JPH06221931A - 温度測定用光ファイバ - Google Patents
温度測定用光ファイバInfo
- Publication number
- JPH06221931A JPH06221931A JP5029810A JP2981093A JPH06221931A JP H06221931 A JPH06221931 A JP H06221931A JP 5029810 A JP5029810 A JP 5029810A JP 2981093 A JP2981093 A JP 2981093A JP H06221931 A JPH06221931 A JP H06221931A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- layer
- temperature
- bubble
- secondary layer
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- Pending
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 手軽な方法でマイクロベンドロスを大きくす
ることができ、しかも光ファイバの強度が低下しない温
度測定用光ファイバを提供する。 【構成】 光ファイバ１のプライマリ層２又はセカンダ
リ層３内に泡４を設けてなる。また、セカンダリ層３の
外周に、同セカンダリ層３よりヤング率の高い被覆層５
を施した。 【効果】 強度的に強く、安定して温度変化に敏感な温
度測定用光ファイバとなる。この光ファイバを温度測定
システムに採用すれば得信頼性の高い温度測定システム
を得ることができる。
ることができ、しかも光ファイバの強度が低下しない温
度測定用光ファイバを提供する。 【構成】 光ファイバ１のプライマリ層２又はセカンダ
リ層３内に泡４を設けてなる。また、セカンダリ層３の
外周に、同セカンダリ層３よりヤング率の高い被覆層５
を施した。 【効果】 強度的に強く、安定して温度変化に敏感な温
度測定用光ファイバとなる。この光ファイバを温度測定
システムに採用すれば得信頼性の高い温度測定システム
を得ることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明の温度測定用光ファイバは
例えば温度測定システムに用いられるものである。
例えば温度測定システムに用いられるものである。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバを用いた温度測定システムに
はラマン散乱の変化、屈折率変化、伝送損失の変化等を
利用したものがある。このうち伝送損失の変化を利用し
たものは温度変化によって生ずるマイクロベンドロス増
を測定するものである。その主なものとして、光ファイ
バの一端にＬＤ又はＬＥＤ等の光源を接続し、他端に光
パワーメータを結合して、光源からの光強度を光パワー
メータで測定してロス増を測定するようにしたものと
か、光ファイバの一端に光源とＯＴＤＲ測定器と結合
し、光源から出力されて光ファイバ内を伝搬し途中から
反射してくる光（反射光）をＯＴＤＲ測定器で測定して
ロス増を測定するようにしたもの等がある。これらの測
定方法は比較的簡易な構成で、安価なシステムで構成で
きるという利点がある。
はラマン散乱の変化、屈折率変化、伝送損失の変化等を
利用したものがある。このうち伝送損失の変化を利用し
たものは温度変化によって生ずるマイクロベンドロス増
を測定するものである。その主なものとして、光ファイ
バの一端にＬＤ又はＬＥＤ等の光源を接続し、他端に光
パワーメータを結合して、光源からの光強度を光パワー
メータで測定してロス増を測定するようにしたものと
か、光ファイバの一端に光源とＯＴＤＲ測定器と結合
し、光源から出力されて光ファイバ内を伝搬し途中から
反射してくる光（反射光）をＯＴＤＲ測定器で測定して
ロス増を測定するようにしたもの等がある。これらの測
定方法は比較的簡易な構成で、安価なシステムで構成で
きるという利点がある。
【０００３】しかし、正常な光ファイバが温度変化によ
って生ずるマイクルベンドロスは微少であるため、温度
測定用の光源や受光器には非常に安定したものが要求さ
れる。これらの要求を緩和するために、従来はマイクロ
ベンドロスが生じ易いようにした温度測定用光ファイバ
が考えられている。その一つとして光ファイバの被覆中
に固い異物を混合させる方法がある。
って生ずるマイクルベンドロスは微少であるため、温度
測定用の光源や受光器には非常に安定したものが要求さ
れる。これらの要求を緩和するために、従来はマイクロ
ベンドロスが生じ易いようにした温度測定用光ファイバ
が考えられている。その一つとして光ファイバの被覆中
に固い異物を混合させる方法がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前記の様に光ファイバ
の被覆中に固い異物を混合させると、光ファイバの強度
が著しく低下するという問題がある。しかし、他の方法
では安定して温度変化に敏感な（マイクロベンドロスの
大きな）光ファイバを供給することはできないという問
題があった。
の被覆中に固い異物を混合させると、光ファイバの強度
が著しく低下するという問題がある。しかし、他の方法
では安定して温度変化に敏感な（マイクロベンドロスの
大きな）光ファイバを供給することはできないという問
題があった。
【０００５】本発明の目的は前記の問題を解決するため
に、手軽な方法でマイクロベンドロスを大きくすること
ができ、しかも光ファイバの強度が低下しない温度測定
用光ファイバを提供することにある。
に、手軽な方法でマイクロベンドロスを大きくすること
ができ、しかも光ファイバの強度が低下しない温度測定
用光ファイバを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のうち請求項１の
温度測定用光ファイバは、図１（ａ）に示す様に，光フ
ァイバ１のプライマリ層２又はセカンダリ層３内に泡４
を設けてなるものである。
温度測定用光ファイバは、図１（ａ）に示す様に，光フ
ァイバ１のプライマリ層２又はセカンダリ層３内に泡４
を設けてなるものである。
【０００７】本発明のうち請求項２の温度測定用光ファ
イバは図１（ｂ）に示す様に，請求項１の温度測定用光
ファイバのセカンダリ層３の外周に、同セカンダリ層３
よりヤング率の高い被覆層５が施されてなるものであ
る。
イバは図１（ｂ）に示す様に，請求項１の温度測定用光
ファイバのセカンダリ層３の外周に、同セカンダリ層３
よりヤング率の高い被覆層５が施されてなるものであ
る。
【０００８】
【作用】本発明の温度測定用光ファイバでは、プライマ
リ層２もしくはセカンダリ層３中に泡４を多量に混合さ
せてあるので、温度が変化すると高いレベルのマイクロ
ベンドロスが生じる。このマイクロベンドロスと温度関
係を予め確認しておくことで実際の測定時にマイクロベ
ンドロスからその温度を精度よく知ることができる。
リ層２もしくはセカンダリ層３中に泡４を多量に混合さ
せてあるので、温度が変化すると高いレベルのマイクロ
ベンドロスが生じる。このマイクロベンドロスと温度関
係を予め確認しておくことで実際の測定時にマイクロベ
ンドロスからその温度を精度よく知ることができる。
【０００９】
【実施例】図１（ａ）（ｂ）の光ファイバはコア６、そ
の外側のクラッド７、その外側のプライマリ層２、更に
その外側のセカンダリ層３からなり、本発明ではこのプ
ライマリ層２もしくはセカンダリ層３中に泡４を設け
た。泡４の数、大きさ等は、希望するマイクロベンドロ
スに合わせて任意選択する。
の外側のクラッド７、その外側のプライマリ層２、更に
その外側のセカンダリ層３からなり、本発明ではこのプ
ライマリ層２もしくはセカンダリ層３中に泡４を設け
た。泡４の数、大きさ等は、希望するマイクロベンドロ
スに合わせて任意選択する。
【００１０】プライマリ層２もしくはセカンダリ層３中
に泡を混合させる方法は種々考えられるが、例えば光フ
ァイバの線引き工程において、被覆コーティング時に樹
脂粘度を下げる（樹脂温度を上げる）とか、樹脂供給圧
力を下げるとか、線引き速度を上げる等する方法があ
り、これらの方法でプライマリ層２もしくはセカンダリ
層３に容易に一様に泡４を混入させることができる。
に泡を混合させる方法は種々考えられるが、例えば光フ
ァイバの線引き工程において、被覆コーティング時に樹
脂粘度を下げる（樹脂温度を上げる）とか、樹脂供給圧
力を下げるとか、線引き速度を上げる等する方法があ
り、これらの方法でプライマリ層２もしくはセカンダリ
層３に容易に一様に泡４を混入させることができる。
【００１１】
【実験例１】線引き速度４００ｍ／ｍｉｎ、樹脂供給圧
力０．２ｋｇ／ｃｍ2 でセカンダリ径４２０μｍ、プラ
イマリ径２１０μｍの素線を２０ｋｍ線引きした。プラ
イマリ層２、セカンダリ層３の各被覆には紫外線硬化型
樹脂を使用し、それらのヤング率はセカンダリ層３が約
５０ｋｇ／ｍｍ2 、プライマリ層２が約０．４ｋｇ／ｍ
ｍ2 である。これを顕微鏡で観察したところ泡の大きさ
は比較的小さなもの（５〜１０μｍφが多く、４０μｍ
φのものは全体のおよそ１〜２割であった。
力０．２ｋｇ／ｃｍ2 でセカンダリ径４２０μｍ、プラ
イマリ径２１０μｍの素線を２０ｋｍ線引きした。プラ
イマリ層２、セカンダリ層３の各被覆には紫外線硬化型
樹脂を使用し、それらのヤング率はセカンダリ層３が約
５０ｋｇ／ｍｍ2 、プライマリ層２が約０．４ｋｇ／ｍ
ｍ2 である。これを顕微鏡で観察したところ泡の大きさ
は比較的小さなもの（５〜１０μｍφが多く、４０μｍ
φのものは全体のおよそ１〜２割であった。
【００１２】この素線を３ｋｍ毎に３本に切り、束状態
で温度とマイクロベンドロスとの関係を調べた。使用し
た光源は波長１．５５μｍのＬＤであり、パワーメータ
と共に恒温層内で２０℃雰囲気に置いた。この関係を図
２に示す。この場合は３本の光ファイバ全てがほぼ等し
い関係を示しており、また、生じたマイクロベンドロス
は温度特性を精度良く測定できるレベルであることがわ
かる。
で温度とマイクロベンドロスとの関係を調べた。使用し
た光源は波長１．５５μｍのＬＤであり、パワーメータ
と共に恒温層内で２０℃雰囲気に置いた。この関係を図
２に示す。この場合は３本の光ファイバ全てがほぼ等し
い関係を示しており、また、生じたマイクロベンドロス
は温度特性を精度良く測定できるレベルであることがわ
かる。
【００１３】前記の光ファイバを１００ｍｍφで５０ｍ
程巻き、恒温層を用いて温度とマイクロベンドロスの関
係を調べたところ図３に示すようになり、図２の場合と
同等の結果が得られた。
程巻き、恒温層を用いて温度とマイクロベンドロスの関
係を調べたところ図３に示すようになり、図２の場合と
同等の結果が得られた。
【００１４】
【実験例２】実施例１の素線の外周に紫外線硬化型樹脂
製着色剤を着色した。即ち、実施例１の素線のセカンダ
リ層２の外周に着色により被覆層５を設けた。この被覆
層５の厚さは平均１５μｍｔであり、ヤング率は９５ｋ
ｇ／ｍｍ2 である。この被覆層５を設けた素線を３ｋｍ
の束状態にし、この温度測定用光ファイバについて、温
度とマイクロベンドロスとの関係を調べた。この結果、
図４に示したように図３の３倍近いマイクロベンドロス
が生じた。このようにセカンダリ層２の外周に固い被覆
層５を設けることにより、素線状態の３倍の精度を有す
る温度測定用光ファイバを得ることができた。
製着色剤を着色した。即ち、実施例１の素線のセカンダ
リ層２の外周に着色により被覆層５を設けた。この被覆
層５の厚さは平均１５μｍｔであり、ヤング率は９５ｋ
ｇ／ｍｍ2 である。この被覆層５を設けた素線を３ｋｍ
の束状態にし、この温度測定用光ファイバについて、温
度とマイクロベンドロスとの関係を調べた。この結果、
図４に示したように図３の３倍近いマイクロベンドロス
が生じた。このようにセカンダリ層２の外周に固い被覆
層５を設けることにより、素線状態の３倍の精度を有す
る温度測定用光ファイバを得ることができた。
【００１５】
【発明の効果】本発明の温度測定用光ファイバは、強度
的に強く、安定して温度変化に敏感な（マイクロベンド
ロスの大きな）ものとなるため、この温度測定用光ファ
イバを温度測定システムに採用すれば得信頼性の高い温
度測定システムを得ることができる。
的に強く、安定して温度変化に敏感な（マイクロベンド
ロスの大きな）ものとなるため、この温度測定用光ファ
イバを温度測定システムに採用すれば得信頼性の高い温
度測定システムを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】（ａ）は本発明の温度測定用光ファイバの第１
の実施例を示す説明図、（ｂ）は本発明の温度測定用光
ファイバの第２の実施例を示す説明図。
の実施例を示す説明図、（ｂ）は本発明の温度測定用光
ファイバの第２の実施例を示す説明図。
【図２】本発明の第１の実施例の温度測定用光ファイバ
のマイクロベンドロスの測定結果を示す説明図。
のマイクロベンドロスの測定結果を示す説明図。
【図３】本発明の第１の実施例の温度測定用光ファイバ
を恒温層に入れたときのマイクロベンドロスの測定結果
を示す説明図。
を恒温層に入れたときのマイクロベンドロスの測定結果
を示す説明図。
【図４】本発明の第２の実施例の温度測定用光ファイバ
のマイクロベンドロスの測定結果を示す説明図。
のマイクロベンドロスの測定結果を示す説明図。
１ 光ファイバ ２ プライマリ層 ３ セカンダリ層 ４ 泡 ５ 被覆層
Claims (2)
- 【請求項１】 光ファイバ１のプライマリ層２又はセカ
ンダリ層３内に泡４を設けたことを特徴とする温度測定
用光ファイバ。 - 【請求項２】 請求項１の温度測定用光ファイバのセカ
ンダリ層３の外周に、同セカンダリ層３よりヤング率の
高い被覆層５が施されてなることを特徴とする請求項１
の温度測定用光ファイバ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5029810A JPH06221931A (ja) | 1993-01-26 | 1993-01-26 | 温度測定用光ファイバ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5029810A JPH06221931A (ja) | 1993-01-26 | 1993-01-26 | 温度測定用光ファイバ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06221931A true JPH06221931A (ja) | 1994-08-12 |
Family
ID=12286383
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5029810A Pending JPH06221931A (ja) | 1993-01-26 | 1993-01-26 | 温度測定用光ファイバ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06221931A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10185712A (ja) * | 1996-12-24 | 1998-07-14 | Hitachi Cable Ltd | 光ファイバ物理量センサ |
-
1993
- 1993-01-26 JP JP5029810A patent/JPH06221931A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10185712A (ja) * | 1996-12-24 | 1998-07-14 | Hitachi Cable Ltd | 光ファイバ物理量センサ |
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