CN102519707A - 光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，根据通过光纤的双向OTDR测量而得到的2个后方散射光的位置x处的2个后方散射光强度计算出算术平均值I(x)，从由所述算术平均值计算出的所述位置x处的模场直径2W(x)与相对折射率差Δ(x)，得到所述位置x处的弯曲损耗值。

Description

光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法

技术领域

本发明涉及通过双向OTDR测量法对光纤的长度方向上的弯曲损耗的分布进行测量的方法、使用该测量方法来检测弯曲损耗的不良位置的光线路的试验方法、利用该弯曲损耗分布的测量方法来制造弯曲损耗小的光纤的方法以及光纤的实际弯曲损耗的长度方向分布的测定方法。

本申请基于2010年8月20日向日本国提出的特愿2010-185320号主张优先权，并将其内容援用至此。

背景技术

作为测量光纤的长度方向分布的特性的方法，已知有被称作双向OTDR测量法的方法(参照非专利文献1、2)。

通常的OTDR测量法是取得根据从光纤的一端部射入的脉冲光的后方散射光的时间分布而得到的长度方向上的后方散射光波形(OTDR波形)，从而得到光纤的长度方向上的异常部分、连接位置、损耗等信息的方法。

在双向OTDR测量法中，从光纤的两端部射入脉冲光，在两端部取得双向的2个OTDR波形。进而，通过计算处理这2个OTDR波形，能够取得光纤的长度方向上的相对折射率差或者模场直径(以下记作MFD)等的分布。

由于双向OTDR测量法能够不破坏地对光纤的长度方向上的特性分布进行测量，所以在实用上是非常有用的工具。

迄今为止，在使用了双向OTDR测量法的对光纤的光学特性的长度方向分布进行测量的方法中，已知有对相对折射率差、MFD、截止(cutoff)波长、材料色散进行测量的方法。但是，不知道对作为光纤的重要光学特性之一的弯曲损耗的长度方向分布进行测量的方法。

另一方面，例如可以考虑在光纤的长度方向上的多个位置实施非专利文献3所记载的弯曲损耗的测量方法的方法。但是，在该方法被实施的位置上，将光纤实际弯曲来测量弯曲损耗。因此，产生了能够测量弯曲损耗的位置被限定，或者用于得到所希望的位置的弯曲损耗的作业变得复杂等问题。

近些年，提出了一些弯曲损耗改善型光纤的方案，弯曲损耗特性的重要性在不断提高。因此，能够在光线路内掌握弯曲损耗特性分布或者在光线路内确定弯曲损耗高的位置的方法被期望。

非专利文献1：信学技報OSC2005-89

非专利文献2：ITU-勧告G.650.1(06/2004)

非专利文献3：IEC標準書IEC60793-1-47Ed.3

非专利文献4：《DWDM光測定技術》69～71页 波平 宜敬編ォプトニクス社

发明内容

本发明为解决上述课题而提出，通过双向OTDR测量法，实现对光纤长度方向上的弯曲损耗分布的测量，利用该测量方法得到能够检测出已设置的光线路的弯曲损耗分布与其异常点的光线路的试验方法，进而，利用该测量方法得到制造弯曲损耗小的光纤的方法。

为了解决上述的课题，本发明的第1方式的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，根据通过光纤的双向OTDR测量而得到的2个后方散射光的位置x处的2个后方散射光强度计算出算术平均值I(x)，根据由所述算术平均值算出的所述位置x处的模场直径2W(x)与相对折射率差Δ(x)，得到所述位置x处的弯曲损耗值。

在本发明的第1方式的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法中，优选在得到所述弯曲损耗值时，将成为测量对象的光纤当作具有与所述光纤的折射率分布等效的阶梯型折射率分布的光纤，根据具有所述阶梯型折射率分布的光纤的标准化频率V、纤芯半径a和所述模场直径2W的关系式，计算出所述位置x处的所述弯曲损耗值。

在本发明的第1方式的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法中，优选在得到所述位置x处的所述模场直径2W(x)时，使用所述光纤中的任意选择的2点参照点处的所述模场直径，根据所述算术平均值I(x)得到所述模场直径2W(x)。

在本发明的第2方式的光纤实际的弯曲损耗的长度方向分布的测量方法中，优选使用通过上述的方法得到的弯曲损耗的长度方向分布、与在所述长度方向上任意选择的点上实际测量到的弯曲损耗的值，得到所述长度方向上的所述位置x处的实际的弯曲损耗值。

本发明的第3方式的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，使用根据通过光纤的双向OTDR测量而得到的2个后方散射光波形的位置x处的2个后方散射光强度算出的算术平均值I(x)，导出模场直径2W(x)，基于预先求出的模场直径2W(x)与弯曲损耗值的相关关系来求取所述位置x处的弯曲损耗值。

在本发明的第1方式～第3方式的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法中，优选测量对象的光纤由弯曲损耗改善型光纤构成。

在本发明的第1方式～第3方式的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法中，优选所述弯曲损耗改善型光纤是带空孔的光纤、带槽的光纤或者带微细气泡的光纤。

在本发明的第1方式～第3方式的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法中，优选光纤被铺设。

本发明的第3方式的光线路的试验方法使用第1方式～第3方式的测量方法来检测并确定被铺设的光线路的弯曲损耗缺陷位置。

本发明的第4方式的光缆的制造方法由光纤线制造光缆(第一工序)，通过使用第1方式～第3方式的测量方法检测所述被制造的光缆的弯曲损耗缺陷位置，来测量所述被制造的光缆的特性(第二工序)。

本发明的第5方式的光纤软线(fibercord)的制造方法由光纤线制造光纤软线(第一工序)，通过使用第1方式～第3方式的测量方法检测所述被制造的光纤软线的弯曲损耗缺陷位置，来测量所述被制造的光纤软线的特性(第二工序)。

本发明的第6方式的光纤线的制造方法制造光纤线(第一工序)，通过使用第1方式～第3方式的测量方法检测所述被制造的光纤线的弯曲损耗的缺陷位置，来测量所述被制造的光纤线的特性(第二工序)。

根据本发明的测量方法，能够不破坏地测量作为光纤的重要光学特性之一的弯曲损耗的长度方向分布。

另外，根据本发明的光线路的试验方法，能够保持光纤实际被使用的状态，即保持光纤、光缆或者光纤软线在现场被铺设的状态，不用移动光纤或者撤去光纤等，来测量弯曲损耗的长度方向分布。进而，在实际被铺设的光线路中，也能够检测、确定光线路中的由弯曲损耗引起的缺陷位置。

进而，根据本发明的制造方法，能够测量光纤的弯曲损耗的长度方向分布，由于可以除去超过某阈值的位置，所以能够实现不包含弯曲损耗高的位置的光纤，能够使高品质光纤的制造成为可能。

附图说明

图1是表示实施例1中的光纤的长度方向上的MFD的分布的曲线图。

图2是表示实施例1中的光纤的长度方向上的有效包层折射率的分布的曲线图。

图3是表示实施例1中的光纤的长度方向上的相对弯曲损耗的分布的曲线图。

图4是表示实施例1中的光纤的长度方向上的弯曲损耗值的分布的曲线图。

图5是表示实施例2中的MFD与弯曲损耗值的关系的曲线图。

具体实施方式

以下对本发明的技术要素进行说明。

由双向OTDR测量法得到的算术平均值I(x)能够根据2个后方散射光波形中的位置(x)处的2个后方散射光强度求得。公知该算术平均值一般被称作构造不匹配损耗，是与后方散射光的捕获率相关的项。

后方散射光的捕获率与光纤的MFD相关，该关系使用某个参照点(x₀)处的MFD与算术平均值I(x₀)用下面的式(1)表示。

【数1】

$2W(\mathrm{\λ},x)=2W(\mathrm{\λ},x_0)\·{10}^{\frac{I(\mathrm{\λ},x_0)-I(\mathrm{\λ},x)+k}{20}}---\left(1\right)$

其中，λ表示波长，x表示光纤中的长度方向的位置。2W是MFD。k是用下式表示的常数。

$k=10\·\log \left[\right\{\frac{1+0.62\mathrm{\Δ}\left(x\right)}{1+0.62\mathrm{\Δ}\left(x_0\right)}\left\}\right\{\frac{50-\mathrm{\Δ}\left(x\right)}{50-\mathrm{\Δ}\left(x_0\right)}\left\}\right]---\left(2\right)$

这里，Δ是纤芯(core)与包层的相对折射率差。

进而，当使用2点参照点(x₀以及x₁)时，式(1)能够用 $2W(\mathrm{\λ},x)=2W(\mathrm{\λ},x_0)\·{\left[\frac{2W(\mathrm{\λ},x_1)}{2W(\mathrm{\λ},x_0)}\right]}^{\frac{I(\mathrm{\λ},x)-I(\mathrm{\λ},x_0)}{I(\mathrm{\λ},x_1)-I(\mathrm{\λ},x_0)}}---\left(3\right)$ 来表示。

另一方面，当基于光纤的长度方向上的玻璃的折射率几乎不变化这一条件(是在通常的光纤中一般都成立的条件)，将瑞利散射系数R记为R＝R₀(1+kΔ)时，相对折射率差Δ的长度方向上的分布利用下式(4)赋予。

【数2】

$\mathrm{\Δ}\left(x\right)=\frac{1}{k}\left[\right\{1+\mathrm{k\Δ}\left(x_0\right)\}\·{10}^{\frac{I(\mathrm{\λ},x)-20\log \left\{\frac{2W(\mathrm{\λ},x_0)}{2W(\mathrm{\λ},x)}\right\}}{10}}-1]---\left(4\right)$

一般公知有一种将具有任意的折射率分布的光纤假定为具有与其折射率分布等效的阶梯(step)型折射率分布的光纤来进行处理的计算方法。

在本实施方式中，当根据得到的算术平均值I(x)算出弯曲损耗的长度方向分布时，也将成为测量对象的光纤假定为具有那样的阶梯型折射率分布的光纤。

在具有阶梯型折射率分布的光纤中，一般公知标准化频率V与MFD具有下式那样的关系。

【数3】

$\frac{2W}{2a}=0.65+1.619V^{-1.5}+2.879V^{-6}---\left(5\right)$

其中，2a是阶梯型折射率分布光纤的纤芯直径(a是纤芯半径)。

从式(1)或者式(3)、和式(4)以及式(5)能够得到纤芯半径的长度方向分布a(x)以及标准化频率的长度方向上的分布V(λ，x)。进而，使用长度方向上的任意选择的地点处的a(x)以及V(λ，x)，通过计算下式(6)，能够导出被测量光纤的弯曲半径R下的弯曲损耗的长度方向分布αb(λ，R，x)。

【数4】

${\mathrm{\α}}_b=\frac{\sqrt{\mathrm{\π}}{\mathrm{\κ}}^2\exp \{-\frac{2R{\mathrm{\γ}}^3}{3{\mathrm{\β}}^2}\}}{2{\mathrm{\γ}}^{1.5}{V}^2\sqrt{R}{\left\{K_1\left(\mathrm{\γa}\right)\right\}}^2}---\left(6\right)$

u＝2.4048exp(-0.8985/V)

ω²＝V²-u²

$\mathrm{\β}=\sqrt{{\left(\frac{2\mathrm{\π}{n}_1}{\mathrm{\λ}}\right)}^2-{\mathrm{\κ}}^2}$

κ＝u/a

这里，γ＝ω/a

而且，K1是1阶第2类变形贝塞尔函数。

综上可知，能够根据算术平均值I(x)算出MFD，从该MFD与相对折射率差导出弯曲损耗的长度方向分布αb(λ，R，x)。

在上述的说明中，将成为测量对象的光纤假定为具有与其折射率分布等效的阶梯型折射率分布的光纤进行处理，但只要能够恰当地导出弯曲损耗的长度方向分布即可，不必要进行这样的假定。

另外，在MFD与算术平均值I(x)的关系式中，使用了2点(x₀以及x₁)参照点，但参照点也可以是1点。其中，当参照点是1点时，由于MFD的推断精度下降，所以优选参照2点来作为参照点。

此时，算出的弯曲损耗的长度方向分布αb的弯曲损耗的计算值虽然具有该大小、比例关系，但公知与实际的实测值之间具有偏差。由于基本上计算值与实测值具有比例关系，所以在获得长度方向的相对弯曲损耗的分布这一方面是有用的，但为了获得长度方向的相对弯曲损耗的分布，需要通过某种方法来修正计算值与实测值的偏差。即，可以说通过上述的方法获得的弯曲损耗的长度方向分布表示了相对的弯曲损耗的变化。

为了将通过上述的方法而获得的弯曲损耗的长度方向分布作为长度方向的弯曲损耗的实测值的分布，能够在长度方向上的任意选择的一点(也可以是多个点)实际测量弯曲损耗值，根据该实测值与该点处的计算值的比率来算出长度方向上的弯曲损耗的实际值的分布。

另外，作为不利用定式进行计算的方法，可以举出从预先得到的弯曲损耗与算术平均值的相关关系，来得到弯曲损耗的长度方向分布的方法。

这里，作为得到弯曲损耗的长度方向分布用的相关关系，可以直接使用算术平均值I(x)与弯曲损耗值的相关关系，也可以通过上述(1)式从算术平均值I(x)求出MFD，而使用该MFD与弯曲损耗值的相关关系。在这样的相关关系中根据算术平均值I(x)求得MFD，并使用该MFD与弯曲损耗值的相关关系的情况下，弯曲损耗值的推断精度高。因此，更优选使用MFD与弯曲损耗值的相关关系。

另外，本发明的测量方法在成为测量对象的光纤是弯曲损耗改善型光纤(多略称为BIF)时更有效。具体而言，弯曲损耗改善型光纤是住宅内、大厦内、MDU(Multi-Dwelling Unit：集合住宅用设备)等所使用那样的假想以非常小的弯曲直径(例如弯曲半径为5mm到15mm程度)弯曲而制造的光纤。在这样的弯曲损耗改善型光纤中，弯曲损耗在长度方向稳定且低是很重要的，在该光纤中使用本发明的测量方法更加有效。

如果在铺设光线路中存在弯曲损耗大的位置，在该位置光纤被弯曲，则会引起信号光的损耗变大，不能进行通信的问题。因此，将能够不破坏地检测出弯曲损耗的长度方向分布的本测量方法应用于那样的弯曲损耗改善型光纤是非常有用的。

另外，弯曲损耗改善型光纤被设计、制造成弯曲损耗非常小。实际上，在长度方向上的多个位置实测现存的弯曲损耗的方法中，一边注意测量值的偏差一边进行实测在实用上比较困难，如果不使用本测量方法，则不能够高精度得到弯曲损耗的长度方向分布。

并且，在弯曲损耗改善型光纤中，当该光纤的构造是带空孔光纤、带槽光纤或者带微细气泡光纤时，本方法涉及的弯曲损耗的长度方向分布测量能够精度高地进行。这是因为上述那样的弯曲损耗改善型光纤的弯曲损耗，通过将成为低折射率的槽包覆层、空孔包覆层或者微细气泡包覆层等特殊包覆层配置为包层的一部分而被降低。即，是由于与纤芯的构造变化相比，上述那样的特殊包覆层的长度方向上的构造变化对弯曲损耗的长度方向上的变化贡献大。

另外，在上述那样的光纤中，光纤的纤芯的折射率分布形成了也可以被称作大致阶梯型的构造。因纤芯的长度方向上的构造变化而引起的光学特性的长度方向上的变动小。因此，具有容易从通过双向OTDR而得到的算术平均值I(x)中提取出特殊包覆层的长度方向变动所引起的弯曲损耗的变动的优点，能够提高弯曲损耗值的推断精度。

下面，对能够应用本发明的测量方法的光纤的形态进行论述。

本发明中的光纤包含以下的光纤构造。即，不限于由1根光纤构成的构造，也包含将同种类或者不同种类的2根以上光纤连接成纵列的构造。另外，作为光纤的品种，无特别的限定，可以举出单模光纤、多模光纤、色散位移光纤、色散补偿光纤、保偏光纤、上述的弯曲损耗改善型光纤等。

并且，光纤的连接方式包含熔接连接、连接器连接、基于机械接合的连接等所有的方式。另外，光纤也可以是光纤线、光纤芯线、光纤软线、光缆的任意一种。在光缆中，可以是单芯光缆，也可以是多芯光缆。

即使在采用了光缆或者光纤软线的形态作为光纤的形态的情况下，只要是能够通过双向OTDR进行测量的形态，就能够将本测量方法应用于该形态。由于在光缆或者光纤软线的形态下便能够测量弯曲损耗值，所以即使不对光缆或者光纤软线进行解体，也能够测量弯曲损耗的长度方向分布。

另外，在本发明中，即使是光纤被连接成纵列的构造，也不影响弯曲损耗的长度方向分布的测量，在光纤被连接成纵列的构造中，能够以该形态对弯曲损耗的长度方向分布进行测量。并且，即使在该连接位置被收纳于封闭器(closure)或者MDU等终端设备等的状态下，也能够应用本发明的测量方法。因此，能够保持光纤连接成纵列的构造(也包含光缆或者光纤软线连接成纵列的构造)被连接、被收纳的状态，对弯曲损耗的长度方向分布进行测量。

根据本发明的测量方法，能够保持光纤实际上被使用的状态，即被铺设在现场的状态，不移动光纤或者不撤去光纤等，对弯曲损耗的长度方向分布进行测量。这里，现场可以是屋外、住宅内、大厦内，也可以是空中、埋设中、坑道、下水道口内、海底，不特别限定。进而，对实际被铺设的光纤线路中的因弯曲损耗引起的缺陷位置的检测、确定也能够通过该方法进行实施。

当在这样的被铺设在现场的光线路(测量对象)中测量弯曲损耗时，从设备设置的观点来看，若能够在光线路的一个端部进行使用了双向OTDR测量法的测量，则在成本方面是有利的。

因此，优选例如如非专利文献4所述那样，将以测量波长进行全反射的反射膜或者反射镜等配置在光纤的远端，在光纤的近端进行测量中，也进行使用与双向OTDR测量法同样的测量法的测量(有时被称作全反射OTDR测量法)。

当将光线路长设为L时，这时的算术平均值I(x)由距离近端为x的位置处的后方散射光强度、和距离近端为2L-x的位置处的后方散射光强度求得。

另外，作为光纤或者光缆的制造方法中的检查工序，也能够应用本发明的测量方法。

以下对光缆或者光纤软线的制造方法具体进行论述。

首先，使用光纤线通过常用方法制造光缆或者光纤软线(第一工序)。然后，测量在第一工序中得到的光缆或者光纤软线的特性(第二工序)。

在这样的制造方法中，对于第二工序，通过上述的测量方法测量弯曲损耗的长度方向分布，并在上述第二工序中除去超过某阈值的位置。由此，能够实现不包含弯曲损耗高的位置的光缆或者光纤软线。因此，能够制造高品质的光缆或者光纤软线。

下面，对光纤线的制造方法具体进行论述。

与上述的方法同样，首先，通过常用方法制造光纤线(第一工序)。然后，测量在第一工序中得到的光纤线的特性(第二工序)。在这样的制造方法中，对于第二工序，通过上述的测量方法测量弯曲损耗的长度方向分布，在上述第二工序中除去超过某阈值的位置。由此，能够实现不包含弯曲损耗高的位置的光纤线。因此，能够制造高品质的光纤线。

以下表示具体例。

(实施例1)

图1是表示根据利用光纤纵列连接体的双向OTDR测量法得到的算术平均值，使用式(3)而得到的光纤纵列连接体的长度方向上的MFD的分布的测量结果的曲线图。

在该光纤纵列连接体中，如图1的曲线图中所示那样，从作为近端的距离0km起，由标准单模光纤(～大约1km)、弯曲损耗水平相互不同的3种带空孔的弯曲损耗改善光纤(分别大约1～7km、大约7～14km、大约14～21km)、以及标准单模光纤(大约21～22km)构成的5根光纤连接成纵列。

在本实施例的测量方法中，使用市售的OTDR测量装置从纵列连接体的两端(0km的位置以及大约22km的位置)得到OTDR数据。测量波长是1550nm，脉冲宽度是100ns。其中，测量波长或者脉冲宽度由目的或者必要分辨率等适当决定。从双向OTDR的测量结果明显看出在各光纤的MFD上产生了差异。另外，该测量结果与在各光纤的端部另外使用ITU-T G.650.1记载的方法实测到的MFD一致。

基于图1的数据，尝试了弯曲损耗的长度方向分布的计算。图2表示从式(4)求出的折射率的长度方向分布的测量结果。这里，图2所示的曲线图的纵轴描绘的不是相对折射率差，而是包层的有效折射率。在一般的弯曲损耗改善型光纤中，如上述那样，包层的构造变化有助于算术平均的变动。因此，在弯曲损耗改善型光纤中，这样绘制包层的有效折射率的方法是恰当的。

这里，使用上述的假定了等效的阶梯型折射率分布时的包层的折射率作为有效包层折射率。

进而，图3表示使用式(5)得到的相对弯曲损耗分布的长度方向分布。这里，应注意图3的曲线图的纵轴上的弯曲损耗是相对的弯曲损耗。

一般公知在解析性的弯曲损耗的计算中，实际的弯曲损耗值的确认是困难的，只能得到相对的弯曲损耗的分布。

另一方面，在本实施例中，从图3可知，得到了弯曲损耗的长度方向上的相对分布。

下面，根据图3所示的结果，使用在带空孔的弯曲损耗改善光纤中的1点(图中大约1km的点)另外通过IEC60793-1-47 Ed.3所记载的方法实测到的弯曲损耗结果(0.002dB/1turn，波长1550nm，弯曲半径5mm时)，将相对值同定为实际的弯曲损耗值而得到的弯曲损耗分布的长度方向分布在图4中表示。

这时，基于图3的相对值与另外实测到的弯曲损耗成比例的比例关系，进行从相对值向实际的弯曲损耗值的变换。这时，在将其他的带空孔的弯曲损耗改善光纤中的各光纤端另外通过IEC60793-1-47 Ed.3记载的方法实测到的弯曲损耗结果与图4的结果相比较时，两者的结果在测量偏差的范围内相互一致。

综上所述，确认了用本测量方法能够得到弯曲损耗的长度方向分布。

(实施例2)

通过基于由实测预先得到的弯曲损耗与算术平均值的相关关系而得到弯曲损耗的长度方向分布的方法，测量了弯曲损耗的长度方向分布。

图5表示了在带空孔的弯曲损耗改善型光纤中，用ITU-T G.650.1记载的方法测量到的MFD与用IEC60793-1-47 Ed.3记载的方法实测到的弯曲损耗的关系。

根据图5能够确认MFD与弯曲损耗之间显示出非常好的相关关系，MFD与弯曲损耗的关系能够用指数函数进行近似(即MFD与弯曲损耗的对数是线性关系)。可知若在某确定构造的光纤中预先得到这样的关系式，则能够基于用双向OTDR测量法得到的算术平均值，通过式(3)求得MFD的长度方向上的分布，从该MFD的长度方向分布能够得到光纤的弯曲损耗的长度方向分布。

Claims (12)

1.一种光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

根据通过光纤的双向OTDR测量而得到的2个后方散射光的位置x处的2个后方散射光强度计算出算术平均值I(x)，

根据由所述算术平均值算出的所述位置x处的模场直径2W(x)与相对折射率差Δ(x)，得到所述位置x处的弯曲损耗值。

2.根据权利要求1所述的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

在得到所述弯曲损耗值时，将成为测量对象的光纤看作具有与所述光纤的折射率分布等效的阶梯型折射率分布的光纤，

从具有所述阶梯型折射率分布的光纤的标准化频率V、纤芯半径a与所述模场直径2W的关系式，算出所述位置x处的所述弯曲损耗值。

3.根据权利要求1或2所述的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

在得到所述位置x处的所述模场直径2W(x)时，使用所述光纤中的任意选择的2点参照点处的所述模场直径，根据所述算术平均值I(x)得到所述模场直径2W(x)。

4.一种光纤实际的弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

使用通过权利要求1～3中任意一项所述的方法而得到的弯曲损耗的长度方向分布、与在所述长度方向上任意选择的点处实际测量到的弯曲损耗的值，得到所述长度方向上的所述位置x处的实际的弯曲损耗值。

5.一种光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

使用根据通过光纤的双向OTDR测量而得到的2个后方散射光波形的位置x处的2个后方散射光强度算出的算术平均值I(x)，导出模场直径2W(x)，

基于预先求得的模场直径2W(x)与弯曲损耗值的相关关系，求出所述位置x处的弯曲损耗值。

6.根据权利要求1～5中任意一项所述的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

测量对象的光纤由弯曲损耗改善型光纤构成。

7.根据权利要求6所述的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

所述弯曲损耗改善型光纤是带空孔的光纤、带槽的光纤或者带微细气泡的光纤。

8.根据权利要求1～7中任意一项所述的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

光纤被铺设。

9.一种光线路的试验方法，其特征在于，

使用权利要求1～8中任意一项所述的测量方法，检测并确定被铺设的光线路的弯曲损耗的缺陷位置。

10.一种光缆的制造方法，其特征在于，

由光纤线制造光缆，

通过使用权利要求1～8中任意一项所述的测量方法，检测所述被制造的光缆的弯曲损耗的缺陷位置，来测量所述被制造的光缆的特性。

11.一种光纤软线的制造方法，其特征在于，

由光纤线制造光纤软线，

通过使用权利要求1～8中任意一项所述的测量方法，检测所述被制造的光纤软线的弯曲损耗的缺陷位置，来测量所述被制造的光纤软线的特性。

12.一种光纤线的制造方法，其特征在于，

制造光纤线，

通过使用权利要求1～8中任意一项所述的测量方法，检测所述被制造的光纤线的弯曲损耗的缺陷位置，来测量所述被制造的光纤线的特性。

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