CN104880156A - 一种利用cad技术测量大r值的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种利用CAD技术测量大R值的方法,特别是当R值较大时。应用投影仪的直线测量功能对被测要素R轮廓线上取点坐标,应用CAD的制图和标注工具进行绘图测量;投影仪可以精确的测量直线距离,根据三点定圆的数学原理,具有数学模型理论基础的科学性;CAD技术的快捷、准确性,在检测领域得到了应用。通用检测设备光学投影仪与CAD技术完美结合在检测领域的应用,取代价格昂贵的专用设备。因此本发明的测量方法准确率高、操作性强、方便快捷,可以取代价格昂贵的专用设备。
Description
技术领域
本发明涉及一种利用CAD技术测量大R值的方法,特别是当R值大于50mm以上的测量。
背景技术
在机械零件生产、加工过程中,经常需要对较大的圆弧半径R值进行测量。
目前圆弧半径R值测量方法有光学投影仪检测法、R规样板法、R规样板、厚薄规法和专用高精度仪器检测法。
在投影仪上进行投影检测实际上是样板对比法进行检测,不能准确的测量出精确R值尺寸精度。且受到仪器量程限制无法测出较大R的尺寸值。如图1所示,传统的R规透光检测也只能近似的估测且人为误差加大,即使用R规配合厚薄规检测也因测量工具的因素也存在较大的测量误差;而且R值较大时需定制专用R规,如图2所示。专用高精度仪器上进行较大圆弧半径R值测量可以准确的检测出R值的尺寸精度但检测周期长。制约了生产进度的顺利进行。
在实际生产加工过程中遇到此类较大圆弧半径R值测量时需要在专用高精度仪器上进行测量。 随着机械产品趋向多元化发展,需进行较大圆弧半径R值测量的产品越来越多,特别是某些产品对圆弧半径R值的要求较高必须进行精密测量,目前能够进行较大圆弧半径R值测量的专用高精度仪器价格昂贵,在产品检测时经常需要委外检测且需要排队等候,严重制约了生产进度的顺利进行,如果引进新的计量仪器每台成本需百万元以上,此仪器主要是对仪器仪表进行计量,频繁用于对产品进行检测会影响检测进度,而且单次计量的成本较高。该发明将通用检测设备与CAD技术完美结合,取代价格昂贵的专用设备,前景极佳具有推广价值。
发明内容
本发明的目的是提供一种利用投影仪和计算机软件CAD技术测量大R值的方法,达到准确率高、操作性强、使用方便的效果,从而取代价格昂贵的专用设备。
为达到上述目的采用的技术方案是:
一种利用CAD技术测量大R值的方法,分为如下步骤:
A、首先利用定位夹具固定待测工件,确定测量的基准面和基准点;
B、利用投影仪测量被测要素R轮廓线上的点与基准点的距离坐标,至少五点;
C、根据测得的点的坐标利用制图软件AutoCAD绘圆,再将所绘圆的半径R标注出来;
D、根据所有所绘圆的半径R计算被测要素R值。
所述定位夹具为V型定位夹具,所述基准面是过V型定位夹具的V型工作面交线的面。
所述利用投影仪测量被测要素R轮廓线上的点与基准点的距离坐标,该坐标系平面与基准面垂直。
所述测量过程中被测工件和定位夹具需要保持固定,不能发生位移。
所述根据测得的点的坐标利用制图软件AutoCAD绘圆,其方法为:利用相对收敛的三个点绘制一个平均值圆,再以平均值圆的圆心为圆心过最近、最远点绘圆,得到最小圆和最大圆;所述平均值圆的R值为被测要素R的测量值,最小圆和最大圆的R值为被测要素R的局部最大值和局部最小值。
采用上述技术方案的有益效果是:这种利用CAD技术测量大R值的方法,应用投影仪的直线测量功能对R轮廓线上取点坐标,应用CAD的制图和标注工具进行测量。首先投影仪可以精确的测量直线距离尺寸,这给测量多点坐标提供了可能,其次根据三点定圆的数学原理,只要确定圆周上的三个点就可以计算出该圆的半径尺寸,具有数学模型在检测领域的应用的优点。现代计算机CAD技术只要有三个点就可以快速测出该圆的半径,CAD技术在检测领域也得到了应用。通用检测设备光学投影仪与CAD技术完美结合在检测领域的应用,取代价格昂贵的专用设备。因此本发明为新型CAD技术在测量领域的应用,测量准确率高、可操作性强、方便快捷,取代价格昂贵的专用设备。
附图说明
图1是投影仪检测法的示意图。
图2是R规检测法示意图。
图3是V型定位夹具的结构示意图。
图4是被测产品与V型定位夹具的定位示意图。
图5是坐标取点示意图。
图6是利用CAD技术的测量的示意图。
图中:1-被测产品,2-V型定位夹具,3-被测要素R,4-基准点,5-V型工作面,6-基准面,7-被测要素R轮廓线,8-测量点,9-最小圆,10-最大圆,11-平均值圆。
具体实施方式
下面将结合具体实施例或附图进一步阐述本发明,但并不能理解为对本发明保护范围的限制;在本发明权利要求范围内的任何改进方案,均应视为本发明的保护范围。
如图1和2所示,为现有的R规透光检测,和使用R规配合厚薄规的检测,上弧线为工件实际轮廓,下弧线为测量的轮廓,由于测量工具及方法的因素存在较大的测量误差。
一种利用CAD技术测量大R值的方法,所述的理论依据为: 首先投影仪可以精确的测量直线距离尺寸,这给测量多点坐标提供了可能,其次根据三点定圆的数学原理,只要确定圆周上的三个点就可以计算出该圆的半径尺寸,现代计算机CAD技术只要有三个点就可以快速测出该圆的半径尺寸。其具体分为如下步骤:
A、首先利用定位夹具固定待测工件,确定测量的基准面和基准点。将待测工件用V型定位夹具平稳的固定在投影仪工作台面上,测量过程中不允许有位移。V型定位夹具如图3所示,基准面是过V型定位夹具2的V型工作面5交线的面。利用定位夹具固定好后,基准面的垂直面即为坐标系平面,其V型工作面5和基准面6在坐标系平面上看都是一条直线,一般以支撑面与螺纹中心轴线的交点为基准点,即坐标系原点“0、0”。如图4所示。
B、利用投影仪测量被测要素R轮廓线上的点与基准点的距离坐标,至少五点。如图5所示。
C、根据测得的点的坐标利用制图软件AutoCAD绘圆,再将所绘圆的半径R标注出来。将测量的点坐标输入计算机AutoCAD软件中,修改标注样式“工具—选择公差方式—极限尺寸—精度—0.00,精度等级为0.001mm”。
D、根据所有所绘圆的半径R计算被测要素R值。其方法为:利用相对收敛的三个点绘制一个平均值圆11,再以平均值圆圆心为圆心过最近、最远点绘圆,得到最小圆9和最大圆10;所述平均值圆11的R值为被测要素R的测量值,最小圆和最大圆的R值为被测要素R的局部最大值和局部最小值。如图6所示。
应用投影仪的直线测量功能对R轮廓线上取点坐标,应用CAD的制图模块的制图工具进行制图,利用CAD的制图模块的标注工具进行测量。
首先投影仪可以精确的测量直线距离尺寸,这给测量多点坐标提供了可能,其次根据三点定圆的数学原理,只要确定圆周上的三个点就可以计算出该圆的半径尺寸,数学模型在检测领域的应用。
现代计算机CAD技术只要有三个点就可以快速测出该圆的半径,CAD技术在检测领域的应用。
通用检测设备光学投影仪与CAD技术完美结合在检测领域的应用,取代价格昂贵的专用设备。
因此本发明为新型CAD技术在测量领域的又一重大应用。本发明由于采取了以上技术方案,测量准确率高、可操作性强、方便快捷,取代价格昂贵的专用设备。
Claims (5)
1. 一种利用CAD技术测量大R值的方法,其特征是:分为如下步骤:
A、首先利用定位夹具固定待测工件,确定测量的基准面和基准点;
B、利用投影仪测量被测要素R轮廓线上的点与基准点的距离坐标,至少五点;
C、根据测得的点的坐标利用制图软件AutoCAD绘圆,再将所绘圆的半径R标注出来;
D、根据所有所绘圆的半径R计算被测要素R值。
2.根据权利要求1所述的利用CAD技术测量大R值的方法,其特征是:所述定位夹具为V型定位夹具(2),所述基准面是过V型定位夹具(2)的V型工作面(5)交线的面。
3.根据权利要求1所述的利用CAD技术测量大R值的方法,其特征是:所述利用投影仪测量被测要素R轮廓线上的点与基准点的距离坐标,该坐标系平面与基准面垂直。
4.根据权利要求1所述的利用CAD技术测量大R值的方法,其特征是:所述测量过程中被测工件和定位夹具需要保持固定,不能发生位移。
5.根据权利要求1所述的利用CAD技术测量大R值的方法,其特征是:所述根据测得的点的坐标利用制图软件AutoCAD绘圆,其方法为:利用相对收敛的三个点绘制一个平均值圆(11),再以平均值圆圆心为圆心过最近、最远点绘圆,得到最小圆(9)和最大圆(10);所述平均值圆(11)的R值为被测要素R的测量值,最小圆(9)和最大圆(10)的R值为被测要素R的局部最大值和局部最小值。
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