CN102246061B - 测位装置 - Google Patents
测位装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN102246061B CN102246061B CN200980149429.4A CN200980149429A CN102246061B CN 102246061 B CN102246061 B CN 102246061B CN 200980149429 A CN200980149429 A CN 200980149429A CN 102246061 B CN102246061 B CN 102246061B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- unit
- sensor
- sensor element
- display unit
- positioning apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000011160 research Methods 0.000 claims description 57
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 7
- 230000009471 action Effects 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 25
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 13
- 230000004087 circulation Effects 0.000 description 7
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 4
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000004566 building material Substances 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000009849 deactivation Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V3/00—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
- G01V3/15—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation specially adapted for use during transport, e.g. by a person, vehicle or boat
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
- G01R27/2605—Measuring capacitance
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Geology (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Geophysics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
本发明涉及一种测位装置、尤其是手动测位设备(12),具有测位单元(14)和显示单元(26),该测位单元被设置用于借助测量信号(20)检测在研究对象(16)中所布置的物体(18)的存在并且具有传感器单元(22)和计算单元(24)。所提出的是,所述计算单元(24)被设置用于沿着至少一个维度(42、44)给显示单元(26)的不同显示点(28、30、32、34)分配传感器单元(22)的不同传感器元件(36、38、40)。
Description
技术领域
本发明涉及根据权利要求1的前序部分所述的测位装置。
背景技术
已经公知一种测位装置、尤其是手动测位设备。该测位装置具有测位单元和显示单元,该测位单元被设置用于借助测量信号检测布置在研究对象中的物体的存在并且具有传感器单元和计算单元。
发明内容
本发明涉及测位装置、尤其是手动测位设备,具有测位单元和显示单元,该测位单元被设置用于借助测量信号检测布置在研究对象中的物体的存在并且具有传感器单元和计算单元。
所提出的是,计算单元被设置用于沿着至少一个维度给显示单元的不同显示点分配传感器单元的不同传感器元件。在该上下文中,“设置”尤其是应该被理解为专门装备和/或专门设计和/或专门编程。此外,“计算单元”尤其是应该被理解为可以由分析单元和/或信号处理单元构成的单元,其中计算单元不仅可以由处理器单独地构成而且尤其是可以由处理器和其他电子组件——例如存储装置——构成。特别有利地,计算单元可以具有微控制器或数字数据分析装置,其中模拟数字转换器有利地以连接在微控制器和/或数字数据分析装置前面的方式被布置。在该上下文中,“显示单元”应该被理解为用于光学信息输出和/或向测位设备的操作者进行光学信息传送的单元,例如由显示器和/或屏幕构成的显示单元。此外,“显示点”尤其是应该被理解为显示单元的点和/或区域、尤其是显示区域,其由显示单元的像素和/或段和/或由多个像素和/或段的联接构成。优选地,传感器单元具有多个传感器元件,这些传感器元件分别被设置用于单独地测量和/或检测测量信号。传感器元件可以由所有对技术人员看来有意义的传感器构成。但是特别有利地,各个传感器元件被构造为用于检测介电常数的电容传感器。此外,传感器元件和/或显示点彼此的布置不仅可以是对称的而且可以是不对称的。原则上,各个传感器元件可以任意地被分配给各个显示区域。但是特别有利地,设置传感器元件对显示区域的固定分配。通过该根据本发明的扩展方案可以特别有利地为测位装置的操作者实现物体的显示或在研究对象的至少一个维度上显示有利的映像。此外可以在此情况下为操作者实现高的操作舒适性、尤其是测量结果的读取舒适性。
此外提出,传感器单元的传感器元件的数量在至少一个维度上基本上等于显示单元的显示点的数量。在此情况下,可以为操作者高分辨率地输出传感器单元的测量结果并且因此有利地实现研究对象的详细的映像。优选地,传感器单元的不同的传感器元件分别由电容传感器构成,其中各个传感器元件不仅可以被用作测量传感器而且可以被用作信号产生传感器,其中各个传感器元件的作用原理取决于对传感器单元的驱动和/或互连。特别有利地,传感器阵列具有至少3x3个传感器元件,其中测位单元的位置分辨率随着传感器元件的数量而升高。
此外提出,显示单元由二维显示单元构成,所述二维显示单元被设置用于在两个维度上输出研究对象的映像。在该上下文中,“映像”尤其是应该被理解为研究对象、尤其是要研究的墙壁的图像,所述图像优选地由研究对象的三维结构和/或三维轮廓到二维面上的投影形成。但是原则上可以设想将研究对象的三维结构和/或三维轮廓投影成一维映像,尤其是具有深度显示,该深度显示可以通过尤其各个传感器元件的变化的间隔和/或作为电容电极所构造的传感器元件的电极间隔来实现。两个维度优选地沿着尤其基本上相互垂直定向的两个方向延伸。映像、尤其是二维映像优选平行于研究对象的表面、尤其是墙壁表面来定向。通过本发明的该扩展方案可以有利地为操作者实现对研究对象的图解表示并且因此随之获得对在研究对象内的所检测物体的简单识别。
此外提出,计算单元被设置用于在借助于传感器单元的二维检测时将至少两个测量值沿着一个维度综合成一个值。优选地,所述至少两个测量值由不同的传感器元件沿着一个维度检测。计算单元有利地从所述至少两个测量值中借助于平均值计算确定该值。在此情况下,提供特别低成本的显示单元以用于为操作者有利地显示或输出测量结果。此外,研究对象的一维表示和/或一维映像可以至少部分地与二维信息内容一起为测位装置的操作者输出。
在本发明的有利改进方案中提出,传感器单元具有大量以传感器阵列布置的传感器元件。在该上下文中,“传感器阵列”尤其是应该被理解为各个传感器元件彼此的布置,其中传感器元件以行和以列和/或以矩阵结构和/或以网格结构和/或以光栅结构和/或以其他对技术人员看来有意义的布置来布置。有利地,给传感器阵列分配显示单元的显示阵列。优选地,传感器单元的不同的传感器元件不仅可以被用作测量传感器而且可以被用作信号产生传感器,其中各个传感器元件的作用原理取决于对各个传感器元件的驱动和/或互连。特别有利地,传感器阵列具有至少3x3个传感器元件,其中测位单元的位置分辨率随着传感器元件的数量而升高。可以通过传感器单元的各个传感器元件的该布置来实现研究对象的内部结构的有利扫描或有利信息检测。此外,在此情况下可以详细地检测研究对象中物体的布置和/或走向和/或取向和/或形状并且借助于显示单元详细地向操作者输出该信息。此外,可以借助于测位装置在研究对象上的静态的和/或位置固定的定位实现对研究对象中的物体的检测,并且可以至少部分地放弃用于检测的测位装置的处理(Verfahren),其中所述物体尤其是沿着至少一个维度小于测位装置或传感器单元。优选地,与传感器单元的测量循环有关地更新显示单元的表示和/或显示。在此情况下,可以在一个测量循环之后或在几个测量循环之后更新显示单元的表示和/或显示,其中这里可能需要对多个测量循环上的测量值求平均。有利地,在大约10 Hz的范围中进行显示的更新。
在本发明的一种有利的改进方案中提出,计算单元被设置用于沿着至少一个维度相继为测量激活传感器元件,由此可以在测位装置的测量运行期间有利地实现高的位置分辨率。在此情况下,“激活”尤其是应该被理解为,传感器元件单个地为测量和/或测量运行被选择和/或被驱动并且在通过另一传感器元件测量时可以由计算机单元去激活。在此情况下可以沿着传感器阵列的一行和/或一列激活传感器元件。
此外提出,计算单元被设置用于调整在两个变化的、激活的传感器元件之间的不变的间隔,由此可以利用测量信号到研究对象中的基本不变的穿透深度来实现对研究对象的高分辨率的扫描。此外,在此情况下可以实现有利的信噪比和/或尤其是自动地调整对于显示单元的显示有利的阈值。
另外提出,计算单元被设置用于调整在两个至少部分变化的、激活的传感器元件之间的变化的间隔。在此情况下可以为操作者实现研究对象的有利的深度信息以及尤其是具有物体至研究对象表面的间隔的在研究对象中所布置的物体的定位。优选地,可以由操作者通过显示单元调用所述信息,例如其方式是,测位单元具有操作元件,借助于所述操作元件可以将显示单元转换到具有深度信息的显示模式。
此外提出,计算单元被设置用于将传感器元件中的至少一个作为测量电极或作为信号产生电极激活,由此可以有利地实现灵活的测量和尤其是传感器单元的高分辨能力。优选地,测量电极被设置用于测量或检测测量信号,并且信号产生电极被设置用于产生或施加信号,尤其是由电场——例如静态场或特别有利地交变场——所构成的信号。
在本发明的另一扩展方案中提出一种尤其是利用测位装置的方法,其中沿着至少一个维度给显示单元的不同显示点分配传感器单元的不同传感器元件。特别有利地可以为测位装置的操作者实现尤其是物体的显示和/或在研究对象的至少一个维度上显示有利的映像。此外,在此情况下可以为操作者实现高操作舒适性、尤其是测量结果的读取舒适性。
此外提出,借助于显示单元沿着至少一个维度显示研究对象的映像。但是特别有利地借助于显示单元显示研究对象的二维映像。有利地可以为操作者实现研究对象的图解表示并且因此随之获得对在研究对象内的所检测物体的简单识别。
另外提出,借助于显示单元显示物体的取向,由此可以为操作者实现有利的物体识别。“物体的取向”在此情况下应该被理解为物体的轴、尤其是纵轴相对于研究对象和/或作用在物体上的重力的空间定向。有利地,在此情况下可以获得物体的与形状有关的测位,其方式是,物体选择可以有针对性地对准例如螺钉、线路等,其中优选可以自动地借助于计算单元实现与形状有关的测位。
此外提出,调整传感器单元的在两个变化的、激活的传感器元件之间的不变的间隔,由此可以实现利用测量信号到研究对象中的基本上不变的穿透深度对研究对象的高分辨率的扫描。此外在此情况下可以实现有利的信噪比和/或尤其是自动地调整对于显示单元的显示有利的阈值。
另外提出,调整在两个至少部分变化的、激活的传感器元件之间的变化的间隔,由此可以为操作者实现研究对象的有利的深度信息、尤其是对象深度以及尤其是具有物体到研究对象表面的间隔的在研究对象中所布置的物体的定位。有利地,借助于显示单元为测位设备的操作者表示研究对象的这样所确定的深度信息、尤其是对象深度。
附图说明
从下面的附图说明中得出其他优点。在附图中示出了本发明的实施例。附图、说明书和权利要求书以组合的方式包含许多特征。技术人员将适当地也将单个地考虑这些特征并且综合成有意义的其他组合。
图1以示意性视图示出具有测位单元的测位设备,
图2以示意性视图与研究对象一起示出测位设备,
图3以示意性视图示出测位设备的传感器单元和显示单元,
图4a-4i以示意性视图示出具有不同的激活的传感器元件的、在两个变化的传感器元件之间具有不变的间隔的传感器单元,
图5a、5b以示意性视图示出具有多个传感器元件的联接的传感器单元,
图6以示意性视图示出具有未接线的传感器元件的传感器单元,
图7a-7d以示意性视图示出具有对物体的不同表示变型的显示单元,
图8a-8c以示意性视图示出在两个传感器元件之间具有变化的间隔的传感器单元,
图9以示意性视图示出具有变化的探测半径的传感器单元的布置,
图10a-10c以示意性视图示出具有在两个变化的具有不同测量点的传感器元件之间的不变的相对图4a-4i放大的间隔的传感器单元,和
图11以示意性视图示出传感器单元和具有一维显示的显示单元。
具体实施方式
在图1和2中示意性示出由手动测位设备12所构成的测位装置10。测位设备12具有测位单位14,该测位单元被设置用于借助测量信号20检测布置在研究对象16——例如墙壁——中的物体18的存在。为此,测位单元14具有传感器单元22和计算单元24,它们被设置用于测量和/或产生测量信号20并且分析所测量的信号。此外,测位设备12具有显示单元26,该显示单元被设置用于显示所测量的信号和/或测量结果以及尤其是所探测的物体18,例如在墙壁中所布置的电流线路和/或水管路等。计算单元24在测位设备12的运行中被设置用于沿着至少一个维度42、44给显示单元26的不同的显示点28、30、32、34分配传感器单元22的不同的传感器元件36、38、40(图3)。
传感器单元22布置在测位设备12的朝向研究对象16的区域56中并且具有大量的传感器元件36、38、40,这些传感器元件分别由电容传感器构成。传感器单元22此外具有传感器阵列48,其中传感器元件36、38、40在传感器阵列48内以行58和列60来布置(图3)。传感器元件36、38、40可以担任测量电极62以及信号产生电极64的作用原理,其中这取决于对传感器元件36、38、40的驱动和/或对传感器元件36、38、40的互连。信号产生电极64被设置用于产生测量信号20、尤其是交变信号,并且测量电极62被设置用于测量测量信号20。在测位单元14的正常运行模式下,除了两个传感器元件36、38之外,传感器单元22的所有传感器元件36、38、40可以与地电位相连接,使得仅仅所述两个传感器元件36、38可供测量使用。作为信号生成电极64所构造的传感器元件36接着被施加交变电压,并且作为测量电极62所构造的传感器元件38借助未示出的开关装置与计算单元24的高欧姆的、未进一步示出的测量放大器的输入端相连接。
在测位单元14运行中,在测量放大器的输入端处确定电压特征参量,该电压特征参量是对作为信号产生电极64所构造的传感器元件36和作为测量电极62所构造的传感器元件38之间的电容耦合的量度。借助电压特征参量可以检测研究对象16中介电特征参量的变化并且在此情况下可以在计算机单元24中检测对在研究对象16中布置的物体18的推断。计算单元24被设置用于改变两个所选择的并且为测量所激活和所驱动的传感器元件36、38、40。基于各个传感器元件36、38、40的阵列状布置,研究对象16的被测位设备12覆盖的区域以高位置分辨率被扫描,所述位置分辨率基本上对应于各个直接彼此相邻的传感器元件36、38、40的间隔,其中所施加的电压的场力线延伸到研究对象16中。只要测位设备12、尤其是传感器单元22在至少一个维度42、44中具有比物体18更大的延伸,根据物体18的大小对于其检测可以由操作者取消测位设备12的处理。
在图3中所示的显示单元26具有多个显示点28、30、32、34,这些显示点基本上对应于传感器单元22的多个传感器元件36、38、40,使得在测位设备12运行中能够为操作者实现高分辨率的详细的显示和输出。显示点28、30、32、34分别被分配给传感器单元22的传感器元件36、38、40。在此情况下,显示单元26由显示器66构成,其中各个显示点28、30、32、34由显示器66的像素68构成。原则上,显示点28、30、32、34可以由显示段和/或由像素和/或显示段的联接构成。各个显示点28、30、32、34彼此的布置对应于各个传感器元件36、38、40彼此的布置,其中显示点28、30、32、34同样以显示阵列84的行70和列72布置。但是原则上可以沿着传感器阵列48的列60和/或行58综合两个或多个传感器元件36、38、40并且在显示单元26的显示点28、30、32、34中显示。此外,也可以沿着一个维度44、尤其是一列60来综合所有传感器元件36、38、40并且在显示点28、30、32、34中表示,如这在图11、传感器单元22和具有一维显示器66的可替代显示单元26中所示的那样。在此情况下,借助计算单元24将列60的传感器元件36、38、40的各个测量值平均成一个值并且在显示点28、30、32、34上输出。
在测位单元14运行中,借助于二维显示单元26(图3和7a至7d)沿着两个维度42、44输出研究对象16的映像46。两个维度42、44沿着两个方向74、76定向,所述两个方向尤其是平行于研究对象16的墙壁表面78撑开表面。该由显示单元26显示的映像46包含研究对象16的三维信息,其方式是将内部结构、尤其是具有其中所包含的物体18的研究对象16的垂直于研究对象表面延伸到研究对象16中的轮廓向二维映像46投影。在此情况下,在测位设备12运行中,可以为操作者位置准确地显示布置在研究对象16中的物体18并且此外可以显示物体18的定向和/或取向54(图8a和8b)。此外,在测位设备12运行中还在显示器66上显示物体18的宽度和/或用于区分不同的物体18的形状。
测位单元14具有两个不同的测量模式,所述测量模式可以针对测量由操作者例如通过未示出的键盘来选择。在第一测量模式中,由计算单元24调整在两个变化的、由计算单元24为测量所激活和所驱动的传感器元件36、38、40之间的不变的间隔50。为测量所激活和所驱动的传感器元件36、38、40的各个对在此情况下由计算单元24相继激活(图4a至4i)。在测量期间,电容耦合和/或测量信号20主要由墙壁的表面效果影响,其中该影响对于传感器元件36、38、40的所有对基本上是相同的。而如果一对传感器元件36、38、40覆盖位于研究对象16中的物体18,则两个传感器元件36、38、40的测量信号20、尤其是电容耦合与其他传感器元件36、38、40的测量信号不同。为了物体信号与背景信号的信号分离,由计算单元24形成所有传感器元件36、38、40的所测量的测量信号20的平均值并且从各个测量信号减去该平均值。原则上此外可以设想,背景信号可以通过例如在均匀的研究对象处显性的背景测量来实现和/或基于表格的校正因数形式的值来实现,所述表格在值校准的范围中针对每个传感器元件36、38、40确定并且被存储在计算单元24中。如果已发生测位设备12的不希望的去校准,则在测位过程之前使测位设备12保持在空中,其中由计算单元24进行传感器单元22的自校准。
如果由计算单元24将背景信号从传感器元件36、38、40的相应测量信号20中减去,则得出物体信号矩阵,该物体信号矩阵借助于显示单元26、尤其是显示器66来为操作者显示。在此,可以利用不同的灰度级和/或彩色地表示各个显示点28、30、32、34,以便显示物体18的空间走向和或形状。在此情况下只有在静态测量时才可以实现对位于研究对象16中的物体的测位和显示,在该测量时,只要物体18在至少一个维度42、44中小于传感器单元22,则可以不发生测位设备12的移动。在大面积的物体18的情况下,为了确定背景需要在研究对象16的表面上来回移动或处理测位设备12。
在测位单元14的运行中,由计算单元24定期地更新显示单元26。更新周期在此有利地对应于传感器单元22的传感器阵列48的测量循环。在测量循环内,所有传感器元件36、38、40相继为测量而被激活和/或驱动,使得研究对象16的完整映像46可以在显示器66上被显示。优选地,也可以使更新与测位单元14在研究对象16上的移动匹配,使得借助于显示单元26持续地向操作者传送研究对象16的当前映像46。在此情况下,激活频率有利地为大约10 Hz。
为了为操作者安静地设计显示单元26的显示和/或为了在通过显示单元26进行显示和/或表示期间减少干扰,必要时在计算单元24中除了减去平均值之外还自动地确定所检测的信号中的不均匀性特征参量,该不均匀性特征参量影响显示单元26的显示阈值。在此情况下,由计算单元24持续地确定在最低测量信号20和最高测量信号20之间的差并且仅仅位于该阈值之上的物体信号作为其本身由计算单元24识别并且由显示单元26输出。传感器单元22的灵敏度在此情况下减小,但是不可再生的信号和/或显示由计算单元24有利地抑制。这种动态阈值匹配在此情况下可以在相应的测量循环之后进行和/或在确定的时间间隔内在所有测量循环上进行。
所激活和/或驱动的传感器元件36、38、40的变化可以沿着第一维度42、尤其是沿着传感器阵列48的行58、或沿着第二维度44、尤其是沿着传感器阵列48的列60进行(图4a至4i)。此外,计算机单元24被设置用于在测位设备12的运行中沿着第一维度42或第二维度44将传感器元件36、38、40的对彼此互连。另外,为了检测物体18,可以改变传感器元件36、38、40的对的取向,使得关于物体18的类型和/或状况的信息可以有效地被检测。因此,例如具有基本上平行于传感器元件36、38、40的对的定向的线路比具有基本上与传感器元件36、38、40的对的定向横向的定向的线路进一步地更强烈地影响传感器元件36、38、40的对。
传感器元件36、38、40在传感器阵列48中的布置既可以是对称的也可以是非对称的。此外可以设想,多个传感器元件36、38、40、尤其是传感器元件36、38、40的行58或列60由计算单元24联接并且被构造为测量电极62或信号产生电极64(图5a和5b)。在此情况下,可以实现用于产生较大测量信号20的大的电极面。此外,计算单元24被设置用于将传感器阵列48的、布置在传感器阵列48的外部边缘区域80中传感器元件36、38构造为虚拟电极82,使得实现剩余传感器元件40的相同的耦合特性(图6)。虚拟电极82与剩余传感器元件40无连接地、尤其是不导电地布置。
此外,操作者可以在测位设备12的运行中转换到另一测量模式。该该另一测量模式能够实现具有测量信号20的不同穿透深度的测位测量,使得可以确定物体18的深度和/或物体18的深度位置。在此情况下,由计算单元24从一对传感器元件36、38、40到第二对所激活和所驱动的传感器元件36、38、40地改变两个所激活和所驱动的传感器元件36、38、40之间的间隔52(图8a至9)。在两个所激活和所驱动的传感器元件36、40之间的间隔52越大,测量信号20的穿透深度以及因此由信号产生电极64所产生的场的有效范围越大。原则上,借助于计算单元24对研究对象16的自动深度扫描在任何时间都是可能的。为了显示物体18的位置深度,可以由操作者通过键盘转换显示模式。此外也可以由计算单元24调整在各个所激活和所驱动的传感器元件36、38、40之间具有大间隔50的情况下对研究对象16的扫描,使得在大的面上可以检测研究对象16的深度信息(图10a至10c)。
在测位设备12的运行中,操作者可以激活另一模式,其方式是,在分析测量循环时自动地由计算单元24有针对性地搜索预先给定的信号样式并且接着在显示单元26中为操作者显示该信号样式。例如在此情况下可以选择物体样式,例如尤其是管道和/或线路和/或螺钉等,其中计算单元24生成研究对象16的总图像并且该总图像搜索预先给定的物体样式并且仅为操作者显示相应的物体18,使得对于操作者而言可以简单地在显示单元26中识别相应的物体18,例如在不规则背景信号的情况下物体18的信号,如这尤其在至少部分地在介电方面不均匀的空心孔洞建筑材料的情况下可能具有优点。
Claims (16)
1.一种测位装置,具有测位单元(14)和显示单元(26),该测位单元(14)被设置用于借助测量信号(20)检测在研究对象(16)中所布置的物体(18)的存在,并且该测位单元(14)具有传感器单元(22)和计算单元(24),其中所述显示单元具有多个不同、亦即有区别的显示点(28, 30, 32, 34)
其中所述传感器单元(22)具有多个传感器元件(36、38、40),这些传感器元件(36、38、40)被布置在传感器阵列(48)中,并且
所述计算单元(24)被设置用于沿着至少一个维度(42、44)给显示单元(26)的不同显示点(28、30、32、34)分配传感器单元(22)的不同传感器元件(36、38、40),使得这些显示点分别被分配给传感器元件,
其特征在于,
至少一个第一传感器元件形成信号产生电极(64),并且至少一个第二传感器元件形成测量电极(62),其中该信号产生电极(64)被设置成产生测量信号(20),而该测量电极(62)被设置成对测量信号(20)进行测量。
2.根据权利要求1所述的测位装置,其特征在于,所述测位装置是手动测位设备(12)。
3.根据权利要求1所述的测位装置,其特征在于,所述传感器单元的不同传感器元件既被构成为测量传感器,又被构成为信号产生传感器,其中各个传感器元件的作用原理取决于对这些传感器元件的驱动和/或各个所述传感器元件的互连。
4.根据权利要求1所述的测位装置,其特征在于,传感器单元(22)的传感器元件(36、38、40)的数量在至少一个维度(42、44)上基本上等于显示单元(26)的显示点(28、30、32、34)的数量。
5.根据前述权利要求之一所述的测位装置,其特征在于,所述显示单元(26)由二维显示单元(26)构成,该二维显示单元被设置用于在两个维度(42、44)上输出研究对象(16)的映像(46)。
6.根据权利要求1-4之一所述的测位装置,其特征在于,所述计算单元(24)被设置用于在借助传感器单元(22)的二维检测时将至少两个测量值沿着一个维度(42、44)综合成一个值。
7.根据权利要求1所述的测位装置,其特征在于,所述计算单元(24)被设置用于沿着至少一个维度(42、44)相继为测量激活传感器元件(36、38、40)。
8.根据权利要求1所述的测位装置,其特征在于,所述计算单元(24)被设置用于调整在两个变化的、激活的传感器元件(36、38、40)之间的不变的间隔(50)。
9.根据权利要求1所述的测位装置,其特征在于,所述计算单元(24)被设置用于调整在两个至少部分变化的、激活的传感器元件(36、38、40)之间的变化的间隔(52)。
10.一种用于运行根据前述权利要求之一所述的测位装置的方法,其中沿着至少一个维度(42、44)给测位装置的显示单元(26)的不同显示点(28、30、32、34)分配测位装置的测位单元(14)的传感器单元(22)的不同传感器元件(36、38、40),
其特征在于,
在测位单元(14)的运行中,在测量放大器的输入端处确定电压特征参量,该电压特征参量是对作为信号产生电极(64)所构造的传感器元件(36)与作为测量电极(62)所构造的传感器元件(38)之间的电容耦合的量度。
11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,借助于显示单元(26)沿着至少一个维度(42、44)显示研究对象(16)的映像(46)。
12.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,借助于显示单元(26)显示研究对象(16)的二维映像(46)。
13.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,借助于显示单元(26)显示物体(18)的取向(54)。
14.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,调整在传感器单元(22)的两个变化的、激活的传感器元件(36、38、40)之间的不变的间隔(50)。
15.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,调整在两个至少部分变化的、激活的传感器元件(36、38、40)之间的变化的间隔(52)。
16.根据权利要求15所述的方法,其特征在于,借助于在两个至少部分变化的、激活的传感器元件(36、38、40)之间的变化的间隔(52)来确定对象深度。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE200810054460 DE102008054460A1 (de) | 2008-12-10 | 2008-12-10 | Ortungsvorrichtung |
DE102008054460.4 | 2008-12-10 | ||
PCT/EP2009/066477 WO2010066659A2 (de) | 2008-12-10 | 2009-12-07 | Ortungsvorrichtung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN102246061A CN102246061A (zh) | 2011-11-16 |
CN102246061B true CN102246061B (zh) | 2014-07-23 |
Family
ID=41796267
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN200980149429.4A Active CN102246061B (zh) | 2008-12-10 | 2009-12-07 | 测位装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9103929B2 (zh) |
EP (1) | EP2376949B1 (zh) |
CN (1) | CN102246061B (zh) |
DE (1) | DE102008054460A1 (zh) |
WO (1) | WO2010066659A2 (zh) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011109736A2 (en) | 2010-03-04 | 2011-09-09 | Dorrough David M | Obscured feature detector |
DE102011075622B4 (de) | 2011-05-10 | 2023-03-02 | Microchip Technology Germany Gmbh | Sensor sowie Verfahren zur Detektion einer Anzahl von Objekten |
DE102011079258A1 (de) * | 2011-07-15 | 2013-01-17 | Hilti Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren eines Objektes in einem Untergrund |
DE102011079704A1 (de) | 2011-07-25 | 2013-01-31 | Robert Bosch Gmbh | Suchgerät |
DE102012218174A1 (de) * | 2012-10-05 | 2014-04-10 | Robert Bosch Gmbh | Ortungsvorrichtung zur Bestimmung einer Objekttiefe |
CN106461392B (zh) | 2014-06-25 | 2019-08-20 | 罗伯特·博世有限公司 | 带有手持的定位单元的定位系统 |
US10261208B2 (en) | 2015-06-23 | 2019-04-16 | David M. Dorrough | Apparatus and methods for detecting obscured features |
US10663613B2 (en) | 2015-06-23 | 2020-05-26 | Franklin Sensors, Inc. | Apparatus and methods for detecting obscured features |
US10613243B2 (en) | 2017-04-27 | 2020-04-07 | Franklin Sensors Inc. | Apparatus and methods for obscured feature detection |
US10895657B2 (en) | 2017-01-13 | 2021-01-19 | Franklin Sensors Inc. | Apparatus and methods for obscured feature detection with uniform electric fields |
US10524592B2 (en) | 2015-12-01 | 2020-01-07 | Black & Decker Inc. | Picture hanging device |
USD792791S1 (en) | 2015-12-01 | 2017-07-25 | Black & Decker Inc. | Stud sensor |
US10436733B2 (en) | 2016-03-11 | 2019-10-08 | Hemy8 Sa | Method of measuring capacitance of row and column electrodes of capacitive imaging device |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3600446A1 (de) * | 1986-01-09 | 1987-07-16 | Doehler Peter Dipl Kaufm | Einrichtung zur lokalisierung langgestreckter, unter einer dielektrischen schicht verlaufender leiter |
US5917314A (en) * | 1996-08-08 | 1999-06-29 | Zircon Corporation | Electronic wall-stud sensor with three capacitive elements |
US6211662B1 (en) * | 1998-08-07 | 2001-04-03 | The Stanley Works | Hand-held hidden object sensor for sensing a location of objects hidden behind a surface of an architectural structure |
CN1475813A (zh) * | 2002-02-27 | 2004-02-18 | 创科实业有限公司 | 多功能物体传感器 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8607747D0 (en) * | 1986-03-27 | 1986-04-30 | Duracell Int | Device |
DE10207424A1 (de) * | 2002-02-21 | 2003-09-04 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und Meßgerät zur Ortung eingeschlossener Objekte |
US7116091B2 (en) | 2004-03-04 | 2006-10-03 | Zircon Corporation | Ratiometric stud sensing |
DE102004012072A1 (de) * | 2004-03-12 | 2005-09-29 | Robert Bosch Gmbh | Ortungsgerät |
US7420151B2 (en) * | 2005-10-17 | 2008-09-02 | Novadaq Technologies Inc. | Device for short wavelength visible reflectance endoscopy using broadband illumination |
US7504817B2 (en) * | 2007-03-28 | 2009-03-17 | Solar Wide Industrial Limited | Stud sensor |
DE102010028719A1 (de) * | 2010-05-07 | 2011-11-10 | Robert Bosch Gmbh | Suchgerät |
-
2008
- 2008-12-10 DE DE200810054460 patent/DE102008054460A1/de not_active Ceased
-
2009
- 2009-12-07 EP EP20090799064 patent/EP2376949B1/de active Active
- 2009-12-07 CN CN200980149429.4A patent/CN102246061B/zh active Active
- 2009-12-07 WO PCT/EP2009/066477 patent/WO2010066659A2/de active Application Filing
- 2009-12-07 US US13/133,931 patent/US9103929B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3600446A1 (de) * | 1986-01-09 | 1987-07-16 | Doehler Peter Dipl Kaufm | Einrichtung zur lokalisierung langgestreckter, unter einer dielektrischen schicht verlaufender leiter |
US5917314A (en) * | 1996-08-08 | 1999-06-29 | Zircon Corporation | Electronic wall-stud sensor with three capacitive elements |
US6211662B1 (en) * | 1998-08-07 | 2001-04-03 | The Stanley Works | Hand-held hidden object sensor for sensing a location of objects hidden behind a surface of an architectural structure |
CN1475813A (zh) * | 2002-02-27 | 2004-02-18 | 创科实业有限公司 | 多功能物体传感器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102008054460A1 (de) | 2010-06-17 |
CN102246061A (zh) | 2011-11-16 |
WO2010066659A3 (de) | 2010-10-28 |
US9103929B2 (en) | 2015-08-11 |
WO2010066659A2 (de) | 2010-06-17 |
EP2376949B1 (de) | 2013-08-07 |
US20110304314A1 (en) | 2011-12-15 |
EP2376949A2 (de) | 2011-10-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN102246061B (zh) | 测位装置 | |
CN102498368B (zh) | 包括光学应变仪的远程位移传感器的装置及其系统 | |
JP5991489B2 (ja) | 道路変状検出装置、道路変状検出方法及びプログラム | |
CN106068450B (zh) | 用于检测特别是折射缺陷的方法和装置 | |
US11371922B2 (en) | Devices, systems and method for flooring performance testing | |
Sousa et al. | Processing discontinuous displacement fields by a spatio-temporal derivative technique | |
JP2017053819A (ja) | コンクリートのひび割れ検出方法及び検出プログラム | |
She et al. | Feasibility study of asphalt pavement pothole properties measurement using 3D line laser technology | |
Bosché et al. | Terrestrial laser scanning and continuous wavelet transform for controlling surface flatness in construction–A first investigation | |
CN102265186B (zh) | 测位设备 | |
CN108007374A (zh) | 一种建筑物变形激光点云数据坐标偏差分析方法 | |
CN103688191A (zh) | 搜索设备 | |
JP2011017559A (ja) | 位置測定装置及び位置測定方法 | |
TW200636552A (en) | Method and sensing device for motion detection in an optical pointing device, such as an optical mouse | |
CN103162632A (zh) | 离心模型3d光学位移测量系统 | |
KR100821622B1 (ko) | 내공 변위 측정 시스템 | |
JP5026043B2 (ja) | 帯電可能表面上の欠陥点を検出するためのコンタクトレスシステム | |
CN102246062A (zh) | 测位设备 | |
KR100669981B1 (ko) | 청소로봇의 청소면적 측정방법 | |
KR20150014393A (ko) | 절연 케이싱 내에서 도전체의 중심률을 측정하기 위한 방법 및 디바이스 | |
CN100368816C (zh) | 一种产品在线单点快速标准噪声测试方法 | |
JP2009198280A (ja) | 架空電線測定装置 | |
CN104024837B (zh) | 液晶阵列检查装置及液晶阵列检查装置的信号处理方法 | |
CN203132506U (zh) | 离心模型3d光学位移测量装置 | |
KR970051675A (ko) | 음극선관의 모니터상의 기하학적왜곡 측정방법 및 측정장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |