CN102417701B - 原料组成或制造条件确定方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供原料组成或制造条件确定方法。提供的技术为:通过连同在事后发生的翘曲变形的问题也包括在内,对将液晶性树脂组合物成型而成的成型体的翘曲变形的问题进行预先评价,从而可以在针对翘曲变形的问题进行评价的同时,进行成型条件、原料组成的研究。使用累积值的变化达到饱和时的饱和累积值与翘曲变形的变形量之间的相关关系,所述累积值是在从成型体表面向深度方向上的、由每单位深度的树脂流动方向的应变量算出的至各单位深度的应变量的累积值。
Description
技术领域
本发明涉及在将含有液晶性树脂的液晶性树脂组合物成型时,确定原料组成或制造条件的方法。
背景技术
被称作工程塑料的这一类塑料具有很高的强度,正在取代金属部件。其中,以分子链的平行排列为特征的光学各向异性的液晶性树脂具有优异的流动性、尺寸稳定性、耐热性、低气体性和机械性质,由于该点而受到关注。上述液晶性树脂发挥前述的特征,作为适于薄壁部或复杂形状的电气·电子部件的材料,在例如连接器、继电器、开关、绕线管等中使用。
如上所述,液晶性树脂是非常有用的材料,但是被指出有机械各向异性、尺寸各向异性大等以液晶性树脂的性质为起因的问题点。该问题点是指将液晶性树脂组合物成型而成的成型体的翘曲变形。通过进行回流焊处理(reflow treatment)等,成型体暴露于高温环境下时会显著表现该翘曲变形的问题。
作为用于解决上述翘曲变形的问题的材料,例如,公开了配混有特定的鳞状物的液晶性树脂组合物(专利文献1)、配混有纤维状填充剂和粒状填充剂的液晶性树脂组合物(专利文献2)。
如上所述,正在大量进行用于抑制将液晶性树脂组合物成型而成的成型体的翘曲变形的研究开发,然而还没有达成能够完全解决翘曲变形的问题的技术的开发。因此,在将液晶性树脂组合物成型而成的电气部件等产品的开发中,通常,需要对翘曲变形进行研究。
然而,几乎没有可以预测成型体的翘曲变形的程度的那种用于定量地评价的有用的方法。另外,成型体的翘曲变形的问题即使在刚成型后未确认到,有时也会由于其后的使用环境而产生该问题。难以预先评价这种事后产生的翘曲变形。于是,在进行了原料组成的研究、制造条件的研究后发现翘曲变形的问题的情况下,必须对原料组成、成型条件进行再次研究。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2003-321598号公报
专利文献2:日本特开2000-178443号公报
发明内容
发明要解决的问题
如上所述,如果可以连同事后会发生的翘曲变形的问题也包括在内,对成型体的翘曲变形的问题进行预先评价,则可以在研究制造条件、原料组成时也一并研究翘曲变形的问题。如果可以在研究制造条件、原料组成时也一并研究翘曲变形的问题,则可以大幅度降低需要上述再次研究的频率。
本发明是为了解决以上的问题而进行的,其目的在于提供一种技术,其通过连同在事后发生的翘曲变形的问题也包括在内,对将液晶性树脂组合物成型而成的成型体的翘曲变形的问题进行预先评价,从而可以在针对翘曲变形的问题进行评价的同时,进行成型条件、原料组成的研究。
用于解决问题的方案
本发明人等为了解决上述的问题而进行了反复深入研究。其结果发现,下述累积值的变化达到饱和时的饱和累积值与翘曲变形的变形量之间具有相关关系,所述累积值是在从成型体表面向深度方向上的、由每单位深度的树脂流动方向的应变量算出的至各单位深度的应变量的累积值,从而完成本发明。更具体地说,本发明提供以下的技术方案。
(1)一种原料组成或制造条件确定方法,其为确定将液晶性树脂组合物成型而成的成型体的原料组成或制造条件的方法,且其包括以下工序:饱和累积值导出工序,导出在多种原料组成和/或制造条件下制造的每个成型体的饱和累积值,所述饱和累积值为在从成型体表面向深度方向上的、由每单位深度的树脂流动方向的应变量算出的至各单位深度的应变量的累积值的变化达到饱和时的饱和累积值;相关关系导出工序,导出多个前述饱和累积值与各个成型体的翘曲变形量的相关关系;原料组成和/或制造条件确定工序,基于前述相关关系,调整影响前述液晶性树脂组合物所含成分的取向的原料组成和/或制造条件,并确定原料组成和/或制造条件,以使翘曲变形量为期望的值以下。
(2)根据(1)所述的制造条件确定方法,其中,前述影响取向的制造条件为注射速度。
(3)根据(1)所述的原料组成确定方法,其中,前述影响取向的原料组成为固体填充剂的长径比和/或前述固体填充剂的含量。
(4)一种由液晶性树脂组合物制造成型体的方法,其在通过(1)~(3)中的任一项所述的原料组成确定方法来确定的原料组成和/或制造条件确定方法来确定的制造条件下,由液晶性树脂组合物制造成型体。
发明的效果
根据本发明,由于可以连同在事后会发生的翘曲变形的问题也包括在内,对将液晶性树脂组合物成型而成的成型体的翘曲变形的问题进行预先评价,因此可以在针对翘曲变形的问题进行评价的同时,进行成型条件、原料组成的研究。
附图说明
图1为示意性地示出实施方式所使用的圆柱状的成型体的图。
图2为用于说明穿孔方法的示意图。
图3为示出穿孔前和第一次穿孔后的成型体的示意图。
图4为示出第二次穿孔后、第三次穿孔后的成型体的示意图。
图5为示出第(n-1)次穿孔后、第n次穿孔后的成型体的示意图。
图6为用于说明饱和累积值的图。
图7为示出饱和累积值与翘曲变形量的相关关系的图。
图8为示出实施例所使用的成型体的示意图。
图9为示出实施例1中的应变量的累积值与距成型体表面的距离的关系、以及取向函数与距成型体表面的距离的关系的图。
图10为示出实施例1中的饱和累积值与翘曲变形量的关系的图。
图11为示出实施例2中的应变量的累积值与距成型体表面的距离的关系、以及取向函数与距成型体表面的距离的关系的图。
具体实施方式
以下,对本发明的实施方式进行说明。此外,本发明并不受以下实施方式的任何限制。
本发明为在考虑到将液晶性树脂组合物成型而成的成型体的翘曲变形的同时,确定成型体的制造条件、原料组成的方法。上述翘曲变形的考虑,使用从成型体表面向深度方向上的、由每单位深度的树脂流动方向的应变量算出的至各单位深度的应变量的累积值来进行。本发明具有饱和累积值导出工序、和相关关系导出工序、和原料组成和/或制造条件确定工序。以下,首先,对作为原料的液晶性树脂组合物进行说明,然后对各工序进行说明。
液晶性树脂组合物
液晶性树脂组合物所含的液晶性树脂是指具有可形成光学各向异性熔融相的性质的熔融加工性聚合物。各向异性熔融相性质可以通过利用正交偏振片的惯用的偏光检查法确认。更具体而言,各向异性熔融相的确认可以通过如下实施:使用Leitz偏光显微镜在氮气气氛下以40倍的倍率观察载于Leitz热载台上的熔融试样。可适用于本发明的液晶性树脂在正交偏振片之间进行检查时,即使在熔融静止状态下偏光也是正常透过的,显示光学上的各向异性。
作为上述这样的液晶性树脂没有特别限定,优选为芳香族聚酯或芳香族聚酯酰胺,在同一分子链中部分地含有芳香族聚酯或芳香族聚酯酰胺的聚酯也在该范围内。这些可使用在60℃下以浓度0.1重量%溶解于五氟苯酚时优选具有至少约2.0dl/g、进一步优选具有2.0~10.0dl/g的对数粘度(I.V.)的物质。
作为可适用于本发明的液晶性树脂的芳香族聚酯或芳香族聚酯酰胺,特别优选的是,具有选自由芳香族羟基羧酸、芳香族羟基胺、芳香族二胺组成的组中的至少1种以上的化合物作为组成成分的芳香族聚酯、芳香族聚酯酰胺。
更具体而言,可列举:
(1)主要由芳香族羟基羧酸及其衍生物中的1种或2种以上形成的聚酯;
(2)主要由(a)芳香族羟基羧酸及其衍生物中的1种或2种以上、和(b)芳香族二羧酸、脂环族二羧酸及其衍生物中的1种或2种以上、和(c)芳香族二醇、脂环族二醇、脂肪族二醇及其衍生物中的至少1种或2种以上形成的聚酯;
(3)主要由(a)芳香族羟基羧酸及其衍生物中的1种或2种以上、和(b)芳香族羟基胺、芳香族二胺及其衍生物中的1种或2种以上、和(c)芳香族二羧酸、脂环族二羧酸及其衍生物中的1种或2种以上形成的聚酯酰胺;
(4)主要由(a)芳香族羟基羧酸及其衍生物中的1种或2种以上、和(b)芳香族羟基胺、芳香族二胺及其衍生物中的1种或2种以上、和(c)芳香族二羧酸、脂环族二羧酸及其衍生物中的1种或2种以上、和(d)芳香族二醇、脂环族二醇、脂肪族二醇及其衍生物中的至少1种或2种以上形成的聚酯酰胺等。进而可在上述的组成成分中根据需要组合使用分子量调节剂。
作为构成可适用于本发明的前述液晶性树脂的具体化合物的优选例子,可列举出对羟基苯甲酸、6-羟基-2-萘甲酸等芳香族羟基羧酸;2,6-二羟基萘、1,4-二羟基萘、4,4’-二羟基联苯、对苯二酚、间苯二酚、下述通式(I)和下述通式(II)所表示的化合物等芳香族二醇;对苯二甲酸、间苯二甲酸、4,4’-联苯二羧酸、2,6-萘二甲酸和下述通式(III)所表示的化合物等芳香族二羧酸;对氨基苯酚、对苯二胺等芳香族胺类。
化学式1
(X:为选自亚烷基(C1~C4)、烷叉(alkylidene)、-O-、-SO-、-SO2-、-S-、-CO-中的基团。)
化学式2
化学式3
(Y:为选自-(CH2)n-(n=1~4)、-O(CH2)nO-(n=1~4)中的基团。)
液晶性树脂组合物可以含有其他树脂、强化剂、稳定剂、抗氧化剂、颜料等现有公知的添加剂。
饱和累积值导出工序
饱和累积值导出工序,导出在多种原料组成和/或制造条件下制造的每个成型体的饱和累积值,所述饱和累积值为在从成型体表面向深度方向上的、由每单位深度的树脂流动方向的应变量算出的至各单位深度的应变量的累积值的变化达到饱和时的饱和累积值。
对于每单位深度的应变量的测定,以图1之(a)所示的圆柱状的成型体为例进行说明。该圆柱状的成型体的高度为Lz、上表面和底表面的圆的半径为R。首先,需要确认圆柱状的上述成型体的树脂流动方向。
通过在将成型体成型时造成注量不足(short shot)来看树脂的流动方向,可以容易地确认树脂流动方向。或者,可以使用现有公知的流动解析软件来确认。假设对图1之(a)所示的成型体确认流动方向的结果可以确认树脂沿图1之(b)所示的方向流动。
因此,将成型体的高度方向作为深度方向,测定成型体的上表面的树脂流动方向(图1之(b)中的箭头所示的方向)的应变量。应变量的测定方法没有特别限定,例如,可列举出使用应变计的方法、使用通过对树脂成型品表面的变形进行图像解析来算出应变量的相关性系统(correlation system)等间接地测定应变量的方法等。另外,测定应变量的位置不平坦时,可以通过现有公知的三维图像解析方法来进行应变量的测定。例如在相关性系统中,通过组合两台成像装置可以进行三维测定。
具体的应变量的测定例如在从成型体的上表面沿深度方向穿孔的同时进行。为了说明测定方法,在图2之(a)中示出了上述成型体的上表面的图,在图2之(b)中示出了穿孔中途的成型体的立体图。如图2所示,以在成型体内部形成截面为半径r的圆的圆柱状的空间的形式,从图2之(a)所示的上表面的穿孔部沿深度方向穿孔。另外,穿孔的方法没有特别限定,可以采用现有公知的方法。作为现有公知的方法,可列举出钻孔加工(drill processing)。
在图3~5中,示出了应变量的测定过程的示意图。首先,在图3之(a)中示出了穿孔前的圆柱状的上述成型体的侧视截面图,在图3之(b)中示出了进行了第一次单位深度(Zu)的穿孔后的上述成型体的侧视截面图。图3之(a)为示出穿孔深度=0,应变量=0的图。图3之(b)为示出通过第一次的穿孔、成型体的上表面如图3之(b)所示以δr1应变的样子的图。在此,由于应变量δr1为进行单位深度穿孔时的应变,因此可以认为其为在穿孔深度Zu的平均深度位置的应变量。即,可以认为在Zu/2的位置的应变量为δr1。
在图4之(a)中为示出从图3之(b)所示的状态进一步进行了单位深度穿孔的样子的侧视截面图。穿孔深度的总和为2Zu,假设由该穿孔(第二次的单位深度的穿孔)导致的应变量为δr2。该时刻的应变量的累积值(δr1+δr2)按与上述的应变量δr1同样的考虑,可以认为是在Zu/2+Zu的位置的应变量的累积值。
在图4之(b)中为示出从图4之(a)所示的状态进一步进行了单位深度穿孔的样子的侧视截面图。穿孔深度的总和为3Zu,假设由该穿孔(第三次的单位深度的穿孔)导致的应变量为δr3。该时刻的应变量的累积值(δr1+δr2+δr3)按与上述同样的考虑,可以认为是在Zu/2+2Zu的位置的应变量的累积值。
在图5之(a)中示出了进行了第(n-1)次的穿孔后的样子。穿孔深度的总和为(n-1)Zu,假设由该穿孔(第(n-1)次的单位深度的穿孔)导致的应变量为δr(n-1)。该时刻的应变量的累积值(δr1+δr2+δr3+····+δr(n-1))按与上述同样的考虑,可以认为是在Zu/2+(n-2)Zu的位置的应变量的累积值。
在图5之(b)中示出了进行了n次的穿孔后的样子。即,示出了从图5之(a)所示的状态进一步进行单位深度穿孔后的样子。穿孔深度的总和为nZu,假设由该穿孔(第n次的单位深度的穿孔)导致的应变量为δrn。该时刻的应变量的累积值(δr1+δr2+δr3+...+δr(n-1)+δrn)按与上述同样的考虑,可以认为是在Zu/2+(n-1)Zu的位置的应变量的累积值。
通过使用如上所述的方法,可以测定每单位深度的应变量,可以算出至各单位深度的应变量的累积值。接着,对由如上所述的应变量的测定得到的饱和累积值进行说明。
由上述的每单位深度的应变量的测定、和在各单位深度的应变量的累积值的算出结果,可以绘制如图6所示的图表。如图6所示,上述的每单位深度的应变量随着测定位置变深(穿孔次数变多)而变小。于是,由单位深度的穿孔导致产生的应变量几乎为0时的应变量的累积值的值为饱和累积值。应变量几乎为0是指应变量为大致20×10-6以下。此外,如图6所示,应变量的累积值饱和,认为是由于成型体内部的残留应力变小,因此应变量变小,最终在规定的深度以上的深度,应变量的累积值饱和。另外,可以认为在成型体表面附近的、树脂组合物所含成分的取向对翘曲变形有较大影响。虽然根据原料组成、成型条件、成型品形状(厚度)而有所不同,成型体表面附近是指从表面向深度方向大致0.3~0.7mm。
如上所述的饱和累积值的导出是对在多种原料组成和/或制造条件下制造的每个成型体进行导出的。分为以多种原料组成制造的每个成型体、在多种制造条件下制造的每个成型体进行以下说明。
原料组成
应变量的大小受到树脂组合物的组成(原料组成)的影响。这是由于应变量的大小受到树脂组合物所含成分的取向的影响而变化的缘故。应变量的大小对翘曲变形量产生影响,因此可以说原料组成对翘曲变形量产生影响。因此,改变原料组成并用与上述同样的方法导出饱和累积值,由此可以总结出原料组成与翘曲变形量的关系。
原料组成的变更优选为对取向产生较大影响的条件的变更。这是由于,通过变更对取向产生较大影响的组成条件,在多种原料组成中,容易含有成型体的翘曲变形量变大的条件和变小的条件这两者,易于导出翘曲变形量变小的条件。
在成型加工时配混有为固体状态的填充剂会较大影响取向。于是,作为对取向产生较大影响的条件,可列举出固体填充剂的长径比、以及固体填充剂的含量、固体填充剂的大小、固体填充剂之间的相互作用、固体填充剂的组合。关于与固体填充剂相关的条件,在固体填充剂自身在成型体内取向的基础上,固体填充剂还会对树脂的取向产生影响,因此可以说是对取向产生的影响特别大的条件。作为固体填充剂,可以使用玻璃纤维、炭纤维、芳纶纤维、玻璃珠、磨碎纤维(milled fiber)、玻璃鳞片、云母、滑石等。
接着,对于固体填充剂的长径比、含量、尺寸、相互作用是如何对取向产生影响的、是否会对成型体的翘曲变形量产生影响进行说明。
长径比变大时,在成型体的表面附近,树脂和固体填充剂均变得易于取向,并且在从表面稍微沿深度方向进入的成型体内部,取向的程度有急激降低的倾向、易于产生应变。与此相反,长径比变小时,在固体填充剂自身的取向变小的基础上,固体填充剂有缓解深度方向的树脂的取向状况的变化的倾向、有应变量变小的倾向。
另一方面,即使为高长径比,在为长度大的固体填充剂的情况下,也会互相干涉想要取向的动作,有时会阻碍取向。由于可见这样的相互作用,因此有必要确认不仅考虑了长径比、而且考虑了相互作用的取向倾向。
固体填充剂的含量变多时,应变量有变小的倾向,固体填充剂的含量变少时,应变量有变大的倾向。该倾向在选择长径比小的固体填充剂的情况下易于表现。另外,固体填充剂的尺寸越大,越易于使树脂取向的影响变得均匀。例如,可列举出玻璃珠、滑石等。此外,长径比小是指长径比大致小于3。
另外,配混长径比不同的固体填充剂时,树脂、固体填充剂等成分的取向程度根据其配混比也有不同。例如,长径比小的填充剂的配混比率越高,深度方向的取向情况的变化越小。
因此,例如,通过使用如上所述的基准来调整固体填充剂的长径比、含量、使用多种固体填充剂时的配混比等,可以得到各种各样的饱和累积值的值。在原料组成的条件中,通过改变固体填充剂的长径比、含量等条件,所得多个饱和累积值的最大值和最小值之差大,故优选。
制造条件
接着,对制造条件进行说明。作为对成型体的表面附近的树脂组合物所含成分的取向的程度产生影响的制造条件,可列举出注射速度、模具温度、保压、料筒温度、注射压力、模具浇口尺寸等。
例如,变更为注射速度快的条件时,有如下倾向:在成型体表面附近,树脂、固体填充剂等成分的取向变强,并且这些成分的取向情况从成型体表面沿深度方向急剧变化。与此相反,变更为注射速度慢的条件时,有在成型体表面附近的树脂、固体填充剂等的成分的取向与注射速度更高的条件相比变弱的倾向。进而,可以缓和这些成分沿深度方向的取向情况的变化。深度方向的取向情况的变化越是变得缓和,应变量变得越小、成型体的翘曲变形量变得越小。
在模具温度高的条件的情况下,有树脂、固体填充剂等成分的取向的从表层到深度方向的变化减小的倾向。另一方面,在模具温度低的条件的情况下,有如下倾向:在成型体表面附近,在熔融树脂的流动方向上,树脂等成分的取向变化大。
因此,通过变更注射速度、模具温度等条件,可以得到各种各样的饱和累积值的值。尤其,在将液晶性树脂组合物成型而成的成型体的情况下,注射速度的条件对树脂、固体填充剂等的取向情况产生较大影响,因此有可以使所得多个饱和累积值的最大值和最小值之差增大的倾向。
在使用的原料的组成已经在某种程度上被确定、原料组成的条件可以变更的范围窄的情况下,如上所述,通过研究制造条件,可以得到各种各样的饱和累积值。
相关关系导出工序
相关关系导出工序是指导出多个前述饱和累积值与各个成型体的翘曲变形量的相关关系。多个饱和累积值使用通过上述的方法导出的值。另外,成型体的翘曲变形量例如通过以下的方法估计。
关于成型体的翘曲变形量,可以用下述距离来表示:例如,制造板状的成型体,将该板状成型体在室温下放置一定时间,在平面上放置该成型体时,成型体的端部在垂直于上述平面的方向上距平面的距离。
在每个与用上述饱和累积值导出工序导出的饱和累积值对应的原料组成或制造条件的条件下制造成型体,测定翘曲变形量,从而可以以饱和累积值为纵轴、以翘曲变形量为横轴在图表中描绘点。该描绘点的集合体即为相关关系,然而也可以基于该描绘点来制作近似曲线并将所得近似曲线作为相关关系在后述的原料组成和/或制造条件确定工序中使用。
此外,关于相关关系,即使固体填充剂的种类、含量等不同,在后述的原料组成和/或制造条件确定工序中也可以使用相同相关关系。
原料组成和/或制造条件确定工序
原料组成和/或制造条件确定工序为如下工序:调整影响液晶性树脂组合物所含成分的取向的原料组成和/或制造条件,并确定原料组成和/或制造条件,以使翘曲变形量为期望的值以下。在此处,对使用如图7所示的近似曲线作为相关关系的情况进行说明。图7中的描绘点A~E分别为表示实际用饱和累积值导出工序导出的饱和累积值、和用相关关系导出工序导出的翘曲变形量的描绘点。
首先,确定期望的翘曲变形量。翘曲变形量可以任意地确定。在此,设翘曲变形量为Xth以下为期望的翘曲变形量以下。接着,对原料组成和/或制造条件的具体的确定方法进行说明。在想要确定这些条件时,例如,假定预先确定了期望的原料组成、制造条件的情况、和未确定期望的原料组成、制造条件的情况。在任意一种情况下,均可如下所述地确定制造条件。
对预先确定了期望的原料组成的情况进行说明。在该情况下,首先,比较A~E的原料组成和期望的原料组成。接着,如果在A~E中有与期望组成接近的原料组成,则基于该接近的原料组成的描绘点确定原料组成。例如,在期望的原料组成与描绘点C的原料组成接近,不同之处仅为固体填充剂的长径比,期望的原料组成的长径比较小的情况下,如上所述,长径比越小应变量越小,因此可以预测变得不易翘曲。其结果,可以预测:在期望的原料组成情况下,翘曲变形量为期望的值以下。这样,在A~E中有与期望组成接近的组成的情况下,基于最接近的组成的描绘点变更固体填充剂的长径比、或者变更含量,由此可以确定成型体的翘曲变形量变为期望的值以下的原料组成。另外,在预测翘曲变形量为期望的值以上的情况下,将制造条件变更为更不易翘曲的条件,并确认翘曲变形量,从而可以确定适宜的制造条件。尤其,根据本发明,从相关关系的各描绘点,可以大致把握:在使何种制造条件以何种程度变化的情况下,翘曲变形量会以何种程度被抑制,因此可以容易地导出期望的制造条件。
如上所述,在A~E的原料组成中,在不存在与期望的原料组成接近的组成的情况下,且没有必要再导出相关关系的情况下,首先,用期望的成型条件进行成型并确认成型体的翘曲变形量。将该翘曲变形量代入图7所示的相关关系。此时,翘曲变形量过大的情况下,以相关关系上的A~E的描绘点的条件作为参考,对使用的固体填充剂的种类、含量等进行微调、或者用下述的方法调整制造条件,从而可以确定成为期望的值以下的翘曲变形量的条件。
对于制造条件的情况也可以同样地考虑,如果确定了期望的制造条件,通过比较该制造条件、和描绘点A~E的制造条件,可以估计在期望的制造条件下制造成型体时的成型体的翘曲变形量。另外,在描绘点A~E中没有成为参考的组成的情况下,进行一次成型体的制造来确认翘曲变形量后,在需要进一步降低翘曲变形量的情况下,调整成型条件,从而可以确定使翘曲变形量成为期望的值以下的制造条件。
品质评价方法
另外,如果使用上述的相关关系,则通过导出上述饱和累积值,可以容易地评价翘曲变形量。尤其,如果使用上述的相关关系,则还可以评价在成型体的使用时产生的翘曲变形量,因而是有用的。
实施例
以下,举出实施例对本发明进行进一步详细说明,但本发明并不限于这些实施例。
材料
液晶性树脂组合物1∶100质量%液晶性树脂(宝理塑料株式会社制造,VECTRA E950i熔点345℃(以下,E950i))
液晶性树脂组合物2∶70质量%液晶性树脂E950i、30质量%玻璃纤维(直径10μm,长度3mm)
液晶性树脂组合物3∶70质量%液晶性树脂E950i、30质量%玻璃珠(直径50μm)
液晶性树脂组合物4∶70质量%液晶性树脂E950i、15质量%玻璃纤维(直径10μm,长度3mm)、15质量%玻璃珠(直径50μm)
实施例1
对于液晶性树脂组合物1、液晶性树脂组合物2、液晶性树脂组合物3,制作如图8之(a)所示的厚度为3mm的长方体状的试验片。试验片制作时的注射速度为200mm/s-1,模具温度为140℃。确认注量不足来确定流动方向,结果树脂的流动方向为如图8之(b)所示的方向,因此如图8之(a)所示设置穿孔部和应变计。沿厚度方向每次各穿孔0.1mm(实施例的单位深度),每隔0.1mm测定应变量。测定结果示于图9之(a)。
从图9之(a)确认,液晶性树脂组合物1的饱和累积值为距成型体表面的距离0.4mm的点的460×10-6%。确认液晶性树脂组合物2的饱和累积值为距成型体表面的距离0.4mm的点的210×10-6%。确认液晶性树脂组合物3的饱和累积值为距成型体表面的距离0.2mm的点的130×10-6%。
对于液晶性树脂组合物1、2、3,制造与图8之(a)所示的成型体相同的成型体,从设置图8之(a)的穿孔部的位置沿深度方向采取厚度0.1mm的板状的薄片。进而,沿厚度方向每0.1mm取出一个薄片直至1mm(厚度方向的深度)为止。使用广角X射线解析装置(理学电气公司制造,“Rint2500HL”),使用平板成像板(IP,imaging plate),通过投射法成像二维散射图形,为了对厚度方向的每个深度的取向情况(树脂流动方向的取向情况)进行定量,从下述数学式算出取向函数(树脂流动方向的取向)。每个单位深度的取向函数示于图9之(b)。
数学式1
从图9之(a)、(b)确认,在应变量的累积值成为饱和累积值的深度为止的期间,如果取向函数有急剧变化,则饱和累积值变大。即,应变量的累积值成为饱和累积值的深度为止的期间,如果取向情况变化,则饱和累积值的值也变化。
接着,对液晶性树脂组合物1、2、3,进行注射成型而得到80mm×80mm×1mmt的平板,将该平板在常温下放置,通过在精密石平台上按压平板的一端来测定变得最高的位置距台面的高度,由该方法测定翘曲变形量。
对液晶性树脂组合物4也同样地导出饱和累积值,测定翘曲变形量。
对于液晶性树脂组合物1~4,在图10中示出翘曲变形量与饱和累积值的关系。图10所示为饱和累积值与翘曲变形量的相关关系。
从图10,确认饱和累积值的值越大,应变量越大,结合图9和图10,确认了在应变量的累积值成为饱和累积值的深度为止的期间,如果取向函数有急剧变化,则翘曲变形量变大。即,根据饱和累积值的大小,翘曲变形量会不同,饱和累积值的大小如上所述根据取向情况而不同,因此通过调整取向情况,可以调整翘曲变形量。以上确认了通过研究对取向产生影响的原料组成的条件、制造条件,可以抑制翘曲变形量。
图10所示的各描绘点,原料组成的条件不同。因此,通过将某原料组成与这些各描绘点中的与其接近的组成进行比较,可以预测某原料组成的情况下的大致的翘曲变形量。基于这样预测的翘曲变形量,可以导出成为期望的翘曲变形量以下的原料组成的条件。
另外,用与上述同样的方法导出某原料组成的情况下的饱和累积值,将该饱和累积值代入图10,可以由此评价翘曲变形量。
实施例2
对于液晶性树脂组合物1,除了将注射速度变更为16.7mm/s-1以外,用与实施例1同样的方法,导出应变量的累积值与距成型体表面的距离的关系、取向函数与距成型体表面的距离的关系,分别示于图11之(a)、(b)(低注射速度条件的结果)。另外,在图11中一并示出在实施例1中导出的液晶性树脂组合物1的结果(高注射速度条件的结果)。
从图11确认,注射速度的条件不同时,取向函数会不同,在应变量的累积值成为饱和累积值的深度为止的期间,如果取向函数具有大的变化,则饱和累积值的值变大。因此,变更对取向函数产生影响的制造条件,对每个制造条件导出饱和累积值,由此与实施例1同样地,可以求得饱和累积值与翘曲变形量的相关关系。
从以上的实施例1、2的结果可知,变更对取向产生影响的条件,导出每个条件下的饱和累积值,导出饱和累积值与翘曲变形量的相关关系,从而基于该相关关系,可以容易地确定翘曲变形量成为期望的值以下的原料组成、制造条件。另外,如果使用上述相关关系,则可以评价某原料组成、制造条件的翘曲变形量。
Claims (4)
1.一种原料组成或制造条件确定方法,其为确定将液晶性树脂组合物成型而成的成型体的原料组成或制造条件的方法,该方法包括以下工序:
饱和累积值导出工序,导出在多种原料组成和/或制造条件下制造的每个成型体饱和累积值,所述饱和累积值为在从成型体表面向深度方向上的、由每单位深度的树脂流动方向的应变量算出的至各单位深度的应变量的累积值的变化达到饱和时的饱和累积值;和
相关关系导出工序,导出多个前述饱和累积值与各个成型体的翘曲变形量的相关关系;和
原料组成和/或制造条件确定工序,基于前述相关关系,调整影响前述液晶性树脂组合物所含成分的取向的原料组成和/或制造条件,并确定原料组成和/或制造条件,以使翘曲变形量为期望的值以下。
2.根据权利要求1所述的制造条件确定方法,其中,前述影响取向的制造条件为注射速度。
3.根据权利要求1所述的原料组成确定方法,其中,前述影响取向的原料组成为固体填充剂的长径比和/或前述固体填充剂的含量。
4.一种由液晶性树脂组合物制造成型体的方法,其在通过权利要求1~3中的任一项所述的原料组成确定方法来确定的原料组成和/或制造条件确定方法来确定的制造条件下,由液晶性树脂组合物制造成型体。
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