CN106526336B - 一种时间串测量方法 - Google Patents
一种时间串测量方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN106526336B CN106526336B CN201611099886.5A CN201611099886A CN106526336B CN 106526336 B CN106526336 B CN 106526336B CN 201611099886 A CN201611099886 A CN 201611099886A CN 106526336 B CN106526336 B CN 106526336B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- state
- channel signal
- value
- edge
- state value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/02—Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration
- G01R29/027—Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values
- G01R29/0273—Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values the pulse characteristic being duration, i.e. width (indicating that frequency of pulses is above or below a certain limit)
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/02—Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration
- G01R29/027—Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values
- G01R29/0276—Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values the pulse characteristic being rise time
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
一种时间串测量方法，属于自动测试领域，解决了现状态量测量装置的测量效率低和测量分辨率低的问题。该方法基于时间串测量装置实现，所述装置：DSP最小系统通过三态缓冲模块和光电隔离模块采集多路待测通道信号。该方法包括初始化、读取通道信号状态值、判断起始时刻、计数器清零和启动定时器的步骤；判断起始时刻的步骤为：判断起始通道信号的当前状态值与上一状态值，二者一致时，读取通道信号状态值，否则，判断起始通道信号的沿是否为起始沿，如果是，计数器清零，否则，读取通道信号状态值。定时中断包括：读取通道信号状态值、判断是否产生状态沿、记录数据、计算状态沿发生时刻、数据上传和计数器加一的步骤。本发明用于测量时间串。
Description
技术领域
本发明涉及一种时间串测量方法，属于自动测试领域。
背景技术
自动测试领域常常涉及到时间串的测量问题，即以多个通道信号中的任意一个信号的上升沿或下降沿作为起始时刻，测量多个通道信号中其他通道信号产生沿的时刻以及产生的沿的状态。现有的状态量测量装置通常通过自动测试软件来定时读取待测通道信号的状态，从而完成时间串的测量。但是，采用自动测试软件来测量时间串会影响自动测试软件的运行效率，而且自动测试软件的定时精度较低，进而导致时间串测量的分辨率低。
发明内容
本发明为解决现有状态量测量装置因采用自动测试软件对时间串进行测量而导致其测量效率低和测量分辨率低的问题，提出了一种时间串测量方法。
本发明所述的时间串测量方法基于时间串测量装置实现，所述装置包括光电隔离模块1、三态缓冲模块2和DSP最小系统3；
光电隔离模块1的多个信号输入端分别为多个通道信号的输入端，光电隔离模块1的多个信号输出端分别与三态缓冲模块2的多个信号输入端相连，三态缓冲模块2的多个信号输出端均与DSP最小系统3的数据总线相连，DSP最小系统3与上位机4相连；
多个通道信号均为待测信号，DSP最小系统3包括DSP芯片；
所述方法包括：
初始化的步骤：对DSP芯片进行初始化处理；
第一读取通道信号状态值的步骤：通过DSP芯片同时读取多个通道信号的状态值，所述状态值包括0和1，二者分别表示其对应的通道信号的状态为低电平和高电平；
判断起始时刻的步骤：将多个通道信号中的任意一个信号设定为起始通道信号，将上升沿或下降沿设定为起始沿，并判断起始通道信号的当前状态值与上一状态值是否一致，当判断结果为是时，执行第一读取通道信号状态值的步骤，否则，判断起始通道信号变化过程中的状态沿是否为起始沿，当判断结果为是时，执行计数器清零的步骤，否则，执行第一读取通道信号状态值的步骤；
计数器清零的步骤：对DSP芯片内的计数器进行清零处理；
启动定时器的步骤：启动DSP芯片内定时器，并开启定时中断；
定时中断的工作模式包括：
第二读取通道信号状态值的步骤：通过DSP芯片同时读取多个通道信号的状态值；
判断是否产生状态沿的步骤：分别判断多个通道信号的当前状态值与上一状态值是否一致，当该判断的结果全部为是时，执行第二读取通道信号状态值的步骤，否则，执行记录数据步骤；
记录数据步骤：分别记录有状态沿产生的信号通道的编号、该状态沿的状态以及该状态沿对应的计数值，状态沿的状态包括上升沿和下降沿；
计算状态沿发生时刻的步骤：状态沿发生时刻等于该状态沿对应的计数值与计数器的度量值的乘积；
数据上传的步骤：将实施记录步骤所得的信号通道的编号、状态沿的状态以及实施计算状态沿发生时刻的步骤所得的状态沿发生时刻发至上位机；
计数器加一的步骤：将计数值加一。
本发明所述的方法通过所述时间串测量装置实现了对待测通道信号的状态量的获取，无需采用自动测试软件来定时读取待测通道信号的状态，因此时间串的测量效率高和测量分辨率高。
附图说明
在下文中将基于实施例并参考附图来对本发明所述的时间串测量方法进行更详细的描述，其中：
图1为实施例中时间串测量装置的电气连接示意图；
图2为实施例所述的时间串测量方法的流程图；
图3为实施例中定时中断的流程图。
在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明所述的时间串测量方法作进一步说明。
实施例：下面结合图1至图3详细地说明本实施例。
本实施例所述的时间串测量方法基于时间串测量装置实现，所述装置包括光电隔离模块1、三态缓冲模块2和DSP最小系统3；
光电隔离模块1的多个信号输入端分别为多个通道信号的输入端，光电隔离模块1的多个信号输出端分别与三态缓冲模块2的多个信号输入端相连，三态缓冲模块2的多个信号输出端均与DSP最小系统3的数据总线相连，DSP最小系统3与上位机4相连；
多个通道信号均为待测信号，DSP最小系统3包括DSP芯片；
所述方法包括：
初始化的步骤：对DSP芯片进行初始化处理；
第一读取通道信号状态值的步骤：通过DSP芯片同时读取多个通道信号的状态值，所述状态值包括0和1，二者分别表示其对应的通道信号的状态为低电平和高电平；
判断起始时刻的步骤：将多个通道信号中的任意一个信号设定为起始通道信号，将上升沿或下降沿设定为起始沿，并判断起始通道信号的当前状态值与上一状态值是否一致，当判断结果为是时，执行第一读取通道信号状态值的步骤，否则，判断起始通道信号变化过程中的状态沿是否为起始沿，当判断结果为是时，执行计数器清零的步骤，否则，执行第一读取通道信号状态值的步骤；
计数器清零的步骤：对DSP芯片内的计数器进行清零处理；
启动定时器的步骤：启动DSP芯片内定时器，并开启定时中断；
定时中断的工作模式包括：
第二读取通道信号状态值的步骤：通过DSP芯片同时读取多个通道信号的状态值；
判断是否产生状态沿的步骤：分别判断多个通道信号的当前状态值与上一状态值是否一致，当该判断的结果全部为是时，执行第二读取通道信号状态值的步骤，否则，执行记录数据步骤；
记录数据步骤：分别记录有状态沿产生的信号通道的编号、该状态沿的状态以及该状态沿对应的计数值，状态沿的状态包括上升沿和下降沿；
计算状态沿发生时刻的步骤：状态沿发生时刻等于该状态沿对应的计数值与计数器的度量值的乘积；
数据上传的步骤：将实施记录步骤所得的信号通道的编号、状态沿的状态以及实施计算状态沿发生时刻的步骤所得的状态沿发生时刻发至上位机；
计数器加一的步骤：将计数值加一。
本实施例中的光电隔离模块采用TLP521型号的芯片实现，该模块用于测试通道与所述时间串测量装置之间的信号隔离，提高待测通道信号的抗干扰性。
本实施例中的三态缓冲模块采用74HC540型号的芯片实现，该模块用于待测通道信号与DSP最小系统总线信号之间的三态缓冲。
本实施例中的DSP芯片为SM320DM642AGDK型号的芯片，该芯片为所述时间串测量装置的主控器，用于实现时间串的测量以及与上位机的PCI之间进行通信。
所述时间串测量装置的技术指标如下：
待测通道信号的幅值范围：0V至30V；
待测通道信号的频率范围：0Hz至10MHz；
待测通道信号的最大脉冲间隔：60s；
时间分辨率：10μs；
所述时间串测量装置能够有效地进行16路通道的时间串测量，测量分辨率高，能够满足自动测试系统对时间串测量的要求。
所述初始化的步骤用于配置DSP芯片的寄存器，DSP芯片内程序变量的额初始化，确保DSP芯片在预设的模式下正常工作。
本实施例所述的方法基于硬件采集待测通道信号，采用DSP最小系统进行高精度定时，实现了对时间串的测量，从而提高时间串测量的分辨率，减少自动测试软件在时间串测量中的软件开销。
虽然在本文中参照了特定的实施方式来描述本发明，但是应该理解的是，这些实施例仅是本发明的原理和应用的示例。因此应该理解的是，可以对示例性的实施例进行许多修改，并且可以设计出其他的布置，只要不偏离所附权利要求所限定的本发明的精神和范围。应该理解的是，可以通过不同于原始权利要求所描述的方式来结合不同的从属权利要求和本文中所述的特征。还可以理解的是，结合单独实施例所描述的特征可以使用在其他所述实施例中。
Claims (4)
1.一种时间串测量方法，所述方法基于时间串测量装置实现，所述装置包括光电隔离模块(1)、三态缓冲模块(2)和DSP最小系统(3)；
光电隔离模块(1)的多个信号输入端分别为多个通道信号的输入端，光电隔离模块(1)的多个信号输出端分别与三态缓冲模块(2)的多个信号输入端相连，三态缓冲模块(2)的多个信号输出端均与DSP最小系统(3)的数据总线相连，DSP最小系统(3)与上位机(4)相连；
多个通道信号均为待测信号，DSP最小系统(3)包括DSP芯片；
其特征在于，所述方法包括：
初始化的步骤：对DSP芯片进行初始化处理；
第一读取通道信号状态值的步骤：通过DSP芯片同时读取多个通道信号的状态值，所述状态值包括0和1，二者分别表示其对应的通道信号的状态为低电平和高电平；
判断起始时刻的步骤：将多个通道信号中的任意一个信号设定为起始通道信号，将上升沿或下降沿设定为起始沿，并判断起始通道信号的当前状态值与上一状态值是否一致，当判断结果为是时，执行第一读取通道信号状态值的步骤，否则，判断起始通道信号变化过程中的状态沿是否为起始沿，当判断结果为是时，执行计数器清零的步骤，否则，执行第一读取通道信号状态值的步骤；
计数器清零的步骤：对DSP芯片内的计数器进行清零处理；
启动定时器的步骤：启动DSP芯片内定时器，并开启定时中断；
定时中断的工作模式包括：
第二读取通道信号状态值的步骤：通过DSP芯片同时读取多个通道信号的状态值；
判断是否产生状态沿的步骤：分别判断多个通道信号的当前状态值与上一状态值是否一致，当该判断的结果全部为是时，执行第二读取通道信号状态值的步骤，否则，执行记录数据步骤；
记录数据步骤：分别记录有状态沿产生的信号通道的编号、该状态沿的状态以及该状态沿对应的计数值，状态沿的状态包括上升沿和下降沿；
计算状态沿发生时刻的步骤：状态沿发生时刻等于该状态沿对应的计数值与计数器的度量值的乘积；
数据上传的步骤：将实施记录步骤所得的信号通道的编号、状态沿的状态以及实施计算状态沿发生时刻的步骤所得的状态沿发生时刻发至上位机；
计数器加一的步骤：将计数值加一。
2.如权利要求1所述的时间串测量方法，其特征在于，光电隔离模块(1)采用TLP521型号的芯片实现。
3.如权利要求2所述的时间串测量方法，其特征在于，三态缓冲模块(2)采用74HC540型号的芯片实现。
4.如权利要求3所述的时间串测量方法，其特征在于，DSP芯片为SM320DM642AGDK型号的芯片。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201611099886.5A CN106526336B (zh) | 2016-12-02 | 2016-12-02 | 一种时间串测量方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201611099886.5A CN106526336B (zh) | 2016-12-02 | 2016-12-02 | 一种时间串测量方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN106526336A CN106526336A (zh) | 2017-03-22 |
| CN106526336B true CN106526336B (zh) | 2019-01-08 |
Family
ID=58354767
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201611099886.5A Active CN106526336B (zh) | 2016-12-02 | 2016-12-02 | 一种时间串测量方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN106526336B (zh) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1176416A (zh) * | 1996-09-04 | 1998-03-18 | 富士电机株式会社 | 时间测量装置 |
| CN105320029A (zh) * | 2014-06-09 | 2016-02-10 | 矢崎总业株式会社 | 恒定周期信号监视电路和负载控制备用信号发生电路 |
| CN105403726A (zh) * | 2015-12-17 | 2016-03-16 | 滁州市博创电气有限公司 | 脉冲测速模块 |
| CN105527896A (zh) * | 2015-12-17 | 2016-04-27 | 滁州市博创电气有限公司 | 十二通道隔离型测速板卡 |
| CN105572481A (zh) * | 2015-12-25 | 2016-05-11 | 哈尔滨工业大学 | 制导弹药多路时序状态信号测量电路及其测量方法 |
-
2016
- 2016-12-02 CN CN201611099886.5A patent/CN106526336B/zh active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1176416A (zh) * | 1996-09-04 | 1998-03-18 | 富士电机株式会社 | 时间测量装置 |
| CN105320029A (zh) * | 2014-06-09 | 2016-02-10 | 矢崎总业株式会社 | 恒定周期信号监视电路和负载控制备用信号发生电路 |
| CN105403726A (zh) * | 2015-12-17 | 2016-03-16 | 滁州市博创电气有限公司 | 脉冲测速模块 |
| CN105527896A (zh) * | 2015-12-17 | 2016-04-27 | 滁州市博创电气有限公司 | 十二通道隔离型测速板卡 |
| CN105572481A (zh) * | 2015-12-25 | 2016-05-11 | 哈尔滨工业大学 | 制导弹药多路时序状态信号测量电路及其测量方法 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| CPCI总线四通道隔离计数器研制;米翔;《中国优秀硕士学位论文全文数据库·工程科技Ⅱ辑》;20140615(第6期);正文第1-55页 |
| 应用CAMAC技术测量时间串;林钢;《计算机工程与设计》;19881231(第1期);第58-64页 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN106526336A (zh) | 2017-03-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102563308B1 (ko) | 상승 및 하강 신호의 디스큐잉 | |
| CN102928772A (zh) | 时序测试系统及其测试方法 | |
| CN101865946B (zh) | 一种可编程的数字集成电路交流参数测试系统及方法 | |
| CN103853648A (zh) | 嵌入式软件性能评测硬件辅助测试装置和方法 | |
| CN104008033A (zh) | I2c总线测试系统及方法 | |
| CN201796119U (zh) | 一种可编程的数字集成电路交流参数测试系统 | |
| CN103267940A (zh) | 多模块平行测试系统及测试方法 | |
| CN107703362A (zh) | 一种服务器主板pcie信号线阻抗测试治具 | |
| CN106908750A (zh) | 一种电能表脉冲误差检测方法和装置 | |
| US8144828B2 (en) | Counter/timer functionality in data acquisition systems | |
| CN202421440U (zh) | 电路延时时间测量装置 | |
| CN106526336B (zh) | 一种时间串测量方法 | |
| CN103308803A (zh) | 自检电路与系统接口一体化结构的适配器 | |
| CN112579366B (zh) | 硬盘在位检测系统 | |
| CN105629157A (zh) | 高速数字采集中数据可信度的判别方法 | |
| CN104123966A (zh) | 一种基于自动地周期性读操作的读取速度测量电路 | |
| CN103926846A (zh) | 航空弹药模拟与故障生成的系统 | |
| CN103344830A (zh) | 一种新的合闸相位检测方法 | |
| CN202758047U (zh) | 测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路 | |
| CN106526923B (zh) | 阵列基板、其测试方法及显示装置 | |
| CN106328211A (zh) | 一种实现时序测试的方法及装置 | |
| CN102889910A (zh) | 一种防错波干扰的超声波流量仪表电路系统 | |
| CN109583029B (zh) | 一种消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法及装置 | |
| CN101738540B (zh) | 一种自动测量电接口静态特性的方法 | |
| CN101915864B (zh) | 矢量示波装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |