CN102254055B - 集成电路动态时序检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明目的是提供一种集成电路动态时序检测方法，其解决了现有静态时序验证工具不能在正常仿真工作状态下进行时序验证且无法自定义时序验证的器件的种类和数目的技术问题。该集成电路动态时序检测方法，包括以下步骤：1)设计功能仿真开始；2)记录检测时间点；3)计算数据：4)重复步骤2和步骤3，直至功能仿真完成。本发明可在芯片的正常仿真工作状态下检查器件数据信号对时钟信号的建立和保持时间，更符合实际情况，更合理。

Description

集成电路动态时序检测方法

技术领域

本发明涉及一种动态检测器件数据信号对时钟信号建立和保持时间的方法。

技术背景

想要保证超大规模集成电路设计的正确性需要满足两个方面要求：第一，芯片电路基本功能的正确性；第二，芯片电路中所有的器件时序的正确性。要保证时序正确就需要时序验证，即器件数据信号对时钟信号的建立和保持时间的正确性。

现有工具要么只能验证功能，要么只能验证时序，不能同时保证两个方面。而且现有时序验证工具(即静态时序验证)也有很大的局限性。

发明内容

本发明目的是提供一种集成电路动态时序检测方法，其解决了现有静态时序验证工具不能在正常仿真工作状态下进行时序验证且无法自定义时序验证的器件的种类和数目的技术问题。

本发明的第一种技术解决方案是：

一种集成电路动态时序检测方法，包括以下步骤：

1】设计功能仿真开始；

2】记录检测时间点：

2.1】检测数据变化，依次记录数据变化的时间点A₁、A₂……A_n，直至时钟上升沿到来；

2.2】检测时钟上升沿的到来，依次记录时钟上升沿到来的时间点B₁、B₂……B_n，直至检测到下一个数据变化，记录数据变化的时间点C；

3】计算数据：

3.1】计算数据建立时间T_S＝B₁-A_n；

3.2】计算数据保持时间T_T＝C-B_n；

4】重复步骤2和步骤3，直至功能仿真完成。

本发明的第二种技术解决方案是：

一种集成电路动态时序检测方法，包括以下步骤：

1】设计功能仿真开始；

2】记录检测时间点：

2.1】检测数据变化，依次记录数据变化的时间点A₁₁、A₁₂……A_1n，直至时钟上升沿到来；

2.2】检测时钟上升沿的到来，依次记录时钟上升沿到来的时间点B₂₁、B₂₂……B_2n，直至检测到下一个数据变化，记录数据变化的时间点C₁₁；

3】重复步骤2，直至功能仿真完成n个数据的建立和保持过程；

4】依次计算n个数据的数据建立时间T_Sn＝B_n1-A_nn和数据保持时间T_Tn＝C_n-B_nn。

本发明的技术效果是：

1、本发明可在芯片的正常仿真工作状态下检查器件数据信号对时钟信号的建立和保持时间，更符合实际情况，更合理。

2、本发明可以自定义需要检查的器件的种类和数目(可以是芯片中所有器件也可以是部分器件)，信息更全面。

3、本发明可以即时得出时序检测结果，也可以功能仿真后再计算时序以提高检测速度。

附图说明

图1是本发明的具体算法示意图；

图2是根据本发明方法针对芯片中某一器件数据信号和时钟信号，在不同的仿真条件下，得到结果图。

具体实施方式

如图1所示，在仿真过程中提取需要检查信号的计算步骤如下：

设计功能仿真开始，参见图中虚线(0)；

发现数据变化，记录其时间A₁₁，参见图中虚线(1)；

发现时钟上升沿，记录其时间B₁₁，参见图中虚线(2)，与上一次数据变化计算，得出数据建立时间T_S1＝B₁₁-A₁₁，参见图中虚线(1)和虚线(2)之间的时间段；

发现时钟上升沿后第一个数据变化并计算记录其时间C₁₁，参见图中虚线(3)，计算当前时间数据保持时间T_T1＝C₁₁-B₁₁，参见图中虚线(2)和虚线(2)之间的时间段；

发现数据变化，记录其时间A₂₁，参见图中虚线(4)；

发现数据变化，记录其时间A₂₂，参见图中虚线(5)；

发现时钟上升沿，记录其时间B₂₁，参见图中虚线(6)，与上一次数据变化计算，得出数据建立时间T_S2＝B₂₁-A₂₂，参见图中虚线(5)和虚线(6)之间的时间段；

发现时钟上升沿，记录其时间B₂₂，参见图中虚线(7)；

发现时钟上升沿后第一个数据变化，记录其时间C₂₁，参见图中虚线(8)，计算当前时间数据保持时间T_T2＝C₂₁-B₂₂，参见图中虚线(7)和虚线(8)之间的时间段；

发现数据变化，记录其时间A₃₁，参见图中虚线(9)；

发现时钟上升沿，记录其时间B₃₁，参见图中虚线(10)，与上一次数据变化计算，得出数据建立时间T_s3＝B₃₁-A₃₁，参见图中虚线(9)和虚线(10)之间的时间段。

最后，将所得到的所有建立时间和保持时间分类并打印成图。

可以将多次仿真(不同工艺，不同电压，不同温度)得到结果打印到同一个图中。

上图中的数据建立时间和数据保持时间也可以在仿真完成后统一计算、分类、打印。

图2是芯片中某一器件数据信号对时钟信号，在不同的仿真条件下，得到结果图；其中：

波形1：2sigma快N管快P管高压低温条件下建立时间结果；

波形2：普通N管普通P管普通电压室温条件下建立时间结果；

波形3：2sigma慢N管慢P管低压高温条件下建立时间结果；

波形4：2sigma快N管快P管高压低温条件下保持时间结果；

波形5：普通N管普通P管普通电压室温条件下保持时间结果；

波形6：2sigma慢N管慢P管低压高温条件下保持时间结果。

通过图2，300000ps到12e6ps范围内的数据建立时间和数据保持时间可以非常直观的报告给设计人员。

Claims (2)

1.一种集成电路动态时序检测方法，其特征在于：包括以下步骤：

1】设计功能仿真开始；

2】记录检测时间点：

2.1】检测数据变化，依次记录数据变化的时间点A₁、A₂……A_n，直至时钟上升沿到来；

2.2】检测时钟上升沿的到来，依次记录时钟上升沿到来的时间点B₁、B₂……B_n，直至检测到下一个数据变化，记录数据变化的时间点C；

3】计算数据：

3.1】计算数据建立时间T_S=B₁-A_n；

3.2】计算数据保持时间T_T=C-B_n；

4】重复步骤2和步骤3，直至功能仿真完成。

2.一种集成电路动态时序检测方法，其特征在于：包括以下步骤：

1】设计功能仿真开始；

2】记录检测时间点：

2.1】检测数据变化，依次记录数据变化的时间点A₁₁、A₁₂……A_1i，直至时钟上升沿到来；

2.2】检测时钟上升沿的到来，依次记录时钟上升沿到来的时间点B₁₁、B₁₂……B_1j，直至检测到下一个数据变化，记录数据变化的时间点C₁；

3】重复步骤2，直至功能仿真完成n个数据的建立和保持过程；

4】依次计算n个数据的数据建立时间T_Sn=B_n1-A_ni和数据保持时间T_Tn=C_n-B_nj。 

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