CN102540055A - 一种检测逻辑电平极限值的方法及装置 - Google Patents

Abstract

发明实施例公开了一种检测逻辑电平极限值的方法及装置，包括：向基准IC和被测IC提供供电电压，向基准IC和被测IC分别提供基准驱动时序和被测驱动时序，判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，则调节所述被测驱动时序的高电平，并初始化基准驱动时序，开始下一轮检测；若判断结果为否，则记录所述被测驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值；本发明实施例还公开了一种检测逻辑电平极限值的装置。能实现自动化检测IC的逻辑电平极限值，且提高了检测IC的逻辑电平极限值的精确度。

Description

一种检测逻辑电平极限值的方法及装置

技术领域

本发明涉及电子领域，尤其涉及一种检测逻辑电平极限值的方法及装置。

背景技术

由于受集成电路（IC，Integrated Circuit）生产工艺的制约，在实际应用中IC各项参数都会存在一定的容差，因此，检测IC的各个参数是相当重要的。逻辑电平的高低会影响IC的工作状态，因此，检测IC的逻辑电平极限值极其重要，目前，检测IC的逻辑电平极限值的方法如下：

计算被测IC与被测IC的下级电路的等效内电阻，然后通过人工在被测IC的输入\输出（IO，In\Out）端口连接上拉电阻或者下拉电阻，达到逐步调高或调低逻辑电平，直到IC无法正常工作，以此得出被测IC的逻辑电平极限值。

现有技术中需要人工计算被测IC与被测IC的下级电路的等效内阻，人工拆除和焊接电阻，无法实现自动检测IC逻辑电平极限值，且在通电状态下，被测IC与被测IC的下级电路的等效电阻是不固定的，也就是说，通过在被测IC的IO端口连接上拉电阻或下拉电阻调高或调低逻辑电平，这种调节方法的精确度低，导致检测出的被测IC的逻辑电平极限值的精确度低。

发明内容

本发明实施例提供了一种检测逻辑电平极限值的方法及其装置，能实现自动化检测IC的逻辑电平极限值，且提高了检测IC的逻辑电平极限值的精确度。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供的一种检测逻辑电平极限值的方法，包括：

向基准IC和被测IC提供供电电压，所述基准IC和被IC的型号相同；

向基准IC和被测IC分别提供基准驱动时序和被测驱动时序，所述基准驱动时序和所述被测驱动时序的参数除高电平之外其余参数都相同；

判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，则调节所述被测驱动时序的高电平，并初始化所述基准驱动时序，返回执行所述向基准IC和被测IC提供供电电压的步骤；

若判断结果为否，则记录所述被测驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。

相应的，本发明实施例提供的一种检测逻辑电平极限值的装置，包括：

初级驱动单元，用于向基准IC提供供电电压和基准驱动时序；

次级驱动单元，用于向被测IC提供供电电压和被测驱动时序，所述基准驱动时序和所述被测驱动时序的参数除高电平之外其余参数都相同；

可调电压源单元，用于调节所述次级驱动单元提供的被测驱动时序的高电平；

主控单元，用于判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，则控制可调电压源单元调节所述次级驱动单元提供的被测驱动时序的高电平，控制所述初级驱动单元初始化初级驱动提供的基准驱动时序，并进行下一轮的检测；

若判断结果为否，则记录所述次级驱动单元提供的被测驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。

本发明实施例，向基准集成电路IC和被测IC提供供电电压，向基准IC和被测IC分别提供基准驱动时序和被测驱动时序，所述基准驱动时序和所述被测驱动时序的参数除高电平之外其余参数都相同，判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，则调节所述被测驱动时序的高电平，并初始化所述基准驱动时序，返回执行所述向基准IC和被测IC提供供电电压的步骤；若判断结果为否，则记录所述被测驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。能实现自动化检测IC的逻辑电平极限值，且提高了检测IC的逻辑电平极限值的精确度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例一种检测逻辑电平极限值的方法的流程示意图；

图2是本发明实施例一种检测逻辑电平极限值的方法另一实施例的流程示意图；

图3是本发明实施例一种检测逻辑电平极限值的方法另一实施例的流程示意图；

图4是本发明实施例一种检测逻辑电平极限值的装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1是本发明实施例提供的一种检测逻辑电平极限值的方法的流程示意图，如图1所示，该方法包括：

S101、向基准IC和被测IC提供供电电压。

需要说明的是，基准IC和被测IC的型号相同。

需要说明的是，步骤S101向基准IC和被测IC提供供电电压可以通过以下方法来实现：

读取预置的配置信息；

从配置信息中选取一个电压值，并向基准IC和被测IC提供电压值等于选取的电压值的供电电压。

这里所说的配置信息为预置的，该配置信息包含至少一个电压值，所述至少一个电压值在被测IC供电电压的安全范围内，如被测IC提供电压的安全范围是3-5V，这样配置信息可以包含3V、3.5V、4V、4.5V、5V中的至少一个字符信息，可以在向基准IC和被测IC提供的供电电压等于上述几个值中的一个值的情况下检测被测IC的逻辑电平极限值。还可以是，先检测向基准IC和被测IC提供的供电电压等于3V时的被测IC的逻辑电平极限值，然后检测向被测IC提供的供电电压等于3.5V时的被测IC的逻辑电平极限值，依此类推直到向被测IC提供的供电电压为被测IC的供电电压极限值。这种情况的实现方式可以是，当执行步骤S106记录被测驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值后，从读取的配置信息中选取另一个电压值，再循环执行步骤S101中向基准IC和被测IC提供电压值等于选取的电压值的供电电压，开始下一轮的检测。

S102、向基准IC和被测IC分别提供基准驱动时序和被测驱动时序。

可以理解的是，向基准IC和被测IC分别提供基准驱动时序和被测驱动时序，也就是给基准IC和被测IC提供一个激励信号，让基准IC和被测IC收到这个信号后会根据这个信号返回一个应答信号。

需要说明的是，基准驱动时序和被测驱动时序的参数除高电平之外其余参数都相同，检测过程中给基准IC和被测IC提供驱动时序的时序必需是相同的。如给基准IC和被测IC提供驱动时序的周期和占空比等除了高电平之外的所有参数是相同的，这样才可以保证在基准IC和被测IC在所能承受的逻辑电平范围内返回的应答信号是相同的。

需要说明的是，步骤S102向基准IC和被测IC分别提供基准驱动时序和被测驱动时序可以通过如下步骤来实现：

向基准IC提供基准驱动时序；

获取基准驱动时序；

调节获取的基准驱动时序的高电平，并将调节后的基准驱动时序作为被测驱动时序；

向被测IC提供被测驱动时序。

具体实现方法可以如下：

双电源总线收发器获取向被测IC提供被测驱动时序，双电源总线收发器调节获取到的基准驱动时序的高电平，再输出调节后的驱动时序作为被测驱动时序传输至被测IC。

通过以上方法就可以保证向基准IC和被测IC提供的基准驱动时序和被测驱动时序的参数除高电平之外其余参数都相同。

S103、判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，则执行步骤S104调节被测驱动时序的高电平，并初始化基准驱动时序；

若判断结果为否，则执行步骤105记录向被测IC提供的驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。

需要说明的是，判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同可以通过以下方式实现：

单片机（MCU，Micro Control Unit）或数字信号处理器（DSP，Digital Signal Processing）或微处理器（ARM，Advanced RISC Machines）来判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同；

需要说明的是，当基准IC和被测IC接收到驱动时序后，就会返回应答信号，返回的应答信号可以是逻辑电平信号或协议数据，具体根据检测的IC的不同而不同，如检测的IC是简单的集成电路，如逻辑与门集成电路，那么检测该IC时就会返回一个逻辑电平信号；如检测的IC是复杂的IC，如一些无线收发器、传感器或微控制器，那么检测该IC时就会返回一个协议数据。当然协议数据也可以是两线式串行（I2C，Inter－Integrated Circuit或）协议数据或外围串行接口（SPI，Serial Peripheral Interface）协议数据，如检测无线收发器就会返回SPI协议数据，如检测传感器就会返回I2C协议数据。

需要说明的是，基准IC和被测IC接收的驱动时序可以是多个周期的时序，这样基准IC和被测IC根据接收的驱动时序返回的应答信号也是多个周期的应答信号。在这种情况下，步骤S103可以是判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，继续执行步骤S103判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同的判断，直至所述IC和被测IC根据接收的驱动时序返回的应答信号传输结束，则执行步骤S104调节被测驱动时序的高电平，并初始化向基准驱动时序；

若判断结果为否，则执行步骤S105记录向被测IC提供的驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。

S104、调节被测驱动时序的高电平，并初始化基准驱动时序。

当基准IC和被测IC根据接收的驱动时序返回的应答信号是相同的，也就说，此时给被测IC提供的被测驱动时序的逻辑电平在被测IC的安全范围内，这时就要调节向被测IC提供的被测驱动时序的高电平，并初始化所述向基准IC提供的驱动时序，就执行步骤S101向基准IC和被测IC提供供电电压，开始下一轮的检测。

可以理解的是，初始化基准驱动时序，是为了调节向被测IC提供的供电电压后，重新开始检测。

需要说明的是，调节被测驱动时序的高电平可以通过如下方法实现：

通过调节由数字-模拟转换模块（DAC，Digital-to-Analog Converter）和集成运放组成的可调电压源、由脉冲宽度调制模块（PWM， Pulse Width Modulation）和场效晶体管（MOSFET，Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor）组成的可调电压源、由可调直流转直流电源（DC/DC，Direct Current/ Direct Current）和可编程电阻器可调电压源或由可调低压差线性稳压模块（LDO，Low Dropout Regulator）和可编程电位器组成的可调电压源的中一种或多种可调电压源的输出电压来实现被测驱动时序的高电平。被测驱动时序的高电平等于上述可调电压源的输出电压。

需要说明的是，调节被测驱动时序的高电平可以是调高或高低被测驱动时序的高电平，如调大或高小由DAC和集成运放组成的可调电压源内DAC的数字信号脉冲宽度，实现调高或高低被测驱动时序的高电平；又如调大或调小由PWM和MOSFET组成的可调电压源内PWM的数字信号脉冲宽度，实现调高或高低被测驱动时序的高电平；又如调大或高小由可调DC/DC和可编程电阻器可调电压源内可调DC/DC的电阻，实现调高或高低被测驱动时序的高电平；又如调大或调小由可调LDO和可编程电位器组成的可调电压源内可调LDO的电阻，实现调高或高低被测驱动时序的高电平。被测驱动时序的高电平等于被测IC逻辑电平，这样就可以完成检测IC逻辑电平的极大值和极小值。

需要说明的是，调节被测驱动时序的高电平，并初始化所述向基准IC提供的驱动时序，还可以是：

调节被测驱动时序的高电平；

存储被测驱动时序调节后的高电平信息；

并初始化向基准IC提供的驱动时序。

在调节被测驱动时序的高电平之后，将被测驱动时序调节后的高电平信息存储，这样可以避免因进行初始化向基准IC提供的驱动时序改变调节后的被测驱动时序的高电平。存储被测驱动时序调节后的高电平信息可以通过闪速存储器Flash Memory或同步动态随机存储器（SDRAM，Synchronous Dynamic Random Access Memory）可擦可编程只读存储器（EEPROM， Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）中的一种或多种存储器存储被测驱动时序调节后的高电平信息。

S105、记录被测驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。

本实施例，向基准集成电路IC和被测IC提供供电电压，向基准IC和被测IC分别提供基准驱动时序和被测驱动时序，所述基准驱动时序和所述被测驱动时序除高电平之外其余参数都是相同的，判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，则调节所述被测驱动时序的高电平，并初始化所述基准驱动时序，返回执行所述向基准IC和被测IC提供供电电压的步骤；若判断结果为否，则记录向被测IC提供的驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。能实现自动化检测IC的逻辑电平极限值，且提高了检测IC的逻辑电平极限值的精确度。

图2是本发明实施例提供的一种检测逻辑电平极限值的方法的另一实施例的流程示意图，如图2所示，该方法包括：

S201、生成参考电平。

需要说明的是，这里生成参考电平的方法可以是获取向被测IC提供的供电电压，还可以是独立生成一个电压信号，这个电压信号的电压范围在被测IC逻辑电平安全范围内。

S202、根据参考电平调节被测驱动时序的高电平。

需要说明的是，被测驱动时序调节后的高电平等于参考电平，具体调节方式可以是采用上面实施例调节被测驱动时序的高电平的方法。这里根据参考电平调节被测驱动时序的高电平是为了在整个检测过程之前被测驱动时序的高电平在被测IC的逻辑电平安全范围内，这样在检测过程中调节被测驱动时序的高电平更加有目的性，减少调节次数。

S203、向基准IC和被测IC提供供电电压。

需要说明的是，步骤S203可以同步骤S201一起执行。

S204、向基准IC和被测IC分别提供基准驱动时序和被测驱动时序。

需要说明的是，基准驱动时序和被测驱动时序的参数除高电平之外其余参数都相同，检测过程中给基准IC和被测IC提供驱动时序的时序必需是相同的。如给基准IC和被测IC提供驱动时序的周期和占空比等除了高电平之外的所有参数是相同的，这样才可以保证在基准IC和被测IC在所能承受的逻辑电平范围内返回的应答信号是相同的。

S205、判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，则执行步骤S206调节被测驱动时序的高电平，并初始化基准驱动时序；

若判断结果为否，则执行步骤207记录向被测IC提供的驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。

判断方法可以是上面实施例中描述的方法，此处不作重复说明。

S206、调节被测驱动时序的高电平，并初始化基准驱动时序。

S207、记录向被测IC提供的驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。

本实施例中，在上面实施例的基础上增加了生成参考电平和根据参考电平调节被测驱动时序的高电平，使整个检测过程之前被测驱动时序的高电平在被测IC的逻辑电平安全范围内，这样在检测过程中调节被测驱动时序的高电平更加有目的性，减少调节次数。且能实现自动化检测IC的逻辑电平极限值，且提高了检测IC的逻辑电平极限值的精确度。

图3是本发明实施例提供的一种检测逻辑电平极限值的方法的另一实施例的流程示意图，如图3所示，该方法包括：

S301、生成参考电平。

S302、根据参考电平调节被测驱动时序的高电平。

S303、向基准IC和被测IC提供供电电压。

S304、向基准IC和被测IC分别提供基准驱动时序和被测驱动时序。

S305、判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，执行步骤S306显示被测驱动时序的高电平和判断结果，若判断结果为是，则执行步骤S308调节被测驱动时序的高电平，并初始化基准驱动时序；

若判断结果为否，则执行步骤S309记录向被测IC提供的驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。

S306、显示被测驱动时序的高电平和判断结果。

当判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，判断完后就可以显示被测驱动时序的高电平和判断结果，这样检测过程更加的透明化，可以及时知晓检测的状态。

需要说明的是，显示被测驱动时序的高电平和判断结果，可以通过以下方式来实现：

通过液晶显示器（LCD， Liquid Crystal Display）或电子显示屏（LED，Light Emitting Diode）或真空荧光显示屏（VFD，Vacuum Fluorescent Display）中的一种或多种显示被测驱动时序的高电平和判断结果。

需要说明的是，执行完步骤S306后还可以执行步骤S307根据被测驱动时序的高电平和判断结果生成特性曲线，当然还可以是执行步骤S306或步骤S307中的任意一个步骤。

S307、根据被测驱动时序的高电平和判断结果生成特性曲线。

当判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，判断完后就可以根据被测驱动时序的高电平和判断结果生成特性曲线，如生成一个可以说明被测IC逻辑电平极大值是多少伏，极小值是多少伏，被测IC逻辑电平的安全范围是多少伏到多少伏的曲线图。这样可以清楚表示出被测IC的逻辑电平极限值的安全供电电压范围。

S308、调节被测驱动时序的高电平，并初始化基准驱动时序。

S309、记录向被测IC提供的驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。

本实施例中，在上面实施例的基础上增加了显示被测驱动时序的高电平和判断结果，以及根据被测驱动时序的高电平和判断结果生成特性曲线的方法，这样检测过程更加的透明化，可以及时知晓检测的状态，能清楚表示出被测IC的逻辑电平极限值的安全供电电压范围。且能实现自动化检测IC的逻辑电平极限值，且提高了检测IC的逻辑电平极限值的精确度。

图4是本发明实施例提供的一种检测逻辑电平极限值的装置的结构示意图，如图4所示，该装置包括：初级驱动单元41、次级驱动单元42、可调电压源单元43和主控单元44，其中：

初级驱动单元41，用于向基准IC提供供电电压和基准驱动时序。

次级驱动单元42，用于向被测IC提供供电电压和被测驱动时序；

需要说明的是，基准驱动时序和被测驱动时序的参数除高电平之外其余参数都相同，检测过程中给基准IC和被测IC提供驱动时序的时序必需是相同的。如给基准IC和被测IC提供驱动时序的周期和占空比等除了高电平之外的所有参数是相同的，这样才可以保证在基准IC和被测IC在所能承受的逻辑电平范围内返回的应答信号是相同的。

可调电压源单元43，用于调节次级驱动单元提供的被测驱动时序的高电平。

需要说明的是，可调电压源单元43可以是：

由DAC和集成运放组成的可调电压源、由PWM和MOSFET管组成的可调电压源、由可调DC/DC和可编程电阻器可调电压源或由可调LDO和可编程电位器组成的可调电压源中的一种或多种。

以上可调电压源的输出电压等于被测驱动时序的高电平。

需要说明的是，调节被测驱动时序的高电平可以是调高或高低被测驱动时序的高电平，如调大或高小由DAC和集成运放组成的可调电压源内DAC的数字信号脉冲宽度，实现调高或高低被测驱动时序的高电平；又如调大或调小由PWM和MOSFET组成的可调电压源内PWM的数字信号脉冲宽度，实现调高或高低被测驱动时序的高电平；又如调大或高小由可调DC/DC和可编程电阻器可调电压源内可调DC/DC的电阻，实现调高或高低被测驱动时序的高电平；又如调大或调小由可调LDO和可编程电位器组成的可调电压源内可调LDO的电阻，实现调高或高低被测驱动时序的高电平。被测驱动时序的高电平等于被测IC逻辑电平，这样就可以完成检测IC逻辑电平的极大值和极小值。

主控单元44，用于判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，则控制可调电压源单元43调节次级驱动单元42提供的被测驱动时序的高电平，控制初级驱动单元41初始化初级驱动提供的基准驱动时序，并进行下一轮的检测；

若判断结果为否，则记录次级驱动单元42提供的被测驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。

需要说明的是，主控单元可以是MCU 、DSP或 ARM中的一种或多种。

需要说明的是，当基准IC和被测IC接收到驱动时序后，就会返回应答信号，返回的应答信号可以是逻辑电平信号或协议数据，具体根据检测的IC的不同而不同，如检测的IC是简单的集成电路，如逻辑与门集成电路，那么检测该IC时就会返回一个逻辑电平信号；如检测的IC是复杂的IC，如一些无线收发器、传感器或微控制器，那么检测该IC时就会返回一个协议数据。当然协议数据也可以是I2C协议数据或SPI协议数据，如检测无线收发器就会返回SPI协议数据，如检测传感器就会返回I2C协议数据。

需要说明的是，基准IC和被测IC接收的驱动时序可以是多个周期的时序，这样基准IC和被测IC根据接收的驱动时序返回的应答信号也是多个周期的应答信号。在这种情况下，主控单元44，用于判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，继续执行判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同的判断，直至基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号传输结束，则控制可调电压源单元43调节次级驱动单元42提供的被测驱动时序，控制初级驱动单元41初始化初级驱动提供的基准驱动时序，并进行下一轮的检测，。

若判断结果为否，则记录次级驱动单元42提供的被测驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。

需要说明的是，该装置还可以包括配置单元45。

配置单元45，用于读取预置的配置信息。

配置信息包含至少一个电压值，所述至少一个电压值在被测IC供电电压的安全范围内；这里所说的配置信息为预置的，该配置信息包含至少一个电压值，所述至少一个电压值在被测IC供电电压的安全范围内；，如被测IC提供电压的安全范围是3-5V，这样配置信息可以包含3V、3.5V、4V、4.5V、5V的字符信息，以使在向被测IC提供的供电电压等于上述几个值的情况下检测被测IC的逻辑电平极限值。还可以是，先检测向被测IC提供的供电电压等于3V时的被测IC的逻辑电平极限值，然后检测向被测IC提供的供电电压等于3.5V时的被测IC的逻辑电平极限值，依此类推直到向被测IC提供的供电电压为被测IC供电电压的极限值。

初级驱动单元41还用于从配置单元45读取的配置信息中选取一个电压值，向基准IC提供电压值等于选取的电压值的供电电压。

次级驱动单元42还用于从配置单元45读取的配置信息中选取一个与初级驱动单元41选取的电压值相同的电压值，向被测IC提供电压值等于选取的电压值的供电电压。

需要说明的是，该装置还可以包括生成单元46。

生成单元46，用于生成参考电平。

需要说明的是，这里生成参考电平的方法可以是获取次级驱动单元42提供的供电电压，还可以是独立生成一个电压信号，这个电压信号的电压范围在被测IC逻辑电平安全范围内。

可调电压源单元43还用于根据生成单元46生成参考电平调节所述次级驱动单元提供的被测驱动时序的高电平，调节后的高电平等于所述生成单元生成参考电平。

这里根据参考电平调节被测驱动时序的高电平是为了在整个检测过程之前被测驱动时序的高电平在被测IC的逻辑电平安全范围内，这样在检测过程中调节被测驱动时序的高电平更加有目的性，减少调节次数。

需要说明的是，该装置还可以包括调节单元47。

调节单元47，用于获取初级驱动单元41提供的基准驱动时序，调节获取到的基准驱动时序的高电平，将调节后的驱动时序传输至次级驱动单元。

次级驱动单元42还用于接收调节单元47调节后的驱动时序，并将所述调节单元调节后的驱动时序作为被测驱动时序。

通过调节单元47与次级驱动单元42结合实现次级驱动单元42提供的被测驱动时序除高电平之外其余参数与初级驱动时序41提供的基准驱动时序是相同的。

具体实现方法可以采用双电源总线收发器来实现，过程如下：

双电源总线收发器的一侧的电源端口和IO端口分别与初级驱动单元41提供供电电压和基准驱动时序的端口连接，这样双电源总线收发器此侧的电源和连接的驱动时序分别为初级驱动单元41提供的供电电压和基准驱动时序。

双电源总线收发器的另一侧电源端口与次级驱动单元42提供供电电压的端口连接，还可以是连接另一个输出电压信号的端口。

双电源总线收发器参考次级驱动单元42提供的供电电压，或上述的输出电压信号的端口的电压，调节获取到的基准驱动时序的高电平，将调节后的驱动时序传输至次级驱动单元42；次级驱动单元42将双电源总线收发器传输的驱动时序作为被测驱动时序，这样就可以实现次级驱动单元42提供的被测驱动时序除高电平之外其余参数与初级驱动时序41提供的基准驱动时序是相同的。

这里所说的双电源总线收发器可以为三态输出双电源总线收发器，也就是说双电源总线收发器的两侧，无论哪一侧与初级驱动单元41提供供电电压和其次驱动时序的端口连接都可以，另一侧就和次级驱动单元42提供供电电压和被测驱动时序的端口连接，因为三态输出双电源总线收发器电平转换后的信号传输方向是可以控制的，如可以将电平转换后的信号从左侧传输到右侧，也可以从右侧传输到左侧。

需要说明的是，该装置还可以包括：显示单元48。

显示单元48，用于显示次级驱动单元42提供的被测驱动时序的高电平信息和主控单元44判断的结果。

显示单元48可以是LCD或LED或VFD。

这样检测过程更加的透明化，可以及时知晓检测的状态。

需要说明的是，该装置还可以包括：上位机49。

上位机49，用于根据次级驱动单元42提供的被测驱动时序的高电平和主控单元44判断的结果生成特性曲线。

生成一个可以说明被测IC供电电压极大值是多少伏，极小值是多少伏，被测IC安全供电电压范围是多少伏到多少伏的曲线图。这样可以清楚表示出被测IC的供电电压极限值的安全供电电压范围。

需要说明的是，该装置还可以包括：存储单元410。

存储单元410，用于存储次级驱动单元42提供的被测驱动时序调节后的高电平信息。

存储单元410可以是Flash Memory、SDRAM 或EEPROM中的一种或多种。

将次级驱动单元42提供的被测驱动时序调节后的高电平信息存储，这样可以避免因初级驱动单元41初始基准驱动时序改变调节后的次级驱动单元42提供的被测驱动时序调节后的高电平。

本实施例中，初级驱动单元向基准IC提供供电电压和基准驱动时序，次级驱动单元向被测IC提供供电电压和被测驱动时序，基准驱动时序和被测驱动时序的参数除高电平之外其余参数都相同，主控单元判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，则控制可调电压源单元调节次级驱动单元提供的被测驱动时序的高电平，控制初级驱动单元初始化初级驱动提供的基准驱动时序，并进行下一轮的检测；若判断结果为否，则记录次级驱动单元提供的被测驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。能实现自动化检测IC的逻辑电平极限值，且提高了检测IC的逻辑电平极限值的精确度。

以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (18)

1.一种检测逻辑电平极限值的方法，其特征在于，包括：

向基准集成电路IC和被测IC提供供电电压，所述基准IC和被测IC的型号相同；

向基准IC和被测IC分别提供基准驱动时序和被测驱动时序，所述基准驱动时序和所述被测驱动时序的参数除高电平之外其余参数都相同；

判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，则调节所述被测驱动时序的高电平，并初始化所述基准驱动时序，返回执行所述向基准IC和被测IC提供供电电压的步骤；

若判断结果为否，则记录所述被测驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向基准集成电路IC和被测IC提供的供电电压包括：

读取预置的配置信息，所述配置信息包含至少一个电压值，所述至少一个电压值在被测IC供电电压的安全范围内；

从所述配置信息中选取一个电压值，并向基准IC和被测IC提供电压值等于选取的电压值的供电电压；

所述记录所述向被测IC提供的驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值之后包括：

从所述配置信息中选取另一个电压值，并触发所述向基准IC和被测IC提供电压值等于选取的电压值的供电电压的步骤。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调节所述被测驱动时序的高电平包括：

调高所述被测驱动时序的高电平；

或，

调低所述被测驱动时序的高电平。

4.如权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述向基准集成电路IC和被测IC提供的供电电压之前包括：

生成参考电平；

根据所述参考电平调节被测驱动时序的高电平，使被测驱动时序调节后的高电平等于所述参考电平。

5.如权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述向基准IC和被测IC分别提供基准驱动时序和被测驱动时序包括：

向基准IC提供基准驱动时序；

获取向基准IC提供的基准驱动时序；

调节获取到的基准驱动时序的高电平，并将调节后的基准驱动时序作为被测驱动时序；

向被测IC提供被测驱动时序。

6.如权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同之后包括：

显示被测驱动时序调节前的高电平和所述判断结果；

和/或，

根据被测驱动时序调节前的高电平和所述判断结果生成特性曲线；

和/或，

存储被测驱动时序调节后的高电平信息。

7.如权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述应答信号包括：

逻辑电平信号或协议数据。

8.如权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，则调节所述被测驱动时序的高电平，并初始化所述基准驱动时序，返回执行所述向基准IC和被测IC提供供电电压的步骤包括：

判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，继续执行所述判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同的判断，直至所述基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号传输结束，则调节所述被测驱动时序的高电平，并初始化向基准IC提供的驱动时序，返回执行所述向基准IC和被测IC提供供电电压的步骤。

9.一种检测逻辑电平极限值的装置，其特征在于，包括：

初级驱动单元，用于向基准IC提供供电电压和基准驱动时序；

次级驱动单元，用于向被测IC提供供电电压和被测驱动时序，所述基准驱动时序和所述被测驱动时序的参数除高电平之外其余参数都相同，所述基准IC和被测IC的型号相同；

可调电压源单元，用于调节所述次级驱动单元提供的被测驱动时序的高电平；

主控单元，用于基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，则控制可调电压源单元调节所述次级驱动单元提供的被测驱动时序的高电平，控制所述初级驱动单元初始化初级驱动提供的基准驱动时序，并进行下一轮的检测；

若判断结果为否，则记录所述次级驱动单元提供的被测驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。

10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，该装置还包括：

配置单元，读取预置的配置信息，所述配置信息包含至少一个电压值，所述至少一个电压值在被测IC供电电压的安全范围内；

所述初级驱动单元还用于从所述配置单元读取的配置信息中选取一个电压值，向基准IC提供电压值等于选取的电压值的供电电压，；

所述次级驱动单元还用于从所述配置单元读取的配置信息中选取一个与所述初级驱动单元选取的电压值相同的电压值，向被测IC提供电压值等于选取的电压值的供电电压。

11.如权利要求9所述的装置，其特征在于，所述可调电压源单元还用于调高或调低所述次级驱动单元提供的被测驱动时序的高电平。

12.如权利要求9所述的装置，其特征在于，该装置还包括：

生成单元，用于生成参考电平；

所述可调电压源单元还用于根据所述生成单元生成参考电平调节所述次级驱动单元提供的被测驱动时序的高电平，使被测驱动时序调节后的高电平等于所述生成单元生成参考电平。

13.如权利要求9-12中任一项所述的装置，其特征在于，该装置还包括：

调节单元，用于获取所述初级驱动单元提供的基准驱动时序，调节获取到的基准驱动时序的高电平，将调节后的驱动时序传输至所述次级驱动单元；

所述次级驱动单元，还用于接收所述调节单元调节后的驱动时序，并将所述调节单元调节后的驱动时序作为被测驱动时序。

14.如权利要求9-12所述的装置，其特征在于，该装置还包括：

显示单元，用于显示所述次级驱动单元提供的被测驱动时序调节前的高电平信息和所述主控单元判断的结果；

和/或， 

上位机，用于根据所述次级驱动单元提供的被测驱动时序调节前的高电平和所述主控单元判断的结果生成特性曲线；

和/或， 

存储单元，用于存储所述次级驱动单元提供的被测驱动时序调节后的高电平信息。

15.如权利要求14所述的装置，其特征在于，若所述装置包括显示单元，所述显示单元包括：

液晶显示屏LCD或电子显示屏LED或真空荧光显示屏VFD中的一种或多种；

若所述装置包括存储单元，所述存储单元包括：

通过闪速存储器Flash Memory、同步动态随机存储器SDRAM或可编程只读存储器EEPROM中的一种或多种。

16.如权利要求9-12中任一项所述的装置，其特征在于，所述主控单元为MCU或DSP或ARM中的一种或多种。

17.如权利要求9-12所述的装置，其特征在于所述可调电压源单元为：

由DAC和集成运放组成的可调电压源、由PWM和场效晶体管MOSFET组成的可调电压源、由DC/DC和可编程电阻器可调电压源或由LDO和可编程电位器组成的可调电压源中的一种或多种可调电压源，所述次级驱动单元提供的被测驱动时序的高电平等于所述可调电压源的输出电压。

18.如权利要求9-12所述的装置，其特征在于，所述主控单元还用于基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，继续执行基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同的判断，直至基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号传输结束，则控制可调电压源单元调节所述次级驱动单元提供的被测驱动时序的高电平，控制所述初级驱动单元初始化初级驱动提供的基准驱动时序，并进行下一轮的检测； 

若判断结果为否，则记录次级驱动单元提供给被测IC提供的供电电压值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值。

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