CN102466775A - 多功能可变换模块测试装置 - Google Patents

多功能可变换模块测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102466775A
CN102466775A CN2010105491247A CN201010549124A CN102466775A CN 102466775 A CN102466775 A CN 102466775A CN 2010105491247 A CN2010105491247 A CN 2010105491247A CN 201010549124 A CN201010549124 A CN 201010549124A CN 102466775 A CN102466775 A CN 102466775A
Authority
CN
China
Prior art keywords
group
servant
ccontaining
computing machine
principal computer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2010105491247A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102466775B (zh
Inventor
姚圳杰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
YIMING PRECISION TECHNOLOGY Co Ltd
Original Assignee
YIMING PRECISION TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by YIMING PRECISION TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical YIMING PRECISION TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN201010549124.7A priority Critical patent/CN102466775B/zh
Publication of CN102466775A publication Critical patent/CN102466775A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102466775B publication Critical patent/CN102466775B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

本发明多功能可变换模块测试装置,能够同时测试多个待测物,数个待测物被分配为一组第一群组、一组第二群组、一组第三群组与一组第四群组,该装置包含有:一个承载盘体包括一第一区、一第二区、一第三区与一第四区容置群,一个工作站包括一第一、一第二、一第三与一第四工作区,一台第一、一台第二、一台第三与一台第四仆计算机以及一台主计算机,该第一、第二、第三与第四仆计算机控制该第一、第二、第三与第四工作区针对位于该第一、第二、第三与第四区容置群内的第一、第二、第三与第四群组进行检测工作,同时该第一、第二、第三与第四仆计算机接收该第一、第二、第三与第四工作区所完成的检测结果并传送至该主计算机,其进行数据整合。

Description

多功能可变换模块测试装置
技术领域
本发明主要是揭示一种多功能可变换模块测试装置,尤其是指一种借助主计算机整合数台仆计算机的多功能可变换模块测试装置。
背景技术
待测物使用于电子产品,常见有使用于计算机、手机与数码照相机…等等。待测物生产流程的最后一个步骤为测试,借助测试装置检测待测物的内部电路是否正常,进一步区分良品与不良品。
传统的半导体测试装置采用数个测试卡连接于一台计算机,而这台计算机控制所有个测试卡对所有的芯片进行测试,当数片测试卡将数据传递至计算机时,计算机容易受限于其运算能力而影响读取并判断测试卡的测试结果的速度,当所有的测试卡同步将数据传给计算机时,计算机容易因为负荷过大而产生当机或者无法立即提供测试结果,当然,这样的计算机也无法进行额外的数据整合的工作。
再者,传统的半导体测试装置的显示单元设置在检测座且显露于检测座表面,显示单元是电连接测试基板的每一测试端口,用以显示测试后待测盘上所对应的芯片的测试结果,显示单元包括一显示芯片测试进度的进度指示器、一显示芯片测试时间的时间指示器,及一相对应显示该待测盘的芯片测试结果好坏的测试指示器。其中,测试指示器具有多个相对应显示所述芯片测试结果好坏的指示灯,如果芯片测试结果良好则亮绿灯,芯片测试结果有问题则亮红灯。测试人员必须拿着待测盘,同时利用目测比对测试指示器的红灯所对应的待测盘上的芯片,再挑出测试有问题的芯片,这样的比对方式容易因为测试人员比对时的误差而发生挑错芯片的缺失,除此之外,测试人员需要重复抬头与低头的动作,而容易产生疲劳,这样的测试方式容易让测试人员因为疲劳而无法正确无误的比对,当比对错误时,会让之前所进行的测试全都功亏一篑,因此如何正确无误的挑出不良品同时符合快速的要求,对于测试装置而言是相当重要的一环。
因此,发明人希望能够确实解决上述问题。
发明内容
本发明所欲解决的技术问题是在于针对现有技术存在的缺失,提供一种多功能可变换模块测试装置。
本发明主要改良的技术手段为,借助主计算机能够整合该第一、第二、第三与第四仆计算机,并以该第一、第二、第三与第四仆计算机控制该工作站进行检测工作,而该主计算机负责数据整合,借助这种分工合作的方式提高工作效率且简化作业程序,达到半自动的功能。且该主计算机储存有所有待测物的测试结果,这种集中储存方式能够有效的进行良率的统计与分析,更有利于后续的追踪。
本发明次要改良的技术手段为,该主计算机将获得的测试结果显示在该屏幕,该屏幕的外表面能够供该承载盘体放置,该屏幕显示该主计算机整合的测试结果并显示于该区块,该屏幕利用显示亮光于该区块而透光于该承载盘体的方式达到告知检测人员的目的,进一步使检测人员借助该区块所显示的亮光而判断位于该承载盘体上的待测物为良品或不良品。
其它目的、优点和本发明的新颖特性将从以下详细的描述与相关的附图更加显明。
附图说明
图1:为本发明多功能可变换模块测试装置的方块图。
图2:为本发明多功能可变换模块测试装置的立体外观图。
图3:为本发明多功能可变换模块测试装置令一视角的立体外观图。
图4:为本发明承载盘体承载待测物的示意图。
图5:为本发明主计算机、数台仆计算机与切换器的方块图。
图6:为本发明承载盘体置于屏幕上检测待测物的示意图。
图7:为本发明屏幕显示亮光而表示良品与不良品。
主要组件符号说明:
1   待测物      1A  第一群组      1B  第二群组
1C  第三群组    1D  第四群组      10  承载盘体
100 容置部      11  第一区容置群  12  第二区容置群
13  第三区容置群 14  第四区容置群  20  工作站
21  第一工作区  22  第二工作区    23  第三工作区
24  第四工作区  31  第一仆计算机  32  第二仆计算机
33  第三仆计算机34  第四仆计算机  40  主计算机
41  集线器      42  屏幕          421 区块 
43  输入装置    44  切换器。 
具体实施方式
有关本发明所采用的技术、手段及其功效,兹举一较佳实施例并配合附图详述如后,此仅供说明之用,在专利申请上并不受此种结构的限制。
参照图1、图2与图3,为本发明多功能可变换模块测试装置的方块图与立体外观图。本发明的多功能可变换模块测试装置能够同时测试多个待测物1,待测物1能够为记忆卡、芯片卡或集成电路(integrated circuit;IC)卡。数个待测物1被分配为一组第一群组1A、一组第二群组1B、一组第三群组1C与一组第四群组1D。
本发明的多功能可变换模块测试装置包含有一个承载盘体10、一个工作站20、一台第一仆计算机31、一台第二仆计算机32、一台第三仆计算机33、一台第四仆计算机34与一台主计算机40。该第一、第二、第三与第四仆计算机31、32、33、34分别电连接该工作站20,借助该第一、第二、第三与第四仆计算机31、32、33、34控制该工作站20进行检测工作,同时该第一、第二、第三与第四仆计算机31、32、33、34接获该工作站20回传的检测结果,该主计算机40接收该第一、第二、第三与第四仆计算机31、32、33、34的检测结果并进行数据整合。借助该主计算机40能够整合该第一、第二、第三与第四仆计算机31、32、33、34,并以该第一、第二、第三与第四仆计算机31、32、33、34控制该工作站20进行检测工作,而该主计算机40负责数据整合,借助这种分工合作的方式提高工作效率且简化作业程序,达到半自动的功能。且该主计算机40储存有所有待测物1的测试结果,这种集中储存方式能够有效的进行良率的统计与分析,更有利于后续的追踪。
该数个待测物1被分配的群组数量取决于多功能可变换模块测试装置的仆计算机的数量。本实施例中该群组共设有四组,该仆计算机共设有四台。
同时参照图4,为本发明承载盘体承载待测物的示意图。该承载盘体10上设有数个容置部100,每一个容置部100能够容置一个待测物1。该容置部100的数量等同于待测物1的数量,且该容置部100的数量等同于该群组的总组数的倍数,该容置部100的数量也等同于该仆计算机的总数量的倍数。本实施例中该承载盘体10的容置部100被分配为一组第一区容置群11、一组第二区容置群12、一组第三区容置群13与一组第四区容置群14。该第一、第二、第三与第四容置群11、12、13、14的数量皆相等。该容置群的组数等同于该群组的组数,该容置群的组数也等同于该仆计算机的数量。
该工作站20包括一个第一工作区21、一个第二工作区22、一个第三工作区23与一个第四工作区24。该第一、第二、第三与第四工作区21、22、23、24能够对该待测物1进行检测工作,且该第一、第二、第三与第四工作区21、22、23、24所进行的检测工作内容皆相同。
当待测物1放置于该承载盘体10的容置部100时,该第一群组1A位于该第一区容置群11,该第二群组1B位于该第二区容置群12,该第三群组1C位于该第三区容置群13,该第四群组1D位于该第四区容置群14。承载有待测物1的该承载盘体10送入该工作站20,该第一区容置群11对应该第一工作区21,该第一仆计算机31控制该第一工作区21针对位于该第一区容置群11内的第一群组1A进行检测工作,同时该第一仆计算机31接收该第一工作区21所完成的检测结果。
该第二区容置群12对应该第二工作区22,该第二仆计算机32控制该第二工作区22针对位于该第二区容置群12内的第二群组1B进行检测工作,同时该第二仆计算机32接收该第二工作区22所完成的检测结果。
该第三区容置群13对应该第三工作区23,该第三仆计算机33控制该第三工作区23针对位于该第三区容置群13内的第三群组1C进行检测工作,同时该第三仆计算机33接收该第三工作区23所完成的检测结果。
该第四区容置群14对应该第四工作区24,该第四仆计算机34控制该第四工作区24针对位于该第四区容置群14内的第四群组1D进行检测工作,同时该第四仆计算机34接收该第四工作区24所完成的检测结果。
该第一、第二、第三与第四仆计算机31、32、33、34将该工作站20完成的检测结果传送至该主计算机40,该主计算机40连接有一个集线器41,该第一、第二、第三与第四仆计算机31、32、33、34与该主计算机40之间借助该集线器41连接,该主计算机40、该第一、第二、第三与第四仆计算机31、32、33、34分别连接该集线器41,该主计算机40将接获的数据整合。
同时参照图5,为本发明主计算机、数台仆计算机与切换器的方块图。该主计算机40连接一个屏幕42与一个输入装置43,该屏幕42与该输入装置43同时能够供该主计算机40、该第一、第二、第三或第四仆计算机31、32、33、34操控。该主计算机40更设有一个切换器44,该主计算机40、该第一、第二、第三与第四仆计算机31、32、33、34分别连接该切换器44,该切换器44能够切换该屏幕42与该输入装置43的使用者为该主计算机40、该第一、第二、第三或第四仆计算机31、32、33、34。
同时参照图6与图7,该第一、第二、第三与第四仆计算机31、32、33、34将待测物1的测试结果传递至该主计算机40,该主计算机40将获得的测试结果显示在该屏幕42,该屏幕42的外表面能够供该承载盘体10放置,该承载盘体10能够透光。该屏幕42能够显示相同于该承载盘体10尺寸的画面,且该屏幕42上形成有相同于该容置部100的数个区块421,该屏幕42显示该主计算机40整合的测试结果并显示于该区块421,该屏幕42利用显示亮光于该区块421而透光于该承载盘体10的方式达到告知检测人员的目的,进一步使检测人员借助该区块421所显示的亮光而判断位于该承载盘体10上的待测物1为良品或不良品。该屏幕42的外表面与水平面平行,令放置于该屏幕42的外表面的承载盘体10不会自动位移。
借助该待测物1直接对应于该区块421,而让检测人员能够直接将不良品的待测物1取出,提供给检测人员一种容易检测不良品的待测物1的测试装置,且检测人员无需花费时间比对屏幕42上的测试结果与承载盘体10上的待测物1,检测人员能够快速的直接取出不良品的待测物1。
且本发明能够同时提供工作站20对待测物进行检测工作,而屏幕42提供显示令测试人员判断待测物为良品或不良品。
就以上所述可以归纳出本发明具有以下的优点:
1.本发明的《多功能可变换模块测试装置》,借助主计算机能够整合该第一、第二、第三与第四仆计算机,并以该第一、第二、第三与第四仆计算机控制该工作站进行检测工作,而该主计算机负责数据整合,借助这种分工合作的方式提高工作效率且简化作业程序,达到半自动的功能。且该主计算机储存有所有待测物的测试结果,这种集中储存方式能够有效的进行良率的统计与分析,更有利于后续的追踪。
2.本发明的《多功能可变换模块测试装置》,该主计算机将获得的测试结果显示在该屏幕,该屏幕的外表面能够供该承载盘体放置,该屏幕显示该主计算机整合的测试结果并显示于该区块,该屏幕利用显示亮光于该区块而透光于该承载盘体的方式达到告知检测人员的目的,进一步使检测人员借助该区块所显示的亮光而判断位于该承载盘体上的待测物为良品或不良品。
只是上所述者,仅为本发明的较佳实施例而已,当不能以的限定本发明实施的范围,故举凡数值的变更或等效组件的置换,或依本发明申请专利范围所作的均等变化与修饰,皆应仍属本发明专利涵盖的范畴。

Claims (10)

1.一种多功能可变换模块测试装置,其特征在于,其能够同时测试多个待测物,数个待测物被分配为一组第一群组、一组第二群组与一组第三群组,该多功能可变换模块测试装置包含有:
一个承载盘体,其包括数个容置部,该每个容置部能够容置一个待测物,该容置部被分配为一组第一区容置群、一组第二区容置群与一组第三区容置群;
一个工作站,其包括一个第一工作区、一个第二工作区与一个第三工作区,该第一、第二与第三工作区能够对该待测物进行检测工作;
一台第一仆计算机,其控制该第一工作区针对位于该第一区容置群内的第一群组进行检测工作;
一台第二仆计算机,其控制该第二工作区针对位于该第二区容置群内的第二群组进行检测工作;
一台第三仆计算机,其控制该第三工作区针对位于该第三区容置群内的第三群组进行检测工作;
一台主计算机,其接收该第一、第二与第三仆计算机的检测结果并进行数据整合。
2.根据权利要求1所述的多功能可变换模块测试装置,其特征在于,该容置部的数量等同于待测物的数量,该容置群的组数等同于该群组的组数,该容置群的组数也等同于该仆计算机的数量。
3.根据权利要求1所述的多功能可变换模块测试装置,其特征在于,该主计算机连接有一个集线器,该第一、第二与第三仆计算机与该主计算机之间借助该集线器连接。
4.根据权利要求3所述的多功能可变换模块测试装置,其特征在于,该主计算机、该第一、第二与第三仆计算机分别连接该集线器。
5.根据权利要求3所述的多功能可变换模块测试装置,其特征在于,该主计算机连接一个屏幕,该屏幕能够供该主计算机、该第一、第二与第三仆计算机操控。
6.根据权利要求5所述的多功能可变换模块测试装置,其特征在于,该主计算机连接一个输入装置,该输入装置能够供该主计算机、该第一、第二或第三仆计算机操控。
7.根据权利要求6所述的多功能可变换模块测试装置,其特征在于,该主计算机更设有一个切换器,该主计算机、该第一、第二与第三仆计算机分别连接该切换器,该切换器能够切换该屏幕与该输入装置的使用者为该主计算机、该第一、第二或第三仆计算机。
8.根据权利要求5所述的多功能可变换模块测试装置,其特征在于,该主计算机将获得的测试结果显示在该屏幕,该屏幕的外表面能够供该承载盘体放置,该承载盘体能够透光,该屏幕能够显示相同于该承载盘体尺寸的画面,且该屏幕上形成有相同于该容置部的数个区块,该屏幕显示该主计算机整合的测试结果并显示于该区块,该屏幕利用显示亮光于该区块而透光于该承载盘体,达到告知检测人员的目的,进一步使检测人员借助该区块所显示的亮光而判断位于该承载盘体上的待测物为良品或不良品。
9.根据权利要求8所述的多功能可变换模块测试装置,其特征在于,该屏幕的外表面与水平面平行,令放置于该屏幕的外表面的承载盘体不会自动位移。
10.根据权利要求1所述的多功能可变换模块测试装置,其特征在于,待测物更有一组第四群组,该多功能可变换模块测试装置更包括一台第四仆计算机,该承载盘体更设有一组第四区容置群,该工作站更包括一个第四工作区,该第四区容置群对应该第四工作区,该第四仆计算机控制该第四工作区针对位于该第四区容置群内的第四群组进行检测工作,同时该第四仆计算机接收该第四工作区所完成的检测结果并传送至该主计算机。
CN201010549124.7A 2010-11-17 2010-11-17 多功能可变换模块测试装置 Expired - Fee Related CN102466775B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201010549124.7A CN102466775B (zh) 2010-11-17 2010-11-17 多功能可变换模块测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201010549124.7A CN102466775B (zh) 2010-11-17 2010-11-17 多功能可变换模块测试装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102466775A true CN102466775A (zh) 2012-05-23
CN102466775B CN102466775B (zh) 2014-11-05

Family

ID=46070673

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201010549124.7A Expired - Fee Related CN102466775B (zh) 2010-11-17 2010-11-17 多功能可变换模块测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102466775B (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI464427B (zh) * 2012-09-19 2014-12-11
CN108318753A (zh) * 2017-01-16 2018-07-24 研华股份有限公司 检测系统
CN108318752A (zh) * 2017-01-16 2018-07-24 研华股份有限公司 检测系统
CN110388354A (zh) * 2019-06-25 2019-10-29 中国海洋石油集团有限公司 一种测试系统

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2647574A1 (fr) * 1989-05-12 1990-11-30 Automatisme Robotique Applique Procedes et dispositifs pour effectuer des controles de fabrication visuels d'une serie de pieces identiques
JPH0526959A (ja) * 1991-07-19 1993-02-05 Mitsubishi Electric Corp Icテスト装置
CN1208858A (zh) * 1997-07-07 1999-02-24 日本电气株式会社 操作损耗减小的半导体器件测试系统
JP2002538464A (ja) * 1999-03-01 2002-11-12 フォームファクター,インコーポレイテッド 既知の良品デバイスを使用して期待する応答を生成するための集積回路デバイスの効率的な同時テスト
CN1705095A (zh) * 2004-06-03 2005-12-07 新泻精密株式会社 半导体检查装置及其所使用的被检查部件托盘
CN1774642A (zh) * 2003-02-14 2006-05-17 爱德万测试株式会社 检测集成电路的方法和装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2647574A1 (fr) * 1989-05-12 1990-11-30 Automatisme Robotique Applique Procedes et dispositifs pour effectuer des controles de fabrication visuels d'une serie de pieces identiques
JPH0526959A (ja) * 1991-07-19 1993-02-05 Mitsubishi Electric Corp Icテスト装置
CN1208858A (zh) * 1997-07-07 1999-02-24 日本电气株式会社 操作损耗减小的半导体器件测试系统
JP2002538464A (ja) * 1999-03-01 2002-11-12 フォームファクター,インコーポレイテッド 既知の良品デバイスを使用して期待する応答を生成するための集積回路デバイスの効率的な同時テスト
CN1774642A (zh) * 2003-02-14 2006-05-17 爱德万测试株式会社 检测集成电路的方法和装置
CN1705095A (zh) * 2004-06-03 2005-12-07 新泻精密株式会社 半导体检查装置及其所使用的被检查部件托盘

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI464427B (zh) * 2012-09-19 2014-12-11
CN108318753A (zh) * 2017-01-16 2018-07-24 研华股份有限公司 检测系统
CN108318752A (zh) * 2017-01-16 2018-07-24 研华股份有限公司 检测系统
CN110388354A (zh) * 2019-06-25 2019-10-29 中国海洋石油集团有限公司 一种测试系统
WO2020258922A1 (zh) * 2019-06-25 2020-12-30 中海油田服务股份有限公司 一种测试系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN102466775B (zh) 2014-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN205566642U (zh) 一种蓝牙耳机测试装置
CN102466775A (zh) 多功能可变换模块测试装置
US10026664B2 (en) Apparatus and method to monitor die edge defects
CN103902779A (zh) 一种器件封装库引脚丝印标识的方法
CN104459366B (zh) 电子装置、效能分类系统与方法、电压自动校正系统
CN102183737A (zh) 多通道多参数自动检定系统及自动检定方法
CN204892396U (zh) 集成电路ic测试与视觉检测一体机
CN106093647A (zh) 触控屏的划线老化检测方法及检测系统
CN103630824A (zh) 芯片同测系统
CN201402901Y (zh) 多功能信号转接板
US20120212921A1 (en) Motherboard
CN214041466U (zh) 通用老化母板、转接板及测试装置
CN202256409U (zh) 一种探针卡和使用它的多芯片测试系统
CN106549459A (zh) 充电电压的确定方法和移动终端
CN106251907A (zh) 内建自测系统及方法
CN102866348A (zh) 集成电路测试数据查询系统及查询方法
US20120242347A1 (en) Checking circuit for serial port connectors
US20140380111A1 (en) Testing system for serial interface
CN109443712A (zh) 硅基显示器件的自测试装置、自测试方法及硅基显示器件
CN206002802U (zh) 一种液晶显示器模块的测试主板
CN101719040A (zh) 一种触控面板测试装置
CN201323044Y (zh) 一种具有44个管脚的led显示屏的控制芯片
CN206470367U (zh) 一种用于继电器的测试设备
CN205376129U (zh) 一种基于小型闪存的测试装置
CN103217619A (zh) Pcb板低阻和开短路同步测试系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20141105

Termination date: 20161117

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee