CN102486708A

CN102486708A - 触摸面板

Info

Publication number: CN102486708A
Application number: CN2011103936005A
Authority: CN
Inventors: 万场则夫; 土井宏治
Original assignee: Hitachi Displays Ltd
Current assignee: Japan Display Central Inc
Priority date: 2010-12-01
Filing date: 2011-12-01
Publication date: 2012-06-06
Anticipated expiration: 2031-12-01
Also published as: JP2012118763A; CN102486708B; TWI465976B; JP5307110B2; US9678598B2; TW201227459A; US20120139868A1

Abstract

本发明提供触摸面板。包括：扫描电路部，对各个扫描电极的每一个，以第1至第n个的顺序在各子检测期间对该扫描电极输入驱动电压；电容检测电路部，在第1至第n个子检测期间输入来自第1至第n个组内的各检测电极的信号，检测第1至第n个组内的各检测电极的电容检测信号；以及控制电路部，控制扫描电路部和电容检测电路部，根据由电容检测电路部检测的多个检测电极的电容检测信号计算电容检测信号变化量，基于多个检测电极的电容检测信号变化量计算触摸位置的坐标，控制电路部基于在连续的子检测期间从至少1条相同的检测电极连续检测的电容检测信号，决定在连续的子检测期间检测出电容检测信号的两个组内的各检测电极的电容检测信号变化量。

Description

触摸面板

技术领域

本发明涉及触摸面板，尤其涉及减少噪声从而能够高精度地检测触碰位置的触摸面板。

背景技术

作为能够进行多点检测的触摸面板，通过排列有多个的检测电极和在与检测电极交叉的方向上排列有多个的扫描电极来检测该交叉部分附近的静电电容的共有(Mutual)方式的静电电容耦合型触摸面板得到普及(参照下面记载的日本特开2005-140612号公报)。

近年来，装载触摸面板的设备为了提高设计性而趋于薄型化，因此触摸面板的检测电极和作为噪声源的显示器的距离变近，容易受到噪声的影响。

近年来，为了实现进一步的薄型化，正在开发在液晶显示器的滤色器基板上形成触摸面板的电极的外挂(on cell)型触摸面板。这时，检测电极和显示器的距离变近，并且无法设置用于减少来自显示器的噪声的屏蔽电极(在检测电极和显示器之间设置)，因此噪声增加。

如共有方式那样检测扫描电极和检测电极的交叉部分附近的静电电容的静电电容检测中，提出了很多用于去除该噪声的方法。例如有以下方法，在检测电极附近从噪声源受到相同程度的影响的地方设置参考电极，基于由参考电极检测出的噪声，从各个检测电极检测出的结果中去除噪声。此外，在不设置参考电极时，提出了根据同时检测的多个电极而计算公共噪声量，并根据该公共噪声量从各个检测电极检测出的结果中去除噪声的方式。

在前述的噪声减少方法中，设置参考电极的方法需要将参考电极设置在显示器的有效显示区域中，因此存在实际的触摸面板操作区域变小的问题。此外，在参考电极的情况下，需要设为即使手指等触碰到参考电极上也不反应而始终只检测噪声的结构，因此必须重新变更触摸面板的结构。

另一方面，在选择一条扫描电极进行驱动，并根据与该扫描电极交叉的多个检测电极的检测结果来计算公共噪声量从而去除噪声的方式中，对多个检测电极通过同时接触等而输入信号时，会把信号变化作为噪声来消除，因此存在无法高精度地检测触摸位置的课题。

此外，在与显示器一体化的情况下，对检测电极产生影响的噪声的强度分布根据显示图案或显示器的结构(驱动电路的配置、驱动方式等)而不同，因此噪声去除处理的效率降低，担心无法高精度地进行检测。

发明内容

本发明为了解决上述以往技术的问题而完成，本发明的目的在于提供一种在触摸面板中能够有效地去除噪声的技术。

本发明的所述以及其他的目的和新的特征会通过本说明书的叙述以及附图而变得清楚。

简单说明在本申请公开的发明中代表性的发明的概要如下。(1)包括：多个扫描电极，设置在第1方向上；多个检测电极，设置在与所述第1方向交叉的第2方向上；扫描电路部，将对所述多个扫描电极中的一个扫描电极输入驱动电压的一个检测期间分割为n个子检测期间，并在1～n的各个子检测期间顺序对所述一个扫描电极输入驱动电压，其中，n≥2；电容检测电路部，将所述多个检测电极分割为1～n的组，使得在1～n的组中相邻的组至少包含1条相同的检测电极，并在所述子检测期间中输入来自与所述子检测期间对应的所述组内的各个检测电极的信号，并检测各个检测电极的电容检测信号；以及控制电路部，根据由所述电容检测电路部检测出的所述电容检测信号来计算电容检测信号变化量，并基于该计算出的所述电容检测信号变化量，计算触摸位置的坐标，所述控制电路部基于在所述连续的子检测期间从所述至少1条相同的检测电极连续检测出的所述电容检测信号，决定在所述连续的子检测期间检测出所述电容检测信号的两个组内的各个检测电极的所述电容检测信号变化量。

(2)在(1)中，在将所述连续的子检测期间设为第k个子检测期间和第(k+1)个子检测期间时，其中，k为1≤k≤n-1，所述扫描电路部按照所述各个扫描电极的每一个，在所述第k个子检测期间和所述第(k+1)个子检测期间，对该扫描电极输入驱动电压，所述电容检测电路部在所述第k个子检测期间输入来自所述第k个组内的各个检测电极的信号，检测所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号，并且在所述第(k+1)个子检测期间输入来自所述第(k+1)个组内的各个检测电极的信号，检测所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号，所述控制电路部包括：第k个公共噪声量计算部件，根据由所述电容检测电路部检测出的所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号，计算所述第k个组的公共噪声量；第k个噪声去除部件，使用通过所述第k个公共噪声量计算部件根据由所述电容检测电路部检测出的所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号而计算出的所述第k个组的公共噪声量，计算所述第k个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号；第k个变化量计算部件，根据由所述第k个噪声去除部件算出的所述第k个组内的各个检测电极的所述噪声去除后的电容检测信号，计算所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量；第(k+1)个公共噪声量计算部件，根据由所述电容检测电路部检测出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号，计算所述第(k+1)个组的公共噪声量；第(k+1)个噪声去除部件，使用通过所述第(k+1)个公共噪声量计算部件根据由所述电容检测电路部检测出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号而计算出的所述第(k+1)个组的公共噪声量，计算所述第(k+1)个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号；第(k+1)个变化量计算部件，根据由所述第(k+1)个噪声去除部件算出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的所述噪声去除后的电容检测信号，计算所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量；以及变化量决定部件，比较由所述第k个变化量计算部件计算出的所述至少1条相同的检测电极的电容检测信号变化量和由所述第(k+1)个变化量计算部件计算出的所述至少1条相同的检测电极的电容检测信号变化量，并基于该比较结果而决定所述第k个以及第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量。

(3)在(1)或者(2)中，所述静电电容方式的触摸面板配置在显示面板上，所述显示面板具有设置在第1方向上的多个视频线。(4)在(1)中，所述静电电容方式的触摸面板配置在显示面板上，所述显示面板具有设置在第1方向上的多个视频线，测定校正量计算期间在所述显示面板上整个面显示相同颜色，所述扫描电路部在所述测定校正量计算期间按照所述各个扫描电极的每一个，以第1个至第n个的顺序在各个子检测期间对该扫描电极输入驱动电压，所述电容检测电路部在所述测定校正量计算期间，在第1个至第n个的子检测期间输入来自所述第1个至第n个组内的各个检测电极的信号，并检测所述第1个至第n个组内的各个检测电极的电容检测信号，所述控制电路部在所述测定校正量计算期间，计算所述各个扫描电极的所述第1个至第n个的子检测期间的每一个并且所述第1个至第n个组内的各个检测电极的每一个的噪声校正量。

(5)在(2)中，所述静电电容方式的触摸面板配置在显示面板上，所述显示面板具有设置在第1方向上的多个视频线，测定校正量计算期间在所述显示面板上整个面显示相同颜色，所述扫描电路部在所述测定校正量计算期间按照所述各个扫描电极的每一个，以第1个至第n个的顺序在各个子检测期间对该扫描电极输入驱动电压，所述电容检测电路部在所述测定校正量计算期间，在第1个至第n个的子检测期间输入来自所述第1个至第n个组内的各个检测电极的信号，并检测所述第1个至第n个组内的各个检测电极的电容检测信号，所述控制电路部包括：第k个检测电极噪声量计算部件，在所述测定校正量计算期间，根据由所述电容检测电路部检测出的所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号，计算所述各个扫描电极的所述第k个子检测期间的每一个并且所述第k个组内的各个检测电极的每一个的噪声量；第k个校正量计算部件，根据由所述第k个检测电极噪声量计算部件计算出的所述各个扫描电极的所述第k个子检测期间的每一个并且所述第k个组内的各个检测电极的每一个的噪声量，计算所述各个扫描电极的所述第k个子检测期间的每一个并且所述第k个组内的各个检测电极的每一个的噪声校正量；第(k+1)个检测电极噪声量计算部件，根据由所述电容检测电路部检测出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号，计算所述各个扫描电极的所述第(k+1)个子检测期间的每一个并且所述第(k+1)个组内的各个检测电极的每一个的噪声量；以及第(k+1)个校正量计算部件，根据由所述第(k+1)个检测电极噪声量计算部件计算出的所述各个扫描电极的所述第(k+1)个子检测期间的每一个并且所述第(k+1)个组内的各个检测电极的每一个的噪声量，计算所述各个扫描电极的所述第(k+1)个子检测期间的每一个并且所述第(k+1)个组内的各个检测电极的每一个的噪声校正量，在所述第k个噪声去除部件中，根据由所述电容检测电路部检测出的所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号，利用所述第k个组的公共噪声量和由所述第k个校正量计算部件计算出的所述各个扫描电极的所述第k个子检测期间的每一个并且所述第k个组内的各个检测电极的每一个的噪声校正量，计算所述第k个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号，在所述第(k+1)个公共噪声量计算部件中，根据由所述电容检测电路部检测出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号，利用所述第(k+1)个组的公共噪声量和由所述第(k+1)个校正量计算部件计算出的所述各个扫描电极的所述第(k+1)个子检测期间的每一个并且所述第(k+1)个组内的各个检测电极的每一个的噪声校正量，计算所述第(k+1)个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号。

简单说明通过在本申请中公开的发明中的代表性的发明所得到的效果如下。

根据本发明，在静电电容方式的触摸面板中，能够有效地去除噪声。

附图说明

图1A是表示本发明的实施例1的附带触摸面板的显示器的一例的截面结构的截面图。

图1B是表示本发明的实施例1的附带触摸面板的显示器的另一例的截面结构的截面图。

图2是用于说明本发明的实施例1的触摸面板的电极形状的平面图。

图3是本发明的实施例1的触摸面板的控制电路的方框图。

图4A是用于说明本发明的实施例1的触摸面板的动作的一例的定时图。

图4B是用于说明本发明的实施例1的触摸面板的动作的另一例的定时图。

图5是用于说明本发明的实施例1的触摸面板的控制电路的动作的流程图。

图6是说明本发明的实施例1的触摸面板的接触位置的示意图。

图7是在本发明的实施例1的触摸面板中有图6中图示的输入的情况下的、X0～X5的检测电极中检测出的噪声处理前的电容检测信号的波形图。

图8是在本发明的实施例1的触摸面板中有图6中图示的输入的情况下，以图5所示的流程图去除了噪声之后的、X0～X5的检测电极中检测出的噪声处理后的电容检测信号的波形图。

图9是在本发明的实施例1的触摸面板中有图6中图示的输入的情况下，通过图5所示的流程图算出的信号检测值的波形图。

图10是在本发明的实施例1的触摸面板中有图6中图示的输入的情况下的信号检测值的分布图。

图11是本发明的实施例2的显示器的平面图。

图12是用于说明本发明的实施例2的触摸面板的电极形状的平面图。

图13是用于说明本发明的实施例2的触摸面板的动作的定时图。

图14是本发明的实施例2的触摸面板的动作状态图。

图15是表示本发明的实施例2的触摸面板的噪声量的分布结果的图。

图16是表示本发明的实施例2的触摸面板的噪声量校正值的分布结果的图。

图17是说明本发明的实施例2的触摸面板的控制电路的动作的流程图。

图18是表示本发明的实施例2的显示器的显示图案的一例的图。

图19是表示通过点反转驱动法将图18所示的显示图案显示到液晶显示器的情况下，对图11所示的D0～Dn的视频线施加的视频电压的波形和图12所示的X0～X7的检测电极中产生的噪声波形的波形图。

图20是表示对图11所示的D0～Dn的视频线施加的视频电压在驱动电路(驱动器)近端处的电压波形和驱动电路远端处的电压波形、以及图12所示的X0～X7的检测电极中产生的噪声波形的波形图。

标号说明

10 控制电路

11 控制电路部

12 扫描电路部

13 电容检测电路部

14 控制信号

15 电容检测信号

TSUB 触摸面板基板

TDE 触摸面板电极

SUB1 TFT基板

SUB2 滤色器基板

PSUB 保护板

LCD 液晶显示器

PX 像素

BL 背光

LC 液晶层

POL1 下偏光板

POL2 上偏光板

Y0～Y7 扫描电极

X0～X5 检测电极

D0～Dn 视频线

G0～Gn 扫描线

PR1 电容检测电路部校正处理期间

PR2 噪声量测定校正量计算期间

PR3 通常检测期间

TA 检测周期

TB1 检测期间

TG1 扫描期间

T1，T2，T3子检测期间

SW 开关电路

具体实施方式

以下，参照附图详细说明本发明的实施例。

另外，在用于说明实施例的所有图中，对具有相同功能的部分附加相同标号，并省略其重复的说明。此外，以下的实施例并非用于限定解释本发明的权利要求书。

[实施例1]

图1A和图1B是表示本发明的实施例的搭载了触摸面板的附带触摸面板的显示器的截面图。

图1A表示将触摸面板用电极形成在与玻璃基板或PET薄膜等显示器不同的基板(TSUB)上，并将该触摸面板基板(TSUB)与液晶显示面板进行组合的结构。

图1B表示将触摸面板电极TDE形成在液晶显示面板的显示面侧的滤色器基板(SUB2)上的、显示器一体型触摸面板(外挂型触摸面板)的结构。本发明能够应用于图1A、图1B的任意结构中。

另外，在图1A、图1B中，液晶显示面板由背光(BL)、TFT基板(SUB1)、液晶层(LC)、滤色器基板(SUB2)、在TFT基板(SUB1)上设置的下偏光板(POL1)、以及在滤色器基板(SUB2)上形成的上偏光板(POL2)构成。

此外，在图1A、图1B中，PSUB为保护板。

图2是用于说明本发明的实施例1的静电电容方式的触摸面板的电极形状的平面图。

在本实施例中，为了与共有(Mutual)方式相对应，触摸面板电极由用于对每一行输入驱动电压的扫描电极(Y0～Y7)、以及与扫描电极交叉配置且用于检测交叉部分附近的电容的检测电极(X0～X5)构成。另外，在图2中，13是电容检测电路部，SW是开关电路。开关电路(SW)在检测电极没有被选择时，对该没有被选择的检测电极输入规定的电压(这里为接地电压)。

图3是本发明的实施例1的触摸面板的控制电路的方框图。

本实施例的触摸面板的控制电路10由驱动Y0～Y7的扫描电极的扫描电路部12、检测来自X0～X5的检测电极的信号的电容检测电路部13、以及控制电路部11构成，其中，控制电路部11基于控制信号14来控制扫描电路部12和电容检测电路部13的动作，并且根据来自电容检测电路部13的电容检测信号15来计算触摸面板的触摸位置(输入坐标)，从而输出到上位系统，或者，接受来自上位系统的信号并控制各个电路的动作。

图4A、图4B是用于说明本发明的实施例1的触摸面板的动作的定时图。

例如，在具有图2所示的电极形状的静电电容方式的触摸面板的以往的驱动方法中，在检测周期TA内，对Y0～Y7的扫描电极依次在TB的一个检测期间输入驱动电压，并基于X0～X5的检测电极中检测出的电容检测信号，检测触摸面板上的触摸位置。

在本实施例中，将一个检测期间(TB)分割为n(n≥2)个子检测期间(T1、T2)并以时分割方式进行检测。这时，将X0～X5的检测电极分割为n个组，使得在连续的子检测期间，从至少1条相同的检测电极(在图2中为X2的检测电极)连续地检测出电容检测信号。

在图4A的情况下，将X0～X5的检测电极分为X0～X2的检测电极和X2～X5的检测电极的两个组，在第1个子检测期间(T1)的检测和第2个子检测期间(T2)的检测中，在X2的检测电极中公共地进行检测。

这里，检测电极的分割数目是任意的。此外，分割方法也是任意的，也可以如图4B那样分割为3个检测电极的组。

在图4B的情况下，将X0～X5的检测电极分为(X0，X2，X4)的检测电极、(X0，X3，X5)的检测电极、(X1，X3，X5)的检测电极的3个组，在第1个子检测期间T1的检测和第2个子检测期间T2的检测中，在X0的检测电极中公共地进行检测，在第2个子检测期间T2的检测和第3个子检测期间T3的检测中，在(X3，X5)的检测电极中公共地进行检测。

此外，如图2所示，在子检测期间不是检测对象的检测电极通过开关元件SW设为接地电位，因此在图4B的情况下，成为检测对象的检测电极的周边的检测电极成为固定电位，因此不易受到来自显示器的噪声影响，还能够期待检测精度提高的效果。

图5是用于说明本实施例的触摸面板的控制电路10的动作的流程图。以下，使用图5说明本实施例的触摸面板的控制电路的动作。

另外，图5的处理由图3的控制电路部11执行。此外，图5的处理中作为前提的触摸面板为图2所示的触摸面板。此外，在Yn的扫描电极的一个检测期间内的、第1个子检测期间T1和第2个子检测期间T2中的检测结束之后，执行图5的处理。

步骤101的处理1

计算在Yn的扫描电极的第1个子检测期间T1中检测出的电容检测信号S_X0(Yn_1)、S_X1(Yn_1)、S_X2(Yn_1)中的第1个子检测期间T1的公共噪声量NS_CMP1。

步骤102的处理2

计算利用S_X0(Yn_1)、S_X1(Yn_1)、S_X2(Yn_1)的公共噪声量NS_CMP1去除了噪声的噪声去除后的电容检测信号S_X0(Yn_1)’、S_X1(Yn_1)’、S_X2(Yn_1)’。

步骤103的处理3

根据噪声去除后的电容检测信号，计算在Yn的扫描电极的第1个子检测期间T1中检测出的、(X0，X1，X2)的检测电极的电容检测信号变化量ΔS_X0(Yn_1)、ΔS_X1(Yn_1)、ΔS_X2(Yn_1)。

步骤104的处理4

计算在Yn的扫描电极的第2个子检测期间T2中检测出的电容检测信号S_X2(Yn_2)、S_X3(Yn_2)、S_X4(Yn_2)、S_X5(Yn_2)的第2个子检测期间T2的公共噪声量NS_CMP2。

步骤105的处理5

计算利用S_X2(Yn_2)、S_X3(Yn_2)、S_X4(Yn_2)、S_X5(Yn_2)的公共噪声量NS_CMP2去除了噪声的噪声去除后的电容检测信号S_X2(Yn_2)’、S_X3(Yn_2)’、S_X4(Yn_2)’、S_X5(Yn_2)’。

步骤106的处理6

根据噪声去除后的电容检测信号，计算在Yn的扫描电极的第2个子检测期间T2中检测出的、(X2，X3，X4，X5)的检测电极的电容检测信号变化量ΔS_X2(Yn_2)、ΔS_X3(Yn_2)、ΔS_X4(Yn_2)、ΔS_X5(Yn_2)。

步骤107的判断1

判断X2的检测电极的电容检测信号变化量的差是否小于某一阈值ERR_TH，即，是否满足|ΔS_X2(Yn_2)-ΔS_X2(Yn_1)|＜Err_Th。

步骤108的处理7

在步骤107的判断1中的判断结果为“是”的情况下，采用表1所示的情况(case)1，作为Yn的扫描电极中的X0～X5的检测电极的信号检测值(SC_X0(Y1)，SC_X1(Y1)，SC_X2(Y1)，SC_X3(Y1)，SC_X4(Y1)，SC_X5(Y1))，采用ΔS_X0(Yn_1)、ΔS_X1(Yn_1)、ΔS_X2(Yn_1)、ΔS_X3(Yn_2)、ΔS_X4(Yn_2)、ΔS_X5(Yn_2)。另外，也可以采用ΔS_X2(Yn_2)作为X2的检测电极的信号检测值。

[表1]

信号检测值	情况1	情况2	情况3
				SC_X0(Yn)	ΔS_X0(Yn_1)	ΔS_X0(Yn_1)+ΔS_X2(Yn_2)	ΔS_X0(Yn_1)
SC_X1(Yn)	ΔS_X1(Yn_1)	ΔS_X1(Yn_1)+ΔS_X2(Yn_2)	ΔS_X1(Yn_1)
				SC_X2(Yn)	ΔS_X2(Yn_1)*	ΔS_X2(Yn_2)	ΔS_X2(Yn_1)
SC_X3(Yn)	ΔS_X3(Yn_2)	ΔS_X3(Yn_2)	ΔS_X3(Yn_2)+ΔS_X2(Yn_1)
				SC_X4(Yn)	ΔS_X4(Yn_2)	ΔS_X4(Yn_2)	ΔS_X4(Yn_2)+ΔS_X2(Yn_1)
SC_X5(Yn)	ΔS_X5(Yn_2)	ΔS_X5(Yn_2)	ΔS_X5(Yn_2)+ΔS_X2(Yn_1)

*也可以是ΔS_X2(Yn_2)

步骤109的判断2

在步骤107的判断1中的判断结果为“否”的情况下，判断是否满足ΔS_X2(Yn_2)＞ΔS_X2(Yn_1)。

步骤110的处理8

在步骤109的判断2中的判断结果为“是”的情况下，采用表1所示的情况2，作为Yn的扫描电极中的X0～X5的检测电极的信号检测值，采用ΔS_X0(Yn_1)+ΔS_X2(Yn_2)、ΔS_X1(Yn_1)+ΔS_X2(Yn_2)、ΔS_X2(Yn_2)、ΔS_X3(Yn_2)、ΔS_X4(Yn_2)、ΔS_X5(Yn_2)。

步骤111的处理9

在步骤109的判断2中的判断结果为“否”的情况下，采用表1所示的情况3，作为Yn的扫描电极中的X0～X5的检测电极的信号检测值，采用ΔS_X0(Yn_1)、ΔS_X1(Yn_1)、ΔS_X2(Yn_1)、ΔS_X3(Yn_2)+ΔS_X2(Yn_1)、ΔS_X4(Yn_2)+ΔS_X2(Yn_1)、ΔS_X5(Yn_2)+ΔS_X2(Yn_1)。

另外，在步骤101的处理1和步骤104的处理4中，公共噪声量(NS_CMP1，NS_CMP2)例如可以根据同时检测出的检测电极的电容检测信号的变动量的平均来计算，也可以设为最小的变动值，进而也可以是中间值。

此外，在步骤103的处理3和步骤105的处理5中，将没有触碰触摸面板时的电容检测信号作为基准值来计算电容检测信号变化量。基准值也可以使用没有触摸的期间的电容检测信号的平均值。

图6是说明本实施例的触摸面板的接触位置的示意图。在图6中图示了在图2所示的Y1的扫描电极与从X0到X2的检测电极的三个交叉点(图6的TP)同时有触摸输入的情况。

图7是在本实施例的触摸面板中有图6中图示的输入的情况下的、X0～X5的检测电极中检测出的噪声处理前的电容检测信号S_X0(Yn_1)，S_X1(Yn_1)，S_X2(Yn_1)，S_X2(Yn_2)，S_X3(Yn_2)，S_X4(Yn_2)，S_X5(Yn_2)的波形图。另外，在图7、后述的图8、图9中，Ta表示没有触碰触摸面板时的子检测期间，Tb表示触碰了触摸面板时的子检测期间。

图8是在本实施例的触摸面板中有图6中图示的输入的情况下，以图5所示的流程图去除了噪声之后的、X0～X5的检测电极中检测出的噪声处理后的电容检测信号S_X0(Yn_1)’，S_X1(Yn_1)’，S_X2(Yn_1)’，S_X2(Yn_2)’，S_X3(Yn_2)’，S_X4(Yn_2)’，S_X5(Yn_2)’的波形图。

在第1个子检测期间T1中，对从X0到X2的检测电极同时有输入，因此变化部分作为公共噪声量而被处理，在噪声去除后的电容检测信号中基于触摸输入的信号增加(减少)消失。另一方面，在第2个子检测期间T2中的X2的检测电极中，由于其他的X3～X5的检测电极中没有输入信号，因此基于触摸的信号变化量保留在噪声去除后的电容检测信号中。

图9是在本发明的实施例1的触摸面板中有图6中图示的输入的情况下，通过图5所示的流程图算出的信号检测值ΔS_X0(Yn_1)+ΔS_X2(Yn_2)、ΔS_X1(Yn_1)+ΔS_X2(Yn_2)、ΔS_X2(Yn_2)、ΔS_X3(Yn_2)、ΔS_X4(Yn_2)、ΔS_X5(Yn_2)的波形图。

在图6的情况下，X2的检测电极中检测出的电容检测信号变化量在第2个子检测期间中的结果更大，因此基于表1的情况2来计算信号检测值。

图10是在本实施例的触摸面板中有图6中图示的输入的情况下，对从Y0到Y7的扫描电极依次进行了图5所示的流程图时的信号检测值的分布图。如图10所示，在本实施例中，即使在如图6所示那样同时有多点输入的情况下，也能够去除噪声而高精度地检测出位置。

[实施例2]

图11是本发明的实施例2的显示器的平面图。图11是图1A或者图1B所示的显示器的平面图。在图11中，LCD是显示器，G0～Gm是扫描线，D0～Dn是视频线，PX是像素。

图12是用于说明本发明的实施例2的触摸面板的电极形状的平面图。图12是表示图1A或者图1B所示的触摸面板的检测电极(X0～X7)和扫描电极(Y0～Y5)的平面图。另外，在图12中，省略缓冲电路(BA)和开关电路(SW)的图示。

在本实施例中，作为第1要点(point)，交叉配置显示器(LCD)的视频线(D0～Dn)和触摸面板的检测电极(X0～X7)。

图13是用于说明本发明的实施例2的触摸面板的动作的定时图。图13是说明图12所示的触摸面板的动作的定时图。检测动作与前述的实施例1相同，因此省略。

本实施例的第2要点在于，测定在显示器上显示了整个面均匀的显示图案(例如，整个面白色或者整个面黑色)的情况下的噪声分布，并根据该分布结果来计算噪声校正量。

由此，通过减少根据显示图案或显示器的驱动电路配置、驱动方法等而变化的噪声分布的影响，从而能够提高噪声去除效率，并且能够高精度地检测信号。

图14是本发明的实施例2的触摸面板的动作状态图。

在本实施例中，在触摸面板启动(图14的ST1)之后，设置用于进行图3所示的电容检测电路部13的校正或者初始化的期间(PR1；电容检测电路部校正处理期间)。

并且，在本实施例中，电容检测电路部13的校正或者初始化结束，且通常的电容检测开始之前的期间，设置用于在显示器上显示了整个面均匀的显示图案的状态下测定噪声量分布的期间(PR2；噪声量测定校正量计算期间)。该噪声量测定校正量计算期间PR2可以是启动时，也可以在通常检测开始(图14的ST2)之后开始的通常检测期间PR3结束之后进行，不特别规定时间。

噪声量测定校正量计算期间PR2在显示器上显示整个面相同的显示图案。例如是全白或全黑等的显示图案。噪声量可以根据在各个扫描电极的各个子检测期间的每一个并且对各个检测电极的每一个检测了一定期间的电容检测信号的情况下的、最大值(Max)、最小值(Min)来计算，也可以根据方差来计算。

图15是表示本发明的实施例2的触摸面板的噪声量的分布结果的图。图15是表示图12所示的电极形状(Y0～Y5的扫描电极、X0～X7的检测电极)的情况下，在噪声量测定校正量计算期间PR2测定的噪声量INI_NS的测定结果(分布)的图。

图16是表示本发明的实施例2的触摸面板的噪声量校正值的分布结果的图。图16表示根据图15的噪声量的分布而计算的噪声量校正值AJ_NS。噪声量校正值AJ_NS例如根据AJ_NS＝A×噪声量INI_NS(这里，A为比例系数)来计算，以便与噪声量INI_NS成比例。

图17是说明本发明的实施例2的触摸面板的控制电路的动作的流程图。以下，使用图17说明本实施例的触摸面板的控制电路的动作。

另外，图17的处理由图3的控制电路部11执行。此外，图17的处理中作为前提的触摸面板是图12所示的触摸面板。此外，在Yn的扫描电极的一个检测期间TB内的、第1个子检测期间T1和第2个子检测期间T2中的检测结束之后，执行图17的处理。

步骤121的处理11

步骤122的处理12

计算利用S_X0(Yn_1)、S_X1(Yn_1)、S_X2(Yn_1)的公共噪声量NS_CMP1和噪声量校正值AJ_NS而去除了噪声的噪声去除后的电容检测信号S_X0(Yn 1_)’、S_X1(Yn_1)’、S_X2(Yn_1)’。

步骤123的处理13

根据噪声去除后的电容检测信号，计算在Yn的扫描电极的第1个子检测期间T1中检测出的(X0，X1，X2)的检测电极的电容检测信号变化量ΔS_X0(Yn_1)、ΔS_X1(Yn_1)、ΔS_X2(Yn_1)。

步骤124的处理14

步骤125的处理15

计算利用S_X2(Yn_2)、S_X3(Yn_2)、S_X4(Yn_2)、S_X5(Yn_2)的公共噪声量NS_CMP2和噪声量校正值AJ_NS而去除了噪声的噪声去除后的电容检测信号S_X2(Yn_2)’、S_X3(Yn_2)’、S_X4(Yn_2)’、S_X5(Yn_2)’。

步骤126的处理16

步骤127的判断11

步骤128的处理17

在步骤127的判断11中的判断结果为“是”的情况下，采用表1所示的情况1，作为Yn的扫描电极中的X0～X5的检测电极的信号检测值(SC_X0(Y1)，SC_X1(Y1)，SC_X2(Y1)，SC_X3(Y1)，SC_X4(Y1)，SC_X5(Y1))，采用ΔS_X0(Yn_1)、ΔS_X1(Yn_1)、ΔS_X2(Yn_1)、ΔS_X3(Yn_2)、ΔS_X4(Yn_2)、ΔS_X5(Yn_2)。另外，也可以采用ΔS_X2(Yn_2)作为X2的检测电极的信号检测值。

步骤129的判断12

在步骤127的判断11中的判断结果为“否”的情况下，判断是否满足ΔS_X2(Yn_2)＞ΔS_X2(Yn_1)。

步骤130的处理18

在步骤129的判断12中的判断结果为“是”的情况下，采用表1所示的情况2，作为Yn的扫描电极中的X0～X5的检测电极的信号检测值，采用ΔS_X0(Yn_1)+ΔS_X2(Yn_2)、ΔS_X1(Yn_1)+ΔS_X2(Yn_2)、ΔS_X2(Yn_2)、ΔS_X3(Yn_2)、ΔS_X4(Yn_2)、ΔS_X5(Yn_2)。

步骤131的处理19

在步骤129的判断12中的判断结果为“否”的情况下，采用表1所示的情况3，作为Yn的扫描电极中的X0～X5的检测电极的信号检测值，采用ΔS_X0(Yn_1)、ΔS_X1(Yn_1)、ΔS_X2(Yn_1)、ΔS_X3(Yn_2)+ΔS_X2(Yn_1)、ΔS_X4(Yn_2)+ΔS_X2(Yn_1)、ΔS_X5(Yn_2)+ΔS_X2(Yn_1)。

另外，在处理11和处理14中，公共噪声量(NS_CMP1，NS_CMP2)例如可以根据同时检测出的检测电极的电容检测信号变化量的平均来计算，例如可以设为最小的变动值，进而也可以是中间值。

此外，在处理13和处理15中，将没有触碰触摸面板时的电容检测信号变化量作为基准值来计算电容检测信号变化量。基准值也可以使用没有触摸的期间的电容检测信号的平均值。

在图17所示的流程图中，与前述的实施例1的图5所示的流程图的不同之处在于，处理12和处理15的噪声去除的部分。在该部分中，根据在处理11或者处理14中算出的公共噪声量和图16所示的噪声量校正值来计算实际用于去除噪声的值。例如，通过对公共噪声量乘以图16所示的噪声量校正值而求得的量，进行噪声去除。

图18至图20是用于说明本发明的实施例2中的效果的图。

图18是表示本发明的实施例2的显示器的显示图案的一例的图，是表示显示根据画面的位置而不同的情况下的显示图案例的图。这里，左侧是全黑显示，右侧是白黑的纵向条纹。

图19是表示将图18所示的显示图案显示到液晶显示器的情况下对视频线施加的视频电压波形和图12所示的触摸面板的检测电极中产生的噪声波形的图。

图19是表示通过点反转驱动法将图18所示的显示图案显示到液晶显示器的情况下，对图11所示的D0～Dn的视频线施加的视频电压的波形和图12所示的X0～X7的检测电极中产生的噪声波形的波形图。另外，在图19和后述的图20中，TG表示液晶显示器的一个扫描期间。

如图18所示，即使在显示局部不同(即，对D0～Dn的视频线施加的视频电压不同)的情况下，也由于触摸面板的X0～X7的检测电极与显示器的全部视频线交叉，因此来自显示器的噪声影响被平均化。因此，在利用了本实施例的公共噪声量的噪声去除方法中能够有效地去除噪声，并且能够高精度地检测到位置。

在图20的D1～D3的视频线的电压波形图中，实线表示驱动电路(驱动器)近端处的电压波形，虚线表示驱动电路远端处的电压波形。

在驱动电路(驱动器)近端处，由于电阻电容产生的负荷小，因此视频线上的波形陡峭。从而，因耦合而产生的成为噪声原因的电压变动变大，因此噪声量变大。另一方面，在驱动电路(驱动器)远端处，由于电阻电容产生的负荷大因而波形变钝，视频线上的电压变动变小，因而噪声量变小。

即，X0的检测电极中产生的噪声电压(V(X0))的波峰值(Vns_x0)比X7的检测电极中产生的噪声电压(V(X7))的波峰值(Vns_x7)还要大。

这样，即使在因显示器的驱动结构而产生噪声分布的情况下，通过如本实施例那样测定噪声分布，从而也能够提高利用了公共噪声量的噪声去除效率，能够高精度地检测到位置。

如以上说明的那样，在本实施例中，利用了公共噪声量的噪声减少效果提高且能够进行高精度的检测，因此在分离性触摸面板(将触摸面板形成在其他基板上)的情况下能够省去屏蔽电极。

此外，即使在将触摸面板基板薄型化时，也能够减少噪声的影响，并且能够进行高精度的检测。进而，即使在成为外挂型触摸面板，没有屏蔽电极且触摸面板的电极和显示器的驱动电极的距离近的情况下，也能够有效地去除噪声，并且能够进行高精度的位置检测。

以上，基于所述实施例具体说明了由本发明人们完成的发明，但本发明不限于所述实施例，能够在不脱离其宗旨的范围内进行各种变更是不言而喻的。

尽管在这里描述了本发明的目前被认为的特定实施例，但能够有各种变形例是不言而喻的，并且，所附的权利要求书意图覆盖在本发明的宗旨的范围的所有的这种变形例。

Claims

1.一种静电电容方式的触摸面板，其特征在于，包括：

多个扫描电极，设置在第1方向上；

多个检测电极，设置在与所述第1方向交叉的第2方向上；

扫描电路部，将对所述多个扫描电极中的一个扫描电极输入驱动电压的一个检测期间分割为n个子检测期间，并在1～n的各个子检测期间按顺序对所述一个扫描电极输入驱动电压，其中，n≥2；

电容检测电路部，将所述多个检测电极分割为1～n的组，使得在1～n的组中相邻的组至少包含1条相同的检测电极，并在所述子检测期间中输入来自与所述子检测期间对应的所述组内的各个检测电极的信号，并检测各个检测电极的电容检测信号；以及

控制电路部，根据由所述电容检测电路部检测出的所述电容检测信号来计算电容检测信号变化量，并基于该计算出的所述电容检测信号变化量，计算触摸位置的坐标，

所述控制电路部基于在所述连续的子检测期间从所述至少1条相同的检测电极连续检测出的所述电容检测信号，决定在所述连续的子检测期间检测出所述电容检测信号的两个组内的各个检测电极的所述电容检测信号变化量。

2.如权利要求1所述的触摸面板，其特征在于，

在将所述连续的子检测期间设为第k个子检测期间和第(k+1)个子检测期间时，其中，k为1≤k≤n-1，

所述扫描电路部按照所述各个扫描电极的每一个，在所述第k个子检测期间和所述第(k+1)个子检测期间，对该扫描电极输入驱动电压，

所述电容检测电路部在所述第k个子检测期间输入来自所述第k个组内的各个检测电极的信号，检测所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号，并且在所述第(k+1)个子检测期间输入来自所述第(k+1)个组内的各个检测电极的信号，检测所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号，

所述控制电路部包括：

第k个公共噪声量计算部件，根据由所述电容检测电路部检测出的所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号，计算所述第k个组的公共噪声量；

第k个噪声去除部件，使用通过所述第k个公共噪声量计算部件根据由所述电容检测电路部检测出的所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号而计算出的所述第k个组的公共噪声量，计算所述第k个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号；

第k个变化量计算部件，根据由所述第k个噪声去除部件计算出的所述第k个组内的各个检测电极的所述噪声去除后的电容检测信号，计算所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量；

第(k+1)个公共噪声量计算部件，根据由所述电容检测电路部检测出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号，计算所述第(k+1)个组的公共噪声量；

第(k+1)个噪声去除部件，使用通过所述第(k+1)个公共噪声量计算部件根据由所述电容检测电路部检测出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号而计算出的所述第(k+1)个组的公共噪声量，计算所述第(k+1)个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号；

第(k+1)个变化量计算部件，根据由所述第(k+1)个噪声去除部件计算出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的所述噪声去除后的电容检测信号，计算所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量；以及

变化量决定部件，比较由所述第k个变化量计算部件计算出的所述至少1条相同的检测电极的电容检测信号变化量和由所述第(k+1)个变化量计算部件计算出的所述至少1条相同的检测电极的电容检测信号变化量，并基于该比较结果而决定所述第k个以及第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量。

3.如权利要求2所述的触摸面板，其特征在于，

所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量是以没有触碰所述触摸面板时的、所述第k个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号为基准值而计算，

所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量是以没有触碰所述触摸面板时的、所述第(k+1)个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号为基准值而计算。

4.如权利要求2所述的触摸面板，其特征在于，

所述第k个组的公共噪声量是所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号的最小值或平均值，或者中间值，

所述第(k+1)个组的公共噪声量是所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号的最小值或平均值，或者中间值。

5.如权利要求2所述的触摸面板，其特征在于，

所述第k个噪声去除部件从由所述电容检测电路部检测出的所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号中去除由所述第k个公共噪声量计算部件计算出的所述第k个组的公共噪声量，计算所述第k个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号，

所述第(k+1)个噪声去除部件从由所述电容检测电路部检测出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号中去除由所述第(k+1)个公共噪声量计算部件计算出的所述第(k+1)个组的公共噪声量，计算所述第(k+1)个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号。

6.如权利要求2所述的触摸面板，其特征在于，

在将由所述第k个变化量计算部件计算出的所述至少1条相同的检测电极的电容检测信号变化量设为A，将由所述第(k+1)个变化量计算部件计算出的所述至少1条相同的检测电极的电容检测信号变化量设为B，将Th设为规定的阈值时，

所述变化量决定部件，在满足|A-B|≤Th时，对所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量以及所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量不进行校正，

在满足|A-B|＞Th时，校正所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量或者所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量。

7.如权利要求6所述的触摸面板，其特征在于，

所述变化量决定部件，在满足A＞B时，不校正所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量，而在所述第(k+1)个组内，丢弃所述至少1条相同的检测电极的电容检测信号变化量，并且对所述至少1条相同的检测电极以外的各个检测电极的电容检测信号变化量加上A的值，

在满足A＜B时，不校正所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量，而在所述第k个组内，丢弃所述至少1条相同的检测电极的电容检测信号变化量，并且对所述至少1条相同的检测电极以外的各个检测电极的电容检测信号变化量加上B的值。

8.如权利要求1所述的触摸面板，其特征在于，

所述静电电容方式的触摸面板配置在显示面板上，

所述显示面板具有设置在第1方向上的多个视频线。

9.如权利要求1所述的触摸面板，其特征在于，

所述静电电容方式的触摸面板配置在显示面板上，

所述显示面板具有设置在第1方向上的多个视频线，

测定校正量计算期间在所述显示面板上整个面显示相同颜色，

所述扫描电路部在所述测定校正量计算期间按照所述各个扫描电极的每一个，以第1个至第n个的顺序在各个子检测期间对该扫描电极输入驱动电压，

所述电容检测电路部在所述测定校正量计算期间，在第1个至第n个的子检测期间输入来自所述第1个至第n个组内的各个检测电极的信号，并检测所述第1个至第n个组内的各个检测电极的电容检测信号，

所述控制电路部在所述测定校正量计算期间，计算所述各个扫描电极的所述第1个至第n个的子检测期间的每一个并且所述第1个至第n个组内的各个检测电极的每一个的噪声校正量。

10.如权利要求2所述的触摸面板，其特征在于，

所述静电电容方式的触摸面板配置在显示面板上，

所述显示面板具有设置在第1方向上的多个视频线，

所述控制电路部包括：

第k个检测电极噪声量计算部件，在所述测定校正量计算期间，根据由所述电容检测电路部检测出的所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号，计算所述各个扫描电极的所述第k个子检测期间的每一个并且所述第k个组内的各个检测电极的每一个的噪声量；

第k个校正量计算部件，根据由所述第k个检测电极噪声量计算部件计算出的所述各个扫描电极的所述第k个子检测期间的每一个并且所述第k个组内的各个检测电极的每一个的噪声量，计算所述各个扫描电极的所述第k个子检测期间的每一个并且所述第k个组内的各个检测电极的每一个的噪声校正量；

第(k+1)个检测电极噪声量计算部件，根据由所述电容检测电路部检测出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号，计算所述各个扫描电极的所述第(k+1)个子检测期间的每一个并且所述第(k+1)个组内的各个检测电极的每一个的噪声量；以及

第(k+1)个校正量计算部件，根据由所述第(k+1)个检测电极噪声量计算部件计算出的所述各个扫描电极的所述第(k+1)个子检测期间的每一个并且所述第(k+1)个组内的各个检测电极的每一个的噪声量，计算所述各个扫描电极的所述第(k+1)个子检测期间的每一个并且所述第(k+1)个组内的各个检测电极的每一个的噪声校正量，

在所述第k个噪声去除部件中，根据由所述电容检测电路部检测出的所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号，利用所述第k个组的公共噪声量和由所述第k个校正量计算部件计算出的所述各个扫描电极的所述第k个子检测期间的每一个并且所述第k个组内的各个检测电极的每一个的噪声校正量，计算所述第k个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号，

在所述第(k+1)个公共噪声量计算部件中，根据由所述电容检测电路部检测出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号，利用所述第(k+1)个组的公共噪声量和由所述第(k+1)个校正量计算部件计算出的所述各个扫描电极的所述第(k+1)个子检测期间的每一个并且所述第(k+1)个组内的各个检测电极的每一个的噪声校正量，计算所述第(k+1)个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号。

11.如权利要求10所述的触摸面板，其特征在于，

对所述各个扫描电极的所述第k个子检测期间的每一个并且所述第k个组内的各个检测电极的每一个计算出的噪声量是，由所述电容检测电路部检测出的从所述第k个组内的各个检测电极检测出的电容检测信号的最大值、最小值或者平均值，

对所述各个扫描电极的所述第(k+1)个子检测期间的每一个并且所述第(k+1)个组内的各个检测电极的每一个计算出的噪声量是，从所述第(k+1)个组内的各个检测电极检测出的电容检测信号的最大值、最小值或者平均值。

12.如权利要求10所述的触摸面板，其特征在于，

对所述各个扫描电极的所述第k个子检测期间的每一个并且所述第k个组内的各个检测电极的每一个计算出的噪声校正量是，与对所述各个扫描电极的所述第k个子检测期间的每一个并且所述第k个组内的各个检测电极的每一个计算出的噪声量成比例的值，

对所述各个扫描电极的所述第(k+1)个子检测期间的每一个并且所述第(k+1)个组内的各个检测电极的每一个计算出的噪声校正量是，与对所述各个扫描电极的所述第(k+1)个子检测期间的每一个并且所述第(k+1)个组内的各个检测电极的每一个计算出的噪声量成比例的值。

13.如权利要求10所述的触摸面板，其特征在于，

在所述第k个变化量计算部件中，从由所述电容检测电路部检测出的所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号，去除所述第k个组的公共噪声量和由所述第k个校正量计算部件计算出的所述各个扫描电极的所述第k个子检测期间的每一个并且所述第k个组内的各个检测电极的每一个的噪声校正量，计算所述第k个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号，

在所述第(k+1)个变化量计算部件中，从由所述电容检测电路部检测出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号，去除所述第(k+1)个组的公共噪声量和由所述第(k+1)个校正量计算部件计算出的所述各个扫描电极的所述第(k+1)个子检测期间的每一个并且所述第(k+1)个组内的各个检测电极的每一个的噪声校正量，计算所述第(k+1)个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号。