上述β值由β＝(A-B)/(A+B)来定义。

2.一种光盘装置，根据测量的β值和目标β值调节记录功率，其特征在于，具备：

在光盘的第一位置上通过执行最优功率控制求出出错率最小的β值，并计算与在上述第一位置预先设定的目标β值的第一差分的单元；

在不同于上述第一位置的第二位置上通过执行最优功率控制求出出错率最小的β值，并计算与在上述第二位置预先设定的目标β值的第二差分的单元；

使用上述第一差分和上述第二差分来计算校正值的校正值计算单元；

根据上述校正值校正所测量的β值的单元；以及

根据对被校正了的β值和目标β值进行比较的结果调节记录功率的单元，

在将RC耦合的播放RF信号的峰值电平设为A，将谷值电平设为B时，上述β值由β＝(A-B)/(A+B)来定义。

3.根据权利要求1或2所述的光盘装置，其特征在于，

上述第一位置是光盘的内周部，上述第二位置是光盘的外周部。

4.根据权利要求1或2所述的光盘装置，其特征在于，

上述校正值计算单元通过使用了上述第一差分和上述第二差分的线性插补，来计算任意位置上的校正值。

5.根据权利要求1或2中所述的光盘装置，其特征在于，

上述校正值计算单元通过使用了上述第一差分和上述第二差分的线性插补，来计算任意速度下的校正值。

6.根据权利要求1或2所述的光盘装置，其特征在于，

上述校正值计算单元通过使用了上述第一差分和上述第二差分的线性插补，来计算任意温度下的校正值。