CN102422626B

CN102422626B - 记录装置的校准

Info

Publication number: CN102422626B
Application number: CN201080020909.3A
Authority: CN
Inventors: A·瓦尔内斯
Original assignee: Eastman Kodak Co
Current assignee: Eastman Kodak Co
Priority date: 2009-05-07
Filing date: 2010-04-22
Publication date: 2014-08-06
Anticipated expiration: 2030-04-22
Also published as: US20100283813A1; JP2012526004A; US8132886B2; EP2428029A1; CN102422626A; WO2010129015A1

Abstract

本发明涉及用于改变记录装置(10)的校准以调节几何畸变的方法，所述方法包括：提供用于承载记录介质(17)的介质支架(12)；提供适于沿路径移动的滑架(18)；在所述滑架上提供记录头(16)；操作所述记录头以在所述记录介质以第一取向(50A)被定位在所述介质支架上的同时在所述记录介质上形成图像特征的图案；以第二取向(50B)将所述记录介质定位在所述介质支架上，其中所述第二取向不同于所述第一取向；在所述记录介质以所述第二取向被定位在所述介质支架上的同时检测所述图像特征的图案的畸变；以及依照被检测到的畸变调节所述滑架的移动。

Description

记录装置的校准

技术领域

本发明涉及用于在记录介质上形成图像的记录装置。更具体地，本发明涉及这样的记录装置的校准。

背景技术

各种记录装置被用于在记录介质上形成图像。例如，计算机直接制版系统(也被称为CTP系统)被用于在印刷板上形成图像。多个成像的印刷版随后被提供给印刷厂，来自所述印刷版的图像在印刷厂里被转移到纸或其他适合的表面上。重要的是多个图像被相对于彼此准确对齐以确保图像之间的准确配准。重要的是每个图像都是几何上正确的并且没有畸变以确保完成的印刷文章的所希望的质量特征。图像的几何特征可包含但不限于：图像部分的所希望的尺寸或一个图像部分与另一个图像部分的所希望的对齐。

在记录介质上所形成的图像的几何准确性取决于许多因素。例如，可通过将介质装载在支架上并且朝介质引导成像光束以在其上形成图像而在记录介质上形成图像。可通过在多次扫描期间用成像光束扫描记录介质来形成图像。成像光束相对于记录介质的定位准确性影响所形成的图像的几何正确性。成像光束在每次扫描期间的所要求的定位的偏差可导致成像误差。

为了减少成像误差，记录系统通常被校准。通常在记录介质上形成校准图像并且对校准图像进行分析来确定偏差。与校准图像的所希望的几何特征相关联的偏差通常通过在记录系统中执行各种调节而被纠正。所述调节在本质上可以是电子的或是机械的。校准图像的分析通常在专门的和专用的设备上执行，所述设备可包括各种图像捕获传感器。例如，CCD传感器可被用于捕获校准图像的各种图像，而控制器可被用于分析所捕获的图像并且从其中确定校准信息。

专门的和专用的校准系统是昂贵的并且其本身要求定期的校准以保证它们的可靠性。这样的系统通常在制造记录系统的工厂中被采用。基于工厂的校准系统使在现场对记录系统的校准变得复杂。例如，将需要在现场制作测试图像并且进而将所述测试图像运送到另一个地点进行分析。这增加了校准所要求的时间并且增大了成像误差出现的可能性。对允许记录装置的校准以由记录装置纠正在记录介质上所形成的图像的几何畸变的有效并且实用的方法和系统依然有需要。

发明内容

简要地说，根据本发明的一个方面，本发明涉及用于改变记录装置的校准以调节几何畸变的方法，所述方法包括：提供用于承载记录介质的介质支架；提供适于沿路径移动的滑架；在所述滑架上提供记录头；操作所述记录头以在所述记录介质以第一取向被定位在所述介质支架上的同时在所述记录介质上形成图像特征的图案；以第二取向将所述记录介质定位在所述介质支架上，其中所述第二取向不同于所述第一取向；在所述记录介质以所述第二取向被定位在所述介质支架上的同时检测所述图像特征的图案的畸变；以及依照被检测到的畸变调节所述滑架的移动。

根据本发明的另一个方面，记录装置包括：包括圆柱形表面的介质支架，其适于承载记录介质；记录头；滑架，其适于沿相对于所述介质支架的旋转轴的路径移动所述记录头；传感器；以及控制器，所述控制器被配置用于：操作所述滑架以在将图像特征的图案形成在以第一取向被定位在所述圆柱形表面上的记录介质上的同时沿所述路径移动所述记录头；操作所述传感器以在所述记录介质以第二取向被定位在所述圆柱形表面上的同时检测所述图像特征的图案的副扫描畸变，所述第二取向不同于所述第一取向；以及依照被检测到的副扫描畸变调节所述滑架的速度。

附图说明

本发明的实施例和应用由所附的非限制性附图示意。附图是为了示意本发明的概念的目的并且可以不是按比例的。

图1是在本发明的示例实施例中所采用的记录装置的局部示意性视图；

图2示出了表示用于校准如本发明的示例实施例所采用的记录装置的方法的流程图；

图3是要在记录介质上形成的目标图像的示意性平面视图；

图4是响应图3的目标图像的所希望的成像而在记录介质上形成的校准图像的示意性平面视图；

图5A示出了图1所示的记录头的横摆(yawing)移动所引起的副扫描畸变的示例；

图5B示出了图1中所示的记录装置的导向系统中的非准直(non-straightness)所引起的主扫描畸变的示例；

图5C示出了图1所示的记录头的纵摇移动所引起的主扫描畸变的示例；

图6示出了表示按照本发明的示例实施例的用于调节图1的记录装置的校准的方法的流程图；

图7A示出了包括第一图像特征在以第一取向定位在图1的记录装置的介质支架上的记录介质上的形成的本发明的示例实施例；

图7B示出了包括第二图像特征在以与第一取向不同的取向定位在图1的记录装置的介质支架上的图7A的记录介质上的形成的本发明的示例实施例；

图7C示出了其中在记录介质以与第一取向不同的第二取向被定位在图1的记录装置的介质支架上时检测到图7A的第一图像特征中的畸变的本发明的示例实施例；

图7D示出了包括图像特征的图案在以第一取向定位在图1的记录装置的介质支架上的记录介质上的形成的本发明的示例实施例；

图7E示出了其中在记录介质以与第一取向不同的第二取向被定位在图1的记录装置的介质支架上时检测到图7D的图像特征的图案中的畸变的本发明的示例实施例。

图7F示出了如在展开的或平面的取向上所示的、图7B的记录介质上的第一图像特征和第二图像特征。

图8示意性地示出了从用传感器对第一图像特征的各个部分的检测得到的、对图7A的图像特征中的畸变的错误确定，所述传感器沿大体上平行于第一图像特征的畸变形式的路径被移动。

具体实施方式

贯穿以下说明，特定细节被呈现以向本领域的技术人员提供更彻底的理解。然而，众所周知的元件可能未被示出或未被详细描述以避免不必要地混淆本公开内容。因此，应从示意性的而不是限制性的意义上来看待说明和附图。

图1示意性地示出了按照本发明的示例实施例的用于在记录介质17上形成图像19(即示意性地由虚线表示)的记录装置10。记录介质17可包括各种包括适用于在其上形成图像19的表面的介质。记录装置10包括介质支架12，所述介质支架在这个示例实施例中按照外滚筒式构造被配置。本发明的其他实施例可包括根据例如内滚筒式构造或平台式构造所配置的其他形式的介质支架。在这个示例实施例中，记录介质17在介质支架12的圆柱形表面13上被支撑。由夹具28A和28B将记录介质17的一个或多个边缘部分固定在圆柱形表面13上。本发明的其他示例实施例可通过其他方法将记录介质17固定在介质支架12上。例如，可通过包括在表面之间提供低压源在内的各种方法将记录介质17的表面固定在圆柱形表面13上。介质支架12可移动地与支架20耦合。在这个示例实施例中，介质支架12旋转地与支架20耦合。在这个示例实施例中，介质支架12包括多个配准特征25，所述配准特征包括配准特征25A和配准特征25B。

记录装置10包括相对于介质支架12可移动的记录头16。在本发明的这个示例实施例中，介质支架12适于通过绕其旋转轴旋转来移动。在这个示例实施例中，记录头16被装载在可移动的滑架18上。滑架18被操作用于使记录头16沿与介质支架12的旋转轴对齐的路径被移动。运动系统22被采用以提供记录头16与介质支架12之间的相对移动。运动系统22(其可包括一个或多个运动系统)可包括对于所要求的移动所需要的任何适合的驱动。在本发明的这个示例实施例中，运动系统22被用于沿与主扫描轴26对齐的路径移动介质支架12，并且被用于沿与副扫描轴24对齐的路径移动记录头16。导向系统32被用于引导在传输构件33的影响下被移动的滑架18。在本发明的这个示例实施例中，传输构件33包括精密螺旋结构。在其他示例实施例中，直线电动机被采用以移动记录头16。在一些示例实施例中，多个记录头16被移动使得记录头16中的每一个独立于彼此被移动。在一些示例实施例中，多个记录头16串联地被移动。

本领域的技术人员将认识到记录头16与介质支架12之间的各种形式的相对移动可依照本发明被使用。例如，在一些情况下当介质支架12被移动时记录头16可以是静止的。在其他情况下，介质支架12是静止的而记录头16被移动。在还有其他情况下，记录头16和介质支架12两者都被移动。记录头16和介质支架12中的一个或两者可沿对应的路径往复运动。独立的运动系统还可被用于操作记录装置10内的不同系统。

在这个示例实施例中，记录头16包括诸如激光的辐射源(未被示出)。在各种示例实施例中，记录头16包括一个或多个单独可寻址的记录通道23，记录通道23中的每一个都可被控制用于在记录介质17上形成各个图像部分。可用包括一维或二维阵列构造在内的不同构造来布置多个记录通道23。在这个示例实施例中，当在记录介质17上扫描以形成图像19时，记录头16可被控制用于发射各种成像光束21。根据指定要被写入的图像的图像数据37，成像光束可以是按图像调制的。在这个示例实施例中，记录通道23中的一个或多个被适当地驱动以无论在任何希望形成图像19的成像部分的地方都产生具有活动强度水平的成像光束21。不对应于成像部分的记录通道23被驱动以便不对对应的区域成像。记录通道23中的每一个都可被控制用于依照图像数据37所提供的信息在记录介质17上形成通常被称为图像像素或图像点的图像的单位元素。各个图像像素可与其他图像像素结合以形成图像19的各个特征。在一些示例实施例中，可按各种图案来布置图像像素，包括半色调图案、随机图案和混合图案(即包括半色调图案和随机图案的图案)。在一些示例实施例中，可按各种非遮蔽图案(non-screened pattern)来布置图像像素(例如网格图案或各种基准点的图案)。

可通过不同方法在记录介质17上形成图像19。例如，记录介质17可包括可更改的表面，其中当被成像光束21照射时可更改的表面的特性或特征被改变。成像光束21可被用于烧蚀记录介质17的表面以形成图像19。成像光束21可被用于促进图像形成材料向记录介质17的表面的转移以形成图像19(例如热转移过程)。成像光束21可经历从辐射源到记录介质17的直接路径，或可通过一个或多个光学元件使其朝记录介质偏转。在本发明的一些示例实施例中，用其他图像形成技术来形成图像19。例如，在一些喷墨过程中，记录通道23可适于朝记录介质17发射图像形成材料以在其上形成图像19。

多组记录通道23可形成图像带(image swath)，其具有与在给定的扫描期间所成像的第一个像素和所成像的最后一个像素之间的距离有关的宽度。记录介质17通常太大以致于不能在单个图像带内被成像。通常形成多个成像带以在记录介质17上完成图像。

记录装置10包括传感器52和照明器55。传感器52适于检测各种实体的存在，所述实体包括但不限于图像19的各个部分。照明器55适于照亮各个实体并且可在这些实体的检测期间可选地被采用。

可包括一个或多个控制器的控制器30被用于控制记录装置10的一个或多个系统，所述一个或多个系统包括但不限于被介质支架12和滑架18所使用的各个运动系统22。控制器30还可控制介质装卸机构，该介质装卸机构可分别发起记录介质17向介质支架12的加载或记录介质17从介质支架12的卸载。控制器30还可向记录头16提供图像数据37，并且依照这个数据控制记录头16发射成像光束21。控制器30还可控制传感器52和照明器55。可使用各种控制信号或实施各种方法来控制各个系统。控制器30是可编程的并且可被配置用于执行适合的软件以及可包括一个或多个数据处理器，连同适合的硬件，所述硬件以非限制性示例的方式包括：可存取存储器、逻辑电路、驱动器、放大器、A/D和D/A转换器、输入/输出端口等等。控制器30可包括但不限于微处理器、片上计算机、计算机的CPU或任何其他适合的微处理器。控制器30可由若干不同的或逻辑单元组成，其中每一个都专用于执行特定的任务。

图2示出了表示如本发明的示例实施例所采用的那样校准记录装置的方法100的流程图。参照图1所示的记录装置10来描述图2所示的各个步骤。这只是为了示意的目的并且其他适合的记录装置可被用在本发明中。记录装置10可被用于在各种记录介质17上形成各种所希望的图像。在这个示例实施例中，所希望的是记录装置10被操作用于形成如图3所示意性地表示的那样的目标图像40。在这个示例实施例中，目标图像40包括由目标单元格41构成的精确的网格图案，所述单元格由所希望的尺寸的图像边界定义。在这个示例实施例中，单元格41是正方形的。目标图像40被表示为与记录介质17的各个边缘理想对齐，为了清楚起见以展开的或“平面的”取向示出记录介质17。特别地，所希望的是形成相对于记录介质17A的第一边缘35和第二边缘36所定位的目标图像40。在这个示例实施例中，第一边缘35要与副扫描轴24对齐，而第二边缘36要与主扫描轴26对齐。在本发明的其他示例实施例中，所希望的可以是将目标图像40的各个部分与记录介质17A的各个其他配准点对齐。在这个示例实施例中，相对于主扫描轴26和副扫描轴24来描述目标图像40的几何特征。

目标图像40由各种图像数据表示，所述图像数据被提供给控制器30以在记录介质17A上形成图像。在本发明的这个示例实施例中，控制器30控制运动系统22以在成像期间产生记录头16与记录介质17A之间的相对移动。在本发明的这个示例实施例中，通过介质支架12的旋转以协同的方式平移记录头16来形成各个图像带。在一些示例实施例中，图像带是用圆形扫描技术所形成的环形的或圆形的图像带。在这个示例实施例中，图像带是用螺旋扫描技术形成的螺线形或螺旋形的图像带。

在步骤110中，记录装置10被操作用于响应表示目标图像40的图像数据而形成校准图像。图4示意性地示出了由记录头16响应目标图像40的所希望的成像而在记录介质17A上形成的示例校准图像19A。为了清楚起见，以“平面的”取向描绘记录介质17A和圆柱形表面13。校准图像19A包括对应于目标单元格41的多个成像单元格42。如图4所示，校准图像19A有畸变并且并不正好对应于目标图像40。各种成像畸变出现在校准图像19A的不同区域。各个成像单元格42并不正好对应于目标图像40中对应的目标单元格41。例如，包括成像单元格42A在内的一列成像单元格42相对于包括成像单元格42B在内的一列成像单元格42沿主扫描轴26的方向偏移。图4还示出了包括成像单元格42C在内的各个成像单元格42如与对应的目标单元格41所比较的那样沿副扫描轴24的方向在尺寸上被拉长。应理解的是图像畸变不限于成像单元格42A和42C，并且校准图像19A中的其他成像单元格42也可以相似的或不同的方式有畸变。

位置或尺寸的畸变可由于若干原因而发生。例如，总体缩放(scaling)问题可由温度变化引起。记录介质17、介质支架12以及诸如传输构件33的各个传输部件中的一个或多个可包括具有不同热膨胀系数的不同材料成分。不同的膨胀率可导致缩放问题。滑架18沿形式上不完美的导向系统32移动。导向系统32可包括各种适合的导向轨道和受引导的构件，其可包括滑动的或旋转的移动轴承元件。即使在使用高精度部件时瑕疵也可能存在。诸如受引导的构件与导向轨道之间的游隙、导向轨道的准直度以及支架20的下垂等机械因素可导致成像瑕疵。

滑架18沿与副扫描轴24对齐的路径移动，这些瑕疵可使记录头16经受各种额外的移动，所述额外的移动可不利地影响成像光束21到记录介质17上的投影。可参照图5A、5B和5C使成像瑕疵形象化。

图5A示出了成像光束21到记录介质17A上的投影中的副扫描畸变的可能原因。在这种情况下，当滑架18沿与副扫描轴24对齐的路径移动时，滑架18经受沿横摆方向27的小的横摆旋转(为了清楚起见被放大)。这引起了成像光束21到记录介质17A上的投影的变化，该变化可引起所形成的图像沿副扫描方向的畸变。滑架18的横摆移动可由于包括导向系统32中的游隙在内的许多原因引起。进一步地，其他部件中的瑕疵可导致副扫描偏差。例如，传输构件33可包括精密导螺杆，其可在沿其长度的各个点上具有轻微的纵摇不规则性。纵摇不规则性可在所形成的图像中引起副扫描畸变。

图5B和图5C示出了成像光束21到记录介质17A上的投影中的主扫描畸变的可能原因。主扫描畸变可由不同的原因引起。例如，当滑架18沿导向系统32移动时，它可经受沿如图5B所示的与主扫描轴26对齐的方向的各种位移。为了清楚起见，已在图5B中将这些位移放大。这些位移可由各种因素引起，所述因素可包括导向轨道的准直度的偏差。导向轨道的准直度的偏差可由包括轨道的重力下垂和支架20的重力下垂在内的各种原因引起。重力下垂可不利地影响成像光束21的主扫描定位准确性。主扫描畸变可由于当记录头16沿与副扫描轴24对齐的路径被移动时滑架18经受沿纵摇方向29的小的纵摇移动而被引起(即在图5C中为了清楚起见被放大)。纵摇位移可由包括导向系统32中的游隙在内的许多原因引起。本领域的技术人员将意识到所描述的图像畸变在本质上是示例性的并且其他类型的畸变也可能发生。

参照回图2，记录装置10在步骤120中被调节以纠正校准图像19A的畸变。可通过各种方法来纠正畸变。在本发明的一些示例实施例中，诸如成像单元格42A和42B之间的偏移的主扫描畸变可通过调节记录通道23的各个部分的激活时机而被纠正。虽然为形成或不形成图像像素对给定记录通道23的激活依赖于图像数据，但是给定的记录通道23或给定的一组记录通道23的激活的时机可被调节。各个记录通道23的激活时机的调节可被用于延迟或提前那些记录通道的激活以形成或不形成一个或多个图像像素。各个记录通道23可被控制以沿主扫描方向相对于图像带的额外部分偏置图像带的第一部分。各个记录通道23可被控制以沿主扫描方向从额外的图像带的一部分偏置给定的图像带的一部分。图像带的一部分可包括整个图像带。当记录头16沿与副扫描轴24对齐的路径被移动时，记录头16内的各个记录通道23的激活时机可在各个点被调节。当记录头16被定位在对应于校准图像19A的区域中的各种畸变的各个副扫描位置时，可对各个记录通道23进行激活时机调节。在本发明的这个示例实施例中，独立于图像数据进行激活时机改变。在其他示例实施例中，图像数据被操纵来达到相似的效果。控制器30可被配置用于向记录头16提供信号以调节一些或所有记录通道23的激活时机来补偿对应于记录头16的特定副扫描定位的所预期的图像畸变。运动系统22可包括适合的传感器或编码器(未示出)，所述传感器或编码器可生成表示记录头16和/或介质支架12的位置的各种信号。在本发明的一些示例实施例中，这些信号可被控制器30用于在沿记录头16的行进路径的各个位置上调节各个记录通道23的激活时机。在一些示例实施例中，控制器30使用开环控制技术来追踪记录头16的位置。

诸如被拉长的成像单元格42的副扫描畸变可通过各种方法被纠正。在本发明的一些示例实施例中，滑架18的移动被调节。在本发明的一些示例实施例中，传输构件33的移动被调节。调节滑架18或传输构件33的移动可包括调节滑架18或传输构件33的速度。例如，在基于滚筒的记录系统(例如记录装置10)中，由于滑架18在介质支架12被旋转的同时被平移，螺线形或螺旋形的图像带被形成。通过调节传输构件33或滑架18的速度，螺旋形的带的纵摇可被调节以将图像缩放到所希望的尺寸。在本发明的一些示例实施例中，匀速调节可被用于调节所形成的图像的总体尺寸。在本发明的一些示例实施例中，非匀速调节可被用于调节所形成的图像的一部分的尺寸。例如，在沿滑架18的移动路径的各个点上调节传输构件33的速度可被用于纠正对应于那些点的图像畸变。在沿滑架18的移动路径的各个点上调节传输构件33的速度可被用于纠正传输构件33的纵摇差异。在沿滑架18的移动路径的各个点上调节传输构件33的速度可被用于纠正与记录头16的特定定位相关联的横摆位移。控制器30可被编程用于向运动系统22提供信号以调节滑架18或传输构件33的移动。在本发明的一些示例实施例中，传感器或编码器信号可被用于辅助控制器30在沿记录头16的行进路径的各个位置上调节滑架18或传输构件33的移动。

包括激活时机调节和/或移动调节在内的成像纠正通常在给定的时间点在工厂中在专用设备上被确定。记录装置10的重新校准可由于各种原因而在将来的某个时间被需要。例如，环境温度改变可与初始校准被执行的条件不同。运动系统22和导向系统32中的各个部件可随着使用而磨损并且降低这些系统的精度和准确性。如支架20的结构元件可由于各种加载条件而随时间蠕变。结构元件的蠕变可以是一个因素，特别是在较大的记录系统中。这些及其他因素可起作用而更改记录头16所发射的成像光束21与记录介质17之间的理想对齐，从而降低了记录头16所形成的图像的可靠性。

图6示出了表示按照本发明的示例实施例的用于调节记录装置的校准的方法200的流程图。参照图1所示的记录装置10来描述图6所示的各个步骤。这只是为了示意的目的并且其他适合的记录装置可被用在本发明中。依照步骤210，以第一取向将记录介质17B定位在介质支架12上。图7A示出了记录介质17B按照本发明的示例实施例以第一取向50A在记录装置10的介质支架12上的定位。

在本发明的这个示例实施例中，记录介质17B被适当地定位在介质支架12上以允许记录头16在记录介质17B的表面上形成图像。在这个示例实施例中，通过将记录介质17B的第一边缘35A与位于介质支架12上的多个配准特征25对齐而将记录介质17B定位在第一取向50A上。在一些示例实施例中，配准特征25中的每一个可包括适于与第一边缘35A接触以将记录介质17B与适合于采取图像形成动作的第一取向50A对齐的表面。在这个示例实施例中，通过建立第一边缘35A与配准特征25A和25B之间的接触来定义第一取向50A。特别地，在第一边缘35A上的配准点64和66处建立接触。在一些示例实施例中，配准特征25中的每一个可包括适于将正在定位的记录介质17B引导到适合于成像的第一取向50A上的指示器。在一些示例实施例中，记录介质17B被定位在介质支架12上随机的第一取向50A上，并且记录头16的各个图像形成参数被调节以适应该随机的取向。非限制性地举例来说，对图像形成参数的调节可包括激活时机或对记录头16相对于副扫描轴24的倾斜度的调节。在一些示例实施例中，各种传感器被采用以检测记录介质17B的各个边缘上的各个点来确定其取向。

在这个示例实施例中，记录介质17B以第一取向50A被定位使得第一边缘35A沿大体上平行于副扫描轴24的方向延伸。在其他示例实施例中，记录介质17B以第一取向50A被定位使得第一边缘35A沿相对于副扫描轴24偏斜的方向延伸。

在步骤220中，当记录介质17B以第一取向50A被定位时，记录装置10被操作用于在记录介质17B上形成至少一个图像特征。在这个示例实施例中，所述至少一个图像特征包括第一图像特征60，该第一图像特征包括适合于确定可能要求记录装置10的校准改变的图像畸变的存在的形式。在这个示例实施例中，第一图像特征60包括适合于确定主扫描图像畸变的存在的形式，所述主扫描图像畸变可能在记录装置10先前的校准之后出现。在这个示例实施例中，所希望的是记录装置10被操作用于形成沿大体上平行于副扫描轴24的方向延伸的延长的第一图像特征60。在这个示例实施例中，如在先前的校准(例如校准方法100)中所建立的各种激活时机和移动纠正在第一图像特征60的形成期间被进行以纠正先前所识别的图像畸变。

可用各种方式操作记录装置10以形成第一图像特征60。例如，第一图像特征60的各个部分可在多个螺旋形扫描期间被形成，所述螺旋形扫描通过介质支架12和记录头16两者的协同移动被产生。可替换地，第一图像特征60的各个部分可在多个环形或圆形扫描期间被形成，其中每个扫描在记录头16在固定的副扫描位置上保持静止并且介质支架12在主扫描方向上旋转时被产生。其他图像形成技术可包括副扫描扫描技术，其中当记录头16在形成第一图像特征60的一部分的同时沿副扫描轴24被平移时介质支架12被维持在所希望的主扫描位置上。如图7A所示，在本发明的这个示例实施例中第一图像特征60依照图像数据37A被形成。

如图7A所示，图像畸变存在于所形成的第一图像特征60中。特别地，第一图像特征60被示出为包括弯曲的形式(即为了清楚起见被放大)而不是其所预期的直线延长形式，由此指示需要新的成像纠正。应理解的是所示意的弯曲畸变仅以示例的方式被提供而其他畸变形状也是可能的。在这个示例实施例中，第一图像特征60的畸变在步骤250中被传感器52检测。

在本发明的一些实施例中，一个或多个传感器52位于支架20上，处在适合于检测各种图像特征或其部分的各个副扫描位置。在本发明的这个示例实施例中，传感器52以与记录头16的预先确定的对齐被装载在滑架18上。当运动系统22控制滑架18和介质支架12在适合于第一图像特征60的各个部分的检测的位置上的定位时，传感器52可操作用于检测这些部分。例如，参考图7A，第一图像特征60的各个部分可被传感器52检测，该传感器被定位在滑架18所行进的路径上的适当的检测位置上。运动系统22所提供的各种编码器/传感器信号可被用于确定滑架18相对于第一图像60的部分的位置。在本发明的各种实施例中，描述第一图像特征60的各个部分中的每一个的位置或取向的信息由控制器30根据来自运动系统22和传感器52的各种信号来确定。

虽然滑架18可被操作用于将传感器52定位在各个副扫描位置，但是这个操作不一定有助于检测第一图像特征60的畸变。在类似于先前结合图5A、5B和5C所描述的那些的方式中，当记录头16在第一图像特征60的形成期间被定位在沿有偏差的副扫描移动路径的各个位置上时，第一图像特征60的畸变可由记录头16的定位和/或取向的改变引起。记录头16的定位的这种改变可由包括支架20的蠕变在内的不同因素引起。然而，应注意的是因为传感器52也位于滑架52上，它也将沿与有偏差的副扫描移动路径大体上相同的传感器移动路径54(未图7A中示出)行进，记录头16在畸变的第一图像特征60的形成期间沿所述有偏差的副扫描移动路径行进。

沿传感器移动路径54的这种传感器移动的后果示意性地在图8中被描绘。图8示出了大致平行于在记录介质17B以第一取向50A被定位时所形成的畸变的第一图像特征60的形状的传感器移动路径54。如前所述，当传感器52被移动到沿传感器移动路径54的各个位置时，第一图像特征60的各个部分可被传感器52检测。包括畸变的第一图像特征60的每个被检测到的部分的主扫描位置信息在内的各种信息可被提供给控制器30以识别所述部分中的每一个的位置。然而，由于在每个检测位置上传感器52在位置上偏移与畸变的第一图像特征60的被检测到的部分的主扫描位置变化有关的量，所以被提供给控制器30的主扫描位置信息使得控制器30将不正确地认为畸变的第一图像特征60包括如图8所示意性地示出的大体上无畸变的形式60A。这样的结果将错误地暗示不需要记录装置10的重新校准。由于各个传感器52在支架20上的定位也可结合导致第一图像特征60的畸变的记录装置10的改变而变化，所以如果一系列传感器52被附加至支架20上的各个副扫描位置，那么相似的结果可能出现。

在本发明的这个示例实施例中，记录介质17B被重新定位在介质支架12上以减少前述检测问题的发生。在步骤240中，记录介质17B以不同于第一取向50A的第二取向50B被定位在介质支架12上。在这个示例实施例中，在第一图像特征60已被形成在记录介质17B上之后，记录介质17B以第二取向50B被定位在介质支架12上。如图7C所示，在检测第一图像特征60的各种畸变之前，记录介质17B被重新定位在介质支架12上使得第二边缘36A被定位在配准特征25附近(vicinity)。在这个示例实施例中，第二边缘36A是记录介质17B的与第一边缘35A横向对齐的边缘。在这点上，记录介质17B在介质支架12上的第二取向50B表示记录介质17B相对于第一取向50A的旋转。在本发明的这个示例实施例中，绕沿大体上垂直于圆柱形表面13的方向与圆柱形表面13相交的轴进行这种代表性旋转。在这个示例实施例中，这种代表性旋转大致为90度而在其他实施例中，这种代表性旋转可落在大致85度到95度的范围内。诸如第一边缘35A与第二边缘36A之间的非垂直等因素可引起该代表性旋转的变化。

在本发明的一些示例实施例中，当维持与介质支架12的接触时记录介质17B被重新定位。在其他示例实施例中，记录介质17在以第二取向50B被定位在介质支架12上之前被从介质支架12上移除。在一些示例实施例中，记录介质17B可在以第二取向50B被定位在介质支架12上之前经受一个或多个其他步骤。这些其他步骤可使记录介质17B经受包括例如记录介质17B的表面的机械的、热的或化学的修正在内的各种过程。这些过程中的一些可被用于增强记录介质17B的成像区域与记录介质17B的未被成像的区域之间的对比度(contrast)。

在本发明的这个示例实施例中，记录介质17B被定位在介质支架12上以允许传感器52成功地检测到第一图像特征60的畸变。通过以第二取向50B将记录介质17B定位在介质支架12上，前述错误结果的出现可被减少。在本发明的这个示例实施例中，第二取向50B对应于第一图像特征60在介质支架12上的、传感器52定位的不希望的偏差在第一图像特征60的检测期间可被减少的位置上的定位。

如在图7C中所表示的那样，传感器52被定位在第一副扫描位置56上并且介质支架12沿主扫描轴26的方向被移动以相继将第一图像特征60的各个部分定位在适合于由传感器52检测的位置上。在本发明的这个示例实施例中，传感器52在所述检测期间被维持在第一副扫描位置56上。在这个示例实施例中，介质支架12沿主扫描轴26的移动与导致第一图像特征60的畸变的、滑架18沿副扫描轴24的移动相比不那么易受偏差影响。在这个特定的实施例中，介质支架12是经由旋转轴承(未示出)旋转地与支架20耦合的圆柱形构件。适合的旋转轴承可包括例如各种精密深沟球轴承、各种精密角接触轴承以及各种精密自位轴承。这些旋转轴承通常虑及可能由于引起第一图像特征60的畸变的记录装置10的各种改变而出现的微小量的转轴未对齐。在这点上，介质支架12沿主扫描轴26的移动与记录头16沿副扫描轴24的移动相比不那么易受偏差影响。因此，在本发明的这个示例实施例中，以第二取向50B对记录介质17B的定位允许传感器52检测第一图像特征60的各个部分中的每一个以及第一图像特征60的总体畸变本身。

在本发明的一些示例实施例中，传感器52通过检测第一图像特征60的每个被检测到的部分的所预期的位置的变化来检测第一图像特征60的畸变。在记录介质17B根据第二取向50B被定位之后，当介质支架12旋转地被移动以将图像特征部分中的每一个定位在适合于由传感器52检测的位置上时，第一图像特征60的每个部分的所预期的副扫描位置的变化将被检测。在根据第二取向50B被定位时第一图像特征60的各个部分的被检测到的副扫描位置变化与在根据第一取向50A被定位时第一图像特征60的各个部分的主扫描畸变有关。

在本发明的一些示例实施例中，当每个部分在传感器52的可检测范围内被移动时，传感器52通过检测第一图像特征60的各个部分之间的副扫描位移来检测第一图像特征60的畸变。在这个示例实施例中，在根据第二取向50B被定位时第一图像特征60的各个部分的被检测到的副扫描位移与在根据第一取向50A被定位时第一图像特征60的各个部分的主扫描位移有关。在一些示例实施例中，这些副扫描位移参照第一副扫描位置56。第一图像特征60的每个被检测到的部分之间相对于彼此或相对于第一副扫描位置56的变化的位移的存在可被用于识别畸变。然而，应注意的是当记录介质17B的第二取向50B使得第一图像特征60沿相对于主扫描轴26偏斜的方向延伸时可能会遇到一些误差。在各种示例实施例中，检测沿通过介质支架12沿主扫描轴26的方向的移动所建立的检测路径发生。如果第二取向50B使得第一图像特征60相对于这个检测路径偏斜，那么第一图像特征60的被检测到的部分之间任何变化的位移可包括来自这个偏斜的影响。

在一些示例实施例中，被检测到的副扫描位移参照可检测的基准，诸如在根据第二取向50B被定位时参照第一边缘35A。由于在步骤220中第一边缘35A在第一图像特征60的形成期间与第一和第二配准特征25A和25B对齐，存在第一图像特征60与第一边缘35A之间对应的对齐，并且对这两者之间变化的间隔的检测可被用于识别第一图像特征60的畸变的存在。然而，当第一边缘35A本身在形式上不准直的时候，仍然可能遇到一些误差。很多记录介质17可包括波状的边缘，特别是当介质在尺寸上很大或是由非形稳材料制成的时候。

在本发明的这个示例实施例中，被检测到的副扫描位移参照在步骤230中依照图像数据37B所形成的第二图像特征62。如图7B所示，由记录头16在以不同于在第一图像特征60的形成期间所使用的第一取向50A的取向50C被定位在介质支架12上的记录介质17B上形成图像特征62。在这个示例实施例中，第二图像特征62是邻近于第一图像特征60被定位的延长的图像特征。在这个示例实施例中，第二图像特征62包括与第一图像特征60大体上相同的长度并且被形成使得它沿与第一图像特征60沿其延伸的方向大体上相同的方向延伸。为了清楚起见，在图7F中以展开的或平面的取向示出包括第一图像特征60和第二图像特征62在内的记录介质17B。

在本发明的这个示例实施例中，以与在第一图像特征60的形成期间所采用的第一边缘35A上的两个配准点64和66的对齐关系形成第二图像特征62。第一图像特征60先前在记录介质17B以通过在配准点64和66与对应的配准特征25A和25B之间建立接触所定义的第一取向50A被定位时被形成。因此，第一取向50A使得第一图像特征60以与两个接触点对齐的取向被形成。应注意的是在这个示例实施例中，当记录介质17B以第一取向50A被定位时，两个接触点之间的基准线(未示出)大体上平行于副扫描轴24。在其他示例实施例中，配准特征25A和25B可以其中接触点之间的基准线将相对于副扫描轴24偏斜的方式位于介质支架12上。

在本发明的这个示例实施例中，所希望的是第二图像特征62也以与先前在第一图像特征60的形成期间所采用的两个配准点64和66的相同对齐被形成。在这个示例实施例中，同样希望的是第二图像特征62以降低畸变在第二图像特征62中形成的可能性的方式被形成。在这个示例实施例中，主扫描旋转移动与副扫描平移移动相比不那么倾向于有偏差。在这个示例实施例中，第二图像特征62优选地通过记录头沿副扫描轴24很少的移动或不移动而被形成。

如前所述，在图像特征62的形成期间所采用的取向50C不同于在第一图像特征60的形成期间所采用的第一取向50A。在一些示例实施例中，取向50C与在步骤250中的畸变检测期间所采用的第二取向50B相同，而在其他示例实施例中，取向50C不同于第二取向50B。在这个示例实施例中，取向50C使得第一边缘35A围绕介质支架12沿圆周延伸。在一些示例实施例中，取向50C可以使得第一边缘35A沿相对于主扫描轴26偏斜微小的角旋转的方向延伸，所述角旋转通常在+/-15度的范围内。在任何一种情况下，当第一边缘35A这样被定向时，其可被视为围绕介质支架12大体上沿圆周延伸。

一旦记录介质17B以取向50C被定位，第一和第二配准点64和66中的每一个的位置在以与这些点的所希望的对齐形成第二图像特征62之前被确定。各种技术可被采用以确定这个取向上的配准点64和66。例如，美国专利No.6,968,782(Cummings)和美国专利No.7,456,379(Neufeld等人)公开了可被采用以沿介质的边缘找到围绕滚筒型介质支架大体上沿圆周延伸的各个点的各种检测技术，这两个专利均在此通过引用被并入本文。在这点上，各种传感器可被用于检测配准点64和66的位置，特别是当取向50C相对于主扫描轴26偏斜时。在这个示例实施例中，传感器52被采用以检测配准点64和66的位置。

在这个示例实施例中，一旦配准点64和66中的每一个的主扫描和副扫描位置被确定，记录装置10就被操作用于以与配准点64和66的所确定的位置的所希望的对齐形成第二图像特征62。第二图像特征62可以各种方式被形成。在一些示例实施例中，第二图像特征62在操作记录装置10在记录介质17B上圆形地进行扫描时被形成。在本发明的其他示例实施例中，第二图像特征62在操作记录装置10在记录介质17B上螺旋形地进行扫描时被形成。在一些示例实施例中，表示第二图像特征62的图像数据37B被调节以计入主扫描轴26与由两个配准点64和66所定义的基准线(同样未示出)之间的偏斜。在一些示例实施例中，第二图像特征62在以由主扫描轴26与由两个配准点64和66所定义的基准线(同样未示出)之间的偏斜所决定的协同的方式移动记录头16和介质支架12中的每一个时被形成。对于微小量的偏斜，这种协同的移动可包括记录头16沿副扫描轴24的微小量的移动。这种微小的副扫描移动通常小于将被采用以形成螺旋形的图像带的副扫描移动。

一旦第二图像特征62以与由两个配准点64和66所定义的基准线的所希望的对齐在记录介质17B上被形成，传感器52就在步骤250中通过随着第一图像特征60和第二图像特征62的各个对应的部分中的每一个在传感器52的可检测范围内被移动而检测这些对应的部分之间所预期的副扫描间隔的变化来检测第一图像特征60的畸变。由于第二图像特征62已通过与第一图像特征60通过其被形成的配准点64和66的大体上相同的对齐被形成，所以对应的部分的被检测到的副扫描间隔之间的任何变化与在第一图像特征60的形成期间被传到其上的主扫描畸变有关。包括关于被检测到的副扫描间隔的信息在内的信号被提供给控制器30。

在步骤260期间，控制器30被配置用于根据传感器52所提供的检测信息来确定畸变信息。具体地，控制器30被配置用于将被检测到的副扫描间隔信息变换回在步骤220的图像形成动作中所采用的主扫描基准帧(reference frame)。变换可在各种因素的基础上进行，包括：在第一图像特征60的形成期间记录介质17B在介质支架12上的先前位置以及各个被检测到的间隔的量和方向。在这个示例实施例中，控制器30被配置用于将关于根据第二取向50B所定位的第一图像特征60的各个被检测到的畸变区域的位置的主扫描位置信息变换回在步骤220的图像形成动作中所采用的副扫描基准帧。运动系统22所提供的各种编码器信息可被控制器30在确定各种位置信息时采用。

记录装置10在步骤270中被重新校准。对各个先前所形成的成像纠正的新的成像纠正或调节依照所确定的关于第一图像特征60的畸变的信息来进行。在这点上，控制器30确定所确定的信息中的任何畸变的幅度和方向，并且将它们与关于畸变的位置的副扫描位置信息关联。如果畸变具有足够的幅度以要求对记录装置10的重新校准，那么控制器30依照表示这些畸变的所确定的值来调节先前所确定的成像纠正。由于第一图像特征60被形成以识别主扫描成像畸变，控制器30被配置用于更改介质支架12的对应于所述畸变的区域的激活时机改变。在这点上，当记录头16被定位以在对应于第一图像特征60的畸变的区域中对后续图像的部分成像时，各个记录通道23的激活时机被调节。

有利地，记录装置10的重新校准可在即将被使用时被执行。重新校准可被执行而无需额外的专用校准设备。在本发明的一些示例实施例中，控制器30保存表示对成像纠正所进行的各种调节的数据以建立日志。这样的日志可被用于识别可提高系统的图像质量的条件。

应理解的是，方法200所示的各个步骤在本质上是示例性的，并且这些步骤的其他顺序、或额外步骤的添加、或对这些步骤的修正可被本发明的各种示例实施例采用。例如，第二图像特征62可在第一图像特征60的形成之前被形成。应理解的是，在本发明的一些实施例中，多个图像特征可被形成以检测主扫描畸变而不是单个图像特征(例如第一图像特征60)。例如，第一图像特征60可被图像特征的图案取代并且可通过在记录介质17B以第二取向62被定位时检测所述特征中的一个或多个的所预期的位置的变化来检测畸变。在一些示例实施例中，第一图像特征60可被图像特征的图案取代并且可通过在记录介质17B以第二取向62被定位时检测所述特征中的一个或多个与第二图像特征62之间的所预期的间隔的变化来检测畸变。在一些示例实施例中，第一图像特征60和第二图像特征62两者可分别被图像特征的分组取代并且可通过在记录介质17B以第二取向50B被定位时检测每个分组中的各个对应的特征之间的所预期的间隔的变化来检测畸变。

介质支架12可包括沿主扫描轴26和副扫描轴24中的各个轴的尺寸属性，所述尺寸属性对可依照本发明的各种实施例被装卸的适合的记录介质17B的尺寸施加限制。例如，围绕介质支架12的有限圆周距离可对能够在第一取向50A与第二取向50B之间被重新定位的记录介质17B的尺寸施加限制。因此，在一些示例实施例中，相似于方法200的方法在介质支架12的各个副扫描位置上被实践以确定与那些副扫描位置中的每一个相关联的各个区域的成像纠正。

在一些示例实施例中，在第一取向50A与第二取向50B之间对记录介质17B的重新定位可对应于不同于图7A和7C所示的代表性旋转。例如，可从第一取向50A向其中边缘35B(即记录介质17B的与第一边缘35A相对的边缘)与配准特征25对齐的另一取向重新定位记录介质17B。在这个示例实施例中，代表性旋转将通常对应于在大致175度到185度的范围内的旋转角。如果记录介质17B足够透明，它可被额外地被反转以便使其成像的表面与圆柱形表面13接触。在移动介质支架12以将重新定位的第一图像特征60带入传感器52的检测范围内之后，可在将传感器52定位在沿副扫描轴的各个位置上时检测第一图像特征60的畸变。在这些示例实施例中，由于传感器52沿大体上反映(mirror)第一图像特征60的畸变的传感器移动路径54被移动，被检测到的畸变将对应于第一图像特征60的实际畸变的大致两倍。

在一些示例实施例中，额外的图像特征在记录介质17B以不同于第一取向50A并且被选择以使所述额外的图像特征的畸变的形成最少的取向(例如取向50C)被定位时被形成。当记录介质17B被定位在使得第一图像特征60和额外的图像特征两者都沿大体上平行于副扫描轴24的方向延伸的取向时，主扫描畸变可直接被传感器52检测。可通过在传感器52沿其副扫描路径被移动时检测第一图像特征60和额外的图像特征的各个对应的部分之间的所预期的间隔的变化来实现这些实施例中的畸变检测。应理解的是，第一图像特征60和额外的图像特征沿大体上平行于副扫描轴24的方向的延伸可包括当记录介质17B被定位在检测取向上时相对于副扫描轴24的微小量的偏斜。

在一些示例实施例中，副扫描畸变被检测。例如，如图7D所示，图像特征63的图案可在记录介质17C上被形成，记录介质17C以第一取向50D被定位在介质支架12上。在这个示例实施例中，通过与被采用以建立先前所描述的第一取向50A的那些方法相似的方法建立第一取向50D。图像特征63的图案可包括各种一维或二维图案。图像特征63的图案可包括各种布置方向，图像特征63沿所述方向被布置。所述各种布置方向可相对于主扫描轴26和副扫描轴24来定向。应理解的是如果记录介质17C以不同于第一取向50D的取向在介质支架上被重新定位，那么各个布置方向的取向将改变。在这个示例实施例中，图像特征63的图案包括将以总体平行于副扫描轴24的方向的布置方向被形成的一行图像特征63。在各种示例实施例中，所希望的是该行图像特征63以各对图像特征63之间的目标副扫描间隔被形成。在这个非限制性的示例实施例中，所希望的是邻近的图像特征63以大体上相等的目标副扫描间隔被形成。图7D示出了各种副扫描畸变导致所形成的图像特征63中的各个图像特征之间的所希望的目标副扫描间隔的变化。依照图像数据37C形成图像特征63的图案。

一旦图像特征63的图案被形成，记录介质17C就以如图7E所示的第二取向50E被重新定位。第二取向50E不同于第一取向50D并且被选择用于对各个图像特征63之间的实际间隔与它们对应的目标间隔之间的任何改变的检测。

如果在记录介质17C以第一取向50D被定位在介质支架12上的同时，传感器52被采用以检测图像特征63的图案中的第一图像特征与第二图像特征之间的所预期的间隔的变化，那么各种检测误差可能出现。例如，由于在检测期间传感器52也由滑架18移动，所以各种滑架横摆移动(例如如图5C所示的那样)也可使传感器52经受相同的瞄准误差，所述各种滑架横摆移动是图像特征63中的两个图像特征之间的所预期的间隔的变化的原因之一。通过以第二取向50E将记录介质17C定位在介质支架12上，前述错误结果的出现可被减少。在这个示例实施例中，通过与被采用以建立先前所描述的第二取向50B的那些方法相似的方法建立第二取向50E。这样，第二取向50E使得所述行图像特征63现在沿大体上沿圆周的方向延伸。因此，当记录介质17C根据第二取向50E被定位时，图像特征63的图案中的图像特征的布置方向被重新定向。由于介质支架12的主扫描旋转移动与滑架18的副扫描平移移动相比不那么倾向于有偏差，所以当介质支架12被旋转以将图像特征63中的每一个定位至适合于由传感器52检测的位置时图像特征63中的两个图像特征之间的所预期的间隔之间的变化可准确地被检测。应理解的是当记录介质17C根据第二取向50E被定位时，所述行图像特征63可沿能够包括相对于主扫描轴26的微小量的倾斜的大体上沿圆周的方向被定位。

在这个示例实施例中，任何被检测到的变化表示已在记录装置10内显现出来的副扫描畸变。包括对滑架18的移动参数(例如速度参数)的调节在内的成像纠正可被进行以补偿这些畸变。在一些示例实施例中，对滑架18的定位的调节在对应于畸变区域的各个副扫描位置上被进行。在这个示例实施例中，对滑架18的速度调节在沿其行进路径的各个点上被进行。在这个示例实施例中，这些不同的点对应于记录头16在各个畸变的形成期间的位置。这些点的位置可通过与本发明的其他被描述的实施例所并入的那些技术相似的技术来识别。因此，滑架18可在沿其行进路径的各个点上以不同的速度被移动。应理解的是速度的改变在本质上通常是很小的，但具有足以克服被检测到的畸变的幅度。

在一些示例实施例中，所预期的间隔的改变可在形成在单个图像带中的多个图像特征63的各个成员之间被检测。在一些情况下，副扫描畸变可能跨多个图像带更显著而不是在给定的图像带内更显著。在一些示例实施例中，至少一个图像特征63在每次扫描期间被形成，并且所预期的间隔的改变可从形成在不同图像带中的图像特征63中被检测。

在本发明的一些示例实施例中，通过检测图像特征63中的一个的所预期的位置的改变来检测副扫描畸变。运动系统22所提供的各种编码器信号可被采用以辅助对被检测到的图像特征63的特定位置的识别。在本发明的其他示例实施例中，通过检测图像特征63中的一个的所预期的尺寸的改变来检测副扫描畸变。例如，图像特征63中的每一个可依照所希望的副扫描目标尺寸被形成，并且与这个尺寸的偏差可被用于识别畸变。与所希望的目标尺寸的偏差可由于例如记录头16的横摆移动或传输构件33的移动不规则性而出现。

在一些示例实施例中，一个或多个额外的图像特征可在记录介质17C以不同于第一取向50D的取向被定位时形成。可通过在记录介质17C以第二取向50E被定位时检测图像特征63中的一个与额外的图像特征中的一个之间的所预期的间隔的变化来检测畸变。在一些示例实施例中，当记录介质17C以第二取向50E被定位时，在检测图像特征63与额外形成的图像特征中的一个之间的所预期的主扫描间隔的偏差之后确定图像特征63的位置的副扫描变化。

在本发明的一些示例实施例中，图像特征63的图案被用于确定副扫描畸变和主扫描畸变两者。图像特征的图案可在记录介质17C以第一取向被定位在介质支架12上时被形成，并且可在记录介质17C以不同于第一取向的第二取向被定位在介质支架12上时检测相关联的主扫描畸变和副扫描畸变。应理解的是不同示例实施例的各个方面的适合的组合均在本发明的范围内。包括依照本发明的各种实施例所进行的滑架18的移动调节和/或记录通道23的激活时机调节在内的各种成像纠正可在记录装置10所采取的后续图像形成动作期间被采用。依照本发明的各种实施例所进行的各种滑架18的移动调节和/或记录通道23的激活时机调节可在滑架18的后续移动期间被采用。

依照本发明的各种实施例所形成的各种图像特征可包括适合于检测的任何形式、尺寸、形状或特征。在没有限制的情况下，依照本发明的各种实施例所形成的各种图像特征可包括适合于检测的各种目标、配准特征或基准点(feducials)。

在本发明的各种实施例中，传感器52可包括任何适合于检测一个或多个图像特征的各种畸变的传感器。在没有限制的情况下，传感器52可包括光学的、机械的和电性的元件。在本发明的各种示例实施例中，传感器52包括诸如CCD传感器或CMOS传感器等图像捕获设备。具有适当大小的视场的图像捕获传感器可被采用以捕获图像特征的各个部分的图像。来自图像捕获传感器的各种信号可被用于定义图像特征的被检测到的部分的位置。另外，对应于介质支架12和滑架18的位置的信号(例如编码器信号)可被用于在图像特征的给定部分被定位在图像捕获传感器的视场中时确定所述图像特征的给定部分的主扫描位置和/或副扫描位置。在一些示例实施例中，传感器52可以是不同于记录装置10的装置的一部分。

在本发明的一些示例实施例中，照明器55被用于在对图像特征的检测期间照亮一个或多个图像特征的一部分。照明器55可被用于照亮所述一个或多个图像特征的一部分，而同时用图像捕获设备捕获该部分的图像。在本发明的一些示例实施例中，照明器55包括可朝记录介质17发射辐射以增强所形成的图像特征与记录介质17的边界区域之间的差异的辐射源。被反射的辐射的量和方向的改变可被传感器52检测以检测图像特征的特定部分。在本发明的一些示例实施例中，照明器55是发射器/接收器类型的传感器的发射器。在本发明的一些示例实施例中，照明器55包括LED光源。在本发明的一些示例实施例中，照明器55包括频闪光源。在一些示例实施例中，照明器55被定位在滑架18上。在一些示例实施例中，照明器55被定位在支架20上。

部件列表

10 记录装置

12 介质支架

13 圆柱形表面

16 记录头

17 记录介质

17A 记录介质

17B 记录介质

17C 记录介质

18 滑架

19 图像

19A 校准图像

20 支架

21 成像光束

22 运动系统

23 记录通道

24 副扫描轴

25 配准特征

25A 配准特征

25B 配准特征

26 主扫描轴

27 横摆方向

28A 夹具

28B 夹具

29 纵摇方向

30 控制器

32 导向系统

33 传输构件

35 第一边缘

35A 第一边缘

35B 边缘

36 第二边缘

36A 第二边缘

37 图像数据

37A 图像数据

37B 图像数据

37C 图像数据

40 目标图像

41 目标单元格

42 成像单元格

42A 成像单元格

42B 成像单元格

42C 成像单元格

50A 第一取向

50B 第二取向

50C 取向

50D 第一取向

50E 第二取向

52 传感器

54 传感器移动路径

55 照明器

56 第一副扫描位置

60 第一图像特征

60A 无畸变形式

62 第二图像特征

63 图像特征

64 配准点

66 配准点

100 方法

110 形成校准图像

120 调节记录装置以纠正校准图像的畸变

200 方法

210 以第一取向将记录介质定位在介质支架上

220 在以第一取向被定位的记录介质上形成图像特征

230 形成第二图像特征

240 以不同于第一取向的第二取向定位记录介质

250 检测图像特征的畸变

260 确定畸变信息

270 重新校准记录装置

Claims

1.一种用于改变记录装置的校准以调节几何畸变的方法，所述方法包括：

提供用于承载记录介质的介质支架；

提供适于沿路径移动的滑架；

在所述滑架上提供记录头；

操作所述记录头以在所述记录介质以第一取向被定位在所述介质支架上的同时在所述记录介质上形成由图像特征组成的图案；

以第二取向将所述记录介质定位在所述介质支架上，其中所述第二取向不同于所述第一取向；

在所述记录介质以所述第二取向被定位在所述介质支架上的同时检测所述由图像特征组成的图案的畸变；以及

依照被检测到的畸变调节所述滑架的移动。

2.如权利要求1所述的方法，其中调节所述滑架的移动包括调节所述滑架的速度。

3.如权利要求1所述的方法，其包括在操作所述滑架以沿路径移动所述记录头的同时在所述记录介质上形成所述由图像特征组成的图案。

4.如权利要求1所述的方法，其包括操作所述记录头以在所述记录介质以所述第一取向被定位时形成所述由图像特征组成的图案使得所述由图像特征组成的图案包括将以总体平行于副扫描轴的方向的布置方向被形成的一行图像特征。

5.如权利要求4所述的方法，其中当所述记录介质以所述第二取向被定位在所述介质支架上时，所述布置方向被重新定向，并且检测所述由图像特征组成的图案的畸变包括在所述记录介质以所述第二取向被定位在所述介质支架上的同时检测所述由图像特征组成的图案沿所述布置方向的畸变。

6.如权利要求4所述的方法，其中当所述记录介质以所述第二取向被定位在所述介质支架上时，所述布置方向被重新定向，并且检测所述由图像特征组成的图案的畸变包括在所述记录介质以所述第二取向被定位在所述介质支架上的同时检测所述图像特征中的至少一个的所预期的位置沿所述布置方向的改变。

7.如权利要求4所述的方法，其中当所述记录介质以所述第二取向被定位在所述介质支架上时，所述布置方向被重新定向，并且检测所述由图像特征组成的图案的畸变包括在所述记录介质以所述第二取向被定位在所述介质支架上的同时检测所述图像特征中的至少一个的所预期的尺寸沿所述布置方向的改变。

8.如权利要求4所述的方法，其中当所述记录介质以所述第二取向被定位在所述介质支架上时，所述布置方向被重新定向，并且检测所述由图像特征组成的图案的畸变包括在所述记录介质以所述第二取向被定位在所述介质支架上的同时检测所述由图像特征组成的图案的第一图像特征与第二图像特征之间沿所述布置方向的所预期的间隔的改变。

9.如权利要求8所述的方法，其包括在操作所述记录头以在所述记录介质上多次扫描的同时在所述记录介质上形成所述由图像特征组成的图案，其中所述第一图像特征和所述第二图像特征中的每一个在不同的扫描期间被形成。

10.如权利要求1所述的方法，其中所述介质支架包括配准特征，并且所述方法包括在所述记录介质以所述第一取向被定位在所述介质支架上的同时将所述记录介质的第一边缘定位在所述配准特征附近，以及在所述记录介质以所述第二取向被定位在所述介质支架上的同时将所述记录介质的第二边缘定位在所述配准特征附近，其中所述第一边缘不同于所述第二边缘。

11.如权利要求10所述的方法，其中所述第二边缘与所述第一边缘横向对齐。

12.如权利要求1所述的方法，其包括在将所述由图像特征组成的图案形成在所述记录介质上的同时在所述记录头与所述介质支架之间建立沿第一方向的相对移动，并且在检测所述由图像特征组成的图案的畸变的同时在所述记录头与所述介质支架之间建立沿第二方向的相对移动，其中所述第二方向不同于所述第一方向。

13.如权利要求3所述的方法，其包括在检测所述图像特征的畸变的同时将所述滑架维持在静止的位置上。

14.如权利要求13所述的方法，其包括在所述滑架上提供传感器以用于检测所述由图像特征组成的图案的畸变。

15.如权利要求1所述的方法，其中所述记录介质在所述介质支架上的第二取向表示所述记录介质相对于所述记录介质在所述介质支架上的第一取向的旋转。

16.如权利要求1所述的方法，其中所述记录介质在所述介质支架上的第二取向对应于所述记录介质在所述介质支架上的第一取向的改变，通过使所述记录介质绕大体上垂直于所述记录介质的由所述介质支架所支撑的表面的轴旋转一旋转角而产生所述改变。

17.如权利要求16所述的方法，其中所述旋转角在80度到95度的范围内。

18.如权利要求1所述的方法，其包括在以所述第一取向对所述记录介质在所述介质支架上的定位与以所述第二取向对所述记录介质在所述介质支架上的定位之间将所述记录介质与所述介质支架完全分开。

19.如权利要求1所述的方法，其包括在以所述第一取向对所述记录介质在所述介质支架上的定位与以所述第二取向对所述记录介质在所述介质支架上的定位之间调节所述记录介质的成像部分与所述记录介质的未成像部分之间的对比度。

20.如权利要求1所述的方法，其包括提供传感器以用于检测所述由图像特征组成的图案的畸变。

21.如权利要求3所述的方法，其包括在所述滑架上提供传感器，其中所述传感器适于检测所述由图像特征组成的图案的畸变。

22.如权利要求21所述的方法，其中所述传感器包括图像捕获设备。

23.如权利要求21所述的方法，其包括在所述滑架上提供照明器，其中所述照明器适于在所述由图像特征组成的图案的畸变被检测的同时照亮所述由图像特征组成的图案的一部分。

24.如权利要求1所述的方法，其中依照被检测到的畸变调节所述滑架的移动调节所述滑架沿所述路径的位置。

25.一种记录装置，所述记录装置包括：

包括圆柱形表面的介质支架，其适于承载记录介质；

记录头；

滑架，其适于沿相对于所述介质支架的旋转轴的路径移动所述记录头；

传感器；以及

控制器，其被配置用于：

操作所述滑架以在将由图像特征组成的图案形成在以第一取向被定位在所述圆柱形表面上的记录介质上的同时沿所述路径移动所述记录头；

操作所述传感器以在所述记录介质以第二取向被定位在所述圆柱形表面上的同时检测所述由图像特征组成的图案的副扫描畸变，所述第二取向不同于所述第一取向；以及

依照被检测到的副扫描畸变调节所述滑架的速度。

26.如权利要求25所述的记录装置，其中所述控制器被配置用于在所述滑架沿所述路径的后续移动期间调节所述滑架的速度。

27.如权利要求26所述的记录装置，其中所述控制器被配置用于在所述后续移动期间调节所述滑架在沿所述路径的第一点上的速度，其中所述滑架在所述第一点上的经调节的速度不同于所述滑架在沿所述路径的另外的点上的速度。

28.如权利要求26所述的记录装置，其中所述控制器被配置用于在所述后续移动期间调节所述滑架在沿所述路径的第一点上的速度，其中所述第一点对应于所述副扫描畸变在所述特征的图案被形成在以所述第一取向被定位在所述圆柱形表面上的记录介质上时的位置。

29.如权利要求25所述的记录装置，其中所述由图像特征组成的图案包括在所述记录介质以所述第一取向被定位时具有大体上平行于与所述滑架沿所述路径的移动相关联的副扫描方向的取向而在所述记录介质以所述第二取向被定位时具有不同的取向的布置方向，并且所述传感器适于通过在所述记录介质以所述第二取向被定位在所述圆柱形表面上的同时检测所述图像特征中的至少一个的所预期的位置沿所述布置方向的改变来检测所述副扫描畸变。

30.如权利要求25所述的记录装置，其中所述由图像特征组成的图案包括在所述记录介质以所述第一取向被定位时具有大体上平行于与所述滑架沿所述路径的移动相关联的副扫描方向的取向而在所述记录介质以所述第二取向被定位时具有不同的取向的布置方向，并且所述传感器适于通过在所述记录介质以所述第二取向被定位在所述圆柱形表面上的同时检测所述图像特征中的至少一个的所预期的尺寸沿所述布置方向的改变来检测所述副扫描畸变。

31.如权利要求25所述的记录装置，其中所述由图像特征组成的图案包括在所述记录介质以所述第一取向被定位时具有大体上平行于与所述滑架沿所述路径的移动相关联的副扫描方向的取向而在所述记录介质以所述第二取向被定位时具有不同的取向的布置方向，并且所述传感器适于通过在所述记录介质以所述第二取向被定位在所述圆柱形表面上的同时检测所述由图像特征组成的图案中的第一图像特征与第二图像特征之间沿所述布置方向的所预期的间隔的改变来检测所述副扫描畸变。

32.如权利要求31所述的记录装置，其中所述控制器被配置用于操作所述记录头以在多次在所述记录介质上进行扫描的同时在所述记录介质上形成所述特征的图案，其中所述第一图像特征和所述第二图像特征中的每一个在不同的扫描期间被形成。

33.如权利要求25所述的记录装置，其中所述滑架适于沿所述路径移动所述传感器。

34.如权利要求25所述的记录装置，其中所述传感器包括图像捕获设备。

35.如权利要求34所述的记录装置，其包括适于在所述副扫描畸变被检测的同时照亮所述记录介质的照明器。