CN102592642B - 光盘检查装置及光盘检查方法 - Google Patents

Abstract

一种光盘检查装置及光盘检查方法，识别光盘的复制保护和物理缺陷。根据光盘10的数据重放时的重放错误，判断有无缺陷，系统控制器32在双层光盘的L0中发生重放错误时，检测在同一半径位置的L1中是否也发生重放错误。当在L1中未发生重放错误时，判断为是复制保护引起的，在L1中也发生重放错误时，判断为是物理缺陷。

Description

光盘检查装置及光盘检查方法

技术领域

本发明涉及一种光盘检查装置及光盘检查方法，尤其涉及一种光盘的复制保护和缺陷的识别技术。

背景技术

一直以来，测定重放数据的错误数、错误率并进行光盘检查的光盘检查装置为世人所知。

下述专利文献1公开了一种光盘检查装置，其具有：进给单元，使激光的照射位置与光盘在光盘的半径方向上相对移动；缺陷位置检测单元，检测光盘的记录面中的缺陷处的位置；检查半径位置设定单元，根据通过缺陷位置检测单元检测出的缺陷位置的半径，设定测定重放数据中的错误数或错误率时的半径位置。

专利文献1：日本特开2008-165846号公报

但近年来，为了防止光盘的非法复制，市场上提供了一种进行了所谓“复制保护”的光盘。复制保护例如如日本专利第3449804号所公开的那样，部分切换记录数据串的逻辑水平，产生通过错误校正编码可校正错误的位错误，记录用户数据以外的数据，以通过比较执行错误校正编码下的错误校正处理并重放用户数据所获得的重放数据、与不执行错误校正编码下的错误校正处理并重放用户数据所获得的重放数据来进行检测。

用检查装置检查这种实施了复制保护的光盘时，在复制保护部分也会发生重放数据的错误，因此在通过重放数据的错误数或错误率来判断有无缺陷的检查装置中，即使本来不存在应检测出的伤痕、污染等物理缺陷，也会误判为有缺陷的光盘。

尤其是，记录了电影等内容的DVD等光盘在进入到租赁店时，会通过检查装置检查光盘有无缺陷，如果没有缺陷但被误判为有缺陷时，会影响到检查装置的可靠性。

发明内容

本发明的目的在于提供一种即使是实施了复制保护的光盘也可切实地识别复制保护和缺陷而检查光盘的装置及方法。

本发明是一种光盘检查装置，其特征在于，上述光盘是至少具有第1层及第2层的多层光盘，上述光盘检查装置具有：第1重放单元，重放上述第1层的数据；第1检测单元，在重放上述第1层的数据时，检测产生了重放错误或错误率的恶化；第2重放单元，当产生了上述重放错误或错误率的恶化时，重放同一半径位置的第2层的数据；第2检测单元，在重放上述第2层的数据时，检测产生了重放错误或错误率的恶化；以及判断单元，通过上述第2检测单元检测出重放错误或错误率的恶化时，判断为上述光盘中存在物理缺陷，通过上述第2检测单元没有检测出重放错误或错误率的恶化时，判断为上述光盘中没有物理缺陷。

并且，本发明是一种光盘检查装置，其特征在于，上述光盘是至少具有第1层及第2层的多层光盘，上述光盘检查装置具有：第1重放单元，重放上述第1层的数据；第1检测单元，在重放上述第1层的数据时，检测产生了重放错误或错误率的恶化；存储单元，当产生了上述重放错误或错误率的恶化时，存储其位置；第2重放单元，上述第1层的数据重放完成后，重放上述存储单元中存储的位置所对应的上述第2层的数据；第2检测单元，在重放上述第2层的数据时，检测产生了重放错误或错误率的恶化；以及判断单元，通过上述第2检测单元检测出重放错误或错误率的恶化时，判断为上述光盘上存在物理缺陷，通过上述第2检测单元没有检测出重放错误或错误率的恶化时，判断为上述光盘中没有物理缺陷。

并且，本发明是一种光盘检查方法，其特征在于，上述光盘是至少具有第1层及第2层的多层光盘，上述光盘检查方法具有以下步骤：第1检测步骤，在上述第1层或上述第2层的任意一层中重放数据，检测是否产生重放错误或错误率的恶化；第2检测步骤，检测在上述第1层或上述第2层的任意另一层的同一半径位置是否产生重放错误或错误率的恶化；以及判断步骤，通过上述第2检测步骤检测出产生了重放错误或错误率的恶化时，判断为上述光盘中存在物理缺陷，在没有产生重放错误或错误率的恶化时，判断为没有物理缺陷。

根据本发明，能够切实地识别光盘的复制保护和缺陷而检查光盘。

附图说明

图1是实施方式的整体构成图。

图2是双层光盘的扇区构成图。

图3是检查处理的流程图。

图4是检查处理的其他流程图(之1)。

图5是检查处理的其他流程图(之2)。

图6是检查处理的其他流程图。

具体实施方式

以下参照附图说明本发明的实施方式。

图1表示本实施方式中的光盘检查装置的整体构成。检查对象的光盘10由主轴电机(SPM)12驱动。SPM12通过驱动器14驱动，驱动器14通过伺服处理器30被伺服控制，以达到所需的旋转速度。

光头16包括用于将激光照射到光盘10的激光二极管(LD)、接收来自光盘10的反射光并转换为电信号的光探测器(PD)，与光盘10相对配置。光头16通过由步进电机构成的移动电机18在光盘10的半径方向上被驱动，移动电机18通过驱动器20被驱动。驱动器20和驱动器14一样，通过伺服处理器30被伺服控制。并且，光头16的LD通过驱动器22驱动，驱动器22通过自动功率控制电路(APC)24被控制为驱动电流达到所需的值。

APC24及驱动器22根据来自系统控制器32的命令控制LD的发光量。在附图中，驱动器22独立于光头16设置，但也可将驱动器22配置在光头16上。

在检查光盘10的缺陷时，从光头16的LD照射重放功率的激光，其反射光通过PD转换为电信号并被输出。来自光头16的重放信号提供到RF电路26。

RF电路26由重放信号生成聚焦错误信号、轨迹错误信号，提供到伺服处理器30。并且，RF电路26将重放信号中含有的地址信号提供到地址解码电路28，将重放RF信号提供到2值化电路34。

伺服处理器30根据这些错误信号伺服控制光头16，将光头16维持在实焦(On)状态及正轨(On track)状态。地址解码电路28从地址信号解调光盘10的地址数据，提供到伺服处理器30及系统控制器32。

2值化电路34将重放信号2值化，将获得的信号提供到解码电路36。解码电路36中，将2值化信号解调并校正错误，获得重放数据，将该重放数据暂时存储在缓存38中。缓存38中存储的重放数据适当地被读出，提供到系统控制器32。并且，解码电路36将错误数或错误率输出到系统控制器32。

系统控制器32控制系统整体的动作，通过伺服处理器30驱动移动电机18，控制光头16的位置。并且，系统控制器32根据从解码电路36提供的错误数或错误率，判断光盘10有无缺陷，将判断结果输出到外部的显示器。但如上所述，光盘是实施了复制保护的光盘时，在复制保护部分也产生重放错误或错误率的恶化，因此这样会无法识别是复制保护造成的重放错误或错误率的恶化，还是本来应检测出的物理缺陷造成的重放错误或错误率的恶化。

因此，在本实施方式中，着眼于当光盘10是双层或其他多层光盘时，复制保护造成的重放错误或错误率的恶化仅在特定的层中发生，而当是物理性缺陷时，不仅在特定的层、而且在其他层(所有的层)中均发生这一事实，利用这一情况来识别复制保护造成的重放错误或错误率的恶化、及物理缺陷造成的重放错误或错误率的恶化。

图2中，作为多层光盘的一例，表示双层光盘的物理及逻辑层的构成。图2(a)表示分层0层(L0)和分层1层(L1)的扇区顺序为同一方向(从内周向外周)的光盘(PTP：Parallel Track Path Disc/顺光道路径盘)，图2(b)表示分层0层(L0)和分层1层(L1)的扇区顺序彼此相反(分层0层从内周向外周，分层1层从外周向内周)的光盘(OTP：Opposite Track Path Disc/逆光道路径盘)。

在任意光盘中，各层均在一个盘面上重叠配置，因此光盘检查装置仅重放分层0层(L0)并测定重放错误，判断有无物理缺陷。在实施了复制保护的光盘中，通常在分层0层(L0)中埋入不能重放的数据的扇区，因此重放该扇区时，产生重放错误或错误率的恶化，误判为物理缺陷。

但因分层1层(L1)中不存在复制保护，所以即使在分层0层中发生重放错误，在该扇区对应的分层1层(L1)的扇区中，也不发生重放错误或错误率的恶化，可不产生问题地重放。另一方面，当存在物理缺陷时，在分层0层中产生重放错误或错误率的恶化，并且在该扇区对应的分层1层的扇区中也同样产生重放错误或错误率的恶化。

因此，本实施方式的系统控制器32在分层0层的重放中产生重放错误或错误率的恶化时，跳转到分层1层，尝试重放产生了重放错误或重放率的恶化的扇区所对应的分层1层的扇区，如可不产生问题地重放，则认为分层0层的重放错误是复制保护引起的，不视作物理缺陷。另一方面，在分层1层中如果产生重放错误或错误率的恶化，则判断分层0层的重放错误或错误率的恶化确实是由物理缺陷造成的。

因此，在本实施方式中，利用多层光盘的特性，仅在分层0层中产生重放错误或错误率的恶化时，不认作物理缺陷，判断是无物理缺陷的正常光盘，因此可有效防止实施了复制保护的光盘被误判为有物理缺陷的光盘。此外，是否发生错误率的恶化可通过将错误率与预定阈值进行大小比较来判断，错误率超过预定阈值而增大时，判断为产生了错误率的恶化。

图3表示本实施方式中的检查处理的流程图。首先从内周侧开始检查(check)分层0层(L0：Layer 0)(S101)。

接着，系统控制器32根据来自解码电路36的信号，判断是否产生重放错误，或错误率是否超过允许值而恶化(S102)。

产生重放错误时(包括错误数超过预定值的情况)，或错误率恶化时，系统控制器32驱动光头16，将激光的照射位置从分层0层向分层1层移动，重放同一半径位置的分层1层(L1：Layer 1)(S103)。并且，判断在分层1层中是否也产生了重放错误，或错误率是否恶化(S104)。

在分层1层中也和分层0层一样产生重放错误时，或错误率恶化时，系统控制器32判断为检查对象的光盘10存在缺陷(Defect)(S105)。当判断为有缺陷时，检查在该时刻下结束。

另一方面，在分层1层中未产生重放错误时，系统控制器32认为分层0层中的重放错误不是物理缺陷，而是复制保护造成的，认为没有物理缺陷，并再次驱动光头16，将激光的照射位置从分层1层移动到分层0层。并且，判断分层0层的整周检查是否结束(S106)，当整周检查未结束时，重新开始分层0层的重放及检查(S107)，直到整周检查结束为止，反复进行S102之后的处理。整周检查结束时，认为检查对象的光盘10中没有物理缺陷，正常结束(S108)。

在本实施方式中，分层0层重放时产生重放错误时，在该时刻下向分层1层移动并重放分层1层，但也可是：分层0层重放时即使产生重放错误，也存储该产生了重放错误的半径位置并仍然进行分层0层的整周检查，之后进行分层1层的对应的半径位置的重放。图4及图5表示这种情况下的检查处理的流程图。首先从内周一侧开始分层0层(L0)的检查(S201)。

接着，系统控制器32根据来自解码电路36的信号，判断是否产生重放错误，或错误率是否超过允许值而恶化(S202)。

产生重放错误时(包括错误数超过预定值的情况)，或错误率恶化时，系统控制器32将该位置的地址保存到存储器中(S203)。并且，判断分层0层的整周检查是否结束(S204)，当整周检查未结束时，重新开始分层0层的重放及检查(S210)，直到整周检查结束，重放S202之后的处理。

分层0层的整周检查结束后，判断分层0层是否存在重放错误(S205)。产生重放错误时，其地址保存在存储器中，因此当存储器中未保存地址时，认定为分层0层中未产生重放错误，正常结束检查(S212)。即，判断为检查对象的光盘10是没有缺陷的正常光盘。分层0层中产生重放错误时，转换到图5的处理。

在图5中，系统控制器32使用存储器中保存的地址，计算和分层0层同一半径的分层1层的地址，驱动光头16，将激光的照射位置从分层0层移动到分层1层，重新开始重放(S206)。并且，判断在分层1层中是否也发生了重放错误，或错误率恶化(S207)。在分层1层中也和分层0层一样产生重放错误时，或错误率恶化时，判断为检查对象的光盘10中存在缺陷，结束检查处理(S209)。在分层1层中未发生重放错误时，确认存储器中是否保存有其他地址(S208)，当保存有其他地址时，取得分层0层的错误检测地址(S211)，重复同样的处理。S206～S211的处理直到对存储器中保存的所有地址结束检查为止反复进行。对于所有地址，在分层1层中未产生重放错误时，认定为分层0层的重放错误是复制保护造成的，而不是物理缺陷，认定无物理缺陷，正常结束流程。

如上所述，在本实施方式中，即使在分层0层中产生重放错误，但分层1层的对应位置中未产生重放错误时，判断不是物理缺陷，从而可切实地识别复制保护和物理缺陷。

此外，如上所述，复制保护大多仅埋入在分层0层中，因此也可考虑用检查装置从分层1层开始检查。

图6表示此时的检查处理的流程图。首先，系统控制器32判断检查对象的光盘10是PTP或OTP中的哪一种(S301)。当是OTP时，从分层1层(L1)的外周向内周排列扇区，因此从分层1层(L1)的外周开始检查(S302)，当是PTP时，从内周向外周排列扇区，因此从分层1层(L1)的内周开始检查(S303)。

依次更新检查的地址并进行检查(S304)，判断是否产生重放错误或错误率的恶化(S305)。当发生了重放错误或错误率恶化时，系统控制器32驱动光头16，将激光的照射位置从分层1层向分层0层移动，重放分层0层的同一半径位置(S306)，判断在分层0层中是否也产生重放错误，或错误率恶化(S307)。

分层1层及分层0层两者均产生重放错误或错误率恶化时，判断为检查对象的光盘10存在缺陷，结束检查(S308)。

另一方面，分层1层中未产生重放错误时，及分层1层中虽产生重放错误但在分层0层的同一半径位置上未产生重放错误时，不视作物理缺陷。对分层1层的整周反复执行以上处理(S309)。检查分层1层的整周的结果未产生重放错误，或即使产生重放错误但分层0层的同一半径位置上未产生重放错误时，判断为是没有物理缺陷的正常的光盘，结束检查。

以上说明了本发明的实施方式，但本发明不限于此，可进行各种变形。

例如，在图6的检查流程图中，在分层1层中产生重放错误时，向分层0层移动并判断是否产生重放错误，但也可和图4、图5时一样，分层1层的数据重放在整周结束后，重放分层0层的对应的半径位置的数据，并判断是否产生重放错误。

总之，假设双层光盘为第1层和第2层并从第1层开始检查时，第1层可以是分层0层(L0)，也可是分层1层(L1)。

并且，在本实施方式中，示例了双层光盘的情况，但在三层或三层以上的多层光盘中也可同样进行检查。例如三层光盘中，在分层0层中产生重放错误时，重放同一半径位置的分层1层或分层3层、或同一半径位置的分层1层及分层3层，如未产生重放错误，则可判断为是复制保护造成的，不是缺陷。

Claims (5)

1.一种光盘检查装置，其特征在于，

上述光盘是至少具有第1层及第2层的多层光盘，

上述光盘检查装置具有：

第1重放单元，重放上述第1层的数据；

第1检测单元，在重放上述第1层的数据时，检测产生了重放错误或错误率的恶化；

第2重放单元，当产生了上述重放错误或错误率的恶化时，重放同一半径位置的第2层的数据；

第2检测单元，在重放上述第2层的数据时，检测产生了重放错误或错误率的恶化；以及

判断单元，通过上述第2检测单元检测出重放错误或错误率的恶化时，判断为上述光盘中存在物理缺陷，通过上述第2检测单元没有检测出重放错误或错误率的恶化时，判断为通过上述第1检测单元检测出的重放错误或错误率的恶化是由复制保护引起的。

2.一种光盘检查装置，其特征在于，

上述光盘是至少具有第1层及第2层的多层光盘，

上述光盘检查装置具有：

第1重放单元，重放上述第1层的数据；

第1检测单元，在重放上述第1层的数据时，检测产生了重放错误或错误率的恶化；

存储单元，当产生了上述重放错误或错误率的恶化时，存储其位置；

第2重放单元，上述第1层的数据重放完成后，重放上述存储单元中存储的位置所对应的上述第2层的数据；

第2检测单元，在重放上述第2层的数据时，检测产生了重放错误或错误率的恶化；以及

判断单元，通过上述第2检测单元检测出重放错误或错误率的恶化时，判断为上述光盘中存在物理缺陷，通过上述第2检测单元没有检测出重放错误或错误率的恶化时，判断为通过上述第1检测单元检测出的重放错误或错误率的恶化是由复制保护引起的。

3.根据权利要求1或2所述的光盘检查装置，其特征在于，

上述第1层是分层0层即L0层，上述第2层是分层1层即L1层。

4.根据权利要求1或2所述的光盘检查装置，其特征在于，

上述第1层是分层1层即L1层，上述第2层是分层0层即L0层。

5.一种光盘检查方法，其特征在于，

上述光盘是至少具有第1层及第2层的多层光盘，

上述光盘检查方法具有以下步骤：

第1检测步骤，在上述第1层或上述第2层的任意一层中重放数据，检测是否产生重放错误或错误率的恶化；

第2检测步骤，检测在上述第1层或上述第2层的任意另一层中与上述第1检测步骤的检测位置的同一半径位置是否产生重放错误或错误率的恶化；以及

判断步骤，通过上述第2检测步骤检测出产生了重放错误或错误率的恶化时，判断为上述光盘中存在物理缺陷，在没有产生重放错误或错误率的恶化时，判断为通过上述第1检测步骤检测出的重放错误或错误率的恶化是由复制保护引起的。