CN102426333A

CN102426333A - 一种接触式ic卡全触点信号测试装置

Info

Publication number: CN102426333A
Application number: CN2011103160579A
Authority: CN
Inventors: 骆科学
Original assignee: Shanghai Huayi Microelectronic Material Co Ltd
Current assignee: Shanghai Huayi Microelectronic Material Co Ltd
Priority date: 2011-10-18
Filing date: 2011-10-18
Publication date: 2012-04-25

Abstract

本发明提供一种接触式IC卡全触点信号测试装置，它包含PCB模拟板及其在该板上设置的IC卡触点、IC卡槽、连接IC卡信号的两端排针和三端排针，用PCB实现接触式IC卡触点的尺寸和位置，模拟接触式IC卡与读卡器通信时的触点接触情形；IC卡槽用来插IC卡；接IC卡信号的两端排针用来连接或者断开IC卡与读卡器的信号连接；三端排针将IC卡触点的信号全部引出，方便测试。使用时，将IC卡插入IC卡槽，需要测试IC触点的哪个信号，就将示波器等测试仪器连接到相应信号连接的排针上，用短路冒将所有两端排针连接，将本装置插入读卡器进行读卡器对IC卡的操作，读卡器与IC卡通信的过程中就可以用示波器等测量仪器全部抓取通信信号。

Description

一种接触式IC卡全触点信号测试装置

技术领域

本发明涉及一种用于接触式IC卡的全触点的信号测试装置。

背景技术

接触式IC卡生产商或者接触式读卡器生产商，在接触式IC卡的或者读卡器研发过程中，需要测试IC卡在与读卡器进行通信过程中各个触点上的信号，分析信号通信过程，使研发人员简捷明了的分析和定位问题。

目前没有相关产品在接触式IC卡插入读卡器后可以引出IC卡全部触点上的信号使研发人员直接测试IC卡所有触点上的信号，大部分是拆开读卡器外壳，直接在读卡器与IC卡连接的信号处将信号引出，不但容易损坏读卡器，也不方便测试。

发明内容

本发明针对现有技术对接触式IC卡在与读卡器通信过程中全部触点信号测试的不足而设计，便于携带，成本低、能够满足接触式IC卡在与读卡器通信过程中方便、可靠的对IC卡全部触点信号的测试需求。

本发明通过以下技术方案来实现：

一种接触式IC卡全触点信号测试装置，其特征在于：包含PCB模拟板，所述PCB模拟板上设置模拟触点、两端排针、三端排针和IC卡槽，模拟触点连接两端排针，两端排针与三端排针相连，三端排针连接IC卡槽。

所述模拟触点设置C1、C2、C3、C4、C5、C6、C7和C8等八个触点，其中C1设置VDD信号端口，C2设置SRST信号端口，C3设置SCLK信号端口，C4设置NC1信号端口，C5设置GND信号端口，C6设置NC2信号端口，C7设置IO信号端口，C8设置NC3信号端口；

所述IC卡槽设置U1、U2、U3、U4、U5、U6、U7和U8等八个针槽，其中U1设置VCC信号端口，U2设置RST信号端口，U3设置CLK信号端口，U4设置NC_1信号端口，U5设置DGND信号端口，U6设置NC_2信号端口，U7设置I/O信号端口，U8设置NC_3信号端口；

所述PCB模拟板上设置P1、P2、P3、P4、P5、P6、P7和P8等八个两端排针，其中P1设置GND和DGND信号端口，P2设置VDD和VCC信号端口，P3设置SRST和RST信号端口，P4设置IO和I/O信号端口，P5设置SCLK和CLK信号端口，P6设置NC_1和NC1信号端口，P7设置NC_2和NC2信号端口，P8设置NC_3和NC3信号端口；

所述PCB模拟板上设置R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7和R8等八个三端排针，其中R1设置GND、DGND和GND信号端口，R2设置VDD、VCC和VDD信号端口，R3设置SRST、RST和SRST信号端口，R4设置IO、I/O和IO信号端口，R5设置SCLK、CLK和SCLK信号端口，R6设置NC1、NC_1和NC1信号端口，R7设置NC2、NC_2和NC2信号端口，R8设置NC3、NC_3和NC3信号端口。

所述模拟触点、两端排针、三端排针和IC卡槽的具体信号连接方式如下：

触点C1连接两端排针P2的VDD信号端口，P2的VDD信号端口连接三端排针R2的VDD信号端口，P2的VCC信号端口连接R2的VCC信号端口，R2的VCC信号端口连接IC卡槽针槽U1；触点C2连接两端排针P3的SRST信号端口，P3的SRST信号端口连接三端排针R3的SRST信号端口，P3的RST信号端口连接R3的RST信号端口，R3的RST信号端口连接IC卡槽针槽U2；触点C3连接两端排针P5的SCLK信号端口，P5的SCLK信号端口连接三端排针R5的SCLK信号端口，P5的CLK信号端口连接R5的CLK信号端口，R5的CLK信号端口连接IC卡槽针槽U3；触点C4连接两端排针P6的NC1信号端口，P6的NC1信号端口连接三端排针R6的NC1信号端口，P6的NC_1信号端口连接R6的NC_1信号端口，R6的NC_1信号端口连接IC卡槽针槽U4；触点C5连接两端排针P1的GND信号端口，P1的GND信号端口连接三端排针R1的GND信号端口，P1的DGND信号端口连接R1的DGND信号端口，R1的DGND信号端口连接IC卡槽针槽U5；触点C6连接两端排针P7的NC2信号端口，P7的NC2信号端口连接三端排针R7的NC2信号端口，P7的NC_2信号端口连接R7的NC_2信号端口，R7的NC_2信号端口连接IC卡槽针槽U6；触点C7连接两端排针P4的IO信号端口，P4的IO信号端口连接三端排针R4的IO信号端口，P4的I/O信号端口连接R4的I/O信号端口，R4的I/O信号端口连接IC卡槽针槽U7；触点C8连接两端排针P8的NC3信号端口，P8的NC3信号端口连接三端排针R8的NC3信号端口，P8的NC_3信号端口连接R8的NC_3信号端口，R8的NC_3信号端口连接IC卡槽针槽U8。

所述两端排针和三端排针的排针间距为2.54mm，PCB模拟板为厚0.8mm的双面覆铜板，IC卡槽型号为KF-003。

所述模拟触点的位置与尺寸的设置使用GB/T16649.2-2006/ISO/IEC 7816-2：1999中定义的位置与尺寸。

本发明为一种全新的产品，在IC卡研发和读卡器的研发过程中有非常积极的效果，可以非常方便的测试IC卡与读卡器在通信过程中八个触点的信号，也可以模拟不同电压值供给IC卡时的通信情况。相对于现有技术，直接在读卡器的管脚上引信号，有着操作方便，便于携带，设计成本低，易产业化的优点。

附图说明

图1为本发明的电路原理结构示意框图。

图2为本发明的电路原理图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步详细说明。

本发明所述的一种接触式IC卡全触点信号测试装置，采用厚度为0.8毫米的双面覆铜板材制作PCB模拟板，PCB模拟板上设置C1、C2、C3、C4、C5、C6、C7、C8等八个触点，触点在PCB模拟板的位置与尺寸使用GB/T 16649.2-2006/ISO/IEC 7816-2：1999中定义的1999《识别卡带触点的集成电路卡第2部分：触点的尺寸和位置》中定义的位置和尺寸，PCB模拟板上还设置P1、P2、P3、P4、P5、P6、P7和P8等八个两端排针，R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7和R8等八个三端排针以及U1、U2、U3、U4、U5、U6、U7和U8等八个IC卡针槽。模拟触点C1设置VDD信号端口，C2设置SRST信号端口，C3设置SCLK信号端口，C4设置NC1信号端口，C5设置GND信号端口，C6设置NC2信号端口，C7设置IO信号端口，C8设置NC3信号端口；IC卡针槽U1设置VCC信号端口，U2设置RST信号端口，U3设置CLK信号端口，U4设置NC_1信号端口，U5设置DGND信号端口，U6设置NC_2信号端口，U7设置I/O信号端口，U8设置NC_3信号端口；两端排针P1设置GND和DGND信号端口，P2设置VDD和VCC信号端口，P3设置SRST和RST信号端口，P4设置IO和I/O信号端口，P5设置SCLK和VCC信号端口，P6设置NC_1和NC1信号端口，P7设置NC_2和NC2信号端口，P8设置NC_3和NC3信号端口；三端排针R1设置GND、DGND和GND信号端口，R2设置VDD、VCC和VDD信号端口，R3设置SRST、RST和SRST信号端口，R4设置IO、I/O和IO信号端口，R5设置SCLK、CLK和SCLK信号端口，R6设置NC1、NC_1和NC1信号端口，R7设置NC2、NC_2和NC2信号端口，R8设置NC3、NC_3和NC3信号端口。

将触点的VDD、SRST、SCLK、NC1、NC2、IO、NC3和GND信号分别连接到两端排针P1、P2、P3、P4、P5、P6、P7、P8对应于VDD、SRST、SCLK、NC1、NC2、IO、NC3和GND信号的端口；两端排针P1、P2、P3、P4、P5、P6、P7、P8对应于VDD、SRST、SCLK、NC1、NC2、IO、NC3和GND信号端口分别连接到三端排针R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7和R8对应于VDD、SRST、SCLK、NC1、NC2、IO、NC3和GND信号的端口；两端排针P1、P2、P3、P4、P5、P6、P7、P8对应于VCC、RST、CLK、NC_1、NC_2、I/O、NC_3和DGND信号的端口分别连接到三端排针R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7和R8对应于VCC、RST、CLK、NC_1、NC_2、I/O、NC_3和DGND信号的端口；三端排针R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7和R8对应于VCC、RST、CLK、NC_1、NC_2、I/O、NC_3和DGND信号的端口分别连接到IC卡针槽对应于VCC、RST、CLK、NC_1、NC_2、I/O、NC_3和DGND信号的端口。

使用时，将IC卡插入本装置的IC卡槽，需要测试IC触点的哪个信号，将示波器等测试仪器连接到相应信号连接的三端排针上，用短路冒将所有两端排针连接，将本装置插入读卡器进行读卡器对IC卡的操作，这样可以模拟IC卡直接插入读卡器进行通信的情形，读卡器与IC卡通信的过程就可以用示波器全部抓取通信信号。

也可以断开任意两端排针的连接，实现IC卡与读卡器连接的信号，测试有信号断开时的测试状态，便于测试过程中的问题分析和问题定位。

也可以断开两端排针中IC卡与读卡器的电源连接端，由外部电源直接给IC卡供电，测试IC在不同电压值时与读卡器的通信状态，便于问题分析和问题定位。

本方案利用PCB模拟板模拟IC卡与读卡器通信时的触点接触情形，将IC卡八个触点的信号全部引出，经过一个两端排针，再经过一个三端排针，将IC卡八个触点分别对应连接到IC卡槽的八个触点上，这部分的功能是将IC卡的八个触点信号全部引出连接到IC卡槽，中间加入排针的作用是实现可以将任意信号断开和方便将信号引出测试。

Claims

1.一种接触式IC卡全触点信号测试装置，其特征在于：包含PCB模拟板，所述PCB模拟板上设置模拟触点、两端排针、三端排针和IC卡槽，模拟触点连接两端排针，两端排针与三端排针相连，三端排针连接IC卡槽。

2.如权利要求1所述的一种接触式IC卡全触点信号测试装置，其特征在于：

3.如权利要求1所述的一种接触式IC卡全触点信号测试装置，其特征在于：所述模拟触点、两端排针、三端排针和IC卡槽的具体信号连接方式如下：

触点C1连接两端排针P2的VDD信号端口，P2的VDD信号端口连接三端排针R2的VDD信号端口，P2的VCC信号端口连接R2的VCC信号端口，R2的VCC信号端口连接IC卡槽针槽U1；触点C2连接两端排针P3的SRST信号端口，P3的SRST信号端口连接三端排针R3的SRST信号端口，P3的RST信号端口连接R3的RST信号端口，R3的RST信号端口连接IC卡槽针槽U2；触点C3连接两端排针P5的SCLK信号端口，P5的SCLK信号端口连接三端排针R5的SCLK信号端口，P5的CLK信号端口连接R5的CLK信号端口，R5的CLK信号端口连接IC卡槽针槽U3；触点C4连接两端排针P6的NC1信号端口，P6的NC1信号端口连接三端排针R6的NC1信号端口，P6的NC_1信号端口连接R6的NC_1信号端口，R6的NC_1信号端口连接IC卡槽针槽U4；触点C5连接两端排针P1的GND信号端口，P1的GND信号端口连接三端排针R1的GND信号端口，P1的DGND信号端口连接R1的DGND信号端口，R1的DGND信号端口连接IC卡槽针槽U5；触点C6连接两端排针P7的NC2信号端口，P7的NC2信号端口连接三端排针R7的NC2信号端口，P7的NC_2信号端口连接R7的NC_2信号端口，R7的NC_2信号端口连接IC卡槽针槽U6；触点C7连接两端排针P4的IO信号端口，P4的IO信号端口连接三端排针R4的IO信号端口，P4的I/O信号端口连接R4的I/O信号端口，R4的I/O信号端口连接IC卡槽针槽U7；触点C8连接两端排针P8的NC3信号端口，P8的NC3信号端口连接三端排针R8的NC3信号端口，P8的NC_3信号端口连接R8的NC 3信号端口，R8的NC_3信号端口连接IC卡槽针槽U8。

4.如权利要求1所述的一种接触式IC卡全触点信号测试装置，其特征在于：所述两端排针和三端排针的排针间距为2.54mm，PCB模拟板为厚0.8mm的双面覆铜板，IC卡槽型号为KF-003。

5.如权利要求1所述的一种接触式IC卡全触点信号测试装置，其特征在于：所述模拟触点的位置与尺寸的设置使用GB/T16649.2-2006/ISO/IEC 7816-2：1999中定义的位置与尺寸。