CN102478509A - 气体封入型气体分析计用设备以及使用该设备的分析计 - Google Patents

Abstract

一种通过在形成于金属壳体的压入孔压入硬质材料的密封栓来封入气体的气体分析计用设备，可以降低由向压入孔压入密封栓而引起的向金属壳体的应力所导致的气体泄漏。气体分析计用设备(13)包括金属壳体(13a)；气体封入空间(13b-1、13b-2、13b-3)；与气体封入空间(13b-1、13b-2)连通形成的压入孔(13c、13d)；由比金属壳体坚硬的材料构成的、压入到压入孔(13c、13d)的密封栓(13c-1)；与气体封入空间(13b-1、13b-3)连通形成的非压入孔(13e、13f)；以与压入不同的方法气密配置到非压入孔(13e、13f)中的罩子构件(13e-1、13f-1)；包围非压入孔(13e、13f)的周围、或者一部分缺口地形成在壳体(13a)的表面的槽(13e-2、13f-2)。

Description

气体封入型气体分析计用设备以及使用该设备的分析计

技术领域

本发明涉及一种气体封入型气体分析计用设备以及使用该设备的非分散型红外线式气体分析计。红外线式气体分析计例如用于测定火力发电站的烟道排出气体等燃烧气体中所包含的SO₂(二氧化硫)、NOx(氮的氧化物)、CO(一氧化碳)、CO₂(二氧化碳)等的浓度。

背景技术

作为气体封入型的气体分析计用设备的封入气密方法已知主要有以下三种方法。

第1种方法是使用在真空设备中所使用的刀口型金属密封法(ナィフェッジ型メタルシ一ル)的方法(参照专利文献1。)。如图13所示，该方法是在金属壳体101和金属盖壳体103的应该密封的各个面，加工出圆锥形的边缘101a、103a，并在边缘101a、103a之间放入硬度比壳体101、103所使用的金属材料低的金属密封件105，通过利用多枚紧固螺钉107用力地夹紧两金属壳体101、103，而将金属密封件105压变形，变形了的金属密封件105被向壳体101、103的垂直面101b、103b挤压，并反压边缘101a、103a，由此进行气密。

该方法存在壳体101、103的边缘101a、103a以及垂直面101b、103b的加工困难这样的问题。而且，需要金属壳体101、103、金属密封件105、紧固螺钉107等多个构成部件以及螺钉孔、螺钉插通孔的加工，存在结构复杂、成本较高、难以小型化这样的问题。另外，由于夹紧力较大，夹紧时的力或残留应力对窗构件、气密封件(气密密封)、粘合剂等的结构部件赋予压力，导致气体泄漏。

第2种方法是将突出设置在检测器或光源、气室、气体过滤器等金属壳体上的金属导管压毁截断的方法。如图14所示，是通过焊锡、粘合剂将金属导管203与金属壳体201接合，并用专用工具205将金属导管203夹紧截断的方法。

在该方法中，将金属导管203凿紧时，对金属壳体201和金属导管203的接合部分207施加压力，有在接合部分207产生龟裂并引起气体泄漏的风险。另外，为了将该压力保持在最低限度，金属导管203的材料使用的是施行了退火处理的软质的纯Cu(铜)、纯Al(铝)、纯Ag(银)等，因此具有成本较高这样的问题。另外，还存在以下这样的问题，为了避免气体腐蚀而对金属导管203施行的表面处理在夹紧时剥落，导致金属导管203被腐蚀，产生气体泄漏。

如图15所示，第3方法是在设于金属壳体301的压入孔303中压入由与金属壳体301相同的材料或者比壳体301的硬度高的材料构成的密封栓305的方法。或者如图16所示，在压入孔303和密封栓305之间夹着树脂制的密封垫片307(参照专利文献2。)。

该方法需要压入孔303以及密封栓305的尺寸精度、表面粗糙度具有较高的精度。虽然会提高加工成本，但通过在壳体301上设置压入孔303，能够实现气体分析计用设备的小型化。

但是，向压入孔303压入密封栓305导致的壳体301的内部变形会向窗构件、粘合剂以及其他的结构部件施加压力，因此这难以避免会造成气体泄漏。

现有技术文献

专利文献

专利文献1日本专利公开2000-028520号公报

专利文献1日本专利公开2002-298832号公报

发明内容

【发明要解决的技术问题】

本发明的目的在于提供一种通过在形成于金属壳体的压入孔中压入密封栓来进行气体封入的气体封入型气体分析计用设备、以及使用该设备的非分散型红外线式气体分析计，该气体封入型气体分析计用设备可以降低由向压入孔压入密封栓引起的对金属壳体的应力所导致的气体泄漏。

【解决问题的技术手段】

本发明的气体封入型气体分析计用设备，包括：金属壳体；形成于所述壳体的内部的气体封入空间；从所述壳体的表面与所述气体封入空间连通形成的压入孔；由与所述壳体相同的材料或者比所述壳体硬的材料构成的、为了密封所述压入孔而压入所述压入孔的密封栓；在与所述压入孔不同的位置从所述壳体表面与所述气体封入空间连通形成的非压入孔；以与压入不同的方法在所述非压入孔气密配置的罩子构件；包围所述非压入孔的周围、或一部分缺口地形成于所述壳体表面的槽。

这里非压入孔是指以与压入不同的方法对非压入孔进行密封的孔。

在本发明的气体封入型气体分析计用设备中，所述罩子构件的气密可以通过粘合剂、钎焊、焊接或者玻璃熔敷而进行。

但是，气密的实例并不限定于此。

作为本发明的气体封入型气体分析计用设备的一个实例，是具有照射含有红外线的光的灯的气体封入型光源，该气体封入型光源包括2组所述非压入孔以及所述罩子构件，其中一个所述罩子构件是红外线透射窗，另一个所述罩子构件是灯座。

本发明的气体封入型气体分析计用设备的其他实例，是将不吸收红外线的气体封入到所述气体封入空间的比较气室，该比较气室包括2组所述非压入孔以及所述罩子构件，所述罩子构件都是红外线透射窗。

本发明的气体封入型气体分析计用设备的另一其他实例是检测器，所述气体封入空间至少被封入与测定气体相同的气体，所述气体封入空间由多个受光室和连通这些受光室的通路构成，该检测器具有配置在该通路并根据2个受光室的光吸收的差检测2个受光室之间的压力差的传感器。该检测器包括至少2组所述非压入孔以及所述罩子构件。1个所述非压入孔与所述通路连通，且该非压入孔是将所述传感器配置到所述通路时所使用的结构，配置于该非压入孔的所述罩子构件由不透射光的构件构成，其他的所述非压入孔与所述受光室的任意一个连通，配置于该非压入孔的所述罩子构件是红外线透射窗。

本发明的气体封入型气体分析计用设备的另一其他实例是，在所述气体封入空间封入需要的气体的气体过滤器或者聚光器。该气体过滤器或者聚光器包括2组所述非压入孔以及所述罩子构件，所述罩子构件都是红外线透射窗。这里，聚光器也可以具有气体过滤功能。

包括权利要求3～5所记载的气体封入型气体分析计用设备中的至少一个，

本发明的非分散型红外线式气体分析计至少包括：照射含有红外线的光的气体封入型光源；测定气体流动的测定气室；将不吸收红外线的气体封入到气体封入空间的比较气室；检测器，其在气体封入空间至少封入与测定气体相同的气体，该气体封入空间由2个受光室和连通这些受光室的通路构成，该检测器具有配置在该通路并根据2个受光室的光吸收的差检测2个受光室之间的压力差的传感器；截光器，将从气体封入型光源照射并通过了测定气室的光以及从气体封入型光源照射并通过了比较气室的光交替照射到检测器。进一步地，本发明的非分散型红外线式气体分析计包括适用于本发明的气体封入型气体分析计用设备的封入型光源、以及检测器中的至少一个。

本发明的非分散型红外线式气体分析计不包括所述比较气室，所述截光器使透射了所述测定气室的光断续地照射到所述检测器。

在所述气体封入型光源和所述检测器之间的光路上还包括本发明的非分散型红外线式气体分析计所适用的气体过滤器或者聚光器。这里，配置气体过滤器或者聚光器的位置可以是测定单元的光源侧或者检测器侧。

发明的效果

本发明的气体封入型气体分析计用设备包括包围非压入孔的周围、或者一部分缺口地形成在金属壳体表面的槽，通过该槽可以缓和向非压入孔传递由向压入孔压入密封栓而引起的金属壳体的应力。由此，可以降低配置于非压入孔的罩子构件和气密的破损，进而可以降低封入到气体封入空间的气体的泄漏。从而，除了提高制造气体封入型气体分析计用设备时的成品率，还增强了输送时的振动和冲击，其结果是，可以便宜地提供信赖性高的气体封入型气体分析计用设备以及使用该设备的非分散型红外线式气体分析计。

附图说明

图1是以一部分侧面示出气体封入型气体分析计用设备的实施例以及非分散型红外线式气体分析计的一实施例的概略的结构截面图。

图2是将图1的光源放大表示的截面图。

图3是将图1的测定单元放大表示的截面图。

图4是将图1的比较单元放大表示的截面图。

图5是将图1的聚光器放大表示的截面图。

图6是将图1的检测器放大表示的截面图。

图7是示出检测器的一实施例的图、(A)是立体图、(B)是示出使用有限要素法的模拟结果的立体图、(C)是示出该模拟结果的左视图。

图8是示出检测器的比较例的图、(A)是立体图、(B)是示出使用有限要素法的模拟结果的立体图、(C)是示出该模拟结果的左视图。

图9是示出检测器的其他的实施例的图、(A)是立体图、(B)是示出使用有限要素法的模拟结果的立体图、(C)是示出该模拟结果的左视图。

图10是示出检测器的另一其他的实施例的图、(A)是立体图、(B)是示出使用有限要素法的模拟结果的立体图、(C)是示出该模拟结果的左视图。

图11是概略地示出检测器的另一其他的实施例的截面图。

图12是以一部分侧面示出非分散型红外线式气体分析计的其他的实施例的概略的结构截面图。

图13是对使用了金属密封件的气密方法进行说明的概略截面图。

图14是对将金属导管夹紧进行气密的方法进行说明的概略的截面图。

图15是对压入密封栓进行气密的方法进行说明的概略的截面图。

图16是对压入树脂制密封垫片以及密封栓进行气密的方法进行说明的概略的截面图。

符号说明

1    光源

2    测定气室

5    比较气室

7    截光器

11   聚光器

13   检测器

1a，5a，11a，13a    金属壳体

1b，5b，11b    气体封入空间

13b-1 前方受光室(气体封入空间)

13b-2 后方受光室(气体封入空间)

13b-3 通路(气体封入空间)

1c，5c，11c，13c，13d    压入孔

1c-1，5c-1，11c-1，13c-1，13d-1    密封栓

1d，1e，5d，5e，11d，11e，13e，13f，13m    非压入孔

1d-1，5d-1，5e-1，11d-1，11e-1，13e-1，13m-1    红外线透射窗(罩子构件)

1e-1    灯座(罩子构件)

13f-1   金属罩子(罩子构件)

1d-2，1e一2，5d-2，5e-2，11d-2，11e-2，13e-2，13f-2，13m-2    槽

具体实施方式

图1是以一部分侧面示出气体封入型气体分析计用设备的实施例以及非分散型红外线式气体分析计的一实施例的概略的结构截面图。图2是将图1的光源放大表示的截面图。图3是将图1的测定气室放大表示的截面图。图4是将图1的比较气室放大表示的截面图。图5是将图1的聚光器放大表示的截面图。图6是将图1的检测器放大表示的截面图。

该非分散型红外线式气体分析计包括光源1、测定气室3、比较气室5、截光器7、电动机9、聚光器11以及检测器13。

光源1是气体封入型气体分析计用设备，其照射含有红外线的光。如图2所示，在光源1的金属壳体1a内部形成有气体封入空间1b。在金属壳体1a上形成有与气体封入空间1b连通的压入孔1c以及非压入孔1d、1e。

在压入孔1c中压入用于密封压入孔1c的密封栓1c-1。密封栓1c-1由与金属壳体1a相同的材料或者比金属壳体1a硬的材料构成。

利用粘合剂在非压入孔1d气密配置有红外线透射窗(罩子构件)1d-1。

利用粘合剂在非压入孔1e气密配置有灯座(罩子构件)1e-1。

在金属壳体1a的表面，形成有包围非压入孔1d、1e的周围、或一部分缺口的槽1d-2、1e一2。

如图1所示，测定气室3和比较气室5与光源1相对、且互相平行配置，以使得同量的光入射到上述两个气室中。截光器7以规定的时间间隔遮盖从光源1放出的光，将光交替导入到测定气室3和比较气室5中。截光器7利用电动机9来进行旋转。

如图3所示，测定气室3的金属壳体3a形成有供给气体的气体通过空间3b。在气体通过空间3b切换流通含有测定气体的样本气体、不吸收红外线的N2(氮气)那样的惰性气体(零气体)、以及具有一定浓度的测定气体的气体(量距气)。

在金属壳体3a形成有从筐体3a表面与气体通过空间3b连通的气体导入孔3c、气体排出孔3d、以及非压入孔3e、3f。

利用粘合剂在非压入孔3e、3f气密配置有红外线透射窓3e-1、3f-1。

在金属壳体3a的表面形成有包围非压入孔3e、3f的周围、或一部分缺口的槽3e-2、3f-2。

比较气室5是气体封入型气体分析计用设备。比较气室5封入有不吸收红外线的气体、例如氮气、空气等的惰性气体。如图4所示，在比较气室5的金属壳体5a的内部形成有气体封入空间5b。在金属壳体5a形成有从壳体5a表面与气体封入空间5b连通的压入孔5c以及非压入孔5d、5e。

在压入孔5c中压入用于密封压入孔5c的密封栓5c-1。密封栓5c-1由与金属壳体5a相同的材料或者比金属壳体5a坚硬的材料。

利用粘合剂在非压入孔5d、5e气密配置有红外线透射窗5d-1、5e-1。

在金属壳体5a的表面形成有包围非压入孔5d、5e的周围、或一部分缺口的槽5d-2、5e-2。

如图1所示，配置使从测定气室3或者比较气室5透射的光入射到检测器13的聚光器11。聚光器11是气体封入型气体分析计用设备。聚光器11只要是具有聚光功能的结构就可以，但还可以具有过滤器功能。在这种情况下，在聚光器11中封入吸收波长域与测定气体成分的波长域部分重叠的气体成分，除去该重叠波长域的红外线。

如图5所示，在聚光器11的金属壳体11a内部形成有气体封入空间11b。在金属壳体11a形成有从壳体11a表面与气体封入空间11b连通的压入孔11c以及非压入孔11d、11e。

在压入孔11c压入有用于密封压入孔11c的密封栓11c-1。密封栓11c-1由与金属壳体11a相同的材料或者比金属壳体11a硬的材料构成。

利用粘合剂在非压入孔11d、11e气密配置有红外线透射窗11d-1、11e-1。

在金属壳体11a的表面形成有包围非压入孔11d、11e的周围、或一部分缺口的槽11d-2、11e-2。

检测器13是气体封入型气体分析计用设备。如图1以及图6所示，检测器13在金属壳体13a的内部具有由前方受光室13b-1、后方受光室13b-2以及通路13b-3构成的气体封入空间。在该气体封入空间封入有与测定气体同样的气体或者具有相同的红外线吸收特性的气体。前方受光室13b-1和后方受光室13b-2通过红外线透射板13b-4分离。前方受光室13b-1和后方受光室13b-2相对于光的入射来说被前后配置。通路13b-3使前方受光室13b-1和后方受光室13b-2连通。

在金属壳体13a形成有：从壳体13a表面与前方受光室13b-1连通的压入孔13c，与后方受光室13b-2连通的压入孔13d，在与压入孔13c不同的位置形成有与前方受光室13b-1连通的非压入孔13e，还形成有与通路13b-3连通的非压入孔13f。

在压入孔13c、13d压入用于密封压入孔13c、13d的密封栓13c-1、13d-1。密封栓13c-1、13d-1由与金属壳体13a相同的材料或者比金属壳体13a硬的材料构成。

利用粘合剂在非压入孔13e气密配置有红外线透射窗13e-1。

利用粘合剂在非压入孔13f气密配置有不透射红外线的构件、例如金属罩子(罩子构件)13f-1。

金属壳体13a的表面形成有包围非压入孔13e、13f的周围、或一部分缺口的槽13e-2、13f-2。

在通路13b-3配置有传感器13g。传感器13g是根据受光室13b-1、13b-2的光吸收的差对两室之间的压力差进行检测的传感器。传感器13g只要是例如流量传感器或电容式传声器等可以检测前方受光室13b-1和后方受光室13b-2的压力差的构件，采用什么原理的构件都可以。传感器13g通过非压入孔13f配置在通路13b-3中。配置了传感器13g之后，利用粘合剂以及金属罩子13f-1将非压入孔13f密封。

非分散型红外线气体分析计利用的是对分子照射红外线之后各种气体吸收具有特定波长的红外线的特性。应用图1所示的非分散型红外线气体分析计的CO(一氧化碳)气体分析计在检测器13的受光室13b-1、13b-2以及通路13b-3中封入CO气体。在受光室13b-1、13b-2被吸收的红外线的能量通过分子间的冲突瞬间转换为热能。该热能由设在通路13b-3的传感器13g作为压力差而检测出来，并求出测定气体的浓度。

作为气体封入型气体分析计用设备的光源1、比较气室5、聚光器11以及检测器13，在非压入孔1d、1e、5d、5e、11d、11e、13e、13f被密封之后，在气体密封空间内的气体通过气体置换装置(图中省略)被置换为规定的气体之后，压入孔1c、5c、11c、13c、13d被压入密封栓1c-1、5c-1、11c-1、13c-1、13d-1而进行气密。此时，由于向压入孔压入密封栓而在金属壳体1a、5a、11a、13a的内部产生应力，但通过在非压入孔的周围形成有槽1d-2、1e-2、5d-2、5e-2、11d-2、11e-2、13e-2、13f-2，使得向非压入孔1d、1e、5d、5e、11d、11e、13e、13f的气密部分的应力的传递被降低。由此，可以防止非压入孔1d、1e、5d、5e、11d、11e、13e、13f的气体泄漏以及红外线透射窗1d-1、5d-1、3e-1、11d-1、11e-1、13e-1的破损。

图7是示出作为气体封入型气体分析计用设备的检测器的一实施例的图，(A)是立体图、(B)是示出使用有限要素法的模拟结果的立体图、(C)是示出该模拟结果的左视图。与图6相同的部分标记相同的符号。(B)、(C)所示的模拟结果表示在压入孔13c、13d压入密封栓时金属壳体13a产生的应力。

检测器13的金属壳体13a具有长方体形状。

在金属壳体13a的上表面13h形成有压入孔13c、13d。在图7(A)中压入孔13c、13d还没有压入密封栓。

在金属壳体13a的正面13i形成有非压入孔13e。利用粘合剂在非压入孔13e气密配置有红外线透射窗13e-1。在金属壳体13a的正面13i形成有包围非压入孔13e的周围的槽13e-2。

在金属壳体13a的左侧面13j形成有非压入孔13f。利用粘合剂在非压入孔13f被气密配置有金属罩子13f-1。在金属壳体13a的左侧面13j形成有部分缺口并包围非压入孔13e的槽13f-2。

在金属壳体13a的正面13i形成有定位用的孔13i-1、13i-2。孔13i-1、13i-2用于使检测器和气室的结合、或组合多级检测器。

在金属壳体13a的左侧面13j形成有定位用的孔13j-1、13j-2。孔13j-1、13j-2例如是对印刷基板用的隔离件进行定位的孔。形成于孔13j-1、13j-2的螺纹孔的图被省略了。

在金属壳体13a的上表面13h和左侧面13j所形成的角部形成有凹部13k。在凹部13k形成有与通路13b-3(参照图6。)相连的配线取出孔131。配线取出孔131是用于穿过将传感器13g(参照图6。)的电位取出到金属壳体13a之外的配线的结构。配线取出孔131例如通过粘结密封件来被密封。

图8是示出检测器的比较例的图、(A)是立体图、(B)是示出使用有限要素法的模拟结果的立体图、(C)是示出该模拟结果的左视图。与图7相同的部分都采用相同的符号。

在该比较例中，与图7的实施例比较，没有形成与非压入孔13f对应的槽13f-2。另外，也没有形成定位用的孔13j-1、13j-2。

通过使用有限要素法的模拟，对在图7所示的实施例和图8所示的比较例中向压入孔13c、13d压入密封栓时，在非压入孔13f和金属罩子13f-1的粘结部产生的应力进行计算。

模拟的结果是，具有槽13f-2的实施例(图7)的向上述粘结部的相当应力最大值为2.75MPa(兆帕)、相当应力平均值为0.37MPa。与之相对，没有槽13f-2的比较例(图8)的向上述粘结部的相当应力最大值为8.48MPa、相当应力平均值为1.24MPa。这样通过设置槽13f-2，由于向压入孔13c、13d压入密封栓而引起的非压入孔13f和金属罩子13f-1的粘结部所产生的应力，与没设置槽13f-2的情况相比，相当应力最大值降低到没设置槽13f-2时的大约1/3，相当应力平均值也降低到没设置槽13f-2时的1/3以下。由此，可以防止检测器13的气体泄漏和红外线透射窗13e-1的破损，提高检测器13的制造的成品率。

对图7所示的实施例中的槽13f-2以及定位用孔13j-1、13j-2的配置进行变更，参照图9以及图10对在非压入孔13f和金属罩子13f-1的粘结部所产生的应力的调查结果进行说明。

图9是示出检测器的其他的实施例的图，图10是示出检测器的另一其他的实施例的图。在图9以及图10中，(A)是立体图、(B)是示出使用有限要素法的模拟结果的立体图、(C)是示出该模拟结果的左视图。在图9以及图10中与图7相同的部分都采用相同的符号。

图9的实施例与图7的实施例相比，定位用的孔13j-1被配置在非压入孔13f的附近，槽13f-2被配置为包围非压入孔13f以及定位用孔13j-1。

图10的实施例与图9的实施例相比，槽13f-2被配置为穿过非压入孔13f和定位用孔13j-1之间。

模拟的结果是，图9所示的实施例的向上述粘结部的相当应力最大值为3.28MPa、相当应力平均值为0.48MPa。另外，图10所示的实施例的向上述粘结部的相当应力最大值为2.66MPa、相当应力平均值为0.32MPa。

这样，通过设置槽13f-2，与没有槽13f-2的图8的比较例(向上述粘结部的相当应力最大值为8.48MPa、相当应力平均值为1.24MPa)相比，可以降低向压入孔13c、13d压入密封栓而引起的非压入孔13f和金属罩子13f-1的粘结部所产生的应力。

另外，如图11所示，检测器13也可以是所接收的红外线贯通的结构。

图11是概略地示出检测器的其他的实施例的截面图。与图6相同的部分都采用相同的符号。

与图6所示的实施例相比，该实施例还具有非压入孔13m、红外线透射窗13m-1以及槽13m-2。

非压入孔13m形成为从配置有红外线透射窗13e-1的金属壳体13a表面的相反侧的表面与后方受光室13b-2连通。红外线透射窗13m-1通过粘合剂被气密配置在非压入孔13m。槽13m-2包围非压入孔13m的周围、或者一部分缺口地形成在金属壳体13a的表面。

在该实施例中，从红外线透射窗13e-1入射到检测器13内部的红外线通过前方受光室13b-1、红外线透射板13b-4、后方受光室13b-2以及红外线透射窗13m-1射到检测器13的外部。通过这样的结构，可以多级配置检测器13。另外，在最终端的检测器13的后级，例如配置有铝板等的红外线反射构件、或者使用焦电传感器的CO₂检测器等。

图12是以一部分侧面示出非分散型红外线式气体分析计的其他的实施例的概略的结构截面图。与图1相同的部分都采用相同的符号。

该非分散型红外线式气体分析计的实施例与图1所示的实施例相比，不具有比较气室5。截光器7以规定的时间间隔遮盖从光源1放出的光并使其照射到测定气室3，使从测定气室3透射的光断续地照射到检测器13。

这样，本发明的非分散型红外线式气体分析计也可以不包括比较气室。在图12所示的实施例中当然也可以使用图11所示的检测器13。

以上的实施例是本发明的一例，其能在本发明的范围内进行各种变更。

例如检测器13也可以是像专利文献1所公开的检测器一样，包括入射来自测定气室3的光的受光室和入射来自比较气室5的光的受光室。

另外，图1以及图12所示的非分散型红外线式气体分析计，在聚光器11没有过滤器功能的情况下，也可以在从光源1到检测器13为止的光路上的某处具有干涉过滤器或者由本发明的气体分析计用气体封入设备构成的气体过滤器。

另外，在图1以及图12所示的非分散型红外线式气体分析计中，聚光器11也可以是没有聚光功能而是具有气体过滤器功能的结构。此时，该气体过滤器可以配置在光源1与测定气室3以及比较气室5之间，或者配置在光源1与测定气室3之间。

另外，本发明的气体分析计用气体封入设备也可以适用于构成非分散型红外线式气体分析计的设备以外的气体分析计用气体封入设备。

另外，在上述实施例中，非压入孔1d，1e，5d，5e，11d，11e，13e，13f，13m的罩子构件1d-1，1e-1，5d-1，5e-1，11d-1，11e-1，13e-1，13f-1，13m-1的气密采用的是粘合剂，但根据罩子构件的材料的不同，也可以采用例如钎焊、焊接、玻璃熔敷等其他的气密方法。

另外，在上述实施例仅采用密封栓对压入孔进行密封，但也可以采用配置在密封栓和压入孔之间的树脂制的密封垫片等的气密构件。

【产业上的可利用性】

本发明的气体分析计用气体封入设备以及红外线式气体分析计除了使用于例如火力发电厂、石油化工厂、炼铁厂、焚烧厂等的排出气体测定之外，还可以使用在催化剂研究等的试验研究领域。

Claims (9)

1.一种气体封入型气体分析计用设备，其特征在于，包括：

金属壳体；

形成于所述壳体的内部的气体封入空间；

从所述壳体的表面与所述气体封入空间连通形成的压入孔；

由与所述壳体相同的材料或者比所述壳体硬的材料构成的、为了密封所述压入孔而压入所述压入孔的密封栓；

在与所述压入孔不同的位置从所述壳体表面与所述气体封入空间连通形成的非压入孔；

以与压入不同的方法在所述非压入孔气密配置的罩子构件；

包围所述非压入孔的周围、或一部分缺口地形成于所述壳体表面的槽。

2.如权利要求1所述的气体封入型气体分析计用设备，其特征在于，所述罩子构件的气密通过粘合剂、钎焊、焊接或者玻璃熔敷而进行。

3.如权利要求1所述的气体封入型气体分析计用设备，其特征在于，其是具有照射含有红外线的光的灯的气体封入型光源，

所述气体封入型光源包括2组所述非压入孔以及所述罩子构件，其中一个所述罩子构件是红外线透射窗，另一个所述罩子构件是灯座。

4.如权利要求1所述的气体封入型气体分析计用设备，其特征在于，其是将不吸收红外线的气体封入到所述气体封入空间的比较气室，

所述比较气室包括2组所述非压入孔以及所述罩子构件，所述罩子构件都是红外线透射窗。

5.如权利要求1所述的气体封入型气体分析计用设备，其特征在于，

所述气体封入型气体分析计用设备是检测器，所述气体封入空间至少被封入与测定气体相同的气体，所述气体封入空间由多个受光室和连通这些受光室的通路构成，所述检测器具有检测在所述通路流动的气体流量的传感器，

所述检测器包括至少2组所述非压入孔以及所述罩子构件，

1个所述非压入孔与所述通路连通，且该非压入孔是将所述传感器配置到所述通路时所使用的结构，配置于该非压入孔的所述罩子构件由不透射光的构件构成，

其他的所述非压入孔与所述受光室的任意一个连通，配置于该非压入孔的所述罩子构件是红外线透射窗。

6.如权利要求1所述的气体封入型气体分析计用设备，其特征在于，其是在所述气体封入空间封入需要的气体的气体过滤器或者聚光器，

所述气体过滤器或者聚光器包括2组所述非压入孔以及所述罩子构件，所述罩子构件都是红外线透射窗。

7.一种非分散型红外线式气体分析计，其特征在于，包括权利要求3～5所记载的气体封入型气体分析计用设备中的至少一个，

所述非分散型红外线式气体分析计至少包括：

照射含有红外线的光的气体封入型光源；

测定气体流动的测定气室；

将不吸收红外线的气体封入到气体封入空间的比较气室；

检测器，其在气体封入空间至少封入与测定气体相同的气体，该气体封入空间由2个受光室和连通这些受光室的通路构成，该检测器具有配置在该通路并根据2个受光室的光吸收的差检测2个受光室之间的压力差的传感器；

截光器，将从气体封入型光源照射并通过了测定气室的光以及从气体封入型光源照射并通过了比较气室的光交替照射到检测器。

8.如权利要求7所述的非分散型红外线式气体分析计，其特征在于，

不包括所述比较气室，所述截光器使透射了所述测定气室的光断续地照射到所述检测器。

9.如权利要求7或8所述的非分散型红外线式气体分析计，其特征在于，

在所述气体封入型光源和所述检测器之间的光路上还包括权利要求6所述的气体封入型气体分析计用设备。

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