CN102679922A - 利用坐标测量机进行曲线点坐标测量的方法 - Google Patents

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王道垣
胡建栋
费明辉
王旭辉
童云飞
李家乐
杨晓伟
章晓明
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Abstract

本发明涉及一种利用坐标测量机进行曲线点实际坐标测量的方法，在被测点周围的微区域内打四个点拟合一微平面以确定测量点的方向，该曲线点所在截面为z,在曲线上固定x坐标或y坐标，测量另一坐标；将测得的坐标值与理论坐标值比较,通过逐次逼近的方法获得曲线点的实际坐标。

Description

利用坐标测量机进行曲线点坐标测量的方法
技术领域
本发明涉及一种利用坐标测量机进行曲线点实际坐标测量的方法。 
背景技术
现有技术中，有以下方法可以检测曲线点的坐标测量：
 1．通过影像的方式来测量，但只能解决工件表面曲线点的坐标测量；
 2．通过带扫描功能的坐标测量机来检测，非规则曲线上被测点的方向余弦无法精确确定，造成测量时只能精确得到测头中心点的坐标值，测量是通过扫描测量得到测头中心坐标的拟合曲线，然后根据测头半径的大小将该曲线向内或向外扩展得到被测曲线，所以得不到需要的坐标值。即使通过相关的处理软件来获取该扫描曲线上的坐标值，它也不是实际曲线的实际坐标值，因为该曲线是拟合曲线，对非规则曲线来说，误差比较大；
3．类似海克斯康三坐标的PCDIMS软件的曲面点测量功能完成测量点方向余弦的确定，但不能实现方向余弦的微调及确定点的实际坐标测量。 
发明内容
本发明目的在于提供一种利用坐标测量机进行曲线点坐标测量的方法，能够快速地实现曲线点实际坐标的高精度测量。
实现本发明目的的技术方案：
利用坐标测量机进行曲线点实际坐标测量的方法，在被测点周围的微区域内打四个点拟合一微平面以确定测量点的方向，该曲线点所在截面为z,在曲线上固定x坐标或y坐标，测量另一坐标；将测得的坐标值与理论坐标值比较,通过逐次逼近的方法获得曲线点的实际坐标。
根据对y向变化率和x向变化率的比较，确定固定坐标。
逐次逼近法采用半步法。
逐次逼近法的判定公差根据坐标测量机的定位精度确定。 
本发明具有的有益效果：
本发明在逐次逼近的过程中不断微调测量点的方向余弦，有效解决方向余弦的精确确定并对测量点进行定坐标测量,重复测量精度不大于2μm，测量精度不大于3μm。本发明能够在叶片测量、增压器涡轮壳、中间壳的型腔测量及一些型线综合样板的检测等方面得到广泛的应用，由于能精确测量型线上的实际坐标值，更能便于加工程序的调整和模具的修正。
附图说明
附图为本发明的流程框图。
具体实施方式
在被测点周围的微区域内(实施时，可以为0.1mm)打四个点拟合一微平面，该平面的法向为测量点的测量方向，该曲线点所在截面的坐标为z,在曲线上固定x坐标或y坐标，测量另一坐标；将测得的坐标值与理论坐标值比较，通过逐次逼近的方法使两者的差值落到公差T范围内，最终获得曲线点的坐标。逐次逼近法采用半步法，公差T根据坐标测量机的定位精度及零件情况确定。
对前后两次的测量坐标作比较，根据对y向变化率和x向变化率的比较确定固定坐标，即如果ΔX＞ΔY，则应固定X坐标，反之固定Y坐标。

Claims (4)

1.利用坐标测量机进行曲线点实际坐标测量的方法，在被测点周围的微区域内打四个点拟合一微平面以确定测量点的方向，该曲线点所在截面为z,在曲线上固定x坐标或y坐标，测量另一坐标；将测得的坐标值与理论坐标值比较,通过逐次逼近的方法获得曲线点的实际坐标。
2.根据权利要求1所述的利用坐标测量机进行曲线点坐标测量的方法，其特征在于：根据对y向变化率和x向变化率的比较，确定固定坐标。
3.根据权利要求2所述的利用坐标测量机进行曲线点坐标测量的方法，其特征在于：逐次逼近法采用半步法。
4.根据权利要求3所述的利用坐标测量机进行曲线点坐标测量的方法，其特征在于：逐次逼近法的判定公差可根据坐标测量机的定位精度确定。
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